JP2001134460A - 電子回路解析装置および解析方法 - Google Patents
電子回路解析装置および解析方法Info
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- JP2001134460A JP2001134460A JP31674899A JP31674899A JP2001134460A JP 2001134460 A JP2001134460 A JP 2001134460A JP 31674899 A JP31674899 A JP 31674899A JP 31674899 A JP31674899 A JP 31674899A JP 2001134460 A JP2001134460 A JP 2001134460A
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- JP
- Japan
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- microcomputer
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- test signal
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ターゲットをデバッグ端末であるＰＣ等と接
続すれば、マイコン特定およびターゲットの種別を行
い、デバッガの初期設定を自動で行う。 【解決手段】 マイコン（ＬＳＩ）のハード評価用テス
ト信号及び出力信号の情報からマイコンを特定し、あら
かじめ保持されたテーブルと比較し、ターゲットの種別
を行う。前記ターゲットの種別により得られたデバッガ
設定情報をもとに、デバッガの設定を自動で行う。
続すれば、マイコン特定およびターゲットの種別を行
い、デバッガの初期設定を自動で行う。 【解決手段】 マイコン（ＬＳＩ）のハード評価用テス
ト信号及び出力信号の情報からマイコンを特定し、あら
かじめ保持されたテーブルと比較し、ターゲットの種別
を行う。前記ターゲットの種別により得られたデバッガ
設定情報をもとに、デバッガの設定を自動で行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣＥ（インサー
キットエミュレータ）などの電子回路解析装置およびそ
の解析方法に関するものである。
キットエミュレータ）などの電子回路解析装置およびそ
の解析方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣＥなどのデバッガは、不正アドレス
へのアクセス等を検知するために、ターゲットに搭載さ
れているマイコン（ＬＳＩ）ごとに異なっているＲＯＭ
やＲＡＭのアドレス及びサイズ、周辺Ｉ／Ｏなどのター
ゲットの内部構成情報（以下、デバッガ設定情報）が必
要である。従来、デバッガ設定情報はユーザがデバッグ
端末であるＰＣ等の入力装置から入力・選択する必要が
あった。
へのアクセス等を検知するために、ターゲットに搭載さ
れているマイコン（ＬＳＩ）ごとに異なっているＲＯＭ
やＲＡＭのアドレス及びサイズ、周辺Ｉ／Ｏなどのター
ゲットの内部構成情報（以下、デバッガ設定情報）が必
要である。従来、デバッガ設定情報はユーザがデバッグ
端末であるＰＣ等の入力装置から入力・選択する必要が
あった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ユーザ
がＰＣ等のデバッグ端末の入力装置からデバッガ設定情
報を入力する際には、マイコンのＲＯＭやＲＡＭのアド
レス及びサイズ、周辺Ｉ／Ｏなどといったターゲットの
内部構成を熟知していなければならず、デバッグ準備の
ための期間を必要とするといった問題点があった。ま
た、ユーザがデバッガ設定情報をデバッグ端末から入力
する際に、ミスが生じ得る。更に、複数のマイコンを用
いてデバッグする場合、デバッガ設定情報の選択ミスが
生じ得る。このように、ユーザがデバッグ端末からデバ
ッガ設定情報を入力する方法では、デバッガの初期設定
を行うのに多大な時間を要する上、正しいデバッグ環境
が構築できていないことがあり、デバッグ効率の低下に
つながる。
がＰＣ等のデバッグ端末の入力装置からデバッガ設定情
報を入力する際には、マイコンのＲＯＭやＲＡＭのアド
レス及びサイズ、周辺Ｉ／Ｏなどといったターゲットの
内部構成を熟知していなければならず、デバッグ準備の
ための期間を必要とするといった問題点があった。ま
た、ユーザがデバッガ設定情報をデバッグ端末から入力
する際に、ミスが生じ得る。更に、複数のマイコンを用
いてデバッグする場合、デバッガ設定情報の選択ミスが
生じ得る。このように、ユーザがデバッグ端末からデバ
ッガ設定情報を入力する方法では、デバッガの初期設定
を行うのに多大な時間を要する上、正しいデバッグ環境
が構築できていないことがあり、デバッグ効率の低下に
つながる。
【０００４】本発明は、上記課題を鑑みてなされたもの
で、その目的とするところはターゲットの電子回路の解
析装置及び解析方法であり、得られた解析結果からマイ
コンの特定及びターゲットの種別を行い、デバッガの初
期設定を自動で行う方法を提供することにある。
で、その目的とするところはターゲットの電子回路の解
析装置及び解析方法であり、得られた解析結果からマイ
コンの特定及びターゲットの種別を行い、デバッガの初
期設定を自動で行う方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１にかかる発明は、ターゲット上にあるマイ
コン（ＬＳＩ）のハードウェア評価用のテスト信号をマ
イコンに出力する工程と、前記テスト信号に対するマイ
コンの出力信号をデバッグ端末であるＰＣ等に読み出す
工程と、前記テスト信号及び出力信号からマイコンを特
定する工程と、前記工程で特定したマイコンとあらかじ
め保持されたテーブルとを比較しターゲット構成の種別
を行う工程と、前記工程で得られたターゲット構成をデ
バッガ設定情報としてデバッガの初期設定を自動的に行
い、デバッガを起動する工程とを備えることを特徴とす
る電子回路の解析装置および解析方法としている。
に、請求項１にかかる発明は、ターゲット上にあるマイ
コン（ＬＳＩ）のハードウェア評価用のテスト信号をマ
イコンに出力する工程と、前記テスト信号に対するマイ
コンの出力信号をデバッグ端末であるＰＣ等に読み出す
工程と、前記テスト信号及び出力信号からマイコンを特
定する工程と、前記工程で特定したマイコンとあらかじ
め保持されたテーブルとを比較しターゲット構成の種別
を行う工程と、前記工程で得られたターゲット構成をデ
バッガ設定情報としてデバッガの初期設定を自動的に行
い、デバッガを起動する工程とを備えることを特徴とす
る電子回路の解析装置および解析方法としている。
【０００６】また、請求項２にかかる発明においては、
ターゲット上にあるマイコンの情報をデバッグ端末であ
るＰＣ等に読み出すターゲット情報取得部と、前記で取
得したターゲット情報からマイコン及びターゲットを特
定するのに必要な情報を持ったターゲット情報保持部を
持つことを特徴とする請求項１記載の電子回路の解析装
置および解析方法としている。
ターゲット上にあるマイコンの情報をデバッグ端末であ
るＰＣ等に読み出すターゲット情報取得部と、前記で取
得したターゲット情報からマイコン及びターゲットを特
定するのに必要な情報を持ったターゲット情報保持部を
持つことを特徴とする請求項１記載の電子回路の解析装
置および解析方法としている。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態について説明する。図１は本発明の一実施形態
による電子回路の解析装置及び解析方法の構成を示すブ
ロック図であり、１はＰＣ等のデバッグ端末、２はデバ
ッグ対象となるターゲットを示す。ＰＣ等のデバッグ端
末１は、デバッガ１０、デバッグ内容表示部１１、パー
ソナルコンピュータ部１２、入力部１３、ターゲット情
報取得部１４、及びターゲット情報保持部１５を有して
いる。ターゲット２は、ＰＣ等のデバッグ端末１とＵＳ
Ｂ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）等で
接続されており、デバッグ端末１と通信を行いソフトウ
ェアのデバッグを行うもので、デバッグ対象のマイコン
（ＬＳＩ）２０、デバッガとのインターフェース（Ｉ／
Ｆ）２１、ハードウェア評価用のテスト信号発生装置２
２、及び出力信号受信装置２３から構成される。デバッ
ガ１０はパーソナルコンピュータ部１２上で動作するソ
フトウェアであり、ターゲット２上のインターフェース
２１と通信し、ターゲット２上で動作するソフトウェア
のデバッグ等を行う。デバッグ内容表示部１１は、パー
ソナルコンピュータ部１２上で処理した文字や図形等を
表示するディスプレー装置等である。パーソナルコンピ
ュータ部１２はデバッグ端末１の制御等を行う。入力部
１３は、ユーザがパーソナルコンピュータ部１２にキー
ボードやマウス等の入力装置からデータ等を入力するた
めの装置である。ターゲット情報取得部１４はターゲッ
ト２上のマイコン２０の情報を取得し、マイコンの品番
の特定を行い、これをデバッガ１０に通知する装置であ
る。ターゲット情報保持部１５は、ターゲット情報取得
部１４が取得したマイコン２０の情報とマイコンの品
番、およびマイコンの品番とターゲットの種別すなわち
デバッガ設定情報を保持しているテーブルであり、その
一例を図２及び図３に示す。ハードウェア評価用のテス
ト信号発生装置２２は、デバッガ１０からの命令を受
け、Ｉ／Ｆ２１を通して、マイコン２０に対してテスト
信号を発生する装置である。出力信号受信装置２３は、
マイコン２０が前記テスト信号に応答して出力する信号
を受信し、その内容をＩ／Ｆ２１を通して、ターゲット
情報取得部１４に通知する装置である。
実施形態について説明する。図１は本発明の一実施形態
による電子回路の解析装置及び解析方法の構成を示すブ
ロック図であり、１はＰＣ等のデバッグ端末、２はデバ
ッグ対象となるターゲットを示す。ＰＣ等のデバッグ端
末１は、デバッガ１０、デバッグ内容表示部１１、パー
ソナルコンピュータ部１２、入力部１３、ターゲット情
報取得部１４、及びターゲット情報保持部１５を有して
いる。ターゲット２は、ＰＣ等のデバッグ端末１とＵＳ
Ｂ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）等で
接続されており、デバッグ端末１と通信を行いソフトウ
ェアのデバッグを行うもので、デバッグ対象のマイコン
（ＬＳＩ）２０、デバッガとのインターフェース（Ｉ／
Ｆ）２１、ハードウェア評価用のテスト信号発生装置２
２、及び出力信号受信装置２３から構成される。デバッ
ガ１０はパーソナルコンピュータ部１２上で動作するソ
フトウェアであり、ターゲット２上のインターフェース
２１と通信し、ターゲット２上で動作するソフトウェア
のデバッグ等を行う。デバッグ内容表示部１１は、パー
ソナルコンピュータ部１２上で処理した文字や図形等を
表示するディスプレー装置等である。パーソナルコンピ
ュータ部１２はデバッグ端末１の制御等を行う。入力部
１３は、ユーザがパーソナルコンピュータ部１２にキー
ボードやマウス等の入力装置からデータ等を入力するた
めの装置である。ターゲット情報取得部１４はターゲッ
ト２上のマイコン２０の情報を取得し、マイコンの品番
の特定を行い、これをデバッガ１０に通知する装置であ
る。ターゲット情報保持部１５は、ターゲット情報取得
部１４が取得したマイコン２０の情報とマイコンの品
番、およびマイコンの品番とターゲットの種別すなわち
デバッガ設定情報を保持しているテーブルであり、その
一例を図２及び図３に示す。ハードウェア評価用のテス
ト信号発生装置２２は、デバッガ１０からの命令を受
け、Ｉ／Ｆ２１を通して、マイコン２０に対してテスト
信号を発生する装置である。出力信号受信装置２３は、
マイコン２０が前記テスト信号に応答して出力する信号
を受信し、その内容をＩ／Ｆ２１を通して、ターゲット
情報取得部１４に通知する装置である。
【０００８】次に、このように構成された本実施形態の
動作を図４のフローチャートを用いて説明する。
動作を図４のフローチャートを用いて説明する。
【０００９】（ステップ１）ユーザが入力部１３から命
令を発行することによって、デバッグ端末１上のパーソ
ナルコンピュータ部１２で、デバッガ１０の起動が指示
される。
令を発行することによって、デバッグ端末１上のパーソ
ナルコンピュータ部１２で、デバッガ１０の起動が指示
される。
【００１０】（ステップ２）デバッガ１０はターゲット
情報取得部１４にターゲット２上のマイコン２０に関す
る情報の取得を指令する。ターゲット情報取得部１４は
ターゲット２上のＩ／Ｆ２１を通して、ハードウェア評
価用のテスト信号発生装置２２にテスト信号１の出力を
指令する。これを受けテスト信号発生装置２２はターゲ
ット２上のマイコン２０に対して、テスト信号１を発生
する。出力信号受信装置２３は前記テスト信号１に応答
してマイコン２０が出力する信号を受信し、Ｉ／Ｆ２１
を通してターゲット情報取得部１４に通知する。ターゲ
ット情報取得部１４は、受信した前記出力信号をパーソ
ナルコンピュータ部１２の内部記憶等に保存する。続い
てターゲット情報取得部１４は、テスト信号発生装置２
２にテスト信号２の出力を指令する。これを受けてテス
ト信号発生装置２２はマイコン２０に対してテスト信号
２を発生する。ターゲット情報取得部１４は、前記テス
ト信号２に応答してマイコン２０が出力する信号を前記
と同様にパーソナルコンピュータ部１２の内部記憶等に
保存する。以下前記と同様に、ターゲット情報取得部１
４はテスト信号Ｎまでのテスト信号の発生をテスト信号
発生装置２２に次々と指令し、これを受けてテスト信号
発生装置２２はマイコン２０にテスト信号（テスト信号
３、テスト信号４、…、テスト信号Ｎ）を発生する。前
記夫々のテスト信号に応答してマイコン２０が出力する
信号を、ターゲット情報取得部１４は前記と同様にパー
ソナルコンピュータ部１２の内部記憶等に保存する。な
お、前記Ｎは、マイコン２０の品番を特定するのに必要
な最低限の数以上とする。
情報取得部１４にターゲット２上のマイコン２０に関す
る情報の取得を指令する。ターゲット情報取得部１４は
ターゲット２上のＩ／Ｆ２１を通して、ハードウェア評
価用のテスト信号発生装置２２にテスト信号１の出力を
指令する。これを受けテスト信号発生装置２２はターゲ
ット２上のマイコン２０に対して、テスト信号１を発生
する。出力信号受信装置２３は前記テスト信号１に応答
してマイコン２０が出力する信号を受信し、Ｉ／Ｆ２１
を通してターゲット情報取得部１４に通知する。ターゲ
ット情報取得部１４は、受信した前記出力信号をパーソ
ナルコンピュータ部１２の内部記憶等に保存する。続い
てターゲット情報取得部１４は、テスト信号発生装置２
２にテスト信号２の出力を指令する。これを受けてテス
ト信号発生装置２２はマイコン２０に対してテスト信号
２を発生する。ターゲット情報取得部１４は、前記テス
ト信号２に応答してマイコン２０が出力する信号を前記
と同様にパーソナルコンピュータ部１２の内部記憶等に
保存する。以下前記と同様に、ターゲット情報取得部１
４はテスト信号Ｎまでのテスト信号の発生をテスト信号
発生装置２２に次々と指令し、これを受けてテスト信号
発生装置２２はマイコン２０にテスト信号（テスト信号
３、テスト信号４、…、テスト信号Ｎ）を発生する。前
記夫々のテスト信号に応答してマイコン２０が出力する
信号を、ターゲット情報取得部１４は前記と同様にパー
ソナルコンピュータ部１２の内部記憶等に保存する。な
お、前記Ｎは、マイコン２０の品番を特定するのに必要
な最低限の数以上とする。
【００１１】（ステップ３）ターゲット情報取得部１４
は、前記ステップでパーソナルコンピュータ部１２の内
部記憶等に保存されているテスト信号とそれに応答した
マイコン２０の出力信号の情報を、図２に示すターゲッ
ト情報保持部１５の情報と比較参照することにより、タ
ーゲット２上にあるマイコン２０の特定を行う。ターゲ
ット情報取得部１４は、前記で特定されたマイコンの品
番をデバッガ１０に通知する。
は、前記ステップでパーソナルコンピュータ部１２の内
部記憶等に保存されているテスト信号とそれに応答した
マイコン２０の出力信号の情報を、図２に示すターゲッ
ト情報保持部１５の情報と比較参照することにより、タ
ーゲット２上にあるマイコン２０の特定を行う。ターゲ
ット情報取得部１４は、前記で特定されたマイコンの品
番をデバッガ１０に通知する。
【００１２】（ステップ４）デバッガ１０は前記ステッ
プでターゲット情報取得部１４から通知されたマイコン
の品番で、図３に示すターゲット情報保持部１５の情報
を検索することにより、ターゲットの種別を行う。デバ
ッガ１０は、前記で種別されたターゲットの情報すなわ
ちデバッガ設定情報（ＲＯＭ Ａｄｄｒｅｓｓ、ＲＯＭ
Ａｄｄｒｅｓｓ＝４０００ｈ、ＲＯＭ Ｓｉｚｅ=１
２ＫＢｙｔｅ、ＲＡＭＡｄｄｒｅｓｓ＝００００ｈ、Ｒ
ＡＭ Ｓｉｚｅ＝１０２４Ｂｙｔｅ…）を利用して、各
種初期設定を行い、起動する。
プでターゲット情報取得部１４から通知されたマイコン
の品番で、図３に示すターゲット情報保持部１５の情報
を検索することにより、ターゲットの種別を行う。デバ
ッガ１０は、前記で種別されたターゲットの情報すなわ
ちデバッガ設定情報（ＲＯＭ Ａｄｄｒｅｓｓ、ＲＯＭ
Ａｄｄｒｅｓｓ＝４０００ｈ、ＲＯＭ Ｓｉｚｅ=１
２ＫＢｙｔｅ、ＲＡＭＡｄｄｒｅｓｓ＝００００ｈ、Ｒ
ＡＭ Ｓｉｚｅ＝１０２４Ｂｙｔｅ…）を利用して、各
種初期設定を行い、起動する。
【００１３】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明の
デバッガの電子回路解析装置および解析方法によれば、
ターゲットをデバッグ端末であるＰＣ等に接続すれば、
マイコンの特定及びターゲットの種別を行い、デバッガ
の初期設定を自動で行うことができる。
デバッガの電子回路解析装置および解析方法によれば、
ターゲットをデバッグ端末であるＰＣ等に接続すれば、
マイコンの特定及びターゲットの種別を行い、デバッガ
の初期設定を自動で行うことができる。
【図１】電子回路解析装置の構成図
【図２】マイコンの品番の特定に用いられるテーブルの
一例を示す図
一例を示す図
【図３】ターゲットの種別に用いられるテーブルの一例
を示す図
を示す図
【図４】デバッガがマイコンを特定し、ターゲットの種
別を行うための方法を示したフローチャート
別を行うための方法を示したフローチャート
１ デバッグ端末 ２ ターゲット １０ デバッガ １１ デバッグ内容表示部 １２ パーソナルコンピュータ部 １３ 入力部 １４ ターゲット情報取得部 １５ ターゲット情報保持部 ２０ マイコン ２１ Ｉ／Ｆ ２２ ハードウェア評価用のテスト信号発生装置 ２３ 出力信号受信装置
Claims (3)
- 【請求項１】 ターゲット上にあるマイコン（ＬＳＩ）
のハードウェア評価用のテスト信号をマイコンに出力す
る工程と、前記テスト信号に対するマイコンの出力信号
をデバッグ端末であるＰＣ等に読み出す工程と、前記テ
スト信号及び出力信号からマイコンを特定する工程と、
前記工程で特定したマイコンとあらかじめ保持されたテ
ーブルとを比較しターゲット構成の種別を行う工程と、
前記工程で得られたターゲット構成をデバッガ設定情報
としてデバッガの初期設定を自動的に行い、デバッガを
起動する工程とを備えることを特徴とする電子回路の解
析装置および解析方法。 - 【請求項２】 ターゲット上にあるマイコンの情報をデ
バッグ端末であるＰＣ等に読み出すターゲット情報取得
部と、前記で取得したターゲット情報からマイコン及び
ターゲットを特定するのに必要な情報を持ったターゲッ
ト情報保持部を持つことを特徴とする請求項１記載の電
子回路の解析装置および解析方法。 - 【請求項３】 前記電子回路の解析装置および解析方法
を実現したハードウェア構成及びプログラム及び前記タ
ーゲット情報保持部を格納した記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31674899A JP2001134460A (ja) | 1999-11-08 | 1999-11-08 | 電子回路解析装置および解析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31674899A JP2001134460A (ja) | 1999-11-08 | 1999-11-08 | 電子回路解析装置および解析方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001134460A true JP2001134460A (ja) | 2001-05-18 |
Family
ID=18080484
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31674899A Pending JP2001134460A (ja) | 1999-11-08 | 1999-11-08 | 電子回路解析装置および解析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001134460A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016504692A (ja) * | 2013-01-09 | 2016-02-12 | ノルディック セミコンダクタ アーエスアーＮｏｒｄｉｃ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ＡＳＡ | マイクロコントローラ分析ツール |
-
1999
- 1999-11-08 JP JP31674899A patent/JP2001134460A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016504692A (ja) * | 2013-01-09 | 2016-02-12 | ノルディック セミコンダクタ アーエスアーＮｏｒｄｉｃ Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ＡＳＡ | マイクロコントローラ分析ツール |
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