JP2001004668A - 波形観測装置 - Google Patents
波形観測装置Info
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- JP2001004668A JP2001004668A JP11178366A JP17836699A JP2001004668A JP 2001004668 A JP2001004668 A JP 2001004668A JP 11178366 A JP11178366 A JP 11178366A JP 17836699 A JP17836699 A JP 17836699A JP 2001004668 A JP2001004668 A JP 2001004668A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 アベレージ処理に用いる測定データを記憶手
段に格納すると共に、この記憶手段に記憶された測定デ
ータの中から任意の測定データを選択し、ここで選択さ
れた測定波形データを用いてアベレージ処理を行うこと
が可能な波形観測装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 このような目的を達成するために請求項
１に記載の発明では、入力信号を波形表示する波形観測
装置において、前記入力信号を測定し、測定波形データ
を発生する測定部と、この測定部からの測定波形データ
を複数格納する記憶部と、この記憶部の２以上の選択さ
れた測定波形データを入力し、入力された測定波形デー
タの平均波形データを発生するアベレージ手段と、前記
記憶部に記憶された測定波形データと前記平均波形デー
タを表示部に表示するデータ制御手段と、前記記憶部の
測定波形データを選択する選択手段とを備えた。
段に格納すると共に、この記憶手段に記憶された測定デ
ータの中から任意の測定データを選択し、ここで選択さ
れた測定波形データを用いてアベレージ処理を行うこと
が可能な波形観測装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 このような目的を達成するために請求項
１に記載の発明では、入力信号を波形表示する波形観測
装置において、前記入力信号を測定し、測定波形データ
を発生する測定部と、この測定部からの測定波形データ
を複数格納する記憶部と、この記憶部の２以上の選択さ
れた測定波形データを入力し、入力された測定波形デー
タの平均波形データを発生するアベレージ手段と、前記
記憶部に記憶された測定波形データと前記平均波形デー
タを表示部に表示するデータ制御手段と、前記記憶部の
測定波形データを選択する選択手段とを備えた。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、入力信号を波形表
示する波形観測装置に関し、特にアベレージ手段を改善
することによって、任意の測定波形データを用いてアベ
レージ処理を行うことを可能とした波形観測装置に関す
るものである。
示する波形観測装置に関し、特にアベレージ手段を改善
することによって、任意の測定波形データを用いてアベ
レージ処理を行うことを可能とした波形観測装置に関す
るものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の波形観測装置、例えばデジタルオ
シロスコープは、入力信号に混入するランダムノイズ成
分を除去するアベレージ手段を備えている。
シロスコープは、入力信号に混入するランダムノイズ成
分を除去するアベレージ手段を備えている。
【０００３】アベレージ手段は、予め定められたｎ回の
測定を行い、ここで得られたｎ個の測定波形データの各
サンプル点のデータの平均値を求めることによって平均
波形データを発生し、入力信号に混入するランダムノイ
ズ成分を除去するものである。
測定を行い、ここで得られたｎ個の測定波形データの各
サンプル点のデータの平均値を求めることによって平均
波形データを発生し、入力信号に混入するランダムノイ
ズ成分を除去するものである。
【０００４】図３は上述したアベレージ手段によって３
回の測定によって得られた測定波形データ３１〜３３に
アベレージ処理を施し、平均波形データ３４を発生した
図である。アベレージ処理を行うとその測定波形データ
に含まれている繰り返し信号は平均化しても値は変わら
ないがランダムノイズ成分は平均化するとその性質上、
値はゼロに近づく。従って、従来の波形観測装置では、
入力信号の測定波形データをアベレージ処理することに
よって、入力信号に含まれるランダムノイズ成分を除去
した平均波形データを発生し、この平均波形データを用
いて入力信号の解析を行っていた。
回の測定によって得られた測定波形データ３１〜３３に
アベレージ処理を施し、平均波形データ３４を発生した
図である。アベレージ処理を行うとその測定波形データ
に含まれている繰り返し信号は平均化しても値は変わら
ないがランダムノイズ成分は平均化するとその性質上、
値はゼロに近づく。従って、従来の波形観測装置では、
入力信号の測定波形データをアベレージ処理することに
よって、入力信号に含まれるランダムノイズ成分を除去
した平均波形データを発生し、この平均波形データを用
いて入力信号の解析を行っていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の波
形観測装置では、予め定められた連続するｎ回の測定に
よって得られたｎ個の測定波形データを用いて平均波形
データを発生することによりアベレージ処理を行ってい
たため、ｎ回の測定中に例えば測定ミス等よって他の測
定波形データと大きく異なる異常な測定波形データが記
憶手段に記憶された場合、これを含んで発生された平均
波形データに誤差を生ずる場合があるという問題点があ
った。
形観測装置では、予め定められた連続するｎ回の測定に
よって得られたｎ個の測定波形データを用いて平均波形
データを発生することによりアベレージ処理を行ってい
たため、ｎ回の測定中に例えば測定ミス等よって他の測
定波形データと大きく異なる異常な測定波形データが記
憶手段に記憶された場合、これを含んで発生された平均
波形データに誤差を生ずる場合があるという問題点があ
った。
【０００６】また、従来の波形観測装置では、アベレー
ジ処理に用いた測定波形データは、平均波形データを求
めた時点で消去されてしまうため、アベレージ処理に用
いた測定波形データを解析することができないという問
題点があった。
ジ処理に用いた測定波形データは、平均波形データを求
めた時点で消去されてしまうため、アベレージ処理に用
いた測定波形データを解析することができないという問
題点があった。
【０００７】本発明は、上記課題を解決するもので、ア
ベレージ処理に用いる測定データを記憶手段に格納する
と共に、この記憶手段に記憶された測定データの中から
任意の測定データを選択し、ここで選択された測定波形
データを用いてアベレージ処理を行うことが可能な波形
観測装置を提供することを目的とする。
ベレージ処理に用いる測定データを記憶手段に格納する
と共に、この記憶手段に記憶された測定データの中から
任意の測定データを選択し、ここで選択された測定波形
データを用いてアベレージ処理を行うことが可能な波形
観測装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために請求項１に記載の発明では、入力信号を波形表
示する波形観測装置において、前記入力信号を測定し、
測定波形データを発生する測定部と、この測定部からの
測定波形データを複数格納する記憶部と、この記憶部の
２以上の選択された測定波形データを入力し、入力され
た測定波形データの平均波形データを発生するアベレー
ジ手段と、前記記憶部に記憶された測定波形データと前
記平均波形データを表示部に表示するデータ制御手段
と、前記記憶部の測定波形データを選択する選択手段
と、を備えたことを特徴とするものである。
るために請求項１に記載の発明では、入力信号を波形表
示する波形観測装置において、前記入力信号を測定し、
測定波形データを発生する測定部と、この測定部からの
測定波形データを複数格納する記憶部と、この記憶部の
２以上の選択された測定波形データを入力し、入力され
た測定波形データの平均波形データを発生するアベレー
ジ手段と、前記記憶部に記憶された測定波形データと前
記平均波形データを表示部に表示するデータ制御手段
と、前記記憶部の測定波形データを選択する選択手段
と、を備えたことを特徴とするものである。
【０００９】このような構成によれば、記憶手段に複数
の測定波形データを格納することが可能になるととも
に、ここに格納された複数の測定波形データから任意の
測定波形データを選択しアベレージ処理を施すことが可
能となる。
の測定波形データを格納することが可能になるととも
に、ここに格納された複数の測定波形データから任意の
測定波形データを選択しアベレージ処理を施すことが可
能となる。
【００１０】また、請求項２のようには、測定波形デー
タと平均波形データを前記表示部の同一画面上に表示す
ることによって、アベレージ処理を施す前の入力信号の
波形とアベレージ処理を施した後の入力信号の波形を同
一画面上で比較することが可能となる。
タと平均波形データを前記表示部の同一画面上に表示す
ることによって、アベレージ処理を施す前の入力信号の
波形とアベレージ処理を施した後の入力信号の波形を同
一画面上で比較することが可能となる。
【００１１】更に請求項３のように、記憶部に格納され
た複数の測定波形データの中から表示部に表示させる測
定波形データを選択可能とすることによって、解析した
い測定波形データのみを表示部に表示させることが可能
となる。
た複数の測定波形データの中から表示部に表示させる測
定波形データを選択可能とすることによって、解析した
い測定波形データのみを表示部に表示させることが可能
となる。
【００１２】また、請求項４のようにアベレージ処理に
用いた測定波形データと平均波形データを表示手段の同
一画面上に表示させることによって、どのような測定波
形データを用いてアベレージ処理を行ったかが容易に把
握できる。
用いた測定波形データと平均波形データを表示手段の同
一画面上に表示させることによって、どのような測定波
形データを用いてアベレージ処理を行ったかが容易に把
握できる。
【００１３】このようにして得られた平均波形データを
請求項５のように記憶部に格納することによって、アベ
レージ処理後の波形を保存することが可能となる。
請求項５のように記憶部に格納することによって、アベ
レージ処理後の波形を保存することが可能となる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を詳しく
説明する。図１は本発明に係る波形観測装置の一実施例
を示す構成図である。
説明する。図１は本発明に係る波形観測装置の一実施例
を示す構成図である。
【００１５】図１において、測定部１は入力信号を測定
し、デジタルデータすなわち測定波形データを発生す
る。ヒストリメモリ２は記憶部で、測定値１から入力さ
れる測定波形データを複数格納する。
し、デジタルデータすなわち測定波形データを発生す
る。ヒストリメモリ２は記憶部で、測定値１から入力さ
れる測定波形データを複数格納する。
【００１６】データ制御手段３はヒストリメモリ２から
測定波形データを読み出し、表示部４例えば、ＣＲＴや
ＬＣＤに波形表示を行う。そして、データ制御手段３は
アベレージ手段３１を具備している。
測定波形データを読み出し、表示部４例えば、ＣＲＴや
ＬＣＤに波形表示を行う。そして、データ制御手段３は
アベレージ手段３１を具備している。
【００１７】アベレージ手段３１は、ヒストリメモリに
記憶された複数の測定波形データの中から２以上の波形
測定データを選択し、この２以上の波形測定データに対
して各サンプル点のデータの平均値を求めることによっ
て平均波形データを発生し、表示部４に表示する。
記憶された複数の測定波形データの中から２以上の波形
測定データを選択し、この２以上の波形測定データに対
して各サンプル点のデータの平均値を求めることによっ
て平均波形データを発生し、表示部４に表示する。
【００１８】選択手段５は、例えば、キー等でアベレー
ジ手段３１に入力するヒストリメモリ２の測定波形デー
タを選択すると共に、表示器４に表示させる測定波形デ
ータ及び平均波形データを選択する。
ジ手段３１に入力するヒストリメモリ２の測定波形デー
タを選択すると共に、表示器４に表示させる測定波形デ
ータ及び平均波形データを選択する。
【００１９】このように構成された装置の動作を以下に
説明する。
説明する。
【００２０】測定部１は、入力信号を測定し、ヒストリ
メモリ２にトリガ回数分の測定波形データを格納する。
データ制御手段３は、ヒストリメモリ２から格納された
測定波形データを読み出し、表示手段４に読み出した測
定波形データを重ね書きする。これによって入力信号の
測定波形データを表示部４に表示することができる。こ
れが本発明のデータ観測装置における通常測定の動作で
ある。
メモリ２にトリガ回数分の測定波形データを格納する。
データ制御手段３は、ヒストリメモリ２から格納された
測定波形データを読み出し、表示手段４に読み出した測
定波形データを重ね書きする。これによって入力信号の
測定波形データを表示部４に表示することができる。こ
れが本発明のデータ観測装置における通常測定の動作で
ある。
【００２１】次に選択手段５により、アベレージ手段が
選択された場合、上記の動作によって表示部４に表示さ
れた測定波形データからアベレージ処理に用いる測定波
形データを、例えば、表示部４の画面上に表示された測
定波形データの番号等を用いて選択する。
選択された場合、上記の動作によって表示部４に表示さ
れた測定波形データからアベレージ処理に用いる測定波
形データを、例えば、表示部４の画面上に表示された測
定波形データの番号等を用いて選択する。
【００２２】ここで選択された測定波形データは、ヒス
トリメモリ２からアベレージ手段３１に入力され、ここ
で各測定波形データの各サンプル点のデータの平均値が
算出され、平均波形データが求められる。この平均波形
データが入力信号に混入するランダムノイズ成分を除去
された入力信号の波形である。
トリメモリ２からアベレージ手段３１に入力され、ここ
で各測定波形データの各サンプル点のデータの平均値が
算出され、平均波形データが求められる。この平均波形
データが入力信号に混入するランダムノイズ成分を除去
された入力信号の波形である。
【００２３】データ制御手段３は、ここで得られた平均
波形データを表示部４に測定波形データと共に同時表示
する。これが本発明のデータ観測装置におけるアベレー
ジ手段の動作である。
波形データを表示部４に測定波形データと共に同時表示
する。これが本発明のデータ観測装置におけるアベレー
ジ手段の動作である。
【００２４】図２は、表示部４に表示された測定波形デ
ータと平均波形データの表示例である。同図において、
上部の領域４１はヒストリメモリ２に格納された測定波
形データを表示する領域であり、下部の領域４２は平均
波形データを表示する領域である。また、領域４１に表
示する測定波形データはアベレージ処理に用いられた測
定波形データを選択表示することも可能であるし、選択
手段５によって任意の測定波形データを表示することも
可能である。
ータと平均波形データの表示例である。同図において、
上部の領域４１はヒストリメモリ２に格納された測定波
形データを表示する領域であり、下部の領域４２は平均
波形データを表示する領域である。また、領域４１に表
示する測定波形データはアベレージ処理に用いられた測
定波形データを選択表示することも可能であるし、選択
手段５によって任意の測定波形データを表示することも
可能である。
【００２５】また、上記の説明ではアベレージ処理に用
いる測定波形データを選択手段５によって選択する方法
について説明したが、ヒストリメモリ２に予め設定され
た数の測定波形データが格納された時点でヒストリメモ
リ２に格納された測定波形データをアベレージ手段３１
に入力することによってアベレージ処理を自動化する構
成としても良い。これは、例えば、ランダムノイズが多
く混入した入力信号を測定する場合のようにアベレージ
処理後の波形しか必要としない場合に有効である。
いる測定波形データを選択手段５によって選択する方法
について説明したが、ヒストリメモリ２に予め設定され
た数の測定波形データが格納された時点でヒストリメモ
リ２に格納された測定波形データをアベレージ手段３１
に入力することによってアベレージ処理を自動化する構
成としても良い。これは、例えば、ランダムノイズが多
く混入した入力信号を測定する場合のようにアベレージ
処理後の波形しか必要としない場合に有効である。
【００２６】なお、以上の説明は、本発明の説明および
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明は、上記実施例に限定されること
なく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、
変形をも含むものである。
例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎな
い。したがって本発明は、上記実施例に限定されること
なく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、
変形をも含むものである。
【００２７】例えば、ヒストリメモリ２を測定波形デー
タの格納用領域と平均波形データ格納用領域の２つに分
割し、アベレージ処理後の平均波形データをヒストリメ
モリ２の平均波形データ格納用領域へ保存できるように
構成された波形観測装置も本発明の範囲である。
タの格納用領域と平均波形データ格納用領域の２つに分
割し、アベレージ処理後の平均波形データをヒストリメ
モリ２の平均波形データ格納用領域へ保存できるように
構成された波形観測装置も本発明の範囲である。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明によれば次のような効果がある。請求項１に記載
の発明では、記憶手段に格納された複数の測定波形デー
タから任意の測定波形データを選択してアベレージ処理
を行うことが可能となる。従って、記憶手段に格納され
た複数の測定波形データから異常な測定波形データを除
外し最適な複数の測定波形データを選択してアベレージ
処理を施すことが可能となる。
本発明によれば次のような効果がある。請求項１に記載
の発明では、記憶手段に格納された複数の測定波形デー
タから任意の測定波形データを選択してアベレージ処理
を行うことが可能となる。従って、記憶手段に格納され
た複数の測定波形データから異常な測定波形データを除
外し最適な複数の測定波形データを選択してアベレージ
処理を施すことが可能となる。
【００２９】請求項２に記載の発明では、測定波形デー
タと平均波形データを前記表示部の同一画面上に表示す
ることによって、アベレージ処理を施す前の入力信号の
波形とアベレージ処理を施した後の入力信号の波形を同
一画面上で比較することが可能となる。
タと平均波形データを前記表示部の同一画面上に表示す
ることによって、アベレージ処理を施す前の入力信号の
波形とアベレージ処理を施した後の入力信号の波形を同
一画面上で比較することが可能となる。
【００３０】請求項３に記載の発明では、記憶部に格納
された複数の測定波形データの中から表示部に表示させ
る測定波形データを選択可能とすることによって、解析
したい測定波形データのみを表示部に表示させることが
可能となる。
された複数の測定波形データの中から表示部に表示させ
る測定波形データを選択可能とすることによって、解析
したい測定波形データのみを表示部に表示させることが
可能となる。
【００３１】請求項４に記載の発明では、アベレージ処
理に用いた測定波形データと平均波形データを表示手段
の同一画面上に表示させることによって、どの測定波形
データを用いてアベレージ処理を行ったかが容易に把握
できる。
理に用いた測定波形データと平均波形データを表示手段
の同一画面上に表示させることによって、どの測定波形
データを用いてアベレージ処理を行ったかが容易に把握
できる。
【００３２】請求項５に記載の発明では、アベレージ処
理後の波形を保存することが可能となる。
理後の波形を保存することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る波形観測装置の一実施例を示す構
成図である。
成図である。
【図２】本発明に係る波形観測装置の画面表示例であ
る。
る。
【図３】アベレージ処理を説明する図である。
１ 測定部 ２ ヒストリメモリ ３ データ制御手段 ４ 表示部 ５ 選択手段 ３１ アベレージ手段
Claims (5)
- 【請求項１】入力信号を波形表示する波形観測装置にお
いて、 前記入力信号を測定し、測定波形データを発生する測定
部と、 この測定部からの測定波形データを複数格納する記憶部
と、 前記記憶部の測定波形データを選択する選択手段とこの
記憶部の２以上の選択された測定波形データを入力し、
入力された測定波形データの平均波形データを発生する
アベレージ手段と、 前記記憶部に記憶された測定波形データと前記平均波形
データを表示部に表示するデータ制御手段と、を備えた
ことを特徴とする波形観測装置。 - 【請求項２】前記データ制御手段は、前記測定波形デー
タと前記平均波形データを前記表示部の同一画面上に表
示するように構成されたことを特徴とする請求項１に記
載の波形観測装置。 - 【請求項３】前記データ制御手段は、前記選択手段によ
って選択された任意の前記測定波形データを前記表示部
に表示するように構成されたことを特徴とする請求項１
に記載の波形観測装置。 - 【請求項４】前記データ制御手段は、前記アベレージ手
段に入力された前記測定波形データを前記表示部に表示
するように構成されたことを特徴とする請求項１に記載
の波形観測装置。 - 【請求項５】前記記憶部は、前記平均波形データを格納
するように構成されたことを特徴とする請求項１に記載
の波形観測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17836699A JP3565414B2 (ja) | 1999-06-24 | 1999-06-24 | 波形観測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17836699A JP3565414B2 (ja) | 1999-06-24 | 1999-06-24 | 波形観測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001004668A true JP2001004668A (ja) | 2001-01-12 |
| JP3565414B2 JP3565414B2 (ja) | 2004-09-15 |
Family
ID=16047247
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17836699A Expired - Fee Related JP3565414B2 (ja) | 1999-06-24 | 1999-06-24 | 波形観測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3565414B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6661367B2 (en) | 2001-03-19 | 2003-12-09 | International Business Machines Corporation | Non-destructive probing system and a method thereof |
| JP2010127626A (ja) * | 2008-11-25 | 2010-06-10 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
| US20110208461A1 (en) * | 2010-02-24 | 2011-08-25 | Tatung Company | Measurement correcting system and method thereof |
-
1999
- 1999-06-24 JP JP17836699A patent/JP3565414B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6661367B2 (en) | 2001-03-19 | 2003-12-09 | International Business Machines Corporation | Non-destructive probing system and a method thereof |
| JP2010127626A (ja) * | 2008-11-25 | 2010-06-10 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
| US20110208461A1 (en) * | 2010-02-24 | 2011-08-25 | Tatung Company | Measurement correcting system and method thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3565414B2 (ja) | 2004-09-15 |
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