JP2001016009A - ストリップライン共振器 - Google Patents

ストリップライン共振器

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JP2001016009A
JP2001016009A JP11180388A JP18038899A JP2001016009A JP 2001016009 A JP2001016009 A JP 2001016009A JP 11180388 A JP11180388 A JP 11180388A JP 18038899 A JP18038899 A JP 18038899A JP 2001016009 A JP2001016009 A JP 2001016009A
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strip line
hole conductor
resonator
hole
conductor
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Kazuki Shimizu
一希 清水
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Abstract

(57)【要約】 【課題】導体損失を改善することにより、伝送損失量の
低減を実現し、これにより、高いQ値を得ることができ
るストリップライン共振器を提供することにある。 【解決手段】誘電体ブロック2の表面にアース電極4
を、内部にアース電極に対向する帯状のストリップライ
ン3を形成して成り、ストリップライン3がビアホール
導体20,21を介してアース電極4に接続されている
ストリップライン共振器1において、ビアホール導体2
0,21は、その平面形状が楕円もしくは長方形をな
し、かつ、長径側が帯状のストリップライン3に対し垂
直方向に向くように構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は共振回路や高周波回
路用フィルタ等に使用されるストリップライン共振器に
関するものである。
【0002】
【従来技術】従来、マイクロ波を利用した携帯電話など
の機器には、小型で高機能性をもつなどの理由でストリ
ップライン共振器が多用されている。このようなストリ
ップライン共振器を、例えば、図7の積層型のストリッ
プライン共振器で説明する。図7に示すように、誘電体
セラミックよりなるグリーンシート100の主面にアー
ス電極101用の導体膜を被着形成し、グリーンシート
100の所定位置にNCパンチにてビアホールを開孔さ
せて導電性ペーストを充填することでビアホール導体1
02を形成して誘電体層10aを構成する。次に、グリ
ーンシート103の位置(ビアホール導体102に対応
する位置)にNCパンチにてビアホールを開孔させて導
電性ペーストを充填させることでビアホール導体104
を形成し、その後、ビアホール導体104の周囲に導体
からなるビアランド105を被着形成して誘電体層10
bを構成する。また、グリーンシート106の主面中央
部に延びる帯状のストリップライン109を被着形成し
た誘電体層10cを構成する。さらに、グリーンシート
107の主面にアース電極108を被着形成して誘電体
層10cを構成する。
【0003】このような誘電体層10a〜10dを積層
させることで誘電体ブロック110を形成し、この誘電
体ブロック110を焼結することにより、誘電体ブロッ
ク110にアース電極101,108ストリップライン
109を一体形成して積層型のストリップライン共振器
を製造していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このようなストリップ
ライン共振器の特性としては、ストリップライン109
の導体損失,誘電体損失及び放射損失の影響によって決
定されるが、特に導体損失における影響が大きいとされ
ている。
【0005】このような、ストリップライン共振器の導
体損失については、アース電極101,108に接続し
たビアホール導体102,104とストリップライン1
08との接続部分に発生するインピーダンスの不整合や
ストリップライン109に接続したビアホール導体10
2,104の径の大きさによって決まることが知られて
いる。
【0006】しかしながら、従来のストリップライン共
振器は、ビアホール導体102,104の径が小さく、
それに接続するストリップライン109の幅の寸法差が
大きいために、その接続部分でインピーダンスの不整合
が発生する問題点があった。また、ビアホール導体10
2,104の径が小さいと抵抗値が高くなり、これによ
っても、ストリップライン共振器における伝送損失量が
増加し、Q値が劣化するという問題点があった。
【0007】一方、ビアランド105は、通常、誘電体
層10a,10bの界面におけるビアホール導体10
2,104の接続部分に配置し、ビアホール導体10
2,104間の電気的接続を確実に行うために設けられ
ている。即ち、ビアランド105は、誘電体層10a〜
10dの積層ズレに対するバラツキや、印刷バラツキが
生じても電気的接続を確実にするために、ビアホール導
体104とビアランド105の中心が一致した同心円上
で、かつ、ビアホール導体104の平面形状より大きく
形成してなる。
【0008】しかしながら、このように電気的導通を確
実にするビアランド105であっても、ビアホール導体
104とビアランド105との接続部分にインピーダン
ス不整合が発生し、これによっても、ストリップライン
共振器における伝送損失量が増加することによってQ値
が劣化する問題点を有していた。
【0009】本発明は、上述の問題に鑑みて案出された
ものであり、その目的は、導体損失を改善することによ
り、伝送損失量の低減を実現し、これにより。高いQ値
を得ることができるストリップライン共振器を提供する
ことにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上述の問題を解決する為
に本発明は、誘電体ブロックの表面にアース電極を、内
部に前記アース電極に対向する帯状のストリップライン
を形成して成り、該ストリップラインがビアホール導体
を介して前記アース電極に接続されているストリップラ
イン共振器において、前記ビアホール導体は、その平面
形状が楕円もしくは長方形をなし、かつ、長径側が帯状
のストリップラインに対し垂直方向に向いていることを
特徴とするストリップライン共振器を提供する。
【0011】本発明の構成によれば、ビアホール導体
は、その平面形状が楕円もしくは長方形をなし、かつ、
長径側が帯状のストリップラインに対し垂直方向に向い
ているために、ビアホール導体の長径の寸法がストリッ
プラインの幅と同じが又は近くなり、これによって、ビ
アホール導体とストリップラインとの接続部分に発生す
るインピーダンスの不整合が低減され、この結果、伝送
損失を低減させ、高いQ値を得ることができる。
【0012】また、長径を持つビアホール導体の平面形
状に変更させることで、従来に比べてビアホール導体の
表面積が大きくなり、これによって、ビアホール導体の
抵抗値を低く抑えることができ、この結果、伝送損失量
を低減させて、高いQ値を得ることができる。
【0013】さらに、ビアホール導体を長径を持つ平面
形状にすることにより、ビアホール導体とストリップラ
インとの接合部分の接触面積を大きくすることができ、
これにより、ビアホール導体の周囲に形成するビアラン
ドの平面形状を従来よりも小さくする事が可能となる。
この結果、ビアホール導体とビアランドとの面積の差が
小さくすることができ、ビアホール導体とビアランド接
続部分に発生するインピーダンス不整合が低減させるこ
とができる。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図に基づい
て説明する。図1は本発明のストリップライン共振器1
の斜視図,図2はストリップライン共振器1における内
部構造を説明した分解斜視図である。
【0015】本発明のストリップライン共振器1は、例
えば、図1に示すように、誘電体ブロック2と、ストリ
ップライン3と、平面アース電極4とで構成されてい
る。
【0016】次に、ストリップライン共振器1の各構成
について説明する。誘電体ブロック 誘電体ブロック2は例えば1層あたり50〜300μm
程度の厚みの誘電体層a〜dを積層して成り、誘電体層
a〜dの材料としては誘電体セラミック材料と低温焼成
化された酸化物及び低融点ガラス材料とから構成されて
いる。本発明では誘電体層a〜dを積層した積層型の誘
電体ブロック2で説明したがこれに限定されるものでは
ない。
【0017】誘電体セラミック材料としては、例えば、
BaO−TiO2 系,Ca−TiO2 系,MgO−Ti
2 系等が用いられ、また、低温焼成化するための酸化
物としては、BiVO4 ,CuO,Li2 O,B2 3
等が含有されている。
【0018】また、図2に示すように、誘電体ブロック
2の積層方向にはビアホールが形成され、そこに導体が
充填されたビアホール導体20,21が形成されてお
り、ビアホール導体20の一方端が平面アース電極4に
接続され、ビアホール導体21の他方端がストリップラ
イン3の一端側に接続されている。ビアホール導体2
0,21の材料としてはAg、Ag−Pd、Cu等を主
成分とする導体が用いられる。
【0019】このようなビアホール導体20,21の平
面形状は、図3に示すように長径Xと短径Yを有した長
方形(図3(a))若しくは楕円(図3(b))で形成
されている。なお、本発明では長方形であっても、図2
の一部拡大図にしめすような長方形の4角部を丸くした
丸長方形で形成させてもよい。
【0020】ここで、ビアホール導体20,21の長径
Xは帯状のストリップライン3の幅方向にである垂直方
向(帯状のストリップライン3が誘電体層cの主面に延
びる方向と略直交する方向)に向けて形成され、短径Y
はストリップライン3の延在方向に向けて形成されてい
る。なお、長孔を形成するビアホール導体20,21の
開孔には円形状のビアホール開孔部材(不図示)を複数
連続的に、又は、断続的に形成しながら行ってもよい。
【0021】また、誘電体層a,bの界面におけるビア
ホール導体20,21の接続部分にビアランド22が形
成されている。ビアランド22はビアホール導体21の
外周に形成されており、長径X’と短径Y’を有してい
る。このビアランド22は、誘電体層a ,b 間の積層ズ
レが生じてもビアホール導体20,21間の電気的接続
を確実にするために設けられている。このようなビアラ
ンド22は図4(a)(b)に示す丸長方形で形成した
ビアホール導体21の外周に小さい長方形のビアランド
22で形成してもよい。このように面積の小さい長方形
のビアランド22を形成することによってビアホール導
体20,21とビアランド22の接続部分に発生するイ
ンピーダンスの不整合が低減され、かつ、ビアホール導
体20,21の電流経路としては短くなり、これにより
導体損失が小さくなって高いQ値を得ることができる。
ビアランド22の材質としてはビアホール導体20,2
1に用いた導体と同じものが利用される。
【0022】以上のように形成されたビアホール導体2
1とビアランド22の関係としては、ビアホール導体2
1の長径Xに対しビアランドの長径X’の長さ(X’/
X)が0.5未満ではビアホール導体20,21間の電
気的導通が得られなくなり、長さ(X’/X)が2を超
えると、電気的導通は確実に得られるものの、ビアホー
ル導体21とビアランド22の接続部分にインピーダン
スの不整合が発生し伝送損失が増大してしまう。従っ
て、ビアホール導体21の長径Xに対しビアランドの長
径X’の長さ(X’/X)を0.5〜2とするのが好ま
しく、より好ましくは0.5〜1に調整される。
【0023】同様に、ビアホール導体21の短径Yに対
しビアランド22の短径Y’の長さ(Y’/Y)が1未
満では誘電体層a〜dの加工バラツキによってビアホー
ル導体20,21がズレた場合に、その間の電気的導通
が得られなくなり、また、長さが3を超えると、電気的
導通は確実に得られるものの、ビアホール導体21とビ
アランド22の接続部分にインピーダンスの不整合が発
生し伝送損失が増大してしまう。従って、ビアホール導
体21の短径Yに対しビアランドの短径Y’の長さ
(Y’/Y)を1〜3とするのが好ましく、より好まし
くは1〜2に調整される。
【0024】本発明では、ビアホール導体21の長径X
がストリップライン3の幅Wの長さに近づく,若しくは
同じであるため、ビアホール導体21の長径Xに対しビ
アランド22の長径X’の長さ(X’/X)を図4
(a)(b)に示すように1以下とすることができ、ビ
アランド22の面積を小さくさせることが可能である。
【0025】ストリップライン ストリップライン3は、誘電体層cの主面に帯状に延ば
して形成されており、その一方端を電気的に開放端と
し、他方端を電気的に短絡端とすることにより1/4波
長共振器を構成できるラインとなる。
【0026】ストリップライン3における短絡端の接続
としては、例えば、図2に示すようなビアホール導体2
1を介して短絡させても良いし、また、ストリップライ
ン3の短絡端を誘電体ブロック2の端面にまで延在さ
せ、その短絡端が、その端面に形成した平面アース電極
4から接続した導体面(不図示)に接続しても良い。な
お、導体面は、ビアホール導体20,21に用いるもの
と同じ材料が用いられ、それに加え、必要に応じてガラ
ス成分などを含有させても良い。
【0027】ストリップライン3の幅方向の長さをWと
したときに、ビアホール導体20,21の長径Xに対し
幅Wの長さ(X/W)を0.2未満若しくは長さ(X/
W)が5を超えるならば、ストリップライン3の幅Wと
ビアホール導体20,21の寸法差が大きくなり、ビア
ホール導体20,21とストリップライン3の幅との接
合部分に発生するインピーダンスの不整合が大きくな
り、伝送損失が増大してしまう。従って、ビアホール導
体20,21の長径Xに対し幅Wの長さ(X/W)を
0.2〜5とすることが好ましく、より好ましくは0.
8〜1.2とするのが良い。
【0028】平面アース電極 平面アース電極4は誘電体ブロック2の外周に被着形成
してなり、平面アース電極4は、誘電体ブロック2の両
主面にストリップライン3と対向するように形成されて
いる。平面アース電極4の材料としては、Ag、Cu等
を主成分(Ag単体またはAg−Pd,Ag−Pt等の
Ag合金やCu単体またはCu合金)とする導体から成
り、この主成分の必要に応じてガラス成分が含有され
る。平面アース電極4を誘電体ブロック2に被着形成す
る場合には、未焼成状態の誘電体ブロック2上に平面ア
ース電極4を被着した後、一体的に焼成して形成され
る。
【0029】以上のような誘電体ブロック2,ストリッ
プライン3,平面アース電極4の構造により、ストリッ
プライン3と平面アース電極4との間で容量成分と誘導
成分が形成されてL−C共振回路が構成されることにな
る。
【0030】なお、本発明のストリップライン共振器1
の製造方法については、従来技術で示した例と同様であ
るため説明を省略する。
【0031】本発明の構成によれば、誘電体ブロック2
の表面に平面アース電極4を形成するとともに、誘電体
ブロック2内に平面アース電極4に対向する帯状のスト
リップライン3を形成して成り、ストリップライン3が
ビアホール導体20,21を介して平面アース電極4に
接続されているストリップライン共振器1において、ビ
アホール導体20,21は、その平面形状が楕円もしく
は長方形をなし、かつ、長径X側が帯状のストリップラ
イン3に対し垂直方向に向いているために、ビアホール
導体20,21の長径Xの寸法差がストリップライン3
の幅に近くなり、これによって、ストリップライン3の
幅方向の接触面積が増加して、ビアホール導体20,2
1とストリップライン3との接続部分に発生するインピ
ーダンスの不整合が低減され、この結果、伝送損失が低
減され、高いQ値を得ることができる。
【0032】また、長径Xを持つビアホール導体3の平
面形状に変更させることで、従来に比べてビアホール導
体3の表面積が大きくなり、ビアホール導体3の抵抗値
を低く抑えることができ、これによっても伝送損失量の
低減され、高いQ値が得られることができる。
【0033】さらに、ビアホール導体3を長径Xを持つ
平面形状にすることにより、ビアホール導体20,21
とストリップライン3との接合部分の接触面積を大きく
することができ、これにより、ビアホール導体の周囲に
形成するビアランド22、特に長径Xの方向のビアラン
ド22が占有する面積を小さくする事が可能となる。こ
の結果、ビアホール導体20,21とビアランド22と
の面積の差が小さくでき、ビアホール導体20,21と
ビアランド22との接続部分に発生するインピーダンス
不整合が低減させることができる。
【0034】
【実施例】〔実施例1〕上述のようにして構成されるス
トリップライン共振器1を以下の条件で作成した。即
ち、幅5.0mm,長手方向の長さが12.0mm,厚
さが2.0mmの誘電体層a〜gが積層された誘電体ブ
ロック2を用い、また、図2に示すようにストリップラ
イン3の幅W=1.0mm,ビアホール導体20,21
の平面形状を丸長方形に形成し、さらに、ストリップラ
イン3とビアホール導体21を誘電体層c の幅方向中央
端部で短絡させ、その後、誘電体層a及びgの各主面に
平面アース電極4をスクリーン印刷にて形成し、各誘電
体層a〜gを積層して共振周波数2.0GHzの1/4
波長型のストリップライン共振器1を作成した。このと
き、ビアホール導体20,21の平面形状における長径
Xを1.0mm,短径Yを0.15mm,ビアランド2
2の平面形状における長径X’を1.2mm,短径Y’
を0.35mmであった。
【0035】比較例として、ビアホール導体の平面形状
が円形で、その直径が0.15mmのものを形成した以
外は実施例1のストリップライン共振器1の構造と同様
なものを用いた。上述の実施例1及び比較例の共振器に
おけるQ値をSパラメータによるS21により計測して
(以下、同様)比較解析したところ実施例1のストリッ
プライン共振器1の方が、比較例のよりもQ値が40以
上向上したことがわかった。比較例はビアホール導体の
直径がストリップライン3の幅Wに比べて寸法差が大き
いのに対して、実施例1ではビアホール導体の長径がス
トリップラインの幅Wと同一であるため、ビアホール導
体20,21とストリップライン3との接続部分に発生
するインピーダンスの不整合が低減されたのが原因であ
ると考える。
【0036】〔実施例2〕次に、ビアホール導体の長径
Xとストリップラインの幅Wの関係を検討するために、
ストリップライン3の幅Wを1mmにしてビアホール導
体20,21の長径Xを変化させる以外は実施例1のス
トリップライン共振器1の構造と同様にしてQ値の計測
を行った。その結果を図5に示す。
【0037】実験の結果、ビアホール導体の長径Xがス
トリップラインの幅Wに近づくにつれてQ値が向上する
ことがわかる。これは、ビアホール導体20,21の表
面積が増加して抵抗値が低下し、ストリップライン3に
流れ込む電流が増えて導体損失を低下させ、ビアホール
導体20,21とストリップライン3の幅Wの寸法差が
小さくなるに従い、ビアホール導体20,21とストリ
ップライン3の接合部分に発生するインピーダンスの不
整合が低減された為である。
【0038】〔実施例3〕次に、ビアホール導体20,
21とビアランド22の長さの関係を検討すべく、ビア
ホール導体20,21の短径Yに対してビアランド22
の短径Y’の長さ(Y’/Y)を2 (200%)に固定
した状態でビアホール導体の長径Xに対するビアランド
22の長径X’の長さの比率(X’/X)を変化させ
た。この実験結果を図6に示す。
【0039】図6に示すようにX/X’が1(100
%)の場合(図4(a)参照)でも高いQ値を得ること
ができる。このように、ビアランド22の面積を増加さ
せるとQ値が劣化する方向に向かうが、X’/Xが1の
ときはビアランド22の占める面積を少なくすることが
できる。なお、X’/Xが2(200%)以上となると
Q値が劣化して高いQ値を得ることができなかった。
【0040】
【発明の効果】本発明の構成によれば、ビアホール導体
の平面形状を楕円もしくは長方形をなし、かつ、その長
径側が帯状のストリップラインに対し垂直方向に向いて
いるために、ビアホール導体の長径側の寸法差がストリ
ップラインの幅と同一若しくは近づくこととなり、これ
によって、ビアホール導体とストリップラインとの接続
部分に発生するインピーダンスの不整合が低減される。
この結果、伝送損失を低減することができ、高いQ値が
得られたストリップライン共振器を提供することができ
る。
【0041】また、長径を持つビアホール導体の平面形
状に変更させることで、従来に比べてビアホール導体の
表面積が大きくなり、ビアホール導体の抵抗値を低く抑
えることができ、これによっても伝送損失量を低減して
高いQ値が得られたストリップライン共振器を提供でき
る。
【0042】さらに、ビアホール導体を長径を持つ平面
形状にすることにより、ビアホール導体とストリップラ
インとの接合部分の面積を大きくすることができ、これ
により、ビアホール導体の周囲に形成するビアランドの
平面形状を従来よりも小さくする事が可能となる。この
結果、ビアホール導体とビアランドとの面積の差が小さ
くすることができ、ビアホール導体とビアランド接続部
分に発生するインピーダンス不整合を低減させたストリ
ップライン共振器が提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のストリップライン共振器の斜視図であ
る。
【図2】本発明のストリップライン共振器の内部構造を
説明する分解斜視図である。
【図3】本発明の他の実施形態におけるビアホール導体
の平面形状を示す図であり、(a)は楕円形,(b)は
長方形を示す。
【図4】本発明の他の実施形態におけるビアホール導体
とビアランドの平面形状を示す図であり(a)はビアホ
ール導体の長径Xに対しビアランドの長径X’の長さ
(X’/X)を1にしたときの図であり、(b)は
(X’/X)が1以下にしたときの図である。
【図5】ビアホール導体の長径の長さと共振器Q値の関
係を示す図である。
【図6】ビアホール導体の長径Xに対しビアランドの長
径X’の長さ(X’/X)と共振器Q値の関係を示す図
である。
【図7】従来技術のストリップライン共振器の内部構造
を説明する分解斜視図である。
【符号の説明】
1:ストリップライン共振器 2:誘電体ブロック 20,21:ビアホール導体 22:ビアランド 3:ストリップライン 4:平面アース電極(アース電極)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 誘電体ブロックの表面にアース電極を、
    内部に前記アース電極に対向する帯状のストリップライ
    ンを形成して成り、該ストリップラインがビアホール導
    体を介して前記アース電極に接続されているストリップ
    ライン共振器において、 前記ビアホール導体は、その平面形状が楕円もしくは長
    方形をなし、かつ、長径側が帯状のストリップラインに
    対し垂直方向に向いていることを特徴とするストリップ
    ライン共振器。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011166755A (ja) * 2010-01-12 2011-08-25 Hitachi Metals Ltd バンドパスフィルタ及びこれを用いた複合部品
CN104569617A (zh) * 2015-01-29 2015-04-29 无锡江南计算技术研究所 带状线谐振法介电性能测试方法

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