JP2001139684A - 多層配線用層間絶縁膜並びにそれに用いる樹脂及びその製造方法 - Google Patents

多層配線用層間絶縁膜並びにそれに用いる樹脂及びその製造方法

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JP2001139684A
JP2001139684A JP2000261848A JP2000261848A JP2001139684A JP 2001139684 A JP2001139684 A JP 2001139684A JP 2000261848 A JP2000261848 A JP 2000261848A JP 2000261848 A JP2000261848 A JP 2000261848A JP 2001139684 A JP2001139684 A JP 2001139684A
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resin
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dicarboxylic acid
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JP2000261848A
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Michio Nakajima
道男 中嶋
Masanori Tokuhiro
真紀 徳弘
Hidenori Saito
英紀 齋藤
Ayako Yoshihashi
彩子 吉橋
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】耐熱性、耐吸湿性とともに電気特性に優れた半
導体の多層配線用層間絶縁膜とその製造方法を提供す
る。 【解決手段】一般式(2)で表される化合物群のうち1
種類の化合物及び2,2’−ビス(トリフルオロメチ
ル)−4,4’−ビフェニルジカルボン酸から得られる
ジカルボン酸ジエステルと、2,2−ビス(3−アミノ
−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンと
を反応させることにより得られる含フッ素ポリヒドロキ
シアミド樹脂を加熱脱水閉環させる製造方法により得ら
れる一般式(6)で表される構造の含フッ素ポリベンゾ
オキサゾール樹脂からなる多層配線用層間絶縁膜。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、含フッ素ポリベン
ゾオキサゾール樹脂からなる半導体の多層配線用層間絶
縁膜及びそれに用いる樹脂の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】化学気相成長法などで形成した二酸化シ
リコンを用いた無機絶縁膜が層間絶縁膜用材料として使
用されているが、高耐熱である一方、近年の半導体用途
関連の要求特性としては性能が十分であるとは言えなか
った。
【0003】一方、高い平坦性と低誘電率を示す有機絶
縁膜として、ポリイミド樹脂が盛んに研究されている
が、吸湿性に問題があり、層間絶縁膜材料として、十分
な性能とはいえなかった。
【0004】また、ポリベンゾオキサゾール樹脂につい
ても、同様に検討されており、その前駆体であるポリヒ
ドロキシアミド樹脂の製造方法には、ジカルボン酸ジク
ロリドとビス(アミノフェノール)化合物とを反応させ
る酸クロリド法があるが、合成途中で発生する塩素イオ
ンが、不純物として混入するために半導体材料向け用途
には、あまり好ましくない。前記の塩素イオンが、不純
物として混入するおそれがないものとして、ジシクロヘ
キシルカルボジイミド(以下DCCと略)を用い、ジカ
ルボン酸とビスアミノフェノール化合物とから、直接ポ
リヒドロキシアミド樹脂を得る、DCC法があるが、
2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)
ヘキサフルオロプロパンのような、反応性の低い原料を
使用すると得られるポリヒドロキシアミド樹脂の分子量
は、低いものになり、十分な耐熱性、強度等が得られな
い。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、前記
従来技術の問題点を解決し、耐熱性、耐吸湿性ととも
に、電気特性に優れた半導体の多層配線用層間絶縁膜
と、それに用いる樹脂の製造方法を提供することにあ
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、従来の多
層配線用層間絶縁膜材料のもつ問題点を解決すべく、鋭
意努力した結果、式(2)で表される化合物群から選ば
れる1種類の化合物と2,2’−ビス(トリフルオロメ
チル)−4,4’−ビフェニルジカルボン酸との反応に
より得られる生成物を精製してなるジカルボン酸ジエス
テルと、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフ
ェニル)ヘキサフルオロプロパンとを反応させることに
より得られる式(1)で表される構造を有する含フッ素
ポリヒドロキシアミド樹脂、または、2,2’−ビス
(トリフルオロメチル)−4、4’−ビフェニルジカル
ボン酸ジエステルのモル比率で50%未満を式(3)の
Rで表されるジカルボン酸と式(2)で表される化合物
群から選ばれる1種類の化合物との反応により得られる
生成物を精製してなるジカルボン酸ジエステルで置換
し、かつ、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシ
フェニル)ヘキサフルオロプロパンのモル比率で50%
未満を式(3)のR’で表されるビスアミノフェノール
化合物で置換して反応させることより得られる含フッ素
ポリヒドロキシアミド樹脂を、加熱脱水閉環させること
を特徴とする製造方法により得られる耐熱性、耐吸湿性
とともに電気特性に優れた含フッ素ポリベンゾオキサゾ
ール樹脂を見出し、本発明を完成させるに至った。
【0007】
【化9】 (ただし、式(1)中mは10〜500の整数を示
す。)
【0008】
【化10】
【0009】
【化11】 (式(3)中、X、Yは式(4)より選ばれる構造を示
す。)
【0010】
【化12】 (式(4)中、Zは式(5)より選ばれる構造を示し、
これらの構造中のベンゼン環上の水素原子は、メチル
基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル
基、イソブチル基、t−ブチル基、フッ素原子、および
トリフルオロメチル基からなる群から選ばれる少なくと
も1個の基で置換されていてもよい。)
【0011】
【化13】
【0012】
【化14】 (ただし、式(6)中mは10〜500の整数を示
す。)
【0013】
【発明の実施の形態】本発明の式(1)で表される構造
を有する含フッ素ポリヒドロキシアミド樹脂の製造方法
は、ジアミン成分とジカルボン酸成分との反応により行
われるが、ジアミン成分としては、2,2−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パンを用いる。
【0014】また、ジカルボン酸成分としては、2,
2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ビフェ
ニルジカルボン酸と、前記式(2)で表される化合物
群、例えば1−ヒドロキシベンゾトリアゾール、4−ニ
トロフェノール、2−メルカプトベンゾオキサゾール等
から選ばれる1種類の化合物との反応から得られるジカ
ルボン酸ジエステルを用いる。前記式(2)で表される
化合物群については、1−ヒドロキシベンゾトリアゾー
ルを用いるのがより好ましい。
【0015】ジアミン成分として、2,2−ビス(3−
アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロ
パンの一部を、式(3)のR’で表されるビスアミノフ
ェノール化合物に置き換えても、本発明の知見を得るこ
とが可能であるが、モノマーのモル比率で50%未満で
あることが必要である。式(3)のR’で表されるビス
アミノフェノール化合物としては、2,4−ジアミノレ
ゾルシノール、2,2−ビス(3-アミノ-4-ヒドロキ
シフェニル)プロパン、1,4−ビス(3−アミノ−4
−ヒドロキシフェニル)テトラフルオロベンゼン、3,
3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシビフェニル、
3,3’−ジアミノ−5,5’,6,6’−テトラフル
オロ−4,4’−ジヒドロキシビフェニル、2,2−ビ
ス(3−アミノ−4−ヒドロキシ−5−トリフルオロメ
チルフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス
(4−アミノ−3−ヒドロキシ−5−トリフルオロメチ
ルフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス
(3−アミノ−4−ヒドロキシ−5−ペンタフルオロエ
チルフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2−(3−ア
ミノ−4−ヒドロキシ−5−トリフルオロメチルフェニ
ル)−2−(3−アミノ−4−ヒドロキシ−5−ペンタ
フルオロエチルフェニル)ヘキサフルオロプロパンなど
を挙げることができるが、必ずしもこれらに限られるも
のではない。
【0016】ビスアミノフェノール化合物と同様に、ジ
カルボン酸成分として、2,2’−ビス(トリフルオロ
メチル)−4,4’−ビフェニルジカルボン酸の一部
を、式(3)のRで表されるジカルボン酸に置き換えて
も、本発明の知見を得ることが可能であるが、モノマー
のモル比率で50%未満であることが必要である。式
(3)のRで表されるジカルボン酸としては、5−フル
オロイソフタル酸、2−フルオロイソフタル酸、3−フ
ルオロフタル酸、4−フルオロフタル酸、2−フルオロ
テレフタル酸、2,4,5,6−テトラフルオロイソフ
タル酸、3,4,5,6−テトラフルオロフタル酸、
4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジフェニル
−1,1’−ジカルボン酸、パーフルオロスベリン酸、
テレフタル酸、イソフタル酸、4,4’−オキシジフェ
ニル−1,1’−ジカルボン酸などが挙げられるが、必
ずしもこれらに限られるものではない。
【0017】本発明においてジカルボン酸ジエステルの
合成では、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−
4,4’−ビフェニルジカルボン酸、前記式(2)で表
される化合物群から選ばれる1種類の化合物とを、1,
4−ジオキサン、酢酸エチル、テトラヒドロフラン、ジ
メチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリドンなど
の脱水有機溶媒に溶解させ、−10〜5℃でジシクロヘ
キシルカルボジイミド等の縮合剤を添加し、その後15
〜25℃で18〜24時間反応させる。
【0018】この反応液をろ過し、エバポレーターによ
りろ液を濃縮して、ジエチルエーテル、石油エーテル、
ヘキサンなどの貧溶媒を加え、析出する生成物をろ過に
より回収する。さらに、2−プロパノールと混合して3
0〜60分攪拌後、生成物を濾別し、減圧乾燥して、精
製されたジカルボン酸ジエステルが得られる。
【0019】式(3)のRで表されるジカルボン酸から
ジカルボン酸ジエステルを合成する場合も2,2’−ビ
ス(トリフルオロメチル)−4,4’−ビフェニルジカ
ルボン酸と同様にして反応させ反応液を精製することに
よって、精製されたジカルボン酸ジエステルが得られ
る。この精製工程は高分子量のポリヒドロキシアミド樹
脂を得るために重要である。
【0020】本発明における含フッ素ポリヒドロキシア
ミド樹脂の製造は、前記ジカルボン酸ジエステル1種あ
るいは2種と前記ジアミン成分1種あるいは2種とをテ
トラヒドロフラン、N−メチル−2−ピロリドン、γ−
ブチロラクトンなどの脱水有機溶媒中、40℃以上、好
ましくは60〜90℃で、3時間以上、好ましくは24
〜36時間反応させることにより行われる。このとき、
式(2)で表される化合物群のうち、4−ニトロフェノ
ール、ペンタフルオロフェノールからなるジカルボン酸
ジエステルを用いる場合には、トリエチルアミン、N,
N−ジメチルアミノベンゼン、4−ジメチルアミノピリ
ジン、ピリジンなどの酸受容剤存在下、反応させること
が効果的である。
【0021】本発明の含フッ素ポリベンゾオキサゾール
樹脂の製造方法は、前記製造方法により得られる含フッ
素ポリヒドロキシアミド樹脂を加熱脱水閉環することに
より行われる。
【0022】本発明の多層配線用層間絶縁膜は、前記製
造方法によって得られる、含フッ素ポリヒドロキシアミ
ド樹脂を有機溶媒に溶かして5〜40wt%のワニスを
作製し、ウエハーやガラス板上にスピンナーを用いた回
転塗布、スプレーコーターを用いた噴霧塗布、浸漬、印
刷、ロールコーティング等を用いた塗布により塗膜し成
膜後、好ましくは不活性ガス下で300〜500℃で乾
燥し、含フッ素ポリヒドロキシアミド樹脂膜とした後、
加熱脱水閉環させることによって、含フッ素ポリベンゾ
オキサゾール樹脂膜とすることで製造できる。式(1)
で表される含フッ素ポリヒドリキシアミド樹脂を用いた
場合、加熱脱水閉環させることにより、式(6)で表さ
れる構造を有する含フッ素ポリベンゾオキサゾール樹脂
からなる層間絶縁膜となる。
【0023】前記ワニスに使用できる有機溶媒は、一般
に公知の非水系有機溶媒が使用できる。具体的にはN,
N−ジメチルホルムアミド、N−メチル−2−ピロリド
ン、ジメチルスルホキシド、γ−ブチロラクトン等を例
示できる。また、ワニスには、必要によりシランカップ
リング剤等の密着剤、フッ素系化合物に代表されるレベ
リング剤などの各種添加剤を使用することができる。
【0024】本発明は、前記の製造方法により得られる
含フッ素ポリベンゾオキサゾール樹脂からなることを特
徴とする半導体の多層配線用層間絶縁膜である。
【0025】
【実施例】以下、実施例により本発明を具体的に説明す
るが、本発明はこれによってなんら限定されるものでは
ない。
【0026】実施例および比較例で作成したフィルムを
用いて、特性評価のため、下記の方法により、比誘電
率、耐熱性、熱膨張率(CTE)、吸水率、密着性を測
定した。これらの結果は表1にまとめて示した。
【0027】1.比誘電率 JIS K6911に準拠し、周波数100KHzで、
ヒューレットパッカード社製HP−4284A Pre
cision LCRメーターを用いて測定を行った。 2.耐熱性 セイコーインスツルメンツ(株)製TG/DTA220
を用いて、窒素ガスを200mL/分の流量で流した雰
囲気下で、昇温速度10℃/分の条件により、熱重量減
少1%温度を測定した。 3.熱膨張係数 セイコーインスツルメンツ(株)製TMA/SS120
Cを用いて、昇温速度5℃/分により、25〜100℃
の温度範囲で、熱膨張率を測定した。 4.吸水率 JIS K6911に準拠し、23℃の純水に24時間
浸漬した後の、重量変化率を算出した。 5.密着性 JIS K5400に準拠し、碁盤目テープ法を用い
て、各試験片の密着性を目視にて状態観察し”剥離マス
目数/全マス目数”として評価した。
【0028】実施例1. (1)ジカルボン酸ジエステルの合成 2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ビ
フェニルジカルボン酸15.13gならびに1−ヒドロ
キシベンゾトリアゾール10.82gを、脱水テトラヒ
ドロフラン(THF)170mlと脱水N,N−ジメチ
ルホルムアミド(DMF)5mlとの混合溶媒に溶解
し、この溶液を0〜5℃に冷却した。液温を0〜5℃に
保ちながら、ジシクロヘキシルカルボジイミド(DC
C)溶液(DCC16.52gを脱水THF30mlに
溶かしたもの)を滴下し、その後、室温で24時間攪拌
した。さらに、脱水N−メチル−2−ピロリドン(NM
P)80mlを加えて30分攪拌した。反応液を濾過
し、濾液を濃縮して、ヘキサン300mlを加えた。析
出した生成物を濾過により回収し、2−プロパノール
(IPA)300mlを混合して60分攪拌した。生成
物を濾別し、IPA100ml、ヘキサン100mlで
洗浄した。40℃で減圧乾燥して、2,2’−ビス(ト
リフルオロメチル)−4,4’−ビフェニルジカルボン
酸ジエステル18.3gを得た。
【0029】(2)ポリヒドロキシアミド樹脂の合成 上記で得られた2,2’−ビス(トリフルオロメチル)
−4,4’−ビフェニルジカルボン酸ジエステル30.
0g、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェ
ニル)ヘキサフルオロプロパン18.9g、γ−ブチロ
ラクトン200gを300mlフラスコに入れ、窒素雰
囲気下、室温で30分攪拌した。その後、液温60℃で
12時間、70℃で5時間、80℃で12時間、90℃
で5時間攪拌し、室温まで冷却した。反応液を濾過後、
濾液を水/IPA=1500ml/500mlの混合溶
媒に滴下し、ポリヒドロキシアミド樹脂の沈殿を得た。
乾燥後、東ソー株式会社製GPC(ポリスチレン換算)
により分子量を測定したところ、重量平均分子量が3万
3千であった。
【0030】(3)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製 上記で得られたポリヒドロキシアミド樹脂をNMPに溶
解し、濃度20wt%の溶液になるよう調製した。この
溶液をスピンナーを用いて、回転数500rpmで10
秒、次いで、3000rpmで30秒の条件でウエハー
上に塗布し、120℃で10分、150℃で1時間、4
00℃で1時間オーブンを用いて焼成させた。この乾燥
により、加熱脱水閉環し、褐色の強靱な含フッ素ポリベ
ンゾオキサゾール樹脂のフィルムを得た。この樹脂につ
いて、赤外吸収スペクトルにより1628cm-1のオキ
サゾール環のC=N伸縮に由来するピークを確認した。
このフィルムを用いて誘電率、密着性の評価をおこなっ
た。また、上述のワニスを、ガラス板上に、ギャップ3
00μmのドクターブレードを用いて塗布した。その
後、オーブン中で、70℃で1時間乾燥し、塗膜を剥離
して膜厚20μmポリヒドロキシアミド樹脂フィルムを
得た。そのフィルムを金型で固定し、150℃で1時
間、400℃で1時間の順で加熱しポリベンゾオキサゾ
ール樹脂のフィルムを得た。この試験片を用いて、耐熱
性、熱膨張率、吸水率の評価をおこなった。
【0031】実施例2. (1)ジカルボン酸ジエステルの合成 実施例1のジカルボン酸ジエステルの合成で用いた1−
ヒドロキシベンゾトリアゾール10.82gに替えて、
2−ヒドロキシベンゾチアゾール12.10gを用いた
以外は、実施例1と同様にして、2,2’−ビス(トリ
フルオロメチル)−4,4’−ビフェニルジカルボン酸
ジエステル19.2gを得た。
【0032】(2)ポリヒドロキシアミド樹脂の合成 上記で得られた2,2’−ビス(トリフルオロメチル)
−4,4’−ビフェニルジカルボン酸ジエステル16.
1g、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェ
ニル)ヘキサフルオロプロパン9.63g、γ−ブチロ
ラクトン100gを、200mlフラスコに入れ、窒素
雰囲気下、室温で30分攪拌した。その後、液温60℃
で12時間、70℃で5時間、80℃で12時間攪拌
し、室温まで冷却した。反応液を濾過後、濾液を水/I
PA=1000ml/200mlの混合溶媒に滴下し、
ポリヒドロキシアミド樹脂の沈殿を得た。乾燥後、東ソ
ー株式会社製GPC(ポリスチレン換算)により分子量
を測定したところ、重量平均分子量が2万1千であっ
た。
【0033】(3)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製 上記で得られたポリヒドロキシアミド樹脂をNMPに溶
解し、濃度20wt%の溶液になるよう調製した。得ら
れた溶液をスピンナーを用いて、回転数500rpmで
10秒、次いで2500rpmで30秒の条件で、ウエ
ハー上に塗布した以外は実施例1と同様にしてポリベン
ゾオキサゾール樹脂フィルムを作製した。
【0034】実施例3. (1)ジカルボン酸ジエステルの合成 実施例1のジカルボン酸ジエステルの合成で用いた1−
ヒドロキシベンゾトリアゾール10.82gに替えて、
ペンタフルオロフェノール14.72gを用いた以外
は、実施例1と同様にして、2,2’−ビス(トリフル
オロメチル)−4,4’−ビフェニルジカルボン酸ジエ
ステル15.7gを得た。
【0035】(2)ポリヒドロキシアミド樹脂の合成 上記で得られた2,2’−ビス(トリフルオロメチル)
−4,4’−ビフェニルジカルボン酸ジエステル13.
2g、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェ
ニル)ヘキサフルオロプロパン7.16g、4−ジメチ
ルアミノピリジン4.54g、γ−ブチロラクトン10
0gを200mlフラスコに入れ、窒素雰囲気下、室温
で30分攪拌した。その後、液温60℃で12時間、7
0℃で5時間、80℃で12時間、90℃で5時間反応
し、室温まで冷却した。反応液を濾過後、濾液を水/I
PA=1500ml/100mlの混合溶媒に滴下し、
ポリヒドロキシアミド樹脂の沈殿を得た。乾燥後、東ソ
ー株式会社製GPC(ポリスチレン換算)により分子量
を測定したところ、重量平均分子量が1万9千であっ
た。
【0036】(3)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製 上記で得られたポリヒドロキシアミド樹脂をNMPに溶
解し、濃度23wt%の溶液になるよう調製した以外は
実施例1と同様にしてポリベンゾオキサゾール樹脂フィ
ルムを作製した。
【0037】実施例4. (1)ジカルボン酸ジエステルの合成 実施例1のジカルボン酸ジエステルの合成で用いた1−
ヒドロキシベンゾトリアゾール10.82gに替えて、
4−ニトロフェノール11.13gを用いた以外は、実
施例1と同様にして、2,2’−ビス(トリフルオロメ
チル)−4,4’−ビフェニルジカルボン酸ジエステル
10.2gを得た。
【0038】(2)ポリヒドロキシアミド樹脂の合成 上記で得られた2,2’−ビス(トリフルオロメチル)
−4,4’−ビフェニルジカルボン酸ジエステル9.5
g、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニ
ル)ヘキサフルオロプロパン5.9g、4−ジメチルア
ミノピリジン3.74g、γ−ブチロラクトン100g
を200mlフラスコに入れ、窒素雰囲気下、室温で3
0分攪拌した。その後、液温60℃で12時間、70℃
で5時間、80℃で12時間、90℃で5時間攪拌し、
室温まで冷却した。反応液を濾過後、濾液を水/IPA
=1000ml/100mlの混合溶媒に滴下し、ポリ
ヒドロキシアミド樹脂の沈殿を得た。乾燥後、東ソー株
式会社製GPC(ポリスチレン換算)により分子量を測
定したところ、重量平均分子量が1万5千であった。
【0039】(3)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製 上記で得られたポリヒドロキシアミド樹脂をNMPに溶
解し、濃度35wt%の溶液になるよう調製した。この
溶液をスピンナーを用いて、回転数500rpmで10
秒、次いで、3500rpmで30秒の条件で、ウエハ
ー上に塗布した以外は実施例1と同様にしてポリベンゾ
オキサゾール樹脂フィルムを作製した。
【0040】実施例5. (1)ジカルボン酸ジエステルの合成 実施例1のジカルボン酸ジエステルの合成で用いた2,
2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ビフェ
ニルジカルボン酸15.13gに替えて、4,4’−ヘ
キサフルオロイソプロピリデンジフェニル−1,1’−
ジカルボン酸15.70gを用いた以外は、実施例1と
同様にして、4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデ
ンジフェニル−1,1’−ジカルボン酸ジエステル1
7.32gを得た。
【0041】(2)ポリヒドロキシアミド樹脂の合成 上記で得られた4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリ
デンジフェニル−1,1’−ジカルボン酸ジエステル1
2.27g、実施例1のジカルボン酸ジエステルの合成
と同様にして得た2,2’−ビス(トリフルオロメチ
ル)−4,4’−ビフェニルジカルボン酸ジエステル1
8.00g、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキ
シフェニル)ヘキサフルオロプロパン11.34g、
3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシビフェニ
ル4.46g、γ−ブチロラクトン200gを300m
lフラスコに入れ、窒素雰囲気下、室温で30分攪拌し
た。その後、液温75℃で10時間、液温85℃で15
時間攪拌し、室温まで冷却した。反応液を濾過後、濾液
を水/IPA=1980ml/220mlの混合溶剤に
滴下し、ポリヒドロキシアミド樹脂の沈殿を得た。乾燥
後、東ソー株式会社製GPC(ポリスチレン換算)によ
り分子量を測定したところ、重量平均分子量が3万5千
であった。
【0042】(3)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製 上記で得られたポリヒドロキシアミド樹脂をNMPに溶
解し、濃度18wt%の溶液になるよう調製した以外は
実施例1と同様にしてポリベンゾオキサゾール樹脂フィ
ルムを作製した。
【0043】実施例6. (1)ジカルボン酸ジエステルの合成 実施例1のジカルボン酸ジエステルの合成で用いた2,
2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ビフェ
ニルジカルボン酸15.13gに替えて、4,4’−ヘ
キサフルオロイソプロピリデンジフェニル−1,1’−
ジカルボン酸15.70gを用いた以外は、実施例1と
同様にして、ジカルボン酸ジエステル17.32gを得
た。
【0044】(2)ポリヒドロキシアミド樹脂の合成 実施例5のジカルボン酸ジエステルの合成と同様にして
得た4,4’−ヘキサフルオロイソプロピリデンジフェ
ニル−1,1’−ジカルボン酸ジエステル12.27
g、実施例1のジカルボン酸ジエステルの合成と同様に
して得た2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,
4’−ビフェニルジカルボン酸ジエステル18.00
g、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニ
ル)ヘキサフルオロプロパン11.34g、2,2−ビ
ス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン
5.33g、γ−ブチロラクトン200gを300ml
フラスコに入れ、窒素雰囲気下、室温で30分攪拌し
た。その後、液温75℃で10時間、液温85℃で10
時間攪拌し、室温まで冷却した。反応液を濾過後、濾液
を水/IPA=1700ml/300mlの混合溶剤に
滴下し、ポリヒドロキシアミド樹脂の沈殿を得た。乾燥
後、東ソー株式会社製GPC(ポリスチレン換算)によ
り分子量を測定したところ、重量平均分子量が3万1千
であった。
【0045】(3)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製 上記で得られたポリヒドロキシアミド樹脂をNMPに溶
解し、濃度22wt%の溶液になるよう調製した以外は
実施例1と同様にしてポリベンゾオキサゾール樹脂フィ
ルムを作製した。
【0046】比較例1. (1)ポリヒドロキシアミド樹脂の合成 2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ビ
フェニルジカルボン酸3.78gと1−ヒドロキシベン
ゾトリアゾール2.70gをNMP50gに溶かし、0
〜5℃でDCC溶液(DCC4.12gをNMP10g
に溶かしたもの)を滴下した後、室温で24時間攪拌し
た。
【0047】この反応液に2,2−ビス(3−アミノ−
4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン3.
85gをNMP10gを使って添加し、窒素雰囲気下7
5℃で24時間反応させた。反応液を濾過することによ
り、生成したジシクロヘキシルウレア(DCUと略)を
取り除き、濾液を水700ml/IPA70mlの混合
溶媒中に滴下し、ポリベンゾオキサゾール樹脂前駆体の
沈殿を得た。乾燥後、東ソー株式会社製GPC(ポリス
チレン換算)により、分子量を測定したところ、重量平
均分子量で7千であった。
【0048】(2)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製 上記で得られたポリベンゾオキサゾール樹脂前駆体をN
MPに溶かし、濃度35wt%溶液になるように調製し
た。得られた溶液をスピンナーを用いて、回転数200
rpmで10秒、1000rpmで10秒の条件でウエ
ハー上に塗布し、120℃で10分、150℃で1時
間、400℃で1時間オーブンを用いて乾燥させたとこ
ろ、クラックが発生し、塗膜は得られなかった。
【0049】比較例2. (1)ポリヒドロキシアミド樹脂の合成 2,4,5,6−テトラフルオロイソフタル酸2.38
gと2−メルカプトベンゾオキサゾール3.02gをN
MPに溶かしながら、DCC溶液(DCC4.12gを
NMP4.7gに溶かしたもの)を0〜5℃で滴下した
後、室温で24時間攪拌した。反応液に2,2−ビス
(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオ
ロプロパン4.07gをNMP6.95gを使って添加
し、窒素雰囲気下75℃で24時間反応させた。反応液
を濾過することにより、生成したDCUを取り除き、濾
液を水182ml/IPA45.5mlの混合溶媒中に
投入し、黄色のポリヒドロキシアミド樹脂の沈殿を得
た。乾燥後、東ソー株式会社製GPC(ポリスチレン換
算)により、分子量を測定したところ、重量平均分子量
で1万3千であった。
【0050】(2)ポリベンゾオキサゾール樹脂フィル
ムの作製と評価 このポリベンゾオキサゾール樹脂前駆体をNMPに溶か
し、濃度25wt%の溶液になるように調製した。得ら
れた溶液をスピンナーにより、回転数800rpmで1
0秒、次いで2000rpmで10秒の条件でウエハー
上に塗布し、オーブンを用いて120℃で10分、15
0℃で1時間、350℃で3時間乾燥させた。この乾燥
により、加熱閉環し、黄色透明の強靱なフィルムを得
た。この樹脂について、赤外吸収スペクトルにより16
28cm-1のオキサゾール環のC=N伸縮に由来するピ
ークを確認した。このフィルムを用いて誘電率、密着性
の評価をおこなった。また、上述のワニスを、ガラス板
上に、ギャップ300μmのドクターブレードを用いて
塗布した。その後、オーブン中で、70℃で1時間乾燥
し、塗膜を剥離して膜厚20μmのポリヒドロキシアミ
ド樹脂フィルムを得た。そのフィルムを金型で固定し、
150℃で1時間、400℃で1時間の順で加熱しポリ
ベンゾオキサゾール樹脂のフィルムを得た。この試験片
を用いて、耐熱性、熱膨張率、吸水率の評価をおこなっ
た。
【0051】
【表1】
【0052】
【発明の効果】本発明の製造方法により合成される高分
子量の含フッ素ポリベンゾオキサゾール樹脂からなるフ
ィルムは、耐熱性、機械強度、電気的特性の点で従来の
もので得られなかった優れた性能を有しており、半導体
の多層配線用層間絶縁膜に使用可能な工業価値の高いも
のである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉橋 彩子 東京都品川区東品川2丁目5番8号 住友 ベークライト株式会社内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 2,2’−ビス(トリフルオロメチル)
    −4,4’−ビフェニルジカルボン酸と式(2)で表さ
    れる化合物群から選ばれる1種類の化合物との反応によ
    り得られる生成物を精製してなるジカルボン酸ジエステ
    ルと、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェ
    ニル)ヘキサフルオロプロパンとを反応させて得られる
    ことを特徴とする式(1)で表される構造を有する含フ
    ッ素ポリヒドロキシアミド樹脂の製造方法。 【化1】 (ただし、式(1)中、mは10〜500の整数を示
    す。) 【化2】
  2. 【請求項2】 ジカルボン酸ジエステルが、2,2’−
    ビス(トリフルオロメチル)−4,4’−ビフェニルジ
    カルボン酸ジエステルのモル比率で50%未満を、式
    (3)のRで表されるジカルボン酸と式(2)で表され
    る化合物群から選ばれる1種類の化合物との反応により
    得られる生成物を精製してなるジカルボン酸ジエステル
    で置き換え、且つ、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒ
    ドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパンが、そのモ
    ル比率で50%未満を式(3)のR’で表されるビスア
    ミノフェノール化合物で置き換えたことを特徴とする、
    請求項1記載の含フッ素ポリヒドロキシアミド樹脂の製
    造方法。 【化3】 (式(3)中、X及びYは式(4)より選ばれる構造を
    示す。) 【化4】 (式(4)中、Zは式(5)より選ばれる構造を示し、
    これらの構造中のベンゼン環上の水素原子は、メチル
    基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル
    基、イソブチル基、t−ブチル基、フッ素原子、および
    トリフルオロメチル基からなる群から選ばれる少なくと
    も1個の基で置換されていてもよい。) 【化5】
  3. 【請求項3】 式(2)で表される化合物群から選ばれ
    る1種類の化合物が、1−ヒドロキシベンゾトリアゾー
    ルであることを特徴とする、請求項1または請求項2記
    載の含フッ素ポリヒドロキシアミド樹脂の製造方法。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の製造方
    法により製造して得られることを特徴とする、式(1)
    で表される繰り返し単位を有する含フッ素ポリヒドロキ
    シアミド樹脂。 【化6】 (ただし、式(1)中、mは10〜500の整数を示
    す。)
  5. 【請求項5】 請求項1〜3のいずれかに記載の製造方
    法により製造して得られる含フッ素ポリヒドロキシアミ
    ド樹脂を加熱脱水閉環させることにより得られることを
    特徴とする、式(6)で表される構造を有する含フッ素
    ポリベンゾオキサゾール樹脂。 【化7】 (ただし、式(6)中mは10〜500の整数を示
    す。)
  6. 【請求項6】 請求項1〜3のいずれかに記載の製造方
    法により製造して得られる含フッ素ポリヒドロキシアミ
    ド樹脂を加熱脱水閉環させることにより得られる式
    (6)で表される構造を有するポリベンゾオキサゾール
    樹脂からなることを特徴とする半導体の多層配線用層間
    絶縁膜。 【化8】 (ただし、式(6)中mは10〜500の整数を示
    す。)
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2003024448A2 (en) 2001-09-14 2003-03-27 Methylgene, Inc. Inhibitors of histone deacetylase
WO2020138041A1 (ja) * 2018-12-28 2020-07-02 住友化学株式会社 光学フィルム、フレキシブル表示装置及びポリアミドイミド系樹脂
CN113227211A (zh) * 2018-12-28 2021-08-06 住友化学株式会社 聚酰胺系树脂、光学膜及柔性显示装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003024448A2 (en) 2001-09-14 2003-03-27 Methylgene, Inc. Inhibitors of histone deacetylase
WO2020138041A1 (ja) * 2018-12-28 2020-07-02 住友化学株式会社 光学フィルム、フレキシブル表示装置及びポリアミドイミド系樹脂
CN113227211A (zh) * 2018-12-28 2021-08-06 住友化学株式会社 聚酰胺系树脂、光学膜及柔性显示装置
CN113227208A (zh) * 2018-12-28 2021-08-06 住友化学株式会社 光学膜、柔性显示装置及聚酰胺酰亚胺系树脂

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