JP2000280520A - 画像形成装置 - Google Patents
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- JP2000280520A JP2000280520A JP11086837A JP8683799A JP2000280520A JP 2000280520 A JP2000280520 A JP 2000280520A JP 11086837 A JP11086837 A JP 11086837A JP 8683799 A JP8683799 A JP 8683799A JP 2000280520 A JP2000280520 A JP 2000280520A
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- laser light
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザの発光が不可能になった時点で始めて
レーザの劣化がわかり、この時点でレーザを交換するに
は準備期間を含めてかなりの時間を必要とし、すぐには
交換できない。 【解決手段】 レーザ光源42の電流を検出する手段
(R,63)と、検出された電流と予め設定された基準
値を比較する手段とを具備し、検出された電流が基準値
以上になった時にレーザ光源42のレーザパワーを低下
させることにより、レーザ光源の寿命を延ばすように
し、レーザ光源を交換するための準備期間を確保する。
レーザの劣化がわかり、この時点でレーザを交換するに
は準備期間を含めてかなりの時間を必要とし、すぐには
交換できない。 【解決手段】 レーザ光源42の電流を検出する手段
(R,63)と、検出された電流と予め設定された基準
値を比較する手段とを具備し、検出された電流が基準値
以上になった時にレーザ光源42のレーザパワーを低下
させることにより、レーザ光源の寿命を延ばすように
し、レーザ光源を交換するための準備期間を確保する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複写機、プリン
タ、ファクシミリ等の画像形成装置、特に、レーザ光源
の劣化の検出に関するものである。
タ、ファクシミリ等の画像形成装置、特に、レーザ光源
の劣化の検出に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図5は従来例の画像形成装置のレーザ駆
動回路を含むレーザ制御装置を示すブロック図である。
まず、図中44は半導体レーザ42とそのレーザ光の一
部を検出するPDセンサ41が一体に構成されたレーザ
チップである。また、45はパルス電流源、46はオフ
セット電流源、47はバイアス電流源、58は画像処理
部、59は画像処理部58を含むシステム全体を制御す
るシステムコントローラである。このようなレーザ制御
装置においては、半導体レーザ42の光をPDセンサ4
1で検出し、センサ41の検出信号に基づいて半導体レ
ーザ42の光量を一定にする制御を行っている。これ
は、APC(オートパワーコントロール)と呼ばれ、例
えば、レーザビームの主走査方向への走査の1ライン毎
に行っている(ラインAPCという)。
動回路を含むレーザ制御装置を示すブロック図である。
まず、図中44は半導体レーザ42とそのレーザ光の一
部を検出するPDセンサ41が一体に構成されたレーザ
チップである。また、45はパルス電流源、46はオフ
セット電流源、47はバイアス電流源、58は画像処理
部、59は画像処理部58を含むシステム全体を制御す
るシステムコントローラである。このようなレーザ制御
装置においては、半導体レーザ42の光をPDセンサ4
1で検出し、センサ41の検出信号に基づいて半導体レ
ーザ42の光量を一定にする制御を行っている。これ
は、APC(オートパワーコントロール)と呼ばれ、例
えば、レーザビームの主走査方向への走査の1ライン毎
に行っている(ラインAPCという)。
【0003】図6はこのラインAPCを行う場合のタイ
ムチャート、図7はレーザ42の発光特性を示してい
る。図6(a)は画像処理部58から出力されるDAT
A信号、図6(c)はBIAS信号である。まず、画像
処理部58は主走査方向の1ラインの走査に先立って図
6(c)のように時刻t1 〜t2 間でBIAS信号をハ
イレベルとし、レーザ42のバイアスAPCを行う。即
ち、この時、図7のようにバイアス電流源47からレー
ザ42にバイアス電流IB が供給されており、この状態
でスイッチ56をオンし、一定のオフセット電流I
offsetをレーザ42に供給してバイアス電流源47のA
PCを行う。オフセット電流を供給するのは図7に示す
ようにレーザ発光領域でAPCを行うためである。
ムチャート、図7はレーザ42の発光特性を示してい
る。図6(a)は画像処理部58から出力されるDAT
A信号、図6(c)はBIAS信号である。まず、画像
処理部58は主走査方向の1ラインの走査に先立って図
6(c)のように時刻t1 〜t2 間でBIAS信号をハ
イレベルとし、レーザ42のバイアスAPCを行う。即
ち、この時、図7のようにバイアス電流源47からレー
ザ42にバイアス電流IB が供給されており、この状態
でスイッチ56をオンし、一定のオフセット電流I
offsetをレーザ42に供給してバイアス電流源47のA
PCを行う。オフセット電流を供給するのは図7に示す
ようにレーザ発光領域でAPCを行うためである。
【0004】また、バイアス電流は装置の待機時にレー
ザに電流を流す場合があり、バイアスAPCはこのバイ
アス電流を設定するためのものである。この時のAPC
について説明すると、レーザ42に前述のように2つの
電流源46,47から電流を供給し、レーザ42を点灯
する。レーザ42のレーザ光の一部はPDセンサ41で
検出され、PDセンサ41の光電流はI/V回路(電流
電圧変換器)49で電圧信号に変換される。一方、画像
処理部58は図6(d)に示すようにBIAS信号に同
期してB−S/Hをローレベルとし、S/H(サンプル
/ホールド)回路50によりI/V回路49の電圧信号
をサンプル/ホールドする。
ザに電流を流す場合があり、バイアスAPCはこのバイ
アス電流を設定するためのものである。この時のAPC
について説明すると、レーザ42に前述のように2つの
電流源46,47から電流を供給し、レーザ42を点灯
する。レーザ42のレーザ光の一部はPDセンサ41で
検出され、PDセンサ41の光電流はI/V回路(電流
電圧変換器)49で電圧信号に変換される。一方、画像
処理部58は図6(d)に示すようにBIAS信号に同
期してB−S/Hをローレベルとし、S/H(サンプル
/ホールド)回路50によりI/V回路49の電圧信号
をサンプル/ホールドする。
【0005】S/H回路50でホールドされた信号は差
動増幅器54で電子VR(ボリューム)52の基準電圧
Ref2と比較され、その差に応じた信号をバイアス電
流源47に出力する。バイアス電流源47のバイアス電
流は差動増幅器54の出力信号により制御され、バイア
ス電流源47のバイアス電流は電子VR52から与えら
れた基準電圧に相当する目標光量となるように制御され
る。バイアスAPCを完了すると、画像処理部58は図
6(c),(d)のようにBIAS信号をローレベル、
B−S/H信号をハイレベルとし、スイッチ56をオフ
して電流源46のオフセット電流を遮断する。この時、
S/H回路50の出力は固定され、図6に示すようにバ
イアス電流源47からAPCにより設定されたバイアス
電流IBがレーザ42に供給される。
動増幅器54で電子VR(ボリューム)52の基準電圧
Ref2と比較され、その差に応じた信号をバイアス電
流源47に出力する。バイアス電流源47のバイアス電
流は差動増幅器54の出力信号により制御され、バイア
ス電流源47のバイアス電流は電子VR52から与えら
れた基準電圧に相当する目標光量となるように制御され
る。バイアスAPCを完了すると、画像処理部58は図
6(c),(d)のようにBIAS信号をローレベル、
B−S/H信号をハイレベルとし、スイッチ56をオフ
して電流源46のオフセット電流を遮断する。この時、
S/H回路50の出力は固定され、図6に示すようにバ
イアス電流源47からAPCにより設定されたバイアス
電流IBがレーザ42に供給される。
【0006】次いで、画像処理部58は図6(a),
(b)のように時刻t3 〜t4 間でDATA信号をハイ
レベル、T−S/H信号をローレベルとしてトータルA
PCを行う。即ち、スイッチ57をオンし、パルス電流
源45からレーザ42に電流を供給し、レーザ42の光
量をPDセンサ41で検出する。PDセンサ41の電流
はI/V回路49で電圧信号に変換され、S/H回路5
1によりI/V回路49の出力信号をサンプル/ホール
ドする。S/H回路51の出力信号は差動増幅器55で
電子VR52の基準電圧Ref1と比較され、その差に
応じた信号をパルス電流源45に出力する。
(b)のように時刻t3 〜t4 間でDATA信号をハイ
レベル、T−S/H信号をローレベルとしてトータルA
PCを行う。即ち、スイッチ57をオンし、パルス電流
源45からレーザ42に電流を供給し、レーザ42の光
量をPDセンサ41で検出する。PDセンサ41の電流
はI/V回路49で電圧信号に変換され、S/H回路5
1によりI/V回路49の出力信号をサンプル/ホール
ドする。S/H回路51の出力信号は差動増幅器55で
電子VR52の基準電圧Ref1と比較され、その差に
応じた信号をパルス電流源45に出力する。
【0007】パルス電流源45の電流は差動増幅器55
の出力信号により制御され、電子VR52の基準電圧に
相当する目標光量となるように制御される。このように
してトータルAPCを行い、レーザ42に図7に示すよ
うにバイアスAPCよる電流IB ,トータルAPCによ
る電流IT が供給され、レーザ42のレーザ光量は目標
値POPに制御される。トータルAPCを完了すると、画
像処理部58は図6(a),(b)のようにDATA信
号をローレベル、T−S/H信号をハイレベルとし、ス
イッチ57をオフしてパルス電流源45の電流を遮断す
る。この時、S/H回路51の出力は固定され、パルス
電流源45はトータルAPCによる電流IT を保持して
いる。
の出力信号により制御され、電子VR52の基準電圧に
相当する目標光量となるように制御される。このように
してトータルAPCを行い、レーザ42に図7に示すよ
うにバイアスAPCよる電流IB ,トータルAPCによ
る電流IT が供給され、レーザ42のレーザ光量は目標
値POPに制御される。トータルAPCを完了すると、画
像処理部58は図6(a),(b)のようにDATA信
号をローレベル、T−S/H信号をハイレベルとし、ス
イッチ57をオフしてパルス電流源45の電流を遮断す
る。この時、S/H回路51の出力は固定され、パルス
電流源45はトータルAPCによる電流IT を保持して
いる。
【0008】次いで、画像処理部58は図6(a)のよ
うに時刻t5 で再度DATA信号をハイレベルとし、ス
イッチ57をオンし、パルス電流源45からレーザ42
に電流を供給する。即ち、レーザ42のBD発光を行
い、図示しない回転多面鏡からの反射光をBDセンサ
(図示せず)により検出し、得られたBD信号を用いて
主走査方向の書き出しのタイミングを決定する。以下、
画像データに応じてスイッチ57を駆動し、光変調され
たレーザ光を主走査方向に走査することにより、感光体
上に1ラインの書き込みを行う。
うに時刻t5 で再度DATA信号をハイレベルとし、ス
イッチ57をオンし、パルス電流源45からレーザ42
に電流を供給する。即ち、レーザ42のBD発光を行
い、図示しない回転多面鏡からの反射光をBDセンサ
(図示せず)により検出し、得られたBD信号を用いて
主走査方向の書き出しのタイミングを決定する。以下、
画像データに応じてスイッチ57を駆動し、光変調され
たレーザ光を主走査方向に走査することにより、感光体
上に1ラインの書き込みを行う。
【0009】一方、APCと平行して時刻t3 〜t4 間
においてコンパレータ53はI/V回路49の出力信号
と基準電圧Vref1を比較し、レーザ42の光量を監視し
ている。もし、I/V回路49の出力が基準電圧よりも
大きいと、コンパレータ53から画像処理部58にリミ
ット信号が出力され、システムコントローラ59はリミ
ット信号に応じて一時レーザ42を消灯した後、レーザ
42を点灯させる。これは、APC時にレーザ42の異
常発光を検出し、レーザ42の劣化や破壊を防ぐために
行う。図8はこのリミット動作を示している。時刻t6
でI/V回路49の出力が基準電圧を越えると、コンパ
レータ53の出力はハイレベルとなり、システムコント
ローラ59はレーザ42を消灯する。そして、一定時間
後の時刻t7 で再度レーザ42を点灯し、異常がなけれ
ばそのまま点灯する。
においてコンパレータ53はI/V回路49の出力信号
と基準電圧Vref1を比較し、レーザ42の光量を監視し
ている。もし、I/V回路49の出力が基準電圧よりも
大きいと、コンパレータ53から画像処理部58にリミ
ット信号が出力され、システムコントローラ59はリミ
ット信号に応じて一時レーザ42を消灯した後、レーザ
42を点灯させる。これは、APC時にレーザ42の異
常発光を検出し、レーザ42の劣化や破壊を防ぐために
行う。図8はこのリミット動作を示している。時刻t6
でI/V回路49の出力が基準電圧を越えると、コンパ
レータ53の出力はハイレベルとなり、システムコント
ローラ59はレーザ42を消灯する。そして、一定時間
後の時刻t7 で再度レーザ42を点灯し、異常がなけれ
ばそのまま点灯する。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】図9は半導体レーザの
劣化特性を示す図である。実線はレーザの劣化前、破線
は劣化後の特性を示している。レーザはしきい値電流I
th以下の電流ではダイオード発光し、しきい値電流を越
えるとレーザ発光する。経年変化等によりレーザが劣化
すると、しきい値電流が増大し、傾きも劣化前ηと劣化
後η′の比較で明らかなように小さくなる。そのため、
同じ光量Pを得るには、劣化前の電流IOPに対し劣化後
は電流IOP′を必要とし、より大きな駆動電流を供給す
る必要がある。更に、劣化が進むと、レーザの電流は絶
対最大定格Imax を越えてしまい、破壊に至る。
劣化特性を示す図である。実線はレーザの劣化前、破線
は劣化後の特性を示している。レーザはしきい値電流I
th以下の電流ではダイオード発光し、しきい値電流を越
えるとレーザ発光する。経年変化等によりレーザが劣化
すると、しきい値電流が増大し、傾きも劣化前ηと劣化
後η′の比較で明らかなように小さくなる。そのため、
同じ光量Pを得るには、劣化前の電流IOPに対し劣化後
は電流IOP′を必要とし、より大きな駆動電流を供給す
る必要がある。更に、劣化が進むと、レーザの電流は絶
対最大定格Imax を越えてしまい、破壊に至る。
【0011】しかしながら、従来の技術においては、前
述のようにレーザの光量のみモニターしているので、レ
ーザの発光が不可能になった時点で始めてレーザの劣化
がわかるようになっていた。そのため、例えば、工場出
荷時に既にレーザが劣化していて、市場で劣化が進み、
破壊に至る恐れがあった。また、レーザの劣化がわかっ
た時点でレーザを交換するには、複雑な光学調整が必要
であるため、準備期間を含めてかなりの時間を必要と
し、すぐにはレーザの交換を完了しないので、装置を使
えない期間が発生し、サービスが低下するという問題が
あった。
述のようにレーザの光量のみモニターしているので、レ
ーザの発光が不可能になった時点で始めてレーザの劣化
がわかるようになっていた。そのため、例えば、工場出
荷時に既にレーザが劣化していて、市場で劣化が進み、
破壊に至る恐れがあった。また、レーザの劣化がわかっ
た時点でレーザを交換するには、複雑な光学調整が必要
であるため、準備期間を含めてかなりの時間を必要と
し、すぐにはレーザの交換を完了しないので、装置を使
えない期間が発生し、サービスが低下するという問題が
あった。
【0012】本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされ
たもので、レーザ光源の電流が基準値以上になった時に
レーザパワーを低下させることにより、レーザ光源の寿
命を延ばし、レーザの交換のための基準期間を確保する
ことが可能な画像形成装置を提供することを目的とす
る。
たもので、レーザ光源の電流が基準値以上になった時に
レーザパワーを低下させることにより、レーザ光源の寿
命を延ばし、レーザの交換のための基準期間を確保する
ことが可能な画像形成装置を提供することを目的とす
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、レーザ
光源の光量を所定の光量に制御する光量制御回路を備
え、前記レーザ光源を画像信号に応じて駆動し、前記レ
ーザ光源からの変調されたレーザ光を像担持体上に導光
することにより、前記像担持体上に潜像を形成する画像
形成装置において、前記レーザ光源の電流を検出する手
段と、検出された電流と予め設定された基準値を比較す
る手段と、検出された電流が基準値以上になった時に前
記レーザ光源のレーザパワーを低下させる手段とを備え
たことを特徴とする画像形成装置によって達成される。
光源の光量を所定の光量に制御する光量制御回路を備
え、前記レーザ光源を画像信号に応じて駆動し、前記レ
ーザ光源からの変調されたレーザ光を像担持体上に導光
することにより、前記像担持体上に潜像を形成する画像
形成装置において、前記レーザ光源の電流を検出する手
段と、検出された電流と予め設定された基準値を比較す
る手段と、検出された電流が基準値以上になった時に前
記レーザ光源のレーザパワーを低下させる手段とを備え
たことを特徴とする画像形成装置によって達成される。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の画像
形成装置の一実施形態の全体構成を示す図である。図1
において、まず、1は原稿給紙装置、2は原稿台ガラス
である。原稿給紙装置1から原稿台ガラス2上に原稿が
給送されると、ランプ3が点灯し、且つ、スキャナーユ
ニット4がスキャンして原稿を照明する。原稿からの反
射光はミラー5、6、7、レンズ8を経由してイメージ
センサ部9に導かれ、イメージセンサ部9により画像情
報として読み取られる。イメージセンサ部9で読み取ら
れた画像信号は一時画像メモリ(図示せず)に蓄積さ
れ、その後、再度読み出されて露光制御部10に供給さ
れる。
て図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の画像
形成装置の一実施形態の全体構成を示す図である。図1
において、まず、1は原稿給紙装置、2は原稿台ガラス
である。原稿給紙装置1から原稿台ガラス2上に原稿が
給送されると、ランプ3が点灯し、且つ、スキャナーユ
ニット4がスキャンして原稿を照明する。原稿からの反
射光はミラー5、6、7、レンズ8を経由してイメージ
センサ部9に導かれ、イメージセンサ部9により画像情
報として読み取られる。イメージセンサ部9で読み取ら
れた画像信号は一時画像メモリ(図示せず)に蓄積さ
れ、その後、再度読み出されて露光制御部10に供給さ
れる。
【0015】露光制御部10では、画像信号に応じて半
導体レーザを駆動し、画像信号に応じて変調されたレー
ザ光を感光体11の主走査方向に走査し、感光体11上
に原稿の潜像を形成していく。この潜像は現像器12
(または13)により現像され、感光体11上にトナー
像が形成される。一方、潜像の形成動作とタイミングを
合わせて用紙カセット14(または15)から用紙が給
送され、転写器16により感光体11上のトナー像は用
紙に転写される。この用紙は定着器17に搬送され、定
着器17にてトナー像は用紙に定着され、その後、排紙
部18から機外に排出される。
導体レーザを駆動し、画像信号に応じて変調されたレー
ザ光を感光体11の主走査方向に走査し、感光体11上
に原稿の潜像を形成していく。この潜像は現像器12
(または13)により現像され、感光体11上にトナー
像が形成される。一方、潜像の形成動作とタイミングを
合わせて用紙カセット14(または15)から用紙が給
送され、転写器16により感光体11上のトナー像は用
紙に転写される。この用紙は定着器17に搬送され、定
着器17にてトナー像は用紙に定着され、その後、排紙
部18から機外に排出される。
【0016】図2は露光制御部10の構成を示す平面図
である。図2において、まず、44は半導体レーザ42
とPDセンサ41から成るレーザチップである。レーザ
42は画像信号に応じて駆動され、レーザ42から発し
たレーザ光はコリメータレンズ35、絞り32によりほ
ぼ平行光とされ、所定のビーム径で回転多面鏡33に入
射する。回転多面鏡33は矢印方向に等角速度で回転し
ていて、この回転に伴い入射したレーザ光は連続的に角
度を変える偏光ビームとなって反射される。この反射ビ
ームはf−θレンズ34により集光作用、歪曲収差の補
正が行われ、感光体11の矢印6で示す主走査方向に等
速で走査し、感光体11上に1ラインの潜像が形成され
る。
である。図2において、まず、44は半導体レーザ42
とPDセンサ41から成るレーザチップである。レーザ
42は画像信号に応じて駆動され、レーザ42から発し
たレーザ光はコリメータレンズ35、絞り32によりほ
ぼ平行光とされ、所定のビーム径で回転多面鏡33に入
射する。回転多面鏡33は矢印方向に等角速度で回転し
ていて、この回転に伴い入射したレーザ光は連続的に角
度を変える偏光ビームとなって反射される。この反射ビ
ームはf−θレンズ34により集光作用、歪曲収差の補
正が行われ、感光体11の矢印6で示す主走査方向に等
速で走査し、感光体11上に1ラインの潜像が形成され
る。
【0017】以下、回転多面鏡33の回転により感光体
11上に順次1ラインづつ潜像が形成される。なお、3
6はBDセンサであり、図6で説明したように主走査方
向の走査の開始時にレーザ42を点灯し、この際に回転
多面鏡33の反射光を検出し、BD信号を出力する。こ
のBD信号は主走査方向の書き出し開始位置の同期をと
るのに用いられる。
11上に順次1ラインづつ潜像が形成される。なお、3
6はBDセンサであり、図6で説明したように主走査方
向の走査の開始時にレーザ42を点灯し、この際に回転
多面鏡33の反射光を検出し、BD信号を出力する。こ
のBD信号は主走査方向の書き出し開始位置の同期をと
るのに用いられる。
【0018】図3はレーザ駆動回路を含むレーザ制御装
置の構成を示すブロック図である。なお、図3では図5
の従来装置と同一部分は同一符号を付して説明を省略す
る。また、図3においても図5、図6で説明したように
1ラインの走査毎にバイアスAPC、トータルAPCを
行い、レーザ42の光量を所望の光量に制御するが、こ
のAPCは従来と同様であるので説明は省略する。本実
施形態では、レーザ42と直列に抵抗器Rが接続され、
レーザ42の電流を検出している。抵抗器Rに流れる電
流は差動増幅器63により電圧信号として検出され、A
/Dコンバータ65に出力される。
置の構成を示すブロック図である。なお、図3では図5
の従来装置と同一部分は同一符号を付して説明を省略す
る。また、図3においても図5、図6で説明したように
1ラインの走査毎にバイアスAPC、トータルAPCを
行い、レーザ42の光量を所望の光量に制御するが、こ
のAPCは従来と同様であるので説明は省略する。本実
施形態では、レーザ42と直列に抵抗器Rが接続され、
レーザ42の電流を検出している。抵抗器Rに流れる電
流は差動増幅器63により電圧信号として検出され、A
/Dコンバータ65に出力される。
【0019】A/Dコンバータ65は差動増幅器63の
出力電圧をデジタル信号に変換し、画像処理部58に出
力する。画像処理部58はA/Dコンバータ65の出力
値、即ち、レーザ42の電流値を監視していて、レーザ
42の電流が予め設定された基準電流を越えると、レー
ザ42の光量を低下させるように制御を行う。具体的に
は、レーザ42の光量はAPCにより目標値に制御され
ており、レーザ42の電流は前述のように劣化に伴って
増加していく。画像処理部58では、図4に示すように
レーザ42の電流がIT を越えると、レーザ42のその
時の光量POPをPOP′に低下し、レーザ42の書き込み
時のレーザパワーを変更する。即ち、レーザ42が劣化
したことを検出し、レーザパワーを低下させることによ
りレーザ42の寿命を延ばすように制御を行う。
出力電圧をデジタル信号に変換し、画像処理部58に出
力する。画像処理部58はA/Dコンバータ65の出力
値、即ち、レーザ42の電流値を監視していて、レーザ
42の電流が予め設定された基準電流を越えると、レー
ザ42の光量を低下させるように制御を行う。具体的に
は、レーザ42の光量はAPCにより目標値に制御され
ており、レーザ42の電流は前述のように劣化に伴って
増加していく。画像処理部58では、図4に示すように
レーザ42の電流がIT を越えると、レーザ42のその
時の光量POPをPOP′に低下し、レーザ42の書き込み
時のレーザパワーを変更する。即ち、レーザ42が劣化
したことを検出し、レーザパワーを低下させることによ
りレーザ42の寿命を延ばすように制御を行う。
【0020】レーザパワーをPOPからPOP′に低下させ
るには、画像処理部58では電子VR52の基準電圧R
ef1またはRef2を変更することによりバイアス電
流、またはトータル電流を低下させる。即ち、図4に示
すようにレーザ42のバイアス電流をIB ′からIb ′
に変更し、バイアスAPCの動作により目標光量を低下
させ、またはトータル電流IT をIt に変更し、トータ
ルAPCの動作より目標光量を低下させる。なお、バイ
アス電流とトータル電流の両方を低下させてもよい。
るには、画像処理部58では電子VR52の基準電圧R
ef1またはRef2を変更することによりバイアス電
流、またはトータル電流を低下させる。即ち、図4に示
すようにレーザ42のバイアス電流をIB ′からIb ′
に変更し、バイアスAPCの動作により目標光量を低下
させ、またはトータル電流IT をIt に変更し、トータ
ルAPCの動作より目標光量を低下させる。なお、バイ
アス電流とトータル電流の両方を低下させてもよい。
【0021】また、画像処理部58はレーザ42の劣化
を検出すると、システムコントローラ59にレーザ劣化
信号を出力し、システムコントローラ59はこの信号を
受けると、表示部60にレーザ劣化のサービスマンコー
ルを表示し、レーザ42が劣化したことを通知する。同
時に、システムコントローラ59は遠隔地から装置の故
障診断を行う遠隔診断システム61を通してサービスセ
ンタ62に同様のレーザ劣化信号を送信し、レーザの交
換を促すメッセージを表示する。これにより、サービス
マンもしくはサービスセンタ62では、直ちにレーザの
交換のための準備を行い、レーザの寿命を延ばしている
間にレーザの交換を行う。
を検出すると、システムコントローラ59にレーザ劣化
信号を出力し、システムコントローラ59はこの信号を
受けると、表示部60にレーザ劣化のサービスマンコー
ルを表示し、レーザ42が劣化したことを通知する。同
時に、システムコントローラ59は遠隔地から装置の故
障診断を行う遠隔診断システム61を通してサービスセ
ンタ62に同様のレーザ劣化信号を送信し、レーザの交
換を促すメッセージを表示する。これにより、サービス
マンもしくはサービスセンタ62では、直ちにレーザの
交換のための準備を行い、レーザの寿命を延ばしている
間にレーザの交換を行う。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、レ
ーザ光源の電流が所定の基準電流以上になった時にレー
ザ光源の劣化を検出し、レーザ光源のレーザパワーを低
下させているので、レーザの寿命を延ばすことができ、
その間にレーザの交換のための準備期間を確保すること
ができる。従って、レーザ光源を交換するのに待つ時間
を必要とせず、装置を使用できない期間が発生すること
もないので、サービスの低下を防止することができる。
また、劣化したレーザ光源を搭載した装置の出荷を未然
に防止することができる。
ーザ光源の電流が所定の基準電流以上になった時にレー
ザ光源の劣化を検出し、レーザ光源のレーザパワーを低
下させているので、レーザの寿命を延ばすことができ、
その間にレーザの交換のための準備期間を確保すること
ができる。従って、レーザ光源を交換するのに待つ時間
を必要とせず、装置を使用できない期間が発生すること
もないので、サービスの低下を防止することができる。
また、劣化したレーザ光源を搭載した装置の出荷を未然
に防止することができる。
【図1】本発明の画像形成装置の一実施形態の構成を示
す図である。
す図である。
【図2】図1の露光制御部を示す平面図である。
【図3】図1の実施形態のレーザ制御装置を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図4】レーザ光源のレーザパワーを低下させる動作を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図5】従来例の画像形成装置のレーザ制御装置を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図6】図5のレーザ制御装置のAPCのタイミングを
示す図である。
示す図である。
【図7】レーザ光源の発光特性を示す図である。
【図8】従来装置のリミット動作を示す図である。
【図9】レーザ光源の劣化特性を示す図である。
9 イメージセンサ部 10 露光制御部 11 感光体 33 回転多面鏡 41 PDセンサ 42 半導体レーザ 45 パルス電流源 47 バイアス電流源 49 I/V回路 50,51 S/H回路 53 コンパレータ 54,55,63 差動増幅器 56,57 スイッチ 58 画像処理部 59 システムコントローラ 60 表示部 61 遠隔診断システム 65 A/Dコンバータ R 抵抗器
Claims (4)
- 【請求項1】 レーザ光源の光量を所定の光量に制御す
る光量制御回路を備え、前記レーザ光源を画像信号に応
じて駆動し、前記レーザ光源からの変調されたレーザ光
を像担持体上に導光することにより、前記像担持体上に
潜像を形成する画像形成装置において、前記レーザ光源
の電流を検出する手段と、検出された電流と予め設定さ
れた基準値を比較する手段と、検出された電流が基準値
以上になった時に前記レーザ光源のレーザパワーを低下
させる手段とを備えたことを特徴とする画像形成装置。 - 【請求項2】 前記レーザパワー低下手段は、前記光量
制御回路のバイアスAPCによるバイアス電流又はトー
タルAPCによるトータル電流の少なくとも一方の電流
を減少させることにより、レーザ光源のレーザパワー又
は電流を低下させることを特徴とする請求項1に記載の
画像形成装置。 - 【請求項3】 前記検出手段により検出された電流が基
準電流以上になった時に前記レーザ光源が劣化したこと
を表示部に表示することを特徴とする請求項1に記載の
画像形成装置。 - 【請求項4】 前記検出手段により検出された電流が基
準電流以上になった時に前記レーザ光源が劣化したこと
を遠隔地から故障診断を行う遠隔診断システムに通知す
ることを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11086837A JP2000280520A (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11086837A JP2000280520A (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 画像形成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000280520A true JP2000280520A (ja) | 2000-10-10 |
Family
ID=13897936
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11086837A Pending JP2000280520A (ja) | 1999-03-29 | 1999-03-29 | 画像形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000280520A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007334269A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2008181933A (ja) * | 2007-01-23 | 2008-08-07 | Seiko Epson Corp | レーザ光源装置の駆動方法、レーザ光源装置、画像表示装置、モニタ装置、照明装置 |
JP2009200242A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Fujitsu Ltd | 光送信機および制御方法 |
-
1999
- 1999-03-29 JP JP11086837A patent/JP2000280520A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007334269A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
JP2008181933A (ja) * | 2007-01-23 | 2008-08-07 | Seiko Epson Corp | レーザ光源装置の駆動方法、レーザ光源装置、画像表示装置、モニタ装置、照明装置 |
JP2009200242A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Fujitsu Ltd | 光送信機および制御方法 |
EP2093849A3 (en) * | 2008-02-21 | 2010-03-17 | Fujitsu Limited | Optical transmitter |
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