JP2001074795A - Instrument and method for measuring resistance of communication line and storing medium - Google Patents
Instrument and method for measuring resistance of communication line and storing mediumInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、抵抗測定装置及び
抵抗測定方法に係り、詳細には、通信回線の開通及び保
守時に回線の抵抗値を測定する抵抗測定装置及び抵抗測
定方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resistance measuring device and a resistance measuring method, and more particularly to a resistance measuring device and a resistance measuring method for measuring a resistance value of a communication line when opening and maintaining a communication line.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、通信回線の抵抗値を測る場合に
は、周期的（例えば、２４時間毎）に校正回路内の基準
抵抗（０Ω・２ｋΩ）を測定し、この測定値を校正デー
タとして保持し、この保持された校正データにより実測
した通信回線の測定値を校正していた。2. Description of the Related Art Conventionally, when measuring a resistance value of a communication line, a reference resistance (0Ω / 2 kΩ) in a calibration circuit is measured periodically (for example, every 24 hours), and the measured value is used as calibration data. The measured value of the communication line actually measured is calibrated based on the held calibration data.
【０００３】この通信回線の抵抗値の測定方法では、上
位装置（ＷＳ）から抵抗測定の指示が来たら、通信回線
の抵抗値を実際に測定し、保持してある校正データを用
いて、試験回路の抵抗値の校正を行い、通信回線の抵抗
値の測定結果を求めるものであった。In this method of measuring the resistance of a communication line, when a resistance measurement instruction is received from a higher-level device (WS), the resistance of the communication line is actually measured, and a test is performed using the held calibration data. The calibration of the resistance value of the circuit was performed, and the measurement result of the resistance value of the communication line was obtained.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
通信回線の抵抗値の測定方法では、周期的に校正データ
を取得するため、校正データを取得した時と実際に通信
回線の抵抗値を測定する時とでは時間のずれがあるた
め、周囲の温度変化等があると通信回線の測定値に測定
誤差が生じてしまっていた。However, in the conventional method for measuring the resistance value of a communication line, since the calibration data is periodically acquired, the resistance value of the communication line is actually measured when the calibration data is acquired. Since there is a time lag between the time and the time, a change in the ambient temperature or the like causes a measurement error in the measured value of the communication line.
【０００５】このため、従来では、温度変化等の環境の
変化があっても測定精度を満足できるように高精度で広
温度範囲の部品を使用する必要があったが、この広温度
範囲で使用可能な部品は高価であり、このような部品を
使用することによりシステム全体としてコストが高くつ
くという問題もあった。For this reason, in the past, it was necessary to use high-precision and wide-temperature parts so that the measurement accuracy could be satisfied even when there was an environmental change such as a temperature change. Possible parts are expensive and there is also a problem that the use of such parts increases the cost of the entire system.
【０００６】本発明の課題は、そのような高価な部品を
使用することなく、高精度に通信回線の抵抗値を測定す
る抵抗測定装置及び抵抗測定方法を提供することであ
る。An object of the present invention is to provide a resistance measuring device and a resistance measuring method for measuring the resistance of a communication line with high accuracy without using such expensive components.
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１記載の発明は、既値の校正用抵抗を抵抗測
定回路に接続して抵抗測定回路を校正する校正回路（例
えば、校正回路５）と、通信回線の抵抗を測定する抵抗
測定回路（例えば、試験回路４内の定電流源回路８、差
動アンプ９、ローバスフィルタ１０、及びレンジ切替器
１１）と、前記校正回路と前記通信回線とを抵抗測定回
路に対して切り替えて接続する切替回路（例えば、校正
回路５内のリレーＲＬ２、ＲＬ３）と、を備えた通信回
線の抵抗測定装置において、前記通信回線の抵抗を測定
する際に、前記切替回路により前記校正回路を前記抵抗
測定回路に接続して校正を行った後、該切替回路により
前記通信回線を該抵抗測定回路に接続して該通信回線の
抵抗測定を実行する制御手段（例えば、ＣＰＵ３１が実
行する図４の試験準備処理におけるステップＳ４及び図
５の測定実行処理におけるステップＳ１５）を備えたこ
とを特徴としている。In order to solve the above-mentioned problem, the invention according to claim 1 provides a calibration circuit (for example, a calibration circuit for calibrating a resistance measurement circuit by connecting an existing calibration resistance to the resistance measurement circuit). A calibration circuit 5), a resistance measurement circuit for measuring the resistance of the communication line (for example, a constant current source circuit 8, a differential amplifier 9, a low-pass filter 10, and a range switch 11 in the test circuit 4); And a switching circuit (for example, relays RL2 and RL3 in the calibration circuit 5) for switching the circuit and the communication line to and from the resistance measurement circuit. When measuring the resistance, the calibration circuit is connected to the resistance measurement circuit by the switching circuit to perform calibration, and then the communication line is connected to the resistance measurement circuit by the switching circuit to measure the resistance of the communication line. Run Control means (e.g., step S15 in the measurement execution processing of step S4 and 5 in the test preparation process of Figure 4 CPU31 executes) is characterized by comprising a.
【０００８】この請求項１記載の発明によれば、既値の
校正用抵抗を抵抗測定回路に接続して抵抗測定回路を校
正する校正回路と、通信回線の抵抗を測定する抵抗測定
回路と、前記校正回路と前記通信回線とを抵抗測定回路
に対して切り替えて接続する切替回路と、を備えた通信
回線の抵抗測定装置において、制御手段は、前記通信回
線の抵抗を測定する際に、前記切替回路により前記校正
回路を前記抵抗測定回路に接続して校正を行った後、該
切替回路により前記通信回線を該抵抗測定回路に接続し
て該通信回線の抵抗測定を実行する。According to the first aspect of the present invention, a calibration circuit for calibrating a resistance measurement circuit by connecting an existing calibration resistance to a resistance measurement circuit, a resistance measurement circuit for measuring resistance of a communication line, A switching circuit for switching and connecting the calibration circuit and the communication line to a resistance measurement circuit, and a resistance measurement device for the communication line, comprising: a control unit, when measuring the resistance of the communication line, After the calibration circuit is connected to the resistance measurement circuit by a switching circuit to perform calibration, the communication line is connected to the resistance measurement circuit by the switching circuit to measure the resistance of the communication line.
【０００９】また、請求項３記載の発明は、既値の校正
用抵抗を抵抗測定回路に接続して抵抗測定回路を校正す
る校正工程と、通信回線の抵抗を前記抵抗測定回路によ
り測定する抵抗測定工程と、を備えた通信回線の抵抗測
定方法において、前記通信回線の抵抗を測定する際に、
前記校正工程により抵抗測定回路の校正を行った後、前
記抵抗測定工程を行うように、各工程を切り替えて制御
する制御工程を備えたことを特徴としている。According to a third aspect of the present invention, there is provided a calibration step of connecting a calibration resistor having a predetermined value to a resistance measurement circuit to calibrate the resistance measurement circuit, and a resistance step of measuring the resistance of a communication line by the resistance measurement circuit. And measuring the resistance of the communication line, comprising: when measuring the resistance of the communication line,
After the calibration of the resistance measurement circuit in the calibration step, a control step of switching and controlling each step is performed so that the resistance measurement step is performed.
【００１０】この請求項３記載の発明によれば、既値の
校正用抵抗を抵抗測定回路に接続して抵抗測定回路を校
正する校正工程と、通信回線の抵抗を前記抵抗測定回路
により測定する抵抗測定工程と、を備えた通信回線の抵
抗測定方法において、制御工程は、前記通信回線の抵抗
を測定する際に、前記校正工程により抵抗測定回路の校
正を行った後、前記抵抗測定工程を行うように、各工程
を切り替えて制御する。According to the third aspect of the present invention, a calibration step of connecting the calibration resistor having a predetermined value to the resistance measurement circuit to calibrate the resistance measurement circuit, and measuring the resistance of the communication line by the resistance measurement circuit. Resistance measuring step, in the method for measuring the resistance of a communication line, comprising: when measuring the resistance of the communication line, after performing calibration of the resistance measuring circuit by the calibration step, the resistance measuring step. Each step is switched and controlled so as to be performed.
【００１１】さらに、請求項５記載の記憶媒体は、既値
の校正用抵抗を抵抗測定回路に接続して抵抗測定回路を
校正する校正回路と、通信回線の抵抗を測定する抵抗測
定回路と、前記校正回路と前記通信回線とを抵抗測定回
路に対して切り替えて接続する切替回路と、を備えた通
信回線の抵抗測定装置による前記通信回線の抵抗測定処
理を行うためのコンピュータが実行可能なプログラムを
格納した記憶媒体であって、前記通信回線の抵抗を測定
する際に、前記切替回路により前記校正回路を前記抵抗
測定回路に接続して抵抗測定回路を校正する測定準備処
理（例えば、ＣＰＵ３１が実行する試験準備処理）を実
行するためのコンピュータが実行可能なプログラムコー
ドと、前記切替回路により前記通信回線を前記抵抗測定
回路に接続して該通信回線の抵抗測定処理（例えば、Ｃ
ＰＵ３１が実行する測定実行処理）を実行するためのコ
ンピュータが実行可能なプログラムコードと、を含むプ
ログラムを格納したことを特徴としている。Further, a storage medium according to a fifth aspect of the present invention comprises a calibration circuit for calibrating the resistance measurement circuit by connecting a predetermined calibration resistance to the resistance measurement circuit, a resistance measurement circuit for measuring the resistance of the communication line, A computer-executable program for performing a resistance measurement process of the communication line by a communication line resistance measurement device including a switching circuit that switches and connects the calibration circuit and the communication line to a resistance measurement circuit. A measurement preparation process (for example, when the CPU 31 is configured to connect the calibration circuit to the resistance measurement circuit by the switching circuit to calibrate the resistance measurement circuit when the resistance of the communication line is measured). A computer-executable program code for executing a test preparation process to be executed) and connecting the communication line to the resistance measurement circuit by the switching circuit. Resistance measurement process signal line (for example, C
A program including a computer-executable program code for executing the measurement execution process executed by the PU 31) is stored.
【００１２】この請求項５記載の記憶媒体によれば、既
値の校正用抵抗を抵抗測定回路に接続して抵抗測定回路
を校正する校正回路と、通信回線の抵抗を測定する抵抗
測定回路と、前記校正回路と前記通信回線とを抵抗測定
回路に対して切り替えて接続する切替回路と、を備えた
通信回線の抵抗測定装置による前記通信回線の抵抗測定
処理を行うためのコンピュータが実行可能なプログラム
を格納した記憶媒体であって、この記憶媒体に格納され
たプログラムを実行することにより、コンピュータ（例
えば、制御回路３のＣＰＵ３１）は、前記通信回線の抵
抗を測定する際に、前記切替回路により前記校正回路を
前記抵抗測定回路に接続して抵抗測定回路を校正する測
定準備処理を実行させ、前記切替回路により前記通信回
線を前記抵抗測定回路に接続して該通信回線の抵抗測定
処理を実行させる。According to the storage medium of the present invention, a calibration circuit for calibrating the resistance measurement circuit by connecting the calibration resistor having the predetermined value to the resistance measurement circuit, and a resistance measurement circuit for measuring the resistance of the communication line. A switching circuit for switching and connecting the calibration circuit and the communication line to and from the resistance measurement circuit, and a computer for performing a resistance measurement process of the communication line by a communication line resistance measurement device, the computer being executable. A storage medium storing a program. By executing the program stored in the storage medium, a computer (for example, CPU 31 of control circuit 3) can execute the switching circuit when measuring the resistance of the communication line. The calibration circuit is connected to the resistance measurement circuit to execute a measurement preparation process for calibrating the resistance measurement circuit, and the communication circuit is connected to the resistance measurement circuit by the switching circuit. Connect the road to perform a resistance measurement process of the communication line.
【００１３】したがって、この請求項１、請求項３、及
び請求項５記載の発明によって、通信回線の抵抗を測定
する際に、抵抗測定回路を校正してから通信回線の抵抗
を測定することとしたため、校正データ取得時と実際の
測定時の時間のずれがなく、周囲の温度変化等による測
定誤差を生じなくなり、高精度に通信回線の抵抗を測定
することができる。Therefore, according to the first, third and fifth aspects of the present invention, when measuring the resistance of the communication line, the resistance measurement circuit is calibrated and then the resistance of the communication line is measured. As a result, there is no time lag between when the calibration data is obtained and when the actual measurement is performed, no measurement error occurs due to a change in ambient temperature or the like, and the resistance of the communication line can be measured with high accuracy.
【００１４】また、従来のように、温度変化等の環境変
化を考慮した高精度で広温度範囲の部品を使用する必要
がなく、このような高価な部品を使用しないシステムを
構築できるため、システム全体としてコストを削減する
ことができる。Further, since it is not necessary to use high-precision components in a wide temperature range in consideration of environmental changes such as temperature changes as in the prior art, it is possible to construct a system that does not use such expensive components. The cost can be reduced as a whole.
【００１５】請求項２記載の発明は、請求項１記載の通
信回線の抵抗測定装置において、前記制御手段は、前記
抵抗測定回路の校正を行った際の校正データを取得し、
該校正データが適正範囲内にあるかを判別する判別手段
（例えば、ＣＰＵ３１が実行する図４の試験準備処理に
おけるステップＳ５）を更に備え、前記判別手段により
前記校正データが適正測定範囲内にあると判別されたと
き、前記抵抗測定回路による前記通信回線の抵抗測定を
実行し（例えば、ＣＰＵ３１が実行する図５の測定実行
処理におけるステップＳ１５）、前記判別手段により前
記校正データが適正測定範囲内にないと判別されたと
き、前記抵抗測定回路による前記通信回線の抵抗測定を
中止する（例えば、ＣＰＵ３１が実行する図６の試験解
除処理）ことを特徴している。According to a second aspect of the present invention, in the resistance measuring apparatus for a communication line according to the first aspect, the control means acquires calibration data when the resistance measuring circuit is calibrated,
A determination unit (for example, step S5 in the test preparation process of FIG. 4 executed by the CPU 31) for determining whether the calibration data is within the proper range is further provided, and the calibration data is within the proper measurement range by the determination unit. Is determined, the resistance measurement circuit performs resistance measurement of the communication line (for example, step S15 in the measurement execution process of FIG. 5 executed by the CPU 31), and the calibration data is within the proper measurement range by the determination unit. When it is determined that there is no resistance, the resistance measurement of the communication line by the resistance measurement circuit is stopped (for example, the test cancellation processing of FIG. 6 executed by the CPU 31).
【００１６】この請求項２記載の発明によれば、請求項
１記載の通信回線の抵抗測定装置において、判別手段
は、前記制御手段において、前記抵抗測定回路の校正を
行った際の校正データを取得し、該校正データが適正範
囲内にあるかを判別し、前記判別手段により前記校正デ
ータが適正測定範囲内にあると判別されたとき、前記抵
抗測定回路による前記通信回線の抵抗測定を実行し、前
記判別手段により前記校正データが適正測定範囲内にな
いと判別されたとき、前記抵抗測定回路による前記通信
回線の抵抗測定を中止する。According to a second aspect of the present invention, in the resistance measuring apparatus for a communication line according to the first aspect, the discriminating means stores the calibration data when the control means calibrates the resistance measuring circuit. Acquire, determine whether the calibration data is within an appropriate range, and execute the resistance measurement of the communication line by the resistance measurement circuit when the determination unit determines that the calibration data is within the appropriate measurement range. When the determination means determines that the calibration data is not within the proper measurement range, the resistance measurement circuit stops measuring the resistance of the communication line.
【００１７】また、請求項４記載の発明は、請求項３記
載の通信回線の抵抗測定方法において、前記制御工程
は、前記校正工程により取得した校正データが、適正範
囲内にあるかを判別する判別工程を更に備え、前記判別
工程により前記校正データが適正測定範囲内にあると判
別されたとき、前記抵抗測定工程を実行し、前記判別工
程により前記校正データが適正測定範囲内にないと判別
されたとき、前記抵抗測定工程を中止することを特徴と
している。According to a fourth aspect of the present invention, in the method for measuring the resistance of a communication line according to the third aspect, the control step determines whether the calibration data obtained in the calibration step is within an appropriate range. Further comprising a determining step, wherein when the calibration data is determined to be within the proper measurement range by the determining step, the resistance measuring step is executed, and the determination is made that the calibration data is not within the proper measurement range by the determining step. When this is done, the resistance measurement step is stopped.
【００１８】この請求項４記載の発明によれば、請求項
３記載の通信回線の抵抗測定方法において、判別工程
は、前記制御工程において、前記校正工程により取得し
た校正データが、適正範囲内にあるかを判別し、前記判
別工程により前記校正データが適正測定範囲内にあると
判別されたとき、前記抵抗測定工程を実行し、前記判別
工程により前記校正データが適正測定範囲内にないと判
別されたとき、前記抵抗測定工程を中止することを特徴
としている。According to a fourth aspect of the present invention, in the communication line resistance measuring method according to the third aspect, in the determining step, in the control step, the calibration data obtained in the calibration step is set within an appropriate range. When the calibration data is determined to be within the proper measurement range by the determination process, the resistance measurement process is performed, and the calibration data is determined to be not within the proper measurement range by the determination process. When this is done, the resistance measurement step is stopped.
【００１９】したがって、この請求項２及び請求項４記
載の発明によって、抵抗測定回路を適正に校正できたか
判別することができ、適正に校正できなかった場合は、
抵抗測定を中止して抵抗を測定しないことにより、通信
回線の抵抗測定装置内の異常を検出することができる。Therefore, according to the second and fourth aspects of the present invention, it is possible to determine whether or not the resistance measuring circuit has been properly calibrated.
By stopping the resistance measurement and not measuring the resistance, an abnormality in the resistance measuring device of the communication line can be detected.
【００２０】[0020]
【発明の実施の形態】以下、図１〜図１０を参照して本
発明に係る通信回線の抵抗測定方法の一実施の形態を詳
細に説明する。まず構成を説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an embodiment of a method for measuring the resistance of a communication line according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. First, the configuration will be described.
【００２１】図１は、通信回線の抵抗測定装置の要部構
成を示した図である。この図１において、ワークステー
ション（以下、「ＷＳ：Work Station」という。）２
は、抵抗測定装置１に接続され、抵抗測定装置１は、伝
送路６に接続されている。FIG. 1 is a diagram showing a main configuration of a resistance measuring device for a communication line. In FIG. 1, a workstation (hereinafter referred to as “WS: Work Station”) 2
Is connected to the resistance measuring device 1, and the resistance measuring device 1 is connected to the transmission line 6.
【００２２】ＷＳ２は、アナログ電話系・ＩＳＤＮ系ネ
ットワークを介して通信を行う際、加入者収容及び集線
機能を担う加入者収容モジュールと交換接続機能を担う
回線処理モジュールを制御するためのＯＰＳ（Operatio
n System）としての機能を有するものであるが、本実施
の形態では、本発明に係る通信回線の抵抗測定をする抵
抗測定装置１を用いて、伝送路６の抵抗を測定するとき
の制御を担うものとして以下の構成を説明する。When communicating via an analog telephone system / ISDN system network, the WS 2 controls an OPS (Operatio) for controlling a subscriber accommodating module having a subscriber accommodating and concentrating function and a line processing module having an exchange connection function.
In this embodiment, the control when measuring the resistance of the transmission line 6 using the resistance measuring device 1 for measuring the resistance of the communication line according to the present invention is performed. The following configuration will be described.
【００２３】抵抗測定装置１は、図１に示すように、そ
の要部は、制御回路３、試験回路４、及び校正回路５に
より構成され、その詳細は図３に示すような回路構成で
ある。As shown in FIG. 1, the main part of the resistance measuring device 1 is composed of a control circuit 3, a test circuit 4, and a calibration circuit 5, and the details thereof have a circuit configuration as shown in FIG. .
【００２４】制御回路３は、ＷＳ２からの抵抗測定指示
に従って、校正回路５を用いて抵抗測定装置１を校正
し、試験回路４により伝送路６の抵抗を測定する。ま
た、制御回路３は、図２に示すように、その要部は、Ｃ
ＰＵ３１、Ｉ／Ｏ３２、及びメモリ３３より構成され
る。The control circuit 3 calibrates the resistance measuring device 1 using the calibration circuit 5 according to the resistance measurement instruction from the WS 2, and measures the resistance of the transmission line 6 by the test circuit 4. As shown in FIG. 2, the main part of the control circuit 3 is C
It comprises a PU 31, an I / O 32, and a memory 33.
【００２５】ＣＰＵ（Central Processing Unit）３１
は、伝送路６の抵抗を測定するときには、メモリ３３内
に格納されているシステムプログラム及び当該システム
に対応する各種アプリケーションプログラムの中から指
定されたアプリケーションプログラムをメモリ３３内の
図示しないプログラム格納領域に展開し、ＷＳ２から入
力される各種指示あるいはデータをメモリ３３内に一時
的に格納し、この入力指示及び入力データに応じてメモ
リ３３内に格納されたアプリケーションプログラムに従
って各種処理を実行し、その処理結果をメモリ３３内に
格納する。CPU (Central Processing Unit) 31
When measuring the resistance of the transmission line 6, the system program stored in the memory 33 and an application program specified from various application programs corresponding to the system are stored in a program storage area (not shown) in the memory 33. Develop and temporarily store various instructions or data input from the WS 2 in the memory 33, and execute various processes according to the application program stored in the memory 33 according to the input instructions and the input data. The result is stored in the memory 33.
【００２６】また、ＣＰＵ３１は、伝送路６の抵抗を測
定する際には、ＷＳ２からの試験準備コマンドを受信し
た時は、後述する試験準備処理を実行し、測定系を設定
し、ＷＳ２に応答する。次いで、ＷＳ２から測定実行コ
マンドを受信した時は、後述する測定実行処理を実行
し、その測定結果をＷＳ２に出力する。そして、ＷＳ２
から試験解除コマンドを受信したときは、後述する試験
解除処理を実行し、ＷＳ２に応答する。When measuring the resistance of the transmission line 6, when receiving a test preparation command from the WS 2, the CPU 31 executes a test preparation process described later, sets a measurement system, and responds to the WS 2 I do. Next, when a measurement execution command is received from WS2, a measurement execution process described later is executed, and the measurement result is output to WS2. And WS2
When a test release command is received from the PC, a test release process described later is executed, and a response is made to WS2.
【００２７】さらに、ＣＰＵ３１は、抵抗測定装置１を
校正して校正データが適正範囲内にあるか否か判断し、
校正データが適正範囲内にあれば伝送路６の抵抗を測定
して後述するアンプ１１１のレンジを適正なレンジに切
り替える。そして、校正データ及び測定した伝送路６の
抵抗値データをメモリ３３内に格納するFurther, the CPU 31 calibrates the resistance measuring device 1 and determines whether or not the calibration data is within an appropriate range.
If the calibration data is within the proper range, the resistance of the transmission line 6 is measured, and the range of the amplifier 111 described later is switched to the proper range. Then, the calibration data and the measured resistance value data of the transmission line 6 are stored in the memory 33.
【００２８】Ｉ／Ｏ（Input/output）３２は、ＷＳ２か
ら入力される抵抗測定装置１の校正指示及び伝送路６の
抵抗測定指示に従って、抵抗測定装置１が校正回路によ
り校正をしあるいは伝送路６の抵抗を測定したときの校
正データ及び測定された伝送路６の抵抗値データを取得
しＡ／Ｄ変換して、ＣＰＵ３１に出力し、また、ＣＰＵ
３１からそのデータを入力されたときはＷＳ２に出力す
る。The I / O (Input / Output) 32 is used by the resistance measuring device 1 to calibrate by the calibration circuit or to transmit the signal in accordance with the calibration instruction of the resistance measuring device 1 and the resistance measuring instruction of the transmission line 6 inputted from the WS 2. 6 and the measured resistance value data of the transmission line 6 are obtained and A / D-converted and output to the CPU 31.
When the data is input from 31, it outputs to WS2.
【００２９】メモリ（Memory）３３は、ＣＰＵ３１が上
記各種アプリケーションプログラムを実行する際に各種
データを展開するプログラム格納領域を形成するととも
に、ＣＰＵ３１が上記各処理を実行した後の各種処理結
果（校正データ、測定抵抗値等）を展開するためのメモ
リ領域を形成する。The memory (Memory) 33 forms a program storage area in which various data are expanded when the CPU 31 executes the various application programs, and various processing results (calibration data) after the CPU 31 executes the various processing. , A measured resistance value, etc.).
【００３０】また、メモリ３３は、上記各種アプリケー
ションプログラムや各種データ等が予め記憶されてお
り、このメモリ３３は磁気的、光学的記憶媒体、若しく
は半導体メモリで構成されている。そして、メモリ３３
は、上記システムプログラム、各種アプリケーションプ
ログラム、及び各処理プログラムで処理された抵抗測定
装置１の校正データ及び伝送路６の抵抗値データ等のデ
ータを記憶する。The memory 33 stores the above-mentioned various application programs and various data in advance, and the memory 33 is constituted by a magnetic or optical storage medium or a semiconductor memory. And the memory 33
Stores data such as the calibration data of the resistance measuring device 1 and the resistance value data of the transmission line 6 processed by the system program, the various application programs, and the processing programs.
【００３１】試験回路４は、図３に示すように、定電流
源回路８、差動アンプ９、ローパスフィルタ（ＬＰＦ：
Low Pass Filter）１０、及びレンジ切替器１１等によ
り構成され、抵抗測定装置１を校正し、伝送路６の抵抗
を測定する機能を有する。そして、試験回路４は、上記
校正及び測定結果として得られた校正データ並びに伝送
路６の抵抗値データを制御回路３内のＩ／Ｏ３２を介し
て、ＣＰＵ３１に出力する。As shown in FIG. 3, the test circuit 4 includes a constant current source circuit 8, a differential amplifier 9, a low-pass filter (LPF:
It has a function of calibrating the resistance measuring device 1 and measuring the resistance of the transmission line 6. Then, the test circuit 4 outputs the calibration data obtained as a result of the calibration and the measurement and the resistance value data of the transmission line 6 to the CPU 31 via the I / O 32 in the control circuit 3.
【００３２】校正回路５は、図３に示すように、その内
部でリレーＲＬ２、ＲＬ３により２ｋΩの抵抗または０
Ωの抵抗（導通状態）並びに伝送路６の測定抵抗７を試
験回路４に対して切り替えて接続することにより、抵抗
測定装置１のオフセット校正及びスパーン校正を行うた
めの回路である。As shown in FIG. 3, the calibration circuit 5 has a resistance of 2 kΩ or 0 kΩ by relays RL2 and RL3 inside.
A circuit for performing offset calibration and span calibration of the resistance measuring apparatus 1 by switching and connecting the resistance of Ω (conductive state) and the measurement resistance 7 of the transmission line 6 to the test circuit 4.
【００３３】定電流源回路８は、校正回路５または測定
抵抗７定電流を供給し、差動アンプ９は、校正回路５内
の２種類の抵抗または測定抵抗７に電流を流したときの
各電圧をローパスフィルタ１０に出力する。差動アンプ
９の出力がローパスフィルタ１０に入力すると、ローパ
スフィルタ１０は、直流成分をレンジ切替器１１を介し
て制御回路３内のＩ／Ｏ３２に出力し、Ｉ／Ｏ３２は、
レンジ切替器１１から入力されたアナログ電流信号をデ
ジタルデータに変換して制御回路３内のＣＰＵ３１に出
力する。The constant current source circuit 8 supplies the calibration circuit 5 or the measurement resistor 7 with a constant current, and the differential amplifier 9 supplies each of two types of resistance or measurement resistance 7 when the current flows through the calibration circuit 5 or the measurement resistor 7. The voltage is output to the low-pass filter 10. When the output of the differential amplifier 9 is input to the low-pass filter 10, the low-pass filter 10 outputs a DC component to the I / O 32 in the control circuit 3 via the range switch 11, and the I / O 32
The analog current signal input from the range switch 11 is converted into digital data and output to the CPU 31 in the control circuit 3.
【００３４】また、レンジ切替器１１は、制御回路３内
のＣＰＵ３１からの指示により、リレーＲＬ４、ＲＬ５
を切り替えて、アンプ１１１の増幅率を変更して３種類
の測定レンジ（抵抗比：４、３２、１／２）から測定抵
抗７の抵抗値に合った適正レンジを選択される。The range switch 11 is operated by the relays RL4 and RL5 in response to an instruction from the CPU 31 in the control circuit 3.
To change the amplification factor of the amplifier 111 and select an appropriate range that matches the resistance value of the measurement resistor 7 from three types of measurement ranges (resistance ratios: 4, 32, and 1/2).
【００３５】なお、レンジ切替器１１により設定される
測定レンジの測定可能抵抗値の範囲は、例えば、図１０
に示すように抵抗比１／２（増幅率：２倍）でレンジ
に示す７５０Ω以上、抵抗比４（増幅率：１／４倍）で
レンジに示す７８Ω〜７５０Ω、抵抗比３２（増幅
率：１／３２）でレンジに示す１０Ω〜７８Ωとなっ
ている。The range of the measurable resistance value of the measurement range set by the range switch 11 is, for example, as shown in FIG.
As shown in the figure, a resistance ratio of 1/2 (amplification factor: 2 times) is 750Ω or more shown in the range, a resistance ratio of 4 (amplification factor: 1/4 times) is 78Ω to 750Ω shown in the range, and a resistance ratio of 32 (amplification ratio: 2). 1/32), which is 10Ω to 78Ω shown in the range.
【００３６】次に図４〜図９を用いて本実施の形態の動
作を説明する。図４は、伝送路６の抵抗測定前に実行す
る試験準備処理を示すフローチャートである。ＷＳから
伝送路６の抵抗測定指示が入力されると、制御回路３の
ＣＰＵ３１は、抵抗測定装置１内の各種初期設定を行う
（ステップＳ１）。この初期設定では、レンジ切替器１
１はリレーＲＬ４によりレンジ（増幅率２倍）に設定
され、校正回路５ではリレーＲＬ２、ＲＬ３により内部
の２ｋΩの抵抗が試験回路４に接続される。Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a flowchart showing a test preparation process executed before the resistance measurement of the transmission line 6. When a resistance measurement instruction for the transmission line 6 is input from the WS, the CPU 31 of the control circuit 3 performs various initial settings in the resistance measurement device 1 (step S1). In this initial setting, the range switch 1
1 is set to the range (double the amplification factor) by the relay RL4, and the internal 2 kΩ resistor is connected to the test circuit 4 in the calibration circuit 5 by the relays RL2 and RL3.
【００３７】制御回路３内のＣＰＵ３１は、定電流源回
路８の出力段を試験回路４に対してリレーＲＬ１により
接続し（ステップＳ２）、定電流源回路８の電源をＯＮ
する（ステップＳ３）。そして、ＣＰＵ３１は、後述す
る抵抗測定装置校正処理（図７参照）を開始する（ステ
ップＳ４）。The CPU 31 in the control circuit 3 connects the output stage of the constant current source circuit 8 to the test circuit 4 by the relay RL1 (step S2), and turns on the power supply of the constant current source circuit 8.
(Step S3). Then, the CPU 31 starts a resistance measuring device calibration process (see FIG. 7) described later (step S4).
【００３８】後述する抵抗測定装置校正処理を終了する
と、ステップＳ５において、制御回路３内のＣＰＵ３１
は、抵抗測定装置校正処理により取得した校正データが
校正範囲内にあるか否かを判断する。そして、校正範囲
内にあるときはステップＳ８に移行し、校正範囲内にな
いときはステップＳ６に移行する。When the resistance measuring device calibration process described later is completed, at step S5, the CPU 31 in the control circuit 3
Determines whether the calibration data acquired by the resistance measurement device calibration process is within the calibration range. Then, when it is within the calibration range, the process proceeds to step S8, and when it is not within the calibration range, the process proceeds to step S6.
【００３９】この抵抗測定装置１を校正処理した校正デ
ータが校正範囲内にない場合には、制御回路３内のＣＰ
Ｕ３１は、Ｉ／Ｏ３２を介してＷＳ２に計測不能アラー
ム（ＭＥＳＡＬＭ）を発報し（ステップＳ６）、後述す
る試験解除処理（図６参照）を行った後に（ステップＳ
７）、試験準備処理を終了する。If the calibration data obtained by calibrating the resistance measuring device 1 is not within the calibration range, the CP in the control circuit 3
The U31 issues an unmeasurable alarm (MESALM) to the WS2 via the I / O 32 (step S6), and performs a test cancellation process (see FIG. 6) described later (step S6).
7), the test preparation processing ends.
【００４０】これに対し、この抵抗測定装置１を校正処
理した校正データが校正範囲内にある場合には、制御回
路３内のＣＰＵ３１は、伝送路６の測定抵抗７の測定抵
抗値を校正するための校正値Ａ、Ｂパラメータを演算し
（ステップＳ８）、集線部分を設定して（ステップＳ
９）、試験準備処理を終了する。On the other hand, when the calibration data obtained by calibrating the resistance measuring apparatus 1 is within the calibration range, the CPU 31 in the control circuit 3 calibrates the measured resistance value of the measured resistance 7 of the transmission line 6. The calibration values A and B are calculated (step S8), and the converging portion is set (step S8).
9), end the test preparation processing.
【００４１】試験準備処理が校正範囲内で終了すると、
制御回路３内のＣＰＵ３１は、Ｉ／Ｏ３２を介してＷＳ
２に試験準備処理の終了を応答し、ＷＳ２からの測定実
行コマンドをＩ／Ｏ３２を介して受信すると、次に実際
に伝送路６の抵抗を測定するための測定実行処理を開始
する。When the test preparation processing is completed within the calibration range,
The CPU 31 in the control circuit 3 controls the WS via the I / O 32
When a measurement execution command from WS2 is received via I / O 32, measurement execution processing for actually measuring the resistance of transmission line 6 is started.
【００４２】図５は、測定実行処理を示すフローチャー
トである。ＷＳ２から測定実行コマンドをＩ／Ｏ３２を
介して受信すると、制御回路３内のＣＰＵ３１は、次に
測定実行処理を開始する。FIG. 5 is a flowchart showing the measurement execution processing. When receiving the measurement execution command from the WS 2 via the I / O 32, the CPU 31 in the control circuit 3 starts the measurement execution process next.
【００４３】制御回路３内のＣＰＵ３１は、測定実行処
理が開始されると、定電流源回路８をリレーＲＬ１によ
り伝送路６の測定抵抗７に対して接続する（ステップＳ
１０）。そして、リレーＲＬ４によりレンジ切替器１１
のレンジを（増幅率２倍）に設定し（ステップＳ１
１）、レンジ切替器１１がどのレンジを選択するのが適
切か判定するために、後述する抵抗測定装置測定処理を
行う（ステップＳ１２）。When the measurement execution process is started, the CPU 31 in the control circuit 3 connects the constant current source circuit 8 to the measurement resistor 7 of the transmission line 6 via the relay RL1 (step S).
10). Then, the range switch 11 by the relay RL4.
Is set to (amplification rate is twice) (step S1).
1) In order to determine which range is appropriate for the range switch 11 to select, a resistance measuring device measurement process described later is performed (step S12).
【００４４】ステップＳ１３において、制御回路３内の
ＣＰＵ３１は、抵抗測定装置測定処理によって測定され
た伝送路６の測定抵抗７の抵抗値データが試験準備処理
の初期設定（ステップＳ１）で設定したレンジの適正
レンジ範囲内か否かを判断する。伝送路６の測定抵抗７
の抵抗値データが適正範囲内でなければ、制御回路３内
のＣＰＵ３１は、レンジ切替器１１をその伝送路６の測
定抵抗７の抵抗値データに適したレンジ（または）
にリレーＲＬ４、ＲＬ５により切り替える（ステップＳ
１４）。In step S13, the CPU 31 in the control circuit 3 determines that the resistance data of the measured resistance 7 of the transmission line 6 measured by the resistance measuring device measurement processing is in the range set in the initial setting of the test preparation processing (step S1). Is determined to be within the appropriate range. Measurement resistance 7 of transmission line 6
If the resistance data is not within the proper range, the CPU 31 in the control circuit 3 sets the range switch 11 to a range (or) suitable for the resistance data of the measured resistance 7 of the transmission line 6.
Is switched by the relays RL4 and RL5 (step S
14).
【００４５】このようにして適正なレンジを選択してか
ら、制御回路３内のＣＰＵ３１は、再度、後述する抵抗
測定装置測定処理を行い、伝送路６の測定抵抗７の抵抗
値データを取得する（ステップＳ１５）。After selecting an appropriate range in this way, the CPU 31 in the control circuit 3 again performs a resistance measuring device measurement process described later to acquire resistance value data of the measured resistance 7 of the transmission line 6. (Step S15).
【００４６】伝送路６の測定抵抗７の抵抗値データを取
得し終えると、制御回路３内のＣＰＵ３１は、定電流源
回路８の電源をＯＦＦし（ステップＳ１６）、メモリ３
３内に記憶されている所定の演算処理プログラムを実行
することにより、伝送路６の測定抵抗７の抵抗値データ
と校正データから実際の伝送路６の抵抗値データを演算
する（ステップＳ１７）。When the resistance value data of the measurement resistor 7 of the transmission line 6 has been obtained, the CPU 31 in the control circuit 3 turns off the power of the constant current source circuit 8 (step S16), and
By executing a predetermined calculation processing program stored in the transmission line 3, the actual resistance value data of the transmission line 6 is calculated from the resistance value data of the measured resistance 7 of the transmission line 6 and the calibration data (step S17).
【００４７】制御回路３内のＣＰＵ３１は、その伝送路
６の抵抗値データの演算結果を、メモリ３３のメモリ領
域に展開するとともに、メモリ３３内の所定の保存先に
保存する。その後、制御回路３内のＣＰＵ３１は、測定
実行処理を終了し、メモリ３３内に格納されている伝送
路６の抵抗値データの演算結果を、Ｉ／Ｏ３２を介して
ＷＳ２に送信する。The CPU 31 in the control circuit 3 develops the calculation result of the resistance value data of the transmission line 6 in a memory area of the memory 33 and stores the result in a predetermined storage destination in the memory 33. Thereafter, the CPU 31 in the control circuit 3 ends the measurement execution processing, and transmits the calculation result of the resistance value data of the transmission line 6 stored in the memory 33 to the WS 2 via the I / O 32.
【００４８】図６は、制御回路３内のＣＰＵ３１が実行
する試験解除処理を示すフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart showing the test cancellation processing executed by the CPU 31 in the control circuit 3.
【００４９】試験準備処理（図４参照）中のステップＳ
６において抵抗測定装置１が校正範囲に収まらなかった
場合、制御回路３内のＣＰＵ３１は、Ｉ／Ｏ３２を介し
てＷＳ２に計測不能アラーム（ＭＥＳＡＬＭ）を発報し
（ステップＳ７）、ＷＳ２からの試験解除処理コマンド
をＩ／Ｏ３２を介して受信すると、試験解除処理を開始
する（ステップＳ７）。試験解除処理が開始されると、
制御回路３内のＣＰＵ３１は、定電流源回路８の電源を
ＯＦＦする（ステップＳ１８）。Step S in test preparation processing (see FIG. 4)
If the resistance measurement device 1 does not fall within the calibration range in step 6, the CPU 31 in the control circuit 3 issues an unmeasurable alarm (MESALM) to the WS 2 via the I / O 32 (step S7), and the test from the WS 2 Upon receiving the release processing command via the I / O 32, the test release processing is started (step S7). When the test cancellation process starts,
The CPU 31 in the control circuit 3 turns off the power supply of the constant current source circuit 8 (Step S18).
【００５０】そして、制御回路３内のＣＰＵ３１は、集
線部分を解除し（ステップＳ１９）、定電流源回路８と
伝送路６の回線間の接続をリレーＲＬ１により切断し
（ステップＳ２０）、抵抗測定装置１内の測定系設定を
初期化する（ステップＳ２５）。この測定系の設定の初
期化で、レンジ切替器１１はリレーＲＬ４によりレンジ
に設定される。その後、試験解除処理が終了し、抵抗
測定装置１は校正されないで試験準備処理も終了する。The CPU 31 in the control circuit 3 releases the concentrating portion (step S19), disconnects the connection between the constant current source circuit 8 and the line of the transmission line 6 by the relay RL1 (step S20), and measures the resistance. The measurement system settings in the device 1 are initialized (step S25). When the setting of the measurement system is initialized, the range switch 11 is set to the range by the relay RL4. After that, the test cancellation processing ends, and the resistance measurement device 1 is not calibrated, and the test preparation processing also ends.
【００５１】図７は、制御回路３内のＣＰＵ３１が実行
する抵抗測定装置校正処理を示すフローチャートであ
る。FIG. 7 is a flowchart showing the resistance measuring device calibration processing executed by the CPU 31 in the control circuit 3.
【００５２】試験準備処理（図４参照）中のステップＳ
４において、抵抗測定装置校正処理が開始されると、制
御回路３内のＣＰＵ３１は、定電流源回路８の電源をＯ
Ｎする（ステップＳ２２）。Step S during test preparation processing (see FIG. 4)
In 4, when the resistance measurement device calibration process is started, the CPU 31 in the control circuit 3 turns off the power of the constant current source circuit 8.
N (step S22).
【００５３】そして、制御回路３内のＣＰＵ３１は、校
正回路５内の抵抗を２ｋΩに接続したときの後述する抵
抗測定装置測定処理を行う（ステップＳ２３）。Then, the CPU 31 in the control circuit 3 performs a resistance measuring device measurement process described later when the resistance in the calibration circuit 5 is connected to 2 kΩ (step S23).
【００５４】次いで、ＣＰＵ３１は、校正回路５内の抵
抗を０Ω（導通状態）として、レンジ切替器１１内の測
定レンジを（増幅率：２倍）に設定してから（ステッ
プＳ２４）、後述する抵抗測定装置測定処理を行う（ス
テップＳ２５）。Next, the CPU 31 sets the resistance in the calibration circuit 5 to 0Ω (conduction state), sets the measurement range in the range switch 11 to (amplification factor: 2) (step S24), and will be described later. A resistance measurement device measurement process is performed (step S25).
【００５５】さらに、ＣＰＵ３１は、レンジ切替器１１
内の測定レンジを（増幅率：１／４倍）に設定してか
ら（ステップＳ２６）、後述する抵抗測定装置測定処理
を行い（ステップＳ２７）、同様にして、レンジ切替器
１１内の測定レンジを（増幅率：１／３２倍）に設定
してから（ステップＳ２８）、後述する抵抗測定装置測
定処理を行う（ステップＳ２９）。Further, the CPU 31 controls the range switch 11
Is set to (amplification rate: 1/4) (step S26), and a resistance measuring device measurement process described later is performed (step S27). Similarly, the measurement range in the range switch 11 is set. Is set to (amplification ratio: 1/32 times) (step S28), and a resistance measuring device measurement process described later is performed (step S29).
【００５６】以上のように、校正回路５内の抵抗０Ω
（導通状態）に対してレンジ切替器１１内のリレーＲＬ
４、ＲＬ５により測定レンジを切り替えて抵抗測定装置
測定処理を行い、合計４種類の測定結果を得ることがで
きるため、これらの校正データを用いることにより抵抗
測定装置１の校正をより正確に行うことができる。As described above, the resistance of 0Ω in the calibration circuit 5
Relay RL in range switch 11 for (conduction state)
4. Since the measurement range is switched by RL5 and the resistance measurement device measurement process is performed to obtain a total of four types of measurement results, the calibration of the resistance measurement device 1 can be performed more accurately by using these calibration data. Can be.
【００５７】上記４回の抵抗測定装置測定処理を終える
と、制御回路３内のＣＰＵ３１は、定電流源回路８の電
源をＯＦＦし（ステップＳ３０）、抵抗測定装置校正を
ＯＦＦして（ステップＳ３１）、抵抗測定装置校正処理
を終了する。When the above four resistance measurement device measurement processes have been completed, the CPU 31 in the control circuit 3 turns off the power supply of the constant current source circuit 8 (step S30) and turns off the resistance measurement device calibration (step S31). ), The resistance measurement device calibration process ends.
【００５８】図８は、測定実行処理及び抵抗測定装置校
正処理において行われる抵抗測定装置測定処理を示すの
フローチャートである。FIG. 8 is a flowchart showing a resistance measuring device measuring process performed in the measurement executing process and the resistance measuring device calibrating process.
【００５９】抵抗測定装置測定処理を開始すると、制御
回路３内のＣＰＵ３１は、メモリ３３内のプログラム格
納領域の測定回数に“１”を入力する（ステップＳ３
２）。When the resistance measurement device measurement process is started, the CPU 31 in the control circuit 3 inputs "1" to the number of times of measurement of the program storage area in the memory 33 (step S3).
2).
【００６０】そして、制御回路３内のＣＰＵ３１は、後
述するアナログ測定処理を行い、制御回路３内のＩ／Ｏ
３２から伝送路６の抵抗測定に伴うアナログ測定値信号
をＡ／Ｄ測定値として取得し（ステップＳ３３）、カウ
ント値Ｃに対し、Ｃ＝Ｃ＋Ａ／Ｄ値を演算する（ステッ
プＳ３４）。The CPU 31 in the control circuit 3 performs an analog measurement process described later, and
An analog measurement value signal accompanying the resistance measurement of the transmission line 6 is acquired from 32 as an A / D measurement value (step S33), and a C = C + A / D value is calculated for the count value C (step S34).
【００６１】ステップＳ３５において、制御回路３内の
ＣＰＵ３１は、測定回数が１６回になったか否かを判断
し、まだ１６回に満たない場合にはステップＳ３６に移
行して、測定回数を元の測定回数に１を加算してから、
ステップＳ３３に戻り、同様に後述するアナログ測定処
理を行う。制御回路３内のＣＰＵ３１は、同様の処理を
繰り返し、測定回数が１６回になったときに抵抗測定装
置測定処理を終了する。In step S35, the CPU 31 in the control circuit 3 determines whether or not the number of measurements has reached 16 times. If the number of times has not reached 16 times yet, the process proceeds to step S36, where the number of measurements is returned to the original value. After adding 1 to the number of measurements,
Returning to step S33, analog measurement processing described later is similarly performed. The CPU 31 in the control circuit 3 repeats the same processing, and ends the resistance measurement device measurement processing when the number of times of measurement has reached 16 times.
【００６２】このようにして求められたＣの値は、伝送
路６の抵抗を合計１６回測定して得られたアナログデー
タを、制御回路３内のＩ／Ｏ３２によりデジタルデータ
に変換し、その値であるＡ／Ｄ値を合計したものであ
る。The value of C obtained as described above is obtained by converting analog data obtained by measuring the resistance of the transmission line 6 a total of 16 times into digital data by the I / O 32 in the control circuit 3, and It is the sum of the A / D values.
【００６３】図９は、抵抗測定装置測定処理のステップ
Ｓ３３におけるアナログ測定処理を示すフローチャート
である。FIG. 9 is a flowchart showing the analog measuring process in step S33 of the resistance measuring device measuring process.
【００６４】アナログ測定処理を開始すると、制御回路
３内のＣＰＵ３１は、Ａ／Ｄ測定をスタートし（ステッ
プＳ３７）、１ｓのタイマを起動する（ステップＳ３
８）。When the analog measurement process is started, the CPU 31 in the control circuit 3 starts A / D measurement (step S37) and starts a 1s timer (step S3).
8).
【００６５】ステップＳ４６において、制御回路３内の
ＣＰＵ３１は、その１ｓのタイマが起動している間に測
定終了の割込信号があったか否かを判断する。測定終了
の割込信号があった場合は、ステップＳ４０に移行して
ＥＶＥＮＴ１を行い、Ａ／Ｄ測定値をリードする（ステ
ップＳ４１）。また、測定終了の割込信号がなかった場
合は、ステップＳ４２に移行してＥＶＥＮＴ２を行い、
校正時には計測不能アラーム（ＭＥＳＡＬＭ）を、ま
た、試験時（測定実行時）には測定中異常発生のアラー
ムをＩ／Ｏ３２を介してＷＳ２に発報する（ステップＳ
４３）。その後、制御回路３内のＣＰＵ３１は、アナロ
グ測定処理を終了する。In step S46, the CPU 31 in the control circuit 3 determines whether or not there is an interrupt signal for terminating the measurement while the 1s timer is running. If there is an interrupt signal indicating that the measurement has been completed, the process proceeds to step S40 to perform EVENT1, and the A / D measurement value is read (step S41). If there is no interruption signal for ending the measurement, the process proceeds to step S42 to perform EVENT2,
At the time of calibration, an unmeasurable alarm (MESALM) is issued, and at the time of testing (at the time of measurement execution), an alarm indicating occurrence of an abnormality during measurement is issued to the WS 2 via the I / O 32 (step S).
43). After that, the CPU 31 in the control circuit 3 ends the analog measurement processing.
【００６６】以上のように、本実施の形態においては、
校正データを取得した後に続けて伝送路６の測定抵抗７
の抵抗値を測定することとし、伝送路６の測定抵抗７の
抵抗値を測定実行時とは関係なく周期的（例えば、２４
時間毎）に校正データを取得する構成とはしなかった。As described above, in the present embodiment,
After obtaining the calibration data, the measurement resistance 7
Is measured, and the resistance value of the measurement resistor 7 of the transmission line 6 is periodically measured (for example, 24
The calibration data was not acquired every hour.
【００６７】これにより、伝送路６の測定抵抗７の抵抗
値を測定するときに、校正データ取得時と実際の伝送路
６の抵抗測定時の時間のずれなくなるため、周囲の温度
変化等による測定誤差を生じなくなり、高精度に伝送路
６の抵抗を測定することができる。As a result, when measuring the resistance value of the measurement resistor 7 of the transmission line 6, there is no time lag between when the calibration data is obtained and when the actual resistance of the transmission line 6 is measured. An error does not occur, and the resistance of the transmission line 6 can be measured with high accuracy.
【００６８】また、従来のように、温度変化等の環境変
化を考慮した高精度で広温度範囲の部品を使用する必要
がなくなり、このような高価な部品を使用しないシステ
ムを構築できるため、システム全体としてコストを削減
することができる。Also, unlike the related art, there is no need to use components with high accuracy and a wide temperature range in consideration of environmental changes such as temperature changes, and a system that does not use such expensive components can be constructed. The cost can be reduced as a whole.
【００６９】更に、校正データを取得した際に、その校
正データが適正範囲内にあるか否かを判別し、適正範囲
内にない場合は、伝送路６の測定抵抗７の抵抗値の測定
を中止することとしたため、この場合抵抗値データを取
得できないことにより、伝送路６または抵抗測定装置１
内の異常を検出することができる。これにより、通信回
線の抵抗を高精度に測定することができる。Further, when the calibration data is obtained, it is determined whether or not the calibration data is within the proper range. If the calibration data is not within the proper range, the resistance value of the measuring resistor 7 of the transmission line 6 is measured. In this case, since the resistance value data cannot be obtained, the transmission line 6 or the resistance measuring device 1
Abnormality can be detected. Thereby, the resistance of the communication line can be measured with high accuracy.
【００７０】[0070]
【発明の効果】請求項１、請求項３、及び請求項５記載
の発明によれば、通信回線の抵抗を測定する際に、抵抗
測定回路を校正してから通信回線の抵抗を測定すること
としたため、校正データ取得時と実際の測定時の時間の
ずれがなく、周囲の温度変化等による測定誤差を生じな
くなり、高精度に通信回線の抵抗を測定することができ
る。According to the first, third, and fifth aspects of the present invention, when measuring the resistance of a communication line, the resistance of the communication line is measured after the resistance measurement circuit is calibrated. Therefore, there is no time lag between when the calibration data is obtained and when the actual measurement is performed, no measurement error occurs due to a change in ambient temperature or the like, and the resistance of the communication line can be measured with high accuracy.
【００７１】また、従来のように、温度変化等の環境変
化を考慮した高精度で広温度範囲の部品を使用する必要
がなく、このような高価な部品を使用しないシステムを
構築できるため、システム全体としてコストを削減する
ことができる。Further, unlike the related art, there is no need to use high-precision components in a wide temperature range in consideration of environmental changes such as temperature changes, and a system that does not use such expensive components can be constructed. The cost can be reduced as a whole.
【００７２】請求項２及び請求項４記載の発明によれ
ば、抵抗測定回路を適正に校正できたか判別することが
でき、適正に校正できなかった場合は、抵抗測定を中止
して通信回線の抵抗を測定しないことにより、通信回線
の抵抗測定装置内の異常を検出することができる。According to the second and fourth aspects of the present invention, it is possible to determine whether or not the resistance measuring circuit has been properly calibrated. By not measuring the resistance, an abnormality in the resistance measuring device of the communication line can be detected.
【図１】本発明の一実施の形態におけるテスタ１の要部
を示した図である。FIG. 1 is a diagram showing a main part of a tester 1 according to an embodiment of the present invention.
【図２】本発明の一実施の形態におけるＷＳ２の要部構
成を示したブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a main configuration of WS2 according to the embodiment of the present invention.
【図３】本発明の一実施の形態における抵抗測定装置１
の内部構成を詳細に示した図である。FIG. 3 shows a resistance measuring device 1 according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing an internal configuration of the in detail.
【図４】本発明の一実施の形態における試験準備処理の
フローチャートを示した図である。FIG. 4 is a diagram showing a flowchart of a test preparation process in one embodiment of the present invention.
【図５】本発明の一実施の形態における測定実行処理の
フローチャートを示した図である。FIG. 5 is a diagram showing a flowchart of a measurement execution process according to one embodiment of the present invention.
【図６】本発明の一実施の形態における試験解除処理の
フローチャートを示した図である。FIG. 6 is a diagram showing a flowchart of a test cancellation process in one embodiment of the present invention.
【図７】本発明の一実施の形態における試験準備処理内
の抵抗測定装置校正処理のフローチャートを示した図で
ある。FIG. 7 is a diagram showing a flowchart of a resistance measurement device calibration process in a test preparation process according to one embodiment of the present invention.
【図８】本発明の一実施の形態における測定実行処理内
の抵抗測定装置測定処理のフローチャートを示した図で
ある。FIG. 8 is a diagram showing a flowchart of a resistance measurement device measurement process in the measurement execution process according to one embodiment of the present invention.
【図９】本発明の一実施の形態における抵抗測定装置測
定処理内のアナログ測定処理のフローチャートを示した
図である。FIG. 9 is a diagram showing a flowchart of an analog measurement process in the resistance measurement device measurement process in one embodiment of the present invention.
【図１０】本発明の一実施の形態におけるレンジ切替器
１１での測定抵抗値に対する適正レンジを示した図であ
る。FIG. 10 is a diagram showing an appropriate range with respect to a measured resistance value in the range switch 11 according to the embodiment of the present invention.
１ 抵抗測定装置 ２ ＷＳ ３ 制御回路 ３１ ＣＰＵ ３２ Ｉ／Ｏ ３３ メモリ ４ 試験回路 ５ 校正回路 ６ 伝送路 ７ 測定抵抗 ８ 定電流源回路 ９ 差動アンプ １０ ローパスフィルタ １１ レンジ切替器 １１１ アンプ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Resistance measuring device 2 WS 3 Control circuit 31 CPU 32 I / O 33 Memory 4 Test circuit 5 Calibration circuit 6 Transmission line 7 Measurement resistance 8 Constant current source circuit 9 Differential amplifier 10 Low-pass filter 11 Range switch 111 Amplifier
Claims (5)
て抵抗測定回路を校正する校正回路と、通信回線の抵抗
を測定する抵抗測定回路と、前記校正回路と前記通信回
線とを抵抗測定回路に対して切り替えて接続する切替回
路と、を備えた通信回線の抵抗測定装置において、 前記通信回線の抵抗を測定する際に、前記切替回路によ
り前記校正回路を前記抵抗測定回路に接続して校正を行
った後、該切替回路により前記通信回線を該抵抗測定回
路に接続して該通信回線の抵抗測定を実行する制御手段
を備えたことを特徴とする通信回線の抵抗測定装置。1. A calibration circuit for calibrating a resistance measurement circuit by connecting an existing calibration resistor to a resistance measurement circuit, a resistance measurement circuit for measuring a resistance of a communication line, and the calibration circuit and the communication line. A switching circuit that switches and connects to the resistance measurement circuit, wherein when measuring the resistance of the communication line, the switching circuit connects the calibration circuit to the resistance measurement circuit. And a controller for connecting the communication line to the resistance measuring circuit by the switching circuit and performing a resistance measurement of the communication line.
し、該校正データが適正範囲内にあるかを判別する判別
手段を更に備え、 前記判別手段により前記校正データが適正測定範囲内に
あると判別されたとき、前記抵抗測定回路による前記通
信回線の抵抗測定を実行し、前記判別手段により前記校
正データが適正測定範囲内にないと判別されたとき、前
記抵抗測定回路による前記通信回線の抵抗測定を中止す
ることを特徴とする請求項１記載の通信回線の抵抗測定
装置。2. The control unit further comprises: a determination unit that acquires calibration data when the resistance measurement circuit is calibrated, and determines whether the calibration data is within an appropriate range. When the calibration data is determined to be within the proper measurement range, the resistance measurement circuit performs resistance measurement of the communication line, and when the determination unit determines that the calibration data is not within the proper measurement range. 2. The communication line resistance measurement device according to claim 1, wherein the resistance measurement of the communication line by the resistance measurement circuit is stopped.
て抵抗測定回路を校正する校正工程と、通信回線の抵抗
を前記抵抗測定回路により測定する抵抗測定工程と、を
備えた通信回線の抵抗測定方法において、 前記通信回線の抵抗を測定する際に、前記校正工程によ
り抵抗測定回路の校正を行った後、前記抵抗測定工程を
行うように、各工程を切り替えて制御する制御工程を備
えたことを特徴とする通信回線の抵抗測定方法。3. A communication system comprising: a calibration step of connecting a calibration resistor having a predetermined value to a resistance measurement circuit to calibrate the resistance measurement circuit; and a resistance measurement step of measuring resistance of a communication line by the resistance measurement circuit. In the method for measuring the resistance of a line, when measuring the resistance of the communication line, a control step of switching and controlling each step so as to perform the resistance measurement step after calibrating the resistance measurement circuit in the calibration step A method for measuring resistance of a communication line, comprising:
にあるかを判別する判別工程を更に備え、 前記判別工程により前記校正データが適正測定範囲内に
あると判別されたとき、前記抵抗測定工程を実行し、前
記判別工程により前記校正データが適正測定範囲内にな
いと判別されたとき、前記抵抗測定工程を中止すること
を特徴とする請求項３記載の通信回線の抵抗測定方法。4. The control step further includes a discriminating step of discriminating whether the calibration data obtained in the calibrating step is within a proper range, and determining that the calibration data is within a proper measuring range by the discriminating step. The method according to claim 3, wherein when the determination is made, the resistance measurement step is performed, and when the calibration data is determined not to be within the proper measurement range, the resistance measurement step is stopped. How to measure the resistance of communication lines.
て抵抗測定回路を校正する校正回路と、通信回線の抵抗
を測定する抵抗測定回路と、前記校正回路と前記通信回
線とを抵抗測定回路に対して切り替えて接続する切替回
路と、を備えた通信回線の抵抗測定装置による前記通信
回線の抵抗測定処理を行うためのコンピュータが実行可
能なプログラムを格納した記憶媒体であって、 前記通信回線の抵抗を測定する際に、前記切替回路によ
り前記校正回路を前記抵抗測定回路に接続して抵抗測定
回路を校正する測定準備処理を実行するためのコンピュ
ータが実行可能なプログラムコードと、 前記切替回路により前記通信回線を前記抵抗測定回路に
接続して該通信回線の抵抗測定処理を実行するためのコ
ンピュータが実行可能なプログラムコードと、 を含むプログラムを格納したことを特徴とする記憶媒
体。5. A calibration circuit for calibrating a resistance measurement circuit by connecting an existing calibration resistor to a resistance measurement circuit, a resistance measurement circuit for measuring resistance of a communication line, and the calibration circuit and the communication line. A switching circuit that switches and connects to the resistance measurement circuit, and a storage medium storing a computer-executable program for performing the communication line resistance measurement process by the communication line resistance measurement device including: When measuring the resistance of the communication line, a computer-executable program code for executing a measurement preparation process of calibrating the resistance measurement circuit by connecting the calibration circuit to the resistance measurement circuit by the switching circuit, A computer-executable program code for connecting the communication line to the resistance measurement circuit by the switching circuit and executing a resistance measurement process of the communication line. Storage medium characterized by storing a program including and.
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| JP24609599A JP2001074795A (en) | 1999-08-31 | 1999-08-31 | Instrument and method for measuring resistance of communication line and storing medium |
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