JP2001023556A - X線管 - Google Patents

X線管

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JP2001023556A
JP2001023556A JP11199121A JP19912199A JP2001023556A JP 2001023556 A JP2001023556 A JP 2001023556A JP 11199121 A JP11199121 A JP 11199121A JP 19912199 A JP19912199 A JP 19912199A JP 2001023556 A JP2001023556 A JP 2001023556A
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Masuyasu Ito
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正興 松下
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 得られるX線ビームのビーム広がりが低減さ
れたX線管を提供する。 【解決手段】 電子銃部2のカソード23近傍の仮想物
点Pcからフォーカスグリッド電極24の通過点Pfま
での距離aを、通過点Pfからターゲット4のX線発生
面41上の集束点・電子入射点Piまでの距離bよりも
大きく(a>b)することによって、集束電子ビーム及
び得られるX線ビームのビーム径を小さくすることがで
き、かつ、第1、第2補助集束電極61、62からなる
補助集束電極系6を設置することによって、フォーカス
グリッド電極24までの電子軌道広がりを低減して電子
ビーム及びX線ビームのノイズ成分を少なくすることが
できる。これによって、X線透視画像の高解像度化が実
現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、X線を発生させる
X線管に関するものである。
【0002】
【従来の技術】X線管においては、高真空の管内でカソ
ードを加熱して電子を放出させる電子銃を用い、電子銃
から出射された電子を、高電圧を印加した陽極ターゲッ
トのX線発生面に入射することによってX線を発生させ
る。
【0003】このようなX線管としては、例えば特開平
7−296751号公報に示されたものがある。このX
線管では、電子銃及び電子銃が収納されている第1の筒
状部材の中心軸と、ターゲット及びターゲットが収納さ
れている第2の筒状部材の中心軸とが略直交するように
各部が構成されている。これによって、電子銃からター
ゲットへの電子入射軸とターゲットから外部へのX線出
射軸とが略直交し、また、ターゲット及びターゲットの
先端部分に電子の加速・軌道制御のために取り付けられ
るフード電極の中心軸がX線出射軸と略平行とされたX
線管が構成されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】X線は、多くの物質・
物体に対して透過性の良い電磁波であり、物体の内部構
造の非破壊・非接触検査等に多く用いられる。そのよう
な検査対象の1つである半導体電子部品は近年小型化と
高密度化が進んでおり、それに伴って検査に用いるマイ
クロフォーカスX線管(MFX)に対しても、X線透視
画像の高解像度化が可能なX線管が望まれている。
【0005】このような用途においてX線透視画像を鮮
明にするには、(1)高拡大、(2)小焦点、及び
(3)高コントラストの3つの条件を満たす必要があ
る。すなわち、(1)高拡大によってより細かい構造を
観測することができ、(2)小焦点によって輪郭が明確
な画像を得ることができ、また、(3)高コントラスト
によって明暗がはっきりした画像を得ることができる。
【0006】上記したようなX線管においては、X線発
生面における電子の入射点がX線の発生点となるが、電
子銃から入射された電子のX線発生面上の入射点・集束
点での電子ビーム径が充分に小さくならないため、高解
像度化に必要な上記した条件のうち(2)の小焦点、及
び(3)の高コントラストが充分に得られないという問
題があった。すなわち、電子の集束点でのビーム径の大
きさに対応してX線の発生位置の広がりが増大してしま
うことによって、焦点が大きくされて画像の輪郭が不明
確になり、また、周辺に広がった電子の入射点からのX
線のノイズ成分が増大してコントラストが低下するとい
う問題を生じる。
【0007】本発明は、以上の問題点に鑑みてなされた
ものであり、X線発生面に入射される電子の集束ビーム
径が小さくされて、得られるX線ビームの広がりが低減
されたX線管を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明によるX線管は、カソードから電子入
射軸の方向に電子を放出する電子銃と、電子をそのX線
発生面に入射させることによってX線を発生させてX線
出射軸の方向に出射するターゲットと、を有し、ターゲ
ットの中心軸がX線出射軸に対して略平行となるように
構成されたX線管において、電子銃のカソードと、ター
ゲットのX線発生面と、の間に、(1)カソードからの
電子による電流を制限する第1グリッド電極と、(2)
第1グリッド電極を通過した電子を加速する第2グリッ
ド電極と、(3)第2グリッド電極を通過した電子の軌
道の広がりを制御する補助集束電極系と、(4)電子を
X線発生面上の所定の電子入射点へと集束させるフォー
カスグリッド電極と、を順次備えるとともに、(5)カ
ソードから放出された電子がカソードの近傍において一
度集束される仮想物点からフォーカスグリッド電極まで
の距離が、フォーカスグリッド電極から電子入射点まで
の距離よりも大きいことを特徴とする。
【0009】X線発生面における電子の集束ビーム径
は、カソードからターゲットへの電子レンズ系による拡
大率に大きく依存し、その拡大率はカソード近傍に形成
される仮想物点からフォーカスグリッド電極までの距離
aと、フォーカスグリッド電極から電子入射点までの距
離bとの比によって決まる。従来のX線管においてはこ
の距離がa<bとなるように形成されており、この場
合、拡大率は大きくなる。
【0010】そして、拡大率が大きいと、仮想物点がX
線発生面上に再び結像される電子入射点の集束ビーム径
を充分に小さくすることができない。それによって、得
られるX線のビーム径(軌道ばらつき)及びノイズ成分
(すそ広がり)が増大して、X線透視画像における小焦
点及び高コントラストの条件が達成できない。
【0011】これに対して上記したX線管は、距離a及
びbが条件a>bを満たすように構成されている。これ
によって、電子レンズ系の拡大率を小さくしてビーム径
を小さくすることができる。
【0012】しかしながら、このような構成としたこと
によって、カソードからフォーカスグリッド電極までの
距離が大きくなってしまうため、その間での電子軌道広
がりが大きくなる。このとき、電子軌道の広がりによっ
て主レンズであるフォーカスグリッド電極で作られる電
子レンズの収差の影響等を受けやすくなるという問題を
生じてしまう。したがって、a>bとすることによって
ビーム径は小さくなり小焦点となるが、ノイズ成分を低
減することができず、X線画像を高コントラスト化する
ことができない。
【0013】これに対して上記したX線管においては、
さらに、カソードからフォーカスグリッド電極までの電
子軌道の広がりを抑制するように電子軌道の制御を行う
ために、少なくとも1つの補助集束電極を有する補助集
束電極系を設置している。これによって、上記した収差
の影響によるノイズ成分の増大についても抑制すること
が可能となり、したがって、X線のビーム径を小さくす
ることによる小焦点化と、ノイズ成分を低減することに
よる高コントラスト化とをともに達成することができ
る。
【0014】また、補助集束電極系は、第1補助集束電
極を少なくとも有し、カソードに設定される電位V0、
第1グリッド電極に設定される電位V1、第2グリッド
電極に設定される電位V2、第1補助集束電極に設定さ
れる電位V3が、 V1≦V0≦V3<V2 の関係を満たすことを特徴とする。
【0015】このように各電位を設定することによっ
て、第1グリッド電極の電流制限機能、第2グリッド電
極の電子加速機能、及び補助集束電極系による軌道広が
り抑制の機能を効率的に実現することができる。
【0016】さらに、補助集束電極系は、第1補助集束
電極及びフォーカスグリッド電極の間に設けられた第2
補助集束電極をさらに有し、第2補助集束電極に設定さ
れる電位V4が、 V2=V4 の関係を満たすことを特徴としても良い。
【0017】これによって、補助集束電極系での制御用
の電子レンズを好適に形成することができる。なお、補
助集束電極系を構成する電極の設置個数や設定電圧等に
ついては、上記以外にも様々に設定することができる。
【0018】また、フォーカスグリッド電極は、電子銃
の外囲容器からターゲットの方向に突出して形成されて
いることを特徴としても良い。
【0019】これによって、フォーカスグリッド電極か
らカソード近傍の仮想物点までの距離を遠くして、容易
に距離に対する条件a>bを実現することができる。
【0020】
【発明の実施の形態】以下、図面と共に本発明によるX
線管の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、
図面の説明においては同一要素には同一符号を付し、重
複する説明を省略する。また、図面の寸法比率は、説明
のものと必ずしも一致していない。
【0021】図1は、本発明によるX線管の第1の実施
形態の構成を示す断面図であり、図1(a)はX線管1
の横断面図、図1(b)は縦断面図を示す。これらは、
いずれも後述する電子入射軸・電子入射軌道leを含む
平面での断面を示している。図1(a)及び(b)に示
すように、X線管1は、電子を発生・放出させる電子銃
部2と、電子銃部2からの電子を受けてX線を発生させ
るX線発生部3と、を備えて構成されている。
【0022】電子銃部2は、各構成要素を収容するとと
もにその中心軸が電子入射軸と略平行に設置された外囲
容器21を備え、容器21内には外部からの電力供給に
より発熱するヒータ22が設けられている。また、電子
銃部2には、ヒータ22によって熱せられ電子を放出す
るカソード23、カソード23から放出された電子を所
定の条件で引き出すための第1グリッド電極26、第2
グリッド電極27、電子軌道を制御・設定するための第
1補助集束電極61と第2補助集束電極62とからなる
補助集束電極系6、及び電子を集束させるフォーカスグ
リッド電極24が設けられている。
【0023】さらに、容器21には、カソード23から
放出されフォーカスグリッド電極24により集束された
電子を出射するための電子通過口25が形成されてい
る。なお、本実施形態においては、電子通過口25の縁
部分をフォーカスグリッド電極24として機能させてい
る。この電子銃部2から、電子入射軸方向の電子入射軌
道leによって電子が放出され、X線発生部3へと入射
される。
【0024】一方、X線発生部3は、各構成要素を収容
するとともにその中心軸がX線出射軸と略平行に設置さ
れた外囲容器31を備えている。容器31は、電子銃部
2の容器21と電子通過口25を介して連通されてお
り、したがって、カソード23から放出される電子を入
射できる構造になっている。これらの容器21及び31
は密封されており、その内部がほぼ真空状態に保たれて
いる。
【0025】容器31の内部には、電子銃部2からの電
子を受けてX線を発生させるターゲット4が設置されて
いる。このターゲット4は金属製の棒状体であって、そ
の中心軸をX線出射軸方向とし、電子銃部2からの電子
入射軸に対して略直交する向きとして配置されている。
ターゲット4の先端部分40に形成されている先端面は
電子銃部2からの電子を受けてX線を発生させるX線発
生面41である。X線発生面41は、電子が入射される
電子入射軌道le前方の位置に、ターゲット4の中心軸
に対して、したがって電子入射軸及びX線出射軸に対し
てそれぞれ所定の角度で斜め(直交せず、かつ平行でな
い)となる平面状に形成されて配置されている。このX
線発生部3に電子銃部2からの電子が入射して、X線発
生面41の電子入射点PiからX線出射軸方向のX線出
射軌道lxによってX線が発生・出射される。
【0026】ここで、本実施形態においては、後述する
仮想物点Pcからフォーカスグリッド電極24の開口部
である電子通過口25の通過点Pfまでの距離aが、通
過点Pfから電子入射点Piまでの距離bよりも大きく
なる(a>b)ように設定されている。
【0027】なお、互いに略直交する電子入射軌道le
及びX線出射軌道lxは、それぞれ実際には所定の広が
りを有する範囲の軌道であるが、図1においては、簡単
のためそれぞれ電子入射軸及びX線出射軸と一致させて
示してある。
【0028】容器31には、所定の位置に形成された開
口部分にX線出射窓32が設けられている。X線出射窓
32は、ターゲット4のX線発生面41から発せられた
X線を容器31の外部へと出射させるための窓であり、
例えば、X線透過材であるBe材からなる板材などによ
り構成される。このX線照射窓32は、ターゲット4の
先端面であるX線発生面41に面するX線出射軌道lx
前方の位置に設けられている。また、X線出射窓32
は、その中心がターゲット4の中心軸の延長上に略一致
するように配置され、X線出射軸がその内側を通過する
ように形成されている。
【0029】ターゲット4の先端部分40には、フード
電極5が取り付けられている。フード電極5は、X線発
生面41へと進入するカソード23からの電子を加速す
るとともにその軌道を制御する機能を有し、ターゲット
4の中心軸・X線出射軸とほぼ平行な金属製の筒状体と
して形成されている。フード電極5の筒状の形状につい
ては、その内径がターゲット4の先端部分40の外径と
ほぼ同一径とされ、また、その軸方向の長さ寸法が先端
部分40の長さとほぼ同一寸法とされている。これらの
ターゲット4及びフード電極5には、電子銃部2の電子
通過口25の縁部分であるフォーカスグリッド電極24
の電位に対して、正の高電圧が印加されている。
【0030】このフード電極5は、X線発生面41の周
囲を覆うように設置されており、筒状の一端側のX線出
射窓32と対向している開口部分が、ターゲット4のX
線発生面41からのX線がX線出射軌道lxに沿って通
過するX線出射口51となるように配置されている。ま
た、周面の電子通過口25と対向している所定の部位に
は、電子銃部2のカソード23からの電子が電子入射軌
道leに沿って通過する電子入射口52が形成されてい
る。本実施形態においては、電子入射口52はターゲッ
ト4の軸方向について、電子入射軸に対してほぼ対称な
開口範囲となる形状に形成されている。
【0031】図2は、図1に示したX線管1について、
電子銃部2の容器21内に設置されたカソード23及び
電極26、27、61、62の構成を拡大して示す断面
図である。また図中には、これらの電極によって制御・
形成された電子軌道leについても、中心軌道及び両端
側の軌道を例として示してある。
【0032】図2に示した電極構成において、電位V0
に設定されたカソード23から放出された電子は、電位
V1に設定された第1グリッド電極26の開口部26a
内、及び電位V2に設定された第2グリッド電極27の
開口部27a内を順次通過する。
【0033】第1グリッド電極電位V1は、好ましくは
カソード電位V0に対してV1≦V0を満たすように設
定されている。これによって、第1グリッド電極26は
カソード23からの電子に対して電流制御用電極として
機能する。この第1グリッド電極26の開口部26a近
傍、またはそこから第2グリッド電極27の開口部27
aまでの領域など、カソード23の近傍における所定の
位置に、電子が一度集束される仮想物点(クロスオーバ
ーポイント)Pcが形成される。
【0034】また、第2グリッド電極電位V2は、好ま
しくはカソード電位V0に対してV0<V2を満たすよ
うに設定されている。これによって、第2グリッド電極
27は電子に対して電子加速用電極として機能する。第
1グリッド電極26の開口部26a内を通過した電子
は、仮想物点Pcにおいて一度集束された後、この第2
グリッド電極27によってX線発生部3の方向へと加速
されて引き出される。
【0035】加速された電子は、電位V3に設定された
第1補助集束電極61の開口部61a内、及び電位V4
に設定された第2補助集束電極62の開口部62a内を
順次通過する。これらの第1補助集束電極61及び第2
補助集束電極62によって、本実施形態の電子銃部2に
おいて電子の軌道広がりの制御・調整を行う補助集束電
極系6が構成されている。
【0036】第1補助集束電極電位V3は、好ましくは
V0≦V3<V2を満たすように設定され、また、第2
補助集束電極電位V4は、好ましくはV2=V4を満た
すように設定されている。これによって、第1補助集束
電極61の周囲に電子レンズとなる電界を形成させて、
補助集束電極系6通過後の電子軌道の広がりが低減され
るように電子の軌道調整(プリフォーカス)が行われ
る。
【0037】ここで、以上の電位設定をまとめると、 V1≦V0≦V3<V2=V4 となる。ただし、各電極の電位設定についてはこの条件
を満たす設定に必ずしも限られるものではなく、電子軌
道を好適に制御可能であれば、この条件を満たさない電
位に設定しても良い。
【0038】以上のように形成・設定された電子銃部2
を含むX線管1全体の動作は以下のようになる。
【0039】ターゲット4及びフード電極5に正の高電
圧が印加されると、ターゲット4及びフード電極5は、
電子銃部2の電子通過口25の縁部であるフォーカスグ
リッド電極24に対して正の高電位となるため、電子銃
部2と、ターゲット4及びフード電極5との間の空間に
所定の電界が形成される。
【0040】これにより、電子銃部2のカソード23か
ら放出された電子は、上記した第1、第2グリッド電極
26、27によって引き出され、第1、第2補助集束電
極61、62からなる補助集束電極系6によって軌道広
がりが小さくなるように軌道調整された後、フォーカス
グリッド電極24によって集束されて電子通過口25を
通過する。さらに、電子銃部2と、ターゲット4及びフ
ード電極5との間の電界によって加速されて、フード電
極5の電子入射口52を通過してターゲット4のX線発
生面41上に形成された電子の集束点である所定の電子
入射点Piへと進入・入射される。
【0041】そして、電子がX線発生面41に入射する
ことによって、その電子入射点PiにおいてX線が発生
する。発生したX線は、フード電極5のX線出射口5
1、及びBe製のX線出射窓32を通過してX線出射軌
道lxの方向に出射される。ここで、X線発生面41に
おける電子入射点(X線発生点)Piは、ほぼターゲッ
ト4の中心軸上となるように構成されている。したがっ
て、X線出射軸はターゲット4の中心軸と略一致してい
る。また、X線発生面41で発生されたX線について
は、このX線出射軸を含み、X線出射窓32等によって
制限・決定される所定の軌道範囲で放出された成分がシ
グナル成分として外部へと出射される。
【0042】次に、本実施形態によるX線管1の効果に
ついて説明する。
【0043】X線管に適用される電子銃部においては、
カソードからの電子の軌道がカソード近傍でいったん交
差・集束されて、仮想物点(クロスオーバーポイント)
が形成される。そして、この仮想物点から再び軌道が広
がった電子ビームが、フォーカスグリッド電極の開口部
で形成される電子レンズによってターゲットのX線発生
面上に微小焦点で集束される。
【0044】このとき、X線発生面上の集束点・電子入
射点での電子ビーム径は、フォーカスグリッド電極等か
らなる電子銃の電子レンズ系の拡大率に大きく依存す
る。すなわち、カソード近傍の仮想物点をターゲットの
X線発生面上に結像する拡大率を小さくすることによっ
て電子ビーム径を小さくすることができ、反対に、拡大
率を大きくすることによって電子ビーム径は大きくな
る。
【0045】この拡大率は、幾何学的には物点から主レ
ンズまでの距離aと、主レンズから集束点までの距離b
の比b/aで決定される。上記のX線管1においては、
距離aはカソード23近傍の仮想物点Pcからフォーカ
スグリッド電極24の開口部(本実施形態においては電
子通過口25)の通過点Pfまでの距離に、また、距離
bは通過点Pfから電子入射点Piまでの距離にそれぞ
れ対応している(図1参照)。
【0046】従来のX線管においては、例えば特開平7
−296751号に示されているX線管のように、仮想
物点からフォーカスグリッド電極までの距離aは、フォ
ーカスグリッド電極から電子入射点までの距離bに比べ
て小さく設定されている(a<b)。そのため、仮想物
点をターゲットのX線発生面上に結像する拡大率が充分
小さくならず、電子入射点における電子ビーム径を小さ
くすることが困難である。
【0047】このような従来のX線管における電子軌
道、及び得られるX線出力分布を図3(a)及び(b)
に示す。図3(a)は、a<bとされている従来型のX
線管の構成を一部拡大して示す端面図であり、図中、矢
印付き実線はカソード(図示していない)からターゲッ
ト4のX線発生面41への電子軌道leを、破線は各電
極等によって形成される電界の等電位面を示している。
また、各電極等に設定されている電位はそれぞれ、 カソード23 :V0=−600V 第1グリッド電極26 :V1=−650V 第2グリッド電極27 :V2=0V フォーカスグリッド電極24:Vf=0V ターゲット4 :Vt=60kV である。
【0048】カソードから放出された電子は、第1グリ
ッド電極(図示していない)によって仮想物点Pcを形
成した後、第2グリッド電極27を通過し、フォーカス
グリッド電極24によって集束される。さらに、ターゲ
ット4及びフード電極5への電界によって加速されて、
X線発生面41上の集束点である電子入射点Piに入射
される。このとき、仮想物点Pcから通過点Pfまでの
距離aが通過点Pfから電子入射点Piまでの距離bよ
りも小さいので、電子レンズ系の拡大率が大きくなり、
したがって、電子入射点Pi上に集束された電子ビーム
径が大きくなってしまう。
【0049】ターゲット上の集束点における電子ビーム
径の広がりが大きくなると、X線発生点の範囲が広くな
るために、得られるX線の発生位置及び発生後の軌道に
ばらつきを生じる。また、ターゲット上の集束点におけ
る電子ビーム広がりのうち、すそ広がりはX線のノイズ
成分増大の原因ともなる。すなわち、電子入射点Pi上
での電子ビーム径が大きくなることによって、得られる
X線においても、図3(b)にX線の2次元出力分布
(右側のグラフ)、及びこの2次元出力分布をx軸方向
について投影した1次元出力分布(左側のグラフ)によ
って示すように、出力分布範囲が大きくなってしまう。
ここで、2次元出力分布における実線の範囲は得られる
X線ビームのビーム径(軌道ばらつき)を、また、破線
の範囲はX線ビームのノイズ成分(すそ広がり)を主に
示しているが、このX線管においては、そのいずれも大
きくなっている。
【0050】このようなX線管からのX線を非破壊検査
によるX線透視画像の取得に適用した場合、マイクロフ
ォーカスが充分でないため、X線のビーム径が大きくな
ることによって画像の輪郭が不明確となるとともに、X
線のノイズ成分が多くなることによってコントラストが
低下してしまう。したがって、X線画像の高解像度化に
必要な(1)高拡大、(2)小焦点、及び(3)高コン
トラストのうち、(2)の小焦点、及び(3)の高コン
トラストが充分に得られないという問題がある。
【0051】これに対して、本実施形態におけるX線管
では、図1に示したように、上記した距離a及びbが条
件a>bを満たすように電子銃部2及びX線発生部3の
各部を構成している。具体的には、aを大きくするか、
またはbを小さくすることによって、拡大率を小さくし
てX線発生面41上の電子入射点Piでの電子ビーム径
を小さくすることができるが、距離bを小さくしてしま
うと、フォーカスグリッド電極24と、ターゲット4及
びフード電極5との距離が小さくなってしまうため、そ
の間の高電圧によって放電を生じてしまう。このため、
本実施形態においては、カソード23から電子通過口2
5までの距離を大きくすることによって、仮想物点Pc
からフォーカスグリッド電極24の通過点Pfまでの距
離aを大きくして、上記した条件a>bを実現してい
る。
【0052】上記のように構成されたX線管における電
子軌道、及び得られるX線出力分布を図4(a)及び
(b)に示す。このX線管の構成は図3に示したものと
ほぼ同様であるが、カソード、第1グリッド電極、及び
第2グリッド電極27がフォーカスグリッド電極24か
ら離れた位置に設置されており、これによって上記した
条件a>bが満たされている。また、各電極等に設定さ
れている電位はいずれも図3に示した例と同じである。
【0053】このとき、仮想物点Pcから通過点Pfま
での距離aが通過点Pfから電子入射点Piまでの距離
bよりも大きいので、電子レンズ系の拡大率が小さくな
り、したがって、電子入射点Pi上での電子ビーム径は
小さくなる。しかしながら、この場合には図4(a)に
示されているように第2グリッド電極27からフォーカ
スグリッド電極24までの距離が大きいために、仮想物
点(クロスオーバーポイント)での電子ビームの発散角
によって主レンズであるフォーカスグリッド電極24ま
での間で電子ビーム軌道が大きく広がってしまう。
【0054】これによって、電子軌道がフォーカスグリ
ッド電極24で作られる電子レンズの収差などの影響を
受けやすくなり、入射電子分布のすそ広がりが大きくな
ってしまう。また、得られるX線においても、図4
(b)にX線の2次元・1次元出力分布を示すように、
ビーム径(実線)は小さいがノイズ成分(破線)が多い
X線ビームとなる。この場合、X線透視画像においては
X線ビーム径が小さくされたことによって画像の輪郭が
明確となる一方、X線のノイズ成分が多いためにコント
ラストが低下してしまい、X線画像の高解像度化を充分
に達成することができない。
【0055】これに対して、本実施形態におけるX線管
ではさらに、図1及び図2のX線管1に示したように、
カソード23及び第1、第2グリッド電極26、27
と、フォーカスグリッド電極24との間の所定の位置
に、第1、第2補助集束電極61、62からなる補助集
束電極系6を設置し、これによって電子軌道を制御して
上記した電子軌道の広がりを抑制している。
【0056】条件a>bを満たすとともに、補助集束電
極系6が設置されたX線管における電子軌道、及び得ら
れるX線出力分布を図5(a)及び(b)に示す。この
X線管の構成は図4に示したものとほぼ同様であるが、
第2グリッド電極27及びフォーカスグリッド電極24
の間に第1、第2補助集束電極61、62からなる補助
集束電極系6が設置されている。また、各電極等に設定
されている電位はそれぞれ、 カソード23 :V0=−600V 第1グリッド電極26 :V1=−650V 第2グリッド電極27 :V2=0V 第1補助集束電極61 :V3=−300V 第2補助集束電極62 :V4=0V フォーカスグリッド電極24:Vf=0V ターゲット4 :Vt=60kV である。これらの電位は、条件V1≦V0≦V3<V2
=V4を満たしている。
【0057】V2=V4に設定された第2グリッド電極
27及び第2補助集束電極62の間に位置してV3<V
2=V4に設定された第1補助集束電極61によって、
図中に破線で第1補助集束電極61を囲むように形成さ
れた電界を示すように電子レンズが形成されて、電子軌
道が集束する方向、すなわち第2グリッド電極27から
フォーカスグリッド電極24の間での電子軌道の広がり
を低減する方向に、電子軌道が調整・制御される。
【0058】このとき、仮想物点Pcから通過点Pfま
での距離aが通過点Pfから電子入射点Piまでの距離
bよりも大きいので、電子レンズ系の拡大率が小さくな
り、したがって、電子入射点Pi上での電子ビーム径は
小さくなる。さらに、上記のように電子軌道の広がりが
低減されることによって、主レンズとして機能するフォ
ーカスグリッド電極24で作られる電子レンズの収差の
影響を受けにくくなるので、電子分布のすそ広がりも低
減される。したがって、得られるX線においても、図5
(b)にX線の2次元・1次元出力分布を示すように、
ビーム径(実線)及びノイズ成分(破線)の両者が小さ
くされたX線出力分布を実現することができる。この場
合、X線透視画像においてはX線ビーム径が小さくされ
たことによって画像の輪郭が明確となるとともに、X線
のノイズ成分が少なくされたことによってコントラスト
が向上されて、X線画像の大幅な高解像度化が達成され
る。
【0059】図6は、マイクロフォーカスX線管を用い
たワイヤボンディングの観測・検査を例として、X線ビ
ームのビーム広がり(ビーム径及びノイズ成分)を小さ
くすることによる上記したX線透視画像の鮮明化の効果
を説明する模式図である。図6(a)及び(b)は、そ
れぞれ(a)正常なワイヤボンディングと、(b)断線
したワイヤを示し、これらのワイヤボンディング部分を
図3に示したa<bのX線管を用いて観測したときに得
られる画像を図6(c)及び(d)に、図4に示したa
>bのX線管を用いて得られる画像を図6(e)及び
(f)に、また、図1、図2及び図5に示した本実施形
態によるa>bかつ補助集束電極系を有するX線管を用
いて得られる画像を図6(g)及び(h)にそれぞれ示
す。
【0060】a<bのX線管による図6(c)及び
(d)に示した画像においては、焦点・ビーム径が大き
いために輪郭が不明確であり、かつX線のノイズ成分が
多くS/N比が悪いために明暗のコントラストが充分で
なく、図6(d)においてもワイヤの断線を把握するこ
とができない。
【0061】また、a>bのX線管による図6(e)及
び(f)に示した画像においては、小焦点によって輪郭
はほぼ明確であるが、X線のノイズ成分が多いために明
暗のコントラストが充分でなく、図6(f)においても
なおワイヤの断線の把握が困難である。
【0062】これに対して、図6(g)及び(h)に示
した本実施形態のX線管による画像においては、輪郭が
明確であることに加え、X線のノイズ成分が少なくされ
てS/N比が向上されていることによって明暗のコント
ラストが高くなり、したがって、図6(h)に示されて
いるように、ワイヤの断線を明確に確認することができ
る。
【0063】本発明によるX線管は、上記した実施形態
に限らず、各電極の構成等を様々に変更することが可能
である。
【0064】図7は、本発明によるX線管の第2の実施
形態の構成を示す断面図であり、図7(a)はX線管1
の横断面図、図7(b)は縦断面図を示す。本実施形態
によるX線管1の構成は第1の実施形態とほぼ同様であ
るが、補助集束電極系6が第1補助集束電極61のみに
よって構成されている。このような構成によっても、第
1補助集束電極61の電位V3を、条件V0≦V3<V
2を満たすように設定することによって、同様に電子軌
道の広がりを低減する軌道調整が可能である。
【0065】このように、補助集束電極系6を構成する
補助集束電極については、個々のX線管における他の電
極等の配置関係や電子軌道等に応じて、その設置個数及
び設定電圧を適宜設定することが可能である。例えば、
設置個数については、3個以上の電極からなる構成とし
ても良く、また、設定電圧についても、電極個数やそれ
らの配置間隔・開口部形状等に応じて、好適な設定を選
択することができる。
【0066】図8は、本発明によるX線管の第3の実施
形態の構成を示す断面図であり、図8(a)はX線管1
の横断面図、図8(b)は縦断面図を示す。本実施形態
によるX線管1の構成は第2の実施形態とほぼ同様であ
るが、フォーカスグリッド電極24及び電子通過口25
が電子銃部2の外囲容器21のターゲット4側の面から
突出するように形成されている。このような構造とする
ことによっても、距離についての条件a>bを実現する
ことができる。
【0067】
【発明の効果】本発明によるX線管は、以上詳細に説明
したように、次のような効果を得る。すなわち、(1)
カソード近傍に形成される仮想物点からフォーカスグリ
ッド電極の通過点までの距離aを、通過点からX線発生
面上の電子入射点までの距離bよりも大きく設定する
(a>b)ことによって、X線発生面上に集束される電
子ビーム、及び得られるX線ビームにおけるビーム径
(軌道ばらつき)が低減される。さらに、(2)カソー
ド及び第1、第2グリッド電極と、フォーカスグリッド
電極との間に補助集束電極系を設けて、その間での電子
軌道の広がりが低減されるように電子軌道を制御・調整
することによって、フォーカスグリッド電極の収差の影
響等が抑制されて、電子ビーム及びX線ビームにおける
ノイズ成分(すそ広がり)が低減される。
【0068】このような構成を有するマイクロフォーカ
スX線管によってX線透視画像を取得した場合、ビーム
径の低減によって小焦点化が、また、ノイズ成分の低減
によって高コントラスト化が達成されるので、X線画像
の高解像度化が実現される。これによって、例えばX線
を用いた非破壊検査による検査対象の1つである小型化
・高密度化が進んだ半導体電子部品に対しても、その構
造を効率的に観測することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】X線管の第1の実施形態の構成を示す(a)横
断面図、及び(b)縦断面図である。
【図2】図1に示したX線管の電子銃部を一部拡大して
示す端面図である。
【図3】従来のa<bであるX線管における(a)電子
軌道を示す端面図、及び(b)X線出力分布を示すグラ
フである。
【図4】a>bであるX線管における(a)電子軌道を
示す端面図、及び(b)X線出力分布を示すグラフであ
る。
【図5】図1に示したX線管における(a)電子軌道を
示す端面図、及び(b)X線出力分布を示すグラフであ
る。
【図6】図1に示したX線管を用いて得られるX線透視
画像を従来のX線管等を用いた場合と比較するための模
式図である。
【図7】X線管の第2の実施形態の構成を示す(a)横
断面図、及び(b)縦断面図である。
【図8】X線管の第3の実施形態の構成を示す(a)横
断面図、及び(b)縦断面図である。
【符号の説明】
1…X線管、2…電子銃部、21…容器、22…ヒー
タ、23…カソード、24…フォーカスグリッド電極、
25…電子通過口、26…第1グリッド電極、27…第
2グリッド電極、3…X線発生部、31…容器、32…
X線出射窓、4…ターゲット、40…先端部分、41…
X線発生面、5…フード電極、51…X線出射口、52
…電子入射口、6…補助集束電極系、61…第1補助集
束電極、62…第2補助集束電極。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 益保 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホ トニクス株式会社内 (72)発明者 松下 正興 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホ トニクス株式会社内 (72)発明者 稲鶴 務 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホ トニクス株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 カソードから電子入射軸の方向に電子を
    放出する電子銃と、前記電子をそのX線発生面に入射さ
    せることによってX線を発生させてX線出射軸の方向に
    出射するターゲットと、を有し、前記ターゲットの中心
    軸が前記X線出射軸に対して略平行となるように構成さ
    れたX線管において、 前記電子銃の前記カソードと、前記ターゲットの前記X
    線発生面と、の間に、 前記カソードからの前記電子による電流を制限する第1
    グリッド電極と、 前記第1グリッド電極を通過した前記電子を加速する第
    2グリッド電極と、 前記第2グリッド電極を通過した前記電子の軌道の広が
    りを制御する補助集束電極系と、 前記電子を前記X線発生面上の所定の電子入射点へと集
    束させるフォーカスグリッド電極と、を順次備えるとと
    もに、 前記カソードから放出された前記電子が前記カソードの
    近傍において一度集束される仮想物点から前記フォーカ
    スグリッド電極までの距離が、前記フォーカスグリッド
    電極から前記電子入射点までの距離よりも大きいことを
    特徴とするX線管。
  2. 【請求項2】 前記補助集束電極系は、第1補助集束電
    極を少なくとも有し、 前記カソードに設定される電位V0、前記第1グリッド
    電極に設定される電位V1、前記第2グリッド電極に設
    定される電位V2、前記第1補助集束電極に設定される
    電位V3が、 V1≦V0≦V3<V2 の関係を満たすことを特徴とする請求項1記載のX線
    管。
  3. 【請求項3】 前記補助集束電極系は、前記第1補助集
    束電極及び前記フォーカスグリッド電極の間に設けられ
    た第2補助集束電極をさらに有し、 前記第2補助集束電極に設定される電位V4が、 V2=V4 の関係を満たすことを特徴とする請求項2記載のX線
    管。
  4. 【請求項4】 前記フォーカスグリッド電極は、前記電
    子銃の外囲容器から前記ターゲットの方向に突出して形
    成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか
    一項記載のX線管。
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