JP2001133233A - Method and apparatus for detection of fracture in shape of object to be detected - Google Patents
Method and apparatus for detection of fracture in shape of object to be detectedInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、被検出物の形状に
おける欠損検出方法および装置に係り、特に、豆腐、コ
ンニャク等の直方体に形成された被検出物の形状におけ
る欠損を検出するための欠損検出方法および装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for detecting a defect in the shape of an object to be detected, and more particularly to a defect for detecting a defect in the shape of an object formed in a rectangular parallelepiped such as tofu or konjac. The present invention relates to a detection method and an apparatus.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来より、容器に収納された豆腐等の被
検出物に生じた欠損を検出するために、様々な検出装置
および検出方法が研究・開発されている。2. Description of the Related Art Conventionally, various detection devices and detection methods have been researched and developed in order to detect defects generated in an object to be detected such as tofu stored in a container.
【０００３】例えば、豆腐の欠損を検出する従来の方法
としては、照射した光を透過させる容器を搬送経路に沿
って搬送する搬送手段により容器を搬送経路に沿って搬
送し、搬送経路に沿って設けられた投光手段より前記容
器の一方の面の端部に向けて光を照射し、前記容器の異
なった面に向けて配置された受光手段により被検出物の
欠損に伴う反射光を受光し、前記受光手段による受光レ
ベルの上昇に基づいてゲル状物体の欠損を検出する方法
等が採用されている。For example, as a conventional method for detecting a defect in tofu, a container that transmits irradiated light is transported along a transport path by a transport unit that transports the container along the transport path, and the container is transported along the transport path. Light is emitted from the light emitting means provided toward an end of one surface of the container, and reflected light accompanying loss of an object is received by light receiving means arranged toward a different surface of the container. Then, a method of detecting a loss of the gel-like object based on an increase in the light receiving level by the light receiving means is adopted.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来、
研究・開発されていた被検出物の欠損の検出方法および
装置は、被検出物のコーナーの欠損を検出するために
は、各コーナーに対応するように複数の投光手段、受光
手段を配設しなければならず、装置が複雑で大がかりな
ものになるという問題があった。However, conventionally,
The method and apparatus for detecting defects of an object to be detected, which have been researched and developed, are provided with a plurality of light projecting means and light receiving means corresponding to each corner in order to detect a loss of a corner of the object to be detected. And there is a problem that the apparatus becomes complicated and large-scale.
【０００５】また、被検出物をパッケージ容器に収納し
た後に欠損を検出しても、結局、一度被検出物を収納し
たパッケージ容器は、衛生的にも廃棄しなければならな
いため、コストの無駄が生じ、さらに、容器内に封入さ
れている水分に濁りを生じる場合や容器が半透明又は着
色されている場合には、検出が困難になるという欠点も
あった。Further, even if a defect is detected after the object to be detected is stored in the package container, the package container once storing the object to be detected must be disposed of sanitarily, resulting in waste of cost. In addition, there is a drawback that detection becomes difficult when the water enclosed in the container becomes cloudy or when the container is translucent or colored.
【０００６】そして、個別の被検出物をパッケージ容器
に収納する前に被検出物の欠損の検出を行う検出装置お
よび検出方法は開発されておらず、結局は作業者の直接
的な視認に頼るしかなかった。[0006] A detecting device and a detecting method for detecting a defect of an object to be detected before the individual object to be detected is stored in a package container have not been developed, and ultimately rely on direct visual recognition by an operator. There was only.
【０００７】そこで、本発明は、豆腐、コンニャク等の
直方体形状の被検出物の形状における欠損を、パッケー
ジ容器に収納する前に機械的に検出するための欠損検出
方法および装置を提供することを目的とするものであ
る。Accordingly, the present invention provides a method and an apparatus for detecting a defect in a rectangular parallelepiped object to be detected, such as tofu or konjac, mechanically before storing the defect in a package container. It is the purpose.
【０００８】[0008]
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ため、本発明の請求項１に記載の被検出物の形状におけ
る欠損検出方法は、搬送手段により検出位置に搬送され
る被検出物に対し、斜め上方から前記被検出物の上表面
にその搬送方向に直交する方向に一直線に照準する光束
を得るように光を照射し、その前記光束のライン形状を
前記検出位置の上部から二次元的に把握し、正常な形状
の被検出物に照射した場合に得られる前記光束の二次元
的なライン形状と比較することで被検出物の形状におけ
る欠損を検出することを特徴とする。In order to achieve the above-mentioned object, a method for detecting a defect in the shape of an object according to claim 1 of the present invention provides a method for detecting a defect in an object conveyed to a detection position by a conveying means. On the other hand, light is radiated obliquely from above to the upper surface of the detection object so as to obtain a light beam that is aimed straight in a direction perpendicular to the transport direction, and the line shape of the light beam is two-dimensionally viewed from above the detection position. It is characterized in that a defect in the shape of the object is detected by comparing it with a two-dimensional line shape of the light beam obtained when the object is irradiated with the object having a normal shape.
【０００９】本発明によれば、被検出物の上表面に形成
される光束のライン形状と、正常な形状の被検出物に照
射した場合に得られる光束の二次元的なライン形状とを
比較することで容易に欠損を検出することができる。According to the present invention, the line shape of the light beam formed on the upper surface of the object is compared with the two-dimensional line shape of the light beam obtained when the object having the normal shape is irradiated. By doing so, the defect can be easily detected.
【００１０】また、請求項２に記載の被検出物の形状に
おける欠損検出装置は、被検出物を形状の欠損の検出位
置へ搬送供給するための搬送手段と、前記搬送手段によ
り搬送される被検出物の上表面に前記被検出物の搬送方
向に直交する方向に一直線に照準させうる光束を得るよ
うにして、前記検出位置の搬送方向上流側あるいは下流
側の上方に配設された投光手段と、前記光束の照射結果
を二次元で把握する二次元センサを有し、前記検出位置
の上部に配設された判別手段とから構成してなることを
特徴とする。According to a second aspect of the present invention, there is provided an apparatus for detecting a defect in a shape of an object to be detected, the conveying means for conveying and supplying the object to a position where a defect in the shape is detected, and the object conveyed by the conveying means. A light projecting device arranged on the upper surface of the detection object so as to obtain a luminous flux that can be directly aligned in a direction perpendicular to the conveyance direction of the detection object, so as to be located upstream or downstream of the detection position in the conveyance direction. Means, and a two-dimensional sensor for grasping the irradiation result of the light beam in two dimensions, and comprising a discriminating means disposed above the detection position.
【００１１】本発明によれば、搬送手段により検出位置
に搬送される被検出物に対し、投光手段により前記被検
出物の上表面に斜め上方からその搬送方向に直交する方
向に一直線に照準する光束を得るように光を照射し、そ
の前記光束のライン形状を前記検出位置の直上部から二
次元的に把握して、正常な形状の被検出物に照射した場
合に得られる前記光束の二次元的なライン形状と比較す
ることで被検出物の形状における欠損を検出することが
できる。According to the present invention, the object to be detected conveyed to the detection position by the conveying means is aimed straight on the upper surface of the object by a light projecting means in a direction perpendicular to the conveying direction from obliquely above. Irradiating light to obtain a light beam to be obtained, two-dimensionally grasping the line shape of the light beam from immediately above the detection position, and irradiating the object having a normal shape with the light beam. By comparing with a two-dimensional line shape, a defect in the shape of the detection object can be detected.
【００１２】[0012]
【発明の実施の形態】図１および図３は、本発明の被検
出物の形状における欠損検出装置の一実施の形態を示し
ている。1 and 3 show an embodiment of a device for detecting a loss in the shape of an object to be detected according to the present invention.
【００１３】本実施の形態の被検出物の形状欠損検出装
置は、直方体の被検出物の形状における欠損を検出する
ものであり、三次元の被検出物を形状の欠損の検出位置
へ搬送供給するための搬送手段、被検出物に対し一定の
光を照射する投光手段および前記投光手段による照射結
果を二次元で把握して形状の欠損を検出するための判別
手段から構成されている。The device for detecting a shape loss of an object to be detected according to the present embodiment detects a loss in the shape of a rectangular parallelepiped object, and transports and supplies a three-dimensional object to a detection position of the shape loss. And a discriminating means for detecting the loss of shape by grasping the irradiation result by the light projecting means in two dimensions. .
【００１４】前記搬送手段は、図１に示すような無端状
の搬送ベルト１１が、図示しない架台に回転自在に支持
されている前後左右合計４個のスプロケット１２、１２
に巻回されて展張されて構成されている。このようにし
て展張された搬送ベルト１１はその上面を水平に位置さ
せるように保持されており、前記上面は被検出物Ｔの搬
送経路とされている。The conveying means comprises a total of four front, rear, left and right sprockets 12 and 12 in which an endless conveying belt 11 as shown in FIG. 1 is rotatably supported by a frame (not shown).
It is wound up and extended. The transport belt 11 stretched in this way is held so that its upper surface is positioned horizontally, and the upper surface serves as a transport path of the detection target T.
【００１５】そして、本実施形態においては、図１に示
すように、前記搬送経路のほぼ中央部を被検出物Ｔの形
状における欠損を検出する検出位置とされている。In this embodiment, as shown in FIG. 1, a substantially central portion of the transport path is set as a detection position for detecting a defect in the shape of the detection target T.
【００１６】本実施形態においては、前記検出位置より
搬送経路において上流側の斜め上方に、前記投光手段が
配設されている。In the present embodiment, the light projecting means is disposed obliquely above the detection position on the upstream side of the transport path.
【００１７】前記投光手段は、図２に示すように、点光
源からなる光源１３と、直線状の細い透光用スリット１
４を有する遮蔽板１５とからなり、前記遮蔽板１５は前
記検出位置と光源１３とを結ぶ仮想のライン上で、前記
搬送経路を搬送される被検出物Ｔの上表面に、前記光源
１３から放出される光線のうち、前記投光用スリット１
４を通過して、後述する判別手段の二次元センサ１６に
より視認される光（以下、光束という）を前記被検出物
Ｔの搬送方向に直交する方向に一直線に照準させうるよ
うに配設されている。As shown in FIG. 2, the light projecting means includes a light source 13 composed of a point light source and a thin linear slit 1 for light transmission.
4, the shielding plate 15 is provided on a virtual line connecting the detection position and the light source 13 on the upper surface of the detection target T which is transported along the transport path from the light source 13. Among the emitted light rays, the projection slit 1
4 (hereinafter, referred to as a light beam) which is visually recognized by a two-dimensional sensor 16 of the discriminating means, which is described later, and is arranged so that the light can be aimed straight in a direction orthogonal to the conveying direction of the object T. ing.
【００１８】なお、この投光手段は、図３に示すよう
に、ピンホール１７が形成された遮光板とシリンドリカ
ルレンズ１８とを用いて前記光束を形成するように構成
することも可能である。さらに、その場合において、前
記光源をレーザーとし、前記ピンホール１７を省略する
構成とすること等も可能である。The light projecting means may be configured to form the light beam by using a light blocking plate having a pinhole 17 and a cylindrical lens 18 as shown in FIG. Further, in that case, it is also possible to adopt a configuration in which the light source is a laser and the pinhole 17 is omitted.
【００１９】そして、前記検出位置のほぼ直上には、前
記判別手段が配設されている。The discriminating means is disposed almost directly above the detection position.
【００２０】前記判別手段は、前記光束の照射結果を二
次元で把握するためのセンサ（以下、二次元センサとい
う）１６であり、この二次元センサ１６には検出結果を
作業者が視認するためのモニタ（図示せず）が接続され
ている。The discriminating means is a sensor (hereinafter, referred to as a two-dimensional sensor) 16 for grasping the irradiation result of the light beam in two dimensions. The two-dimensional sensor 16 allows the worker to visually recognize the detection result. (Not shown) are connected.
【００２１】なお、前記判断手段については、コンピュ
ータをも構成要素とし、前記モニタと接続してその検出
結果から機械的に形状の欠損を判断するようにしてもよ
い。The determination means may be a computer, and may be connected to the monitor to mechanically determine the loss of the shape from the detection result.
【００２２】次に、前述の直方体形状の被検出物Ｔの形
状の欠損検出装置を用いた被検出物Ｔの形状の欠損検出
方法について説明する。Next, a method of detecting the loss of the shape of the detection object T using the above-described device for detecting the loss of the detection object T having a rectangular parallelepiped shape will be described.
【００２３】本実施の形態の直方体形状の被検出物Ｔの
形状欠損検出方法は、まず、前記スプロケット１２を図
示しない駆動機構によって回転させることにより、搬送
手段を構成する無端状の搬送ベルト１１を、図１の矢印
方向に移動させる。In the method of detecting a shape defect of a rectangular parallelepiped detection object T according to the present embodiment, first, the endless transport belt 11 constituting the transport means is rotated by rotating the sprocket 12 by a drive mechanism (not shown). , In the direction of the arrow in FIG.
【００２４】前述の通り、この搬送ベルト１１の上面は
被検出物Ｔの搬送経路とされており、搬送手段の上流側
に配設された被検出物Ｔの製造装置側から搬送される直
方体形状の被検出物Ｔを１つずつ、この搬送ベルト１１
の上面に整列載置させる。As described above, the upper surface of the transport belt 11 is a transport path of the detected object T, and has a rectangular parallelepiped shape which is transported from the manufacturing apparatus side of the detected object T disposed upstream of the transport means. Of the detection objects T one by one
On the upper surface of the.
【００２５】その際、本実施形態においては、被検出物
Ｔの上面を構成する一辺が前記搬送方向に対し直交する
ように整列させて載置する。このように載置すれば、当
然に、直方体形状の被検出物Ｔの前記一辺に直交する他
の辺は前記搬送方向に対し平行に位置することとなる。At this time, in the present embodiment, the object T is placed so as to be aligned so that one side constituting the upper surface of the object T is orthogonal to the transport direction. When placed in this manner, naturally, the other side of the rectangular parallelepiped detection target T that is orthogonal to the one side is positioned parallel to the transport direction.
【００２６】そして、搬送ベルト１１の進行に従って、
被検出物Ｔを前述の検出位置に搬送させる。Then, as the transport belt 11 advances,
The object T is transported to the above-described detection position.
【００２７】このとき、前記検出位置においては、検出
位置に搬送される被検出物Ｔの上表面の位置に照準を合
わせた搬送方向に直交する直線状の光束を得られるよう
に、前記投光手段から光を照射させておく。つまり、前
記投光手段の光源から発光される光を前記遮蔽板１５に
より、前記スリット１４の形状の細い直線状の光束に制
限し、被検出物Ｔに対し、搬送方向上流側から斜めに照
射させることになる。At this time, at the detection position, the light is projected so as to obtain a linear luminous flux orthogonal to the transport direction which is aimed at the position of the upper surface of the object T to be transported to the detection position. Light is irradiated from the means. That is, the light emitted from the light source of the light projecting means is limited by the shielding plate 15 to a thin linear light beam having the shape of the slit 14, and the object T is irradiated obliquely from the upstream side in the transport direction. Will be.
【００２８】そして、被検出物Ｔに対して照射された光
束の形状を前記判断手段の二次元センサにより検出す
る。Then, the shape of the light beam applied to the object T is detected by the two-dimensional sensor of the determination means.
【００２９】図４および図５は、前記投光手段から検出
位置に対し照射された光束の形状をとらえた前記二次元
センサの視野を示している。FIGS. 4 and 5 show the field of view of the two-dimensional sensor which captures the shape of the light beam emitted from the light projecting means to the detection position.
【００３０】この図４および図５に示すように、前記二
次元センサの視野は外形形状を四角形とされており、こ
の四角形の視野の中に、前記被検出物Ｔが検出位置に位
置しない場合には、前記光束を、図４に一点鎖線で示す
前記光束の照準位置よりも、被検出物Ｔの搬送方向下流
側に平行移動させた位置（以下、光束終端位置という）
に形成された前記搬送方向に対し直交する直線状のライ
ンＬ１として得る。このように、前記二次元センサの視
野において前記光束の照準位置と前記搬送ベルト１１に
映る光束の位置との間にズレが生じるのは、前記投光手
段を前記検出位置の搬送方向上流側に配設したことによ
る。As shown in FIGS. 4 and 5, the field of view of the two-dimensional sensor has a rectangular outer shape, and the object T is not located at the detection position in the rectangular field of view. In FIG. 4, a position where the light beam is moved in parallel to the downstream side in the transport direction of the detection target T from the aiming position of the light beam indicated by a dashed line in FIG. 4 (hereinafter, referred to as a light beam end position)
As a straight line L1 orthogonal to the transport direction. As described above, the difference between the aiming position of the light beam and the position of the light beam reflected on the conveyor belt 11 in the field of view of the two-dimensional sensor is caused by moving the light projecting unit upstream of the detection position in the conveyance direction. It depends on the arrangement.
【００３１】そして、直方体形状の被検出物Ｔが搬送さ
れた場合には、図５に示すように、被検出物Ｔが載置さ
れている部分に関しては、前記照準位置に前記被検出物
Ｔの搬送方向に直交する方向（幅方向）の寸法に対応す
るラインＬ２を得ることができる。また、このとき、搬
送ベルト１１の前記搬送方向に直交する方向における前
記被検出物Ｔが載置されていない部分については、前述
の被検出物Ｔを検出しない場合に得るラインＬ１上に伸
びるラインを得ることができる。そして、この光束終端
位置に伸びるラインＬ１と前記照準位置に伸びるライン
Ｌ２とが平行する間隔寸法は被検出物Ｔの高さ寸法に比
例するものとなる。When the object T having a rectangular parallelepiped shape is conveyed, as shown in FIG. 5, with respect to the portion where the object T is mounted, the object T is located at the aiming position. The line L2 corresponding to the dimension in the direction (width direction) orthogonal to the transport direction can be obtained. At this time, for a portion of the conveyor belt 11 where the object T is not placed in a direction orthogonal to the conveyance direction, a line extending on the line L1 obtained when the object T is not detected. Can be obtained. The distance between the line L1 extending to the light beam end position and the line L2 extending to the aiming position is parallel to the height of the object T.
【００３２】そしてこうして得られたラインＬ１とライ
ンＬ２とを幅方向に順次連続させたかぎ形形状が被検出
物Ｔの欠損を判断するための基準のライン形状となる。The line L1 and the line L2 thus obtained are sequentially connected in the width direction, and the hook shape is the reference line shape for judging the defect of the object T.
【００３３】そして、本実施形態においては、順次搬送
される被検出物Ｔの外形における欠損を、それらの被検
出物Ｔの形状を二次元センサの視野で得た場合のライン
形状と、前記基準のライン形状とが異なることで判断す
る。In the present embodiment, the defect in the outer shape of the object T to be sequentially conveyed, the line shape when the shape of the object T is obtained in the field of view of the two-dimensional sensor, and the reference Is determined by the fact that the line shape is different.
【００３４】図６乃至図９は、被検出物Ｔに対し照射さ
れる光束が前記被検出物Ｔの外形上の欠損を検出した場
合に、前記二次元センサが捉えたライン形状の変化を示
している。なお、前述の通り、前記被検出物Ｔに対して
投光手段は搬送方向上流側（図において右側）の上方に
配設されているものとする。FIGS. 6 to 9 show a change in the line shape captured by the two-dimensional sensor when the light beam irradiated on the object T detects a defect on the outer shape of the object T. FIG. ing. As described above, it is assumed that the light projecting means is disposed above the object T on the upstream side in the transport direction (right side in the figure).
【００３５】図６は、表面コーナー部に欠損部分があ
り、その上面が欠損部分方向へなだらかに傾斜している
被検出物Ｔの前記欠損を検出した場合を示す。FIG. 6 shows a case in which there is a defect at the corner of the surface, and the defect of the object T whose upper surface is gently inclined toward the defect is detected.
【００３６】この場合、前記二次元センサは、被検出物
Ｔの正常な部分を示す前記光束の照準位置に形成された
部分と、その一端部に接続し、前記欠損部分の存在を示
すこととなる前記光束終端位置側へ斜行する部分とから
なる屈折したライン形状を得る。そこで、当該被検出物
Ｔから得たライン形状が前記基準のライン形状と異なる
ことを根拠に、当該被検出物Ｔに欠損があることを検出
することができる。なお、表面上は一見平面に見受けら
れるが、搬送方向先端側の裏面コーナー部に欠損部分が
あり、その上面が欠損部分方向へなだらかに傾斜してい
る場合にも、ほぼ同様の結果を得ることができる。In this case, the two-dimensional sensor includes a portion formed at the aiming position of the light flux indicating a normal portion of the detection target T, and connected to one end thereof to indicate the presence of the defective portion. And a portion obliquely moving toward the light beam end position side. Therefore, based on the fact that the line shape obtained from the detected object T is different from the reference line shape, it is possible to detect that the detected object T has a defect. Although the surface is apparently flat, the same result can be obtained even when there is a missing part at the back corner at the leading end in the transport direction and the upper surface is gently inclined toward the missing part. Can be.
【００３７】図７は、被検出物Ｔの上面中央部分に穴状
の欠損部分がある場合に前記欠損を検出した場合を示
す。FIG. 7 shows a case where the loss is detected when there is a hole-shaped defect in the center of the upper surface of the object T to be detected.
【００３８】この場合、前記二次元センサは、前記被検
出物Ｔの上面に形成されるラインの中央部に弧状に湾曲
する曲線部分を含んだライン形状を得る。そこで、当該
被検出物Ｔから得たライン形状が前記基準のライン形状
と異なることを根拠に、当該被検出物Ｔに欠損があるこ
とを検出することができる。In this case, the two-dimensional sensor obtains a line shape including a curved portion curved in an arc at the center of a line formed on the upper surface of the detection target T. Therefore, based on the fact that the line shape obtained from the detected object T is different from the reference line shape, it is possible to detect that the detected object T has a defect.
【００３９】図８は、被検出物Ｔの搬送方向に延在する
辺部分に、被検出物Ｔの上面から底面まで貫通するよう
な欠損部分がある場合に、前記欠損を検出した場合を示
す。FIG. 8 shows a case where the defect is detected when there is a defective portion penetrating from the top surface to the bottom surface of the detected object T in a side portion extending in the transport direction of the detected object T. .
【００４０】この場合、前記二次元センサは、前記基準
のライン形状の被検出物Ｔの上面に形成される部分の長
さ寸法より短いラインを得ることとなる。そこで、当該
被検出物Ｔから得た前記被検出物Ｔの上面を示すライン
の長さ寸法が前記基準のライン形状のそれより短いこと
を根拠に、当該被検出物Ｔに欠損があることを検出する
ことができる。つまり、被検出物Ｔの上表面に形成され
る光束のラインは、被検出物Ｔの搬送方向に直交する方
向の幅寸法を示すが、被検出物Ｔの搬送方向に延在する
辺部分に欠損があった場合にはこのラインの長さ寸法が
標準よりも短くなるのである。In this case, the two-dimensional sensor obtains a line that is shorter than the length of the portion formed on the upper surface of the target T having the reference line shape. Therefore, based on the fact that the length of the line indicating the upper surface of the object T obtained from the object T is shorter than that of the reference line shape, it is determined that the object T has a defect. Can be detected. In other words, the line of the light beam formed on the upper surface of the detection target T indicates the width dimension in the direction orthogonal to the conveyance direction of the detection target T, but on the side portion extending in the conveyance direction of the detection target T. If there is a defect, the length of this line will be shorter than the standard.
【００４１】図９は、被検出物Ｔの搬送方向に直交する
方向に延在する辺部分（図においては、搬送方向上流
側）に、被検出物Ｔの上面から底面まで貫通するような
欠損部分がある場合に、前記欠損を検出した場合を示
す。FIG. 9 shows a defect that penetrates from the top surface to the bottom surface of the detection object T on the side portion (in the drawing, upstream side in the conveyance direction) extending in the direction perpendicular to the conveyance direction of the detection object T. The case where the loss is detected when there is a portion is shown.
【００４２】この場合、前記二次元センサは、前記被検
出物Ｔの上面に形成されるラインの中央部に前記照準位
置よりも光束終端位置側に平行移動して延在する辺部分
を有する段状のラインを得る。そこで、当該被検出物Ｔ
から得たライン形状が前記基準ライン形状と異なること
を根拠に、当該被検出物Ｔに欠損があることを検出する
ことができる。In this case, the two-dimensional sensor has a step having a side portion extending parallel to the light beam end position side from the aiming position at the center of a line formed on the upper surface of the detection object T. Obtain a line of shape. Therefore, the detected object T
Can be detected based on the fact that the line shape obtained from is different from the reference line shape.
【００４３】本実施形態においては、図６から図９に示
すようなライン形状の瞬間の変化を作業者がモニタで視
認して検出することとなる。この検出を、コンピュータ
により制御することでおこなうことも可能である。In the present embodiment, an instantaneous change in the line shape as shown in FIGS. 6 to 9 is visually recognized and detected by the operator on the monitor. This detection can be performed by controlling with a computer.
【００４４】このようにして形状における欠損が検出さ
れた被検出物Ｔは、製造ラインからはずすことで、後の
パッキング等の製造工程を施すことを防止することがで
きる。By removing the object T from which the defect in the shape has been detected in this manner from the production line, it is possible to prevent the subsequent production process such as packing from being performed.
【００４５】このように、本発明においては、三次元の
被検出物Ｔの形状における欠損の検出を二次元的に簡単
かつ確実に検出することができる。As described above, in the present invention, it is possible to two-dimensionally and easily detect a defect in the shape of the three-dimensional object T to be detected.
【００４６】なお、本発明は、前述した実施の形態に限
定されるものではなく、必要に応じて種々の変更が可能
である。It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made as necessary.
【００４７】[0047]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、欠
損の検出のための構成が簡単であり、パッケージ容器に
収納する前に被検出物Ｔの欠損の検出を行うので、パッ
ケージ容器を無駄にすることを防止できて経済的であ
り、容器内に封入されている水分や容器の着色等により
欠損の検出が困難になるということもなく、確実に欠損
を検出することができる等の効果を奏するものとなる。As described above, according to the present invention, the structure for detecting the loss is simple, and the loss of the object T is detected before being stored in the package container. It is economical because it can be prevented from being wasted, and it is possible to reliably detect defects without making it difficult to detect defects due to moisture sealed in the container or coloring of the container. It will be effective.
【図１】 欠損検出装置の構成の説明図FIG. 1 is an explanatory diagram of a configuration of a loss detection device.
【図２】 欠損検出装置の投光手段の構成の説明図FIG. 2 is an explanatory diagram of a configuration of a light projecting unit of the defect detection device.
【図３】 欠損検出装置の他の投光手段の構成を示す説
明図FIG. 3 is an explanatory diagram showing a configuration of another light emitting unit of the defect detection device.
【図４】 被検出物が検出位置に搬送されていない場合
の二次元センサの視野を示す説明図FIG. 4 is an explanatory diagram showing a field of view of a two-dimensional sensor when an object to be detected is not transported to a detection position.
【図５】 被検出物が検出位置に搬送された場合の二次
元センサの視野を示す説明図FIG. 5 is an explanatory diagram showing a field of view of a two-dimensional sensor when an object is conveyed to a detection position.
【図６】 被検出物の表面コーナー部に欠損がある場合
に光束が形成するライン形状の例を示す説明図FIG. 6 is an explanatory diagram showing an example of a line shape formed by a light beam when there is a defect at a surface corner of an object to be detected;
【図７】 被検出物の上面中央部分に欠損がある場合に
光束が形成するライン形状の例を示す説明図FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of a line shape formed by a light beam when there is a defect in the central portion of the upper surface of an object to be detected;
【図８】 被検出物の搬送方向に延在する辺部分に欠損
がある場合に光束が形成するライン形状の例を示す説明
図FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of a line shape formed by a light beam when there is a defect in a side portion extending in the transport direction of an object to be detected;
【図９】 被検出物の搬送方向に直交する辺部分に欠損
がある場合に光束が形成するライン形状の例を示す説明
図FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example of a line shape formed by a light beam when there is a defect in a side portion orthogonal to the transport direction of the detection object;
１１ 搬送ベルト １２ スプロケット １３ 光源 １４ 透光用スリット １５ 遮蔽板 １６ 二次元センサ １７ ピンホール １８ シリンドリカルレンズ DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Conveyor belt 12 Sprocket 13 Light source 14 Slit for light transmission 15 Shielding plate 16 Two-dimensional sensor 17 Pinhole 18 Cylindrical lens
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F065 AA49 AA51 BB05 BB15 CC00 FF01 FF02 FF09 GG04 HH05 HH12 JJ03 JJ26 LL08 LL28 LL30 MM03 PP15 QQ21 RR05 SS11 TT01 TT03 2G051 AA01 AA33 AA90 AB02 AB20 BA10 BA20 CA03 CA04 DA01 DA06 FA10 4B020 LB02 LC10 LP30 Continued on the front page F term (reference) 2F065 AA49 AA51 BB05 BB15 CC00 FF01 FF02 FF09 GG04 HH05 HH12 JJ03 JJ26 LL08 LL28 LL30 MM03 PP15 QQ21 RR05 SS11 TT01 TT03 2G051 AA01 AA10 BA20 DA02 AB20 DA02 AB20 DA02
Claims (2)
検出物に対し、斜め上方から前記被検出物の上表面にそ
の搬送方向に直交する方向に一直線に照準する光束を得
るように光を照射し、その前記光束のライン形状を前記
検出位置の上部から二次元的に把握し、正常な被検出物
に照射した場合に得られる前記光束の二次元的なライン
形状と比較することで被検出物の形状における欠損を検
出することを特徴とする被検出物の形状における欠損検
出方法。1. An object which is conveyed to a detection position by a conveying means is provided with light so as to obtain a light beam which is directed straight from the obliquely upper surface of the object in a direction orthogonal to the conveying direction. Irradiation, the two-dimensional line shape of the light beam is grasped two-dimensionally from above the detection position, and compared with the two-dimensional line shape of the light beam obtained when the object is normally irradiated. A defect detection method in a shape of an object to be detected, wherein the method detects a defect in the shape of the object.
供給するための搬送手段と、前記搬送手段により搬送さ
れる被検出物の上表面に前記被検出物の搬送方向に直交
する方向に一直線に照準させうる光束を得るようにし
て、前記検出位置の搬送方向上流側あるいは下流側の上
方に配設された投光手段と、前記光束の照射結果を二次
元で把握する二次元センサを有し、前記検出位置の上部
に配設された判別手段とから構成してなることを特徴と
する被検出物の形状における欠損検出装置。2. A transport means for transporting and supplying an object to a detection position of a shape defect, and a direction orthogonal to a transport direction of the object on an upper surface of the object transported by the transport means. A light projecting means disposed above and upstream of the detection position in the transport direction so as to obtain a light beam which can be aligned in a straight line, and a two-dimensional sensor for grasping the irradiation result of the light beam in two dimensions And a discriminating means disposed above the detection position and comprising: a defect detecting device for detecting the shape of an object to be detected.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31541699A JP2001133233A (en) | 1999-11-05 | 1999-11-05 | Method and apparatus for detection of fracture in shape of object to be detected |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31541699A JP2001133233A (en) | 1999-11-05 | 1999-11-05 | Method and apparatus for detection of fracture in shape of object to be detected |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001133233A true JP2001133233A (en) | 2001-05-18 |
Family
ID=18065130
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31541699A Pending JP2001133233A (en) | 1999-11-05 | 1999-11-05 | Method and apparatus for detection of fracture in shape of object to be detected |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001133233A (en) |
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-
1999
- 1999-11-05 JP JP31541699A patent/JP2001133233A/en active Pending
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