JP2001143654A - 飛行時間型質量分析装置 - Google Patents

飛行時間型質量分析装置

Info

Publication number
JP2001143654A
JP2001143654A JP31994099A JP31994099A JP2001143654A JP 2001143654 A JP2001143654 A JP 2001143654A JP 31994099 A JP31994099 A JP 31994099A JP 31994099 A JP31994099 A JP 31994099A JP 2001143654 A JP2001143654 A JP 2001143654A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ions
ion trap
time
mass spectrometer
ion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP31994099A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3683761B2 (ja
Inventor
Morio Ishihara
盛男 石原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP31994099A priority Critical patent/JP3683761B2/ja
Publication of JP2001143654A publication Critical patent/JP2001143654A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3683761B2 publication Critical patent/JP3683761B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/42Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205Device types
    • H01J49/424Three-dimensional ion traps, i.e. comprising end-cap and ring electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers
    • H01J49/408Time-of-flight spectrometers with multiple changes of direction, e.g. by using electric or magnetic sectors, closed-loop time-of-flight

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型で高分解能の飛行時間型質量分析計を提
供する。 【解決手段】 複数の扇形電場によって閉軌道を構成
し、イオンが閉軌道を複数回周回可能とする。この閉軌
道上にイオントラップが配置される。イオントラップ
は、作動させないときに閉軌道を進行するイオンが通過
できる様な通過口を有する。閉軌道からイオンを取り出
すための出射軌道が設けられる。イオントラップはその
内部にイオンを蓄積することができる。また、蓄積され
たイオンをイオントラップ内からパルス的に追い出して
軌道上を進ませるように、イオントラップの各電極に追
い出しのためのパルス直流電圧が印加される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、飛行時間型質量分
析計(TOFMS)に関するものである。
【0002】
【従来の技術】飛行時間型質量分析計(TOFMS)におい
ては、一定の加速エネルギーで加速した試料イオンが質
量に応じた飛行速度を持つことに基づき、一定距離を飛
行するのに要する飛行時間を計測して質量を求める。
【0003】この飛行時間型質量分析計の分解能は、イ
オン源の条件が同一の場合、イオンの飛行距離に比例す
る。従って、高分解能を実現するためには飛行距離を大
きくすれば良いが、通常、それは装置の大型化に結びつ
く。
【0004】そこで、飛行距離を長くすることと装置の
小型化を両立させるため、例えば、電場を用いてイオン
の飛行方向を変えてUターンさせることが行われてい
る。さらには、電場の数を増して閉じた軌道を構成し、
この軌道上でイオンを1回以上周回させることにより、
長い飛行距離を実現しようとする試みもある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このように、周回軌道
を構成する場合、鍵となるのは、閉じた軌道に対するイ
オンの入出射のための機構である。すなわち、閉じたイ
オン軌道にイオンを入射させる機構と、周回軌道からイ
オンを検出器へ向けて出射させる技術である。
【0006】本発明の目的は、上述した点に鑑み、イオ
ンが周回する閉軌道を有し、この閉軌道にイオンを打ち
込み、取り出しすることにより、飛行距離を長くするこ
とと装置の小型化を両立させた飛行時間型質量分析計を
提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明は、試料イオンを閉じた軌道に沿って飛行さ
せて質量分析する飛行時間型質量分析計において、前記
軌道上にイオントラップを配置したことを特徴としてい
る。
【0008】また、前記イオントラップは、対向配置さ
れる一対のエンドキャップ電極と、該エンドギャップ電
極の間に配置されるリング電極とから構成され、該一対
のエンドギャップ電極には、イオンが通過する通過口が
設けられていることを特徴としている。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。図1は本発明を実施した飛行時間
型質量分析計の一例を示すイオン光学図である。図1に
おいて、旋回角度が180°よりも小さい4つの扇形電
場E1,E2,E3,E4を8の字の湾曲部分に配置するこ
とにより、8の字状の閉じたイオン軌道Aが形成され
る。この軌道Aは、4つの扇形電場E1〜E4内の円形軌
道A1〜A3と、扇形電場間を結ぶ4つの直進軌道A12,
A23,A34,A41から構成されている。
【0010】扇形電場E1とE4の間の直進軌道A41の途
中には、イオントラップ1が配置されている。イオント
ラップ1は、基本構成として、イオン軌道(直進軌道A4
1)がリングの中心軸を通るように配置されるリング電極
2と、このリング電極2を間に挟むように間隔を置いて
対向配置される一対のエンドキャップ電極3,4とを含
む。リング電極2の内側のエンドキャップ電極3,4に
より囲まれた空間がトラップ領域となる。エンドキャッ
プ電極3,4のイオン軌道と交差する位置には、イオン
がイオントラップを通過出来るように通過口5,6が設
けられている。更に、前記トラップ領域へ試料ガスを導
入するための導入管7及び導入された試料ガスを電子衝
撃によりイオン化するための電子銃8が設けられてい
る。
【0011】図2は、イオントラップ1へ給電するため
の回路構成の概略を示す図である。図2に示すように、
リング電極2及びエンドキャップ電極3,4には、連動
関係にある3接点切換スイッチS2,S3,S4を介し
てa,b,c3種類のモードで電圧(接地含む)がそれぞ
れ供給される。すなわち、aモードでは、エンドキャッ
プ電極3,4は接地電位とされ、リング電極2にはトラ
ップ用の高周波電圧が高周波電源9より供給される。b
モードでは、リング電極2及びエンドキャップ電極3,
4には、直流電源10,11,12より直流電圧V2,
V3,V4がそれぞれ供給される。更に、cモードで
は、すべての電極は接地される。
【0012】前記直進軌道A12には、イオンを軌道外部
へ取り出すための扇形電場13及び取り出されたイオン
を検出するイオン検出器14が設けられている。扇形電
場13は、取り出しを行うとき付勢され、それ以外の時
は付勢されず、イオンは扇形電場に設けられた通過口を
介して直進する。
【0013】上記構成における動作を説明する。始め
に、切換スイッチS2,S3,S4は、aモードに設定
される。aモードでは、トラップ領域にイオンを安定に
トラップする四重極電界が形成される。そして、導入管
7からこの領域に導入されたガスが電子銃8からの電子
による衝撃を受けて生成されたイオン(正イオン)は、こ
のトラップ領域に蓄積されて行く。
【0014】十分な量のイオンが蓄積された後、ガスの
導入は停止され、次いで、切換スイッチS2,S3,S
4は、短時間bモードに設定された後、cモードに設定
される。このbモードでは、リング電極2及びエンドキ
ャップ電極3,4には、直流電源10,11,12より
直流電圧V2,V3,V4がそれぞれ供給されるが、V
2,V3,V4には、V2>V3>V4の関係が与えら
れているため、トラップ領域には正イオンを図1におけ
る上方へ押し出す電場が形成され、その電場により、ト
ラップ領域に蓄積されていたイオンは、等しいエネルギ
ーを与えられつつパルス的にイオントラップ1から押し
出され、扇形電場E1へ向かって飛行を開始する。
【0015】このようにしてイオントラップ1からパル
ス的に取り出されたイオンは、扇形電場E1,E2,E
3,E4を順次通過してイオントラップ1へ戻って来る
が、このときにはイオントラップ1の各電極はcモード
にて接地電位に設定されているため、イオンは加減速を
受けず通過口5,6を介してイオントラップを通過する
ことができる。そして、イオントラップを通過したイオ
ンは、再度扇形電場E1,E2,E3,E4を順次通過
し、これを繰り返すことにより、周回を重ねることにな
る。その間に、イオンは、その速度に応じて展開され
る。
【0016】適当な周回数を経てイオンの展開が進んだ
時点で、取り出し用扇形電場13を付勢すると、質量に
応じて展開されたイオンは次々と周回軌道から取り出さ
れ、検出器14に入射して検出される。
【0017】なお、取り出し用扇形電場13の付勢のタ
イミングは、周回軌道上で最も軽いイオンを先頭として
展開されているイオンの先頭が扇形電場13に到達する
直前から最後尾が通過し終わるまでの期間である。
【0018】以上のように、飛行時間型質量分析装置に
おけるイオンの周回軌道上にイオントラップを配置した
本発明では、イオントラップに蓄積されたイオンを飛行
時間型質量分析装置の軌道上に追い出して質量分析を行
うことができる。また、イオントラップ内にイオンを単
に蓄積するだけでなく、種々の実験(例えばイオントラ
ップにより予め蓄積するイオンの質量を選択しておく、
あるいはイオントラップ内に蓄積されたイオンにレーザ
ー光を照射してイオンをこわすなど)を行った後にイオ
ンを軌道上に追い出して質量分析することも可能であ
る。
【0019】更に、一旦周回軌道上に追い出して質量分
離を行った特定のイオン種をイオントラップ内に捕捉す
ることによって、イオントラップ内でさらなる実験を行
うことができる。外から飛行してきたイオンをイオント
ラップ内に捕捉するには、イオントラップの各電極にイ
オンを追い出したときの加速電圧を、イオンがイオント
ラップに入射する瞬間にパルス的に印加し、その後リン
グ電極に高周波電圧を印加してトラップ領域にイオンを
安定にトラップする四重極電界が形成されるようにすれ
ばよい。
【0020】上記実施例では、トラップ領域内にガスを
導入してイオン化したが、別の場所で生成されたイオン
を外からトラップ領域内に導入するようにしても良い。
図4はこのような考え方に基づく他の実施例の構成を示
している。本実施例では、外部のイオン源21で生成さ
れたイオンを、イオン周回軌道上へ導く扇形電場22が
設けられている。この扇形電場22により周回軌道上へ
導かれたイオンは、イオントラップ内に導入されて蓄積
される。また、本実施例では、取り出し用扇形電場を設
けずに、扇形電場E2を発生するための電極の一方に、
取り出し穴を設け、取り出しの際には扇形電場E2の強
度を零としてイオンを直進させ、その取り出し穴を介し
て周回軌道外へイオンを取り出し、イオン検出器へ導い
て検出するようにしている。
【0021】本実施例では、外部のイオン源21で生成
されたイオンをイオントラップ内に導入し蓄積するが、
蓄積後にイオンをパルス的に取り出して周回軌道に乗
せ、質量に応じて展開させて検出する過程は、先の実施
例と全く同一である。
【0022】
【発明の効果】本発明の飛行時間型質量分析計は、試料
イオンを、閉じた軌道に沿って飛行させて質量分析する
飛行時間型質量分析計において、前記軌道上にイオント
ラップを配置したため、小型でありながらイオンの周回
回数を増やして飛行距離を延ばすことができる飛行時間
型質量分析装置が実現される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す図である。
【図2】イオントラップ1へ給電するための回路構成の
概略を示す図である。
【図3】 本発明の一実施例を示す図である。
【符号の説明】 E1,E2,E3,E4:扇形電場 1:イオントラップ 14:イオン検出器

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】試料イオンを、閉じた軌道に沿って飛行さ
    せて質量分析する飛行時間型質量分析装置において、前
    記軌道上にイオントラップを配置したことを特徴とする
    飛行時間型質量分析装置。
  2. 【請求項2】前記イオントラップは、対向配置される一
    対のエンドキャップ電極と、該エンドギャップ電極の間
    に配置されるリング電極とから構成され、該一対のエン
    ドギャップ電極には、イオンが通過する通過口が設けら
    れていることを特徴とする請求項1記載の飛行時間型質
    量分析装置。
  3. 【請求項3】前記イオントラップは、その内部において
    イオンを生成させることが可能になっていることを特徴
    とする請求項1又は2記載の飛行時間型質量分析装置。
  4. 【請求項4】前記イオントラップへの高周波の供給を停
    止して、パルス電圧を印加することによってイオントラ
    ップ内部のイオンを飛行時間型質量分析装置のイオン軌
    道へ取り出し得るようになっていることを特徴とする請
    求項3記載の飛行時間型質量分析装置。
  5. 【請求項5】前記イオントラップを構成する電極にパル
    ス電圧を印加することによって軌道上にあるイオンをイ
    オントラップ内部にトラップし得るようになっているこ
    とを特徴とする請求項3記載の飛行時間型質量分析装
    置。
  6. 【請求項6】前記閉軌道は、複数の扇形電場の組み合わ
    せにより構成されていることを特徴とする請求項1乃至
    4のいずれかに記載の飛行時間型質量分析計。
JP31994099A 1999-11-10 1999-11-10 飛行時間型質量分析装置 Expired - Fee Related JP3683761B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31994099A JP3683761B2 (ja) 1999-11-10 1999-11-10 飛行時間型質量分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31994099A JP3683761B2 (ja) 1999-11-10 1999-11-10 飛行時間型質量分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001143654A true JP2001143654A (ja) 2001-05-25
JP3683761B2 JP3683761B2 (ja) 2005-08-17

Family

ID=18115950

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31994099A Expired - Fee Related JP3683761B2 (ja) 1999-11-10 1999-11-10 飛行時間型質量分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3683761B2 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005322429A (ja) * 2004-05-06 2005-11-17 Shimadzu Corp 質量分析装置
JP2006228435A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Shimadzu Corp 飛行時間型質量分析装置
WO2007122379A2 (en) * 2006-04-13 2007-11-01 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Method of ion abundance augmentation in a mass spectrometer
GB2440970A (en) * 2005-12-07 2008-02-20 Micromass Ltd A mass spectrometer comprising a closed-loop ion guide
JP2008186730A (ja) * 2007-01-30 2008-08-14 Osaka Industrial Promotion Organization リニアイオントラップ質量分析装置
JP2008536263A (ja) * 2005-03-29 2008-09-04 サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー 質量分析計に関する改良
JP2010509743A (ja) * 2006-11-14 2010-03-25 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー 多重反射型イオントラップ稼働方法
US7858929B2 (en) 2006-04-13 2010-12-28 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Ion energy spread reduction for mass spectrometer
JP4763601B2 (ja) * 2003-06-21 2011-08-31 レコ コーポレイション 多重反射飛行時間型質量分析計及びその使用方法
CN113223919A (zh) * 2021-03-31 2021-08-06 杭州谱育科技发展有限公司 环形tof质量分析器及其工作方法

Cited By (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4763601B2 (ja) * 2003-06-21 2011-08-31 レコ コーポレイション 多重反射飛行時間型質量分析計及びその使用方法
JP2005322429A (ja) * 2004-05-06 2005-11-17 Shimadzu Corp 質量分析装置
JP2006228435A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Shimadzu Corp 飛行時間型質量分析装置
JP2008536263A (ja) * 2005-03-29 2008-09-04 サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー 質量分析計に関する改良
US9281172B2 (en) 2005-12-07 2016-03-08 Micromass Uk Limited Closed loop ion guide with pseudo-potential well
GB2440970A (en) * 2005-12-07 2008-02-20 Micromass Ltd A mass spectrometer comprising a closed-loop ion guide
GB2440970B (en) * 2005-12-07 2010-04-21 Micromass Ltd Mass spectrometer
GB2451024B (en) * 2006-04-13 2011-08-03 Thermo Fisher Scient Mass spectrometer with ion storage device
WO2007122381A3 (en) * 2006-04-13 2008-08-14 Thermo Finnnigan Llc Mass spectrometer with ion storage device
WO2007122379A2 (en) * 2006-04-13 2007-11-01 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Method of ion abundance augmentation in a mass spectrometer
WO2007122378A3 (en) * 2006-04-13 2008-08-14 Thermo Finnigan Llc Mass spectrometer arrangement with fragmentation cell amd ion selection device
GB2450453A (en) * 2006-04-13 2008-12-24 Thermo Fisher Scient Method of ion abundance augmentation in a mass spectrometer
GB2450825A (en) * 2006-04-13 2009-01-07 Thermo Fisher Scient Mass spectrometer arrangement with fragmentation cell amd ion selection device
GB2451024A (en) * 2006-04-13 2009-01-14 Thermo Fisher Scient Mass spectrometer with ion storage device
DE112007000921T5 (de) 2006-04-13 2009-02-19 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Massenspektrometer mit Ionenspeichervorrichtung
DE112007000922T5 (de) 2006-04-13 2009-02-19 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Massenspektrometeranordnung mit Fragmentierungszelle und Ionenselektionsvorrichtung
DE112007000930T5 (de) 2006-04-13 2009-02-19 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Verfahren zur Ionenhäufigkeitserhöhung in einem Massenspektrometer
JP2009533671A (ja) * 2006-04-13 2009-09-17 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー イオン捕獲装置付きマススペクトロメータ
JP2009533669A (ja) * 2006-04-13 2009-09-17 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー フラグメント化セル及びイオン選別装置併設型マススペクトロメータ
JP2009533670A (ja) * 2006-04-13 2009-09-17 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー マススペクトロメータ内イオン量増強方法
US20090272895A1 (en) * 2006-04-13 2009-11-05 Alexander Makarov Mass spectrometer with ion storage device
US8841605B2 (en) 2006-04-13 2014-09-23 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Method of ion abundance augmentation in a mass spectrometer
WO2007122379A3 (en) * 2006-04-13 2008-08-14 Thermo Finnigan Llc Method of ion abundance augmentation in a mass spectrometer
US7829842B2 (en) 2006-04-13 2010-11-09 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Mass spectrometer arrangement with fragmentation cell and ion selection device
US7858929B2 (en) 2006-04-13 2010-12-28 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Ion energy spread reduction for mass spectrometer
GB2450453B (en) * 2006-04-13 2011-07-20 Thermo Fisher Scient Method of ion abundance augmentation in a mass spectrometer
GB2450825B (en) * 2006-04-13 2011-08-03 Thermo Fisher Scient Mass spectrometer arrangement with fragmentation cell and ion selection device
WO2007122381A2 (en) * 2006-04-13 2007-11-01 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Mass spectrometer with ion storage device
JP4762344B2 (ja) * 2006-04-13 2011-08-31 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー マススペクトロメータ内イオン量増強方法
JP4763077B2 (ja) * 2006-04-13 2011-08-31 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー イオン捕獲装置付きマススペクトロメータ
WO2007122378A2 (en) * 2006-04-13 2007-11-01 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Mass spectrometer arrangement with fragmentation cell amd ion selection device
JP4763830B2 (ja) * 2006-04-13 2011-08-31 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー フラグメント化セル及びイオン選別装置併設型マススペクトロメータ
DE112007000921B4 (de) * 2006-04-13 2013-03-28 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Verfahren zur Massenspektrometrie und Massenspektrometer zum Durchführen der Verfahren
DE112007000922B4 (de) * 2006-04-13 2013-04-04 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Massenspektrometrieverfahren und Massenspektrometer zum Durchführen des Verfahrens
US8513594B2 (en) 2006-04-13 2013-08-20 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Mass spectrometer with ion storage device
JP2010509743A (ja) * 2006-11-14 2010-03-25 サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー 多重反射型イオントラップ稼働方法
JP2008186730A (ja) * 2007-01-30 2008-08-14 Osaka Industrial Promotion Organization リニアイオントラップ質量分析装置
CN113223919A (zh) * 2021-03-31 2021-08-06 杭州谱育科技发展有限公司 环形tof质量分析器及其工作方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3683761B2 (ja) 2005-08-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7893401B2 (en) Mass spectrometer using a dynamic pressure ion source
US8598519B2 (en) Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSN analysis
US6011259A (en) Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSN analysis
JP3990889B2 (ja) 質量分析装置およびこれを用いる計測システム
US7897916B2 (en) Tandem ion-trap time-of-flight mass spectrometer
JP4033133B2 (ja) 質量分析装置
CN101802966B (zh) 质谱仪
US6753523B1 (en) Mass spectrometry with multipole ion guides
JP4023738B2 (ja) 遅延引き出し付きタンデム飛行時間型質量分析計および使用方法
US8013290B2 (en) Method and apparatus for avoiding undesirable mass dispersion of ions in flight
EP2068346A2 (en) Orthogonal acceleration time-of-flight mas spectrometer
EP1057209B1 (en) Mass spectrometry with multipole ion guide
US7615742B2 (en) Measurement of light fragment ions with ion traps
WO2013076307A2 (en) High duty cycle ion spectrometer
JP4219406B2 (ja) イオントラップにイオンを捕らえるための方法およびそのためのイオントラップ質量分光計システム
JP2004206933A (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
JP2001143654A (ja) 飛行時間型質量分析装置
US7030374B2 (en) Ion fragmentation in RF ion traps by electron capture with magnetic field
JP5504969B2 (ja) 質量分析装置
JP2007509356A (ja) 改善された質量分解能を有する飛行時間型質量分析装置及びその動作方法
JP4229732B2 (ja) 飛行時間型質量分析計
US8847157B2 (en) Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSn analysis
EP2439764A2 (en) Tandem time-of-flight mass spectrometer
GB2301704A (en) Introducing ions into a high-vacuum chamber, e.g. of a mass spectrometer
JP2001143655A (ja) 周回軌道を有する飛行時間型質量分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040615

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050426

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050524

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050526

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3683761

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080603

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090603

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090603

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100603

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100603

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110603

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120603

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120603

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130603

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130603

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees