JP2001027728A - 共焦点光スキャナ - Google Patents
共焦点光スキャナInfo
- Publication number
- JP2001027728A JP2001027728A JP11201063A JP20106399A JP2001027728A JP 2001027728 A JP2001027728 A JP 2001027728A JP 11201063 A JP11201063 A JP 11201063A JP 20106399 A JP20106399 A JP 20106399A JP 2001027728 A JP2001027728 A JP 2001027728A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- slit
- sample
- optical scanner
- scanning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
ことが可能な共焦点光スキャナを実現する。 【解決手段】 共焦点画像を得る共焦点光スキャナにお
いて、試料上にライン状の光を照射させる遮蔽手段若し
くは集光手段と、試料からの戻り光のうち遮蔽手段若し
くは集光手段を通過若しくは透過した戻り光を走査する
走査手段と、この走査手段の動作に同期して試料への集
光位置を光軸方向に変化させる駆動手段とを設ける。
Description
共焦点光スキャナに関し、特に試料の縦断面画像をリア
ルタイムで目視することが可能な共焦点光スキャナに関
する。
が形成されたニポー板(以下、ピンホール板と呼ぶ。)
を回転させること等により試料表面を走査して、試料の
光軸方向に垂直な平面のスライス画像を得ることができ
る。また、このような共焦点光スキャナを光学顕微鏡と
接続し、光軸方向に対物レンズの焦点を変化させ各焦点
位置毎に得られたスライス画像に基づき演算制御回路等
で演算処理することにより、光軸方向に水平なスライス
画像(以下、縦断層画像と呼ぶ。)を得ることができ
る。
ナを用いた共焦点顕微鏡の一例を示す構成ブロック図で
ある。図12において1は光源、2はピンホール板を回
転させることにより試料表面を走査する共焦点光スキャ
ナ、3は対物レンズを含む光学顕微鏡部、4は試料、5
は試料4を光軸方向に移動させるステージ、6はCCD
カメラ等の撮影手段、7は記憶手段、8は演算制御手段
である。
に入射され、共焦点光スキャナ2を介して光学顕微鏡部
3に入射される。この出力光は光学顕微鏡部3を構成す
る対物レンズにより試料4に集光される。
により生じた蛍光等の戻り光は再び光学顕微鏡部3を介
して共焦点光スキャナ2に入射され、共焦点光スキャナ
2を透過して撮影手段6に入射される。撮影手段6の出
力は記憶手段7に接続され、記憶手段7の出力は演算制
御手段8に接続される。さらに、演算制御手段8からの
駆動信号がステージ5に接続される。
3及び図14を用いて説明する。図13はスライス画像
が得られる状況を説明する説明図、図14は縦断層画像
を演算により生成する状況を説明する説明図である。
に入射され、共焦点光スキャナ2内の回転するピンホー
ル板に形成された複数のピンホールを通過して光学顕微
鏡部3に入射される。この出力光は光学顕微鏡部3を構
成する対物レンズにより試料4に集光されて、ピンホー
ル板の回転に伴って試料4表面を走査する。
により生じた蛍光等の戻り光は再び光学顕微鏡部3を構
成する対物レンズにより先に通過した各ピンホールと同
一にピンホールに集光されて共焦点効果を生じる。
れる。この時、撮影手段6得られる画像はピンホール板
の回転に伴って試料4表面を走査したものであるから、
光学顕微鏡部3を構成する対物レンズの焦点位置におけ
る光軸に垂直な平面のスライス画像となる。
12中”ZD01”に示す光軸方向に順次移動させて、
対物レンズの焦点位置を光軸方向に移動させて試料4の
光軸方向に変化したスライス画像を撮影手段6で撮影す
ると共に撮影手段6で撮影される試料4の各位置におけ
るスライス画像を記憶手段7に順次格納させる。
における光軸方向に一致し、図13中”PS01”、”
PS02”及び”PS03”に示すような面で走査され
た試料のスライス画像は図13中”SI01”、”SI
02”及び”SI03”に示すようになり、このような
スライス画像が記憶手段7に順次格納される。
01”方向の各位置におけるスライス画像を撮影した時
点で、記憶手段7に格納されている各々のスライス画像
を読み出して試料4の3次元像を構築すると共に縦断層
画像を演算により再構築する。
YZ平面における縦断層画像を演算により再構築した場
合には、図14中”LI01”に示すような縦断層画像
を得ることができる。
従来の方法では縦断層画像をリアルタイムに且つ光学的
に観察することができないと言った問題点があった。す
なわち、多数のスライス画像から演算により縦断層画像
を求めるため、その処理時間に長くなってリアルタイム
性を失ってしまう。
〜6000本程度なのに対してカメラ等の撮影手段では
走査線が500〜1000本程度となり、分解能や色が
撮影手段6の仕様によって制限されてしまうと言った問
題点があった。従って本発明が解決しようとする課題
は、試料の縦断面画像をリアルタイムで目視することが
可能な共焦点光スキャナを実現することにある。
るために、本発明のうち請求項1記載の発明は、共焦点
画像を得る共焦点光スキャナにおいて、試料上にライン
状の光を照射させる遮蔽手段若しくは集光手段と、前記
試料からの戻り光のうち前記遮蔽手段若しくは前記集光
手段を通過若しくは透過した前記戻り光を走査する走査
手段と、この走査手段の動作に同期して前記試料への集
光位置を光軸方向に変化させる駆動手段とを備えたこと
により、試料の縦断面画像をリアルタイムで目視するこ
とが可能になる。
明である共焦点光スキャナにおいて、共焦点画像を得る
共焦点光スキャナにおいて、光源と、この光源の出力光
を平行光にする第1のレンズと、前記平行光を反射若し
くは透過させる光分岐手段と、この光分岐手段からの反
射光若しくは透過光が照射される遮蔽手段若しくは集光
手段と、前記遮蔽手段若しくは前記集光手段を通過若し
くは透過した光を集光すると共に前記試料からの戻り光
を前記遮蔽手段若しくは前記集光手段に集光する対物レ
ンズと、前記遮蔽手段若しくは前記集光手段を通過若し
くは透過し前記光分岐手段を透過若しくは反射した前記
戻り光を集光する第2のレンズと、この第2のレンズか
らの前記戻り光の光路を変化させて撮影手段若しくは肉
眼に入射させる走査手段とを備え、前記対物レンズの集
光位置を光軸方向に変化させると共にこれに同期して前
記走査手段により前記撮影手段若しくは前記肉眼への入
射位置を走査することにより、試料の縦断面画像をリア
ルタイムで目視することが可能になる。
項2記載の発明である共焦点光スキャナにおいて、前記
遮蔽手段が、スリットが形成されたスリット板であるこ
とにより、試料の縦断面画像をリアルタイムで目視する
ことが可能になる。
項2記載の発明である共焦点光スキャナにおいて、前記
集光手段が、シリンドリカルレンズであることにより、
試料の縦断面画像をリアルタイムで目視することが可能
になる。
明である共焦点光スキャナにおいて、前記スリットが、
直線状のスリットであることにより、試料の縦断面画像
をリアルタイムで目視することが可能になる。
明である共焦点光スキャナにおいて、前記スリットが、
非直線状のスリットであることにより、観察したい試料
の形状に適した切断面を得ることができる。
明である共焦点光スキャナにおいて、前記スリットの形
成方向を変化させたことにより、観察したい試料の形状
に応じて切断面を任意に変化させることが可能になる。
明である共焦点光スキャナにおいて、前記スリットのス
リット幅を変化させたことにより、観察したい試料の形
状に応じて切断面を任意に変化させることが可能にな
る。
明である共焦点光スキャナにおいて、前記スリット板
に、複数個のスリットが形成されたことにより、切断面
が複数になり、同時に複数箇所の縦断層画像を観察する
ことが可能になる。
ルが形成されたピンホール板を回転させて試料表面のス
ライス画像を得る共焦点光スキャナにおいて、前記ピン
ホール板の近傍に設けられ試料上にライン状の光を照射
させる遮蔽手段若しくは集光手段と、前記試料からの戻
り光のうち前記遮蔽手段若しくは前記集光手段を通過若
しくは透過した前記戻り光を走査する走査手段と、この
走査手段の動作に同期して前記試料への集光位置を光軸
方向に変化させる駆動手段とを備えたことにより、試料
の縦断面画像をリアルタイムで目視することが可能にな
る。
ルが形成されたピンホール板を回転させて試料表面のス
ライス画像を得る共焦点光スキャナにおいて、光源と、
この光源の出力光を平行光にする第1のレンズと、前記
平行光を透過させる光分岐手段と、この光分岐手段から
の透過光が照射される遮蔽手段若しくは集光手段と、前
記遮蔽手段若しくは前記集光手段を通過若しくは透過し
た光が集光されるピンホール板と、このピンホール板の
ピンホールを通過した光を集光すると共に前記試料から
の戻り光を前記ピンホールに集光する対物レンズと、前
記ピンホール板のピンホールを通過し、前記遮蔽手段若
しくは前記集光手段を通過若しくは透過し、前記光分岐
手段で反射した前記戻り光を集光する第2のレンズと、
この第2のレンズからの前記戻り光の光路を変化させて
撮影手段若しくは肉眼に入射させる走査手段とを備え、
前記対物レンズの集光位置を光軸方向に変化させると共
にこれに同期して前記走査手段により前記撮影手段若し
くは前記肉眼への入射位置を走査することにより、試料
の縦断面画像をリアルタイムで目視することが可能にな
る。
請求項11記載の発明である共焦点光スキャナにおい
て、前記遮蔽手段若しくは前記集光手段を前記ピンホー
ル板の光源側若しくは対物レンズ側に設けたことによ
り、試料の縦断面画像をリアルタイムで目視することが
可能になる。
請求項11記載の発明である共焦点光スキャナにおい
て、前記光分岐手段が、多連光分岐手段であることによ
り、試料の縦断面画像をリアルタイムで目視することが
可能になる。
の発明である共焦点光スキャナにおいて、前記多連光分
岐手段の特定の位置に前記遮蔽手段若しくは前記集光手
段を設け当該特定の位置の選択に伴い前記走査手段を自
動的に動作させることにより、従来の共焦点光スキャナ
と縦断層画像をリアルタイムに観察できる共焦点光スキ
ャナとを共存させることが可能になる。
10及び請求項11記載の発明である共焦点光スキャナ
において、前記走査手段が、可動ミラーを動作させるこ
とにより前記撮影手段への入射位置を変化させることに
より、試料の縦断面画像をリアルタイムで目視すること
が可能になる。
10及び請求項11記載の発明である共焦点光スキャナ
において、前記走査手段が、レンズを光軸と直角方向に
移動させることにより前記撮影手段への入射位置を変化
させることにより、試料の縦断面画像をリアルタイムで
目視することが可能になる。
10及び請求項11記載の発明である共焦点光スキャナ
において、前記走査手段が、音響光学変調器により光路
を回折させて前記撮影手段への入射位置を変化させるこ
とにより、走査手段に可動部がなくなる。
説明する。図1は本発明に係る共焦点光スキャナの一実
施例を示す構成ブロック図である。図1において9は光
源、10及び15はレンズ、11はダイクロイックミラ
ーや偏光ビームスプリッタ等の光分岐手段、12はスリ
ットが形成された遮蔽手段であるスリット板、13は対
物レンズ、14は試料、16は走査手段である可動ミラ
ー、17は撮影手段、18は対物レンズ13を光軸方向
に移動させる駆動手段である。
になり光分岐手段11に入射される。この出力光は光分
岐手段11で反射されてスリット板12を照射する。ス
リット板12に形成されたスリットを透過した出力光は
対物レンズ13により集光されて試料14上に照射され
る。
射により生じた蛍光等の戻り光は再び対物レンズ13に
より集光されて先に通過したスリットを通過する。そし
て、スリットを通過した戻り光は光分岐手段11を透過
してレンズ15を介して可動ミラー16に入射され、可
動ミラー16の反射光は撮影手段17に入射される。
り光軸方向に移動するように駆動され、可動ミラー16
は図示しない駆動手段により駆動されて撮影手段17へ
の入射位置を変化させる。
用いて説明する。図2はリアルタイムに縦断層画像が得
られる状況を説明する説明図である。
岐手段11を介してスリット板12に入射される。そし
て、スリット板12に形成されたスリットを通過した出
力光は対物レンズ13により集光されて試料14の表面
に照射される。
射により生じた蛍光等の戻り光は再び対物レンズ13に
よりスリット板12に形成されたスリットに集光されて
共焦点効果を生じる。
過し、レンズ15及び可動ミラー16を介して撮影手段
17に入射され撮影される。この時、撮影手段17で得
られるスリット画像は同一のスリットを通過して得られ
たものであるから、対物レンズ13の焦点位置における
光軸に垂直な平面のスリット画像となる。
図1中”ZD11”に示す光軸方向に順次移動させて、
対物レンズ18の焦点位置を光軸方向に移動させて試料
14の光軸方向に変化したスリット画像を撮影手段17
に入射させる。
18の駆動に同期させて図1中”MD11”に示す方向
に駆動して撮影手段17への入射位置を変化させる。
置を変化させることにより、図1中”SL11”、”S
L12”及び”SL13”に示すように試料14上に集
光されるスリット像の位置が変化する。
られた共焦点画像(スリット画像)が可動ミラー16が
駆動されることにより、図1中”CI11”、”CI1
2”及び”CI13”に示すように入射位置が移動しな
がら撮影手段17に入射されることになる。
ける光軸方向に一致し、図2中”PS21”、”PS2
2”及び”PS23”に示すような面で得られた試料の
スリット画像は図2中”CI21”、”CI22”及
び”CI23”に示すようになり、このようなスリット
画像が入射位置を移動しながら撮影手段17に入射され
る。
面で切断された図2中”LI21”に示すような縦断層
画像と図2中”PS21”、”PS22”及び”PS2
3”に示すような面との交差部分であるスリット画像が
走査手段である可動ミラーにより上方若しくは下方に走
査されながら撮影手段17に入射されることになる。
21”に示す縦断層画像が撮影されることになる。ま
た、図1では撮影手段17を用いているが撮影手段の代
わりに肉眼で目視しても縦断層画像が観察されることに
なる。
置を光軸方向に変化させると共にこれに同期して走査手
段により撮影手段17への入射位置を走査することによ
り、試料の縦断面画像をリアルタイムで目視することが
可能になる。
2のスリットを図2中のY軸方向(縦方向)に設けてい
るが縦横斜めであっても構わない。図3はこのようなス
リットの形成方向の一例を示す平面図である。図3
(A)は斜めに形成されたスリット、図3(B)は横方
向(図2中のX軸方向)に形成されたスリットである。
り、観察したい試料の形状に応じて図2中”SL21”
に示す切断面を変化させることが可能になる。
びスリット幅を固定にせずに任意の方向及び任意のスリ
ット幅に変化させても構わない。図4はこのようなスリ
ットの方向変化及びスリット幅変化の一例を示す平面図
である。
トを図4中”RT01”に示すように回転させて図4
中”SL42”に示すようにスリットの方向を変化させ
たり、図4中”SL43”に示すスリットを図4中”E
P01”及び”EP02”に示す分だけ広げて図4中”
SL44”に示すような幅広のスリットとする。
幅を任意に変化させることにより、観察したい試料の形
状に応じて図2中”SL21”に示す切断面を任意に変
化させることが可能になる。
意に変化させる方法としては機械的に別なスリットと交
換したり、手動若しくは電動によりスリットの方向及び
スリット幅を変化させたり、液晶板を駆動して任意方向
及び任意スリット幅のスリットを形成させたりすること
が可能である。
状のスリットであっても構わない。図5はこのような任
意の形状のスリットの一例を示す平面図である。例え
ば、図5には図5中”SL51”に示すように逆V字状
のスリットが形成されている。
ることにより観察したい試料の形状に適した切断面を得
ることができる。例えば、図6は試料として細胞を観察
する場合を示す平面図である。図6中”CE01”に示
す細胞は外形が直線的ではないので、図5に示すような
スリットを用いることにより、図6中”SLI1”に示
すようなスリット像が図6中”CE01”に示す試料上
に照射されて細胞の外周部分の縦断層画像を観察したい
場合には最適となる。
しては機械的な交換だけではなく、液晶板を駆動して任
意の形状のスリットを形成させることが可能である。
せる走査手段としては図1では可動ミラー16を例示し
ているが、他の方法であっても構わない。図7はレンズ
を用いた走査手段の一例を示す説明図である。
てあり、図7中”LZ01”に示すレンズを図7中”M
D21”に示す光軸と直角方向に移動させることによ
り、撮影手段17への入射位置を変化させることが可能
になる。
のスリットを形成していたが、マルチスリットであって
も構わない。図8はマルチスリットの一例及びその効果
を示す説明図である。
中”SL61”、”SL62”及び”SL63”に示す
3本のスリットが形成されている。このようなスリット
板を用いることにより、図2中”SL21”に示すよう
な切断面が複数になり、同時に複数箇所の縦断層画像を
観察することが可能になる。
図8中”PS31”、”PS32”及び”PS33”に
示す3個所になり試料の中央部と両端の部分の縦断層画
像を同時に観察することが可能になる。
共焦点光スキャナに適用した場合の実施例を示す構成ブ
ロック図である。
29はレンズ、21は複数個のマイクロレンズが形成さ
れたマイクロレンズ板、22はダイクロイックミラーや
偏光ビームスプリッタ等の光分岐手段、23はスリット
が形成された遮蔽手段であるスリット板、24は複数個
のピンホールが前記マイクロレンズと同一のパターンで
形成されたピンホール板、25は対物レンズ、26は試
料、28は走査手段である可動ミラー、30は撮影手
段、31は駆動手段である。
光になりマイクロレンズ板21に入射され、マイクロレ
ンズ板21に形成された各マイクロレンズは入射光を光
分岐手段22及びスリット板23のスリットを透過させ
てピンホール板24に形成されたピンホールに集光す
る。
ルを透過した出力光は対物レンズ25により集光されて
試料26上に照射される。
射により生じた蛍光等の戻り光は再び対物レンズ25よ
り集光されて先に通過した同一のピンホールを通過す
る。そして、ピンホールを通過した戻り光は更にスリッ
ト板23に形成されたスリットを通過して光分岐手段2
2で反射されてレンズ27を介して可動ミラー28に入
射される。
反射光はレンズ29により集光されて撮影手段30に入
射される。
り光軸方向に移動するように駆動され、可動ミラー28
は図示しない駆動手段により駆動されて撮影手段30へ
の入射位置を変化させる。さらに、マイクロレンズ板2
1及びピンホール板は同一の固定手段に固定されて図示
しない駆動手段により同期して回転運動させられる。
る。但し、図1に示す実施例と同様の部分に関しては説
明は省略する。光源19からの出力光はレンズ20,マ
イクレンズ板21及び光分岐手段22を介してスリット
板23に入射される。そして、スリット板23に形成さ
れたスリットを通過した出力光はピンホール板に形成さ
れたピンホールを通過して対物レンズ25により集光試
料26の表面に照射される。
射により生じた蛍光等の戻り光は再び対物レンズ25に
よりスリット板23に形成されたスリットに集光されて
共焦点効果を生じる。
射され、レンズ27、可動ミラー28及びレンズ29を
介して撮影手段30に入射され撮影される。この時、撮
影手段30で得られるスリット画像は同一のスリットを
通過して得られたものであるから、対物レンズ25の焦
点位置における光軸に垂直な平面のスリット画像とな
る。
図9中”ZD21”に示す光軸方向に順次移動させて、
対物レンズ25の焦点位置を光軸方向に移動させて試料
26の光軸方向に変化したスリット画像を撮影手段30
に入射させる。
25の駆動に同期させて図9中”MD31”に示す方向
に駆動して撮影手段30への入射位置を変化させる。
手段30では図2中”IL21”に示すような縦断層画
像が撮影されることになる。また、図9では撮影手段3
0を用いているが撮影手段の代わりに肉眼で目視しても
縦断層画像が観察されることになる。
焦点光スキャナのピンホール板の近傍にスリット板を設
けてスリットを通過した光の集光位置を光軸方向に変化
させると共にこれに同期して走査手段により撮影手段3
0への入射位置を走査することにより、試料の縦断面画
像をリアルタイムで目視することが可能になる。
ット板23を一体構造とし脱着可能にして良い。この場
合には従来のピンホール板を用いた共焦点光スキャナを
縦断層画像をリアルタイムに観察できるように容易に改
造することが可能になる。
リットを形成して当該光分岐手段の選択に伴い走査手段
を自動的に動作させても構わない。図10は走査手段を
自動的に動作させる状況を説明する平面図及び正面図で
ある。
してあり、22aは光分岐手段、23aはスリット板、
32は多連光分岐手段である。基本的な構成は図9に示
す実施例と同様であり説明は省略する。
連光分岐手段32は図10中”MD41”に示す方向に
移動可能であり、これにより、図10中”BS0
1”、”BS02”、”BS03”、”BS04”及
び”BS05”に示す各種の光分岐手段を観察対象に基
づき選択することができる。
イクロレンズ板(図示せず。)からの光が照射されてお
り、このため、現状では図10中”BS03”に示す光
分岐手段が選択されていることになる。
手段にはスリット板が一体形成されていなければ、図9
中の走査手段である可動ミラー28を駆動しない。そし
て、例えば、図10中”BS05”に示すスリット板が
一体形成された光分岐手段が選択された場合には図9中
の走査手段である可動ミラー28を駆動する。
位置にスリットを形成して当該光分岐手段の選択に伴い
走査手段を自動的に動作させることにより、従来の共焦
点光スキャナと縦断層画像をリアルタイムに観察できる
共焦点光スキャナとを共存させることが可能になる。
23をピンホール板24の光源側に設けているが、スリ
ット板23をピンホール板24の対物レンズ側に設けて
も構わない。
を示す説明図である。図11において21及び24は図
9と同一符号を付してあり、23bはスリット板であ
る。図11に示すようにスリット板23bはピンホール
板24の対物レンズ側に配置される。
照射させるめに遮蔽手段であるスリットが形成されたス
リット板を用いていたが、逆に集光手段であるシリンド
リカルレンズを用いて出力光を試料上にライン状に集光
しても構わない。
幅に関しても前述のスリットと同様に変化させても良
く、また、形状も直線状である必要はない。また、複数
個のシリンドリカルレンズを用いても構わない。また、
多連光分岐手段の特定の位置にシリンドリカルレンズを
形成しても構わない。
ンズを例示したが音響光学変調器を用いても構わない。
この場合には、走査手段に機械的な可動部がなくなる。
源19の出力光を効率よく各ピンホールに集光するため
のものであるので、リアルタイムで縦断層画像を観察す
るためには必須の構成要素ではない。
本発明によれば次のような効果がある。請求項1〜請求
項5、請求項10〜請求項13,請求項15及び請求項
16の発明によれば、スリット等を通過した光の集光位
置を光軸方向に変化させると共にこれに同期して走査手
段により撮影手段への入射位置を走査することにより、
試料の縦断面画像をリアルタイムで目視することが可能
になる。
ば、非直線状のスリット等任意の形状のスリット等を用
いることにより、観察したい試料の形状に適した切断面
を得ることができる。また、スリット等の方向及びスリ
ット等の幅を任意に変化させることにより、観察したい
試料の形状に応じて切断面を任意に変化させることが可
能になる。
リットのスリット板を用いることにより、切断面が複数
になり、同時に複数箇所の縦断層画像を観察することが
可能になる。
分岐手段の特定の位置にスリット等を設け当該位置の選
択に伴い走査手段を自動的に動作させることにより、従
来の共焦点光スキャナと縦断層画像をリアルタイムに観
察できる共焦点光スキャナとを共存させることが可能に
なる。
学変調器により光路を回折させて撮影手段への入射位置
を変化させることにより、走査手段に可動部がなくな
る。
す構成ブロック図である。
明する説明図である。
る。
を示す平面図である。
る。
ある。
ある。
図である。
した場合の実施例を示す構成ブロック図である。
る平面図及び正面図である。
鏡の一例を示す構成ブロック図である。
図である。
する説明図である。
Claims (17)
- 【請求項1】共焦点画像を得る共焦点光スキャナにおい
て、 試料上にライン状の光を照射させる遮蔽手段若しくは集
光手段と、 前記試料からの戻り光のうち前記遮蔽手段若しくは前記
集光手段を通過若しくは透過した前記戻り光を走査する
走査手段と、 この走査手段の動作に同期して前記試料への集光位置を
光軸方向に変化させる駆動手段とを備えたことを特徴と
する共焦点光スキャナ。 - 【請求項2】共焦点画像を得る共焦点光スキャナにおい
て、 光源と、 この光源の出力光を平行光にする第1のレンズと、 前記平行光を反射若しくは透過させる光分岐手段と、 この光分岐手段からの反射光若しくは透過光が照射され
る遮蔽手段若しくは集光手段と、 前記遮蔽手段若しくは前記集光手段を通過若しくは透過
した光を集光すると共に前記試料からの戻り光を前記遮
蔽手段若しくは前記集光手段に集光する対物レンズと、 前記遮蔽手段若しくは前記集光手段を通過若しくは透過
し前記光分岐手段を透過若しくは反射した前記戻り光を
集光する第2のレンズと、 この第2のレンズからの前記戻り光の光路を変化させて
撮影手段若しくは肉眼に入射させる走査手段とを備え、 前記対物レンズの集光位置を光軸方向に変化させると共
にこれに同期して前記走査手段により前記撮影手段若し
くは前記肉眼への入射位置を走査することを特徴とする
共焦点光スキャナ。 - 【請求項3】前記遮蔽手段が、 スリットが形成されたスリット板であることを特徴とす
る請求項1及び請求項2記載の共焦点光スキャナ。 - 【請求項4】前記集光手段が、 シリンドリカルレンズであることを特徴とする請求項1
及び請求項2記載の共焦点光スキャナ。 - 【請求項5】前記スリットが、 直線状のスリットであることを特徴とする請求項3記載
の共焦点光スキャナ。 - 【請求項6】前記スリットが、 非直線状のスリットであることを特徴とする請求項3記
載の共焦点光スキャナ。 - 【請求項7】前記スリットの形成方向を変化させたこと
を特徴とする請求項3記載の共焦点光スキャナ。 - 【請求項8】前記スリットのスリット幅を変化させたこ
とを特徴とする請求項3記載の共焦点光スキャナ。 - 【請求項9】前記スリット板に、複数個のスリットが形
成されたことを特徴とする請求項3記載の共焦点光スキ
ャナ。 - 【請求項10】複数のピンホールが形成されたピンホー
ル板を回転させて試料表面のスライス画像を得る共焦点
光スキャナにおいて、 前記ピンホール板の近傍に設けられ試料上にライン状の
光を照射させる遮蔽手段若しくは集光手段と、 前記試料からの戻り光のうち前記遮蔽手段若しくは前記
集光手段を通過若しくは透過した前記戻り光を走査する
走査手段と、 この走査手段の動作に同期して前記試料への集光位置を
光軸方向に変化させる駆動手段とを備えたことを特徴と
する共焦点光スキャナ。 - 【請求項11】複数のピンホールが形成されたピンホー
ル板を回転させて試料表面のスライス画像を得る共焦点
光スキャナにおいて、 光源と、 この光源の出力光を平行光にする第1のレンズと、 前記平行光を透過させる光分岐手段と、 この光分岐手段からの透過光が照射される遮蔽手段若し
くは集光手段と、 前記遮蔽手段若しくは前記集光手段を通過若しくは透過
した光が集光されるピンホール板と、 このピンホール板のピンホールを通過した光を集光する
と共に前記試料からの戻り光を前記ピンホールに集光す
る対物レンズと、 前記ピンホール板のピンホールを通過し、前記遮蔽手段
若しくは前記集光手段を通過若しくは透過し、前記光分
岐手段で反射した前記戻り光を集光する第2のレンズ
と、 この第2のレンズからの前記戻り光の光路を変化させて
撮影手段若しくは肉眼に入射させる走査手段とを備え、 前記対物レンズの集光位置を光軸方向に変化させると共
にこれに同期して前記走査手段により前記撮影手段若し
くは前記肉眼への入射位置を走査することを特徴とする
共焦点光スキャナ。 - 【請求項12】前記遮蔽手段若しくは前記集光手段を前
記ピンホール板の光源側若しくは対物レンズ側に設けた
ことを特徴とする請求項10及び請求項11記載の共焦
点光スキャナ。 - 【請求項13】前記光分岐手段が、多連光分岐手段であ
ることを特徴とする請求項10及び請求項11記載の共
焦点光スキャナ。 - 【請求項14】前記多連光分岐手段の特定の位置に前記
遮蔽手段若しくは前記集光手段を設け当該特定の位置の
選択に伴い前記走査手段を自動的に動作させることを特
徴とする請求項13記載の共焦点光スキャナ。 - 【請求項15】前記走査手段が、 可動ミラーを動作させることにより前記撮影手段への入
射位置を変化させることを特徴とする請求項1,2,1
0及び請求項11記載の共焦点光スキャナ。 - 【請求項16】前記走査手段が、 レンズを光軸と直角方向に移動させることにより前記撮
影手段への入射位置を変化させることを特徴とする請求
項1,2,10及び請求項11記載の共焦点光スキャ
ナ。 - 【請求項17】前記走査手段が、 音響光学変調器により光路を回折させて前記撮影手段へ
の入射位置を変化させることを特徴とする請求項1,
2,10及び請求項11記載の共焦点光スキャナ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20106399A JP3736213B2 (ja) | 1999-07-15 | 1999-07-15 | 共焦点光スキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20106399A JP3736213B2 (ja) | 1999-07-15 | 1999-07-15 | 共焦点光スキャナ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001027728A true JP2001027728A (ja) | 2001-01-30 |
JP3736213B2 JP3736213B2 (ja) | 2006-01-18 |
Family
ID=16434777
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20106399A Expired - Fee Related JP3736213B2 (ja) | 1999-07-15 | 1999-07-15 | 共焦点光スキャナ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3736213B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005102629A (ja) * | 2003-10-01 | 2005-04-21 | Yokogawa Electric Corp | 創薬スクリーニング方法および装置 |
JP2006079510A (ja) * | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Olympus Corp | 生体観察装置 |
JP2007057344A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Lasertec Corp | 検査装置及び検査方法並びにそれを用いたシリンダブロックの製造方法 |
JP2007304421A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
JP2012002670A (ja) * | 2010-06-17 | 2012-01-05 | Toshiba Corp | 高さ検出装置 |
KR101117501B1 (ko) | 2010-02-12 | 2012-03-07 | 한국과학기술원 | 십자형 구조 조명 선형 패턴을 이용한 구조 조명 공초점 현미경 |
JP2020194190A (ja) * | 2018-10-19 | 2020-12-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
US11131839B2 (en) | 2016-10-11 | 2021-09-28 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6180215A (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-23 | Nippon Jido Seigyo Kk | 走査型顕微鏡撮像装置 |
JPH0261610A (ja) * | 1988-08-26 | 1990-03-01 | Rikagaku Kenkyusho | 光学的観測装置及び撮像装置 |
JPH03172815A (ja) * | 1989-12-01 | 1991-07-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | 共焦点走査型顕微鏡 |
JPH0560980A (ja) * | 1991-05-29 | 1993-03-12 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点用光スキヤナ |
JPH05188301A (ja) * | 1991-09-09 | 1993-07-30 | Sumitomo Electric Ind Ltd | レーザ顕微鏡 |
JPH05332733A (ja) * | 1992-05-27 | 1993-12-14 | Hitachi Ltd | 検出光学系並びに立体形状検出方法 |
JPH07261090A (ja) * | 1994-03-24 | 1995-10-13 | Hamamatsu Photonics Kk | 共焦点用スキャナ、共焦点顕微鏡および共焦点用スキャナの製造方法 |
JPH07333510A (ja) * | 1994-06-02 | 1995-12-22 | Nikon Corp | レーザ走査顕微鏡装置 |
JPH0829692A (ja) * | 1994-07-11 | 1996-02-02 | Nikon Corp | 蛍光顕微鏡 |
JPH09251128A (ja) * | 1996-03-14 | 1997-09-22 | Keyence Corp | 光学顕微鏡 |
JPH09257440A (ja) * | 1996-03-26 | 1997-10-03 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | 2次元配列型共焦点光学装置 |
JPH10161032A (ja) * | 1996-11-28 | 1998-06-19 | Olympus Optical Co Ltd | 共焦点顕微鏡 |
JPH10206740A (ja) * | 1997-01-23 | 1998-08-07 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点装置 |
JPH11174334A (ja) * | 1997-12-12 | 1999-07-02 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡装置 |
JP2001511902A (ja) * | 1996-12-05 | 2001-08-14 | ライカ ミクロジュステムス ハイデルベルク ゲーエムベーハー | 任意の対象物の表面プロフィールを同時多焦点結像するための装置および方法 |
-
1999
- 1999-07-15 JP JP20106399A patent/JP3736213B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6180215A (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-23 | Nippon Jido Seigyo Kk | 走査型顕微鏡撮像装置 |
JPH0261610A (ja) * | 1988-08-26 | 1990-03-01 | Rikagaku Kenkyusho | 光学的観測装置及び撮像装置 |
JPH03172815A (ja) * | 1989-12-01 | 1991-07-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | 共焦点走査型顕微鏡 |
JPH0560980A (ja) * | 1991-05-29 | 1993-03-12 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点用光スキヤナ |
JPH05188301A (ja) * | 1991-09-09 | 1993-07-30 | Sumitomo Electric Ind Ltd | レーザ顕微鏡 |
JPH05332733A (ja) * | 1992-05-27 | 1993-12-14 | Hitachi Ltd | 検出光学系並びに立体形状検出方法 |
JPH07261090A (ja) * | 1994-03-24 | 1995-10-13 | Hamamatsu Photonics Kk | 共焦点用スキャナ、共焦点顕微鏡および共焦点用スキャナの製造方法 |
JPH07333510A (ja) * | 1994-06-02 | 1995-12-22 | Nikon Corp | レーザ走査顕微鏡装置 |
JPH0829692A (ja) * | 1994-07-11 | 1996-02-02 | Nikon Corp | 蛍光顕微鏡 |
JPH09251128A (ja) * | 1996-03-14 | 1997-09-22 | Keyence Corp | 光学顕微鏡 |
JPH09257440A (ja) * | 1996-03-26 | 1997-10-03 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | 2次元配列型共焦点光学装置 |
JPH10161032A (ja) * | 1996-11-28 | 1998-06-19 | Olympus Optical Co Ltd | 共焦点顕微鏡 |
JP2001511902A (ja) * | 1996-12-05 | 2001-08-14 | ライカ ミクロジュステムス ハイデルベルク ゲーエムベーハー | 任意の対象物の表面プロフィールを同時多焦点結像するための装置および方法 |
JPH10206740A (ja) * | 1997-01-23 | 1998-08-07 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点装置 |
JPH11174334A (ja) * | 1997-12-12 | 1999-07-02 | Yokogawa Electric Corp | 共焦点顕微鏡装置 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005102629A (ja) * | 2003-10-01 | 2005-04-21 | Yokogawa Electric Corp | 創薬スクリーニング方法および装置 |
JP4507060B2 (ja) * | 2003-10-01 | 2010-07-21 | 横河電機株式会社 | 創薬スクリーニング方法および装置 |
JP2006079510A (ja) * | 2004-09-13 | 2006-03-23 | Olympus Corp | 生体観察装置 |
JP2007057344A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Lasertec Corp | 検査装置及び検査方法並びにそれを用いたシリンダブロックの製造方法 |
JP2007304421A (ja) * | 2006-05-12 | 2007-11-22 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
KR101117501B1 (ko) | 2010-02-12 | 2012-03-07 | 한국과학기술원 | 십자형 구조 조명 선형 패턴을 이용한 구조 조명 공초점 현미경 |
JP2012002670A (ja) * | 2010-06-17 | 2012-01-05 | Toshiba Corp | 高さ検出装置 |
US11131839B2 (en) | 2016-10-11 | 2021-09-28 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
US11391934B2 (en) | 2016-10-11 | 2022-07-19 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
US11822066B2 (en) | 2016-10-11 | 2023-11-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Sample observation device and sample observation method |
JP2020194190A (ja) * | 2018-10-19 | 2020-12-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3736213B2 (ja) | 2006-01-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4806004A (en) | Scanning microscopy | |
US7400446B2 (en) | Confocal microscope | |
CN107014793A (zh) | 一种基于双振镜双物镜多模式宽场超分辨显微成像*** | |
CN104541193A (zh) | 光学显微镜和及其控制方法 | |
US6248995B1 (en) | Confocal microscopic equipment | |
JP2005529669A5 (ja) | ||
JP3554760B2 (ja) | 共焦点顕微鏡装置 | |
JP2010513968A (ja) | 焦点調整装置および焦点調整方法 | |
US20150131148A1 (en) | Spinning disk confocal using paired microlens disks | |
US20220043246A1 (en) | Microscope and method for microscopic image recording with variable illumination | |
JP2007334319A (ja) | 照明装置 | |
JP6090607B2 (ja) | 共焦点スキャナ、共焦点顕微鏡 | |
JP3585018B2 (ja) | 共焦点装置 | |
JP3736213B2 (ja) | 共焦点光スキャナ | |
US11947098B2 (en) | Multi-focal light-sheet structured illumination fluorescence microscopy system | |
JP5825476B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
KR20010034046A (ko) | 다수의 스캐닝 빔을 갖는 공초점 현미경 | |
JP2005010516A (ja) | 顕微鏡 | |
KR20060033830A (ko) | 음향광학편향기와 선주사 카메라를 이용한 공초점 레이저선주사 현미경 | |
JP3262147B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP5307868B2 (ja) | 全反射型顕微鏡 | |
JP4465460B2 (ja) | 顕微鏡用極薄照明光発生装置および前記装置を用いた観察方法 | |
US20230168484A1 (en) | Method and system for multi-view episcopic selective plane illumination microscope | |
JP4461250B2 (ja) | 共焦点像とエバネッセンス照明像情報を取得できる走査顕微鏡 | |
JPH11202217A (ja) | 共焦点顕微鏡装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20050929 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20051004 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20051017 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091104 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101104 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101104 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111104 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121104 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121104 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131104 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |