JP2000221171A - 溶接管の超音波探傷方法 - Google Patents
溶接管の超音波探傷方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 溶接管の蛇行にかかわらず溶接部に発生する
微小な欠陥をアレイ探触子を用いてオンラインで精度良
く検出する。 【解決手段】 短冊状に並べた複数の振動子２を有する
アレイ探触子１を用いて、溶接管１０の溶接部を超音波
探傷する方法において、振動子２から発せられる超音波
ビーム３を所定の屈折角で集束させ、その集束点４の位
置をセクタ走査により溶接部１２の深さ方向および円周
方向に変えながら超音波探傷を行う。
微小な欠陥をアレイ探触子を用いてオンラインで精度良
く検出する。 【解決手段】 短冊状に並べた複数の振動子２を有する
アレイ探触子１を用いて、溶接管１０の溶接部を超音波
探傷する方法において、振動子２から発せられる超音波
ビーム３を所定の屈折角で集束させ、その集束点４の位
置をセクタ走査により溶接部１２の深さ方向および円周
方向に変えながら超音波探傷を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、溶接管の製造ライ
ンにおいて溶接部に内在する欠陥をオンラインで超音波
探傷する方法に関し、特に管軸方向に移動中の溶接管が
蛇行しても溶接部内の微小な欠陥を精度良く検出する超
音波探傷方法に関する。
ンにおいて溶接部に内在する欠陥をオンラインで超音波
探傷する方法に関し、特に管軸方向に移動中の溶接管が
蛇行しても溶接部内の微小な欠陥を精度良く検出する超
音波探傷方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】溶接管の溶接部を非破壊で検査する方法
として代表的なものには、Ｘ線透過検査法と超音波探傷
検査法がある。Ｘ線透過検査法は、特に微小な欠陥
（０．４ｍｍ程度の欠陥）を検出するのに適した方法で
あり、サブマージアーク溶接による溶融溶接部に適用さ
れているが、能率が低い、設備コスト・ランニングコス
トが高い、環境に悪いなどの問題がある。一方、超音波
探傷検査法は、能率が高く、低コストで、環境的にも優
れているが、微小欠陥の検出能が低いという問題があ
る。そこで、アレイ探触子を用いて、微小欠陥を高能
率、低コストで探傷するアレイ超音波探傷方法の研究開
発が進められている。
として代表的なものには、Ｘ線透過検査法と超音波探傷
検査法がある。Ｘ線透過検査法は、特に微小な欠陥
（０．４ｍｍ程度の欠陥）を検出するのに適した方法で
あり、サブマージアーク溶接による溶融溶接部に適用さ
れているが、能率が低い、設備コスト・ランニングコス
トが高い、環境に悪いなどの問題がある。一方、超音波
探傷検査法は、能率が高く、低コストで、環境的にも優
れているが、微小欠陥の検出能が低いという問題があ
る。そこで、アレイ探触子を用いて、微小欠陥を高能
率、低コストで探傷するアレイ超音波探傷方法の研究開
発が進められている。
【０００３】このような従来のアレイ超音波探傷方法に
は次のようなものがある。 （１）特開平２−２９２４号（図９参照） この方法は、短冊状に並べた複数の振動子２を有するア
レイ探触子１を用いた斜角探傷法であり、溶接部１２の
一定ピッチの深さ位置において、超音波ビーム３が垂直
になるようにリニア走査により超音波ビームを集束する
とともに、その集束点４を溶接部１２の厚さ方向に走査
することにより溶接部の微小欠陥を検出するものであ
る。 （２）特開平１０−１８５８８１号（図１０参照） この方法は、超音波ビームが溶接部１２の厚さ方向に集
束するように各振動子２を湾曲させたアレイ探触子１を
用いた垂直探傷法であり、リニア走査により超音波ビー
ムを溶接部１２の円周方向に走査しながら厚さ方向の一
定ピッチの各位置に集束点４を当てるようにして、溶接
部の微小欠陥を検出するものである。
は次のようなものがある。 （１）特開平２−２９２４号（図９参照） この方法は、短冊状に並べた複数の振動子２を有するア
レイ探触子１を用いた斜角探傷法であり、溶接部１２の
一定ピッチの深さ位置において、超音波ビーム３が垂直
になるようにリニア走査により超音波ビームを集束する
とともに、その集束点４を溶接部１２の厚さ方向に走査
することにより溶接部の微小欠陥を検出するものであ
る。 （２）特開平１０−１８５８８１号（図１０参照） この方法は、超音波ビームが溶接部１２の厚さ方向に集
束するように各振動子２を湾曲させたアレイ探触子１を
用いた垂直探傷法であり、リニア走査により超音波ビー
ムを溶接部１２の円周方向に走査しながら厚さ方向の一
定ピッチの各位置に集束点４を当てるようにして、溶接
部の微小欠陥を検出するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、アレイ
超音波探傷で超音波ビームを集束させる方法は、微小欠
陥を高精度で検出することが可能である。しかし、この
方法は、オンライン探傷するには以下のような問題点が
あった。 （１）特開平２−２９２４号の方法における問題点 オンライン探傷時に溶接部の蛇行が発生する場合、超
音波ビームは溶接線上から離れるに従い集束が緩くなる
ため、溶接部の微小欠陥を高感度で検出することが不可
能になってくる。 溶接管が変形していると、集束点が溶接線から外れ、
検出能が低下する。 （２）特開平１０−１８５８８１号の方法における問題
点 垂直探傷法では、オンライン探傷時に発生する大きな
溶接部の蛇行には対応できない。 軸方向と円周方向の面積が小さい欠陥の検出能力が低
い。 一方向からの探傷結果しか得られず、検出能力が低
い。
超音波探傷で超音波ビームを集束させる方法は、微小欠
陥を高精度で検出することが可能である。しかし、この
方法は、オンライン探傷するには以下のような問題点が
あった。 （１）特開平２−２９２４号の方法における問題点 オンライン探傷時に溶接部の蛇行が発生する場合、超
音波ビームは溶接線上から離れるに従い集束が緩くなる
ため、溶接部の微小欠陥を高感度で検出することが不可
能になってくる。 溶接管が変形していると、集束点が溶接線から外れ、
検出能が低下する。 （２）特開平１０−１８５８８１号の方法における問題
点 垂直探傷法では、オンライン探傷時に発生する大きな
溶接部の蛇行には対応できない。 軸方向と円周方向の面積が小さい欠陥の検出能力が低
い。 一方向からの探傷結果しか得られず、検出能力が低
い。
【０００５】本発明は、上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、溶接管の蛇行にかかわらず溶接
部に発生する微小な欠陥をアレイ探触子を用いてオンラ
インで精度良く検出することができる超音波探傷方法を
提供することを目的とする。
ためになされたもので、溶接管の蛇行にかかわらず溶接
部に発生する微小な欠陥をアレイ探触子を用いてオンラ
インで精度良く検出することができる超音波探傷方法を
提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に係る溶接管の超
音波探傷方法は、短冊状に並べた複数の振動子を有する
アレイ探触子を用いて斜角探傷法により溶接管の溶接部
を超音波探傷する方法において、前記振動子から発せら
れる超音波ビームを所定の屈折角で集束させ、その集束
点の位置をセクタ走査により前記溶接部の厚さ方向およ
び円周方向に変えながら前記溶接部の超音波探傷を行う
ことを特徴とするものである。また、未探傷領域が発生
しないように前記セクタ走査の順番を最適化して前記溶
接部の超音波探傷を行うことを特徴とするものである。
音波探傷方法は、短冊状に並べた複数の振動子を有する
アレイ探触子を用いて斜角探傷法により溶接管の溶接部
を超音波探傷する方法において、前記振動子から発せら
れる超音波ビームを所定の屈折角で集束させ、その集束
点の位置をセクタ走査により前記溶接部の厚さ方向およ
び円周方向に変えながら前記溶接部の超音波探傷を行う
ことを特徴とするものである。また、未探傷領域が発生
しないように前記セクタ走査の順番を最適化して前記溶
接部の超音波探傷を行うことを特徴とするものである。
【０００７】本発明では、アレイ探触子を用いた斜角探
傷法において、セクタ走査により超音波ビームの集束点
を溶接管の単位移動量ごとに溶接部の厚さ方向および円
周方向に位置を変えながら走査するようにしたので、溶
接管の製造ラインにおいて蛇行が発生しても微小欠陥を
高精度でオンライン探傷することができる。ここで、セ
クタ走査を行う理由は、リニア走査と比較した場合、セ
クタ走査ではアレイ探触子の開口幅全てを使えるからで
あり、その結果として超音波ビームをより細く集束で
き、微小欠陥の検出能を高めることができるからであ
る。また、斜角探傷法を用いる理由は、垂直探傷法では
検出能が低い図８のような溶接部厚さ方向に伸びる細長
い微小欠陥２０でも高い検出能で探傷することができる
からである。また、垂直探傷法では管軸方向にアレイ探
触子の振動子を並べて探傷しても同一方向しか探傷でき
ないため、欠陥の形状・向きによって検出できないこと
がある。斜角探傷法は、管軸方向にアレイ探触子の振動
子を並べて、屈折角を変えて溶接部断面の任意の位置に
集束点を合わせることができるため、いろいろな形状・
向きの欠陥を検出することができる。
傷法において、セクタ走査により超音波ビームの集束点
を溶接管の単位移動量ごとに溶接部の厚さ方向および円
周方向に位置を変えながら走査するようにしたので、溶
接管の製造ラインにおいて蛇行が発生しても微小欠陥を
高精度でオンライン探傷することができる。ここで、セ
クタ走査を行う理由は、リニア走査と比較した場合、セ
クタ走査ではアレイ探触子の開口幅全てを使えるからで
あり、その結果として超音波ビームをより細く集束で
き、微小欠陥の検出能を高めることができるからであ
る。また、斜角探傷法を用いる理由は、垂直探傷法では
検出能が低い図８のような溶接部厚さ方向に伸びる細長
い微小欠陥２０でも高い検出能で探傷することができる
からである。また、垂直探傷法では管軸方向にアレイ探
触子の振動子を並べて探傷しても同一方向しか探傷でき
ないため、欠陥の形状・向きによって検出できないこと
がある。斜角探傷法は、管軸方向にアレイ探触子の振動
子を並べて、屈折角を変えて溶接部断面の任意の位置に
集束点を合わせることができるため、いろいろな形状・
向きの欠陥を検出することができる。
【０００８】また、本発明では、セクタ走査の順番を最
適化することにより、超音波ビームの集束点の時間空間
密度を均一化し、未探傷領域が発生しないようにしてい
る。このため、探傷範囲の特定範囲に超音波ビームが当
たらないようなことがなくなり、溶接部の蛇行にかかわ
らず溶接部全域を隙間なく探傷することができる。セク
タ走査の順番を最適化するためには、例えば、インター
リーブという規則に従って走査順番を定める。これによ
って、未探傷領域を最小限に抑えることができるからで
ある。なお、インターリーブというのは、アレイ探触子
では振動子素子を順番に励振していくのに対し、あるル
ール化に従いランダムに励振していくことにより、１０
０％検出すべき欠陥寸法を最小化する走査方法である。
適化することにより、超音波ビームの集束点の時間空間
密度を均一化し、未探傷領域が発生しないようにしてい
る。このため、探傷範囲の特定範囲に超音波ビームが当
たらないようなことがなくなり、溶接部の蛇行にかかわ
らず溶接部全域を隙間なく探傷することができる。セク
タ走査の順番を最適化するためには、例えば、インター
リーブという規則に従って走査順番を定める。これによ
って、未探傷領域を最小限に抑えることができるからで
ある。なお、インターリーブというのは、アレイ探触子
では振動子素子を順番に励振していくのに対し、あるル
ール化に従いランダムに励振していくことにより、１０
０％検出すべき欠陥寸法を最小化する走査方法である。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１は本発明の実施の形態を示す
超音波探傷方法の概要図である。アレイ探触子１は、短
冊状に配列された複数の振動子２を有し、各振動子２か
ら発せられた超音波ビームが所定の屈折角で溶接管１０
に入射するように溶接線１１の近傍に配置されている。
溶接管１０は図示の矢印の方向に等速度（溶接速度）で
移動する。なお、ここでは図示していないが、溶接管１
０は図１の上方の位置でスクイズロールによりオープン
パイプの端面をＹ字状に突き合わせられ、その会合部を
例えば高エネルギー密度溶接で溶接するようになってい
る。この溶接部１２を含む所定の探傷幅について、理解
を容易にするために、厚さ方向および円周方向並びに管
軸方向に、複数の微小領域１３に分割している。微小領
域１３の管軸方向の長さは溶接管１０の単位移動量に相
当する。溶接部１２に検出対象の最小寸法をもつ微小欠
陥があるときには、その微小欠陥は微小領域１３の１つ
もしくは複数個にまたがって存在することになる。
超音波探傷方法の概要図である。アレイ探触子１は、短
冊状に配列された複数の振動子２を有し、各振動子２か
ら発せられた超音波ビームが所定の屈折角で溶接管１０
に入射するように溶接線１１の近傍に配置されている。
溶接管１０は図示の矢印の方向に等速度（溶接速度）で
移動する。なお、ここでは図示していないが、溶接管１
０は図１の上方の位置でスクイズロールによりオープン
パイプの端面をＹ字状に突き合わせられ、その会合部を
例えば高エネルギー密度溶接で溶接するようになってい
る。この溶接部１２を含む所定の探傷幅について、理解
を容易にするために、厚さ方向および円周方向並びに管
軸方向に、複数の微小領域１３に分割している。微小領
域１３の管軸方向の長さは溶接管１０の単位移動量に相
当する。溶接部１２に検出対象の最小寸法をもつ微小欠
陥があるときには、その微小欠陥は微小領域１３の１つ
もしくは複数個にまたがって存在することになる。
【００１０】図２は前記アレイ探触子１による超音波ビ
ームのセクタ走査の原理を示す図である。ここでは、１
６個の振動子２をもつアレイ探触子１を使用している。
図示しない遅延回路によって、各振動子２の送信タイミ
ングを遅延させる。図示の例では、送信パルスの最初の
遅延時間パターンＰと最後の遅延時間パターンＱが示さ
れている。これらの遅延時間パターンはインボリュート
曲線に類似した独特の曲線で形成されており、図示しな
い記憶装置に記憶されている。そして、この類似インボ
リュート曲線に従って各振動子２の送信タイミングを遅
延させることにより、各振動子２から発せられる超音波
ビームを偏向させて、ある一点に集束させることができ
る。
ームのセクタ走査の原理を示す図である。ここでは、１
６個の振動子２をもつアレイ探触子１を使用している。
図示しない遅延回路によって、各振動子２の送信タイミ
ングを遅延させる。図示の例では、送信パルスの最初の
遅延時間パターンＰと最後の遅延時間パターンＱが示さ
れている。これらの遅延時間パターンはインボリュート
曲線に類似した独特の曲線で形成されており、図示しな
い記憶装置に記憶されている。そして、この類似インボ
リュート曲線に従って各振動子２の送信タイミングを遅
延させることにより、各振動子２から発せられる超音波
ビームを偏向させて、ある一点に集束させることができ
る。
【００１１】したがって、最初の遅延時間パターンＰか
ら最後の遅延時間パターンＱまで、遅延時間パターンを
変更することによって、超音波ビーム３の集束点４をＡ
点からＢ点までセクタ走査で移動させることができ、こ
れによって溶接部１２の厚さ方向および円周方向に超音
波ビーム３の集束点４を走査させることが可能となる。
そして、厚さ方向の超音波ビームの走査は溶接部１２の
底面から表面までの範囲を行い、円周方向の超音波ビー
ムの走査は溶接管１０の蛇行範囲を含む所定の範囲（通
常、２〜３ｍｍ程度の蛇行が生じるので、これをカバー
する範囲）について行う。
ら最後の遅延時間パターンＱまで、遅延時間パターンを
変更することによって、超音波ビーム３の集束点４をＡ
点からＢ点までセクタ走査で移動させることができ、こ
れによって溶接部１２の厚さ方向および円周方向に超音
波ビーム３の集束点４を走査させることが可能となる。
そして、厚さ方向の超音波ビームの走査は溶接部１２の
底面から表面までの範囲を行い、円周方向の超音波ビー
ムの走査は溶接管１０の蛇行範囲を含む所定の範囲（通
常、２〜３ｍｍ程度の蛇行が生じるので、これをカバー
する範囲）について行う。
【００１２】図３は本発明の方法により溶接管の溶接部
をオンラインで探傷した様子とチャート出力結果を示す
ものである。上図（ａ）は溶接部１２の中央断面（長手
方向の断面）について厚さ方向のみをセクタ走査したと
きの様子とチャート結果であり、下図（ｂ）は厚さ方向
と円周方向にセクタ走査したときの様子とチャート結果
である。図２に示した超音波ビームのセクタ走査の原理
によれば、超音波ビームの集束点４を溶接部１２断面の
任意の位置に結ばせることが可能である。したがって、
図３の（ａ）図のように、溶接部１２の中央断面の厚さ
方向のみをセクタ走査したときには明瞭に現れなかった
欠陥ｄ１、ｄ２、ｄ３が、（ｂ）図によれば明確化して
いることがわかる。（ｂ）図では厚さ方向だけでなく円
周方向にもセクタ走査しているので、理想的な位置に溶
接部がない場合でも溶接部の欠陥に超音波ビームの集束
点４が当たることになるため、その欠陥が（ｂ）図のよ
うに明白に現れたものである。このことは、厚さ方向の
みをセクタ走査する場合は、溶接部１２の蛇行がある
と、検知するはずの欠陥を見落としたりする危険が大き
いことを意味する。
をオンラインで探傷した様子とチャート出力結果を示す
ものである。上図（ａ）は溶接部１２の中央断面（長手
方向の断面）について厚さ方向のみをセクタ走査したと
きの様子とチャート結果であり、下図（ｂ）は厚さ方向
と円周方向にセクタ走査したときの様子とチャート結果
である。図２に示した超音波ビームのセクタ走査の原理
によれば、超音波ビームの集束点４を溶接部１２断面の
任意の位置に結ばせることが可能である。したがって、
図３の（ａ）図のように、溶接部１２の中央断面の厚さ
方向のみをセクタ走査したときには明瞭に現れなかった
欠陥ｄ１、ｄ２、ｄ３が、（ｂ）図によれば明確化して
いることがわかる。（ｂ）図では厚さ方向だけでなく円
周方向にもセクタ走査しているので、理想的な位置に溶
接部がない場合でも溶接部の欠陥に超音波ビームの集束
点４が当たることになるため、その欠陥が（ｂ）図のよ
うに明白に現れたものである。このことは、厚さ方向の
みをセクタ走査する場合は、溶接部１２の蛇行がある
と、検知するはずの欠陥を見落としたりする危険が大き
いことを意味する。
【００１３】図４は本発明の他の実施の形態を示す図で
あり、溶接管１０が管軸方向に移動中に溶接部１２を円
周方向にセクタ走査している様子を溶接線１１の真上か
ら見たものである。また同時に、本発明によるセクタ走
査の順番によりカバーされる探傷範囲を示している。さ
らに図５はその探傷範囲を走査順番ごとに示したもので
ある。またこのときの溶接部断面における超音波ビーム
の集束点４の位置を図６に例示してある。但し、図６で
は各集束点４は同一断面内に示してあるが、実際には単
位移動量ずつ管軸方向に移動した断面内に存在する。図
４に示す例では、溶接管１０を１パルスに１ｍｍ移動さ
せ、溶接部１２の蛇行範囲を含めて円周方向の走査範囲
Ｓを５分割し、このように分割された所定の微小領域１
３に、ある規則に従って、超音波ビーム３の集束点４を
当てるようにしたものである。
あり、溶接管１０が管軸方向に移動中に溶接部１２を円
周方向にセクタ走査している様子を溶接線１１の真上か
ら見たものである。また同時に、本発明によるセクタ走
査の順番によりカバーされる探傷範囲を示している。さ
らに図５はその探傷範囲を走査順番ごとに示したもので
ある。またこのときの溶接部断面における超音波ビーム
の集束点４の位置を図６に例示してある。但し、図６で
は各集束点４は同一断面内に示してあるが、実際には単
位移動量ずつ管軸方向に移動した断面内に存在する。図
４に示す例では、溶接管１０を１パルスに１ｍｍ移動さ
せ、溶接部１２の蛇行範囲を含めて円周方向の走査範囲
Ｓを５分割し、このように分割された所定の微小領域１
３に、ある規則に従って、超音波ビーム３の集束点４を
当てるようにしたものである。
【００１４】この場合、超音波ビーム３は集束点４を中
心として断面積９ｍｍ2のビーム径をもっているものと
すると、１→４→２→５→３の走査順番（ここでは、イ
ンターリーブ５と呼ぶ）で集束点４を当てれば、図５に
示すように、走査順番ごとの探傷範囲Ｆ１、Ｆ４、Ｆ
２、Ｆ５、Ｆ３は一部ラップしながら連続していくこと
になり、その結果、図４に示すように、探傷範囲１４の
全体を隙間なく走査することが可能となる。図７は比較
のために示す従来方法の走査順番によるものであるが、
５→４→３→２→１と順列の走査順番では探傷範囲１４
に特定の配置で未探傷領域１５が発生することになり、
本発明の走査方法と大きく異なることがわかる。
心として断面積９ｍｍ2のビーム径をもっているものと
すると、１→４→２→５→３の走査順番（ここでは、イ
ンターリーブ５と呼ぶ）で集束点４を当てれば、図５に
示すように、走査順番ごとの探傷範囲Ｆ１、Ｆ４、Ｆ
２、Ｆ５、Ｆ３は一部ラップしながら連続していくこと
になり、その結果、図４に示すように、探傷範囲１４の
全体を隙間なく走査することが可能となる。図７は比較
のために示す従来方法の走査順番によるものであるが、
５→４→３→２→１と順列の走査順番では探傷範囲１４
に特定の配置で未探傷領域１５が発生することになり、
本発明の走査方法と大きく異なることがわかる。
【００１５】なお、前記の実施の形態では、アレイ探触
子１を固定、溶接管１０を移動の場合で説明したが、逆
の場合（アレイ探触子１を移動、溶接管１０を固定の場
合）でも本発明を適用できることはいうまでもない。
子１を固定、溶接管１０を移動の場合で説明したが、逆
の場合（アレイ探触子１を移動、溶接管１０を固定の場
合）でも本発明を適用できることはいうまでもない。
【００１６】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、セクタ
走査により超音波ビームの集束点の位置を溶接部の厚さ
方向および円周方向に変えながら走査するようにしたの
で、溶接管の蛇行が発生しても微小欠陥を高精度でオン
ライン探傷することができる。また、セクタ走査の順番
を最適化することにより、未探傷領域が発生しないよう
にしたので、溶接部全域を隙間なく探傷することがで
き、微小欠陥の未検出を防止することができる。
走査により超音波ビームの集束点の位置を溶接部の厚さ
方向および円周方向に変えながら走査するようにしたの
で、溶接管の蛇行が発生しても微小欠陥を高精度でオン
ライン探傷することができる。また、セクタ走査の順番
を最適化することにより、未探傷領域が発生しないよう
にしたので、溶接部全域を隙間なく探傷することがで
き、微小欠陥の未検出を防止することができる。
【図１】本発明の溶接管の超音波探傷方法を示す概要図
である。
である。
【図２】超音波ビームのセクタ走査の原理を示す図であ
る。
る。
【図３】溶接管のオンライン探傷結果を示す図である。
【図４】本発明によるセクタ走査の順番によりカバーさ
れる探傷範囲を示す図である。
れる探傷範囲を示す図である。
【図５】探傷範囲を走査順番ごとに示す図である。
【図６】溶接部断面における超音波ビームの集束点の位
置を示す図である。
置を示す図である。
【図７】従来の走査方法では探傷範囲に特定の未探傷領
域が発生することを示す図である。
域が発生することを示す図である。
【図８】垂直探傷法では検出しにくい微小欠陥の例を示
す図である。
す図である。
【図９】従来の超音波探傷方法を示す図である。
【図１０】従来の他の超音波探傷方法を示す図である。
１ アレイ探触子 ２ 振動子 ３ 超音波ビーム ４ 超音波ビームの集束点 １０ 溶接管 １１ 溶接線 １２ 溶接部 １３ 微小領域 １４ 探傷範囲
フロントページの続き (72)発明者 飯塚 幸理 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 中沢 晋 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 高橋 雅伸 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 鈴木 雅仁 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 Ｆターム(参考） 2G047 AA07 AB01 AB07 BB02 BC07 DB05 DB17 EA10 GB02 GF18 GF31
Claims (2)
- 【請求項１】 短冊状に並べた複数の振動子を有するア
レイ探触子を用いて斜角探傷法により溶接管の溶接部を
超音波探傷する方法において、 前記振動子から発せられる超音波ビームを所定の屈折角
で集束させ、その集束点の位置をセクタ走査により前記
溶接部の厚さ方向および円周方向に変えながら前記溶接
部の超音波探傷を行うことを特徴とする溶接管の超音波
探傷方法。 - 【請求項２】 未探傷領域が発生しないように前記セク
タ走査の順番を最適化して前記溶接部の超音波探傷を行
うことを特徴とする請求項１記載の溶接管の超音波探傷
方法。
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