JP2001008037A - 画素補間方法および回路 - Google Patents

画素補間方法および回路

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JP2001008037A
JP2001008037A JP11177097A JP17709799A JP2001008037A JP 2001008037 A JP2001008037 A JP 2001008037A JP 11177097 A JP11177097 A JP 11177097A JP 17709799 A JP17709799 A JP 17709799A JP 2001008037 A JP2001008037 A JP 2001008037A
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edge
pixels
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circuit
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Hiroshi Nagata
宏 永田
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NEC Corp
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    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
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    • H04N5/14Picture signal circuitry for video frequency region
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T3/00Geometric image transformations in the plane of the image
    • G06T3/40Scaling of whole images or parts thereof, e.g. expanding or contracting
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 小規模な回路構成で画素を補間し、ぼけの少
ない画像を得る。 【解決手段】 エッジ検出回路7は補間される画素に隣
接する4つの画素から画像のエッジ成分の有無を検出
し、エッジ成分が有る場合、さらに、そのエッジ成分が
斜めエッジ、縦エッジ、横エッジのうちのどの種類のエ
ッジ成分かを検出する。係数発生回路12は生成される
画素の、隣接する4つの画素に対する空間的位置関係
と、検出されたエッジ成分の種類から、エッジ成分を損
なう原因となりうる画素に対しては小さくなるように隣
接する4つの画素に対する重み付けの係数Co00、C
o10、Co01、Co11を選定する。乗算器8、
9、10、11は、係数発生回路12から出力された係
数Co00、Co10、Co01、Co11を元の映像
信号に各々乗算し、結果を共一次内挿回路18に出力す
る。共一次内挿回路18は、乗算結果に対し共1次内挿
法を適用することで生成される画素を画素変換する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ディジタル信号に
変換された映像信号の4点の画素を用いて補間により新
たに画素を生成する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の画素補間方法について図6により
説明する。
【0003】図6に示す点P(u,v)は、補間によ
り、新たに生成される画素を示している。また、P
(i,j)、P(i+1,j)、P(i,j+1)、P
(i+1,j+1)はA/D変換された映像信号であ
り、補間により生成される画素P(u,v)に隣接する
4つの画素を示している。
【0004】共1次内挿法やバイリニア補間法と呼ばれ
る補間方法では、画素P(u,v)は次の式により画素
変換が行われる。
【0005】 P(u,v)={(i+1)−u)}{(j+1)−v}P(i,j) + (u−i){(j+1)−v}P(i+1,j) + {(i+1)−u}{v−j}P(i,j+1) + {(u−i)(v−j)}P(i+1,j+1) (1) このとき、例えばP(i,j)に白ピークレベルに近い
レベルの高い信号があり、他の3点のレベルが黒レベル
に近いレベルの低い信号がある場合においても、P
(u,v)は隣接する補間前の4画素のレベルに単純に
空間的距離に反比例する値を掛けることにより得られ
る。いま、 {(i+1)−u}=0.5 {(j+1)−v}=0.5 とすると、補間される画素P(u,v)は、隣接する4
つの画素をそれぞれ4で割った値を加算することにな
る。すなわちエッジ部分ではエッジ成分が4点の画素で
平滑化されるため、全体としてボケた感じの画像にな
る。
【0006】また、ボケ感が少ない画像が得られる補間
方法として、「(財)画像情報教育振興協会発行、画像
処理標準テキストブック pp208−209」に示さ
れるような共3次内挿法や、「信学論,Vol.J76
−D−II,No.9 pp1392−1940(199
3) DCTを用いたGerchberg−Papou
lisの反復法を適用した高画質画像の拡大」に示され
るような、DCTと超解像法とを組み合わせた方法、
「信学論,Vol.J79−D−II,No.5pp.8
19−825(1993) 多重解像度解析を用いたデ
ィジタル画像の拡大」に示されるようなウェーブレット
レット解析を用いた方法がある。これらは、比較的エッ
ジ成分を保持したまま画素密度変換を行うことができる
が、共1次内挿法と比較して数倍から数十倍のメモリと
大きなハードウェア構成が必要となってしまう。これら
の方法は、本発明とは直接関係しないので、その詳細な
構成は省略する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の、共一
次内挿法による画素変換方法は、補間により新たに生成
される画素と、これに隣接する補間される4画素の距離
に反比例した値に平滑化されるため、エッジ成分を含む
ような画像に対しては、ボケ感を生じるという問題があ
った。
【0008】また、比較的エッジ成分を保持したまま補
間できる方法として、共3次内挿法やDCTと超解像法
とを組み合わせた方法、ウェーブレットレット解析を用
いた方法があったが、これは大きなハードウェア構成が
必要となるという問題があった。
【0009】本発明の目的は、小規模なハードウェア構
成により、ぼけ感の少ない画像が得られる画素補間方法
および回路を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の画素補間方法
は、補間により新たに生成される画素に隣接する4つの
画素から画像のエッジ成分の有無を検出し、エッジ成分
が有る場合、さらに、そのエッジ成分が斜めエッジ、縦
エッジ、横エッジのうちのどの種類のエッジ成分かを検
出する段階と、前記新たに生成される画素の、隣接する
4つの画素に対する空間的位置関係と、検出されたエッ
ジ成分の種類から、エッジ成分を損なう原因となりうる
画素に対しては小さくなるように隣接する4つの画素に
対する重み付けの係数を選定する段階と、隣接4つの画
素の画素値に、それぞれに選定された係数を乗算する段
階と、前記乗算結果に対し共1次内挿法を適用すること
で、前記生成される画素を画素変換する段階を有する。
【0011】生成される画素に隣接する4つの画素から
斜めエッジ、縦エッジ、横エッジのエッジ成分を検出
し、エッジ成分を損なう要因になり得る画素の重み付け
を、検出したエッジと生成される画素の空間位置にもと
づき適応的に変えて画素変換を行なうことにより、エッ
ジ成分を含む映像において補間を行う場合でも、エッジ
成分を保持したまま補間処理をすることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
【0013】図1を参照すると、本発明の一実施形態の
画素変換回路は入力端子1とA/D変換器2とDフリッ
プフロップ3、5とラインメモリ4とエッジ検出回路7
と乗算器8〜11と係数発生回路12と入力端子13〜
16とタイミング発生回路17と共一次内挿回路18で
構成されている。
【0014】入力端子1から映像信号が入力され、A/
D変換器2でアナログ信号からディジタル信号に変換さ
れる。
【0015】ディジタル信号に変換された映像信号は、
Dフリップフロップ3、5およびラインメモリ4から成
る2次元展開回路6で展開され、エッジ検出回路7およ
び乗算器8、9、10、11に送出される。
【0016】エッジ検出回路7では、補間される画素に
隣接する4つの画素間、すなわち水平方向、垂直方向、
対角方向の全ての画素間についてそれぞれのレベルの差
分を取る。エッジ検出回路7には、あらかじめある2つ
のスレッショルド値が設定されている。1つは、2画素
間のレベル差がこの値を超えた場合をエッジと見なすた
めの高い値を持ったスレッショルド値であり、2つめ
は、2画素間のレベル差がこの値を超えない場合、近似
した値を持つと見なすための低い値を持ったスレッショ
ルド値である。なお、回路規模削減のため、水平方向、
垂直方向、対角方向のいずれか1つないし2つの画素間
のレベル差をとらないで処理することもできる。
【0017】ある1画素のみの値が他の3画素の値に対
して高い値のスレッショルド値を越えるような突出した
値をもっており、他の3画素のそれぞれの差分値が低い
値のスレッショルド値を超えないような近似した値を持
っている場合、最初の画素は4画素の中で孤立した値を
持つことから斜めエッジ成分であると判断する。
【0018】また、水平方向の画素間のレベル差が低い
値を持つスレッショルド値未満であり、垂直方向の画素
間のレベル差が高い値を持つスレッショルド値を越えて
いれば、縦エッジであると判断する。同様に、垂直方向
の画素間のレベル差が低い値を持つスレッショルド値未
満であり、水平方向の画素間のレベル差が高い値を持つ
スレッショルド値を越えていれば、横エッジであると判
断する。
【0019】エッジ検出回路7で得られた結果は、係数
発生回路12に送出される。
【0020】一方、入力端子13、14、15、16に
はそれぞれドットクロック、水平同期信号および垂直同
期信号からなる同期信号、水平方向の拡大や縮小の比率
を指定する水平拡大率、垂直方向の拡大や縮小の比率を
指定する垂直拡大率からなる拡大率データ、リサイジン
グ用のクロックが入力され、タイミング発生回路17に
送られる。
【0021】タイミング発生回路17は、水平同期信号
によってクリアされ、入力する信号のドットクロックを
カウントするカウンタを内部にもっており、カウンタの
値と水平拡大率データから4つの画素と補間によって生
成される画素の水平方向の空間的位置関係、すなわちP
(u,v)のuの値を決めることができる。例えば、水
平方向の画素数を640画素が800画素に変換する場
合その拡大率は800/600=5/4になる。入力信
号の画素間の空間距離を1とすると、出力画素の空間距
離は4/5になるため、出力画素の空間的位置uは4/
5×n(n=0、1・・・・)となる。すなわちuの値
は水平同期信号の立ち下がりでクリアされた後、リサイ
ジング用クロックが入力されるたびに4/5ずつ加算さ
れ、その値の整数部は式(1)のiの値を示し、小数部
はu−iの値を示すことになる。また、タイミング発生
回路17は、水平同期信号をカウントするカウンタを持
ち、カウンタの値と垂直拡大率データから、同様にして
4つの画素と補間によって生成される画素の垂直方向の
空間的位置関係、すなわちP(u,v)のvの値を決め
ることができる。
【0022】係数発生回路12では、エッジ検出回路7
からエッジの有無の情報を入力するとともに、エッジが
ある場合は右斜めエッジ、左斜めエッジ、縦エッジ、横
エッジのうちどのようなエッジであるかという情報が入
力される。さらに、係数発生回路12は、タイミング発
生回路17から補間される画素P(u,v)の空間的位
置の情報を入力する。
【0023】係数発生回路12は、これらの情報を用い
ることにより、エッジ成分を損なう原因となり得る画素
に対し、その画素のレベルの重み付けが小さくなるよう
な係数を選定し、その係数Co00、Co10、Co0
1、Co11を乗算器8、9、10、11に送信する。
【0024】乗算器8、9、10、11は、係数発生回
路12から出力された係数Co00、Co10、Co0
1、Co11を元の映像信号に各々乗算し、結果を画素
変換回路18に出力する。
【0025】共一次内挿回路18は、画素変換前と画素
変換後のドットクロックのほか、補間する前の画素と補
間される画素との空間的位置関係の情報をタイミング発
生回路17から入力し、式(1)の演算を行なって目的
とする画素を生成する。
【0026】次に、本実施形態について詳しく述べる。
【0027】図2において、P(i,j)は白ピークに
近いレベルを持っており、他の3画素P(i+1,
j)、P(i,j+1)、P(i+1,j+1)は黒レ
ベルに近いレベルを持つ。この場合の画素P(i,j)
は孤立したレベルを持っているため、斜めエッジ成分を
持つ映像である。
【0028】ここで、生成される画素P(u,v)が図
2のように{(i+1)−u}+{(j+1)−v}>
1の位置にある場合、P(i+1,j+1)の重み付け
が小さくなるように、画素P(i+1,j+1)が入力
される乗算器11に送る係数Co11を0.5、画素P
(i,j)が入力される乗算器8に送る係数Co00を
1.25、その他の画素が入力される乗算器9、10に
送る係数Co10、係数Co01を1.125に設定す
る。
【0029】このように係数を設定することにより、生
成される画素Pqは画素P(i,j)に近い値を持ち、
P(i+1,j+1)から遠い値を持つことになるた
め、斜めエッジ成分を持つ映像を補間する場合エッジ成
分を保持することができる。
【0030】また、図2において、生成される画素Pr
(u,v)が図のように{(i+1)−u}+{(j+
1)−v}<1の位置にある場合について説明する。
【0031】生成される画素Pr(u,v)が図2のよ
うに{(i+1)−u}+{(j+1)−v}<1の位
置にある場合、P(i,j)の重み付けが小さくなるよ
うに、画素P(j,j)が入力される乗算器8に送る係
数Co00を0.5、その対角にある画素P(i+1,
j+1)が入力される乗算器11に送る係数Co11を
1.25、その他の画素が入力される乗算器9、10に
送る係数Co10、係数Co01を1.125に設定す
る。
【0032】このように係数を設定することにより、生
成されるPrは画素P(i+1,j+1)に近い値を持
ち、P(i,j)から遠い値を持つことになるため、斜
めエッジ成分を持つ映像を補間する場合エッジ成分を保
持することができる。
【0033】また、生成される画素が、{(i+1)−
u}+{(j+1)−v}=1の位置にある場合は、上
記2通りの係数のいずれか一方を用いれば良い。
【0034】次に、図3は、画素P(i,j)、P(i
+1,j)が白ピークに近いレベルをもち、P(i,j
+1)、P(i+1,j+1)が黒レベルに近いレベル
をもっているような縦エッジを構成している。このと
き、生成される画素Pq(u,v)が図のように{(j
+1)−v}>0.5の位置にある場合、P(i,j+
1)とP(i+1,j+1)が入力される乗算器10、
11に送る係数Co01、Co11を0.5とし、他の
2つの画素が入力される乗算器8、9に送る係数Co0
0、Co10を1.5に設定する。
【0035】また、生成される画素Pr(u,v)が図
3のように{(j+1)−v}<0.5の位置にある場
合、P(i,j)、P(i+1,j)が入力される乗算
器8、9に送る係数Co00、Co10を0.5とし、
他の2つの画素が入力される乗算器9、11に送る係数
Co01、Co11を1.5に設定する。
【0036】このようにすれば、生成される画素Pq
(u,v)は、P(i,j+1)、P(i+1,j+
1)の影響を受けにくくなり、Pr(u,v)は、P
(i,j)、P(i+1,j)の影響を受けにくくなる
ため、縦エッジ成分を保持した状態で画素変換を行うこ
とが可能になる。また、{(j+1)−v}=0.5の
距離にある画素を補間して生成する場合は、上記係数の
いずれか一方を用いればよい。
【0037】さらに、図4には、画素P(i,j)、P
(i,j+1)が白ピークレベルに近いレベルをもち、
P(i+1,j)、P(i+1,j+1)が黒レベルに
近いレベルを持っているような横エッジを構成してい
る。このとき、生成される画素Pq(u,v)が図のよ
うに{(i+1)−u)}>0.5の位置にある場合、
P(i+1,j)とP(i+1,j+1)が入力される
乗算器9、11に送る係数Co10、Co11を0.5
とし、他の2画素が入力される乗算器8、10に送る係
数Co00、Co01を1.5に設定する。
【0038】また、生成される画素Pr(u,v)が図
4のように{(i+1)−u)}<0.5の位置にある
場合、P(i,j)、P(i,j+1)が入力される乗
算器8、10に送る係数Co00、Co01を0.5と
し、他の2画素が入力される乗算器9、11に送る係数
Co10、Co11を1.5に設定する。
【0039】このようにすれば、生成される画素Pq
(u,v)は、P(i+1,j)、P(i+1,j+
1)の影響を受けにくくなり、Pr(u,v)は、P
(i,j)、P(i,j+1)の影響を受けにくくなる
ため、横エッジ成分を保持した状態で画素変換を行うこ
とが可能になる。また、{(i+1)−u)}=0.5
の距離にある画素を補間して生成する場合は、上記係数
のいずれか一方を用いればよい。
【0040】さらに、図1のエッジ検出回路7は次のよ
うに構成することができる。図6において、隣り合った
画素間のレベルの差分を P(i,j)−P(i+1,j)=a P(i+1,j)−P(i+1,j+1)=b P(i+1,j+1)−P(i,j+1)=c P(i,j+1)−P(i,j)=d とすると、表1に示すように各条件を満足するときにそ
れぞれ、縦エッジ、横エッジ、斜めエッジの各種のエッ
ジを検出することができる。
【0041】
【表1】 なお、表1中の「正」は画素間の差分値が、エッジ検出
回路7で設定された高いレベルをもつスレッショルド
値、たとえば映像信号を8ビットにA/D変換した場合
64、を超えておりそれが正の値を持つことを意味して
いる。また、表中の「負」はエッジ検出回路7で設定さ
れた高いレベルのスレッショルド値を超えており、それ
が負の値を持つことを意味している。
【0042】表中の「−」は画素間の差分値がエッジ検
出回路7で設定されたもう一つのレベルの低いスレッシ
ョルド値、たとえば映像信号を8ビットにA/D変換し
た場合16、を超えていないことを意味している。
【0043】なお、上記実施形態では、画素補間回路
(エッジ検出回路7、乗算器8〜11、係数発生回路1
2、共一次内挿回路18の構成を一定として説明した
が、乗算器を用いないで、ルックアップテーブルを用
い、テーブルを可変とする方法としてもよい。すなわ
ち、エッジ成分を損なう原因となる要因になり得る画素
に対しては、図5に示すような空間距離と重み付けの関
係が非線形になるようなテーブルを用いて補間を行い、
エッジ成分の有無やエッジの方向によりルックアップテ
ーブルを可変にすることにより実現してもよい。また、
係数発生回路12から出力する係数を2のマイナスn乗
(nは0または自然数)とそれらを加算した値で構成す
ることにより、ビットシフトと加算器により乗算器を構
成することも可能である。
【0044】また、飛び越し走査を行うような信号に対
してライン数を変化させるとともに、インタレース−ノ
ンインタレース変換を同時に行うような補間を行う場合
においては、フィールドによって生成する画素の空間的
位置にオフセットをかける場合がある。これは、オフセ
ットをかけないと、生成される画素の空間的位置がフィ
ールド間でずれ、ラインフリッカが発生するためであ
る。
【0045】このようなオフセットを用いて補間を行う
場合、本発明による方式を用いることによりラインフリ
ッカが増える場合があるため、インタレース−ノンイン
タレース変換を同時に行う場合は、水平エッジのみ検出
して処理を行ってもよい。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、生成さ
れる画素に隣接する4つの画素から斜めエッジ、縦エッ
ジ、横エッジのエッジ成分を検出し、エッジ成分を損な
う要因になり得る画素の重み付けを、検出したエッジと
生成される画素の空間位置にもとづき適応的に変えて画
素変換を行なうことにより、エッジ成分を含む映像にお
いて補間を行う場合でも、小規模な回路で元のエッジ成
分を保持したまま補間処理をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態の画素補間回路の回路図で
ある。
【図2】エッジ成分と設定される重み係数の関係を示す
図である。
【図3】エッジ成分と設定される重み係数の関係を示す
図である。
【図4】エッジ成分と設定される重み係数の関係を示す
図である。
【図5】水平/垂直の空間距離と重み付けの関係を示す
グラフである。
【図6】補間される画素と、これに隣接する4つの画素
を示す図である。
【符号の説明】
1、13、14、15、16 入力端子 2 A/D変換器 3、5 Dフリップフロップ 4 ラインメモリ 6 2次元展開回路 7 エッジ検出回路 8〜11 乗算器 12 係数発生回路 17 タイミング発生回路 18 共一次内挿回路

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 補間により新たに生成される画素に隣接
    する4つの画素から画像のエッジ成分の有無を検出し、
    エッジ成分が有る場合、さらに、そのエッジ成分が斜め
    エッジ、縦エッジ、横エッジのうちのどの種類のエッジ
    成分かを検出する段階と、 前記生成される画素の、隣接する4つの画素に対する空
    間的位置関係と、検出されたエッジ成分の種類から、エ
    ッジ成分を損なう原因となりうる画素に対しては小さく
    なるように隣接する4つの画素に対する重み付けの係数
    を選定する段階と、 隣接する4つの画素の画素値に、それぞれに選定された
    係数を乗算する段階と、 前記乗算結果に対し共1次内挿法を適用することで、前
    記生成される画素を画素変換する段階を有する画素補間
    方法。
  2. 【請求項2】 補間により新たに生成される画素に隣接
    する4つの画素の2画素間のレベルの差分を取り、エッ
    ジ成分の有無を検出し、エッジ成分が有る場合、そのエ
    ッジ成分が斜めエッジ、縦エッジ、横エッジのどの種類
    のエッジ成分かを検出するエッジ検出回路と、 前記生成される画素の、前記隣接する4つの画素に対す
    る空間的位置関係を求める位置検出回路と、 前記生成される画素の、隣接する4つの画素に対する空
    間的位置関係と、検出されたエッジ成分の種類から、エ
    ッジ成分を損なう原因となりうる画素に対しては小さく
    なるように隣接する4つの画素に対する重み付けの係数
    を発生する係数発生回路と、 隣接する4つの画素の画素値に、それぞれに選定された
    係数を乗算する乗算器と、 前記乗算結果に対し共1次内挿法を適用することで、前
    記生成される画素を画素変換する画素変換回路を有する
    画素補間回路。
  3. 【請求項3】 新たに生成される画素に隣接する4つの
    画素の2画素間のレベルの差分を取り、エッジ成分の有
    無を検出し、エッジ成分が有る場合、そのエッジ成分が
    斜めエッジ、縦エッジ、横エッジのどの種類のエッジ成
    分かを検出するエッジ検出回路と、 前記生成される画素の、前記隣接する4つの画素に対す
    る空間的位置関係を求める位置検出回路と、 前記生成される画素の、隣接する4つの画素に対する空
    間的位置関係と、検出されたエッジ成分の種類から、エ
    ッジ成分を損なう原因となりうる画素に対しては小さく
    なるように隣接する4つの画素に対する重み付けの係数
    を、生成される画素の空間的位置関係と重み付けの係数
    の関係を示すルックアップテーブルを用いて発生する係
    数発生回路と、 共1次内挿法をルックアップテーブルで実現するととも
    に、共一次内挿を行うルックアップテーブルと前記係数
    発生回路のルックアップテーブルを1つのルックアップ
    テーブルとすることで、前記生成される画素を画素変換
    する画素変換回路を有する画素補間回路。
  4. 【請求項4】 前記エッジ検出回路は、ある1画素と他
    の3画素のレベルの差分が、高い値の第1のスレッショ
    ルド値を越え、他の3画素間のレベルの差分が、低い値
    の第2のスレッショルド値未満である場合、隣接する4
    つの画素が斜めエッジ成分を有すると判断し、水平方向
    の画素間のレベル差が第2のスレッショルド値未満であ
    り、垂直方向の画素間のレベル差が第1のスレッショル
    ド値を越えていれば、隣接する4つの画素が縦エッジを
    有すると判断し、垂直方向の画素間のレベル差が第2の
    スレッショルド値未満であり、水平方向の画素間のレベ
    ル差が第1のスレッショルド値を越えていれば、隣接す
    る4つの画素が横エッジを有すると判断する、請求項2
    または3記載の回路。
  5. 【請求項5】 前記位置検出回路は、水平同期信号と水
    平拡大率データ、垂直同期信号と垂直拡大率データから
    隣接する4つの画素と、生成される画素の水平方向、垂
    直方向の空間的位置関係を求める、請求項2から4のい
    ずれか1項記載の回路。
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