JP2001002448A - プリフォームから製造される光ファイバに水素が拡散するのを防ぐ障壁層を含むプリフォームと、そのようなプリフォームの調製方法 - Google Patents

プリフォームから製造される光ファイバに水素が拡散するのを防ぐ障壁層を含むプリフォームと、そのようなプリフォームの調製方法

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JP2001002448A JP2000122055A JP2000122055A JP2001002448A JP 2001002448 A JP2001002448 A JP 2001002448A JP 2000122055 A JP2000122055 A JP 2000122055A JP 2000122055 A JP2000122055 A JP 2000122055A JP 2001002448 A JP2001002448 A JP 2001002448A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 水素をほとんど透過せず、十分な強度を有す
る光ファイバを、工業的に製造することを可能にする光
ファイバプリフォームを提供する。 【解決手段】 外側シースが、内側領域と、0.08R
〜2.2Rの範囲内にある厚さの、アルミナでドープさ
れたシリカからなる周辺領域とを備え、周辺領域内のア
ルミナの重量比が、全体としての外側シース中のアルミ
ナの当量濃度が、シリカに対するアルミニウムの重量で
100ppm〜1000ppmの範囲内にあるようにす
る光ファイバプリフォーム。前記プリフォームを製造す
る方法、および関連する光ファイバ。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、シリカベースであ
り、半径Rのコアとシースとを備える光ファイバプリフ
ォームであって、前記シースが、コアと直接接触する
「クラッド」と呼ばれる光学内側部分と、「外側シー
ス」と呼ばれる外側部分とを備え、前記外側シースが、
アルミナでドープされたシリカからなる光ファイバプリ
フォームに関する。本発明はまた、前記プリフォームを
製造する方法、および前記プリフォームに線引きを行う
ことによって製造される光ファイバに関する。
【0002】
【従来の技術】光導体は、一般に通信に使用される。シ
リカベースの光ファイバは、通常、およそ1300ナノ
メートル〜1550ナノメートルの範囲内の波長でデー
タを搬送する。そのような光ファイバは、光波のほとん
どを搬送するコアと、クラッドとによって構成される光
学活性部から形成され、コアとクラッドは異なる屈折率
を有する。このようなファイバは、通常、光学的に活性
化せず、クラッドと共に光ファイバのシースを形成する
「外側シース」と呼ばれる外周部も有する。光ファイバ
は、幾何的に断面がほぼ同じプリフォームから引かれる
ため、光ファイバを製造するプリフォームについても、
同じ用語「コア」、「クラッド」、および「外側シー
ス」を使用する。各ファイバは、ポリマー材料からなる
被覆によって保護されており、そのような保護被覆は、
しばしば着色ポリマーからなる他の被覆で覆われる。1
組の光ファイバをひとまとめに集めて、リボンを形成す
ることもできる。この場合、リボンのファイバをひとま
とめに保持する「マトリックス」と呼ばれる材料もポリ
マーである。通信ケーブルでは、個々の光ファイバ、ま
たは光ファイバのリボンが、通常、金属製またはプラス
チック材料製のチューブ内に配置される。
【0003】水素はファイバの伝送特性を低下させるた
め、光ファイバを水素にさらしてはならないことが知ら
れている。ファイバが受ける水素分圧が高くなると、そ
の分だけ低下が進む。水素は、特に、ファイバ被覆また
はリボンマトリックスの材料であるポリマーの分解によ
って生じる。水素はまた、光ファイバを含むチューブ内
にファイバを保持するため、およびチューブが破損また
は損傷を受けた場合に水分が進入するのを防ぐために、
ケーブル内に一般に配置されているフィラー物質の分解
によって生じることもある。そのようなタイプの分解
は、当然、エージングによって起こる。
【0004】特許GB−B−2145240号は、光プ
リフォームに線引きを行うことによって光ファイバを製
造することに言及しており、異なる屈折率を有するコア
およびクラッドからなる光学活性部と、シリカに加えて
酸化物のリストに属するドーパントを含む外側シースと
からなる前記光ファイバを記述する。酸化物のリストの
中で、アルミナについて言及され、ホウ素酸化物が好ま
しい。プリフォームを製造する方法も、そのようなプリ
フォームの構成も、明記されていない。最終的な光ファ
イバの構成が例示的に与えられ、図に示されている。そ
の光ファイバは、ドープされたシリカからなり、半径が
R、直径が2Rに相当する50μmのコアと、コアを取
り囲み、光ファイバの直径を125μmすなわち5Rに
するシースとを備え、シースは、直径を90μmすなわ
ち3.6Rにするクラッドと、厚さが17.5μmすな
わち0.7Rの外側シースとを備える。前記外側シース
中の酸化物濃度は、外側シースの組成物に対する酸化物
の重量で、1%〜20%の範囲内にあることが好まし
い。
【0005】このように形成された外側シース中に大量
のアルミナが存在すると、ドープされた外側シースの粘
度が非常に低くなるため、適切な条件下でプリフォーム
から光ファイバを製造することに、特に線引き中の直径
の安定性に関して問題が生じる。シリカ中にわずか1重
量%のAlだけを有すると、一般に受け入れられ
る公差範囲125±0.5μmに維持することが難し
く、公差が125±1.5μmになる。これにより、光
ファイバを互いに接続することに問題が生じる。
【0006】さらに、得られた外側シースが、機械特性
について良好な性能を提供することが重要であり、特許
GB−B−2145240に記載されたシースなど非常
に厚い外側シースは、特に引張り試験を受けたときに、
性能を低下させる可能性がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、水素
をほとんど透過せず、十分な強度を有する光ファイバ
を、工業的に製造することを可能にすることである。
【0008】
【課題を解決するための手段】このために、本発明は、
シリカベースであり、半径Rのコアとシースとを備える
光ファイバプリフォームであって、前記シースが、コア
と直接接触する「クラッド」と呼ばれる光学的内側部分
と、「外側シース」と呼ばれる外側部分とを備え、前記
外側シースが、アルミナでドープされたシリカからな
り、外側シース自体が、クラッドに直接接触する「内部
領域」と呼ばれる内側部分と、内部領域に直接接触し
「周辺領域」と呼ばれ、主にアルミナでドープされたシ
リカを備える外側部分とを備え、前記周辺領域の厚さが
0.08R〜2.2Rの範囲内にあり、周辺領域中のア
ルミナの重量比は、全体としての外側シース中のアルミ
ナ当量濃度が、シリカに対するアルミニウムの重量で1
00ppm〜1000ppmの範囲内にあるようになっ
ている光ファイバプリフォームを提供する。
【0009】周辺領域中のアルミナの重量比は、全体と
しての外側シース中のアルミナの当量濃度が、シリカに
対するアルミニウムの重量で100ppm〜500pp
mの範囲内にあるようになっていることが好ましい。
【0010】周辺領域の厚さは、0.08R〜1.5R
の範囲内にあることが好ましい。
【0011】当量濃度は、全体としての外側シースの体
積(周辺領域の体積だけではなく)の重量%単位で、周
辺領域中に含まれるアルミナの量として規定することが
できる。プリフォームは、一般に、幾何的にほぼ同じ断
面の光ファイバに引かれるため、当量濃度は、プリフォ
ームでも光ファイバでも同じである。例として、特許G
B−B−2145240では、外側シースの全体の組成
に対するアルミナの重量で1%の最小濃度が、外側シー
ス中のシリカに対するアルミナの重量で1.01%の濃
度を与える。これは次いで、外側シース中に含まれるシ
リカに対するアルミナの重量%単位での、当量濃度10
100ppmを与える。したがって、アルミナのモル質
量をアルミニウムのモル質量で割った比が、1.888
になり、計算によって、外側シース中に含まれるシリカ
に対するアルミニウムの重量で、約5350ppmとい
うアルミナの当量濃度が得られる。
【0012】周辺領域のアルミナ濃度は、通常、前記周
辺領域の厚さ全体にわたって一定であるが、連続的な様
式または不連続な様式で、半径方向に変化させることも
できる。
【0013】本発明の光ファイバプリフォームは、従来
技術の欠点を軽減する外側シースのアルミナ濃度および
アルミナ厚さの範囲を利用する。すなわち、得られる外
側シースは、機械特性に関して良好な性能を提供し、か
つ光ファイバを前記プリフォームから適切な方法で、特
に、一般に受け入れられる公差範囲内で安定な光ファイ
バ直径に製造することができる粘度を提供する。
【0014】本発明のプリフォームは、有利には、アル
ミナでドープされたシリカの周辺領域を有し、該周辺領
域は、幾何的にほぼ同じ様に引かれると、前記プリフォ
ームから製造された光ファイバに高い強度を与える。そ
のような周辺領域は、通常、線引き中に融解されるた
め、粗度が低くなっていることに留意されたい。
【0015】さらに、前記プリフォームから製造される
光ファイバの周辺領域の前駆体である周辺領域の適切な
厚さにより、圧縮下の周辺領域を得ることが可能にな
り、これが前記光ファイバの機械特性を大幅に改善す
る。圧縮下の領域とは、領域を圧縮することがその作用
である長手方向応力を有する領域と規定される。主な破
壊機構が、表面割れの発生および伝搬にあることをガラ
スの破壊機構が示す。ファイバの表面を圧縮下に置くこ
とによって、そのような伝搬現象が回避される。
【0016】最後に、周辺領域がプリフォームの光コア
から比較的離れていることが、有利に、水素を光学活性
部からできるだけ離して遮断し、従って、前記プリフォ
ームから製造される光ファイバの減衰を増大させる危険
を最小限に抑えることを可能にする。
【0017】一実施形態では、内部領域は、また、周辺
領域の比率よりも小さい比率のアルミナを含み、全体と
しての外側シース中のアルミナの当量濃度が、シリカに
対するアルミニウムの重量で50ppm〜200ppm
の範囲内にあるようにする。内側領域中のアルミナの比
率は、全体としての外側シース中のアルミナの当量濃度
が、シリカに対するアルミニウムの重量で50ppm〜
150ppmの範囲内にあるようになっていることが好
ましい。内側領域中のアルミナ濃度は、通常、前記内側
領域の厚さ全体にわたって一定であるが、連続的な様式
でまたは不連続な様式で、半径方向に変化させることも
できる。
【0018】そのような実施形態により、有利には、光
学活性部を水素から保護することが可能になり、一方、
前記プリフォームから製造される光ファイバに関する強
度について、アルミナでより高くドープされた周辺領域
の利点をも提供する。
【0019】有利には、前記実施形態は、プリフォーム
の周辺からそのコアへより緩慢に減少するアルミナ濃度
を有する、周辺領域とクラッドの間の物理的および化学
的な遷移をできるようにする。
【0020】本発明はまた、本発明の上述したシリカベ
ースの光ファイバプリフォームを製造する方法を提供
し、前記周辺領域は、アルミナでドープされたシリカの
層を少なくとも1層、外部に堆積することによって形成
される。
【0021】本発明の方法は、アルミナでドープされた
周辺領域を、当業者によく知られた堆積技法を使用する
ことによって、非常に正確に配置することを可能にする
という利点を提供する。本発明の方法はまた、アモルフ
ァスアルミナシリカ二成分組成物を堆積することを可能
にするという利点を提供する。二成分組成物のアモルフ
ァス性質が、水素拡散に対する有効な障壁となる。逆
に、結晶性のアルミナシリカ二成分組成物は、水素が、
結晶中の結晶粒界を介して、または拡散チャネルを介し
て、プリフォームから製造される光ファイバを通過する
ことを可能にする。
【0022】本発明の方法の一実施態様では、外部堆積
法が、プラズマビルドアップによって行われる。プラズ
マビルドアップ技法など横方向外部堆積技法を使用する
ことによってプリフォームを製造することは知られてお
り、例えば、特許出願EP−A1−0 450 465
に記載されている。本発明の方法の他の実施態様では、
外部堆積法が、「外付け法」(「OVD」)によって行
われる。外部堆積法は、また、ゾルゲル法、含浸、気相
堆積、蒸着など他の方法を使用して行うこともできる。
【0023】最後に、本発明は、本発明のプリフォーム
に線引きを行うことによって製造される光ファイバを提
供する。
【0024】本発明のプリフォームは、有利には、前記
プリフォームから光ファイバを製造することが、線引き
タワーによる光ファイバの製造にしばしば使用される線
引き速度に適合するようになっており、その速度は、通
常、毎分数百メートル程度である。さらに、そのような
堆積は、処置が行われるのがプリフォーム上であるた
め、既存の線引きタワーを維持することを可能にする。
さらに、そのような堆積は、工業的な線引き条件、特に
線引き方法を調整するための光ファイバ直径に関する公
差に適合する。
【0025】限定しない例として与えられた以下の説明
を、図1〜3を参照して読むことにより、本発明がより
良く理解され、他の特徴および利点が明らかになるであ
ろう。
【0026】
【発明の実施の形態】図1に示されるように、一次プリ
フォーム24は、例えば、内付け化学気相堆積(MCV
D)法を使用して、任意にドープされたシリカベースの
層を内部に堆積して、チューブ22内部に光コア20と
クラッド21を形成する。その後このようにして内部に
並べられたチューブをつぶして、一次プリフォーム24
を構成するバーに変形する。次いで、シリカベースの層
を外部に堆積して、一次プリフォーム24上にビルドア
ップ領域23を形成することによって、(最終的な)プ
リフォーム3を作成する。超高純度シリカからなるチュ
ーブ22を使用することが好ましい。そのような外部堆
積は、プラズマを使用してビルドアップを行う場合につ
いて、図2に関連して説明される。
【0027】図1に示されるように、ビルドアップ領域
23の形成は、一次プリフォーム24上に粒子の形でシ
リカを堆積することから始まる。プラズマの存在下で、
シリカの粒子は、単に一次プリフォーム24と平行に並
進移動されるノズル5によって構成される供給管路か
ら、重力により堆積されるにすぎない。シリカの粒子
は、プラズマにより約2300℃の温度にさらされるこ
とによって溶融し、次いでガラス化する。ビルドアップ
操作は、電磁妨害およびプラズマトーチ4によって放出
されるオゾンに対する保護を提供するように、閉じられ
たチャンバ内で行われる。
【0028】本発明では、最初にノズル5を用いてシリ
カ粒子を堆積して、ビルドアップ領域23の一部分26
を形成する。この部分の組成は、チューブ22の組成と
ほぼ同一、すなわち超高純度シリカである。部分26と
チューブ22が一緒になって、外側シース28の内部領
域27を形成する。次いで、ノズル5内でシリカの粒子
と混合されたアルミナ微粒子が、ビルドアップ23の周
辺領域25に堆積され、周辺領域は、ビルドアップ領域
23に堆積される最外層の全てを備える。また、第1の
供給管路を介してシリカを送達すること、および第1の
シリカ供給管路5に十分に近いプラズマトーチ4の近傍
で開いている第2の供給管路を介して、アルミナ微粒子
を送達することが可能である。上述したように、ビルド
アップ領域23の周辺領域25にアルミナ微粒子を供給
することにより、熱線引きによって工業的に光ファイバ
15を製造することが可能になり、この光ファイバは、
従来技術の光ファイバよりも水素に耐性がある。したが
って、本発明のビルドアッププリフォーム3は、部分2
6および周辺領域25からなるビルドアップ領域23を
含んで得られる。前記プリフォーム3の外側シース28
は、チューブ22と、部分26および周辺領域25をそ
れ自体備えるビルドアップ領域23とを備える。本発明
の実施形態では、ビルドアップ領域23の一部分26
を、領域25に使用されるよりも小さい比率のアルミナ
でドープすることが可能である。アルミナ微粒子は、シ
リカ粒子の純度と一次プリフォーム24のシリカチュー
ブ22の純度とに応じて、シリカの粒子に対するある比
率で供給される。
【0029】図2は、透明窓2を備えるエンクロージャ
1と、長手方向軸Xの真上に見られるプリフォーム3と
を含む、プラズマビルドアップ装置の概略図であり、プ
リフォーム3に向かって、プラズマトーチ4と、ビルド
アップ粒子を供給するためのノズル5とが向けられてい
る。エンクロージャ1の外側では、窓2の後部に配置さ
れたCCDカメラ6が、プリフォーム3に向けられてい
る。カメラは、向いている位置でのプリフォームの直径
の測定値を、ビルドアッププロセスを制御する制御装置
8に、リンク7を介して伝送される値の形で送る。装置
8は、複数リンク9を介して、ビルドアッププロセスの
状態に関する他の指示を受信する。一定の粒子流量で、
ビルドアッププロセスを進める内部プログラムの作用の
下で、制御装置11に供給する出力リンク10を介し
て、装置8が、プリフォーム3に対するノズル5の位置
決めを制御するための制御値を送り、それに応じて、軸
Xに平行な軸に沿ってずらすことによって、ノズル5を
位置決めする。装置8はまた、出力複数リンク12を介
して、制御プロセスの他の態様を決定する他の制御値も
送る。
【0030】図2に示される装置の要素はすべて、当業
者によく知られている。図示されていない他の要素もよ
く知られている。例えば、欧州特許出願EP−A1−0
440 130は、回転および並進で動かしながらプ
リフォーム3を支持する手段と、X軸に平行に並進移動
させながらプラズマトーチ4とノズル5を支持するため
のキャリッジと、プリフォーム3の角度位置およびキャ
リッジの長手方向位置を決定する手段とを記述してい
る。一体となり、知られている方法で、これらの手段
は、プリフォーム3が成長するにつれて、プリフォーム
3をトーチ4から離れるように移動させることを可能に
する。測定パス中にプリフォーム3上の連続的な位置に
カメラ6を向けることを可能にする手段も知られてお
り、この手段は、動きが第1のキャリッジの動きに連結
された第2のキャリッジの形であってよい。
【0031】プラズマビルドアップは、右から左へ、次
いで左から右へのパスにおいて行われ、そのパス中、プ
ラズマトーチ4とノズル5が、プリフォーム3の長さに
沿って動く。
【0032】制御プロセス全体は、ビルドアップに関す
る所与の並進速度で、所与の屈折率プロファイルについ
て、堆積されるシリカの量に関して高効率を得るように
最適化される。同時に、カメラ6が測定パスを行い、長
さ全体にわたってプリフォーム3の直径の連続的な値を
送る。
【0033】図3は、プリフォーム3から開始して得ら
れる、幾何的にほぼ同じ断面の光ファイバ15の概略断
面図である。
【0034】光ファイバ15は、本発明のビルドアップ
一次プリフォーム3に熱線引きを行うことによって製造
される。図3に、共にシリカベースの光学活性部を形成
する光コア30とクラッド31と、領域32と、部分3
6およびアルミナでドープされたシリカの周辺領域35
からなるビルドアップ領域33とを示す。図1と比較す
ると、領域32はチューブ22に相当し、領域34は一
次プリフォーム24に相当し、領域37は内側領域27
に相当し、領域38は外側シース28に相当する。部分
36は意図的にはドープされないが、そのアルミナ含有
量が周辺領域35の含有量よりも少ないなら、アルミナ
がどこから来るかに応じていくらかのアルミナ含有量を
有する可能性がある。
【0035】以下の例は本発明の範囲を限定せずに例示
する。
【0036】[例] 例1 約381ppmに等しい当量濃度でのアルミナの
使用 一次プリフォームは、直径9R、すなわち半径4.5R
のバーであり、そのバーにプラズマビルドアップを行
い、チューブ22は半径2.9Rと半径4.5Rの間に
延びた。まず、純シリカの層を厚さ7.7Rにわたり堆
積して、一次プリフォームを半径12.2Rのバーに変
形した。次いで、厚さ1.3Rであってアルミナを含む
周辺領域を形成し、それにより直径13.5Rのプリフ
ォーム3を形成した。天然シリカに対するアルミニウム
の重量比で濃度2000ppmのアルミナ微粒子Al
を、ビルドアップ領域23の厚さ25にわたって一
次プリフォーム24をビルドアップするために使用し
た。次いで、周辺領域堆積物25の当量濃度を、全体と
してのビルドアップ領域23に関して、天然シリカに対
するアルミニウムの重量で約381ppmに等しくし
た。
【0037】最大サイズが、一般に、数十マイクロメー
トル(μm)の超高純度品質のアルミナ微粒子を使用し
た。サイズが0.1μmよりも小さいパイロジェニック
アルミナ微粒子を使用して、ビルドアップ領域23の一
部25内での微粒子の均一な分散を容易にすることが好
ましい。
【0038】本発明のビルドアップ一次プリフォーム3
から始めて、85gの線引き張力下での熱線引きによっ
て、光ファイバ15を製造した。一般に、線引き張力
は、10g〜250gの範囲内にあり、30g〜150
gの範囲内にあることが好ましい。
【0039】次いで、前記光ファイバ15の水素透過性
能を、1気圧(1atm=1.01325×10
a)下、70℃で400時間試験した。試験にかけたフ
ァイバ15によって得られた1550nmでの減衰は、
0.048dB/kmであった。ビルドアップの周辺領
域34中にアルミナが存在しないこと以外は同一の条件
下で製造され、水素試験後の減衰が0.07dB/km
に等しい標準的な光ファイバと比較すると、減衰におけ
る改良は約31%だった。
【0040】さらに、光ファイバ15の引張り強度性能
を、引張り試験によって試験した。そのような試験は、
ファイバへの引張りを適用し、ファイバを破断するのに
必要な力を測定する標準試験である。50本のファイバ
に試験を実施して、統計的分布を得た。その分布では、
上記で規定した標準の光ファイバに関する平均値が57
ニュートンであるのに対し、ファイバ15に関する平均
値が60ニュートンであった。すなわち、前記標準の光
ファイバと比較して5%〜10%の範囲の改良が得られ
た。
【0041】前記ファイバ15の応力プロファイルを、
複屈折に基づく方法を使用して、表面の圧縮を測定する
ことによって求めた。複屈折は、「四分の一波長板」法
から得られる光学的方法を使用することによって、ファ
イバの速い軸に沿って伝搬する偏光と、その遅い軸に沿
って伝搬する偏光との経路長の差によって測定される。
表面の圧縮は、上記で規定した標準的な光ファイバの圧
縮の値が5μmにわたって5MPaであるのに対して、
5μmにわたって40MPaであり、この測定の精度は
±10%と推定される。
【0042】例2 約762ppmに等しい当量濃度で
のアルミナの使用 一次プリフォーム24は、直径9R、すなわち半径4.
5Rのチューブであり、そのチューブにプラズマビルド
アップを行い、チューブ22は半径2.9Rと半径4.
5Rの間で延びた。まず、純シリカの層を厚さ7.7R
にわたり堆積して、一次プリフォームを半径12.2R
のバーに変形した。次いで、厚さ1.3Rであってアル
ミナを含む周辺領域を形成し、それにより直径13.5
Rのプリフォーム3を形成した。天然シリカに対するア
ルミニウムの重量比で濃度4000ppmのアルミナ微
粒子Alを、ビルドアップ領域23の周辺領域2
5に一次プリフォーム24をビルドアップするために使
用した。次いで、周辺領域堆積25の当量濃度を、全体
としてのビルドアップ領域23に関して、天然シリカに
対するアルミニウムの重量で約762ppmに等しくし
た。
【0043】アルミナ源は例1のものと同様であった。
例1と同じ方法で、本発明のビルドアップ一次プリフォ
ーム3から始めて、85gの線引き張力下での熱線引き
によって光ファイバ15を製造した。
【0044】次いで、前記光ファイバ15の水素透過性
能を、1気圧(1atm)下、70℃で400時間試験
した。試験にかけたファイバ15によって得られた15
50nmでの減衰は、0.049dB/kmであった。
ビルドアップの周辺領域34中にアルミナが存在しない
こと以外は同一の条件下で製造され、水素試験後の減衰
が0.07dB/kmである標準的な光ファイバと比較
すると、減衰における改良は約30%だった。
【0045】当然、本発明の方法は、本明細書に記述し
た例に限定されない。特に、プラズマビルドアップ法に
ついて使用できるだけでなく、OVD、ゾルゲル法、含
浸、気相堆積、蒸着など他の方法についても使用するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】MCVD法を使用して作成された一次プリフォ
ームから始めて、本発明の方法を使用して得られた光フ
ァイバプリフォームの概略断面図である。
【図2】本発明の方法が実施されるプラズマビルドアッ
プ装置の概略図である。
【図3】図2に示されるプリフォーム3から始めて得ら
れる光ファイバの概略断面図である。
【符号の説明】
1 エンクロージャ 2 透明窓 3 プリフォーム 4 プラズマトーチ 5 ノズル 6 CCDカメラ 7 リンク 8 制御装置 9 複数リンク 10 出力リンク 11 制御装置 12 出力複数リンク 20 光コア 21 クラッド 22 チューブ 23 ビルドアップ領域 24 一次プリフォーム 25 周辺領域 27 内部領域 28 外側シース
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ジエラール・オルセ フランス国、78600・メゾン・ラフイツト、 アブニユ・ボシユ、2

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シリカベースであり、半径Rのコアとシ
    ースとを備える光ファイバプリフォームであって、前記
    シースが、コアに直接接触する「クラッド」と呼ばれる
    光学内側部分と、「外側シース」と呼ばれる外側部分と
    を備え、前記外側シースが、アルミナでドープされたシ
    リカからなり、外側シース自体が、クラッドに直接接触
    する「内側領域」と呼ばれる内側部分と、前記内側領域
    に直接接触し「周辺領域」と呼ばれ、主にアルミナでド
    ープされたシリカを備える外側部分とを備え、前記周辺
    領域の厚さが0.08R〜2.2Rの範囲内にあり、周
    辺領域中のアルミナの重量比は、全体としての外側シー
    ス中のアルミナの当量濃度が、シリカに対するアルミニ
    ウムの重量で100ppm〜1000ppmの範囲内に
    あるようになっている光ファイバプリフォーム。
  2. 【請求項2】 周辺領域中のアルミナの重量比が、全体
    としての外側シース中のアルミナの当量濃度が、シリカ
    に対するアルミニウムの重量で100ppm〜500p
    pmの範囲内にあるようになっている請求項1に記載の
    プリフォーム。
  3. 【請求項3】 周辺領域の厚さが、0.08R〜1.5
    Rの範囲内にある請求項1に記載のプリフォーム。
  4. 【請求項4】 内側領域が、また、周辺領域の比率より
    も小さい比率のアルミナを含み、全体としての外側シー
    ス中のアルミナの当量濃度が、シリカに対するアルミニ
    ウムの重量で50ppm〜200ppmの範囲内にある
    ようになっている請求項1に記載のプリフォーム。
  5. 【請求項5】 内側領域内のアルミナの比率が、全体と
    しての外側シース中のアルミナの当量濃度が、シリカに
    対するアルミニウムの重量で50ppm〜150ppm
    の範囲内にあるようになっている請求項4に記載のプリ
    フォーム。
  6. 【請求項6】 前記周辺領域が、アルミナでドープされ
    たシリカの少なくとも1つの層を外部に堆積することに
    よって形成される請求項1に記載のプリフォームを製造
    する方法。
  7. 【請求項7】 外部堆積法が、プラズマビルドアップに
    よって行われる請求項6に記載の方法。
  8. 【請求項8】 外部堆積法が、OVDによって行われる
    請求項6に記載の方法。
  9. 【請求項9】 請求項1に記載のプリフォームに熱線引
    きを行うことによって製造された、または請求項6によ
    って製造された光ファイバ。
JP2000122055A 1999-04-26 2000-04-24 プリフォームから製造される光ファイバに水素が拡散するのを防ぐ障壁層を含むプリフォームと、そのようなプリフォームの調製方法 Expired - Fee Related JP4744670B2 (ja)

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