JP2001036134A - Iii族窒化物半導体超格子をベースとした単極発光装置 - Google Patents
Iii族窒化物半導体超格子をベースとした単極発光装置Info
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Abstract
な接合を用いた単極発光装置(ULED)を提供する。 【解決手段】 本発明のULEDは、III族窒化物半導
体をベースとし、順バイアスにおいては通常の発光ダイ
オードと同じように機能するが、放射は電子と正孔の再
結合によって起きるのではなく、浅いサブバンド超格子
から深いサブバンド超格子への電子の転移により起き
る。
Description
詳しくは、本発明はIII族窒化物半導体超格子をベース
とした単極発光装置(Unipolar Light Emitting Devic
e:ULED)に関する。
窒化物半導体分野における最近の発展は、可視スペクト
ル領域用の発光ダイオードやレーザの新しい世代を切り
開いた。III族窒化物半導体のおもな利点として、このI
II族窒化物半導体を光学装置に用いた場合、劣化が他の
ワイドバンドギャップ半導体(wide-band-gap semicondu
ctor)と比較して少ない点が挙げられる。
成した場合、優れたp型導電性を得ることが難しいこと
がある。このことが、可視領域用の高出力レーザや発光
ダイオードの開発の障害となる場合がある。
の超格子間に、発光用として効果的なp−n接合を用い
た発光装置を提供することにある。
々の態様をとることができる。
III族窒化物半導体、および合金のうちいずれか1つか
らなる複数の超格子を含むことができる。
III族窒化物半導体、および合金のうちいずれか1つか
らなる複数の超格子と、前記超格子間に形成され、かつ
光学的に活性な不純物、不純物複合体、および量子ドッ
トのうちいずれかよりなる活性層と、を含むことができ
る。
n型のIII族窒化物半導体、および合金のうちいずれか
1つからなる少なくとも3対の超格子を含み、さらに、
前記超格子間に形成され、かつ光学的に活性な不純物、
不純物複合体、および量子ドットのうちいずれかよりな
る活性層を含むか、あるいは含まないものである。
n型のIII族窒化物半導体、および合金のうちいずれか
1つからなる少なくとも4階層の超格子を含み、さら
に、前記超格子間に形成され、かつ光学的に活性な不純
物、不純物複合体、および量子ドットのうちいずれかよ
りなる活性層を含むか、あるいは含まないものである。
III族窒化物半導体、および合金のうちいずれか1つか
らなる複数の超格子と、前記超格子間に形成され、かつ
異なる伝導帯不連続域(different conductionband disc
ontinuities)を有するIII−V族またはII−VI族半導体
からなる活性層と、を含むことができる。
導体超格子をベースとする構造物を含むことができる。
0nmのスペクトル領域内にあるスペクトルを有する光
を発生する単極発光装置であって、サファイア基板と、
バッファ層と、n型ドープされたガリウム−窒素、アル
ミニウム−窒素、インジウム−窒素、またはこれらの合
金からなる第1のn−クラッドコンタクト層と、ドープ
されていないか、あるいはn型ドープされた複数の超格
子と、n型ドープされたガリウム−窒素、アルミニウム
−窒素、インジウム−窒素、またはこれらの合金からな
る第2のn−クラッドコンタクト層と、前記第2のn−
クラッドコンタクト層上に積層された、金属合金からな
る透明なコンタクトと、前記第1のn−クラッドコンタ
クト層上に積層された、金属からなるコンタクトと、を
含み、前記複数の超格子は、2層以上の障壁と、2層以
上の井戸とを含み、前記障壁を構成する各層は厚さ0.
3〜3nmであり、かつガリウム−窒素、アルミニウム
−窒素、インジウム−窒素、またはこれらの合金からな
り、前記井戸を構成する各層は厚さ0.3〜3nmであ
り、かつガリウム−窒素、アルミニウム−窒素、インジ
ウム−窒素、またはこれらの合金からなる。
導体超格子をベースとし、かつ400〜4000nmの
スペクトル領域内にあるスペクトルを有する光を発生す
る構造物を含む単極発光装置であって、サファイア基板
と、バッファ層と、n型ドープされたガリウム−窒素
(GaN)、アルミニウム−窒素(AlN)、インジウ
ム−窒素(InN)、またはこれらの合金からなる第1
のn−クラッドコンタクト層と、ドープされていない
か、あるいはn型ドープされた複数の超格子と、n型ド
ープされたガリウム−窒素、アルミニウム−窒素、イン
ジウム−窒素、またはこれらの合金からなる第2のn−
クラッドコンタクト層と、前記第2のn−クラッドコン
タクト層上に積層された、金属合金からなる透明なコン
タクトと、前記第1のn−クラッドコンタクト層上に積
層された、金属からなるコンタクトと、を含み、前記複
数の超格子は、2層以上の障壁と、2層以上の井戸とを
含み、前記障壁を構成する各層は厚さ0.3〜3nmで
あり、かつガリウム−窒素、アルミニウム−窒素、イン
ジウム−窒素、またはこれらの合金からなり、前記井戸
を構成する各層は厚さ0.3〜3nmであり、かつガリ
ウム−窒素、アルミニウム−窒素、インジウム−窒素、
またはこれらの合金からなる。
化物半導体超格子をベースとする構造物を含む単極白色
光発光装置であって、サファイア基板と、バッファ層
と、n型ドープされたガリウム−窒素、アルミニウム−
窒素、インジウム−窒素、またはこれらの合金からなる
第1のn−クラッドコンタクト層と、ドープされていな
いか、あるいはn型ドープされた少なくとも4層の超格
子と、赤色光、緑色光、および青色光の発光のために形
成された少なくとも3層の活性層と、n型ドープされた
ガリウム−窒素、アルミニウム−窒素、インジウム−窒
素、またはこれらの合金からなる第2のn−クラッドコ
ンタクト層と、前記第2のn−クラッドコンタクト層上
に積層された、金属合金からなる透明なコンタクトと、
前記第1のn−クラッドコンタクト層上に積層された、
金属からなるコンタクトと、を含み、前記複数の超格子
は、複数の障壁と、複数の井戸とを含み、前記障壁を構
成する各層は厚さ0.3〜3nmであり、かつガリウム
−窒素、アルミニウム−窒素、インジウム−窒素、また
はこれらの合金からなり、前記井戸を構成する各層は厚
さ0.3〜3nmであり、かつガリウム−窒素、アルミ
ニウム−窒素、インジウム−窒素、またはこれらの合金
からなり、前記活性層は、希土類金属、遷移金属、また
は浅い電子供与体もしくはその他の不純物と前記金属と
の複合体でドープされたか、あるいはδ−ドープされた
半導体から形成される。
前記活性層のうちのいくつかを含まないものとすること
ができる。
的な構造を図1に示す。
を図2(a)および図2(b)に示す。ULEDにおい
ては、放射は通常の発光ダイオードで起きるような電子
と正孔の再結合により起きるのではなく、浅いサブバン
ド超格子から深いサブバンド超格子への電子の転移が原
因により起きる。この電子の転移は、フォトンの放出に
よる電子エネルギー緩和(energy relaxation)に伴って
起きる。n型III族窒化物超格子をベースとしたULE
Dの量子化効率(quantum efficiency)は、光の周波数の
増加とともに増大する。本発明者らの計算結果によれ
ば、このようなULEDの効率は、非放射エネルギー緩
和プロセスにより制限されることが示されており、以下
の式で与えられる:
LEDの効率を達成することができる。
て、図面を参照して説明する。
図で、2つのn型III族窒化物超格子をベースとした構
造を含むULEDを示す。
アスを印加していない場合における、該ULEDの構造
に沿って等位置のエネルギー(E)のエネルギーバンド
を概略的に示す図である。
アスを印加した場合における、該ULEDのエネルギー
バンドを概略的に示す図である。
を示す図である。図3に示すULEDは、2つのn型II
I族窒化物超格子をベースとする。この2つのn型III族
窒化物超格子は、光学的に活性な不純物または量子ドッ
トを含む活性層を有する。
を示す図である。図3に示すULEDは、白色光発光用
に形成された4階層のIII族窒化物超格子(超格子2
0,24,28,32)を有する。
て説明する。
LEDの構造を示す。これはサファイア(Al2O3)基
板11を有し、その上に厚さ20nmの窒化アルミニウ
ム(AlN)からなるバッファ層10が形成される。そ
の上に、厚さ3μmのn−AlNからなるn−クラッド
コンタクト層5を積層する。n−クラッドコンタクト層
5は、ドーピングレベルが1018−1020cm-3でシリ
コン(Si)がドープされている。このn−クラッドコ
ンタクト層5の上でエピタキシャル成長させて、Ga
0.05Al0.95N/AlNからなる浅いサブバンド超格子
3を形成する。このサブバンド超格子3は、ドープされ
ていない4層のGa0.05Al0.95Nからなる量子井戸8
と、4層のAlNからなる障壁9とで構成される。量子
井戸8を構成する4層の各層の厚さは2nmであり、障
壁9を構成する4層の各層の厚さは1nmである。
ンド超格子1をエピタキシャル成長させる。このサブバ
ンド超格子1は、ドープされていない3層のGaNから
なる量子井戸7と、4層のAlNからなる障壁6とで構
成される。量子井戸7を構成する4層の各層の厚さは
0.5nmであり、障壁6を構成する4層の各層の厚さ
は1nmである。このサブバンド超格子1の上に、厚さ
が1μmのn−Ga0.95Al0.05Nからなるコンタクト
層13を形成する。このコンタクト層13は、ドーピン
グレベルが1018−1020cm-3である。つづいて、コ
ンタクト層13の上面に、チタン/アルミニウム(Ti
/Al)からなる透明な金属コンタクト12を形成す
る。次いで、エッチング後に、n−クラッドコンタクト
層5上であって構造体の隅にあたる部分に、もう一方の
コンタクト4を形成する。
の電位をコンタクト12に与え、負の電位をコンタクト
4に与えた場合、この構造体(図1に示すULED)の
中を電流が流れ、浅いサブバンド超格子3と深いサブバ
ンド超格子1の間の界面2に赤色光が発生する。
において、バイアスが印加されたULED、およびバイ
アスが印加されていないULEDそれぞれにおける伝導
帯エッジの位置依存性を示し、あわせてULEDの動作
原理を示す図である。
クト4,12それぞれにおけるフェルミ準位14,15
は等しい。浅いサブバンド超格子3と深いサブバンド超
格子1との間の界面2上には、空乏領域とバンド屈折が
生ずる。界面2、およびコンタクト層5,13には電子
16,17の流れは生じない。
正電位をコンタクト4に与え、かつ負電位をコンタクト
12に与えた場合、この構造体(図1に示すULED)
の中を電流が流れ、浅いサブバンド超格子3と深いサブ
バンド超格子1の間の界面2で光18が発生する。
LEDの構造を示す。図3に示すULEDは、超格子1
と超格子3との間の界面に活性層19が形成されている
点を除き、実施例1にかかるULED(図1参照)と同
じ構造を有する。この活性層19は、光学的に活性な不
純物、またはGaxAl1-xNからなる量子ドットを含
む。また、活性層19は、量子ドットまたは不純物に関
連する寄生的な量子化(lateral quantization:LQ)
によって、電子に対するフォノンエネルギー緩和チャネ
ル(phonon energy relaxation channel)を抑制させるこ
とができる。LQを用いることにより、量子井戸平面に
沿って自由運動がなくなる。これによって電子エネルギ
ースペクトルが区分され、レベル間のすべてのギャップ
が光学的なフォノンエネルギーよりも高い場合には、1
つのフォノン転位がエネルギー保存の法則により制限さ
れることになる。
利点は、超格子内におけるサブバンドエネルギーの位置
を、活性層中の不純物または量子ドットの光学的に活性
な遷移にあわせて調整することができることである。こ
れにより、超格子のサブバンドから直接流れる電流によ
り、活性層中での光学的遷移を励起させることができ
る。
色光発生用のULEDの構造を示す図である。図4に示
すULEDはサファイア(Al2O3)基板11を含み、
その上に厚さ20nmの窒化アルミニウム(AlN)か
らなるバッファ層10が形成される。次に、厚さ3μm
のn−AlNからなるn−クラッドコンタクト層5が積
層される。n−クラッドコンタクト層5は、ドーピング
レベルが1018−1020cm-3でシリコン(Si)がド
ープされている。このn−クラッドコンタクト層5の上
でエピタキシャル成長させて、GaxINyAl1-x-yN
/AlNからなる1階層の超格子20が形成される。こ
の超格子20は、ドープされていない3層のGaxINy
Al1-x-yN/AlNからなる量子井戸21と、4層の
AlNからなる障壁22とで構成される。量子井戸21
を構成する3層の各層の厚さは0.5〜2.0nmであ
り、障壁22を構成する4層の各層の厚さは1nmであ
る。なお、この場合において、xおよびyは0.05〜
1.0の間の値をとる。
る。活性層23は光学的に活性な不純物、またはGax
INyAl1-x-yNからなる量子ドットを含む。
1-x-yN/AlNからなる1階層の超格子24がエピタ
キシャル成長によって形成される。超格子24は、ドー
プされていない3層のGaxINyAl1-x-yN/AlN
からなる量子井戸25と、4層のAlNからなる障壁2
6とで構成される。量子井戸25を構成する3層の各層
の厚さは0.5〜2.0nmであり、障壁26を構成す
る4層の各層の厚さは1nmである。なお、この場合に
おいて、xおよびyは0.05〜1.0の間の値をと
る。
性層27は光学的に活性な不純物、またはGaxINyA
l1-x-yNからなる量子ドットを含む。
1-x-yN/AlNからなる1階層の超格子28がエピタ
キシャル成長によって形成される。超格子28は、ドー
プされていない3層のGaxINyAl1-x-yN/AlN
からなる量子井戸29と、4層のAlNからなる障壁3
0とで構成される。量子井戸29を構成する3層の各層
の厚さは0.5〜2.0nmであり、障壁30を構成す
る4層の各層の厚さは1nmである。なお、この場合に
おいて、xおよびyは0.05〜1.0の間の値をと
る。
性層31は光学的に活性な不純物、またはGaxINyA
l1-x-yNからなる量子ドットを含む。
1-x-yN/AlNからなる1階層の超格子32がエピタ
キシャル成長によって形成される。超格子32は、ドー
プされていない3層のGaxINyAl1-x-yN/AlN
からなる量子井戸33と、4層のAlNからなる障壁3
4とで構成される。量子井戸33を構成する3層の各層
の厚さは0.5〜2.0nmであり、障壁34を構成す
る4層の各層の厚さは1nmである。なお、この場合に
おいて、xおよびyは0.05〜1.0の間の値をと
る。
Ga0.95Al0.05Nからなるコンタクト層13を形成す
る。つづいて、ドーピングレベルが1018−1020cm
-3のコンタクト層13の上面に、チタン/アルミニウム
(Ti/Al)からなる透明な金属コンタクト12を形
成する。次いで、エッチング後、n−クラッドコンタク
ト層5上であって構造体の隅にあたる部分に、もう1つ
のコンタクト4を形成する。
n型III族窒化物超格子をベースとしたものである。
を印加していない場合における、該ULEDの構造に沿
って等位置のエネルギー(E)のエネルギーバンドを概
略的に示す図である。図2(b)は、図1に示すULE
Dにバイアスを印加した場合における、該ULEDのエ
ネルギーバンドを概略的に示す図である。
る。
白色光発光用に形成された4階層のIII族窒化物超格子
を有するULEDを示す。
Claims (10)
- 【請求項1】 真性半導体、n型のIII族窒化物半導
体、および合金のうちいずれか1つからなる複数の超格
子を含む、発光装置。 - 【請求項2】 真性半導体、n型のIII族窒化物半導
体、および合金のうちいずれか1つからなる複数の超格
子と、 前記超格子間に形成され、かつ光学的に活性な不純物、
不純物複合体、および量子ドットのうちいずれかよりな
る活性層と、を含む、発光装置。 - 【請求項3】 真性半導体、n型のIII族窒化物半導
体、および合金のうちいずれか1つからなる少なくとも
3対の超格子を含み、 さらに、前記超格子間に形成され、かつ光学的に活性な
不純物、不純物複合体、および量子ドットのうちいずれ
かよりなる活性層を含むか、あるいは含まない、白色光
発光装置。 - 【請求項4】 真性半導体、n型のIII族窒化物半導
体、および合金のうちいずれか1つからなる少なくとも
4階層の超格子を含み、 さらに、前記超格子間に形成され、かつ光学的に活性な
不純物、不純物複合体、および量子ドットのうちいずれ
かよりなる活性層を含むか、あるいは含まない、白色光
発光装置。 - 【請求項5】 真性半導体、n型のIII族窒化物半導
体、および合金のうちいずれか1つからなる複数の超格
子と、 前記超格子間に形成され、かつ異なる伝導帯不連続域を
有するIII−V族またはII−VI族半導体からなる活性層
と、を含む、発光装置。 - 【請求項6】 III族窒化物半導体超格子をベースとす
る構造物を含む、単極発光装置。 - 【請求項7】 400〜4000nmのスペクトル領域
内にあるスペクトルを有する光を発生する単極発光装置
であって、 サファイア基板と、 バッファ層と、 n型ドープされたガリウム−窒素、アルミニウム−窒
素、インジウム−窒素、またはこれらの合金からなる第
1のn−クラッドコンタクト層と、 ドープされていないか、あるいはn型ドープされた複数
の超格子と、 n型ドープされたガリウム−窒素、アルミニウム−窒
素、インジウム−窒素、またはこれらの合金からなる第
2のn−クラッドコンタクト層と、 前記第2のn−クラッドコンタクト層上に積層された、
金属合金からなる透明なコンタクトと、 前記第1のn−クラッドコンタクト層上に積層された、
金属からなるコンタクトと、を含み、 前記複数の超格子は、2層以上の障壁と、2層以上の井
戸とを含み、 前記障壁を構成する各層は厚さ0.3〜3nmであり、
かつガリウム−窒素、アルミニウム−窒素、インジウム
−窒素、またはこれらの合金からなり、 前記井戸を構成する各層は厚さ0.3〜3nmであり、
かつガリウム−窒素、アルミニウム−窒素、インジウム
−窒素、またはこれらの合金からなる、単極発光装置。 - 【請求項8】 III族窒化物半導体超格子をベースと
し、かつ400〜4000nmのスペクトル領域内にあ
るスペクトルを有する光を発生する構造物を含む単極発
光装置であって、 サファイア基板と、 バッファ層と、 n型ドープされたガリウム−窒素、アルミニウム−窒
素、インジウム−窒素、またはこれらの合金からなる第
1のn−クラッドコンタクト層と、 ドープされていないか、あるいはn型ドープされた複数
の超格子と、 n型ドープされたガリウム−窒素、アルミニウム−窒
素、インジウム−窒素、またはこれらの合金からなる第
2のn−クラッドコンタクト層と、 前記第2のn−クラッドコンタクト層上に積層された、
金属合金からなる透明なコンタクトと、 前記第1のn−クラッドコンタクト層上に積層された、
金属からなるコンタクトと、を含み、 前記複数の超格子は、2層以上の障壁と、2層以上の井
戸とを含み、 前記障壁を構成する各層は厚さ0.3〜3nmであり、
かつガリウム−窒素、アルミニウム−窒素、インジウム
−窒素、またはこれらの合金からなり、 前記井戸を構成する各層は厚さ0.3〜3nmであり、
かつガリウム−窒素、アルミニウム−窒素、インジウム
−窒素、またはこれらの合金からなる、単極発光装置。 - 【請求項9】 III族窒化物半導体超格子をベースとす
る構造物を含む単極白色光発光装置であって、 サファイア基板と、 バッファ層と、 n型ドープされたガリウム−窒素、アルミニウム−窒
素、インジウム−窒素、またはこれらの合金からなる第
1のn−クラッドコンタクト層と、 ドープされていないか、あるいはn型ドープされた少な
くとも4層の超格子と、 赤色光、緑色光、および青色光の発光のために形成され
た少なくとも3層の活性層と、 n型ドープされたガリウム−窒素、アルミニウム−窒
素、インジウム−窒素、またはこれらの合金からなる第
2のn−クラッドコンタクト層と、 前記第2のn−クラッドコンタクト層上に積層された、
金属合金からなる透明なコンタクトと、 前記第1のn−クラッドコンタクト層上に積層された、
金属からなるコンタクトと、を含み、 前記複数の超格子は、複数の障壁と、複数の井戸とを含
み、 前記障壁を構成する各層は厚さ0.3〜3nmであり、
かつガリウム−窒素、アルミニウム−窒素、インジウム
−窒素、またはこれらの合金からなり、 前記井戸を構成する各層は厚さ0.3〜3nmであり、
かつガリウム−窒素、アルミニウム−窒素、インジウム
−窒素、またはこれらの合金からなり、 前記活性層は、希土類金属、遷移金属、または浅い電子
供与体もしくはその他の不純物と前記金属との複合体で
ドープされたか、あるいはδ−ドープされた半導体から
形成される、単極白色光発光装置。 - 【請求項10】 請求項9において、前記活性層のうち
のいくつかを含まない、単極白色光発光装置。
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