JP2001075197A - 画像処理装置、方法及び記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 画像データ上での欠陥部の規模に応じた適正
な欠陥部修正を簡易に実現する。 【解決手段】 写真フィルムに記録された画像をR,G,B,
IRについて各々読み取り、電子変倍（画素密度変換）等
の処理を経て得られたR,G,B,IRの各データに対し、写真
フィルム上での各データの画素密度に基づいて、欠陥部
か否かを判定するための閾値、欠陥部の修正に用いる周
辺領域の大きさ、欠陥部の修正に用いるワーク領域のサ
イズを(A)〜(C)に示すマップを用いて決定する。そし
て、上記各パラメータに従って欠陥部の検出・修正を行
う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は画像処理装置、方法
及び記録媒体に係り、特に、画像情報が表す画像の欠陥
部を検出し欠陥部を修正する画像処理装置、該画像処理
装置に適用可能な画像処理方法、及び、コンピュータを
前記画像処理装置として機能させるためのプログラムが
記録された記録媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】写真フィルムは、取扱い方によっては乳
剤面やバック面（乳剤面の裏面）に傷が付くことがある
が、写真フィルムの画像記録領域内に相当する箇所に傷
が付いていた場合、該写真フィルムに記録されている画
像を出力（印画紙等の画像記録材料に記録、或いはディ
スプレイ等の表示手段に表示）したとすると、傷の程度
にもよるが、写真フィルムに付いた傷が、低濃度の筋や
白い筋等の欠陥部として出力画像上で明瞭に視認される
ことが多い。また、写真フィルムの表面に塵埃等の異物
が付着していた場合にも、該異物が欠陥部として明瞭に
視認される。

【０００３】写真フィルムに光を照射し写真フィルムを
透過した光を印画紙に照射することで印画紙に画像を露
光記録する面露光タイプの写真焼付装置では、写真フィ
ルムの傷付き対策として、光源と写真フィルムとの間に
拡散板を配置し、拡散板によって散乱された光を写真フ
ィルムに照射している。しかし、上記技術では出力画像
（印画紙に露光記録した画像）中の欠陥部を消去するこ
とは困難であり、欠陥が若干軽減される（目立たなくな
る）に過ぎない。

【０００４】また、写真フィルムに記録された画像をＣ
ＣＤ等の読取センサによって読み取る構成の画像読取装
置に適用可能な技術として、特開平１１−７５０３９号
公報には、可視域３波長と、非可視域（例えば赤外域や
紫外域）１波長を含む少なくとも４波長以上の波長域で
写真フィルムを各々読み取り、非可視域での読み取りに
よって得られた情報に基づいて、可視域での読み取りに
よって得られた画像情報を補正する技術が開示されてい
る。

【０００５】可視域の光は、写真フィルムに記録されて
いる画像濃度に応じて透過光量が変化すると共に、写真
フィルムに傷や異物が付いている箇所でも傷や異物によ
って光が一部屈折されたり反射されることで透過光量が
変化する。一方、非可視域の光は、写真フィルムに傷や
異物が付いている箇所では透過光量が変化するものの、
写真フィルムに記録されている画像濃度の影響は受けな
い。

【０００６】従って、前記公報に記載の技術によれば、
非可視域の光の透過光量の変化から写真フィルムに付い
ている傷や異物を検出し、写真フィルムに付いている傷
や異物に起因する可視域の光の透過光量の変動を補正す
ること、すなわち写真フィルムに付いている傷や異物に
起因する画像（可視域での読み取りによって得られた画
像情報が表す画像）の欠陥部を修正することが可能とな
る。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、写真フィル
ムに付いている傷や異物の大きさは不定であり、画像を
読み取ることで得られる画像データ上での傷や異物に起
因する欠陥部の規模（欠陥部に属する画素の数）は前記
傷や異物の大きさに応じて変化する。また、写真フィル
ムに記録されている画像を読み取り、所定の画像処理を
行って出力する態様では、読取画像のサイズや出力画像
のサイズ、出力画像の画質についての要求水準等に応じ
て、画像読み取り時の光学倍率や読み取り解像度が変更
されたり、読み取りによって得られた画像データに対す
る電子変倍処理における倍率が変更されるが、この場合
にも画像データ上での欠陥部の規模が変化する。しかし
ながら、前記公報には、画像データ上での欠陥部の規模
が変化することを考慮した欠陥部修正について何ら考慮
されていない。

【０００８】画像データ上での欠陥部の規模が変化する
ことを考慮した欠陥部修正の一例として、考え得る最大
規模の欠陥部を修正する場合を想定し、欠陥部修正に関
連するパラメータ（欠陥部を修正するための演算に用い
る欠陥部の周囲領域の大きさや欠陥部の修正に必要なデ
ータを記憶するための記憶手段の容量）を、欠陥部の最
大規模に応じて固定的に定めることが考えられる。しか
し、この態様では、画像データ上での規模が小さい欠陥
部を修正する場合に、欠陥部の規模に比して広面積の周
囲領域のデータが演算に用いられることで欠陥部の規模
が小さい割に修正演算に時間がかかったり、大容量の記
憶手段が必要になるという問題がある。

【０００９】また、画像データ上での欠陥部の規模が変
化することを考慮した欠陥部修正の他の例として、画像
データ上での欠陥部の規模を検出し、欠陥部修正に関連
するパラメータを欠陥部の規模に応じた最適な値に変更
することが考えられる。しかし、この態様では、欠陥部
の規模を検出するために、例えば個々の欠陥部毎に欠陥
部に属する画素（欠陥画素）の画素数をカウントする等
の煩雑な処理を行う必要があった。

【００１０】本発明は上記事実を考慮して成されたもの
で、画像データ上での欠陥部の規模に応じた適正な欠陥
部修正を簡易に実現できる画像処理装置、画像処理方法
及び記録媒体を得ることが第１の目的である。

【００１１】また本発明は、画像データ上での欠陥部の
規模に拘わらず、欠陥部修正に関連するパラメータを変
更することなく欠陥部を適正に修正することができる画
像処理装置、画像処理方法及び記録媒体を得ることが第
２の目的である。

【００１２】

【課題を解決するための手段】欠陥部は画像記録材料に
付いた傷や異物によって生ずるが、写真感光材料等の画
像記録材料に付く傷や異物は、大きさは不定ではあるも
のの極端に大きいことは少なく、或る範囲内に収まって
いることが殆どである。本願発明者は上記に着目し、画
像情報上での欠陥部の規模に影響を及ぼす他のパラメー
タ（画像読み取り時の光学倍率、読み取り解像度、読み
取りによって得られた画像情報に対する電子変倍処理に
おける倍率等）によって変化する「画像情報が表す画像
の画像記録材料上での画素密度」が既知であれば、画像
情報上での欠陥部の規模を検出する等の煩雑な処理を行
わなくても、画像情報上での欠陥部の規模を或る程度の
精度で推定可能であることに想到した。

【００１３】上記に基づき、第１の目的を達成するため
に請求項１記載の発明に係る画像処理装置は、画像記録
材料に記録されている画像を読み取ることで得られた画
像情報に対し、該画像情報が表す画像の欠陥部を検出す
る検出手段と、前記画像情報に対し、前記検出手段によ
って検出された欠陥部を修正する修正手段と、前記画像
情報が表す画像の前記画像記録材料上での画素密度に応
じて、前記検出手段による欠陥部の検出又は前記修正手
段による欠陥部の修正に関連するパラメータを変更する
変更手段と、を含んで構成している。

【００１４】請求項１記載の発明は、画像記録材料に記
録されている画像を読み取ることで得られた画像情報に
対し、該画像情報が表す画像の欠陥部を検出する検出手
段を備えている。前記画像情報は、例えば画像記録材料
に光を照射し、画像記録材料を透過又は反射した光を、
多数の光電変換セルを備えた光電変換素子によって光電
変換する（読み取る）ことで得ることができ、欠陥部の
検出は、例えば画像記録材料に非可視光を照射し、画像
記録材料を透過又は反射した非可視光を光電変換した結
果を用いて行うことができる。

【００１５】また、請求項１の発明に係る修正手段は、
画像情報に対し、検出手段によって検出された欠陥部を
修正する。この欠陥部の修正は、例えば画像の欠陥部に
相当する領域の情報を欠陥部の周囲に存在している領域
の情報から補間によって求めたり、欠陥部の輝度が変化
するように画像情報を修正したり、欠陥部やその付近の
領域における空間周波数の高周波成分を減じて欠陥部が
ぼけるように画像情報を修正することで行うことができ
る。

【００１６】一方、前述のように画像記録材料に付く傷
や異物の大きさは或る範囲内に収まっていることが殆ど
であるので、画像情報上での欠陥部の規模についても、
画像情報が表す画像の画像記録材料上での画素密度に対
応する範囲内に収まることが殆どである。

【００１７】これに対し、請求項１の発明に係る変更手
段は、画像情報が表す画像の画像記録材料上での画素密
度に応じて、検出手段による欠陥部の検出又は修正手段
による欠陥部の修正に関連するパラメータを変更する。
なお、欠陥部の検出又は欠陥部の修正に関連するパラメ
ータとしては、例えば修正手段が欠陥部の修正に用いる
欠陥部の周辺領域の大きさ、修正手段が欠陥部の修正に
必要なデータを一時記憶するために確保する記憶領域の
サイズ、欠陥部の周辺領域のうち修正手段が欠陥部の修
正に用いる画素の間隔、検出手段による欠陥部の検出基
準等が挙げられる。

【００１８】上記により、例えば画像情報が表す画像の
画像記録材料上での画素密度に応じて、欠陥部の修正に
用いる欠陥部の周辺領域の大きさ（例えば画素数）を変
更した場合、周辺領域の大きさが、画像情報上での欠陥
部のおおよその規模に対応する大きさとされることによ
り、欠陥部の規模に比して周辺領域が大き過ぎることで
欠陥部の修正に必要以上に時間がかかったり、欠陥部の
規模に比して周辺領域が小さ過ぎることで欠陥部の修正
精度が低下することを回避できる。

【００１９】また、例えば画像情報が表す画像の画像記
録材料上での画素密度に応じて、欠陥部の修正に必要な
データを一時記憶するために確保する記憶領域のサイズ
を変更した場合、記憶領域のサイズが、画像情報上での
欠陥部のおおよその規模に対応する大きさとされること
により、欠陥部の規模に比して記憶領域のサイズが大き
過ぎることで記憶領域が無駄に占有されたり、欠陥部の
規模に比して記憶領域のサイズが小さ過ぎることで欠陥
部の修正に支障をきたすことを回避することができる。

【００２０】また、前述の画素密度に応じて周辺領域の
大きさを変更する態様では、欠陥部の規模が大きくなる
に従って周辺領域の大きさが大きくなることで、欠陥部
の修正に用いるデータのデータ量が増大し、欠陥部の修
正に要する時間が増大すると共に、該データの記憶に必
要な記憶領域のサイズも増大する。これに対し、例えば
画像情報が表す画像の画像記録材料上での画素密度に応
じて、欠陥部の周辺領域のうち欠陥部の修正に用いる画
素の間隔を変更した場合、画素密度が高く（欠陥部のお
およその規模が大きく）なるに従って欠陥部の修正に用
いる画素の間隔を大きくすることで、欠陥部の規模が大
きい場合にも欠陥部の修正に用いるデータのデータ量が
極端に増大することを抑制することができ、欠陥部の修
正に要する時間の増大及びデータの記憶に必要な記憶領
域のサイズの増大を抑制することができる。

【００２１】また、欠陥部の規模が大きくなるに従っ
て、個々の欠陥部の修正に要する時間は増大するが、欠
陥部が目立ち易くなるので欠陥部修正に対する要求水準
が高くなる可能性もある。例えば前記画素密度に応じて
欠陥部の検出基準（例えば欠陥部として検出するか否か
の閾値）を変更した場合、欠陥部の検出基準が、画像情
報上での欠陥部のおおよその規模に応じて変更されるの
で、例として画素密度が高く（欠陥部のおおよその規模
が大きく）なるに従って検出される欠陥部の数が少なく
なるように検出基準を変更すれば、修正手段が欠陥部の
修正に要する時間が増大することを抑制できる。また、
例として画素密度が高く（欠陥部のおおよその規模が大
きく）なるに従って検出される欠陥部の数が多くなるよ
うに検出基準を変更すれば、より微小な欠陥部まで修正
されるようにすることができる。

【００２２】このように、請求項１の発明によれば、欠
陥部の規模を検出する等の煩雑な処理を行うことなく、
欠陥部の検出又は欠陥部の修正に関連するパラメータが
欠陥部のおおよその規模に応じて適正化されるので、画
像情報上での欠陥部の規模に応じた適正な欠陥部修正を
簡易に実現することができる。なお、前記画素密度は、
例えば画像読み取り時の光学倍率や読み取り解像度、読
み取りによって得られた画像情報に対する電子変倍処理
（但し、欠陥部修正前に行う場合）における倍率等のパ
ラメータから演算等によって求めることができる。

【００２３】なお、変更手段が周辺領域の大きさを変更
する場合、具体的には請求項２に記載したように、画素
密度が高くなるに従って周辺領域の大きさが大きくなる
ように変更することができる。また、変更手段が記憶領
域のサイズを変更する場合、具体的には請求項２に記載
したように、画素密度が高くなるに従って記憶領域のサ
イズが大きくなるように変更することができる。

【００２４】また、変更手段が欠陥部の周辺領域のうち
欠陥部の修正に用いる画素の間隔を変更する場合、具体
的には請求項２に記載したように、前記画素の間隔を大
きくすることができる。また、変更手段が欠陥部の検出
基準を変更する場合、具体的には請求項２に記載したよ
うに、画素密度が高くなるに従って検出される欠陥部の
数が減少するように検出基準を変更することができる。

【００２５】第２の目的を達成するために請求項３記載
の発明に係る画像処理装置は、画像記録材料に記録され
ている画像を読み取ることで得られた画像情報を、該画
像情報が表す画像の前記画像記録材料上での画素密度が
所定値になるように変換する第１変換手段と、前記画像
情報が表す画像の欠陥部を検出する検出手段と、前記第
１変換手段による変換を経た画像情報に対し、前記検出
手段によって検出された欠陥部を修正する修正手段と、
前記修正手段による修正を経た画像情報を、該画像情報
が表す画像の前記画像記録材料上での画素密度が元の値
に戻るように変換する第２変換手段と、元の画像情報と
前記第２変換手段による変換を経た画像情報とを合成す
ることで、欠陥部が修正された画像情報を生成する生成
手段と、を含んで構成されている。

【００２６】請求項３の発明では、画像記録材料に記録
されている画像を読み取ることで得られた画像情報を、
該画像情報が表す画像の画像記録材料上での画素密度が
所定値になるように変換する第１変換手段を備えてい
る。前述のように、画像情報上での欠陥部の規模は画像
情報が表す画像の画素密度に対応する範囲内に収まるこ
とが殆どであるので、第１変換手段により画素密度が所
定値になるように変換された画像情報は、欠陥部の規模
が所定範囲内にほぼ収まっている。

【００２７】請求項３の発明に係る修正手段は、第１変
換手段による変換を経た画像情報に対し、請求項１の発
明と同様の検出手段によって検出された欠陥部を修正す
るので、欠陥部修正に関連するパラメータ（例えば請求
項１に記載した欠陥部の周辺領域の大きさ、記憶領域の
サイズ、欠陥部の検出基準等）として、画素密度が所定
値のときの適正値を予め設定しておくことで、元の画像
データ上での欠陥部の規模に拘わらず、前記パラメータ
を変更することなく欠陥部を適正に修正することができ
る。

【００２８】そして、修正手段による修正を経た画像情
報は、第２変換手段により、該画像情報が表す画像の画
像記録材料上での画素密度が元の値に戻るように変換さ
れ、生成手段は、元の画像情報と第２変換手段による変
換を経た画像情報とを合成することで、欠陥部が修正さ
れた画像情報を生成するので、画像データ上での欠陥部
の規模に拘わらず、欠陥部修正に関連するパラメータを
変更することなく欠陥部を適正に修正することができ
る。

【００２９】請求項４記載の発明は、請求項３の発明に
おいて、画像記録材料に非可視光を照射し、画像記録材
料を透過又は反射した非可視光を光電変換して得られた
非可視画像情報を取得する取得手段を更に備え、第１変
換手段は、非可視画像情報が表す画像の画像記録材料上
での画素密度も前記所定値になるように非可視画像情報
を変換し、検出手段は、第１変換手段による変換を経た
非可視画像情報を用いて欠陥部の検出を行うことを特徴
としている。

【００３０】請求項４の発明では、画像記録材料に非可
視光を照射し、画像記録材料を透過又は反射した非可視
光を光電変換して得られた非可視画像情報が取得手段に
よって取得され、該非可視画像情報は、該非可視画像情
報が表す画像の画像記録材料上での画素密度も所定値に
なるように第１変換手段によって変換される。これによ
り、画像記録材料上での画素密度が同一（所定値）とさ
れた画像情報及び非可視画像情報が得られる。

【００３１】そして請求項４の発明では、第１変換手段
による変換を経た非可視画像情報を用いて検出手段が欠
陥部の検出を行うので、修正手段は、検出手段による欠
陥部検出結果（例えば何れの画素が欠陥部に属する画素
かを表す情報等）をそのまま用いて、画像記録材料上で
の画素密度が所定値の画像情報に対して欠陥部を修正す
ることができる。従って請求項４の発明によれば、欠陥
部をより精度良く修正することができる。

【００３２】請求項５記載の発明は、請求項３の発明に
おいて、生成手段は、画像中の非欠陥部領域については
元の画像情報のみを用いると共に、画像中の欠陥部領域
については、第２変換手段による変換を経た画像情報の
みを用いるか、又は元の画像情報と第２変換手段による
変換を経た画像情報の加重平均に相当する画像情報を用
い、これらを合成することで欠陥部が修正された画像情
報を生成することを特徴としている。

【００３３】画像の画素密度が変化するように画像情報
を変換した場合、補間演算等が行われることで、該画像
情報が表す画像の鮮鋭度の低下等の画質低下が生ずる。
これに対して請求項５の発明では、画像中の非欠陥部領
域（欠陥部を除外した領域、或いは欠陥部及びその周囲
領域を除外した領域）については元の画像情報を用いる
ので、画像の大半を占める非欠陥部領域に鮮鋭度の低下
等の画質低下が生ずることを回避することができる。

【００３４】また、画像中の欠陥部領域（欠陥部のみ、
或いは欠陥部とその周囲領域を含んだ領域）について
は、第２変換手段による変換を経た画像情報のみを用い
るか、又は元の画像情報と第２変換手段による変換を経
た画像情報の加重平均に相当する画像情報を用い、これ
らを合成して画像情報を生成するので、第１変換手段及
び第２変換手段による変換に起因する画質の低下が抑制
されかつ欠陥部が適正に修正された画像を表す画像情報
を得ることができる。

【００３５】請求項６記載の発明に係る画像処理方法
は、画像記録材料に記録されている画像を読み取ること
で得られた画像情報に対し、該画像情報が表す画像の欠
陥部を検出し、前記画像情報に対し、前記検出した欠陥
部を修正すると共に、前記画像情報が表す画像の前記画
像記録材料上での画素密度に応じて、前記欠陥部の検出
又は前記欠陥部の修正に関連するパラメータを変更する
ので、請求項１の発明と同様に、画像データ上での欠陥
部の規模に応じた適正な欠陥部修正を簡易に実現するこ
とができる。

【００３６】請求項７記載の発明に係る画像処理方法
は、画像記録材料に記録されている画像を読み取ること
で得られた画像情報を、該画像情報が表す画像の前記画
像記録材料上での画素密度が所定値になるように変換す
る第１の変換を行うと共に、前記画像情報が表す画像の
欠陥部を検出し、前記第１の変換を経た画像情報に対
し、前記検出した欠陥部を修正し、前記欠陥部の修正を
経た画像情報を、該画像情報が表す画像の前記画像記録
材料上での画素密度が元の値に戻るように変換する第２
の変換を行い、元の画像情報と前記第２の変換を経た画
像情報とを合成することで、欠陥部が修正された画像情
報を生成するので、請求項３の発明と同様に、画像デー
タ上での欠陥部の規模に拘わらず、欠陥部修正に関連す
るパラメータを変更することなく欠陥部を適正に修正す
ることができる。

【００３７】請求項８記載の発明に係る記録媒体は、画
像記録材料に記録されている画像を読み取ることで得ら
れた画像情報に対し、該画像情報が表す画像の欠陥部を
検出する第１のステップ、前記画像情報に対し、前記検
出した欠陥部を修正する第２のステップ、及び、前記第
１のステップ及び前記第２のステップの少なくとも一方
を行う前に、前記画像情報が表す画像の前記画像記録材
料上での画素密度に応じて、前記欠陥部の検出又は前記
欠陥部の修正に関連するパラメータを変更する第３のス
テップを含む処理をコンピュータに実行させるためのプ
ログラムが記録されている。

【００３８】請求項８記載の発明に係る記録媒体には、
上記第１乃至第３のステップを含む処理、すなわちコン
ピュータを、請求項１に記載の画像処理装置として機能
させるためのプログラムが記録されているので、コンピ
ュータが前記記録媒体に記録されたプログラムを読み出
して実行することにより、請求項１の発明と同様に、画
像データ上での欠陥部の規模に応じた適正な欠陥部修正
を簡易に実現することができる。

【００３９】請求項９記載の発明に係る記録媒体は、画
像記録材料に記録されている画像を読み取ることで得ら
れた画像情報を、該画像情報が表す画像の前記画像記録
材料上での画素密度が所定値になるように変換する第１
の変換を行うと共に、前記画像情報が表す画像の欠陥部
を検出する第１のステップ、前記第１の変換を経た画像
情報に対し、前記検出した欠陥部を修正する第２のステ
ップ、前記欠陥部の修正を経た画像情報を、該画像情報
が表す画像の前記画像記録材料上での画素密度が元の値
に戻るように変換する第２の変換を行う第３のステッ
プ、及び、元の画像情報と前記第２の変換を経た画像情
報とを合成することで、欠陥部が修正された画像情報を
生成する第４のステップを含む処理をコンピュータに実
行させるためのプログラムが記録されている。

【００４０】請求項９記載の発明に係る記録媒体には、
上記第１乃至第４のステップを含む処理、すなわちコン
ピュータを、請求項３に記載の画像処理装置として機能
させるためのプログラムが記録されているので、コンピ
ュータが前記記録媒体に記録されたプログラムを読み出
して実行することにより、請求項３の発明と同様に、画
像データ上での欠陥部の規模に拘わらず、欠陥部修正に
関連するパラメータを変更することなく欠陥部を適正に
修正することができる。

【００４１】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態の一例を詳細に説明する。

【００４２】〔第１実施形態〕図１には、本実施形態に
係る画像処理システム１０が示されている。画像処理シ
ステム１０は、フィルムスキャナ１２、画像処理装置１
４及びプリンタ１６が直列に接続されて構成されてい
る。なお、フィルムスキャナ１２及び画像処理装置１４
は本発明に係る画像処理装置に対応している。

【００４３】フィルムスキャナ１２は、写真フィルム
（例えばネガフィルムやリバーサルフィルム）等の写真
感光材料（以下単に写真フィルムと称する）に記録され
ている画像（被写体を撮影後、現像処理されることで可
視化されたネガ画像又はポジ画像）を読み取り、該読み
取りによって得られた画像データを出力するものであ
り、図２にも示すように、ハロゲンランプ等から成り写
真フィルム２６に光を照射する光源２０を備えている。
なお、光源から射出される光は可視光域の波長の光及び
赤外域の波長の光を各々含んでいる。

【００４４】光源２０の光射出側には、写真フィルム２
６に照射する光の光量を調節するための絞り２１、フィ
ルタユニット２３、写真フィルム２６に照射する光を拡
散光とする光拡散ボックス２２が順に配置されている。
フィルタユニット２３は、入射光のうちＲに相当する波
長域の光（Ｒ光）のみ透過させるフィルタ２３Ｃと、入
射光のうちＧに相当する波長域の光（Ｇ光）のみ透過さ
せるフィルタ２３Ｍと、入射光のうちＢに相当する波長
域の光（Ｂ光）のみ透過させるフィルタ２３Ｙと、入射
光のうち赤外域の光（ＩＲ光）のみ透過させるフィルタ
２３ＩＲの４個のフィルタが、図２矢印Ａ方向に沿って
回転可能とされたターレット２３Ａに嵌め込まれて構成
されている。

【００４５】写真フィルム２６を挟んで光源２０と反対
側には、光軸Ｌに沿って、写真フィルム２６を透過した
光を結像させる結像レンズ（ズームレンズ）２８、エリ
アＣＣＤ３０が順に配置されている。エリアＣＣＤ３０
は、各々可視光域及び赤外域に感度を有する多数のＣＣ
Ｄセルがマトリクス状に配列されたモノクロのＣＣＤで
あり、受光面が結像レンズ２８の結像点位置に略一致す
るように配置されている。また、エリアＣＣＤ３０と結
像レンズ２８との間にはシャッタ（図示省略）が設けら
れている。

【００４６】エリアＣＣＤ３０はＣＣＤドライバ３１を
介してスキャナ制御部３３に接続されている。スキャナ
制御部３３はＣＰＵ、ＲＯＭ（例えば記憶内容を書換え
可能なＲＯＭ）、ＲＡＭ及び入出力ポートを備え、これ
らがバス等を介して互いに接続されて構成されている。
スキャナ制御部３３はフィルムスキャナ１２の各部の動
作を制御する。また、ＣＣＤドライバ３１はエリアＣＣ
Ｄ３０を駆動するための駆動信号を生成し、エリアＣＣ
Ｄ３０の駆動を制御する。

【００４７】写真フィルム２６はフィルムキャリア２４
（図１参照、図２では図示省略）によって搬送され、画
像の画面中心が光軸Ｌに一致する位置（読取位置）に位
置決めされる。また、スキャナ制御部３３は画像が読取
位置に位置決めされている状態で、フィルタ２３ＩＲを
含む全てのフィルタ２３が順に光軸Ｌ上に位置するよう
にフィルタユニット２３のターレット２３Ａを回転駆動
させると共に、所定の読取条件に対応するエリアＣＣＤ
３０の電荷蓄積時間をＣＣＤドライバ３１へ設定し、絞
り２１を前記所定の読取条件に対応する位置へ移動させ
ると共に、結像レンズ２８による光学倍率（ズーム倍
率）を前記所定の読取条件に対応する所定の倍率に調整
する。

【００４８】これにより、写真フィルム２６上の画像記
録領域に各フィルタ２３に対応する波長域（Ｒ又はＧ又
はＢ又はＩＲ）の光が順に照射され、写真フィルム２６
上の画像記録領域を透過した光は、結像レンズ２８を介
しエリアＣＣＤ３０に入射されてエリアＣＣＤ３０によ
って光電変換され、透過光量を表す信号としてエリアＣ
ＣＤ３０から出力される。エリアＣＣＤ３０から出力さ
れた信号は、Ａ／Ｄ変換器３２によって透過光量を表す
デジタルデータに変換されて画像処理装置１４に入力さ
れる。

【００４９】なお、Ｒ、Ｇ、Ｂの各波長域の光の透過光
量は、画像記録領域に記録されている画像のＲ，Ｇ，Ｂ
濃度に応じて変化する（写真フィルム２６に傷や異物が
付いていた場合にはこれらによっても変化するが、ＩＲ
光の透過光量は画像濃度の影響を受けず、傷や異物等の
みによって変化する）。従って、Ｒ、Ｇ、Ｂの各波長域
の透過光を光電変換することは画像を読み取ることに相
当し、以下では、画像処理装置１４に入力されるＲ、
Ｇ、Ｂ、ＩＲの各波長域のデータのうちＩＲを除くＲ、
Ｇ、Ｂの各データを画像データと称する。なお、Ｒ，
Ｇ，Ｂの画像データは本発明に係る画像情報に対応して
おり、ＩＲデータは非可視画像情報に対応している。

【００５０】一方、画像処理装置１４のスキャナ補正部
３６は、入力された画像データ（及びＩＲデータ）に対
し、暗補正、濃度変換、シェーディング補正等の各種の
補正処理を順に行う。スキャナ補正部３６の出力端はＩ
／Ｏコントローラ３８の入力端に接続されており、スキ
ャナ補正部３６で前記各処理が施された画像データはＩ
／Ｏコントローラ３８に入力される。Ｉ／Ｏコントロー
ラ３８の入力端は、イメージプロセッサ４０のデータ出
力端にも接続されており、イメージプロセッサ４０から
画像処理（詳細は後述）が行われた画像データが入力さ
れる。

【００５１】また、Ｉ／Ｏコントローラ３８の入力端は
制御部４２にも接続されている。制御部４２は拡張スロ
ット（図示省略）を備えており、この拡張スロットに
は、デジタルスチルカメラに装填可能なＰＣカードやＩ
Ｃカード（以下、これらをデジタルカメラカードと総称
する）、ＣＤ−ＲＯＭやＭＯ、ＣＤ−Ｒ等の情報記憶媒
体に対してデータ（或いはプログラム）の読出し／書込
みを行うドライバ（図示省略）や、他の情報処理機器と
通信を行うための通信制御装置が接続される。拡張スロ
ットを介して外部から入力された画像データはＩ／Ｏコ
ントローラ３８へ入力される。

【００５２】Ｉ／Ｏコントローラ３８の出力端は、イメ
ージプロセッサ４０のデータ入力端及び制御部４２に各
々接続されており、更にＩ／Ｆ回路５４を介してプリン
タ１６に接続されている。Ｉ／Ｏコントローラ３８は、
入力された画像データを、出力端に接続された前記各機
器に選択的に出力する。

【００５３】本実施形態では、写真フィルム２６に記録
されている個々の画像に対し、フィルムスキャナ１２に
おいて異なる解像度で２回の読み取りを行う。１回目の
読み取り（プレスキャン）では、画像の濃度が非常に低
い場合にも、エリアＣＣＤ３０で蓄積電荷の飽和が生じ
ないように決定した読取条件で各画像の読み取りが行わ
れる。なお、本実施形態ではプレスキャン時にはＩＲ読
み取りは行なわない。このプレスキャンによって得られ
たデータ（プレスキャン画像データ）は、Ｉ／Ｏコント
ローラ３８から制御部４２へ入力される。

【００５４】制御部４２は、ＣＰＵ４６、ＲＡＭ４８、
ＲＯＭ５０（例えば記憶内容を書換え可能なＲＯＭ）、
入出力ポート５２を備え、これらがバスを介して互いに
接続されて構成されている。制御部４２は、Ｉ／Ｏコン
トローラ３８から入力されたプレスキャン画像データに
基づいて画像のサイズ（アスペクト比）を判断すると共
に、画像の濃度等の画像特徴量を演算し、各画像に対
し、フィルムスキャナ１２が再度読み取り（ファインス
キャン）を行う際の読取条件を決定し、決定した読取条
件をフィルムスキャナ１２に出力する。

【００５５】なお、読取条件には画像の読取倍率（光学
倍率）も含まれている。この読取倍率は画像のアスペク
ト比等に基づいて決定される。例えば１３５サイズの写
真フィルムに記録されている画像のうち、ハイビジョン
サイズやパノラマサイズに相当するアスペクト比の画像
は、フレームサイズは小さいものの印画紙への画像の記
録サイズは通常のフルサイズの画像よりも大きい。この
ため、印画紙に記録する際の画質劣化を考慮し、通常サ
イズよりも高い読取倍率（例えば読取解像度（画素密
度）が２倍となる倍率）が設定される。

【００５６】また制御部４２は、プレスキャン画像デー
タに基づいて、画像中の主要画像領域（例えば人物の顔
に相当する領域（顔領域))の抽出を含む画像特徴量の演
算を行い、フィルムスキャナ１２がファインスキャンを
行うことによって得られる画像データ（ファインスキャ
ン画像データ）に対する各種の画像処理の処理条件を演
算により自動的に決定し（セットアップ演算）、決定し
た処理条件をイメージプロセッサ４０へ出力する。

【００５７】例えば各種の画像処理の１つである画素密
度変換処理（所謂電子変倍処理）については、制御部４
２は、画像読み取りにおける読取解像度（画像読み取り
時の光学倍率及びエリアＣＣＤ３０のセル数から求ま
る）及び出力用画像データの画素数（出力用画像データ
の用途（例えば印画紙に記録／表示手段に表示／情報記
憶媒体へ格納）に応じて定まる）に基づいて、画素密度
変換処理の処理条件である電子変倍率（：画素密度変換
率＝変換後の画素密度／変換前の画素密度）を演算によ
って決定している。

【００５８】なお、制御部４２は、フィルムスキャナ１
２から入力されたＩＲデータに基づいて、画像データが
表す画像中に、写真フィルム２６に付いている傷や塵埃
等の異物に起因する欠陥部が生じているか否かを探索す
る機能、イメージプロセッサ４０が欠陥部修正処理を行
うためのパラメータを設定する機能を有している。ま
た、制御部４２のバスにはディスプレイ４３、キーボー
ド４４及びマウス（図示省略）が接続されている。

【００５９】制御部４２は、演算した画像処理の処理条
件に基づき、ファインスキャン画像データを対象として
イメージプロセッサ４０で行われる画像処理と等価な画
像処理をプレスキャン画像データに対して行ってシミュ
レーション画像データを生成する。そして、生成したシ
ミュレーション画像データを、ディスプレイ４３に画像
を表示するための信号に変換し、該信号に基づいてディ
スプレイ４３にシミュレーション画像を表示する。ま
た、表示されたシミュレーション画像に対しオペレータ
によって画質等の検定が行われ、検定結果として処理条
件の修正を指示する情報がキーボード４４やマウスを介
して入力されると、入力された情報に基づいて画像処理
の処理条件の再演算等を行う。

【００６０】一方、フィルムスキャナ１２で画像に対し
てファインスキャンが行われることによってＩ／Ｏコン
トローラ３８に入力された画像データ（ファインスキャ
ン画像データ）は、Ｉ／Ｏコントローラ３８からイメー
ジプロセッサ４０へ入力される。なお、このファインス
キャンは、先に制御部４２によって演算された読取条件
に従い、エリアＣＣＤ３０の電荷蓄積時間、絞り２１の
位置、及び結像レンズ２８による光学倍率を調整しなが
ら行われる。

【００６１】イメージプロセッサ４０は、階調変換や色
変換を含む色・濃度補正処理、画素密度変換処理（所謂
電子変倍処理）、画像の超低周波輝度成分の階調を圧縮
するハイパートーン処理、粒状を抑制しながらシャープ
ネスを強調するハイパーシャープネス処理等の各種の画
像処理を行う画像処理回路を各々備えており、入力され
た画像データに対し、制御部４２によって各画像毎に決
定されて通知された処理条件に従って種々の画像処理を
行う。また、イメージプロセッサ４０は制御部４２によ
って設定されたパラメータに従って欠陥部修正処理を行
う機能を有している。

【００６２】イメージプロセッサ４０で画像処理が行わ
れた画像データを印画紙への画像の記録に用いる場合に
は、イメージプロセッサ４０で画像処理が行われた画像
データは、Ｉ／Ｏコントローラ３８からＩ／Ｆ回路５４
を介し記録用画像データとしてプリンタ１６へ出力され
る。また、画像処理後の画像データを画像ファイルとし
て外部へ出力する場合は、Ｉ／Ｏコントローラ３８から
制御部４２へ画像データが出力される。これにより、制
御部４２では、外部への出力用としてＩ／Ｏコントロー
ラ３８から入力された画像データを、拡張スロットを介
して画像ファイルとして外部（前記ドライバや通信制御
装置等）に出力する。

【００６３】プリンタ１６は、画像メモリ５８、Ｒ，
Ｇ，Ｂのレーザ光源６０、該レーザ光源６０の作動を制
御するレーザドライバ６２を備えている。画像処理装置
１４から入力された記録用画像データは画像メモリ５８
に一旦記憶された後に読み出され、レーザ光源６０から
射出されるＲ，Ｇ，Ｂのレーザ光の変調に用いられる。
レーザ光源６０から射出されたレーザ光は、ポリゴンミ
ラー６４、ｆθレンズ６６を介して印画紙６８上を走査
され、印画紙６８に画像が露光記録される。画像が露光
記録された印画紙６８は、プロセッサ部１８へ送られて
発色現像、漂白定着、水洗、乾燥の各処理が施される。
これにより、印画紙６８に露光記録された画像が可視化
される。

【００６４】次に本実施形態の作用として、スキャナ１
２から画像処理装置１４にファインスキャン画像データ
が入力され、該画像データに対しイメージプロセッサ４
０において画素密度変換等の処理が行われると制御部４
２で実行される欠陥部修正値決定処理について説明す
る。

【００６５】欠陥部修正値決定処理は、請求項６に記載
の画像処理方法が適用された処理であり、制御部４２の
ＣＰＵ４６により、欠陥部修正値決定プログラムが実行
されることによって実現される。欠陥部修正値決定プロ
グラムは、その他の処理をＣＰＵ４６で実行させるため
のプログラムと共に、当初は、情報記憶媒体７２（図１
参照）に記憶されている。なお、図１では情報記憶媒体
７２をフロッピーディスクとして示しているが、ＣＤ−
ＲＯＭやメモリカード等で構成してもよい。

【００６６】制御部４２に接続された情報読出装置（図
示省略）に情報記憶媒体７２が装填され、情報記憶媒体
７２から画像処理装置１４へのプログラムの移入（イン
ストール）が指示されると、情報読出装置によって情報
記憶媒体７２から欠陥部修正値決定プログラム等が読み
出され、記憶内容を書換え可能なＲＯＭ５０に記憶され
る。そして、欠陥部修正値決定処理を実行すべきタイミ
ングが到来すると、ＲＯＭ５０から欠陥部修正値決定プ
ログラムが読み出され、該プログラムがＣＰＵ４６によ
って実行される。これにより、画像処理装置１４は請求
項１に記載の画像処理装置として機能する。このよう
に、欠陥部修正値決定プログラム等を記憶している情報
記憶媒体７２は請求項８に記載の記録媒体に対応してい
る。

【００６７】以下、欠陥部修正値決定処理について、図
３のフローチャートを参照して説明する。ステップ１０
０では、処理対象の単一の画像のＲ，Ｇ，Ｂの画像デー
タ及びＩＲデータ（イメージプロセッサ４０で画素密度
変換等の処理を経たデータ）をＲＡＭ４８等に取り込
む。次のステップ１０２では、処理対象の画像に対する
読取解像度及び電子変倍率に基づいて、画像データが表
す画像の写真フィルム２６上での画素密度（以下、単に
「画像データの画素密度」という）を演算する。

【００６８】ステップ１０４では、ステップ１０２で演
算された画像データの画素密度に応じて、欠陥部の検出
基準（欠陥部と判定するか否かの閾値（ＩＲ光量変動
値))、欠陥部の修正に用いる欠陥部の周囲領域の大き
さ、欠陥部の修正に際してデータを一時記憶するための
ワーク領域のサイズの各パラメータの値を決定する。本
実施形態では、例えば図４（Ａ）乃至（Ｃ）に示したよ
うなマップを用い、先に求めた画像データの画素密度に
対応する値を抽出することで上記の各パラメータの値を
決定している。このステップ１０４は請求項１に記載の
変更手段（詳しくは請求項２に記載の変更手段）に対応
している。

【００６９】次のステップ１０６では、ＲＡＭ４８等に
取り込んだＲ，Ｇ，Ｂの画像データ及びＩＲデータに基
づき、Ｒ，Ｇ，Ｂの画像データが表す処理対象の画像の
欠陥部を検出する欠陥部検出処理を行う。まず欠陥部検
出処理の説明に先立ち、写真フィルムに傷や異物の付い
ている箇所のＩＲ光による検出の原理について説明す
る。

【００７０】図５（Ａ）に示すように、写真フィルム上
の表面に傷や異物が付いていない箇所に光を照射したと
きの透過光量は、写真フィルムへの入射光量に対し、写
真フィルムによる光の吸収に応じた減衰量だけ減衰す
る。なお、写真フィルムで光の吸収が生ずる波長域はお
およそ可視光域であり、赤外域のＩＲ光については殆ど
吸収されないので、前記傷や異物が付いていない箇所に
ＩＲ光を照射した場合の透過光量は入射光量から僅かに
変化するのみである。

【００７１】一方、写真フィルム上の傷が付いている箇
所に光を照射した場合、照射された光の一部は傷によっ
て屈折するので、前記傷が付いている箇所に光を照射し
たときの透過光量（前記箇所を直線的に透過する光の光
量）は、写真フィルムへの入射光量に対し、前述した写
真フィルムによる光の吸収に起因する減衰に、傷による
光の屈折に起因する減衰を加えた減衰量だけ減衰する。
なお、図５（Ａ）では光の入射側に傷が付いている場合
を示しているが、光の射出側に傷が付いている場合も同
様である。

【００７２】傷による光の屈折はＩＲ光でも生ずるの
で、前記傷が付いている箇所にＩＲ光を照射した場合の
ＩＲ光の透過光量は、傷による光の屈折に起因する減衰
に応じた減衰量だけ減衰する。なお傷による光の屈折
は、例として図５（Ｂ）にも示すように、傷の規模（深
さ等）が大きくなるに伴って顕著となる（可視光もＩＲ
光も同様）ので、前記傷が付いている箇所にＩＲ光を照
射した場合の透過光量は傷の規模が大きくなるに従って
小さくなる。従って、ＩＲ光の透過光量の減衰量に基づ
いて、写真フィルムに付いている傷の規模も検知するこ
とができる。

【００７３】また、写真フィルム上の塵埃等の異物がつ
いている箇所に光を照射した場合、照射した光は異物に
よって反射されるので、異物の大きさや種類（光透過
率）にも依存するが、前記異物が付いている箇所に光を
照射した場合の光の透過光量は前記異物によって大きく
減衰する。異物が付いている箇所に光を照射した場合の
透過光量の減衰は、前記箇所にＩＲ光を照射した場合も
同様である。

【００７４】上記のように、写真フィルムにＩＲ光を透
過した場合の透過光量は、写真フィルム上の傷又は異物
が付いている箇所でのみ変化し、写真フィルムに画像が
記録されていたとしても、該画像の透過濃度の変化の影
響を受けないので、写真フィルムにＩＲ光を照射して透
過光量を検出することで、写真フィルムに付いている傷
や異物を検出できる。

【００７５】上記に基づき、ステップ１０６では以下の
ようにして欠陥部検出処理を行う。写真フィルムにＩＲ
光を照射したときの透過光量は、前述のように通常は画
像上の位置に拘わらず略一定となり、写真フィルムに傷
又は異物が付いている箇所でのみ低下する（図６参
照）。ＩＲデータは処理対象の画像上の各位置における
ＩＲ光の透過光量を表しているので、処理対象の画像上
の傷や異物が付いていない箇所におけるＩＲデータが表
すＩＲ光の透過光量（例えば透過光量の最大値）を基準
値とする。そして、各画素毎にＩＲ光の透過光量を基準
値と比較し、基準値に対する透過光量の変化量（低下
量）が、ステップ１０４で定めた欠陥部判定閾値（欠陥
部判定基準）以上の画素を、修正対象の欠陥部に属する
欠陥画素として全て検出する。

【００７６】またステップ１０６では、検出した欠陥画
素を、欠陥画素相互の位置関係（例えば隣接しているか
否か）等に基づいて、同一の欠陥部に属する欠陥画素毎
に分類し、各欠陥部に関する情報（例えば各欠陥部に属
する欠陥画素を表す情報や各欠陥画素におけるＩＲ光の
透過光量の低下量等の情報）をＲＡＭ４８等に記憶す
る。ステップ１０６は、写真フィルムのＩＲ光の透過光
量を測定するフィルムスキャナ１２と共に本発明の検出
手段（詳しくは請求項４に記載の検出手段）に対応して
いる。

【００７７】本実施形態では、上記の欠陥部検出処理に
よって検出された欠陥部を対象として欠陥部の修正を行
うが、先のステップ１０４において、一例として図４
（Ａ）に実線で示すように、画像データの画素密度が高
くなるに従って欠陥部判定閾値が高くなるように特性が
定められたマップを用いて欠陥部判定閾値を設定した場
合、画像データの画素密度が高くなる（画像データ上で
の欠陥部のおおよその規模が大きくなる）に伴ってＩＲ
光量の変動が大きな欠陥部のみが検出されるように、欠
陥部判定閾値が設定されることになる。

【００７８】画像データ上での欠陥部の規模が大きくな
ると、個々の欠陥部の修正に要する時間が長くなること
が多いが、上記の特性を有するマップに従って設定され
た欠陥部判定閾値を用いて欠陥部検出処理を行うことに
より、画像データ上での欠陥部のおおよその規模が大き
くなるに伴って検出される欠陥部の数が絞られることに
なり、欠陥部の修正に要する時間の増大を抑制すること
ができる。

【００７９】なお、図４（Ａ）に示す破線は、実線で示
す特性と逆に、画像データの画素密度が高くなるに従っ
て欠陥部判定閾値が低くなる特性を表しており、先のス
テップ１０４において、上記のような特性を有するマッ
プを用いて欠陥部判定閾値を設定し、該欠陥部判定閾値
を用いて欠陥部検出処理を行った場合には、画像データ
上での欠陥部のおおよその規模が大きくなるに伴って、
検出される欠陥部の数が増大されることで欠陥部の修正
に要する時間は増大するものの、画像中の微小な欠陥部
も検出されて修正されることで出力画像の画質を向上さ
せることができる。

【００８０】ステップ１０８では、ステップ１０６の欠
陥部検出処理によって欠陥部が検出されたか否か判定す
る。上記判定が否定された場合には、修正すべき欠陥部
が存在していないので欠陥部修正値決定処理を終了す
る。また、ステップ１０８の判定が肯定された場合には
ステップ１１０へ移行し、欠陥部の修正に際してデータ
を一時記憶するためのワーク領域として、ＲＡＭ４８の
記憶領域のうちデータが未記憶の空き領域を、先のステ
ップ１０４で決定したワーク領域のサイズ分だけ確保す
る。

【００８１】本実施形態では、上記のステップ１１０で
確保されたワーク領域を用いて欠陥部の修正を行うが、
先のステップ１０４において、一例として図４（Ｃ）に
示すように、画像データの画素密度が高くなる（画像デ
ータ上での欠陥部のおおよその規模が大きくなる）に従
ってワーク領域のサイズが大きくなるように特性が定め
られたマップを用いてワーク領域のサイズを設定してい
るので、設定したサイズのワーク領域を確保し、該ワー
ク領域を用いて欠陥部の修正を行うことにより、ＲＡＭ
４８の記憶領域が無駄に占有されたり欠陥部の修正に際
してワーク領域が不足することを回避することができ
る。

【００８２】ステップ１１２では、ステップ１０６の欠
陥部検出処理によって検出された欠陥部の中から処理対
象の単一の欠陥部を選択する。本実施形態では、欠陥部
を修正するための修正方法として補間方法と輝度調整方
法が用意されており、次のステップ１１４では、ステッ
プ１１２で選択した処理対象の欠陥部に対し、該欠陥部
の修正における補間方法と輝度調整方法の適用範囲を決
定するための所定の特徴量を演算する。この所定の特徴
量としては、例えば欠陥部付近におけるＲ，Ｇ，Ｂの濃
度変化（透過光量の変化）の相関を表す特徴量を用いる
ことができる。

【００８３】図５（Ｂ）に示すように、写真フィルムの
乳剤層はＲ，Ｇ，Ｂの各感光層を含んで構成されてお
り、画像が露光記録され現像等の処理が行われた写真フ
ィルム（ネガフィルム）は、Ｒ感光層にＣのネガ像が形
成され、Ｇの感光層にＭのネガ像が形成され、Ｂの感光
層にＹのネガ像が形成される。そして写真フィルムを透
過した可視光のうち、Ｒ光についてはＲ感光層において
Ｃのネガ像の透過濃度に応じた減衰量だけ減衰（吸収）
され、Ｇ光についてはＧ感光層においてＭのネガ像の透
過濃度に応じた減衰量だけ減衰（吸収）され、Ｂ光につ
いてはＢ感光層においてＹのネガ像の透過濃度に応じた
減衰量だけ減衰（吸収）される。

【００８４】ここで、例として図５（Ｂ）に示すよう
に、乳剤面と反対側のバック面に傷が付いている場合、
透過光に対するＲ，Ｇ，Ｂの各感光層における光の吸収
の比率は傷が付いていない場合と同じである。すなわ
ち、図５（Ｂ）において、写真フィルムへの入射光量を
Ｉ₀、傷が付いていないときのＲ光、Ｇ光、Ｂ光の透過
光量を各々Ｉ_0R，Ｉ_0G ，Ｉ_0B とし、傷が付いたときに
傷が付いている箇所を直線的に透過して乳剤層に入射す
る光量をＩ₁（Ｉ₁＜Ｉ₀：Ｉ₀−Ｉ₁が傷による光の減衰
分）、傷が付いているときのＲ光、Ｇ光、Ｂ光の透過光
量を各々Ｉ_1R，Ｉ_1G ，Ｉ_1B とすると、以下の（１）式
の関係が成り立つ（図６（Ａ）も参照）。 Ｉ_0R／Ｉ₀≒Ｉ_1R／Ｉ₁ Ｉ_0G／Ｉ₀≒Ｉ_1G／Ｉ₁ Ｉ_0B／Ｉ₀≒Ｉ_1B／Ｉ₁ …（１）

【００８５】従って、バック面に傷が付いている箇所に
対応する欠陥部は、傷が付いていない場合と比較して輝
度のみが変化し、写真フィルムに記録されている画像の
色情報は保存されているので、輝度調整方法を適用し欠
陥部領域の輝度を調整することで、画像データが表す画
像の欠陥部を修正することができる。

【００８６】一方、例として図５（Ｃ）に示すように乳
剤面に傷が付いている場合、浅い傷であれば各感光層の
うちの一部の感光層が削られることで、透過光に対する
Ｒ，Ｇ，Ｂの各感光層における光の吸収の比率は傷が付
いていない場合と変化する。また、各感光層が全て剥ぎ
取られているような非常に深い傷であれば、透過光に対
する各感光層における光の吸収は生じない。従って、何
れの場合も（１）式の関係は成立しない（図６（Ｂ）も
参照）。

【００８７】このように、乳剤面に傷が付いている箇所
に対応する欠陥部は、傷の深さに拘わらず、傷が付いて
いない場合と比較して輝度及び色が各々変化しており、
写真フィルムに記録されている画像の色情報も失われて
いるので、輝度を調整しても欠陥部を精度良く修正する
ことは困難である。このため、乳剤面に傷が付いている
箇所に対応する欠陥部の修正には、欠陥部の周囲の領域
の情報から補間によって欠陥部の輝度及び濃度を決定す
る修正方法（補間方法）が適している。なお、写真フィ
ルムに異物が付いていることに起因して生じた欠陥部に
ついても、異物が付いていない場合と比較して輝度及び
色が各々変化するので、上記の欠陥部を修正する場合に
も補間方法が適している。

【００８８】上述したように、写真フィルムのバック面
に付いた傷に起因する欠陥部では、欠陥部内の各部にお
いてＲ，Ｇ，Ｂの各波長域の光が略一定の割合で低下す
るので、画像データ上での欠陥部におけるＲ，Ｇ，Ｂの
濃度変化量が略一定となるのに対し、写真フィルムの乳
剤面に付いた傷や異物に起因する欠陥部では前記割合が
不定であるので、前記濃度変化量も不定となる。従っ
て、所定の特徴量として欠陥部におけるＲ，Ｇ，Ｂの濃
度変化の相関を表す特徴量を用いれば、該特徴量の演算
結果に基づいて、処理対象の欠陥部がバック面に付いた
傷に起因する欠陥部か（輝度調整方法で修正すべき欠陥
部か）、乳剤面に付いた傷又は異物に起因する欠陥部か
（補間方法で修正すべき欠陥部か）を判断できる。

【００８９】なお、欠陥部におけるＲ，Ｇ，Ｂの濃度変
化の相関を表す特徴量に代えて、欠陥部付近におけるＩ
Ｒ光の透過光量の変化と欠陥部付近におけるＲ光、Ｇ
光、Ｂ光の透過光量の変化との相関を表す特徴量、欠陥
部の周囲の領域におけるエッジ強度やテクスチャ強度、
欠陥部が画像中の主要部領域内に存在しているか否か
（又は欠陥部と主要部領域との重複割合）、欠陥部付近
におけるＩＲ光の透過光量の何れか１つ、又はこれらを
組み合わせて用いてもよい。

【００９０】そして所定の特徴量の演算結果に基づき、
処理対象の欠陥部の修正における補間方法と輝度調整方
法の適用範囲（適用割合）を決定する。適用範囲の決定
は、例えば図７（Ａ）に示すように、所定の特徴量の値
と補間方法の適用割合α（輝度調整方法の適用割合でも
よい）との関係を表すマップを用いることで行うことが
できる。なお、図７（Ａ）のマップにおいて、α＝１の
範囲は補間方法のみを選択して欠陥部の修正を行い、α
＝０の範囲は輝度調整方法のみを選択して欠陥部の修正
を行い、０＜α＜１の範囲では、補間方法を適用割合＝
αで、輝度調整方法の適用割合＝（１−α）で各々適用
することを表す。

【００９１】所定の特徴量の値に応じて上記のように修
正方法の適用割合を決定することにより、処理対象の欠
陥部が精度良く修正されるように、各修正方法の最適な
適用割合が決定されることになる。なお、図７（Ａ）の
マップに代えて図７（Ｂ）又は（Ｃ）に示すようなマッ
プを用いてもよいし、特徴量の値の変化に対して適用割
合αの値が非線形に変化するマップを用いてもよい。

【００９２】次のステップ１１６では処理対象の欠陥部
の修正に補間方法を適用するか否か判定する。適用割合
α＝０であれば判定が否定されてステップ１２０へ移行
するが、適用割合α≠０であれば判定が肯定されてステ
ップ１１８へ移行し、補間方法による修正値決定処理が
行われる。以下、この補間方法による修正値決定処理に
ついて説明する。

【００９３】本実施形態に係る補間方法による修正値決
定処理では、欠陥部を構成する全ての欠陥画素につい
て、以下の処理を各々行うことによって成される。すな
わち、例として図８に複数本の矢印で示すように、まず
処理対象の欠陥画素から放射状に延びる複数の方向に沿
って、各々画素単位でスキャンして欠陥部に属さない正
常画素を探索し、図９（Ａ）に示す濃度勾配（傾きＧＲ
ＡＤ）、正常画素間距離（ＤＩＳＴ）及び補間値（補間
によって求める欠陥画素のＲ，Ｇ，Ｂ各色毎の濃度値、
図９（Ａ）に「□」で示す値）を各方向について各々演
算する。

【００９４】ここで、図８に示す「方向６」のように、
スキャン方向が欠陥部（図８における白い領域）の延び
る方向と略一致していた場合には、一定距離以上スキャ
ンしても正常画素は検出されない。また、画素間隔に対
する欠陥部の大きさ（すなわち画像データ上での欠陥部
の規模）は、画像データの画素密度に応じて相対的に変
化する。

【００９５】このため、各スキャン方向毎のスキャン
は、正常画素を検出すると該正常画素のデータを先に確
保したワーク領域に格納してスキャンを継続し、所定数
の正常画素のデータをワーク領域に格納するとスキャン
を中止し、濃度勾配の傾き（絶対値）ＧＲＡＤ（ｉ）、
正常画素間距離ＤＩＳＴ（ｉ）及び補間値ＶＡＬＵＥ_X
（ｉ）（但し、ｉはスキャン方向を識別するための符号
であり、ＸはＲ，Ｇ，Ｂの何れかを表す）を演算する。
また、所定数の正常画素が検出されなかった場合にも、
スキャン距離（スキャン画素数）が、先のステップ１０
４で決定した欠陥部周辺領域の大きさに相当する値に達
するとスキャンを中止する。

【００９６】本実施形態では、先のステップ１０４にお
いて、図４（Ｂ）に示すように、画像データの画素密度
が高くなる（画像データ上での欠陥部のおおよその規模
が大きくなる）に従って欠陥部周辺領域の大きさが大き
くなるように特性が定められたマップを用いて欠陥部周
辺領域の大きさを設定しているので、上記のように各ス
キャン方向についてのスキャンを、設定された欠陥部周
辺領域の大きさに相当する範囲内でのみ各々行うことに
より、欠陥部の修正（詳しくは各スキャン方向について
のスキャン）に必要以上に時間がかかったり、逆に画像
データ上での欠陥部の規模に比して欠陥部周辺領域の大
きさが小さ過ぎて正常画素を検出できないことで、欠陥
部の修正精度が低下することを回避することができる。

【００９７】全てのスキャン方向について上記のスキャ
ンを行うと、各スキャン方向毎に演算・記憶されている
濃度勾配の傾きＧＲＡＤ（ｉ）及び正常画素間距離ＤＩ
ＳＴ（ｉ）に基づいて、各スキャン方向毎の重み係数を
演算する。本実施形態では、各スキャン方向毎の重み係
数Ｍ（ｉ）を次の（２）式に従って演算する。 Ｍ（ｉ）＝Ｍｇ（ＧＲＡＤ（ｉ))×Ｍｄ（ＤＩＳＴ（ｉ)) …（２）

【００９８】なお（２）式においてＭｇ及びＭｄは重み
係数であり、重み係数Ｍｇは濃度勾配の傾きＧＲＡＤが
小さいときに重みが大きくなるように、例として図９
（Ｂ）に示すようなマップを用いて濃度勾配の傾きＧＲ
ＡＤに応じて定めることができる。また、重み係数Ｍｄ
についても正常画素間距離ＤＩＳＴが小さいときに重み
が大きくなるように、例として図９（Ｃ）に示すような
マップを用いて正常画素間距離ＤＩＳＴに応じて定める
ことができる。

【００９９】これにより、濃度勾配の傾きＧＲＡＤが小
さくかつ正常画素間距離ＤＩＳＴが小さいスキャン方向
については重み係数Ｍの値が大きくなり、濃度勾配の傾
きＧＲＡＤ及び正常画素間距離ＤＩＳＴの何れか一方が
大きいスキャン方向については重み係数Ｍの値が小さく
（或いは０に）されることになる。また、正常画素を検
出できずにスキャンが中止されたスキャン方向について
は、重み係数Ｍの値が無条件で０とされる。

【０１００】そして、各スキャン方向毎の補間値ＶＡＬ
ＵＥ_X（ｉ）及び重み係数Ｍ（ｉ）に基づき、処理対象
の欠陥画素の修正画素値ＤＩ_Xを次の（３）式に従って
Ｒ，Ｇ，Ｂ毎に演算する。 ＤＩ_X＝Σ（Ｍ（ｉ）×ＶＡＬＵＥ_X（ｉ））／Σ（Ｍ（ｉ)) …（３）

【０１０１】（３）式では、各スキャン方向毎の補間値
ＶＡＬＵＥ_X（ｉ）を重み係数Ｍ（ｉ）に応じて重み付
けして修正画素値ＤＩ_Xを求めているので、個々の欠陥
部毎や単一の欠陥部内の各部分毎に適正なスキャン方向
がばらついていたとしても、適正な修正画素値を得るこ
とができる。上記の処理を処理対象の欠陥部内の全ての
欠陥画素に対して各々行い、全ての欠陥画素に対して修
正画素値ＤＩ_Xを各々演算すると、補間方法による修正
値決定処理を終了する。

【０１０２】補間方法による修正値決定処理を終了する
と、図３のフローチャートのステップ１２０へ移行す
る。ステップ１２０では、処理対象の欠陥部の修正に輝
度調整方法を適用するか否か判定する。適用割合α＝１
であれば判定が否定されてステップ１２４へ移行する
が、適用割合α≠１であれば判定が肯定されてステップ
１２２へ移行し、輝度調整方法による修正値決定処理が
行われる。以下、この輝度調整方法による修正値決定処
理について説明する。

【０１０３】まず、処理対象の画像のＲ，Ｇ，Ｂの画像
データ及びＩＲデータから、処理対象の欠陥部、及び先
のステップ１０４で決定した欠陥部周辺領域の大きさに
相当する範囲の周囲領域から成る所定領域のデータを各
々抽出し、抽出した所定領域の各データをハイパスフィ
ルタに各々入力することで、Ｒ，Ｇ，Ｂ，ＩＲの各デー
タから、Ｒの高周波成分データＨ−r、Ｇの高周波成分
データＨ−g、Ｂの高周波成分データＨ−b、ＩＲの高周
波成分データＨ−IRを各々生成する。そして、それぞれ
のデータをステップ１１０で確保したワーク領域に一旦
記憶する。

【０１０４】輝度調整方法による修正値決定処理におけ
る以降の処理は、前記所定領域のデータのみを用いて行
われるが、本実施形態では、先のステップ１０４におい
て、図４（Ｂ）に示すように、画像データの画素密度が
高くなる（画像データ上での欠陥部のおおよその規模が
大きくなる）に従って欠陥部周辺領域の大きさが大きく
なるように特性が定められたマップを用いて欠陥部周辺
領域の大きさを設定しているので、上記のように欠陥
部、及び設定された欠陥部周辺領域の大きさに相当する
範囲の周囲領域から成る所定領域のデータのみを用いて
欠陥部の修正を行うことにより、欠陥部の修正に必要以
上に時間がかかったり、逆に画像データ上での欠陥部の
規模に比して周辺領域の大きさが小さ過ぎることで、欠
陥部の修正精度が低下することを回避することができ
る。

【０１０５】次に、処理対象の欠陥部に属する各欠陥画
素の中から処理対象の欠陥画素として未処理の欠陥画素
を選択し、高周波成分データＨ−r、Ｈ−g、Ｈ−b、Ｈ
−IRから、前記選択した欠陥画素の高周波成分データh-
r，h-g，h-b，h-IRを各々抽出し、処理対象の欠陥画素
のＲ，Ｇ，ＢとＩＲの高周波成分の比（ゲインGain_X：
但しＸはＲ，Ｇ，Ｂの何れかを表す）を次の（４）式に
従って演算する。 Gain_X＝h-x／h-IR …（４） なお、上記の（４）式では直流成分や低周波成分が除去
された高周波成分データh-r，h-g，h-b，h-IRを用い、
ゲインGain_Xとして高周波成分データh-r，h-g，h-bと高
周波成分データh-IRの比を求めているので、このゲイン
Gain_Xは、写真フィルムにおけるＲ，Ｇ，Ｂの各波長域
の光とＩＲ光の屈折率の相違に起因するＲ，Ｇ，Ｂの各
波長域の光とＩＲ光の透過光量の比率を表している。

【０１０６】続いてＲ，Ｇ，Ｂ，ＩＲの各データから、
処理対象の欠陥画素のデータＤｒ，Ｄｇ，Ｄｂ，ｉｒを
各々抽出し、先に演算したゲインGain_Xに基づいて、処
理対象の欠陥画素の修正画素値ＤＧ_Xを次の（５）式に
従って演算する。 ＤＧ_X＝Ｄ_X−ｉｒ×Gain_X …（５） （５）式の第２項は、写真フィルムにおけるＲ，Ｇ，Ｂ
の各波長域の光とＩＲ光の屈折率の相違に起因するＲ，
Ｇ，Ｂの各波長域の光とＩＲ光の透過光量の比率を表す
ゲインGain_Xを用いてデータｉｒを補正しているので、
写真フィルムに付いている傷等に起因する処理対象の欠
陥画素位置におけるＲ光又はＧ光又はＢ光の透過光量
（の対数値）の変化量を正確に表す値となる。そして
（５）式は欠陥画素の画素値を（ｉｒ×Gain_X）だけ変
更しているので、修正画素値ＤＧ_Xとして、写真フィル
ムに付いている傷等に起因するＲ光又はＧ光又はＢ光の
透過光量の変化を正確に補正した値を得ることができ
る。

【０１０７】上記の処理を処理対象の欠陥部に属する全
ての欠陥画素に対して行うと、輝度調整方法による修正
値決定処理が完了し、図３のフローチャートのステップ
１１８へ移行し、処理対象の欠陥部に対する修正値を決
定する。本実施形態における欠陥部に対する修正値は、
前記欠陥部に属する各欠陥画素の修正画素値から成り、
処理対象の欠陥部の修正に補間方法及び輝度調整方法の
何れか一方を適用する場合には、処理対象の欠陥部に属
する各欠陥画素の修正画素値として補間方法又は輝度調
整方法によって決定された修正画素値を各々設定するこ
とで、処理対象の欠陥部に対する修正値を決定すること
ができる。

【０１０８】また、処理対象の欠陥部の修正に補間方法
及び輝度調整方法を各々適用する場合、処理対象の欠陥
部に対する修正値は、補間方法によって決定された修正
画素値をＤＩ_X、輝度調整方法によって決定された修正
画素値をＤＧ_X、補間方法の適用割合をαとしたとき
に、処理対象の欠陥部に属する各欠陥画素の修正画素値
Ｄ０_Xを次の（６）式によって各々演算することで決定
することができる。 Ｄ０_X＝α×ＤＩ_X＋（１−α）×ＤＧ_X …（６） 上記により、処理対象の欠陥部が精度良く修正されるよ
うに処理対象の欠陥部に対する修正値を決定することが
できる。

【０１０９】次のステップ１２６では、欠陥部検出処理
（ステップ１０６）で検出された全ての欠陥部に対して
ステップ１１２以降の処理を行ったか否か判定する。判
定が否定された場合にはステップ１１２に戻り、未処理
の他の欠陥部を処理対象の欠陥部としてステップ１１２
以降の処理を繰り返す。これにより、欠陥部検出処理に
よって検出された全ての欠陥部に対し、所定の特徴量の
演算、演算結果に基づく適用すべき修正方法の選択又は
適用範囲（適用割合）の決定、修正値の決定が各々行わ
れることになる。

【０１１０】検出された全ての欠陥部に対して修正値が
各々決定されると、ステップ１２６の判定が肯定されて
ステップ１２８へ移行し、先のステップ１１０で確保し
たワーク領域を開放した後に、次のステップ１３０にお
いて、各欠陥部に対する修正値を、欠陥部の位置を表す
情報（例えば各欠陥部を構成する欠陥画素のアドレス）
と共にイメージプロセッサ４０に通知し、欠陥部修正値
決定処理を終了する。

【０１１１】イメージプロセッサ４０では、ファインス
キャン画像データに対し、制御部４２におけるセットア
ップ演算によって決定された処理条件で各種の画像処理
を行った後に、制御部４２で欠陥部修正値決定処理が行
われることで制御部４２から通知された修正値に従って
欠陥部を修正する（詳しくは欠陥部に属する各欠陥画素
の値を、通知された修正画素値に置き換える）欠陥部修
正処理を行う。このように、イメージプロセッサ４０
は、先に説明した欠陥部修正値決定処理のステップ１１
０〜１２８と共に本発明の修正手段に対応している。

【０１１２】またイメージプロセッサ４０は、欠陥部修
正処理及び各種の画像処理を行った画像データをＩ／Ｏ
コントローラ３８及びＩ／Ｆ回路５４を介してプリンタ
１６へ出力する。これにより、印画紙６８に露光記録さ
れる画像から、修正対象として選択された欠陥部が消去
される。

【０１１３】〔第２実施形態〕次に本発明の第２実施形
態について説明する。なお、本第２実施形態は第１実施
形態と同一の構成であるので、各部分に同一の符号を付
して構成の説明を省略し、以下本第２実施形態の作用と
して、本第２実施形態に係る欠陥部修正値決定処理につ
いて、図１０のフローチャートを参照し、第１実施形態
で説明した欠陥部修正値決定処理と異なる部分について
のみ説明する。

【０１１４】なお、本第２実施形態に係る欠陥部修正値
決定処理は、請求項７に記載の画像処理方法が適用され
た処理であり、該欠陥部修正値決定処理を制御部４２の
ＣＰＵ４６によって実現するための欠陥部修正値決定プ
ログラムを記憶した情報記憶媒体７２は請求項９に記載
の記録媒体に対応している。そして、この欠陥部修正値
決定プログラムがＣＰＵ４６によって実行されることに
より、画像処理装置１４は請求項３に記載の画像処理装
置として機能する。

【０１１５】本第２実施形態に係る欠陥部修正値決定処
理では、ステップ１００で処理対象の単一の画像のＲ，
Ｇ，Ｂの画像データ及びＩＲデータを取り込んだ後に
（このステップ１００は請求項４に記載の取得手段に対
応している）、次のステップ１０３において、処理対象
の画像に対する読取解像度及び電子変倍率に基づいて画
像データの画素密度を演算し、該画像データの画素密度
を所定値とするための電子変倍率（１／Ｎ）を演算す
る。なお、上記の所定値は予め固定的に定められてい
る。

【０１１６】そして次のステップ１０５では、ステップ
１００で取り込んだＲ，Ｇ，Ｂの画像データ及びＩＲデ
ータに対し、ステップ１０３で求めた電子変倍率（１／
Ｎ）倍で電子変倍処理（画素密度変換処理）を行う。こ
れにより、例として図１１に示す可視画像を表すＲ，
Ｇ，Ｂの画像データからは、画素密度が所定値の可視画
像（図１１では「可視画像(1/N)」と表記）を表す画像
データが、図１１に示すＩＲ画像を表すＩＲデータから
は、画素密度が所定値のＩＲ画像（図１１では「ＩＲ画
像(1/N)」と表記）を表すＩＲデータが各々得られる。

【０１１７】画像データ及びＩＲデータに対し、画素密
度が所定値となるように電子変倍処理を行うことによ
り、電子変倍処理を経た画像データ及びＩＲデータ上で
は、欠陥部の規模が画素数換算でほぼ所定範囲内に収ま
ることになる。このように、ステップ１０３、１０５は
請求項３に記載の第１変換手段（詳しくは請求項４に記
載の第１変換手段）に対応している。

【０１１８】次のステップ１０６以降では、電子変倍処
理を経た画像データ及びＩＲデータを用いて、第１実施
形態と同様の処理を行う。但し、第１実施形態では画像
データの画素密度に応じて、欠陥部の検出基準、欠陥部
の周囲領域の大きさ、及びワーク領域のサイズの各パラ
メータの値を決定していたが、本第２実施形態では、処
理対象の画像データ及びＩＲデータの画素密度が一定
（所定値）であるので、前記各パラメータは画素密度が
所定値のときの最適な値が固定的に設定されており、固
定的に定められた各パラメータの値に従って欠陥部の検
出（ステップ１０６）、ワーク領域の確保（ステップ１
１０）、欠陥部に対する修正値の演算（ステップ１１
８、１２２）等の処理が行われる。

【０１１９】また、本第２実施形態では、ステップ１２
４で処理対象の欠陥部に対する修正値を決定した後に、
更に、前記決定した修正値を用いて処理対象の欠陥部を
修正する。これにより、例として図１１に「欠陥部修正
可視画像(1/N)」として示すように、欠陥部が修正され
た画像を表す画素密度が所定値の画像データが得られ
る。なお、ステップ１０６は請求項３（詳しくは請求項
４）に記載の検出手段に対応しており、ステップ１１０
〜１２６は請求項３に記載の修正手段に対応している。

【０１２０】全ての欠陥部を修正し、ステップ１２６の
判定が肯定されると、ステップ１２８でワーク領域を開
放した後にステップ１３２へ移行し、欠陥部が修正され
た画像データ（画素密度が所定値の画像データ）に対
し、電子変倍率Ｎ倍で電子変倍処理（画素密度変換処
理）を行う。これにより、例として図１１に「欠陥部修
正可視画像」として示すように、欠陥部が修正されかつ
画素密度が元の画像データ（図１１に示す「可視画像」
のデータ）と同一の画像データ（欠陥部修正可視画像デ
ータ）が得られる。このように、ステップ１３２は請求
項３に記載の第２変換手段に対応している。

【０１２１】ステップ１３２では、欠陥部修正及びＮ倍
の電子変倍処理を経た欠陥部修正可視画像データをイメ
ージプロセッサ４０に転送し、次のステップ１３６では
欠陥部検出処理（ステップ１０６）で検出された全ての
欠陥部（ステップ１２４で修正された全ての欠陥部）の
位置（詳しくは欠陥部に属する全ての欠陥画素のアドレ
ス）をイメージプロセッサ４０に通知し、欠陥部修正値
決定処理を終了する。

【０１２２】イメージプロセッサ４０に転送された欠陥
部修正可視画像データは、欠陥部が修正されかつ画素密
度が元の画像データと同一ではあるものの、２回の電子
変倍処理を経ているので（電子変倍処理には補間処理が
含まれている）、欠陥部修正可視画像データが表す画像
は元の画像データが表す画像と比較して鮮鋭度の低下等
の画質低下が生じている。このため、イメージプロセッ
サ４０では、欠陥部修正処理として、元の画像データと
欠陥部修正可視画像データを合成する処理を行う。

【０１２３】具体的には、図１１に「選択部」として示
すように、画像の各画素を順にスキャンしながら前記通
知された欠陥部の位置に基づいて各画素が欠陥部に属す
る画素か否かを判断し、欠陥部に属する画素であった場
合には該当する画素のデータを欠陥部修正可視画像デー
タから抽出し、欠陥部に属しない画素であった場合には
該当する画素のデータを元の画像データから抽出するこ
とを繰り返す。これにより、欠陥部以外の領域について
は画質が低下しておらず、欠陥部領域については欠陥部
が修正された出力用画像データを得ることができる。こ
のように、本第２実施形態に係るイメージプロセッサ４
０は、請求項３（詳しくは請求項５）に記載の生成手段
としての機能を備えている。

【０１２４】なお、上記のように欠陥部に属する画素に
ついては元の画像データを用い、欠陥部に属しない画素
については欠陥部修正可視画像データを用いた場合、欠
陥部と非欠陥部の境界が不自然な仕上がりになる可能性
がある。これを考慮すると、欠陥部及び欠陥部と非欠陥
部の境界、或いは欠陥部の周囲領域に相当する画素につ
いては、元の画像データと欠陥部修正可視画像データの
加重平均を採用するようにしてもよい。双方のデータに
対する重み係数は、例えば各画素におけるＩＲ光の透過
光量（基準値に対する変動量）に基づいて各画素毎に決
定してもよいし、欠陥部内のＩＲ光の透過光量（基準値
に対する欠陥部内の最大変動量）に基づいて個々の欠陥
部毎に決定してもよい。これにより、欠陥部と非欠陥部
の境界の不自然さを解消或いは軽減することができる。
また、前記境界の不自然さを解消することは、前記境界
付近にローパスフィルタをかけて境界付近をぼかすこと
によっても実現できる。

【０１２５】また、上記では欠陥部修正方法の一例とし
て補間方法及び輝度調整方法を説明したが、これに限定
されるものではなく、ローパスフィルタ等をかけること
で欠陥部をぼかす、所謂ぼかし方法を加えてもよい。

【０１２６】また、上記ではプレスキャン時にＲ，Ｇ，
Ｂの読み取りを行い、ファインスキャン時にＲ，Ｇ，
Ｂ，ＩＲの読み取りを行う例を説明したが、これに限定
されるものではなく、ＩＲ読み取りはプレスキャン時に
のみ行ってもよいし、プレスキャン時及びファインスキ
ャン時に各々行ってもよい。また、読み取りを１回のみ
行うようにしてもよい。

【０１２７】更に、上記では光電変換セルがマトリクス
状に配列されたエリアセンサ（エリアＣＣＤ３０）によ
って画像を読み取る構成を説明したが、これに限定され
るものではなく、光電変換セルがライン状に配列された
ラインセンサによって画像を読み取るようにしてもよ
い。また、上記では写真フィルムを透過した光を光電変
換することで画像を読み取る構成を説明したが、これに
限定されるものではなく、写真フィルムを反射した光を
光電変換することで画像を読み取る構成を採用してもよ
い。また、画像記録材料は写真フィルムに限定されるも
のではなく、写真フィルム以外の写真感光材料や普通
紙、ＯＨＰシート等を画像記録材料として用いても良い
ことは言うまでもない。

【０１２８】また、第１実施形態では、欠陥部の検出基
準、欠陥部の周囲領域の大きさ、及びワーク領域のサイ
ズの各パラメータの値を、画像データの画素密度に応じ
て各々変更していたが、請求項１の発明は上記に限定さ
れるものではなく、上記各パラメータのうちの何れか１
つ又は２つの値のみを変更するようにしてもよいことは
言うまでもない。

【０１２９】また、請求項１に記載した「欠陥部の検出
又は欠陥部の修正に関連するパラメータ」は上記に限定
されるものではなく、欠陥部の検出又は欠陥部の修正に
関連するパラメータとして、例えば欠陥部の周辺領域の
うち欠陥部の修正に用いる画素の間隔を採用し、画像デ
ータの画素密度が高くなるに従ってデータをサンプリン
グする画素の間隔（画素の間引き度合い）を大きくし
（例えば画素密度が２倍になるとサンプリング画素間隔
を２倍にする等）、サンプリングしたデータを用いて欠
陥部の修正を行うようにしてもよい。

【０１３０】

【発明の効果】以上説明したように請求項１及び請求項
６記載の発明は、画像情報が表す画像の画像記録材料上
での画素密度に応じて、欠陥部の検出又は欠陥部の修正
に関連するパラメータを変更するようにしたので、画像
データ上での欠陥部の規模に応じた適正な欠陥部修正を
簡易に実現できる、という優れた効果を有する。

【０１３１】請求項３及び請求項７記載の発明は、画像
情報が表す画像の画像記録材料上での画素密度が所定値
になるように画像情報を変換し、前記変換を経た画像情
報に対して欠陥部を修正し、欠陥部の修正を経た画像情
報を、該画像情報が表す画像の画像記録材料上での画素
密度が元の値に戻るように変換し、元の画像情報と前記
変換を経た画像情報とを合成することで、欠陥部が修正
された画像情報を生成するようにしたので、画像データ
上での欠陥部の規模に拘わらず、欠陥部修正に関連する
パラメータを変更することなく欠陥部を適正に修正する
ことができる、という優れた効果を有する。

【０１３２】請求項４記載の発明は、請求項３の発明に
おいて、画像記録材料に非可視光を照射して得られた非
可視画像情報を取得し、非可視画像情報が表す画像の画
像記録材料上での画素密度も所定値になるように非可視
画像情報を変換し、前記変換を経た非可視画像情報を用
いて欠陥部の検出を行うので、上記効果に加え、欠陥部
をより精度良く修正することができる、という効果を有
する。

【０１３３】請求項５記載の発明は、請求項３の発明に
おいて、非欠陥部領域については元の画像情報のみを用
いると共に、欠陥部領域については、第２変換手段によ
る変換を経た画像情報のみを用いるか、又は元の画像情
報と第２変換手段による変換を経た画像情報の加重平均
に相当する画像情報を用い、これらを合成することで欠
陥部が修正された画像情報を生成するので、上記効果に
加え、画質の低下が抑制されかつ欠陥部が適正に修正さ
れた画像を表す画像情報を得ることができる、という効
果を有する。

【０１３４】請求項８記載の発明は、画像情報が表す画
像の欠陥部を検出する第１のステップ、画像情報に対し
て欠陥部を修正する第２のステップ、及び、第１のステ
ップ及び第２のステップの少なくとも一方を行う前に、
画像情報が表す画像の画像記録材料上での画素密度に応
じて欠陥部の検出又は欠陥部の修正に関連するパラメー
タを変更する第３のステップを含む処理をコンピュータ
に実行させるためのプログラムを記録媒体に記録したの
で、画像データ上での欠陥部の規模に応じた適正な欠陥
部修正を簡易に実現できる、という優れた効果を有す
る。

【０１３５】請求項９記載の発明は、画像情報が表す画
像の画像記録材料上での画素密度が所定値になるように
変換すると共に、画像情報が表す画像の欠陥部を検出す
る第１のステップ、前記変換を経た画像情報に対して欠
陥部を修正する第２のステップ、欠陥部の修正を経た画
像情報を画素密度が元の値に戻るように変換する第３の
ステップ、及び、元の画像情報と前記変換を経た画像情
報とを合成することで、欠陥部が修正された画像情報を
生成する第４のステップを含む処理をコンピュータに実
行させるためのプログラムを記録媒体に記録したので、
画像データ上での欠陥部の規模に拘わらず、欠陥部修正
に関連するパラメータを変更することなく欠陥部を適正
に修正することができる、という優れた効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本実施形態に係る画像処理システムの概略構
成図である。

【図２】 フィルムスキャナの概略構成を示す斜視図で
ある。

【図３】 第１実施形態に係る欠陥部修正値決定処理の
内容を示すフローチャートである。

【図４】 （Ａ）乃至（Ｃ）は欠陥部と判定するか否か
の閾値、欠陥部修正に用いる周辺領域の大きさ、データ
を一時記憶するためのワーク領域のサイズの各パラメー
タ値と、画像データが表す画像の写真フィルム上での画
素密度との関係の一例を示す線図である。

【図５】 （Ａ）は写真フィルムの傷及び異物が付いて
いない箇所、傷が付いている箇所、異物が付いている箇
所における光の透過を各々示す概念図、（Ｂ）は写真フ
ィルムのバック面に傷が付いている場合、（Ｃ）は写真
フィルムの乳剤面に傷が付いている場合の光の透過を各
々示す概念図である。

【図６】 （Ａ）はバック面に傷が付いている場合、
（Ｂ）は乳剤面に傷が付いている場合のＲ光、Ｇ光、Ｂ
光、ＩＲ光の透過光量の変化の一例を示す線図である。

【図７】 （Ａ）乃至（Ｃ）は、欠陥部の特徴量の演算
結果から適用すべき修正方法を選択又は適用範囲を決定
するためのマップの一例を示す線図である。

【図８】 スキャン方向の一例を示す概念図である。

【図９】 （Ａ）は正常画素の画素値からの欠陥画素の
画素値の補間演算を説明するための線図、（Ｂ）は傾き
ＧＲＡＤと重み係数Ｍｇの関係、（Ｃ）は正常画素間距
離ＤＩＳＴと重み係数Ｍｄの関係を各々示す線図であ
る。

【図１０】 第２実施形態に係る欠陥部修正値決定処理
の内容を示すフローチャートである。

【図１１】 第２実施形態に係る欠陥部修正の過程を示
す概念図である。

【符号の説明】

１２ フィルムスキャナ １４ 画像処理装置 ２０ 光源 ２３ フィルタユニット ２６ 写真フィルム ３０ エリアＣＣＤ ４０ イメージプロセッサ ４２ 制御部 ７２ 情報記憶媒体

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 画像記録材料に記録されている画像を読
   み取ることで得られた画像情報に対し、該画像情報が表
   す画像の欠陥部を検出する検出手段と、 前記画像情報に対し、前記検出手段によって検出された
   欠陥部を修正する修正手段と、 前記画像情報が表す画像の前記画像記録材料上での画素
   密度に応じて、前記検出手段による欠陥部の検出又は前
   記修正手段による欠陥部の修正に関連するパラメータを
   変更する変更手段と、 を含む画像処理装置。
2. 【請求項２】 前記変更手段は、前記修正手段が画像情
   報が表す画像の前記画像記録材料上での画素密度が高く
   なるに従って、前記修正手段が欠陥部の修正に用いる前
   記欠陥部の周辺領域の大きさを大きくする、前記修正手
   段が欠陥部の修正に必要なデータを一時記憶するために
   確保する記憶領域のサイズを大きくする、欠陥部の周辺
   領域のうち修正手段が欠陥部の修正に用いる画素の間隔
   を大きくする、及び前記検出手段によって検出される欠
   陥部の数が減少するように前記検出手段による欠陥部の
   検出基準を変更する、の少なくとも１つを行うことを特
   徴とする請求項１記載の画像処理装置。
3. 【請求項３】 画像記録材料に記録されている画像を読
   み取ることで得られた画像情報を、該画像情報が表す画
   像の前記画像記録材料上での画素密度が所定値になるよ
   うに変換する第１変換手段と、 前記画像情報が表す画像の欠陥部を検出する検出手段
   と、 前記第１変換手段による変換を経た画像情報に対し、前
   記検出手段によって検出された欠陥部を修正する修正手
   段と、 前記修正手段による修正を経た画像情報を、該画像情報
   が表す画像の前記画像記録材料上での画素密度が元の値
   に戻るように変換する第２変換手段と、 元の画像情報と前記第２変換手段による変換を経た画像
   情報とを合成することで、欠陥部が修正された画像情報
   を生成する生成手段と、 を含む画像処理装置。
4. 【請求項４】 前記画像記録材料に非可視光を照射し、
   前記画像記録材料を透過又は反射した非可視光を光電変
   換して得られた非可視画像情報を取得する取得手段を更
   に備え、 前記第１変換手段は、前記非可視画像情報が表す画像の
   前記画像記録材料上での画素密度も前記所定値になるよ
   うに前記非可視画像情報を変換し、 前記検出手段は、前記第１変換手段による変換を経た非
   可視画像情報を用いて前記欠陥部の検出を行うことを特
   徴とする請求項３記載の画像処理装置。
5. 【請求項５】 前記生成手段は、画像中の非欠陥部領域
   については前記元の画像情報のみを用いると共に、画像
   中の欠陥部領域については、前記第２変換手段による変
   換を経た画像情報のみを用いるか、又は前記元の画像情
   報と前記第２変換手段による変換を経た画像情報の加重
   平均に相当する画像情報を用い、これらを合成すること
   で前記欠陥部が修正された画像情報を生成することを特
   徴とする請求項３記載の画像処理装置。
6. 【請求項６】 画像記録材料に記録されている画像を読
   み取ることで得られた画像情報に対し、該画像情報が表
   す画像の欠陥部を検出し、 前記画像情報に対し、前記検出した欠陥部を修正すると
   共に、 前記画像情報が表す画像の前記画像記録材料上での画素
   密度に応じて、前記欠陥部の検出又は前記欠陥部の修正
   に関連するパラメータを変更する画像処理方法。
7. 【請求項７】 画像記録材料に記録されている画像を読
   み取ることで得られた画像情報を、該画像情報が表す画
   像の前記画像記録材料上での画素密度が所定値になるよ
   うに変換する第１の変換を行うと共に、 前記画像情報が表す画像の欠陥部を検出し、 前記第１の変換を経た画像情報に対し、前記検出した欠
   陥部を修正し、 前記欠陥部の修正を経た画像情報を、該画像情報が表す
   画像の前記画像記録材料上での画素密度が元の値に戻る
   ように変換する第２の変換を行い、 元の画像情報と前記第２の変換を経た画像情報とを合成
   することで、欠陥部が修正された画像情報を生成する画
   像処理方法。
8. 【請求項８】 画像記録材料に記録されている画像を読
   み取ることで得られた画像情報に対し、該画像情報が表
   す画像の欠陥部を検出する第１のステップ、 前記画像情報に対し、前記検出した欠陥部を修正する第
   ２のステップ、 及び、前記第１のステップ及び前記第２のステップの少
   なくとも一方を行う前に、前記画像情報が表す画像の前
   記画像記録材料上での画素密度に応じて、前記欠陥部の
   検出又は前記欠陥部の修正に関連するパラメータを変更
   する第３のステップを含む処理をコンピュータに実行さ
   せるためのプログラムが記録された記録媒体。
9. 【請求項９】 画像記録材料に記録されている画像を読
   み取ることで得られた画像情報を、該画像情報が表す画
   像の前記画像記録材料上での画素密度が所定値になるよ
   うに変換する第１の変換を行うと共に、前記画像情報が
   表す画像の欠陥部を検出する第１のステップ、 前記第１の変換を経た画像情報に対し、前記検出した欠
   陥部を修正する第２のステップ、 前記欠陥部の修正を経た画像情報を、該画像情報が表す
   画像の前記画像記録材料上での画素密度が元の値に戻る
   ように変換する第２の変換を行う第３のステップ、 及び、元の画像情報と前記第２の変換を経た画像情報と
   を合成することで、欠陥部が修正された画像情報を生成
   する第４のステップを含む処理をコンピュータに実行さ
   せるためのプログラムが記録された記録媒体。