JP2000223547A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JP2000223547A
JP2000223547A JP1863599A JP1863599A JP2000223547A JP 2000223547 A JP2000223547 A JP 2000223547A JP 1863599 A JP1863599 A JP 1863599A JP 1863599 A JP1863599 A JP 1863599A JP 2000223547 A JP2000223547 A JP 2000223547A
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substrate
unit
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processing
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JP1863599A
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English (en)
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Toshihiro Nakajima
敏博 中島
Masaki Nishida
正樹 西田
Koji Miyoshi
浩司 三好
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 搬送ロボットの周囲に基板収容部、位置決め
部、処理部、冷却部を配置すると、基板処理装置が大型
化するとともに搬送ロボットの動作の負担が大きくな
る。 【解決手段】 搬送ロボット150の周囲に位置決め部
130、処理部160および冷却部140を配置し、基
板9をキャリア91に収容する基板収容部110と位置
決め部130および冷却部140との間に受渡ロボット
120を設ける。これにより、搬送ロボット150の動
作負担を軽減することができる。また、基板収容部11
0、受渡ロボット120、位置決め部130および冷却
部140、搬送ロボット150、並びに、処理部160
をほぼ一直線上に配置することにより、デッドスペース
の少ない配置とすることができ、基板処理装置100の
小型化を図ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体装置製造
用の半導体基板、各種表示器やフォトマスク用のガラス
基板等の精密パターン形成用の基板(以下、「基板」と
いう。)に各種処理を施す基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は枚葉式にて基板に処理を施す基板
処理装置の一例を示す平面図である。図9に示す基板処
理装置900では、搬送ロボット910によりキャリア
91から未処理の基板9が取り出され、処理部920等
へ搬送されて処理され、処理済の基板9が再びキャリア
91へと戻される。このような搬送ロボット910を有
する基板処理装置900において、処理部920におけ
る処理の内容によっては処理部920以外の構成も搬送
ロボット150の周囲に放射状に配置される。
【0003】例えば、処理部920における処理が、ア
ニール、CVD(Chemical Vapor Deposition)、RTP
(Rapid Thermal Process)等のように加熱を伴う処理で
ある場合、基板9の位置決めを行う位置決め部(アライ
ナ)930や処理後の基板9を冷却する冷却部(クーリ
ングユニット)940が搬送ロボット910の周囲に設
けられる。その結果、搬送ロボット910の周囲には、
処理部920、位置決め部930、冷却部940、キャ
リア91が載置される基板収容部950等が放射状に配
置される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、基板処理装置
900のように搬送ロボット910の周囲に多数の構成
を放射状に配置する場合、基板処理装置900は搬送ロ
ボット910を中心として大型化してしまう。
【0005】また、キャリア91を搬送ロボット910
に向けて配置するにはキャリア91を搬送する無人搬送
車から基板収容部950にキャリア91を搬入した後、
基板収容部950にてキャリア91を矢印91Rにて示
すように回動させる機構が必要となる。
【0006】また、搬送ロボット910が、処理部92
0、位置決め部930、冷却部940、2つのキャリア
91と多くの位置にアクセスするため、搬送ロボット9
10の動作の負担が大きい。
【0007】さらに、搬送ロボット910が基板9を保
持する2つのハンド911を上下に有する場合に、処理
部920、位置決め部930、冷却部940等との基板
9の受け渡しを一定の高さで行う際に搬送ロボット91
0が頻繁に昇降動作を行うこととなる。搬送ロボット9
10の頻繁な昇降移動は、搬送ロボット910の動作負
担を増大させるのみならず、搬送ロボット910の搬送
空間が不活性ガスで充たされている場合にも問題が生じ
る。
【0008】例えば、搬送ロボット910が搬送室96
0内で基板9を搬送する場合、搬送ロボット910が下
降動作を行うと搬送室960内で搬送ロボット910が
占める体積が減少する。そこで、搬送室960に不活性
ガスを供給し、搬送室960の気圧の減少による外気の
進入を防止している。搬送ロボット910が頻繁に昇降
動作する場合には搬送室960に頻繁に不活性ガスを供
給する必要があり、不活性ガスの消費量が増大してしま
う。
【0009】この発明は上記様々な課題に鑑みなされた
ものであり、搬送ロボットの動作の負担を軽減すること
を主目的としている。併せて、基板処理装置の小型化、
不活性ガスの消費量の低減等を図ることも目的として
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基板
に処理を施す基板処理装置であって、基板を収容する収
容部と、前記収容部に対して基板を出し入れする第1搬
送手段と、搬入される基板に対して処理を施す処理部
と、前記処理部に対して基板を出し入れする第2搬送手
段と、前記第1搬送手段と前記第2搬送手段との間に位
置し、前記収容部から前記処理部へと搬送される基板が
一時的に載置される第1載置部と、前記第1搬送手段と
前記第2搬送手段との間であって前記第1載置部とは異
なる位置に位置し、前記処理部から前記収容部へと搬送
される基板が一時的に載置される第2載置部とを備え
る。
【0011】請求項2の発明は、請求項1に記載の基板
処理装置であって、前記収容部、前記第1搬送手段、前
記第1載置部および前記第2載置部の組合せ、前記第2
搬送手段、並びに、前記処理部が、順におよそ一直線上
に配置される。
【0012】請求項3の発明は、基板に処理を施す基板
処理装置であって、基板を保持して搬送する2つの保持
部を所定のピッチだけ隔てて有する搬送手段と、前記搬
送手段により搬入される基板に対して処理を施す処理部
と、未処理の基板が載置され、当該未処理の基板が前記
搬送手段により取り出される第1載置部と、前記搬送手
段により処理済の基板が載置される第2載置部とを備
え、前記所定のピッチの方向に関して、前記第1載置部
の受渡位置、前記処理部の受渡位置、前記第2載置部の
受渡位置が順に前記所定のピッチずつ離れている、また
は、前記所定のピッチの方向に関して、前記第1載置部
の受渡位置と前記第2載置部の受渡位置とが前記所定の
ピッチだけ離れており、前記処理部の受渡位置が前記第
1載置部若しくは前記第2載置部の受渡位置と同じ位置
である。
【0013】請求項4の発明は、請求項3に記載の基板
処理装置であって、前記搬送手段による基板の搬送空間
を形成する搬送室と、前記2つの保持部の前記所定のピ
ッチの方向の移動による前記搬送室内の減圧を補うため
に所定のガスを前記搬送室に供給するガス供給手段とを
さらに備える。
【0014】請求項5に記載の発明は、請求項1ないし
4のいずれかに記載の基板処理装置であって、前記処理
部が加熱を伴う処理を基板に施す。
【0015】請求項6に記載の発明は、請求項5に記載
の基板処理装置であって、前記第1載置部において未処
理の基板の位置決めが行われ、前記第2載置部において
処理済の基板の冷却が行われる。
【0016】
【発明の実施の形態】図1はこの発明の一の実施の形態
である基板処理装置100を示す平面図であり、図2は
正面図である。なお、図1および図2において適宜部分
的に断面図としており、細部については適宜簡略化して
いる。
【0017】図1および図2に示すように基板処理装置
100は、2つのキャリア91が載置される基板収容部
110、基板収容部110に対して基板9の出し入れを
行う受渡ロボット120、未処理の基板9の位置決めを
行う位置決め部(アライナ)130、処理済の基板9の
冷却を行う冷却部(クーラ)140、位置決め部130
や冷却部140等に対して基板9の出し入れを行う搬送
ロボット150、および、基板9に処理を施す処理部1
60を有する。
【0018】また、搬送ロボット150による基板9の
搬送空間として搬送ロボット150を収容する搬送室1
70が設けられており、位置決め部130、冷却部14
0および処理部160が搬送室170に取り付けられて
配置される。
【0019】基板収容部110はキャリア91が無人搬
送車等により搬送されて載置される部位であり、基板9
はキャリア91に収容された状態で基板処理装置100
に対して搬出入される。また、基板収容部110では、
受渡ロボット120による任意の基板9の出し入れを行
うことができるようにキャリア91が昇降移動される。
【0020】受渡ロボット120は、矢印120Sにて
示すようにスライド移動可能であるとともに矢印120
Rにて示すように回動可能とされており、これにより、
2つのキャリア91に対して基板9の出し入れを行い、
さらに、位置決め部130および冷却部140に対して
基板9の受け渡しを行う。
【0021】なお、受渡ロボット120によるキャリア
91に対する基板9の出し入れは、ハンド121のスラ
イド移動、および、キャリア91の昇降移動により行わ
れる。また、受渡ロボット120と位置決め部130ま
たは冷却部140との基板9の受け渡しは、ハンド12
1のスライド移動、および、ピン(位置決め部130や
冷却部140において基板9を突き上げるピン)による
基板9の昇降移動により行われる。
【0022】受渡ロボット120から位置決め部130
へは基板9の中心が所定の位置に位置するように基板9
が渡される。そして、位置決め部130は基板9を回転
させて基板9を適切な向きに向ける。
【0023】搬送ロボット150は鉛直方向を向く軸を
中心に矢印150Rにて示すように旋回可能とされると
ともに、複数のアームからなる2つのリンク機構を有
し、2つのリンク機構の末端にはそれぞれ基板9を保持
するハンド151a,151bが設けられる。これらの
ハンド151a,151bは上下に所定のピッチだけ隔
てて配置され、それぞれ独立して同一方向に水平にスラ
イド移動可能とされている。また、搬送ロボット150
は2つのリンク機構が設けられるベースを昇降移動する
ことにより、所定のピッチだけ離れた状態のまま2つの
ハンド151a,151bを昇降移動させる。
【0024】搬送ロボット150が位置決め部130、
処理部160または冷却部140を受け渡し相手として
基板9の受け渡し(出し入れ)を行う際には、まず、両
ハンドが受け渡し相手と対向するように旋回し、その後
(または旋回している間に)昇降移動していずれかのハ
ンドが受け渡し相手と受け渡しする高さに位置する。そ
して、ハンドを水平方向にスライド移動させて基板9の
受け渡しを行う。
【0025】処理部160はランプ161(図2参照)
からの光を基板9に照射して加熱を伴う処理を行う部位
であり、処理部160内を所定の処理ガスの雰囲気、あ
るいは減圧した後、アニール、CVD等の処理がRTP
にて行われる。
【0026】処理部160にて処理が施された直後の基
板9は温度が高いため、搬送ロボット150により冷却
部140に載置されて冷却される。冷却部140にて冷
却された基板9は処理済の基板9として受渡ロボット1
20によりキャリア91に返却される。
【0027】また、既述のように、基板処理装置100
では搬送ロボット150の周囲が搬送室170で覆わ
れ、この搬送室170に位置決め部130、冷却部14
0および処理部160が接続されるが、受渡ロボット1
20と位置決め部130および冷却部140との間には
それぞれゲート弁181,182が設けられ、搬送室1
70と位置決め部130、冷却部140および処理部1
60との間にはそれぞれゲート弁183,184,18
5が設けられる。そして、位置決め部130、冷却部1
40および搬送室170の内部が清浄に維持されるよう
にそれぞれに窒素ガス供給部190から高純度の窒素ガ
スが供給され、余剰の窒素ガスは適宜排気管(図示省
略)から排気される。なお、基板9が搬送される際に適
宜これらのゲート弁が開閉される。
【0028】また、位置決め部130および冷却部14
0は受渡ロボット120と搬送ロボット150との間の
互いに異なる位置に位置し、位置決め部130では基板
9の位置決めを行うために基板9が一時的に載置され、
冷却部140では処理済の基板9を冷却するために基板
9が一時的に載置される。
【0029】以上、基板処理装置100の構成について
説明したが、次に、基板処理装置100の動作について
簡単に説明し、さらに、搬送ロボット150の動作につ
いて詳細に説明する。
【0030】基板処理装置100では、まず、未処理の
基板9がキャリア91に複数枚収容された状態で基板収
容部110上に載置される。そして、受渡ロボット12
0がキャリア91から基板9を1枚ずつ取り出し、位置
決め部130に載置する。
【0031】位置決め部130にて位置決めが行われた
基板9は搬送ロボット150の上側のハンド151aに
より搬送室170内へと取り出され、搬送ロボット15
0が処理部160を向くように旋回する。
【0032】搬送ロボット150が処理部160に向く
と、下側のハンド151bが処理部160から先行する
処理済の基板9を取り出し、上側のハンド151aが未
処理の基板9を処理部160へと搬入する。
【0033】次に、搬送ロボット150は冷却部140
に向くように旋回し、下側のハンド151bが処理済の
基板9を冷却部140内に載置する。冷却部140にて
冷却された基板9は受渡ロボット120によりキャリア
91へと返却される。
【0034】このように、基板処理装置100では搬送
ロボット150はキャリア91との間で基板9の受け渡
しを行わず、位置決め部130、冷却部140および処
理部160のみとの間にて基板9の受け渡しを行う。そ
の結果、従来の基板処理装置900よりも搬送ロボット
150のアクセス位置の数が減少し、搬送ロボット15
0の動作は簡素なものとなる。これにより、基板処理装
置100のスループットを従来よりも向上することがで
きる。
【0035】また、従来の基板処理装置900と異な
り、搬送室170には基板収容部110が接続されない
ので、搬送室170に接続される構成を図1中のX方向
に偏在させることができる。その結果、図9に示した従
来の基板処理装置900に比べて基板処理装置100の
全体を細長くすることができる。すなわち、基板収容部
110、受渡ロボット120、位置決め部130および
冷却部140の組合せ、搬送ロボット150、並びに、
処理部160をこの順でおよそ一直線上に配置すること
ができ、図1中に示すY方向の幅を小さく抑えることが
できる。
【0036】図1に示すように、基板処理装置100を
X方向に長い構成とすることにより、従来のように放射
状に広がって無駄な空間(いわゆるデッドスペース)が
発生することを抑えることができ、基板処理装置100
の全体の大きさを小さく抑えることができる。また、搬
送室170のY方向側には他の構成が取り付けられない
ので、搬送室170や搬送ロボット150のメンテナン
スを容易に行うことができる。
【0037】次に、搬送ロボット150による基板9の
搬送中における搬送ロボット150のハンドの昇降動作
について図3を用いて説明する。なお、図3では、搬送
ロボット150と位置決め部130との間における基板
9の受け渡しは、ハンドの昇降移動およびスライド移動
により行われ、搬送ロボット150と処理部160およ
び冷却部140との間における基板9の受け渡しは処理
部160および冷却部140にて基板9をピンで突き上
げる動作およびハンドのスライド移動により行われるも
のとする。
【0038】すなわち、位置決め部130から搬送ロボ
ット150へと基板9が渡される場合には、まず、搬送
ロボット150のアームが伸びてハンド151aが位置
決め部130中の基板9の下方へと進入し、その後、ハ
ンド151aが上昇して基板9がすくい上げられる。
【0039】また、搬送ロボット150から処理部16
0や冷却部140へと基板9が渡される場合には、ま
ず、基板9を保持するハンド151a(または、ハンド
151b)が処理部160や冷却部140へと進入し、
その後、処理部160や冷却部140中の3つのピンが
下方から基板9を突き上げてハンドから基板9を取り上
げる。さらに、ハンドを退避させた後にピンを下降させ
て基板9が所定の位置に載置される。処理部160から
基板9が取り出されるときは逆の動作が行われる。
【0040】図3は、搬送ロボット150の2つのハン
ド151a,151bによる、(a)位置決め部130か
らの未処理の基板9の取り出し、(b)処理部160から
の処理済の基板9の取り出し、(c)処理部160への未
処理の基板の載置、(d)冷却部140への処理済の基板
9の載置、を左から順に模式的に示す図であり、各受け
渡し動作における左側の図はアームを伸ばしてハンドを
位置決め部130、処理部160または冷却部140へ
と挿入する際の様子を示しており、右側の図はアームを
縮めてハンドをこれらの受け渡し相手から引き出す際の
様子を示している。また、基板9を保持しているハンド
については平行斜線を施して示す。
【0041】図3(a)ないし(d)に示すように、基板処理
装置100では位置決め部130、処理部160および
冷却部140に対して基板9が受け渡しされる際のハン
ドのピッチ方向(高さ方向)のおおよその位置(以下、
「受渡位置」という。)に差が設けられている。
【0042】すなわち、処理部160と搬送ロボット1
50との間の基板9の受渡位置(以下、「処理部160
の受渡位置」という。)は、位置決め部130と搬送ロ
ボット150との間の基板9の受渡位置(以下、「位置
決め部130の受渡位置」という。)よりもおよそ両ハ
ンド151a,151b間のピッチ(距離)pだけ低く
なっている。また、冷却部140と搬送ロボット150
との間の基板9の受渡位置(以下、「冷却部140の受
渡位置」という。)は、処理部160の受渡位置よりも
およそピッチpだけ低くなっている。
【0043】なお、上記説明中の「受渡位置」は、受け
渡しの際にハンドが昇降移動する場合には昇降移動分の
幅を持たせた位置を指す。
【0044】このような配置により、まず、搬送ロボッ
ト150が位置決め部130から基板9を取り出す際に
は、両ハンド151a,151bが位置決め部130に
向かうように旋回した後、上側のハンド151aを位置
決め部130へと挿入し、さらにハンド151aを矢印
U11にて示すように上昇させ、ハンド151aを引き
出して基板9を受け取る。
【0045】次に、両ハンド151a,151bの高さ
を維持したまま搬送ロボット150が旋回して処理部1
60の方向を向き、下側のハンド151bを処理部16
0へと挿入して処理済の基板9を受け取ってハンド15
1bを引き出す。これにより、ハンド151bに処理済
の基板9が保持される。
【0046】さらに、搬送ロボット150は両ハンド1
51a,151bを矢印D12にて示すようにおよそピ
ッチpだけ下降させ、上側のハンド151aを処理部1
60へと挿入して未処理の基板9を載置し、ハンド15
1aを引き出す。
【0047】次に、搬送ロボット150は両ハンド15
1a,151bの高さを維持したまま冷却部140を向
くように旋回し、下側のハンド151bを冷却部140
に挿入して処理済の基板9を冷却部140に載置する。
その後、ハンド151bが冷却部140から引き出され
て搬送ロボット150は矢印U13にて示すようにハン
ド151a,151bを上昇させながら位置決め部13
0の方向を向くように旋回する。以上の動作を繰り返
し、搬送ロボット150が搬送室170内で基板9の搬
送を行う。
【0048】以上説明したように、基板処理装置100
では位置決め部130、処理部160、冷却部140を
これらの順におよそ両ハンド151a,151b間のピ
ッチpだけ上下方向に離して配置し、両ハンド151
a,151bの2回の上昇と1回の下降のみで基板9の
搬送を行う。なお、位置決め部130からの基板9の受
け取りの際の上昇は基板9をすくい上げるための動作に
すぎないため、実質的には1回の上昇と1回の下降によ
り基板9の搬送を実現している。
【0049】図3に示す動作は、従来の基板処理装置9
00の動作に対して簡素化された動作となっている。図
4は図9に示した従来の基板処理装置900において位
置決め部930から冷却部940に至る基板9の搬送動
作を基板処理装置100と対比して説明するための図で
ある。なお、既述のように従来の基板処理装置900の
搬送ロボット910は図4に示す動作以外にキャリア9
1との間で基板9を受け渡しする動作を行うが、図4で
は図3に対応する動作のみを示し、図4中の(a)〜(d)の
動作は図3中の(a)〜(d)の動作に対応している。
【0050】図4に示すように、従来の基板処理装置9
00では位置決め部930、処理部920および冷却部
940と搬送ロボット910との間で行われる基板9の
受け渡しの際のハンドのおよその位置(以下、上記説明
と同様に「受渡位置」という。)は全て同じ高さとされ
ており、上側のハンド911(以下、便宜上、「上側の
ハンド911a」、「下側のハンド911b」とい
う。)が位置決め部930から基板9を受け取る際に矢
印U911にて示すようにハンドが上昇する。
【0051】その後、両ハンド911a,911bがお
よそこれらのハンド間のピッチpだけ矢印U912にて
示すように上昇し、下側のハンド911bが処理部92
0から処理済の基板9を取り出す。さらに、矢印D91
3にて示すように両ハンド911a,911bがおよそ
ピッチpだけ下降し、上側のハンド911aにて未処理
の基板9が処理部920に載置される。
【0052】次に、搬送ロボット910が旋回するとと
もに矢印U914にて示すように両ハンド911a,9
11bがおよそピッチpだけ上昇し、冷却部940に基
板9が載置される。その後、両ハンド151a,151
bは矢印D915にて示すように下降して元の高さに戻
る。
【0053】図4に示すように、従来の基板処理装置9
00では位置決め部930、処理部920および冷却部
940の受渡位置がほぼ同じ高さであるため、一連の搬
送動作において搬送ロボット910の両ハンド911
a,911bは3回上昇し、2回下降する。なお、矢印
U911にて示す動作はハンド911aが位置決め部9
30から基板9をすくい上げるための動作であり、この
上昇動作を無視してもハンドは2回の上昇と2回の下降
を行わなければならない。
【0054】以上、図3および図4を用いて説明してき
たように、基板処理装置100では位置決め部130の
受渡位置が処理部160の受渡位置よりもおよそピッチ
pだけ高い位置にあり、処理部160の受渡位置が冷却
部140の受渡位置よりもおよそピッチpだけ高い位置
にあるので、搬送ロボット150の両ハンド151a,
151bの昇降移動の回数を少なくすることができる。
【0055】ハンドの昇降移動の回数を少なくすること
は、搬送ロボット150の制御を簡素化するという効果
を奏するのみならず、次のような効果も奏する。
【0056】図1に示すように、基板9が搬送される搬
送空間を清浄に維持するために搬送室170には窒素ガ
スが供給される。窒素ガスの供給は主として搬送ロボッ
ト150の両ハンド151a,151bが下降する際の
減圧を補うために行われる。すなわち、ハンド151
a,151bが下降する際にはハンドやアームを支持す
る旋回軸が下降し、旋回軸の下降分の体積だけ搬送室1
70内の空間が広がり、このとき、搬送室170内の気
圧の減少による排気側からガスの逆流を防止するために
窒素ガスの供給が行われる。
【0057】したがって、図3に示す動作の場合、窒素
ガスの供給は矢印D12にて示す動作の際に行われる。
これに対し、図4に示す従来の基板処理装置900の場
合には、矢印D913および矢印D915にて示す動作
の際に行われる。その結果、基板処理装置100では従
来の基板処理装置900よりも窒素ガスの消費量が低減
される。
【0058】図3および図4では位置決め部からの基板
9の受け取りに際して搬送ロボットがハンドを上昇さ
せ、冷却部への基板9の載置の際にはハンドが昇降移動
しない場合を例に示したが、他の例として、位置決め部
および冷却部の双方に対する基板9の受け渡しに際して
搬送ロボットがハンドを昇降させる場合の動作を図5お
よび図6に示す。なお、図5は基板処理装置100の動
作を示し、図6は従来の基板処理装置900の動作を示
す。
【0059】図5中の矢印D22および矢印U24に示
すように、基板処理装置100の動作では、処理部16
0から基板9を取り出した後におよそピッチpだけハン
ド151a,151bが下降し、冷却部140に基板9
を載置した後におよそピッチpだけハンド151a,1
51bが上昇する。また、位置決め部130から基板9
を取り出す際に両ハンド151a,151bが矢印U2
1にて示すように上昇し、冷却部140に基板9を載置
する際に両ハンド151a,151bが矢印D23にて
示すように下降する。
【0060】このように図5に示す動作では、両ハンド
151a,151bが2回下降し、2回上昇する。ま
た、基板9の受け渡しの際の両ハンド151a,151
bの昇降移動を無視すれば、両ハンド151a,151
bの上昇および下降は実質的にはそれぞれ1回ずつであ
る。
【0061】これに対し、従来の基板処理装置900の
場合には、図6中の矢印U922,D923,U92
4,D926にて示すように両ハンド911a,911
bはおよそピッチpだけ2回ずつ上昇および下降し、さ
らに、矢印U921,D925にて示すように基板9の
受け渡しに必要な昇降動作が行われる。
【0062】以上のように、図5および図6に示す例の
場合についても基板処理装置100では従来の基板処理
装置900よりもハンドの昇降移動が少ない。図3ない
し図6では、基板9の受け渡しの態様に応じたハンドの
移動の様子を示したが、基板9の受け渡しの際のハンド
の昇降を無視すれば、基板処理装置100では実質的に
はハンドのピッチpの移動は1回の上昇と1回の下降で
あり、従来の基板処理装置900ではハンドのピッチp
の移動は2回の上昇と2回の下降である。
【0063】その結果、この発明に係る基板処理装置1
00では、従来よりも搬送ロボット150の動作が簡素
化されるとともに、搬送室170に供給すべき窒素ガス
の量を低減することができる。
【0064】図3および図5では、上から順にピッチp
ずつ間隔を開けて位置決め部130、処理部160、冷
却部140を配置し、これにより、これらの図に示され
るように一連の動作において両ハンド151a,151
bの昇降移動を実質的に1回の往復動作としている。す
なわち、基板9の受け渡しの際の動作を無視すれば、両
ハンド151a,151bのおよそピッチpだけの昇降
移動は1回の上昇と1回の下降のみとしている。
【0065】このようなハンド151a,151bの昇
降移動回数の削減は、位置決め部130の受渡位置と処
理部160の受渡位置とを同じ高さにし、冷却部140
の受渡位置を処理部160等の受渡位置よりもピッチp
だけ下方に位置させても実現することができる。図7は
このような配置の場合の搬送ロボット150の両ハンド
151a,151bの昇降移動の様子を示す図であり、
両ハンド151a,151bが実質的に矢印U31,D
32にて示す昇降移動のみで必要な搬送を行うことがで
きる様子を示している。なお、図7では図3や図5に示
した基板9の受け渡しの際のハンドの昇降移動を無視し
て記載している。
【0066】一方、冷却部140の受渡位置と処理部1
60の受渡位置とを同じ高さにし、位置決め部130の
受渡位置を処理部160等の受渡位置よりもピッチpだ
け上方に位置させてもハンド151a,151bの昇降
移動回数の削減を実現することができる。図8はこのよ
うな配置の場合の搬送ロボット150の両ハンド151
a,151bの昇降移動の様子を示す図であり、両ハン
ド151a,151bが実質的に矢印D41,U42に
て示す昇降移動のみで必要な搬送を行うことができる様
子を示している。なお、図8においても図3や図5に示
した基板9の受け渡しの際のハンドの昇降移動を無視し
て記載している。
【0067】以上説明してきたように、基板処理装置1
00では位置決め部130、処理部160および冷却部
140と搬送ロボット150との間の受渡位置を同じ高
さとしないことにより、搬送ロボット150の両ハンド
151a,151bの昇降移動の回数を削減している。
【0068】このようなハンドの昇降移動の削減は、図
3や図5に示したように、両ハンド151a,151b
のピッチ方向にピッチpずつ間隔を開けて位置決め部1
30、処理部160、冷却部140の受渡位置をこの順
で位置させることにより実現され(もちろん、順序は図
3に示す順序の逆であってもよい)、図7や図8に示す
ように、位置決め部130と冷却部140との受渡位置
を両ハンド151a,151bのピッチ方向にピッチp
だけ間隔を開けて配置し、処理部160の受渡位置を位
置決め部130または冷却部140の受渡位置と同じ位
置(ピッチ方向に関して同じ位置)とすることによって
も実現される。
【0069】以上、この発明の一の実施の形態について
説明してきたが、この発明は上記実施の形態に限定され
るものではなく、様々な変形が可能である。
【0070】例えば、上記実施の形態では、基板収容部
110にキャリア91が2つ載置されるが、キャリア9
1が1つだけ載置されてもよく、3つ以上であってもよ
い。また、受渡ロボット120が2つのキャリア91間
を移動するようになっているが、受渡ロボット120が
2つ設けられてもよい。
【0071】すなわち、基板収容部110と位置決め部
130および冷却部140との間に基板9を受け渡しす
る手段を設けることにより、搬送ロボット150がアク
セスする位置の数を減少することができ、スループット
の向上を図ることができる。また、搬送経路は基板収容
部110から処理部160へと向かった後、処理部16
0にて折り返して基板収容部110へと戻る経路とな
り、図1に示すように基板処理装置100のY方向の幅
を小さくすることができる。
【0072】また、基板9はキャリア91に収容される
のではなく、専用のポッド(密閉容器)に収容されて基
板処理装置100に搬入されてもよい。特に、基板処理
装置100ではキャリア91やポッド等の基板9を収容
する容器を同一の方向に向けて配置することができるの
で、これらの容器を無人搬送車等により容易に搬送およ
び載置することができる。これにより、いわゆるミニエ
ンバイロメント機器への対応を容易に行うことができ
る。
【0073】また、搬送ロボット150の上側のハンド
151aを未処理の基板9を保持する専用のハンドとし
て設計し、下側のハンド151bを処理済の基板9を保
持する専用のハンドとして設計することにより、搬送ロ
ボット150の小型化、および搬送の信頼性の向上を図
ることができる。
【0074】また、基板処理装置100は搬送室170
等により基板9の搬送空間を清浄に保つようにしている
が、処理部160における処理の内容によっては基板9
が大気雰囲気中を搬送されてもよい。
【0075】また、上記実施の形態ではランプ161を
用いた加熱を伴う処理を行う基板処理装置100を例に
説明したが、処理の内容はどのようなものであってもよ
い。さらには、枚葉式の基板処理装置に限定されるもの
ではなく、いわゆるバッチ式であってもよい。
【0076】
【発明の効果】請求項1、2、5および6に記載の発明
では、第2搬送手段の動作負担を軽減することができ、
スループットを向上することができる。また、請求項2
に記載の発明では、基板処理装置の小型化を図ることが
できる。
【0077】請求項3、4、5および6に記載の発明で
は、搬送手段の昇降移動の回数を低減することができ
る。また、請求項4に記載の発明では、搬送室に供給さ
れる所定のガスの消費量を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一の実施の形態である基板処理装置
の平面図である。
【図2】図1に示す基板処理装置の正面図である。
【図3】この発明に係る基板処理装置による基板の受け
渡しの様子を示す図である。
【図4】従来の基板処理装置による基板の受け渡しの様
子を示す図である。
【図5】この発明に係る基板処理装置による基板の受け
渡しの他の様子を示す図である。
【図6】従来の基板処理装置による基板の受け渡しの他
の様子を示す図である。
【図7】この発明に係る基板処理装置による基板の受け
渡しのさらに他の様子を示す図である。
【図8】この発明に係る基板処理装置による基板の受け
渡しのさらに他の様子を示す図である。
【図9】従来の基板処理装置の平面図である。
【符号の説明】
9 基板 100 基板処理装置 110 基板収容部 120 受渡ロボット 130 位置決め部 140 冷却部 150 搬送ロボット 151a,151b ハンド 160 処理部 170 搬送室 190 窒素ガス供給部 p ピッチ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西田 正樹 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 (72)発明者 三好 浩司 京都市上京区堀川通寺之内上る4丁目天神 北町1番地の1 大日本スクリーン製造株 式会社内 Fターム(参考) 5F031 CA02 CA05 FA01 FA02 FA11 FA12 FA15 GA44 GA50 MA04 MA21 MA28 MA30 NA04 NA09 PA09 PA30 5F045 BB08 BB10 EB08 EJ02 EM01 EM10 EN04

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に処理を施す基板処理装置であっ
    て、 基板を収容する収容部と、 前記収容部に対して基板を出し入れする第1搬送手段
    と、 搬入される基板に対して処理を施す処理部と、 前記処理部に対して基板を出し入れする第2搬送手段
    と、 前記第1搬送手段と前記第2搬送手段との間に位置し、
    前記収容部から前記処理部へと搬送される基板が一時的
    に載置される第1載置部と、 前記第1搬送手段と前記第2搬送手段との間であって前
    記第1載置部とは異なる位置に位置し、前記処理部から
    前記収容部へと搬送される基板が一時的に載置される第
    2載置部と、を備えることを特徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の基板処理装置であっ
    て、 前記収容部、前記第1搬送手段、前記第1載置部および
    前記第2載置部の組合せ、前記第2搬送手段、並びに、
    前記処理部が、順におよそ一直線上に配置されることを
    特徴とする基板処理装置。
  3. 【請求項3】 基板に処理を施す基板処理装置であっ
    て、 基板を保持して搬送する2つの保持部を所定のピッチだ
    け隔てて有する搬送手段と、 前記搬送手段により搬入される基板に対して処理を施す
    処理部と、 未処理の基板が載置され、当該未処理の基板が前記搬送
    手段により取り出される第1載置部と、 前記搬送手段により処理済の基板が載置される第2載置
    部と、を備え、 前記所定のピッチの方向に関して、前記第1載置部の受
    渡位置、前記処理部の受渡位置、前記第2載置部の受渡
    位置が順に前記所定のピッチずつ離れている、または、
    前記所定のピッチの方向に関して、前記第1載置部の受
    渡位置と前記第2載置部の受渡位置とが前記所定のピッ
    チだけ離れており、前記処理部の受渡位置が前記第1載
    置部若しくは前記第2載置部の受渡位置と同じ位置であ
    ることを特徴とする基板処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の基板処理装置であっ
    て、 前記搬送手段による基板の搬送空間を形成する搬送室
    と、 前記2つの保持部の前記所定のピッチの方向の移動によ
    る前記搬送室内の減圧を補うために所定のガスを前記搬
    送室に供給するガス供給手段と、をさらに備えることを
    特徴とする基板処理装置。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかに記載の基
    板処理装置であって、 前記処理部が加熱を伴う処理を基板に施すことを特徴と
    する基板処理装置。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の基板処理装置であっ
    て、 前記第1載置部において未処理の基板の位置決めが行わ
    れ、 前記第2載置部において処理済の基板の冷却が行われる
    ことを特徴とする基板処理装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002141293A (ja) * 2000-08-22 2002-05-17 Asm Japan Kk 半導体製造装置
JP2004200329A (ja) * 2002-12-17 2004-07-15 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置及び基板処理方法
US7034255B2 (en) 2003-04-16 2006-04-25 Dainippon Screen Mfg., Co. Ltd. Light irradiation type thermal processing apparatus
JP2014204121A (ja) * 2013-04-08 2014-10-27 ピーエスケー インコーポレイテッド 基板処理設備及び方法

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