JP2000258471A - 光変成器 - Google Patents
光変成器Info
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- JP2000258471A JP2000258471A JP11056533A JP5653399A JP2000258471A JP 2000258471 A JP2000258471 A JP 2000258471A JP 11056533 A JP11056533 A JP 11056533A JP 5653399 A JP5653399 A JP 5653399A JP 2000258471 A JP2000258471 A JP 2000258471A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ソフトウエア処理を必要とすることなく、広
いダイナミックレンジが得られるようにする。 【解決手段】 光源13から供給される光を光電流セン
サ11で被検出電流の大きさに応じて強度変調した光信
号とし、光信号を光変換器14で電気信号に変換して出
力するようにした光変成器において、光変換器14から
出力された電気信号を増幅する信号処理回路15と、こ
の信号処理回路15のアナログ値をデジタル値に変換す
るA/D変換器16と、デジタル値をアドレスとして設
定し、デジタル値が入力されたときデジタル値に対応し
たアドレスの補正データによりデジタル値を補正して出
力するメモリ17とを備えたものである。
いダイナミックレンジが得られるようにする。 【解決手段】 光源13から供給される光を光電流セン
サ11で被検出電流の大きさに応じて強度変調した光信
号とし、光信号を光変換器14で電気信号に変換して出
力するようにした光変成器において、光変換器14から
出力された電気信号を増幅する信号処理回路15と、こ
の信号処理回路15のアナログ値をデジタル値に変換す
るA/D変換器16と、デジタル値をアドレスとして設
定し、デジタル値が入力されたときデジタル値に対応し
たアドレスの補正データによりデジタル値を補正して出
力するメモリ17とを備えたものである。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、広いダイナミッ
クレンジで直線性誤差を小さくすることができる光変成
器に関するものである。
クレンジで直線性誤差を小さくすることができる光変成
器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図8は従来の光変成器を示す構成図であ
る。図8において、電線1に被検出電流が流れるとコア
2のギャップ2aに磁界が生じる。そして、光ファイバ
3により伝搬された光源4からの光が電線1に流れた被
検出電流の大きさに応じて、光電流センサ5において強
度変調される。この際、光電流センサ5の出力特性は非
直線性を有するので、図9に示すように理想的な特性a
にならないで、特性bとなり入力が過大になるほど誤差
が大きくなる。そこで、光電流センサ5で強度変調され
た光信号を光変換器6で電気信号に変換してA/D変換
器7でデジタル値に変換した後、非直線性を有する電気
信号をCPU8でソフトウエア処理により補正をしてか
ら出力される。
る。図8において、電線1に被検出電流が流れるとコア
2のギャップ2aに磁界が生じる。そして、光ファイバ
3により伝搬された光源4からの光が電線1に流れた被
検出電流の大きさに応じて、光電流センサ5において強
度変調される。この際、光電流センサ5の出力特性は非
直線性を有するので、図9に示すように理想的な特性a
にならないで、特性bとなり入力が過大になるほど誤差
が大きくなる。そこで、光電流センサ5で強度変調され
た光信号を光変換器6で電気信号に変換してA/D変換
器7でデジタル値に変換した後、非直線性を有する電気
信号をCPU8でソフトウエア処理により補正をしてか
ら出力される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の光変成器は上記
のように構成されているので、被検出電流に応じて検出
された電気信号をCPU8でソフトウエアにより処理し
ているため、補正処理の速度を向上させることが困難で
あるという問題点があった。さらに、光電流センサの温
度特性によるばらつきを補正することができないという
問題点があった。この発明は、以上のような問題点を解
消するためになされたもので、CPUによるソフトウエ
ア処理を必要とすることなく、広いダイナミックレンジ
が得られる光変成器を提供することを目的とするもので
ある。さらに、温度特性のばらつきを補正することがで
きる光変成器を提供することを目的とするものである。
のように構成されているので、被検出電流に応じて検出
された電気信号をCPU8でソフトウエアにより処理し
ているため、補正処理の速度を向上させることが困難で
あるという問題点があった。さらに、光電流センサの温
度特性によるばらつきを補正することができないという
問題点があった。この発明は、以上のような問題点を解
消するためになされたもので、CPUによるソフトウエ
ア処理を必要とすることなく、広いダイナミックレンジ
が得られる光変成器を提供することを目的とするもので
ある。さらに、温度特性のばらつきを補正することがで
きる光変成器を提供することを目的とするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】この発明に係わる光変成
器は、光源から供給される光を光電流センサで被検出電
流の大きさに応じて強度変調した光信号とし、光信号を
光変換器で電気信号に変換して出力するようにした光変
成器において、光変換器から出力された電気信号を増幅
する信号処理回路と、この信号処理回路のアナログ値を
デジタル値に変換するA/D変換器と、デジタル値をア
ドレスとして設定し、デジタル値が入力されたときデジ
タル値に対応したアドレスの補正データによりデジタル
値を補正して出力するメモリとを備えたものである。
器は、光源から供給される光を光電流センサで被検出電
流の大きさに応じて強度変調した光信号とし、光信号を
光変換器で電気信号に変換して出力するようにした光変
成器において、光変換器から出力された電気信号を増幅
する信号処理回路と、この信号処理回路のアナログ値を
デジタル値に変換するA/D変換器と、デジタル値をア
ドレスとして設定し、デジタル値が入力されたときデジ
タル値に対応したアドレスの補正データによりデジタル
値を補正して出力するメモリとを備えたものである。
【0005】また、光変換器から出力された電気信号を
増幅する信号処理回路と、この信号処理回路のアナログ
値をデジタル値に変換するA/D変換器と、このA/D
変換器から出力されたデジタル値を周囲温度に対応して
補正する補正データを記憶し、デジタル値及び周囲温度
が入力されたとき、デジタル値を補正データにより補正
して出力するメモリとを備えたものである。また、光変
換器から出力された電気信号を増幅する信号処理回路
と、この信号処理回路のアナログ値をデジタル値に変換
するA/D変換器と、デジタル値をアドレスとして設定
し、デジタル値が入力されたときデジタル値に対応した
アドレスの補正データを出力するメモリと、このメモリ
から出力されたデジタル値をアナログ値に変換するD/
A変換器と、このD/A変換器の出力と信号処理回路の
出力とを加算して出力する加算器とを備えたものであ
る。
増幅する信号処理回路と、この信号処理回路のアナログ
値をデジタル値に変換するA/D変換器と、このA/D
変換器から出力されたデジタル値を周囲温度に対応して
補正する補正データを記憶し、デジタル値及び周囲温度
が入力されたとき、デジタル値を補正データにより補正
して出力するメモリとを備えたものである。また、光変
換器から出力された電気信号を増幅する信号処理回路
と、この信号処理回路のアナログ値をデジタル値に変換
するA/D変換器と、デジタル値をアドレスとして設定
し、デジタル値が入力されたときデジタル値に対応した
アドレスの補正データを出力するメモリと、このメモリ
から出力されたデジタル値をアナログ値に変換するD/
A変換器と、このD/A変換器の出力と信号処理回路の
出力とを加算して出力する加算器とを備えたものであ
る。
【0006】また、光変換器から出力された電気信号を
増幅する信号処理回路と、この信号処理回路のアナログ
値をデジタル値に変換するA/D変換器と、デジタル値
をアドレスとして設定し、デジタル値が入力されたとき
デジタル値に対応したアドレスの補正データによりデジ
タル値を補正して出力するメモリと、このメモリの出力
とA/D変換器の出力とを加算して出力する加算器とを
備えたものである。また、光変換器から出力された電気
信号を増幅する第1の信号処理回路と、この第1の信号
処理回路から出力された第1のアナログ値を第1のデジ
タル値に変換する第1のA/D変換器と、第1の信号処
理回路の出力を増幅する第2の信号処理回路と、この第
2の信号処理回路から出力された第2のアナログ値を第
2のデジタル値に変換する第2のA/D変換器と、第1
のデジタル値がしきい値以下のとき切換信号を出力する
コンパレータと、第1のデジタル値と第2のデジタル値
とが入力されて、第1のデジタル値がしきい値以上のと
き第1のデジタル値を出力し、切換信号により第2のデ
ジタル値を出力する切換スイッチと、各デジタル値をア
ドレスとして設定し、各デジタル値が入力されたとき各
デジタル値に対応したアドレスの補正データにより各デ
ジタル値を補正して出力するメモリとを備えたものであ
る。さらに、光変換器から出力された電気信号を増幅す
る信号処理回路と、この信号処理回路の出力側に接続さ
れたダイオードと、このダイオードの出力側に接続され
た演算増幅器とを備えたものである。
増幅する信号処理回路と、この信号処理回路のアナログ
値をデジタル値に変換するA/D変換器と、デジタル値
をアドレスとして設定し、デジタル値が入力されたとき
デジタル値に対応したアドレスの補正データによりデジ
タル値を補正して出力するメモリと、このメモリの出力
とA/D変換器の出力とを加算して出力する加算器とを
備えたものである。また、光変換器から出力された電気
信号を増幅する第1の信号処理回路と、この第1の信号
処理回路から出力された第1のアナログ値を第1のデジ
タル値に変換する第1のA/D変換器と、第1の信号処
理回路の出力を増幅する第2の信号処理回路と、この第
2の信号処理回路から出力された第2のアナログ値を第
2のデジタル値に変換する第2のA/D変換器と、第1
のデジタル値がしきい値以下のとき切換信号を出力する
コンパレータと、第1のデジタル値と第2のデジタル値
とが入力されて、第1のデジタル値がしきい値以上のと
き第1のデジタル値を出力し、切換信号により第2のデ
ジタル値を出力する切換スイッチと、各デジタル値をア
ドレスとして設定し、各デジタル値が入力されたとき各
デジタル値に対応したアドレスの補正データにより各デ
ジタル値を補正して出力するメモリとを備えたものであ
る。さらに、光変換器から出力された電気信号を増幅す
る信号処理回路と、この信号処理回路の出力側に接続さ
れたダイオードと、このダイオードの出力側に接続され
た演算増幅器とを備えたものである。
【0007】
【発明の実施の形態】実施の形態1.図1は実施の形態
1を示す構成図である。図1において、9はギャップ9
aを有するコアで、後述の被検出電流によりギャップ9
aに磁界が生じる。10はコア9を貫通した電線で、被
検出電流が流れている。11はコア9のギャップ9aに
配置された光電流センサで、ギャップ9aに生じた磁界
により被検出電流の大きさに応じて光を強度変調して光
信号を出力する。12は光を搬送する光ファイバ、13
は光を発生する光源で、レーザーダイオード、発光ダイ
オード等で構成されている。14は光変換器で、光電流
センサ11から出力された光信号を電気信号に変換す
る。15は信号処理回路で、光変換器14から出力され
た電気信号を増幅する。16はA/D変換器で、信号処
理回路15から出力されたアナログ値をデジタル値に変
換する。17はデジタル値に対応したアドレスにデータ
を設定した不揮発性のメモリで、A/D変換器16から
出力されたデジタル値が入力されたとき、デジタル値に
対応したアドレスに設定された補正データによりA/D
変換器16から出力されたデジタル値を補正して出力す
る。
1を示す構成図である。図1において、9はギャップ9
aを有するコアで、後述の被検出電流によりギャップ9
aに磁界が生じる。10はコア9を貫通した電線で、被
検出電流が流れている。11はコア9のギャップ9aに
配置された光電流センサで、ギャップ9aに生じた磁界
により被検出電流の大きさに応じて光を強度変調して光
信号を出力する。12は光を搬送する光ファイバ、13
は光を発生する光源で、レーザーダイオード、発光ダイ
オード等で構成されている。14は光変換器で、光電流
センサ11から出力された光信号を電気信号に変換す
る。15は信号処理回路で、光変換器14から出力され
た電気信号を増幅する。16はA/D変換器で、信号処
理回路15から出力されたアナログ値をデジタル値に変
換する。17はデジタル値に対応したアドレスにデータ
を設定した不揮発性のメモリで、A/D変換器16から
出力されたデジタル値が入力されたとき、デジタル値に
対応したアドレスに設定された補正データによりA/D
変換器16から出力されたデジタル値を補正して出力す
る。
【0008】次に動作について説明する。図1におい
て、光源13から光ファイバ12を通して光電流センサ
11に伝搬された光は、光電流センサ11の電気光学効
果により電線10を流れている被検出電流に対応した光
強度変調が行われる。そして、光強度変調された光信号
は光ファイバ12を通して光変換器14に伝搬される。
光信号は光変換器14において電気信号に変換され、信
号処理回路15で増幅される。続いて、信号処理回路1
5で増幅されたアナログ値はA/D変換器16におい
て、例えば16ビットのデジタル値に変換される。そし
て、16ビットのデジタル値がメモリ17のアドレスラ
インに入力される。ここで、A/D変換器16で変換さ
れたデジタル値が、例えば1000Hであったとき、メ
モリ17のアドレスラインには同じ1000Hが入力さ
れるように回路が構成されている。そして、メモリ17
にはデジタル値をアドレスとして、予め設定した補正さ
れた出力信号が書き込まれている。
て、光源13から光ファイバ12を通して光電流センサ
11に伝搬された光は、光電流センサ11の電気光学効
果により電線10を流れている被検出電流に対応した光
強度変調が行われる。そして、光強度変調された光信号
は光ファイバ12を通して光変換器14に伝搬される。
光信号は光変換器14において電気信号に変換され、信
号処理回路15で増幅される。続いて、信号処理回路1
5で増幅されたアナログ値はA/D変換器16におい
て、例えば16ビットのデジタル値に変換される。そし
て、16ビットのデジタル値がメモリ17のアドレスラ
インに入力される。ここで、A/D変換器16で変換さ
れたデジタル値が、例えば1000Hであったとき、メ
モリ17のアドレスラインには同じ1000Hが入力さ
れるように回路が構成されている。そして、メモリ17
にはデジタル値をアドレスとして、予め設定した補正さ
れた出力信号が書き込まれている。
【0009】図2はメモリ17における補正データの設
定要領を示す説明図である。図1及び図2において、光
電流センサ11の出力信号18は電線10に流れる被検
出電流がa点までの小信号領域では入力と出力とが比例
関係にある直線性を有するが、a点を越えた大信号領域
では非直線性を有する。従って、理想的な出力信号19
を得るために、例えば光電流センサ11の出力がb点の
とき、bーc間に相当する両出力信号18,19の差を
補正データにより補正する必要がある。そこで、b点に
対応したデジタル値を1000Hとしたとき、メモリ1
7の1000H番地に補正データにより補正されたc点
の出力信号19を格納しておく。このように出力信号1
8の各点のデジタル値に対して、例えば各アドレス10
01H〜1005H対応で、順次補正データにより補正
された出力信号19を記憶しておく。
定要領を示す説明図である。図1及び図2において、光
電流センサ11の出力信号18は電線10に流れる被検
出電流がa点までの小信号領域では入力と出力とが比例
関係にある直線性を有するが、a点を越えた大信号領域
では非直線性を有する。従って、理想的な出力信号19
を得るために、例えば光電流センサ11の出力がb点の
とき、bーc間に相当する両出力信号18,19の差を
補正データにより補正する必要がある。そこで、b点に
対応したデジタル値を1000Hとしたとき、メモリ1
7の1000H番地に補正データにより補正されたc点
の出力信号19を格納しておく。このように出力信号1
8の各点のデジタル値に対して、例えば各アドレス10
01H〜1005H対応で、順次補正データにより補正
された出力信号19を記憶しておく。
【0010】ここで、光電流センサ11で検出された被
検出電流のデジタル値が例えば1000Hとしたとき、
図2に示すb点のデジタル値1000Hがメモリ17の
アドレスに入力されると、デジタル値1000Hに対応
したアドレス1000H番地のc点を示す出力信号19
が出力される。以上のように、デジタル値に対応した補
正データにより被検出電流のデジタル値を補正して出力
することにより、ハードウエアの構成のみで直線性の補
正を行うことができ、広いダイナミックレンジにおいて
被検出電流の検出精度を向上させることができる。
検出電流のデジタル値が例えば1000Hとしたとき、
図2に示すb点のデジタル値1000Hがメモリ17の
アドレスに入力されると、デジタル値1000Hに対応
したアドレス1000H番地のc点を示す出力信号19
が出力される。以上のように、デジタル値に対応した補
正データにより被検出電流のデジタル値を補正して出力
することにより、ハードウエアの構成のみで直線性の補
正を行うことができ、広いダイナミックレンジにおいて
被検出電流の検出精度を向上させることができる。
【0011】実施の形態2.図3は実施の形態2を示す
構成図である。図3において、9〜16は実施の形態1
のものと同様のものである。20はA/D変換器16か
ら出力されたデジタル値を周囲温度に対応して補正する
補正データを記憶した不揮発性のメモリで、周囲温度及
びA/D変換器16から出力されたデジタル値が入力さ
れたとき、A/D変換器16から出力されたデジタル値
を周囲温度に対応した補正データにより補正した出力信
号を出力する。次に動作について説明する。図3におい
て、光源13から光ファイバ12を通して伝搬された光
は、光電流センサ11により電線10に流れている被検
出電流に対応した光強度変調が行われる。光強度変調さ
れた光信号は光ファイバ12を通して光変換器14に伝
搬されて電気信号に変換される。アナログ値の電気信号
は信号処理回路15で増幅されてA/D変換器16で、
例えば16ビットのデジタル値に変換される。そして、
16ビットのデジタル値及び周囲温度t℃がメモリ20
に入力されると、メモリ20では入力されたデジタル値
及び周囲温度t℃に対応した補正データにより入力され
たデジタル値を補正して出力信号を出力する。以上のよ
うに、デジタル値及び周囲温度t℃に対応した補正デー
タにより被検出電流のデジタル値を補正して出力するこ
とにより、ハードウェアの構成のみで直線性及び温度補
正を行うことができ、広いダイナミックレンジにおいて
被検出電流の検出精度を向上させることができる。
構成図である。図3において、9〜16は実施の形態1
のものと同様のものである。20はA/D変換器16か
ら出力されたデジタル値を周囲温度に対応して補正する
補正データを記憶した不揮発性のメモリで、周囲温度及
びA/D変換器16から出力されたデジタル値が入力さ
れたとき、A/D変換器16から出力されたデジタル値
を周囲温度に対応した補正データにより補正した出力信
号を出力する。次に動作について説明する。図3におい
て、光源13から光ファイバ12を通して伝搬された光
は、光電流センサ11により電線10に流れている被検
出電流に対応した光強度変調が行われる。光強度変調さ
れた光信号は光ファイバ12を通して光変換器14に伝
搬されて電気信号に変換される。アナログ値の電気信号
は信号処理回路15で増幅されてA/D変換器16で、
例えば16ビットのデジタル値に変換される。そして、
16ビットのデジタル値及び周囲温度t℃がメモリ20
に入力されると、メモリ20では入力されたデジタル値
及び周囲温度t℃に対応した補正データにより入力され
たデジタル値を補正して出力信号を出力する。以上のよ
うに、デジタル値及び周囲温度t℃に対応した補正デー
タにより被検出電流のデジタル値を補正して出力するこ
とにより、ハードウェアの構成のみで直線性及び温度補
正を行うことができ、広いダイナミックレンジにおいて
被検出電流の検出精度を向上させることができる。
【0012】実施の形態3.図4は実施の形態3を示す
構成図である。図4において、9〜16は実施の形態1
のものと同様のものである。21はデジタル値に対応し
たアドレスに補正データを記憶した不揮発性のメモリ
で、光電流センサ11の出力特性が非直線性を有する領
域においてA/D変換器16からデジタル値が入力され
たとき、デジタル値に対応したアドレスの補正データを
出力する。22はD/A変換器で、入力された補正デー
タのデジタル値をアナログ値に変換して出力する。23
は加算器で、信号処理回路15から出力された被検出電
流のアナログ値とD/A変換器22から出力された補正
データのアナログ値とを加算して出力する。次に動作に
ついて説明する。図4において、光源13から光ファイ
バ12を通して伝搬された光は、光電流センサ11によ
り電線10に流れている被検出電流に対応した光強度変
調が行われる。光強度変調された光信号は光ファイバ1
2を通して光変換器14に伝搬されて電気信号に変換さ
れる。そして、光電流センサ11が直線性を有する信号
領域の被検出電流が検出されたときは、メモリ21から
の出力を後段のD/A変換器22の出力が0になるよう
なデジタル値とし、信号処理回路15の出力が加算器2
3を通して出力信号として出力される。
構成図である。図4において、9〜16は実施の形態1
のものと同様のものである。21はデジタル値に対応し
たアドレスに補正データを記憶した不揮発性のメモリ
で、光電流センサ11の出力特性が非直線性を有する領
域においてA/D変換器16からデジタル値が入力され
たとき、デジタル値に対応したアドレスの補正データを
出力する。22はD/A変換器で、入力された補正デー
タのデジタル値をアナログ値に変換して出力する。23
は加算器で、信号処理回路15から出力された被検出電
流のアナログ値とD/A変換器22から出力された補正
データのアナログ値とを加算して出力する。次に動作に
ついて説明する。図4において、光源13から光ファイ
バ12を通して伝搬された光は、光電流センサ11によ
り電線10に流れている被検出電流に対応した光強度変
調が行われる。光強度変調された光信号は光ファイバ1
2を通して光変換器14に伝搬されて電気信号に変換さ
れる。そして、光電流センサ11が直線性を有する信号
領域の被検出電流が検出されたときは、メモリ21から
の出力を後段のD/A変換器22の出力が0になるよう
なデジタル値とし、信号処理回路15の出力が加算器2
3を通して出力信号として出力される。
【0013】しかし、光電流センサ11が非直線性を有
する信号領域の被検出電流を検出したときは、A/D変
換器16から出力されたデジタル値に対応したアドレス
の補正データがメモリ21から出力される。このメモリ
21から出力されたデジタル値の補正データがD/A変
換器22でアナログ値に変換され、さらに加算器23で
加算されて出力信号となる。以上のように、光電流セン
サ11の出力特性が非直線性を有する領域では、信号処
理回路15から出力された被検出電流のアナログ値とメ
モリから出力されD/A変換器22で変換された補正デ
ータのアナログ値とを加算器23で加算することによ
り、ハードウエアの構成のみで直線性の補正を行うこと
ができるので、広いダイナミックレンジにおいて被検出
電流の検出精度を向上させることができる。
する信号領域の被検出電流を検出したときは、A/D変
換器16から出力されたデジタル値に対応したアドレス
の補正データがメモリ21から出力される。このメモリ
21から出力されたデジタル値の補正データがD/A変
換器22でアナログ値に変換され、さらに加算器23で
加算されて出力信号となる。以上のように、光電流セン
サ11の出力特性が非直線性を有する領域では、信号処
理回路15から出力された被検出電流のアナログ値とメ
モリから出力されD/A変換器22で変換された補正デ
ータのアナログ値とを加算器23で加算することによ
り、ハードウエアの構成のみで直線性の補正を行うこと
ができるので、広いダイナミックレンジにおいて被検出
電流の検出精度を向上させることができる。
【0014】実施の形態4.図5は実施の形態4を示す
構成図である。図5において、9〜16は実施の形態1
のものと同様のものであり、21は実施の形態3のもの
と同様のものである。24は加算器で、A/D変換器1
6から出力された被検出電流のデジタル値とメモリ21
から出力された補正データのデジタル値とを加算して出
力する。次に動作について説明する。図5において、光
源13から光ファイバ12を通して伝搬された光は、光
電流センサ11により電線10に流れている被検出電流
に対応した光強度変調が行われる。光強度変調された光
信号は光ファイバ12を通して光変換器14に伝搬され
て電気信号に変換される。そして、光電流センサ11が
直線性を有する信号領域の被検出電流が検出されたとき
は、メモリ21からの出力を0相当の出力にし、信号処
理回路15の出力が加算器24を通して出力信号として
出力される。
構成図である。図5において、9〜16は実施の形態1
のものと同様のものであり、21は実施の形態3のもの
と同様のものである。24は加算器で、A/D変換器1
6から出力された被検出電流のデジタル値とメモリ21
から出力された補正データのデジタル値とを加算して出
力する。次に動作について説明する。図5において、光
源13から光ファイバ12を通して伝搬された光は、光
電流センサ11により電線10に流れている被検出電流
に対応した光強度変調が行われる。光強度変調された光
信号は光ファイバ12を通して光変換器14に伝搬され
て電気信号に変換される。そして、光電流センサ11が
直線性を有する信号領域の被検出電流が検出されたとき
は、メモリ21からの出力を0相当の出力にし、信号処
理回路15の出力が加算器24を通して出力信号として
出力される。
【0015】しかし、光電流センサ11が非直線性を有
する信号領域の被検出電流を検出したときは、A/D変
換器16から出力された被検出電流のデジタル値に対応
したアドレスの補正データがメモリ21から出力され
る。そして、A/D変換器16から出力された被検出電
流のデジタル値とメモリ21から出力された補正データ
のデジタル値とが加算器24で加算されてデジタル値の
出力信号として出力される。以上のように、光電流セン
サ11の出力特性が非直線性を有する領域では、A/D
変換器16から出力された被検出電流のデジタル値とメ
モリ21から出力された補正データのデジタル値とを加
算器24で加算することにより、ハードウエアの構成の
みで直線性の補正を行うことができるので、広いダイナ
ミックレンジにおいて被検出電流の検出精度を向上させ
ることができる。
する信号領域の被検出電流を検出したときは、A/D変
換器16から出力された被検出電流のデジタル値に対応
したアドレスの補正データがメモリ21から出力され
る。そして、A/D変換器16から出力された被検出電
流のデジタル値とメモリ21から出力された補正データ
のデジタル値とが加算器24で加算されてデジタル値の
出力信号として出力される。以上のように、光電流セン
サ11の出力特性が非直線性を有する領域では、A/D
変換器16から出力された被検出電流のデジタル値とメ
モリ21から出力された補正データのデジタル値とを加
算器24で加算することにより、ハードウエアの構成の
みで直線性の補正を行うことができるので、広いダイナ
ミックレンジにおいて被検出電流の検出精度を向上させ
ることができる。
【0016】実施の形態5.図6は実施の形態5を示す
構成図である。図6において、9〜14は実施の形態1
のものと同様のものである。25は第1の信号処理回路
で、光変換器14から出力された電気信号を増幅して第
1のアナログ値を出力する。26は第1のA/D変換器
で、第1の信号処理回路25から出力された第1のアナ
ログ値を第1のデジタル値に変換して出力する。27は
第2の信号処理回路で、第1の信号処理回路25から出
力されたアナログ値を増幅して第2のアナログ値を出力
する。28は第2のA/D変換器で、第2の信号処理回
路27から出力された第2のアナログ値を第2のデジタ
ル値に変換して出力する。29はコンパレータで、第1
のA/D変換器26から出力された第1のデジタル値
が、例えば定格電流領域を含む所定のしきい値以下のと
き切換信号29aを出力する。
構成図である。図6において、9〜14は実施の形態1
のものと同様のものである。25は第1の信号処理回路
で、光変換器14から出力された電気信号を増幅して第
1のアナログ値を出力する。26は第1のA/D変換器
で、第1の信号処理回路25から出力された第1のアナ
ログ値を第1のデジタル値に変換して出力する。27は
第2の信号処理回路で、第1の信号処理回路25から出
力されたアナログ値を増幅して第2のアナログ値を出力
する。28は第2のA/D変換器で、第2の信号処理回
路27から出力された第2のアナログ値を第2のデジタ
ル値に変換して出力する。29はコンパレータで、第1
のA/D変換器26から出力された第1のデジタル値
が、例えば定格電流領域を含む所定のしきい値以下のと
き切換信号29aを出力する。
【0017】30は第1のデジタル値及び第2のデジタ
ル値が入力される切換スイッチで、第1のデジタル値が
しきい値以上で切換信号29aが出力されていないとき
は第1のデジタル信号を出力し、第1のデジタル値がし
きい値以下で切換信号29aが出力されると第2のデジ
タル値を出力する。31は第1のデジタル値及び第2の
デジタル値を補正する補正データを各デジタル値をアド
レスとして記憶した不揮発性のメモリで、切換信号29
aが入力されていないときは第1のデジタル値に対応し
た補正データにより被検出電流のデジタル値を補正して
出力し、切換信号29aが入力されたときは変換分解能
の高い第2のデジタル値に対応した補正データにより被
検出電流のデジタル値を補正して出力する。
ル値が入力される切換スイッチで、第1のデジタル値が
しきい値以上で切換信号29aが出力されていないとき
は第1のデジタル信号を出力し、第1のデジタル値がし
きい値以下で切換信号29aが出力されると第2のデジ
タル値を出力する。31は第1のデジタル値及び第2の
デジタル値を補正する補正データを各デジタル値をアド
レスとして記憶した不揮発性のメモリで、切換信号29
aが入力されていないときは第1のデジタル値に対応し
た補正データにより被検出電流のデジタル値を補正して
出力し、切換信号29aが入力されたときは変換分解能
の高い第2のデジタル値に対応した補正データにより被
検出電流のデジタル値を補正して出力する。
【0018】次に動作について説明する。図6におい
て、光源13から光ファイバ12を通して伝搬された光
は、光電流センサ11により電線10に流れている被検
出電流に対応した光強度変調が行われる。光強度変調さ
れた光信号は光ファイバ12を通して光変換器14に伝
搬されて電気信号に変換される。電気信号は第1の信号
処理回路25において増幅されて第1のアナログ値とし
て出力される。続いて、第1のアナログ値は第1のA/
D変換器26において例えば16ビットの第1のデジタ
ル値に変換されて出力される。この第1のデジタル値が
しきい値を越えているときはコンパレータ29から切換
信号29aが出力されないので、第1のデジタル値が切
換スイッチ30を経由してメモリ31へ入力される。メ
モリ31では第1のデジタル値に対応したアドレスの補
正データにより第1のA/D変換器26から出力された
被検出電流のデジタル値を補正して出力信号として出力
する。一方、第2の信号処理回路27は変換分解能を上
げるために第1のアナログ値を増幅して第2のアナログ
値を出力する。そして、第2のアナログ値を第2のA/
D変換器28で例えば16ビットの第2のデジタル値に
変換する。ここで、光電流センサ11がコンパレータ2
9に設定されたしきい値以下の被検出電流を検出したと
き、コンパレータ29から切換信号29aが出力される
ので、切換スイッチ30が作動して第2のA/D変換器
28から出力された第2のデジタル値がメモリ31へ入
力される。
て、光源13から光ファイバ12を通して伝搬された光
は、光電流センサ11により電線10に流れている被検
出電流に対応した光強度変調が行われる。光強度変調さ
れた光信号は光ファイバ12を通して光変換器14に伝
搬されて電気信号に変換される。電気信号は第1の信号
処理回路25において増幅されて第1のアナログ値とし
て出力される。続いて、第1のアナログ値は第1のA/
D変換器26において例えば16ビットの第1のデジタ
ル値に変換されて出力される。この第1のデジタル値が
しきい値を越えているときはコンパレータ29から切換
信号29aが出力されないので、第1のデジタル値が切
換スイッチ30を経由してメモリ31へ入力される。メ
モリ31では第1のデジタル値に対応したアドレスの補
正データにより第1のA/D変換器26から出力された
被検出電流のデジタル値を補正して出力信号として出力
する。一方、第2の信号処理回路27は変換分解能を上
げるために第1のアナログ値を増幅して第2のアナログ
値を出力する。そして、第2のアナログ値を第2のA/
D変換器28で例えば16ビットの第2のデジタル値に
変換する。ここで、光電流センサ11がコンパレータ2
9に設定されたしきい値以下の被検出電流を検出したと
き、コンパレータ29から切換信号29aが出力される
ので、切換スイッチ30が作動して第2のA/D変換器
28から出力された第2のデジタル値がメモリ31へ入
力される。
【0019】また、メモリ31に切換信号29aが入力
されると、第2のA/D変換器28から出力される分解
能の高いデジタル値に対応したアドレスの補正データが
選択され、この補正データにより第2のA/D変換器2
8から出力された被検出電流のデジタル値を補正して出
力信号として出力する。以上のように、第1のA/D変
換器26から出力された第1のデジタル値がしきい値以
上のときは第1のデジタル値に対応した補正データによ
り被検出電流のデジタル値を補正し、第1のデジタル値
がしきい値以下のときは分解能を高くした第2のA/D
変換器28から出力された第2のデジタル値に対応した
補正データにより被検出電流のデジタル値を補正するの
で、例えば定格電流付近のように検出精度を上げたい電
流値がしきい値内に入るように設定することにより、広
いダイナミックレンジにおいて被検出電流の検出精度を
向上させると共に、定格電流付近の検出精度をより向上
させることができる。
されると、第2のA/D変換器28から出力される分解
能の高いデジタル値に対応したアドレスの補正データが
選択され、この補正データにより第2のA/D変換器2
8から出力された被検出電流のデジタル値を補正して出
力信号として出力する。以上のように、第1のA/D変
換器26から出力された第1のデジタル値がしきい値以
上のときは第1のデジタル値に対応した補正データによ
り被検出電流のデジタル値を補正し、第1のデジタル値
がしきい値以下のときは分解能を高くした第2のA/D
変換器28から出力された第2のデジタル値に対応した
補正データにより被検出電流のデジタル値を補正するの
で、例えば定格電流付近のように検出精度を上げたい電
流値がしきい値内に入るように設定することにより、広
いダイナミックレンジにおいて被検出電流の検出精度を
向上させると共に、定格電流付近の検出精度をより向上
させることができる。
【0020】実施の形態6.図7は実施の形態6を示す
構成図である。図7において、9〜15は実施の形態1
のものと同様のものである。32a,32bは互いに逆
方向になるように並列接続されたダイオードで、信号処
理回路15の出力側に直列接続されている。33はダイ
オード32a,32bの出力側に接続された入力抵抗、
34は入力抵抗33の出力側に接続された演算増幅器、
35は演算増幅器34に並列接続された帰還抵抗であ
る。次に動作について説明する。図7において、光源1
3から光ファイバ12を通して伝搬された光は、光電流
センサ11により電線10に流れている被検出電流に対
応した光強度変調が行われる。光強度変調された光信号
は光ファイバ12を通して光変換器14に伝搬されて電
気信号に変換される。そして、電気信号は信号処理回路
15で増幅される。ダイオード32a、32bは電圧・
電流特性により小信号領域では抵抗が大きいため、演算
増幅器34の回路ゲインが小さくなる。ここで、入力抵
抗33の抵抗値をRa、帰還抵抗35の抵抗値をRb及
び各ダイオード32a、32bの抵抗値をRdとしたと
き、演算増幅器34の回路ゲインGは式(1)の通りに
なる。 G=Rb/(Ra+Rd) ・・・・・(1) しかし、大信号領域になるとダイオード32a、32b
の電圧・電流特性によりダイオード32a、32bの抵
抗成分が小さくなるので、式(1)から分かるように演
算増幅器34の回路ゲインGが大きくなる。従って、演
算増幅器34から出力される出力信号も大きくなる。
構成図である。図7において、9〜15は実施の形態1
のものと同様のものである。32a,32bは互いに逆
方向になるように並列接続されたダイオードで、信号処
理回路15の出力側に直列接続されている。33はダイ
オード32a,32bの出力側に接続された入力抵抗、
34は入力抵抗33の出力側に接続された演算増幅器、
35は演算増幅器34に並列接続された帰還抵抗であ
る。次に動作について説明する。図7において、光源1
3から光ファイバ12を通して伝搬された光は、光電流
センサ11により電線10に流れている被検出電流に対
応した光強度変調が行われる。光強度変調された光信号
は光ファイバ12を通して光変換器14に伝搬されて電
気信号に変換される。そして、電気信号は信号処理回路
15で増幅される。ダイオード32a、32bは電圧・
電流特性により小信号領域では抵抗が大きいため、演算
増幅器34の回路ゲインが小さくなる。ここで、入力抵
抗33の抵抗値をRa、帰還抵抗35の抵抗値をRb及
び各ダイオード32a、32bの抵抗値をRdとしたと
き、演算増幅器34の回路ゲインGは式(1)の通りに
なる。 G=Rb/(Ra+Rd) ・・・・・(1) しかし、大信号領域になるとダイオード32a、32b
の電圧・電流特性によりダイオード32a、32bの抵
抗成分が小さくなるので、式(1)から分かるように演
算増幅器34の回路ゲインGが大きくなる。従って、演
算増幅器34から出力される出力信号も大きくなる。
【0021】以上のように、信号処理回路15で増幅さ
れた電気信号をダイオード32a,32bを通して演算
増幅器34で増幅することにより、直線性の誤差が小さ
い小信号領域ではダイオード32a,32bの電圧・電
流特性を利用して補正データを小さくし、事故等で大電
流が流れる大信号領域では非直線性が大きくなるので、
ダイオード32a,32bの電圧・電流特性を利用して
補正データを大きくして光電流センサ11の非直線性の
補正を行うことができるため、広いダイナミックレンジ
において被検出電流の検出精度を向上させることができ
る。なお、ダイオード32a、32bの電圧・電流特性
を利用した補正開始点は、入力抵抗33及び帰還抵抗3
5の抵抗値により調整を行うことができる。上記各実施
の形態において、光電流センサ11はコア9のギャップ
9aに配置したものについて説明したが、鉛ガラス等で
構成された光ファイバを電線10の周囲に配置したもの
等、電流の大きさに応じて光強度変調できるものであれ
ば同様の効果を期待することができる。
れた電気信号をダイオード32a,32bを通して演算
増幅器34で増幅することにより、直線性の誤差が小さ
い小信号領域ではダイオード32a,32bの電圧・電
流特性を利用して補正データを小さくし、事故等で大電
流が流れる大信号領域では非直線性が大きくなるので、
ダイオード32a,32bの電圧・電流特性を利用して
補正データを大きくして光電流センサ11の非直線性の
補正を行うことができるため、広いダイナミックレンジ
において被検出電流の検出精度を向上させることができ
る。なお、ダイオード32a、32bの電圧・電流特性
を利用した補正開始点は、入力抵抗33及び帰還抵抗3
5の抵抗値により調整を行うことができる。上記各実施
の形態において、光電流センサ11はコア9のギャップ
9aに配置したものについて説明したが、鉛ガラス等で
構成された光ファイバを電線10の周囲に配置したもの
等、電流の大きさに応じて光強度変調できるものであれ
ば同様の効果を期待することができる。
【0022】
【発明の効果】この発明によれば、デジタル値に対応し
た補正データにより被検出電流のデジタル値を補正して
出力することにより、ハードウエアの構成のみで直線性
の補正を行うことができるので、補正処理の速度を向上
させることができると共に、広いダイナミックレンジに
おいて被検出電流の検出精度を向上させることができ
る。また、デジタル値及び周囲温度に対応した補正デー
タにより被検出電流のデジタル値を補正して出力するこ
とにより、ハードウェアの構成のみで直線性及び温度補
正を行うことができ、広いダイナミックレンジにおいて
被検出電流の検出精度を向上させることができる。
た補正データにより被検出電流のデジタル値を補正して
出力することにより、ハードウエアの構成のみで直線性
の補正を行うことができるので、補正処理の速度を向上
させることができると共に、広いダイナミックレンジに
おいて被検出電流の検出精度を向上させることができ
る。また、デジタル値及び周囲温度に対応した補正デー
タにより被検出電流のデジタル値を補正して出力するこ
とにより、ハードウェアの構成のみで直線性及び温度補
正を行うことができ、広いダイナミックレンジにおいて
被検出電流の検出精度を向上させることができる。
【0023】また、信号処理回路から出力された被検出
電流のアナログ値とメモリから出力されD/A変換器で
変換された補正データのアナログ値とを加算器で加算す
ることにより、ハードウエアの構成のみで直線性の補正
を行うことができるので、広いダイナミックレンジにお
いて被検出電流の検出精度を向上させることができる。
また、A/D変換器から出力された被検出電流のデジタ
ル値とメモリから出力された補正データのデジタル値と
を加算器で加算することにより、ハードウエアの構成の
みで直線性の補正を行うことができるので、広いダイナ
ミックレンジにおいて被検出電流の検出精度を向上させ
ることができる。
電流のアナログ値とメモリから出力されD/A変換器で
変換された補正データのアナログ値とを加算器で加算す
ることにより、ハードウエアの構成のみで直線性の補正
を行うことができるので、広いダイナミックレンジにお
いて被検出電流の検出精度を向上させることができる。
また、A/D変換器から出力された被検出電流のデジタ
ル値とメモリから出力された補正データのデジタル値と
を加算器で加算することにより、ハードウエアの構成の
みで直線性の補正を行うことができるので、広いダイナ
ミックレンジにおいて被検出電流の検出精度を向上させ
ることができる。
【0024】また、第1のA/D変換器から出力された
第1のデジタル値がしきい値以上のときは第1のデジタ
ル値に対応した補正データで被検出電流のデジタル値を
補正し、第1のデジタル値がしきい値以下のときは分解
能を高くした第2のA/D変換器から出力された第2の
デジタル値に対応した補正データで被検出電流のデジタ
ル値を補正するので、検出精度を上げたい電流値がしき
い値内に入るように設定することにより、広いダイナミ
ックレンジにおいて被検出電流の検出精度を向上させる
と共に、定格電流付近の検出精度をより向上させること
ができる。さらに、信号処理回路で増幅された電気信号
をダイオードを通して演算増幅器で増幅することによ
り、直線性の誤差が小さい小信号領域ではダイオードの
電圧・電流特性を利用して補正データを小さくし、事故
等で大電流が流れる大信号領域では非直線性が大きくな
るので、ダイオードの電圧・電流特性を利用して補正デ
ータを大きくして光電流センサの非直線性の補正を行う
ことができるため、広いダイナミックレンジにおいて被
検出電流の検出精度を向上させることができる。
第1のデジタル値がしきい値以上のときは第1のデジタ
ル値に対応した補正データで被検出電流のデジタル値を
補正し、第1のデジタル値がしきい値以下のときは分解
能を高くした第2のA/D変換器から出力された第2の
デジタル値に対応した補正データで被検出電流のデジタ
ル値を補正するので、検出精度を上げたい電流値がしき
い値内に入るように設定することにより、広いダイナミ
ックレンジにおいて被検出電流の検出精度を向上させる
と共に、定格電流付近の検出精度をより向上させること
ができる。さらに、信号処理回路で増幅された電気信号
をダイオードを通して演算増幅器で増幅することによ
り、直線性の誤差が小さい小信号領域ではダイオードの
電圧・電流特性を利用して補正データを小さくし、事故
等で大電流が流れる大信号領域では非直線性が大きくな
るので、ダイオードの電圧・電流特性を利用して補正デ
ータを大きくして光電流センサの非直線性の補正を行う
ことができるため、広いダイナミックレンジにおいて被
検出電流の検出精度を向上させることができる。
【図1】 この発明の実施の形態1を示す構成図であ
る。
る。
【図2】 図1における補正データの設定要領を示す説
明図である。
明図である。
【図3】 この発明の実施の形態2を示す構成図であ
る。
る。
【図4】 この発明の実施の形態3を示す構成図であ
る。
る。
【図5】 この発明の実施の形態4を示す構成図であ
る。
る。
【図6】 この発明の実施の形態5を示す構成図であ
る。
る。
【図7】 この発明の実施の形態6を示す構成図であ
る。
る。
【図8】 従来の光変成器を示す構成図である。
【図9】 図8の光電流センサの出力特性を示す説明図
である。
である。
11 光電流センサ、13 光源、14 光変換器、1
5 信号処理回路、16 A/D変換器、17,20,
21,31 メモリ、22 D/A変換器、23,24
加算器、25 第1の信号処理回路、26 第1のA
/D変換器、27 第2の信号処理回路、28 第2の
A/D変換器、29 コンパレータ、30 切換スイッ
チ、32a,32b ダイオード、34 演算増幅器。
5 信号処理回路、16 A/D変換器、17,20,
21,31 メモリ、22 D/A変換器、23,24
加算器、25 第1の信号処理回路、26 第1のA
/D変換器、27 第2の信号処理回路、28 第2の
A/D変換器、29 コンパレータ、30 切換スイッ
チ、32a,32b ダイオード、34 演算増幅器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岸本 一雄 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 越智 直輝 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 黒澤 潔 東京都千代田区内幸町1丁目1番3号 東 京電力株式会社内 (72)発明者 山下 和徳 東京都千代田区内幸町1丁目1番3号 東 京電力株式会社内 Fターム(参考) 2G025 AA08 AA13 AB10 AB14 2G035 AA03 AA04 AA17 AD19 AD23 AD26 AD35 AD38 AD65 5J092 AA02 AA56 CA02 HA01 HA19 HA44 KA53 KA55 TA01 UL01 UL07 UM06 VM09 VM11
Claims (6)
- 【請求項1】 光源から供給される光を光電流センサで
被検出電流の大きさに応じて強度変調した光信号とし、
上記光信号を光変換器で電気信号に変換して出力するよ
うにした光変成器において、上記光変換器から出力され
た上記電気信号を増幅する信号処理回路と、この信号処
理回路のアナログ値をデジタル値に変換するA/D変換
器と、上記デジタル値をアドレスとして設定し、上記デ
ジタル値が入力されたとき上記デジタル値に対応した上
記アドレスの補正データにより上記デジタル値を補正し
て出力するメモリとを備えたことを特徴とする光変成
器。 - 【請求項2】 光源から供給される光を光電流センサで
被検出電流の大きさに応じて強度変調した光信号とし、
上記光信号を光変換器で電気信号に変換して出力するよ
うにした光変成器において、上記光変換器から出力され
た上記電気信号を増幅する信号処理回路と、この信号処
理回路のアナログ値をデジタル値に変換するA/D変換
器と、このA/D変換器から出力された上記デジタル値
を周囲温度に対応して補正する補正データを記憶し、上
記デジタル値及び上記周囲温度が入力されたとき、上記
デジタル値を上記補正データにより補正して出力するメ
モリとを備えたことを特徴とする光変成器。 - 【請求項3】 光源から供給される光を光電流センサで
被検出電流の大きさに応じて強度変調した光信号とし、
上記光信号を光変換器で電気信号に変換して出力するよ
うにした光変成器において、上記光変換器から出力され
た上記電気信号を増幅する信号処理回路と、この信号処
理回路のアナログ値をデジタル値に変換するA/D変換
器と、上記デジタル値をアドレスとして設定し、上記デ
ジタル値が入力されたとき上記デジタル値に対応した上
記アドレスの補正データを出力するメモリと、このメモ
リから出力されたデジタル値をアナログ値に変換するD
/A変換器と、このD/A変換器の出力と上記信号処理
回路の出力とを加算して出力する加算器とを備えたこと
を特徴とする光変成器。 - 【請求項4】 光源から供給される光を光電流センサで
被検出電流の大きさに応じて強度変調した光信号とし、
上記光信号を光変換器で電気信号に変換して出力するよ
うにした光変成器において、上記光変換器から出力され
た上記電気信号を増幅する信号処理回路と、この信号処
理回路のアナログ値をデジタル値に変換するA/D変換
器と、上記デジタル値をアドレスとして設定し、上記デ
ジタル値が入力されたとき上記デジタル値に対応した上
記アドレスの補正データにより上記デジタル値を補正し
て出力するメモリと、このメモリの出力と上記A/D変
換器の出力とを加算して出力する加算器とを備えたこと
を特徴とする光変成器。 - 【請求項5】 光源から供給される光を光電流センサで
被検出電流の大きさに応じて強度変調した光信号とし、
上記光信号を光変換器で電気信号に変換して出力するよ
うにした光変成器において、上記光変換器から出力され
た上記電気信号を増幅する第1の信号処理回路と、この
第1の信号処理回路から出力された第1のアナログ値を
第1のデジタル値に変換する第1のA/D変換器と、上
記第1の信号処理回路の出力を増幅する第2の信号処理
回路と、この第2の信号処理回路から出力された第2の
アナログ値を第2のデジタル値に変換する第2のA/D
変換器と、上記第1のデジタル値がしきい値以下のとき
切換信号を出力するコンパレータと、上記第1のデジタ
ル値と上記第2のデジタル値とが入力されて、上記第1
のデジタル値が上記しきい値以上のとき上記第1のデジ
タル値を出力し、上記切換信号により上記第2のデジタ
ル値を出力する切換スイッチと、上記各デジタル値をア
ドレスとして設定し、上記各デジタル値が入力されたと
き上記各デジタル値に対応した上記アドレスの補正デー
タにより上記各デジタル値を補正して出力するメモリと
を備えたことを特徴とする光変成器。 - 【請求項6】 光源から供給される光を光電流センサで
被検出電流の大きさに応じて強度変調した光信号とし、
上記光信号を光変換器で電気信号に変換して出力するよ
うにした光変成器において、上記光変換器から出力され
た上記電気信号を増幅する信号処理回路と、この信号処
理回路の出力側に接続されたダイオードと、このダイオ
ードの出力側に接続された演算増幅器とを備えたことを
特徴とする光変成器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11056533A JP2000258471A (ja) | 1999-03-04 | 1999-03-04 | 光変成器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11056533A JP2000258471A (ja) | 1999-03-04 | 1999-03-04 | 光変成器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000258471A true JP2000258471A (ja) | 2000-09-22 |
Family
ID=13029744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11056533A Pending JP2000258471A (ja) | 1999-03-04 | 1999-03-04 | 光変成器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000258471A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7885559B2 (en) | 2006-08-31 | 2011-02-08 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Light amount measuring device, image forming apparatus, and toner density measuring apparatus |
JP2013513785A (ja) * | 2009-12-11 | 2013-04-22 | アーベーベー・リサーチ・リミテッド | 交換可能なサブモジュールを備えたセンサを使用する光ファイバ電流センサ |
CN103163352A (zh) * | 2013-03-21 | 2013-06-19 | 哈尔滨工业大学 | 一种混合式光学电流互感器及其实现自校正测量的方法 |
CN106443551A (zh) * | 2016-10-12 | 2017-02-22 | 长飞光纤光缆股份有限公司 | 一种全光纤电流互感器监测*** |
JP7470928B2 (ja) | 2020-08-26 | 2024-04-19 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | アーク判定装置、遮断器、アーク判定方法、及びプログラム |
-
1999
- 1999-03-04 JP JP11056533A patent/JP2000258471A/ja active Pending
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