JP2000155053A - Temperature detection circuit and temperature measurement using it - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a simple and low-cost detection circuit with less fluctuation by comparing an output of a time constant circuit after potential change with outputs of first and second resistive dividing circuits by means of first and second comparators respectively and correcting an output (measurement data) from the first comparator with an output (standard data) from the second comparator. SOLUTION: An output value of a time constant circuit, by which a capacitor C1 is charged through resistors R1, R2, after potential change is compared with an output value of a first resistive dividing circuit, which is constructed of a thermistor element TH1 having resistance variable according to a temperature and a resistor R3 having resistance hardly variable by a temperature, by means of a first comparator 4b. An output of the time constant circuit after potential change is compared with an output of a second resistive dividing circuit constructed of resistors R4, R5 having resistance hardly variable according to a temperature by means of a second comparator 4c. An output from the second comparator 4c is used as standard data, while an output from the first comparator 4b is used as measurement data, and the measurement data are corrected by using the standard data.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、周囲の温度を測定
する温度検出回路およびこの回路を用いた温度測定方法
に関する。特に、ワードプロセッサ等の情報処理装置に
おいて、常に一定の性能を維持するために、温度に応じ
て制御方法を調節する必要のあるプリンタのモータや印
刷ヘッド等の駆動制御、および液晶表示装置のコントラ
スト調整制御に利用される温度検出回路およびこの回路
を用いた温度測定方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a temperature detecting circuit for measuring an ambient temperature and a temperature measuring method using the circuit. In particular, in an information processing apparatus such as a word processor, in order to always maintain a constant performance, it is necessary to adjust a control method according to a temperature in order to control a drive of a printer motor or a print head, and to adjust a contrast of a liquid crystal display device. The present invention relates to a temperature detection circuit used for control and a temperature measurement method using the circuit.

【０００２】[0002]

【従来の技術】従来より、コンデンサ素子および抵抗素
子等で構成される時定数回路を使用した回路として、電
子タイマ回路やパルス信号発生回路がある。2. Description of the Related Art Conventionally, as a circuit using a time constant circuit composed of a capacitor element, a resistance element, and the like, there are an electronic timer circuit and a pulse signal generation circuit.

【０００３】電子タイマ回路は、予め回路素子にて一意
的に決められる時間を測定する回路であり、ある一定の
時間が経過したことを知るために用いられている。An electronic timer circuit is a circuit for measuring a time uniquely determined by a circuit element in advance, and is used to know that a certain time has elapsed.

【０００４】従来の電子タイマ回路の一例としては、特
開平５−４１６４９号公報に記載された回路がある。こ
の電子タイマ回路では、予め設定された時間を常に正し
く計測するために、時間を一意的に決める回路素子の温
度による変化や時間による変化を抑えるべく、図１４に
示すような回路を構成している。すなわち、抵抗Ｒ０と
コンデンサＣ０とからなる直列型のＣＲ時定数回路のコ
ンデンサＣ０に並列に正温度特性を有する抵抗Ｒ１を接
続し、コンデンサＣ０の温度による容量変化にともなう
測定時間のずれ、およびコンデンサＣ０の漏れ電流の増
大に伴う測定時間のずれを少なくしている。As an example of a conventional electronic timer circuit, there is a circuit described in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-41649. In this electronic timer circuit, in order to always accurately measure a preset time, a circuit as shown in FIG. 14 is configured to suppress a change due to a temperature or a time of a circuit element that uniquely determines the time. I have. That is, a resistor R1 having a positive temperature characteristic is connected in parallel to a capacitor C0 of a series CR time constant circuit including a resistor R0 and a capacitor C0, and a measurement time shift due to a capacitance change due to the temperature of the capacitor C0, and The deviation of the measurement time due to the increase in the leakage current of C0 is reduced.

【０００５】一方、パルス信号発生回路は、予め回路素
子にて一意的に決められる時間に対応するパルスを発生
する回路であり、制御用に利用する信号を生成するため
に用いられている。On the other hand, a pulse signal generating circuit is a circuit for generating a pulse corresponding to a time uniquely determined in advance by a circuit element, and is used for generating a signal used for control.

【０００６】従来のパルス信号発生回路の一例として
は、特開平２−１６６９１６号公報に記載された通電時
間設定回路がある。この通電時間設定回路では、抵抗Ｒ
０とコンデンサＣ０とからなる時定数回路の特性を一定
に保ち、温度変化に拘わらず通電時間を一定に維持する
ために、図１５に示すような回路を構成している。すな
わち、コンデンサＣ０の温度特性とは逆の温度特性をも
つ抵抗Ｒ１を抵抗素子に直列に加えることで、コンデン
サＣ０の値が減少すれば抵抗Ｒ１の抵抗値がそれを補う
形で増加し、コンデンサＣ０の値が増加すれば、抵抗Ｒ
１の抵抗値が減少することで、コンデンサＣ０および抵
抗Ｒ１の各値の積にて与えられる時定数を一定に保って
いる。As an example of a conventional pulse signal generation circuit, there is an energization time setting circuit described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-166916. In this energization time setting circuit, the resistance R
A circuit as shown in FIG. 15 is configured to keep the characteristics of the time constant circuit composed of 0 and the capacitor C0 constant and to keep the power-on time constant regardless of the temperature change. That is, by adding a resistor R1 having a temperature characteristic opposite to the temperature characteristic of the capacitor C0 in series with the resistance element, if the value of the capacitor C0 decreases, the resistance value of the resistor R1 increases in a form to compensate for the decrease. If the value of C0 increases, the resistance R
By decreasing the resistance value of 1, the time constant given by the product of the values of the capacitor C0 and the resistance R1 is kept constant.

【０００７】また、ソフトウェアにより制御される温度
を測定するためのデジタルシステムに活用しやすいよう
に、デジタル数値化する方法として、図１６に示す温度
測定システムを用いて実施される方法がある。この装置
は、一般的に、サーミスタＴＨ、正温度係数抵抗Ｒ０、
ツェナー電圧発生回路Ｖ等、予め固有の温度特性をもつ
素子に電流を流したときに、温度に応じた電位をその素
子内に発生する電位発生回路１０３ａと、Ａ−Ｄコンバ
ータ１０３ｂ１等を用いてアナログ−デジタル変換する
Ａ−Ｄ変換回路１０３ｂと、予め記憶装置１０３ｃに記
憶されたＤ−Ｔ変換テーブルとから構成されており、こ
のＤ−Ｔ変換テーブルは、制御演算処理装置１０３ｄに
おいて、得られたデジタル値に基づき温度をデジタル数
値化する際に利用される。[0007] As a method of digitizing digital data so as to be easily applied to a digital system for measuring temperature controlled by software, there is a method implemented by using a temperature measuring system shown in FIG. This device generally comprises a thermistor TH, a positive temperature coefficient resistor R0,
When a current is applied to an element having a specific temperature characteristic in advance, such as a Zener voltage generation circuit V, a potential generation circuit 103a that generates a potential corresponding to the temperature in the element and an A-D converter 103b1 are used. It is composed of an A / D conversion circuit 103b for performing analog-digital conversion and a DT conversion table stored in advance in a storage device 103c. The DT conversion table is obtained by the control arithmetic processing device 103d. It is used to digitize the temperature based on the digital value obtained.

【０００８】ここでＡ−Ｄコンバータ１０３ｂ１は、入
力されたアナログ値（電圧）をサンプリングし、内部の
多数の基準電圧と比較することで、それに対応したデジ
タル値を出力し、アナログ−デジタル変換している。Here, the AD converter 103b1 samples the input analog value (voltage), compares it with a large number of internal reference voltages, outputs a digital value corresponding to the sampled analog value (voltage), and performs analog-digital conversion. ing.

【０００９】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、温度を
測定し数値化する方法において使用される図１６の装置
では、温度に対応するアナログ値をデジタル値に変換す
ることで、ソフトウェア的に利用が容易となるものの、
アナログ−デジタル変換に使用されるＡ−Ｄコンバータ
１０３ｂ１部分が複雑で精度が要求されることとなり、
アナログ−デジタル変換部分にコストがかかるという第
１の問題がある。However, in the apparatus shown in FIG. 16 used in the method of measuring and digitizing the temperature, the analog value corresponding to the temperature is converted into a digital value, so that it can be easily used in software. But
The A / D converter 103b1 used for the analog-digital conversion is complicated and requires high accuracy.
The first problem is that the analog-to-digital conversion part is expensive.

【００１０】また、特開平２−１６６９１６号公報に記
載された通電時間設定回路では、コンデンサＣ０の温度
に対する容量変化を補完する形で感温抵抗Ｒ１等を接続
することにより時定数回路の特性維持を図っているが、
コンデンサＣ０の経年変化等の特性の変化による変動に
対応していないという第２の問題と、コンデンサＣ０の
温度特性や経年変化を抑えるには経年変化が少ない高性
能のコンデンサが必要であり、コンデンサのコストが上
昇するという第３の問題とがある。In the energizing time setting circuit described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-166916, the characteristics of the time constant circuit are maintained by connecting a temperature-sensitive resistor R1 or the like in a manner to complement the change in capacitance of the capacitor C0 with respect to temperature. But
The second problem is that the capacitor C0 does not cope with a change due to a change in characteristics such as aging, and a high-performance capacitor with little aging is required to suppress the temperature characteristics and aging of the capacitor C0. There is a third problem that the cost of the system increases.

【００１１】一方、特開平５−４１６４９号公報に記載
された回路では、コンデンサＣ０の温度による容量変化
を補完するとともに、第２の問題であるコンデンサＣ０
の経年変化による特性の変化を低減することができ、さ
らに経時変化が大きい比較的安価な電解コンデンサ等を
用いれば第３の問題も解決することが可能である。しか
し、特開平２−１６６９１６号公報に記載された通電時
間設定回路と同じように、コンデンサＣ０と逆の温度特
性をもつ感温抵抗Ｒ１とのマッチングが必要となるた
め、コンデンサＣ０を変えると感温抵抗Ｒ１も変えなく
てはならず、部品の選定の幅が狭いという第４の問題が
あり、さらに、実際のコンパレータ（比較器）１０１ａ
の入力からの影響、例えば入力電流による時定数のずれ
が存在するという第５の問題がある。On the other hand, in the circuit described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-41649, the capacitance change due to the temperature of the capacitor C0 is complemented, and the second problem of the capacitor C0 is solved.
The third problem can be solved by using a relatively inexpensive electrolytic capacitor or the like which has a large change with time. However, as in the energization time setting circuit described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2-166916, it is necessary to match the capacitor C0 with a temperature-sensitive resistor R1 having a temperature characteristic opposite to that of the capacitor C0. There is also a fourth problem that the temperature resistance R1 must be changed, and the range of component selection is narrow, and furthermore, the actual comparator (comparator) 101a
There is a fifth problem that there is an influence from the input, for example, a time constant shift due to the input current.

【００１２】さらに、特開平５−４１６４９や特開２−
１６６９１６の回路の時定数回路において、精度が良く
抵抗誤差が±０．５％程度のものであっても安価で手に
入れやすい抵抗とは逆に、コンデンサは容量誤差が±１
０〜２０％程度と大きく、温度特性も比較的悪いため、
時定数回路の精度が上がらないという第６の問題があ
り、それを解決しようとする場合には高精度のコンデン
サを用いることによるコスト上昇が生じるという第７の
問題がある。Further, Japanese Patent Application Laid-Open Nos.
In the time constant circuit of the 166916 circuit, even if the resistance error is high and the resistance error is about ± 0.5%, a capacitor has a capacitance error of ± 1 in contrast to a resistor which is inexpensive and easy to obtain.
Because it is as large as about 0 to 20% and the temperature characteristics are relatively poor,
There is a sixth problem that the accuracy of the time constant circuit does not increase, and there is a seventh problem that the cost is increased by using a high-precision capacitor when trying to solve it.

【００１３】本発明はこのような問題を解決すべく創案
されたもので、簡単な回路構成であり、回路コストを低
減するとともに、回路の変動が少ない温度検出回路およ
びこの回路を用いた温度測定方法を提供することを目的
とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve such a problem, and has a simple circuit configuration, reduces the circuit cost, and has a small circuit fluctuation and a temperature measurement circuit using this circuit. The aim is to provide a method.

【００１４】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１記載の
温度検出回路は、インダクタまたはコンデンサからなる
回路素子、および抵抗素子のうちの少なくとも１つで構
成される時定数回路と、温度によって抵抗値が変化する
サーミスタ素子、および温度による抵抗値の変化が少な
い抵抗素子で構成される第１抵抗分割回路と、温度によ
る抵抗値の変化が少ない抵抗素子で構成される第２抵抗
分割回路と、時定数回路の電位変動後の出力値と第１抵
抗分割回路の出力値とを比較する第１比較手段と、時定
数回路の電位変動後の出力値と第２抵抗分割回路の出力
値とを比較する第２比較手段とを備えており、第２比較
手段からの出力を標準データとし、第１比較手段からの
出力を測定データとし、この測定データを標準データを
用いて補正するものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a temperature detecting circuit comprising a time constant circuit comprising at least one of a circuit element comprising an inductor or a capacitor and a resistance element; A first resistive division circuit composed of a thermistor element whose resistance value changes and a resistance element whose resistance value changes little with temperature; and a second resistance division circuit composed of a resistance element whose resistance value changes little with temperature. First comparing means for comparing the output value of the time constant circuit after the potential change and the output value of the first resistor divider circuit, and the output value of the time constant circuit after the potential change and the output value of the second resistor divider circuit. And a second comparing means for comparing the output from the second comparing means as standard data, an output from the first comparing means as measured data, and correcting the measured data using the standard data. It is.

【００１５】本発明の請求項２記載の温度検出回路は、
上記構成に加え、前記時定数回路の起動およびリセット
を制御する制御手段をさらに備えたものである。According to a second aspect of the present invention, there is provided a temperature detecting circuit comprising:
In addition to the above configuration, the apparatus further includes control means for controlling activation and reset of the time constant circuit.

【００１６】本発明の請求項３記載の温度検出回路は、
上記構成において、前記回路素子を、第１抵抗分割回路
および第２抵抗分割回路を構成する抵抗素子よりも、温
度による特性の変化が大きい素子としたものである。According to a third aspect of the present invention, there is provided a temperature detecting circuit comprising:
In the above configuration, the circuit element is an element whose characteristic change due to temperature is larger than the resistance elements forming the first resistance division circuit and the second resistance division circuit.

【００１７】本発明の請求項４記載の温度検出回路は、
上記構成において、前記第１比較手段および第２比較手
段が、１つの集積回路チップ中に形成されたものであ
る。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a temperature detecting circuit comprising:
In the above configuration, the first comparing means and the second comparing means are formed in one integrated circuit chip.

【００１８】本発明の請求項５記載の温度検出方法は、
インダクタまたはコンデンサからなる回路素子、および
抵抗素子のうちの少なくとも１つで構成される時定数回
路と、温度によって抵抗値が変化するサーミスタ素子、
および温度による抵抗値の変化が少ない抵抗素子で構成
される第１抵抗分割回路と、温度による抵抗値の変化が
少ない抵抗素子で構成される第２抵抗分割回路と、時定
数回路の電位変動後の出力値と第１抵抗分割回路の出力
値とを比較する第１比較手段と、時定数回路の電位変動
後の出力値と第２抵抗分割回路の出力値とを比較する第
２比較手段とを備えた温度検出回路を用いた温度検出方
法であって、温度検出回路を所定の温度環境中に配置し
た状態で、第２比較手段の出力から、時間情報および温
度情報を伴った標準データを求めるステップと、第１比
較手段の出力から、時間情報および温度情報を伴った測
定データを求めるステップと、測定データ中の時間情報
を示すデータと標準データ中の時間情報を示すデータと
の比を算出するステップとを温度を変化させて複数回繰
り返して、温度情報および比情報を伴った参照データを
作成した後、温度検出回路を検出対象環境中に配置した
状態で、第２比較手段の出力から、時間情報および温度
情報を伴った標準データを求めるステップと、第１比較
手段の出力から、時間情報および温度情報を伴った測定
データを求めるステップと、測定データ中の時間情報を
示すデータと標準データ中の時間情報を示すデータとの
比を算出するステップと、求めた比と一致する参照デー
タ中の比情報を検索し、検索した比情報に対応した温度
情報を検出すべき温度とするステップとを実行するもの
である。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a temperature detecting method comprising:
A time constant circuit including at least one of a circuit element including an inductor or a capacitor and a resistance element, and a thermistor element having a resistance value that changes with temperature;
A first resistance dividing circuit composed of a resistance element having a small change in resistance due to temperature, a second resistance division circuit composed of a resistance element having a small change in resistance due to temperature, and after a potential change of the time constant circuit. First comparing means for comparing the output value of the first resistance dividing circuit with the output value of the first resistance dividing circuit, and second comparing means for comparing the output value of the time constant circuit after the potential change and the output value of the second resistance dividing circuit. A temperature detection method using a temperature detection circuit provided with a temperature detection circuit, wherein in a state where the temperature detection circuit is arranged in a predetermined temperature environment, standard data with time information and temperature information are output from the second comparison means. Obtaining the measured data with time information and temperature information from the output of the first comparing means; and determining the ratio between the data indicating the time information in the measured data and the data indicating the time information in the standard data. Calculation Is repeated a plurality of times while changing the temperature to generate reference data with temperature information and ratio information. Then, with the temperature detection circuit arranged in the detection target environment, Obtaining standard data with time information and temperature information; obtaining measurement data with time information and temperature information from the output of the first comparing means; A step of calculating a ratio to data indicating time information in the data; and a step of searching for ratio information in reference data that matches the obtained ratio, and setting temperature information corresponding to the searched ratio information as a temperature to be detected. And to execute.

【００１９】[0019]

【発明の実施の形態】つぎに、本発明の温度検出回路の
実施の形態について図面を参照しつつ説明する。なお、
本実施の形態においては、まずはじめに、請求項１ない
し３記載の温度検出回路、およびこの回路を用いた温度
検出方法について説明する。Next, an embodiment of a temperature detecting circuit according to the present invention will be described with reference to the drawings. In addition,
In the present embodiment, first, a temperature detection circuit according to claims 1 to 3 and a temperature detection method using this circuit will be described.

【００２０】図１は、本発明の温度検出回路を含んでな
る温度測定システムの一例を示す説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram showing an example of a temperature measuring system including a temperature detecting circuit according to the present invention.

【００２１】この温度測定システムは、図１に示すよう
に、各構成部材の作動の制御や、演算を行う制御・演算
処理装置（例えば、ＣＰＵ（ｃｅｎｔｒａｌ ｐｒｏｃ
ｅｓｓｉｎｇ ｕｎｉｔ）１と、記憶装置２と、Ｉ／Ｏ
ポート３と、温度検出回路４と、基本クロック発生回路
５とを備えている。As shown in FIG. 1, this temperature measurement system controls the operation of each component and performs a control / arithmetic processing unit (eg, CPU (central proc)
essing unit) 1, storage device 2, I / O
A port 3, a temperature detection circuit 4, and a basic clock generation circuit 5 are provided.

【００２２】制御・演算処理装置１には、記憶装置２が
直接接続されているとともに、Ｉ／Ｏポート３を介して
温度検出回路４が接続されている。The control / arithmetic processing device 1 is directly connected to the storage device 2 and also connected to the temperature detection circuit 4 via the I / O port 3.

【００２３】記憶装置２としては、各種変数データ等を
読み書き自由に記憶できるＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃ
ｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）や、制御・演算処理装置（Ｃ
ＰＵ）１を動作させるための制御プログラム等が記憶さ
れているＲＯＭ（ＲｅａｄＯｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）が
あげられる。The storage device 2 is a RAM (Random Ac) that can freely store and read various variable data.
cess Memory) and control / arithmetic processing unit (C
ROM (Read Only Memory) in which a control program for operating the PU 1 is stored.

【００２４】制御・演算処理装置（ＣＰＵ）１は、Ｉ／
Ｏポート３を介して、温度検出回路４の動作の制御およ
び温度検出回路４からの信号の取り込みを行う。制御・
演算処理装置（ＣＰＵ）１は、その動作の基本クロック
となる一定のクロックを発生する基本クロック発生回路
５に則り、記憶装置２に記憶された制御プログラムを読
み込みながら、必要な処理を行う。この基本クロック発
生回路５は、制御プログラムにより処理を行う制御・演
算処理装置（ＣＰＵ）１の動作にとって一般的に必要な
ものであり既存のものである。The control / arithmetic processing unit (CPU) 1 has an I / O
Via the O port 3, the operation of the temperature detection circuit 4 is controlled and a signal from the temperature detection circuit 4 is taken in. control·
The arithmetic processing unit (CPU) 1 performs necessary processing while reading a control program stored in the storage device 2 in accordance with a basic clock generation circuit 5 that generates a constant clock serving as a basic clock for the operation. The basic clock generation circuit 5 is generally necessary for the operation of the control / arithmetic processing unit (CPU) 1 that performs processing according to the control program, and is an existing one.

【００２５】制御・演算処理装置（ＣＰＵ）１は、基本
クロック発生回路５のクロックをカウントすることによ
り、Ｉ／Ｏポート３を介して接続される温度検出回路４
とやりとりを行う制御信号およびデータ信号の時間測定
を行うことが可能である。The control / arithmetic processing unit (CPU) 1 counts the clock of the basic clock generation circuit 5 so that the temperature detection circuit 4 connected via the I / O port 3
It is possible to measure the time of the control signal and the data signal that interact with it.

【００２６】次に、図１に示す温度検出システム中の温
度検出回路４の具体的構成について図面を参照しつつ説
明する。図２は、前記温度検出回路４の一実施の形態を
示す回路図である。Next, a specific configuration of the temperature detection circuit 4 in the temperature detection system shown in FIG. 1 will be described with reference to the drawings. FIG. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of the temperature detection circuit 4.

【００２７】電圧Ｖｐの電源Ｖには、時定数回路を形成
する抵抗Ｒ１の一方の端子が接続され、他方の端子には
時定数回路を形成する抵抗Ｒ２を介して時定数回路を形
成するコンデンサＣ１の一方の端子が接続され、コンデ
ンサＣ１の他方の端子は、電源ＶのＧＮＤ（グランド）
に接続されている。One terminal of a resistor R1 forming a time constant circuit is connected to the power source V of the voltage Vp, and the other terminal is connected to a capacitor forming a time constant circuit via a resistor R2 forming a time constant circuit. One terminal of C1 is connected, and the other terminal of capacitor C1 is connected to GND (ground) of power supply V.
It is connected to the.

【００２８】また、時定数回路の動作を安定させるため
には、時定数回路中のコンデンサＣ１の電荷を０にする
（温度検出回路４を初期化する）必要がある。そのた
め、抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２の接続点Ａには、制御信号に従
って動作し、その接続点ＡをＧＮＤとショートすること
が可能な制御回路４ａが接続されている。Further, in order to stabilize the operation of the time constant circuit, it is necessary to set the charge of the capacitor C1 in the time constant circuit to 0 (initialize the temperature detection circuit 4). Therefore, a control circuit 4a that operates according to the control signal and can short-circuit the connection point A to GND is connected to the connection point A between the resistances R1 and R2.

【００２９】接続点ＡがＧＮＤに接続されることによ
り、コンデンサＣ１の電荷はＲ２を通してＧＮＤに放電
されて逃がされ、温度検出回路４の初期化が行われる。
ここで、抵抗Ｒ２は、コンデンサＣ１をＧＮＤに直接シ
ョートしたときに非常に大きな電流がコンデンサＣ１や
制御回路４ａを短時間だが瞬間的に流れるのを防ぎ、コ
ンデンサＣ１と制御回路４ａが損傷を受けないようにす
るために設けてある。この放電にかかる時間は抵抗Ｒ２
の抵抗値とコンデンサＣ１の容量との積（Ｒ２×Ｃ１）
に比例するため、抵抗Ｒ２の抵抗値は、コンデンサＣ１
と制御回路４ａが損傷を受けない範囲において、抵抗Ｒ
１の抵抗値の例えば１／１００程度とする等、極力小さ
くしてある。When the connection point A is connected to GND, the charge of the capacitor C1 is discharged to GND via R2 and released, and the temperature detection circuit 4 is initialized.
Here, the resistor R2 prevents a very large current from flowing through the capacitor C1 and the control circuit 4a for a short time but momentarily when the capacitor C1 is directly short-circuited to GND, and the capacitor C1 and the control circuit 4a are damaged. It is provided in order to prevent it. The time required for this discharge is the resistance R2
Of the resistance value of the capacitor C1 and the resistance value of the capacitor C1 (R2 × C1)
, The resistance of the resistor R2 is
And resistor R within a range where control circuit 4a is not damaged.
For example, it is made as small as possible, for example, about 1/100 of the resistance value of 1.

【００３０】この制御回路４ａによって接続点ＡとＧＮ
Ｄとを接続することにより、コンデンサＣ１の電荷が放
電されて温度検出回路４が初期化され、制御回路４ａに
よって接続点ＡとＧＮＤとの接続が解除されることによ
り、コンデンサＣ１は抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２を通じて充電
され、時定数回路の動作が開始されることとなる。By the control circuit 4a, the connection points A and GN
D, the charge of the capacitor C1 is discharged, the temperature detection circuit 4 is initialized, and the connection between the connection point A and GND is released by the control circuit 4a, so that the capacitor C1 is connected to the resistor R1. The battery is charged through the resistor R2, and the operation of the time constant circuit starts.

【００３１】この制御回路４ａに、制御・演算処理装置
（ＣＰＵ）１からＩ／Ｏポート３を介して制御信号を出
力することにより、時定数回路の初期化と起動とを任意
の時点で行うことができる。すなわち、この制御・演算
処理装置（ＣＰＵ）１と制御回路４ａとの組合せによ
り、請求項２に記載の制御手段を実現している。By outputting a control signal from the control / arithmetic processing unit (CPU) 1 to the control circuit 4a via the I / O port 3, the time constant circuit is initialized and started at an arbitrary time. be able to. That is, the control means according to the second aspect is realized by a combination of the control / arithmetic processing device (CPU) 1 and the control circuit 4a.

【００３２】また、コンデンサＣ１の端子電圧Ｖｃは第
１比較器４ｂと第２比較器４ｃのそれぞれのマイナス
（−）端子に接続されている。The terminal voltage Vc of the capacitor C1 is connected to the respective minus (-) terminals of the first comparator 4b and the second comparator 4c.

【００３３】また、電源Ｖには、温度により抵抗値が変
化する抵抗、例えばサーミスタＴＨ１の一方の端子と、
抵抗Ｒ４の一方の端子とがそれぞれ接続されている。こ
のサーミスタＴＨ１の他方の端子は第１比較器４ｂのプ
ラス（＋）端子および抵抗Ｒ３の一方の端子に接続さ
れ、抵抗Ｒ４の他方の端子は第２比較器４ｃのプラス
（＋）端子および抵抗Ｒ５の一方の端子に接続されてい
る。さらに，抵抗Ｒ３の他方の端子および抵抗Ｒ５の他
方の端子はＧＮＤに接続されている。The power supply V has a resistor whose resistance value changes with temperature, for example, one terminal of a thermistor TH1;
One terminal of the resistor R4 is connected to each. The other terminal of the thermistor TH1 is connected to the plus (+) terminal of the first comparator 4b and one terminal of the resistor R3, and the other terminal of the resistor R4 is connected to the plus (+) terminal of the second comparator 4c and the resistor. It is connected to one terminal of R5. Further, the other terminal of the resistor R3 and the other terminal of the resistor R5 are connected to GND.

【００３４】サーミスタＴＨ１と抵抗Ｒ３とによって電
源Ｖの電圧Ｖｐが分圧されることにより抵抗Ｒ３の両端
の電圧は第１基準電圧Ｖｒｅｆ１となる。一方、抵抗Ｒ
４と抵抗Ｒ５とによって電源Ｖの電圧Ｖｐが分圧される
ことにより抵抗Ｒ５の両端の電圧は第２基準電圧Ｖｒｅ
ｆ２となる。When the voltage Vp of the power supply V is divided by the thermistor TH1 and the resistor R3, the voltage across the resistor R3 becomes the first reference voltage Vref1. On the other hand, the resistance R
4 and the resistor R5 divide the voltage Vp of the power supply V, so that the voltage across the resistor R5 becomes the second reference voltage Vre.
f2.

【００３５】第１比較器４ｂは＋端子に入力された電圧
と−端子に入力された電圧を比較し、＋端子の電圧が高
ければ、第１出力端子Ｏｕｔ１に１を出力し、−端子の
電圧が高ければ第１出力端子Ｏｕｔ１に０を出力するこ
とにより、温度検出回路４の出力を２値化して制御・演
算処理装置（ＣＰＵ）１が処理しやすい形にしている。
すなわち、第１基準電圧Ｖｒｅｆ１とコンデンサＣ１の
端子電圧Ｖｃとを比較し、端子電圧Ｖｃが０Ｖから上昇
して第１基準電圧Ｖｒｅｆ１を越えない間は第１比較器
４ｂは１を出力しているが、第１基準電圧Ｖｒｅｆ１を
越えると０を出力し、第１出力端子Ｏｕｔ１が１から０
へと変わることとなる。The first comparator 4b compares the voltage input to the + terminal with the voltage input to the-terminal, and outputs 1 to the first output terminal Out1 if the voltage at the + terminal is higher, and outputs 1 to the first output terminal Out1. If the voltage is high, by outputting 0 to the first output terminal Out1, the output of the temperature detection circuit 4 is binarized so that the control and arithmetic processing unit (CPU) 1 can easily process.
That is, the first reference voltage Vref1 is compared with the terminal voltage Vc of the capacitor C1, and the first comparator 4b outputs 1 while the terminal voltage Vc rises from 0V and does not exceed the first reference voltage Vref1. Outputs 0 when the voltage exceeds the first reference voltage Vref1, and the first output terminal Out1 changes from 1 to 0.
Will be changed to

【００３６】一方、第２比較器４ｃについても、第２出
力端子Ｏｕｔ２は、第１出力端子Ｏｕｔ１と同様に、第
２比較器４ｃの＋端子の電圧と−端子の電圧との比較に
より出力が決定される。すなわち、第２基準電圧Ｖｒｅ
ｆ２とコンデンサＣ１の端子電圧Ｖｃとを比較し、端子
電圧Ｖｃが０Ｖから上昇して第２基準電圧Ｖｒｅｆ２を
越えない間は第２比較器４ｃは１を出力しているが、端
子電圧Ｖｃが第２基準電圧Ｖｒｅｆ２を越えると第２比
較器４ｃは０を出力し、第２出力端子Ｏｕｔ２の出力が
１から０へと変わることとなる。On the other hand, as for the second comparator 4c, the output of the second output terminal Out2 is obtained by comparing the voltage of the + terminal and the voltage of the-terminal of the second comparator 4c, similarly to the first output terminal Out1. It is determined. That is, the second reference voltage Vre
f2 is compared with the terminal voltage Vc of the capacitor C1, and while the terminal voltage Vc rises from 0V and does not exceed the second reference voltage Vref2, the second comparator 4c outputs 1 but the terminal voltage Vc is When the voltage exceeds the second reference voltage Vref2, the second comparator 4c outputs 0, and the output of the second output terminal Out2 changes from 1 to 0.

【００３７】第１出力端子Ｏｕｔ１の出力および第２出
力端子Ｏｕｔ２の出力は、Ｉ／Ｏポート３を介して制御
・演算処理装置（ＣＰＵ）１によって読み取られる。The output of the first output terminal Out1 and the output of the second output terminal Out2 are read by the control and arithmetic processing unit (CPU) 1 via the I / O port 3.

【００３８】次に、前述の温度検出回路の各部の動作に
ついて詳細に説明する。まず、第１基準電圧Ｖｒｅｆ１
および第２基準電圧Ｖｒｅｆ２について説明する。Next, the operation of each part of the above-described temperature detecting circuit will be described in detail. First, the first reference voltage Vref1
And the second reference voltage Vref2 will be described.

【００３９】サーミスタＴＨ１のある温度ｋ℃における
抵抗値Ｒｋは、素子固有の定数Ｂおよび２５℃の時の抵
抗値Ｒ０により、次式（１）で求まる。The resistance value Rk of the thermistor TH1 at a certain temperature k.degree. C. is obtained from the following equation (1) based on the element-specific constant B and the resistance value R0 at 25.degree.

【００４０】[0040]

【数１】 (Equation 1)

【００４１】ここで、温度ｋを横軸、抵抗値Ｒｋを縦軸
とすると、図３に示すような曲線が得られ、温度が高く
なると抵抗値が小さくなり、温度が低くなると抵抗値が
大きくなるという、負の温度特性をもつことがわかる。
ただし、図３に示すように、低温より高温の方が抵抗の
変化の度合いは若干小さくなる。Here, when the temperature k is plotted on the horizontal axis and the resistance value Rk is plotted on the vertical axis, a curve as shown in FIG. 3 is obtained. The resistance value decreases as the temperature increases, and the resistance value increases as the temperature decreases. It has a negative temperature characteristic.
However, as shown in FIG. 3, the degree of change in resistance is slightly smaller at high temperatures than at low temperatures.

【００４２】第１基準電圧Ｖｒｅｆ１は、電源Ｖの電圧
をＶｐ、サーミスタＴＨ１の周辺温度をｋ℃とすると、
抵抗Ｒ３とサーミスタＴＨ１の抵抗値Ｒｋとにより次式
（２）で表される。Assuming that the voltage of the power supply V is Vp and the temperature around the thermistor TH1 is k ° C., the first reference voltage Vref1 is
The resistance R3 and the resistance value Rk of the thermistor TH1 are represented by the following equation (2).

【００４３】[0043]

【数２】 (Equation 2)

【００４４】従って、抵抗Ｒ３を温度変動が極めて小さ
くかつ精度が高い金属被膜抵抗等の抵抗で形成すると、
サーミスタＴＨ１の抵抗値Ｒｋが温度ｋに応じて図３に
示すように変化するため、第１基準電圧Ｖｒｅｆ１の出
力は、温度が高くなると電圧が高くなり、温度が低くな
ると電圧が低くなり、図４に示す曲線のように変化す
る。ここで、抵抗Ｒ３およびサーミスタＴＨ１の配置
は、図２に示す配置と逆であってもよく、その場合の第
１基準電圧Ｖｒｅｆ１の出力は、図４に示す曲線とは傾
きが逆に、すなわち、温度が高くなると電圧が低くな
り、温度が低くなると電圧が高くなることとなる。Therefore, if the resistor R3 is formed by a resistor such as a metal film resistor having extremely small temperature fluctuation and high accuracy,
Since the resistance value Rk of the thermistor TH1 changes as shown in FIG. 3 according to the temperature k, the output of the first reference voltage Vref1 increases as the temperature increases, and decreases as the temperature decreases. It changes like the curve shown in FIG. Here, the arrangement of the resistor R3 and the thermistor TH1 may be opposite to the arrangement shown in FIG. 2, and in this case, the output of the first reference voltage Vref1 has a slope opposite to that of the curve shown in FIG. When the temperature increases, the voltage decreases, and when the temperature decreases, the voltage increases.

【００４５】一方、第２基準電圧Ｖｒｅｆ２は、電源Ｖ
の電圧をＶｐとすると抵抗Ｒ４および抵抗Ｒ５により、
次式（３）で表される。On the other hand, the second reference voltage Vref2 is
Is Vp, resistance R4 and resistance R5
It is expressed by the following equation (3).

【００４６】[0046]

【数３】 (Equation 3)

【００４７】従って、抵抗Ｒ４および抵抗Ｒ５を温度に
対する変動が極めて小さくかつ精度が高い金属被膜抵抗
等の抵抗で形成すると、第２基準電圧Ｖｒｅｆ２の出力
は、図５に示す直線のように、温度が変わっても常に一
定の値となる。Therefore, if the resistors R4 and R5 are formed of a resistor such as a metal film resistor having a very small variation with respect to temperature and high accuracy, the output of the second reference voltage Vref2 will be as shown by the straight line shown in FIG. Is constant even if is changed.

【００４８】次に、時定数回路の動作について説明す
る。この時定数回路においては、抵抗Ｒ１および抵抗Ｒ
２を通してコンデンサＣ１が電源Ｖにより充電される。
このコンデンサＣ１の端子電圧Ｖｃは充電開始からの時
間の経過とともに上昇するが、この経過時間と、電源Ｖ
の電圧ＶｐおよびコンデンサＣ１の端子電圧Ｖｃの比
（すなわちＶｃ／ＶＰ）とは、抵抗Ｒ１、抵抗Ｒ２およ
びコンデンサＣ１により一意的に定まる曲線状となる。Next, the operation of the time constant circuit will be described. In this time constant circuit, the resistors R1 and R
2, the capacitor C1 is charged by the power supply V.
The terminal voltage Vc of the capacitor C1 rises with the lapse of time from the start of charging.
Of the voltage Vp of the capacitor C1 and the terminal voltage Vc of the capacitor C1 (that is, Vc / VP) has a curved shape uniquely determined by the resistor R1, the resistor R2, and the capacitor C1.

【００４９】ここで、抵抗Ｒ１および抵抗Ｒ２を通して
コンデンサＣ１が電源Ｖにより充電される場合における
コンデンサＣ１の端子電圧Ｖｃは、最初にコンデンサＣ
１に蓄積されていた電荷が０であれば、充電開始からの
経過時間をｔ、電源Ｖの電圧をＶｐとすると、次式
（４）で表される。Here, when the capacitor C1 is charged by the power supply V through the resistors R1 and R2, the terminal voltage Vc of the capacitor C1 is first changed to the capacitor C1.
If the electric charge stored in 1 is 0, assuming that the elapsed time from the start of charging is t and the voltage of the power supply V is Vp, it is expressed by the following equation (4).

【００５０】[0050]

【数４】 (Equation 4)

【００５１】ここで、経過時間ｔを横軸とし、コンデン
サＣ１の端子電圧Ｖｃを縦軸とすると、図６に示す曲線
が得られる。ただし、上の式（４）は最初にコンデンサ
Ｃ１に蓄積されていた電荷が０であることが条件となっ
ているので、制御回路４ａを用いて、コンデンサＣ１の
電荷の放電を行う必要がある。If the elapsed time t is set on the horizontal axis and the terminal voltage Vc of the capacitor C1 is set on the vertical axis, a curve shown in FIG. 6 is obtained. However, since the above equation (4) requires that the charge initially stored in the capacitor C1 is 0, it is necessary to discharge the charge of the capacitor C1 using the control circuit 4a. .

【００５２】また、上の式（４）から、ある電圧ｖに達
するまでの充電経過時間ｔは、次式（５）で表される。From the above equation (4), the charging elapsed time t until reaching a certain voltage v is expressed by the following equation (5).

【００５３】[0053]

【数５】 (Equation 5)

【００５４】この経過時間ｔは、（Ｒ１＋Ｒ２）×Ｃ１
が一定であれば、ｖ／Ｖｐが決まれば一意的に決まる。This elapsed time t is (R1 + R2) × C1
Is constant, v / Vp is uniquely determined once v / Vp is determined.

【００５５】本実施の形態では、前述のように第１基準
電圧Ｖｒｅｆ１および第２基準電圧Ｖｒｅｆ２が電源Ｖ
の電圧Ｖｐに比例して高くなる。すなわち、ｖ／Ｖｐを
第１基準電圧Ｖｒｅｆ１に当てはめると、抵抗Ｒ３とサ
ーミスタＴＨ１とによって一意的に決まり、ｖ／Ｖｐを
第２基準電圧Ｖｒｅｆ２に当てはめると抵抗Ｒ４と抵抗
Ｒ５とによって一意的に決まる。従って、時定数回路の
電源Ｖと第１基準電圧Ｖｒｅｆ１および第２基準電圧Ｖ
ｒｅｆ２の電源Ｖを共通にすることで、温度検出回路内
での電源Ｖの電圧Ｖｐの影響が打ち消され、排除できる
形となっている。In this embodiment, as described above, the first reference voltage Vref1 and the second reference voltage Vref2 are
Increases in proportion to the voltage Vp. That is, when v / Vp is applied to the first reference voltage Vref1, it is uniquely determined by the resistor R3 and the thermistor TH1, and when v / Vp is applied to the second reference voltage Vref2, it is uniquely determined by the resistors R4 and R5. . Therefore, the power supply V of the time constant circuit, the first reference voltage Vref1, and the second reference voltage Vref
By making the power supply V of the ref2 common, the influence of the voltage Vp of the power supply V in the temperature detection circuit is canceled out, so that it can be eliminated.

【００５６】第１基準電圧Ｖｒｅｆ１は、温度により変
化するサーミスタＴＨ１の抵抗値に従いある割合で変化
する。すなわち、コンデンサＣ１の端子電圧Ｖｃが第１
基準電圧Ｖｒｅｆ１に達するまでの時間は、温度ｋに従
いある割合で変化する。The first reference voltage Vref1 changes at a certain rate according to the resistance value of the thermistor TH1 which changes with temperature. That is, the terminal voltage Vc of the capacitor C1
The time required to reach the reference voltage Vref1 changes at a certain rate according to the temperature k.

【００５７】ここで、時定数回路の時定数ＴをＴ＝（Ｒ
１＋Ｒ２）×Ｃ１としたときの、コンデンサＣ１の端子
電圧Ｖｃが第１基準電圧Ｖｒｅｆ１に達するまでの時間
ｔ１は、次式（６）で表される。Here, the time constant T of the time constant circuit is represented by T = (R
The time t1 until the terminal voltage Vc of the capacitor C1 reaches the first reference voltage Vref1 when (1 + R2) × C1 is represented by the following equation (6).

【００５８】[0058]

【数６】 (Equation 6)

【００５９】ここで、温度を横軸とし、時間ｔ１を縦軸
とすると、図７に示す曲線が得られ、この時間ｔ１は、
温度ｋが高くなると時間ｔ１が長くなり、温度ｋが低く
なると時間ｔ１が短くなることがわかる。If the temperature is plotted on the horizontal axis and the time t1 is plotted on the vertical axis, a curve shown in FIG. 7 is obtained.
It can be seen that the higher the temperature k, the longer the time t1, and the lower the temperature k, the shorter the time t1.

【００６０】一方、コンデンサＣ１の端子電圧Ｖｃが第
２基準電圧Ｖｒｅｆ２に達するまでの時間ｔ２は、次式
（７）で表される。On the other hand, the time t2 until the terminal voltage Vc of the capacitor C1 reaches the second reference voltage Vref2 is expressed by the following equation (7).

【００６１】[0061]

【数７】 (Equation 7)

【００６２】ここで、抵抗Ｒ５および抵抗Ｒ４が一定で
あれば、図８に示す直線のように、時間ｔ２は一定とな
る。Here, if the resistances R5 and R4 are constant, the time t2 is constant as shown by the straight line in FIG.

【００６３】従って、例えば、サーミスタＴＨ１の温度
２５℃における抵抗値Ｒ０と抵抗Ｒ４を同一とし、さら
に抵抗Ｒ３と抵抗Ｒ５とを同一にすれば、２５℃より低
い温度では時間ｔ２より時間ｔ１は短くなり、逆に温度
が２５℃より高い場合には時間ｔ２より時間ｔ１は長く
なる。Therefore, for example, if the resistance value R0 and the resistance R4 of the thermistor TH1 at a temperature of 25 ° C. are the same and the resistances R3 and R5 are the same, the time t1 is shorter than the time t2 at a temperature lower than 25 ° C. On the contrary, when the temperature is higher than 25 ° C., the time t1 is longer than the time t2.

【００６４】時定数回路のコンデンサＣ１の充電開始か
ら時間ｔ１が経過すると第１比較器４ｂの第１出力端子
Ｏｕｔ１の出力は１から０に変化し、時間ｔ２が経過す
ると第２比較器４ｃの第２出力端子Ｏｕｔ２は１から０
に変化する。When the time t1 has elapsed from the start of charging the capacitor C1 of the time constant circuit, the output of the first output terminal Out1 of the first comparator 4b changes from 1 to 0, and when the time t2 has elapsed, the output of the second comparator 4c changes. The second output terminal Out2 is 1 to 0
Changes to

【００６５】制御回路に制御信号を入力することにより
コンデンサＣ１の充電は開始されるので、その時点から
この第１出力端子Ｏｕｔ１と第２出力端子Ｏｕｔ２の出
力が１から０に変化するまでの時間を、第１出力端子Ｏ
ｕｔ１および第２出力端子Ｏｕｔ２の出力に基づきそれ
ぞれ測定することができる。各端子の電圧のタイミング
チャートの一例を図９に示す。Since the charging of the capacitor C1 is started by inputting the control signal to the control circuit, the time from when the charging of the capacitor C1 changes to the time when the output of the first output terminal Out1 and the output of the second output terminal Out2 change from 1 to 0 is performed. To the first output terminal O
The measurement can be performed based on the outputs of the output terminal ut1 and the second output terminal Out2. FIG. 9 shows an example of a timing chart of the voltage of each terminal.

【００６６】次に、温度を算出するための時間の測定方
法について説明する。制御・演算処理装置（ＣＰＵ）１
は、基本クロック発生回路５ａの出力に従って、Ｎクロ
ック毎にＩ／Ｏポート３を通して第１出力端子Ｏｕｔ１
および第２出力端子Ｏｕｔ２の出力が０であるか１であ
るかを調べたり、制御回路に初期化あるいはスタート信
号を送る。ここでは、基本クロック発生回路５のＮクロ
ックは、０．１ｍｓに等しいものとする。Next, a method of measuring the time for calculating the temperature will be described. Control and arithmetic processing unit (CPU) 1
Is a first output terminal Out1 through the I / O port 3 every N clocks according to the output of the basic clock generation circuit 5a.
It checks whether the output of the second output terminal Out2 is 0 or 1, and sends an initialization or start signal to the control circuit. Here, it is assumed that the N clock of the basic clock generation circuit 5 is equal to 0.1 ms.

【００６７】まず、制御・演算処理装置（ＣＰＵ）１
は、Ｉ／Ｏポート３を通じて温度検出回路４の制御回路
に初期化のための信号を出力する。前述したように、こ
の初期化のための信号の出力により、温度検出回路４の
コンデンサＣ１の電荷が抵抗Ｒ２を介してＧＮＤに放電
され、時定数回路の初期化が行われる。ここで、抵抗Ｒ
２およびコンデンサＣ１の時定数の影響で、コンデンサ
Ｃ１の電荷が放電されるまで若干の時間ｔｏがかかるの
で、充分放電が終了するまで待つ。First, the control / arithmetic processing unit (CPU) 1
Outputs a signal for initialization to the control circuit of the temperature detection circuit 4 through the I / O port 3. As described above, by the output of the signal for initialization, the charge of the capacitor C1 of the temperature detection circuit 4 is discharged to GND via the resistor R2, and the time constant circuit is initialized. Where the resistance R
Due to the influence of the time constant 2 and the time constant of the capacitor C1, it takes some time to discharge the charge of the capacitor C1.

【００６８】この時間ｔｏは、電源Ｖの電圧ＶｐをＶ
ｐ、コンデンサＣ１の端子電圧ＶｃをＶｃ、コンデンサ
Ｃ１の容量をＣ１、抵抗Ｒ２の抵抗値をＲ２とすると次
式（８）で与えられる。During this time to, the voltage Vp of the power supply V is changed to V
p, the terminal voltage Vc of the capacitor C1 is Vc, the capacitance of the capacitor C1 is C1, and the resistance value of the resistor R2 is R2.

【００６９】[0069]

【数８】 (Equation 8)

【００７０】これを時間ｔｏを表現する式に変形する
と、次式（９）のようになる。When this is transformed into an expression expressing time to, the following expression (9) is obtained.

【００７１】[0071]

【数９】 (Equation 9)

【００７２】従って、コンデンサＣ１の端子電圧Ｖｃが
電源Ｖの電圧Ｖｐの１／１０００になる時間ｔを求める
と、コンデンサＣ１の容量および抵抗Ｒ２の抵抗値の積
の約８倍となり、この時間以上、初期化をしておけばよ
い。前述したように抵抗Ｒ２は抵抗Ｒ１に対し１／１０
０程度の小さい値となっているため、温度測定のための
時間ｔ１や時間ｔ２に比べて初期化にかかる時間は充分
小さくなっている。Therefore, when the time t at which the terminal voltage Vc of the capacitor C1 becomes 1/1000 of the voltage Vp of the power supply V is obtained, it is about eight times the product of the capacitance of the capacitor C1 and the resistance value of the resistor R2. , It may be initialized. As described above, the resistance R2 is 1/10 of the resistance R1.
Since it is a small value of about 0, the time required for initialization is sufficiently shorter than the time t1 or time t2 for temperature measurement.

【００７３】次いで、制御・演算処理装置（ＣＰＵ）１
からは、Ｉ／Ｏポート３を通じて、初期化を解除する信
号が出力され、温度検出回路４の時定数回路がコンデン
サＣ１の充電を開始する。制御・演算処理装置（ＣＰ
Ｕ）１は、Ｎクロック毎に第２出力端子Ｏｕｔ２の出力
を監視する。ここで、１８６回目の監視で、第２出力端
子Ｏｕｔ２の出力が１から０に変化したことが検知され
たとすると、Ｎクロックは０．１ｍｓであるから、１８
６回×Ｎクロックで、時間ｔ２は１８．６ｍｓになる。Next, a control / arithmetic processing unit (CPU) 1
Outputs a signal for canceling initialization through the I / O port 3, and the time constant circuit of the temperature detection circuit 4 starts charging the capacitor C1. Control and arithmetic processing unit (CP
U) 1 monitors the output of the second output terminal Out2 every N clocks. Here, if it is detected in the 186th monitoring that the output of the second output terminal Out2 has changed from 1 to 0, the N clock is 0.1 ms.
With 6 times × N clocks, the time t2 becomes 18.6 ms.

【００７４】同様にして、温度検出回路４の制御回路に
より時定数回路を充分初期化した後、第１出力端子Ｏｕ
ｔ１の出力を監視し、第１出力端子Ｏｕｔ１の出力が１
から０に変化するまでの時間ｔ１を測定する。ここで、
１０６回目の監視で、第１出力端子Ｏｕｔ１の出力が１
から０に変化したことが検知されたとすると、Ｎクロッ
クは０．１ｍｓであるから、１０６回×Ｎクロックで、
時間ｔ１は１０．６ｍｓになる。Similarly, after the time constant circuit is sufficiently initialized by the control circuit of the temperature detection circuit 4, the first output terminal Ou
The output of t1 is monitored, and the output of the first output terminal Out1 becomes 1
The time t1 until the time changes from 0 to 0 is measured. here,
In the 106th monitoring, the output of the first output terminal Out1 becomes 1
If it is detected that the clock has changed from 0 to 0, since the N clock is 0.1 ms, 106 times × N clocks,
Time t1 is 10.6 ms.

【００７５】このようにして、温度を測定するためのデ
ータである時間ｔ１と時間ｔ２が測定される。In this way, the time t1 and the time t2, which are data for measuring the temperature, are measured.

【００７６】次に、時間ｔ１および時間ｔ２から温度を
算出する方法について説明する。ここで、標準データ
は、部品のばらつきが無かった場合の複数の温度に対す
る時間ｔ２を示す対応データであり、この標準データの
一例を図１０に示す。この標準データは、記憶装置２に
格納されており、制御・演算処理装置（ＣＰＵ）１に読
み出され、利用される。Next, a method for calculating the temperature from the times t1 and t2 will be described. Here, the standard data is the corresponding data indicating the time t2 with respect to a plurality of temperatures when there is no component variation, and an example of this standard data is shown in FIG. The standard data is stored in the storage device 2 and is read out and used by the control / arithmetic processing device (CPU) 1.

【００７７】例えば、時間ｔ１が、測定の結果１０．６
ｍｓであったとすると、制御・演算処理装置（ＣＰＵ）
１は、図１０の標準データを参照して、１０．６ｍｓに
該当するテーブルを探す。図１０の標準データより、温
度ｋａ＝１０℃を得る。For example, the time t1 is set to 10.6 as a result of the measurement.
ms, control and arithmetic processing unit (CPU)
1 searches for a table corresponding to 10.6 ms with reference to the standard data in FIG. The temperature ka = 10 ° C. is obtained from the standard data of FIG.

【００７８】次に、本実施の形態における誤差を低減す
るための補正値の求め方について説明する。Next, a method for obtaining a correction value for reducing an error in the present embodiment will be described.

【００７９】前述した時間ｔ１から温度ｋａを求めた方
法と同様の方法で、時間ｔ２から温度ｋｃを得る。The temperature kc is obtained from the time t2 in the same manner as the method for obtaining the temperature ka from the time t1 described above.

【００８０】ここで、例えば、温度ｋｃは部品のばらつ
きがなければ、標準データの２５℃の時の時間１６．４
ｍｓに一致するように、第２基準電圧Ｖｒｅｆ２を構成
する抵抗Ｒ４および抵抗Ｒ５を選んでおいたとする。Here, for example, if there is no variation in parts, the temperature kc is the time 16.4 at 25 ° C. of the standard data.
It is assumed that the resistors R4 and R5 constituting the second reference voltage Vref2 have been selected so as to coincide with ms.

【００８１】制御・演算処理装置（ＣＰＵ）１は、測定
した時間ｔ２と記憶装置２に記憶した図１０の標準デー
タテーブルを比較し、時間ｔ２がどの温度のテーブルと
一致するか調べる。The control / arithmetic processing unit (CPU) 1 compares the measured time t2 with the standard data table of FIG. 10 stored in the storage device 2 to check which temperature table matches the time t2.

【００８２】ここで、時間ｔ２が１８．６ｍｓであった
とすると、図１０の標準データより、これに該当する温
度は３０℃となる。Here, assuming that the time t2 is 18.6 ms, the corresponding temperature is 30 ° C. based on the standard data of FIG.

【００８３】本来、第２基準電圧Ｖｒｅｆ２の精度は充
分高く、かつ、２５℃の時の時間ｔ２となるように選ば
れているが、実際は３０℃という温度を示しているの
は、コンデンサＣ１や抵抗Ｒ１や抵抗Ｒ２の温度に対す
る値の変動による結果である。短時間の間に時間ｔ２と
時間ｔ１とを測定することで、時間ｔ２に含まれるコン
デンサＣ１および抵抗Ｒ１および抵抗Ｒ２の誤差の影響
が温度測定用の時間ｔ１に同じように含まれる。Although the accuracy of the second reference voltage Vref2 is originally selected to be sufficiently high and the time t2 at 25.degree. C. is actually, the temperature of 30.degree. This is a result of a change in the value of the resistors R1 and R2 with respect to the temperature. By measuring the time t2 and the time t1 in a short time, the influence of the error of the capacitor C1, the resistor R1, and the resistor R2 included in the time t2 is similarly included in the time t1 for temperature measurement.

【００８４】時間ｔ２で求めた温度ｋｃに現れた誤差
は、３０℃−２５℃＝５℃であり、この５℃が補正値に
なる。この補正値５℃を時間ｔ１から求めた温度ｋａか
ら減じた結果、温度測定値ｔ＝ｔａ−５℃＝１０−５＝
５℃となり、サーミスタＴＨ１により検出された正しい
温度は５℃となる。The error that appears in the temperature kc obtained at the time t2 is 30 ° C.−25 ° C. = 5 ° C., and this 5 ° C. is the correction value. As a result of subtracting the correction value 5 ° C. from the temperature ka obtained from the time t1, the measured temperature value t = ta−5 ° C. = 10−5 =
5 ° C., and the correct temperature detected by the thermistor TH1 is 5 ° C.

【００８５】図１０に示した標準データではテーブルを
２．５℃毎としたが、さらに細かく１℃毎とすることで
１℃刻みで温度が算出できる。In the standard data shown in FIG. 10, the table is set at every 2.5.degree. C. However, the temperature can be calculated in 1.degree.

【００８６】このように、標準データからのずれを補正
する補正値を求め、測定したデータを補正することによ
り、時間ｔ１から求めた温度測定値に含まれるコンデン
サＣ１および抵抗Ｒ１および抵抗Ｒ２の誤差を排除でき
る。As described above, the correction value for correcting the deviation from the standard data is obtained, and the measured data is corrected, whereby the error of the capacitor C1, the resistance R1, and the resistance R2 included in the temperature measurement value obtained from the time t1 is obtained. Can be eliminated.

【００８７】次に、部品の誤差による温度測定値への影
響について説明する。温度検出回路を構成する部品の精
度については、抵抗Ｒ１および抵抗Ｒ２は、±５％と普
通の精度であり、かつ、温度により抵抗値がわずかなが
ら変化する一般的な炭素皮膜抵抗であり、抵抗Ｒ３およ
び抵抗Ｒ４および抵抗Ｒ５は、±１％と高い精度であ
り、かつ、温度による抵抗値変化が極めて少ない金属被
膜抵抗であり、コンデンサＣ１は、静電容量の精度が±
２０％であり、かつ、温度に対して若干容量が変動する
が一般的な積層セラミックコンデンサであり、サーミス
タＴＨ１は、温度定数Ｂの精度が±３％であり、２５℃
時の抵抗値誤差が±５％の一般的な温度に対して負の温
度係数をもったサーミスタであるとする。Next, the influence of the error of the component on the measured temperature value will be described. Regarding the accuracy of the components constituting the temperature detection circuit, the resistors R1 and R2 have a normal accuracy of ± 5%, and are general carbon film resistors whose resistance values slightly change with temperature. R3, resistor R4, and resistor R5 are metal film resistors having a high accuracy of ± 1% and a resistance value change due to temperature is extremely small. Capacitor C1 has a capacitance accuracy of ± 1%.
The thermistor TH1 has a temperature constant B accuracy of ± 3% and a temperature of 25 ° C.
It is assumed that the thermistor has a negative temperature coefficient with respect to a general temperature having a resistance value error of ± 5%.

【００８８】各抵抗は金属被膜抵抗等を使用すれば、比
較的容易に精度を高められるが、コンデンサＣ１につい
ては、時定数回路に用いられる容量０．１μＦ以上のコ
ンデンサのうち、特に静電容量の精度が５％以下のコン
デンサは、その誘電体の温度特性、誘電率精度、製造精
度等により、手に入りにくいものであり、また、手に入
れられたとしても非常に高価なものとなる。そのため、
静電容量の精度が５％以下のコンデンサを用いることは
実用的でない。The accuracy of each resistor can be relatively easily increased by using a metal film resistor or the like. Among the capacitors C1 having a capacitance of 0.1 μF or more used in the time constant circuit, particularly the capacitance C1 is used. A capacitor having an accuracy of 5% or less is difficult to obtain due to the temperature characteristics of the dielectric, the dielectric constant accuracy, the manufacturing accuracy, and the like, and becomes very expensive even if it is obtained. . for that reason,
It is not practical to use a capacitor having a capacitance accuracy of 5% or less.

【００８９】一方、例えば５０℃の温度ｋに対するコン
デンサＣ１の精度が±２０％であった場合、補正値を使
用しないと、図１１に示すように、時間ｔ１の温度特性
は用いたコンデンサＣ１の精度によってばらつき、例え
ば±７．５℃の精度となる。しかし、本実施の形態のよ
うに補正値を使用することにより、図１２に示すよう
に、時間ｔ１の温度特性のばらつきは減少し、例えば±
２℃程度の精度が得られ、実用上問題ない程度となる。
もちろん、補正値を使用しても誤差が打ち消されないサ
ーミスタＴＨ１の誤差については、サーミスタＴＨ１に
さらに高精度なものを使用することにより１℃以下の温
度管理を求められる用途の使用も実現可能である。On the other hand, if the accuracy of the capacitor C1 for a temperature k of 50 ° C. is ± 20% and the correction value is not used, as shown in FIG. The accuracy varies depending on the accuracy, for example, an accuracy of ± 7.5 ° C. However, by using the correction value as in the present embodiment, as shown in FIG. 12, the variation in the temperature characteristic at the time t1 is reduced.
Accuracy of about 2 ° C. is obtained, which is practically acceptable.
Of course, with respect to the error of the thermistor TH1 in which the error is not canceled even if the correction value is used, the use of an application requiring a temperature control of 1 ° C. or less can be realized by using a more accurate thermistor TH1. is there.

【００９０】次に、請求項４記載の温度検出回路につい
て説明する。この温度検出回路では、第１比較器４ｂお
よび第２比較器４ｃを一つのウエハー上に形成された１
チップのもの、一般的にデュアルタイプと呼ばれるもの
で実現して、温度検出回路の測定精度を上げている。Next, a temperature detecting circuit according to a fourth aspect will be described. In this temperature detecting circuit, the first comparator 4b and the second comparator 4c are formed on one wafer formed on one wafer.
This is realized by a chip type, which is generally called a dual type, and improves the measurement accuracy of the temperature detection circuit.

【００９１】実際の比較器では、＋入力と−入力とを比
較する際に、製法上のばらつきにより、どうしてもオフ
セットと呼ばれる電圧が存在する。このオフセットは、
第１基準電圧Ｖｒｅｆ１または第２基準電圧Ｖｒｅｆ２
と、コンデンサＣ１の端子電圧Ｖｃとを比較する際に影
響する。例えば、第１比較器４ｂにおいて＋端子に対す
る−端子のオフセット電圧が１０ｍＶであったとき、本
来、コンデンサＣ１の端子電圧Ｖｃが第１基準電圧Ｖｒ
ｅｆ１を越えたときに第１出力端子Ｏｕｔ１の出力が１
から０に変化するものが、第１基準電圧Ｖｒｅｆ１より
１０ｍＶ低い時点で、第１出力端子Ｏｕｔ１の出力が１
から０に変化することとなり、わずかながら温度データ
の誤差が発生する。In an actual comparator, when comparing the + input and the − input, a voltage called an offset is inevitably present due to manufacturing variations. This offset is
The first reference voltage Vref1 or the second reference voltage Vref2
And the terminal voltage Vc of the capacitor C1. For example, when the offset voltage of the minus terminal with respect to the plus terminal in the first comparator 4b is 10 mV, the terminal voltage Vc of the capacitor C1 is originally equal to the first reference voltage Vr.
When ef1 is exceeded, the output of the first output terminal Out1 becomes 1
When the output from the first output terminal Out1 changes from 1 to 0 at a time point of 10 mV lower than the first reference voltage Vref1.
From 0 to 0, and a slight error in the temperature data occurs.

【００９２】同じように、補正値を求めるために使用し
ている第２比較器４ｃでもオフセット電圧が存在するた
め、部品の誤差の影響を低減するために用いた前述の補
正値に対しても影響があり、さらにわずかながら誤差が
発生する。特に、第１比較器４ｂと第２比較器４ｃとが
異なる極性のオフセット電圧をもつ場合は、誤差が加算
される結果となる。Similarly, since the offset voltage also exists in the second comparator 4c used for obtaining the correction value, the second comparator 4c is also used for the above-mentioned correction value used for reducing the influence of the component error. There is an effect, and a slight error occurs. In particular, when the first comparator 4b and the second comparator 4c have offset voltages of different polarities, the result is that errors are added.

【００９３】請求項４に記載の温度検出回路では、第１
比較器４ｂと第２比較器４ｃとが同一のウエハー上に構
成された１チップのもので実現されていることにより、
第１比較器４ｂおよび第２比較器４ｃは同じような電気
的特性をもつようになるため、同じ極性で同じ程度のオ
フセット電圧をもつことになり、第１比較器４ｂおよび
第２比較器４ｃが同じような誤差をもつ。そのため、第
２比較器４ｃで求めた時間ｔ２から算出した補正値によ
り、第１比較器４ｂで求めた時間ｔ１から算出した温度
値を補正することにより、この誤差が打ち消され、第１
比較器４ｂと第２比較器４ｃの部品バラツキによるオフ
セット電圧の、温度測定データヘの悪影響を避けること
が可能となる。In the temperature detection circuit according to the fourth aspect, the first
Since the comparator 4b and the second comparator 4c are implemented by one chip configured on the same wafer,
Since the first comparator 4b and the second comparator 4c have similar electric characteristics, they have the same polarity and the same offset voltage, and the first comparator 4b and the second comparator 4c Have similar errors. Therefore, the error is canceled by correcting the temperature value calculated from the time t1 obtained by the first comparator 4b with the correction value calculated from the time t2 obtained by the second comparator 4c, and the first error is canceled.
It is possible to avoid an adverse effect on the temperature measurement data due to the offset voltage due to the component variation between the comparator 4b and the second comparator 4c.

【００９４】次に、請求項５に記載の温度測定方法を温
度検出回路に適応した場合の実施の形態について説明す
る。Next, an embodiment in which the temperature measuring method according to claim 5 is applied to a temperature detecting circuit will be described.

【００９５】請求項５に記載の温度測定方法によると、
予め、前述した温度検出回路の第１出力端子Ｏｕｔ１の
出力が変化するまでの時間ｔと第２出力端子Ｏｕｔ２の
出力が変化するまでの時間ｔ２との比を、温度毎に求
め、各温度に対する比を示すデータを参照データとし
て、記憶装置２に格納している。すなわち、サーミスタ
ＴＨ１の温度変化に影響される第１基準電圧Ｖｒｅｆ１
により求まる時間ｔ１で、第２基準電圧Ｖｒｅｆ２によ
り求まる時間ｔ２（標準データのテーブル）を割った値
を参照データのテーブル値として格納する。According to the temperature measuring method of the fifth aspect,
The ratio between the time t until the output of the first output terminal Out1 of the temperature detection circuit changes and the time t2 until the output of the second output terminal Out2 changes for each temperature is determined in advance for each temperature. Data indicating the ratio is stored in the storage device 2 as reference data. That is, the first reference voltage Vref1 that is affected by the temperature change of the thermistor TH1
The value obtained by dividing the time t2 (table of standard data) obtained by the second reference voltage Vref2 by the time t1 obtained by the above is stored as the table value of the reference data.

【００９６】この請求項５記載の温度検出方法を適用し
た場合に、記憶装置２に記憶される参照データの一例を
図１３に示す。FIG. 13 shows an example of the reference data stored in the storage device 2 when the temperature detecting method according to claim 5 is applied.

【００９７】例えば、抵抗Ｒ３と抵抗Ｒ５とを同じ値と
し、抵抗Ｒ４をサーミスタＴＨ１の２５℃の抵抗値Ｒ０
とを同じ値とした場合、参照データの値は２５℃で１．
０００となり、２５℃以下で時間ｔ１が短くなっていく
ため、２５℃より低い温度のテーブルでは１．０００よ
り小さくなり、逆に２５℃より高い温度のテーブルでは
１．０００より大きくなる。For example, the resistance R3 and the resistance R5 are set to the same value, and the resistance R4 is set to 25 ° C. resistance R0 of the thermistor TH1.
Is the same value, the value of the reference data is 1.
Since the time t1 becomes shorter at 25 ° C. or less, the time t1 becomes smaller than 1.000 in a table having a temperature lower than 25 ° C., and conversely becomes larger than 1.000 in a table having a temperature higher than 25 ° C.

【００９８】この参照データを用いれば、時間ｔ２およ
び時間ｔ１を測定した後、制御・演算処理装置（ＣＰ
Ｕ）１において時間ｔ１を時間ｔ２で割った値を求め、
その値を記憶装置２に記憶した参照データの値と比較
し、値が同じであるテーブルの温度を、最終的な温度と
すればよい。By using this reference data, after measuring the time t2 and the time t1, the control and arithmetic processing unit (CP
U) In step 1, a value obtained by dividing time t1 by time t2 is obtained.
The value may be compared with the value of the reference data stored in the storage device 2, and the temperature in the table having the same value may be used as the final temperature.

【００９９】すなわち、時間ｔ１および時間ｔ２のそれ
ぞれを標準データの値と比較してそれぞれの温度を求
め、さらに時間ｔ２から補正値を求めた後、時間ｔ１か
ら求めた温度をその補正値で補正して温度を求めるとい
う作業が不必要となり、より温度換算作業が効率的に実
現される。That is, each of the time t1 and the time t2 is compared with the value of the standard data to obtain the respective temperature, and further, a correction value is obtained from the time t2, and then the temperature obtained from the time t1 is corrected by the correction value. This eliminates the need for the operation of determining the temperature, and the temperature conversion operation is more efficiently realized.

【０１００】例えば、時間ｔ２が１８．６ｍｓ、時間ｔ
１が１０．３ｍｓであるとすると、時間ｔ１／時間ｔ２
は０．５５５となり、図１３に示す参照データから、温
度５℃に相当する０．５５５と一致するため、正しい温
度は５℃となる。For example, the time t2 is 18.6 ms, and the time t
Assuming that 1 is 10.3 ms, time t1 / time t2
Is 0.555, which is equal to 0.555 corresponding to the temperature of 5 ° C. from the reference data shown in FIG. 13, so that the correct temperature is 5 ° C.

【０１０１】図１３に示す参照データでは、温度２．５
℃毎の時間ｔ１および時間ｔ２の比率を示しているが、
さらに細かく１℃毎とすることで１℃刻みで温度が算出
できる。According to the reference data shown in FIG.
The ratio of time t1 and time t2 for each ° C is shown,
The temperature can be calculated in increments of 1 ° C. by setting the temperature to 1 ° C. more finely.

【０１０２】また、時間ｔ１および時間ｔ２の求まる式
として、前述したように、同じ割合で時定数回路のばら
つき（抵抗Ｒ１および抵抗Ｒ２とコンデンサＣ１との積
のばらつき）が加わるため、時間ｔ１を時間ｔ２で割っ
た結果である比Ｄは次式（１０）のようになる。As described above, the time t1 and the time t2 can be obtained by the same ratio of the variation of the time constant circuit (the variation of the product of the resistor R1 and the product of the resistor R2 and the capacitor C1). The ratio D, which is the result of dividing by the time t2, is as shown in the following equation (10).

【０１０３】[0103]

【数１０】 (Equation 10)

【０１０４】この比Ｄに時定数を構成する抵抗Ｒ１およ
び抵抗Ｒ２およびコンデンサＣ１の精度のばらつき要素
は入らないため、その影響が完全に排除され、高精度の
温度測定を実現することができる。Since the ratio D does not include a variation element in the accuracy of the resistors R1, R2, and the capacitor C1, which constitute the time constant, the influence is completely eliminated, and a highly accurate temperature measurement can be realized.

【０１０５】前述の補正値を用いた場合、時間ｔ１およ
び時間ｔ２と記憶された時間とを比較するため、基本ク
ロック発生回路５として、水晶発振器等の高精度なもの
を用いた場合は充分な精度が得られるが、その基本クロ
ックに温度ドリフトや経年変化等が伴うものを使用した
場合は、基本クロック発生回路５のクロックの精度が測
定時間に影響し、補正値のずれが生じる。When the above-described correction value is used, the time t1 and the time t2 are compared with the stored time. Therefore, when a high-precision crystal oscillator or the like is used as the basic clock generation circuit 5, it is sufficient. Accuracy can be obtained, but if a basic clock that is accompanied by temperature drift, aging, or the like is used, the accuracy of the clock of the basic clock generation circuit 5 affects the measurement time, causing a shift in the correction value.

【０１０６】しかし、時間ｔ１および時間ｔ２の比を用
いて、その比により温度を求める請求項５記載の温度検
出方法では、基本クロック発生回路５のクロックが設計
よりずれた場合でも、時間ｔ１と時間ｔ２とを測定する
短時間の間だけ基本クロック発生回路５のクロックが安
定していれば、同じ割合で時間ｔ１および時間ｔ２が変
わるため、相殺されて影響が排除され、高精度の温度測
定を実現することができる。However, in the temperature detecting method according to the fifth aspect, the temperature is obtained by using the ratio of the time t1 and the time t2, and even if the clock of the basic clock generation circuit 5 is deviated from the design, the time t1 and the time t1 are determined. If the clock of the basic clock generation circuit 5 is stable only for a short period of time for measuring the time t2, the time t1 and the time t2 change at the same rate. Can be realized.

【０１０７】このようにして、この比率計算データ（参
照テーブル）を用いる請求項５記載の温度測定方法を請
求項１記載の温度検出回路に適応することにより、より
高い精度を維持、実現する温度検出回路を得ることがで
きる。As described above, by applying the temperature measurement method according to the fifth aspect using the ratio calculation data (reference table) to the temperature detection circuit according to the first aspect, the temperature that maintains and realizes higher accuracy can be obtained. A detection circuit can be obtained.

【０１０８】[0108]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項１
記載の温度検出回路によれば、非常に簡素な手法で、温
度測定が精度良く行え、回路が簡単になり少ない部品で
温度測定が可能となる。例えば、アナログ−デジタル変
換回路（Ａ−Ｄコンバータ）等の複雑な回路素子を必要
とせず、回路の大幅なコストダウンとなる。また、プロ
グラムにより制御・動作・演算を行うシステムに適応す
る場合では、既存の制御・演算処理装置（ＣＰＵ）およ
び基本クロック発生回路を利用できるため、既存資産を
有効活用でき、温度検出回路の導入コストが低く抑えら
れる。また、精度の良くない安価なコンデンサを使用し
ても、比較的安価な高精度の抵抗を用いることで、コン
デンサのばらつきによる誤差が圧縮され、温度の測定精
度が高くなる。また、温度によるコンデンサの容量の変
化が、温度検出に影響しないため、安価な温度特性を持
ったコンデンサを使用でき、コンデンサの選択が容易に
なる。また、温度テーブルの細かさで測定結果の温度の
細かさが調節できるため、必要な温度測定精度に合わせ
て温度テーブルを作成するだけで、既在の記憶装置を有
効活用できる。As described above, according to the first aspect of the present invention,
According to the described temperature detection circuit, the temperature can be accurately measured by a very simple method, the circuit can be simplified, and the temperature can be measured with a small number of components. For example, a complicated circuit element such as an analog-to-digital conversion circuit (AD converter) is not required, and the cost of the circuit is greatly reduced. In addition, in the case of adapting to a system that performs control, operation, and operation by a program, an existing control and operation processing device (CPU) and a basic clock generation circuit can be used. Costs can be kept low. Further, even if an inexpensive low-precision capacitor is used, the use of a relatively inexpensive high-precision resistor compresses errors due to variations in the capacitor, thereby increasing the temperature measurement accuracy. Further, since the change in the capacitance of the capacitor due to the temperature does not affect the temperature detection, a capacitor having inexpensive temperature characteristics can be used, and the selection of the capacitor is facilitated. Further, since the fineness of the temperature of the measurement result can be adjusted by the fineness of the temperature table, the existing storage device can be effectively used only by creating the temperature table in accordance with the required temperature measurement accuracy.

【０１０９】また、請求項２記載の温度検出回路によれ
ば、請求項１記載の温度検出回路による効果に加え、制
御信号１つで、任意の時間に、何度でも簡単に安定して
温度測定が可能となり使い勝手が向上する。According to the temperature detecting circuit of the second aspect, in addition to the effect of the temperature detecting circuit of the first aspect, the temperature can be easily and stably controlled any number of times by a single control signal. Measurement becomes possible and usability is improved.

【０１１０】また、請求項３記載の温度検出回路によれ
ば、非常に簡素な手法で、温度測定が精度良く行え、回
路が簡単になり少ない部品で温度測定が可能となる。例
えば、アナログ−デジタル変換回路（Ａ−Ｄコンバー
タ）等の複雑な回路素子を必要とせず、温度をデジタル
に変換することが可能となり、回路の大幅なコストダウ
ンとなる。また、プログラムにより制御・動作・演算を
行うシステムに適応した場合では、既存の制御・演算処
理装置（ＣＰＵ）および基本クロック発生回路を利用で
きるため、既存資産の有効活用でき、温度検出回路の導
入コストが低く抑えられる。また、精度の良くない安価
なコンデンサを使用しても、比較的安価な高精度の抵抗
を用いることで、コンデンサのばらつきによる誤差が圧
縮され、温度が精度良く測定できる。According to the temperature detecting circuit of the third aspect, the temperature can be accurately measured by a very simple method, the circuit is simplified, and the temperature can be measured with a small number of components. For example, the temperature can be converted to digital without requiring a complicated circuit element such as an analog-digital conversion circuit (AD converter), and the cost of the circuit is greatly reduced. In addition, when applied to a system that performs control, operation, and calculation by a program, an existing control and calculation processing device (CPU) and a basic clock generation circuit can be used, so that existing resources can be effectively used, and a temperature detection circuit is introduced. Costs can be kept low. Further, even if an inexpensive low-precision capacitor is used, by using a relatively inexpensive high-precision resistor, errors due to variations in the capacitor are compressed, and the temperature can be measured with high accuracy.

【０１１１】また、請求項４記載の温度検出回路によれ
ば、請求項１記載の温度検出回路による効果に加え、温
度検出に用いる比較器のばらつきによる、温度測定デー
タの誤差の増加を防ぐことができるので、温度測定の精
度を高く保持できる。また、部品の変更あるいは交換を
行っても、第１比較器および第２比較器を同時に交換で
きるので、温度測定データの誤差の変動を防ぐことがで
き、温度測定の精度を高く保持できる。According to the temperature detecting circuit of the fourth aspect, in addition to the effect of the temperature detecting circuit of the first aspect, it is possible to prevent an increase in errors in temperature measurement data due to variations in comparators used for temperature detection. Therefore, the accuracy of the temperature measurement can be kept high. Further, even if the parts are changed or replaced, the first comparator and the second comparator can be replaced at the same time, so that the fluctuation of the error of the temperature measurement data can be prevented, and the accuracy of the temperature measurement can be kept high.

【０１１２】また、請求項５記載の温度検出方法によれ
ば、時間データから温度データヘ換算する手順が簡単に
なり、温度測定作業が効率化する。また、請求項１記載
の補正値を使用する温度検出回路より、部品による誤差
が排除され、より高精度の温度測定が可能となる。さら
に、基本クロックとして用いる発生回路の経年変化、誤
差等による温度データへの影響を無くせるため、温度デ
ータの測定が高精度で保持される。According to the temperature detecting method of the fifth aspect, the procedure for converting the time data into the temperature data is simplified, and the temperature measuring work is made more efficient. In addition, the temperature detection circuit using the correction value according to claim 1 eliminates errors due to components, and enables more accurate temperature measurement. Further, in order to eliminate the influence on the temperature data due to aging, errors and the like of the generation circuit used as the basic clock, the measurement of the temperature data is held with high accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の温度検出回路を含んでなる温度測定シ
ステムの一例を示す説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram showing an example of a temperature measurement system including a temperature detection circuit of the present invention.

【図２】本発明の温度検出回路の一実施の形態を示す回
路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing one embodiment of a temperature detection circuit of the present invention.

【図３】図２に示す温度検出回路を構成するサーミスタ
の、温度に対する抵抗値の変化の一例を示すグラフであ
る。3 is a graph showing an example of a change in resistance value of a thermistor included in the temperature detection circuit shown in FIG. 2 with respect to temperature.

【図４】図２に示す温度検出回路中の第１基準電圧の、
温度に対する変化の一例を示すグラフである。FIG. 4 is a diagram showing a first reference voltage in the temperature detection circuit shown in FIG. 2;
5 is a graph illustrating an example of a change with respect to a temperature.

【図５】図２に示す温度検出回路中の第２基準電圧の、
温度に対する変化の一例を示すグラフである。FIG. 5 illustrates a second reference voltage in the temperature detection circuit illustrated in FIG. 2;
5 is a graph illustrating an example of a change with respect to a temperature.

【図６】図２に示す温度検出回路を構成するコンデンサ
の、経過時間に対する端子電圧の変化の一例を示すグラ
フである。6 is a graph illustrating an example of a change in terminal voltage of a capacitor included in the temperature detection circuit illustrated in FIG. 2 with respect to an elapsed time.

【図７】図２に示す温度検出回路を構成するコンデンサ
の端子電圧が第１基準電圧に達するまでの時間ｔ１の、
温度に対する変化の一例を示すグラフである。7 is a diagram illustrating a time t1 until a terminal voltage of a capacitor constituting the temperature detection circuit illustrated in FIG. 2 reaches a first reference voltage;
5 is a graph illustrating an example of a change with respect to a temperature.

【図８】図２に示す温度検出回路を構成するコンデンサ
の端子電圧が第２基準電圧に達するまでの時間ｔ２の、
温度に対する変化の一例を示すグラフである。8 is a diagram illustrating a time t2 until a terminal voltage of a capacitor included in the temperature detection circuit illustrated in FIG. 2 reaches a second reference voltage.
5 is a graph illustrating an example of a change with respect to a temperature.

【図９】図２に示す温度検出回路を構成する制御回路の
制御信号、コンデンサの端子電圧、第１出力端子の出
力、および第２出力端子の出力の一例を示すタイミング
チャートである。9 is a timing chart illustrating an example of a control signal, a terminal voltage of a capacitor, an output of a first output terminal, and an output of a second output terminal of a control circuit included in the temperature detection circuit illustrated in FIG. 2;

【図１０】図１に示す温度測定システムを構成する記憶
装置に格納されている標準データの一例を示す図表であ
る。10 is a chart showing an example of standard data stored in a storage device constituting the temperature measurement system shown in FIG.

【図１１】補正値を使わない場合に得られる、図２に示
す温度検出回路を構成するコンデンサの端子電圧が第１
基準電圧に達するまでの時間ｔ１の、温度に対する変化
の一例を示すグラフである。FIG. 11 shows a case where the terminal voltage of the capacitor constituting the temperature detection circuit shown in FIG.
9 is a graph illustrating an example of a change in time t1 until a reference voltage is reached with respect to temperature.

【図１２】補正値を使った場合に得られる、図２に示す
温度検出回路を構成するコンデンサの端子電圧が第１基
準電圧に達するまでの時間ｔ１の、温度に対する変化の
一例を示すグラフである。FIG. 12 is a graph showing an example of a change in time t1 with respect to temperature until a terminal voltage of a capacitor constituting the temperature detection circuit shown in FIG. 2 reaches a first reference voltage, which is obtained when a correction value is used. is there.

【図１３】図１に示す温度測定システムを構成する記憶
装置に格納されている参照データの一例を示す図表であ
る。13 is a chart showing an example of reference data stored in a storage device configuring the temperature measurement system shown in FIG.

【図１４】従来の電子タイマ回路の一例を示す回路図で
ある。FIG. 14 is a circuit diagram showing an example of a conventional electronic timer circuit.

【図１５】従来の通電時間設定回路の一例を示す図であ
る。FIG. 15 is a diagram showing an example of a conventional energization time setting circuit.

【図１６】従来の温度測定システムの一例を示す図であ
る。FIG. 16 is a diagram showing an example of a conventional temperature measurement system.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１ 制御・演算処理装置 ２ 記憶装置 ３ Ｉ／Ｏポート ４ 温度検出回路 ５ 基本クロック発生回路 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Control / arithmetic processing unit 2 Storage device 3 I / O port 4 Temperature detection circuit 5 Basic clock generation circuit

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 インダクタまたはコンデンサからなる回
路素子、および抵抗素子のうちの少なくとも１つで構成
される時定数回路と、 温度によって抵抗値が変化するサーミスタ素子、および
温度による抵抗値の変化が少ない抵抗素子で構成される
第１抵抗分割回路と、 温度による抵抗値の変化が少ない抵抗素子で構成される
第２抵抗分割回路と、 時定数回路の電位変動後の出力値と第１抵抗分割回路の
出力値とを比較する第１比較手段と、 時定数回路の電位変動後の出力値と第２抵抗分割回路の
出力値とを比較する第２比較手段とを備えており、 第２比較手段からの出力を標準データとし、第１比較手
段からの出力を測定データとし、この測定データを標準
データを用いて補正することを特徴とする温度検出回
路。1. A time constant circuit comprising at least one of a circuit element composed of an inductor or a capacitor and a resistance element, a thermistor element whose resistance value changes with temperature, and a small change in resistance value with temperature. A first resistance dividing circuit composed of a resistance element; a second resistance division circuit composed of a resistance element having a small change in resistance value due to temperature; an output value of the time constant circuit after a potential change and a first resistance division circuit And a second comparing means for comparing the output value of the time constant circuit after the potential change with the output value of the second resistance dividing circuit, and a second comparing means. A temperature detection circuit, wherein the output from the first comparator is used as standard data, the output from the first comparing means is used as measurement data, and the measurement data is corrected using the standard data. 【請求項２】 前記時定数回路の起動およびリセットを
制御する制御手段をさらに備えた請求項１記載の温度検
出回路。2. The temperature detection circuit according to claim 1, further comprising control means for controlling activation and reset of said time constant circuit. 【請求項３】 前記回路素子が、第１抵抗分割回路およ
び第２抵抗分割回路を構成する抵抗素子よりも、温度に
よる特性の変化が大きい素子である請求項１の温度検出
回路。3. The temperature detection circuit according to claim 1, wherein the circuit element is an element whose characteristic changes with temperature are larger than those of the resistance elements forming the first resistance division circuit and the second resistance division circuit. 【請求項４】 前記第１比較手段および第２比較手段
が、１つの集積回路チップ中に形成されている請求項１
記載の温度検出回路。4. The first comparison means and the second comparison means are formed in one integrated circuit chip.
The temperature detection circuit as described. 【請求項５】 インダクタまたはコンデンサからなる回
路素子、および抵抗素子のうちの少なくとも１つで構成
される時定数回路と、温度によって抵抗値が変化するサ
ーミスタ素子、および温度による抵抗値の変化が少ない
抵抗素子で構成される第１抵抗分割回路と、温度による
抵抗値の変化が少ない抵抗素子で構成される第２抵抗分
割回路と、時定数回路の電位変動後の出力値と第１抵抗
分割回路の出力値とを比較する第１比較手段と、時定数
回路の電位変動後の出力値と第２抵抗分割回路の出力値
とを比較する第２比較手段とを備えた温度検出回路を用
いた温度検出方法であって、 温度検出回路を所定の温度環境中に配置した状態で、第
２比較手段の出力から、時間情報および温度情報を伴っ
た標準データを求めるステップと、第１比較手段の出力
から、時間情報および温度情報を伴った測定データを求
めるステップと、測定データ中の時間情報を示すデータ
と標準データ中の時間情報を示すデータとの比を算出す
るステップとを温度を変化させて複数回繰り返して、温
度情報および比情報を伴った参照データを作成した後、 温度検出回路を検出対象環境中に配置した状態で、第２
比較手段の出力から、時間情報および温度情報を伴った
標準データを求めるステップと、第１比較手段の出力か
ら、時間情報および温度情報を伴った測定データを求め
るステップと、測定データ中の時間情報を示すデータと
標準データ中の時間情報を示すデータとの比を算出する
ステップと、求めた比と一致する参照データ中の比情報
を検索し、検索した比情報に対応した温度情報を検出す
べき温度とするステップとを実行することを特徴とする
温度測定方法。5. A time constant circuit comprising at least one of a circuit element formed of an inductor or a capacitor and a resistance element, a thermistor element whose resistance value changes with temperature, and a small change in resistance value with temperature. A first resistance dividing circuit composed of a resistance element, a second resistance division circuit composed of a resistance element having a small change in resistance value with temperature, an output value of the time constant circuit after a potential change, and a first resistance division circuit And a second comparing means for comparing the output value of the time constant circuit after the potential change and the output value of the second resistance dividing circuit with each other. A temperature detection method comprising: a step of obtaining standard data with time information and temperature information from an output of a second comparison means in a state where a temperature detection circuit is arranged in a predetermined temperature environment; The step of obtaining measurement data accompanied by time information and temperature information from the output of the step, and the step of calculating the ratio of the data indicating time information in the measurement data to the data indicating time information in the standard data, After generating the reference data with the temperature information and the ratio information by changing the temperature and the ratio information a plurality of times, with the temperature detection circuit arranged in the detection target environment, the second
A step of obtaining standard data with time information and temperature information from the output of the comparing means; a step of obtaining measurement data with time information and temperature information from the output of the first comparing means; Calculating a ratio between the data indicating the time information and the data indicating the time information in the standard data; searching for ratio information in the reference data that matches the obtained ratio; and detecting temperature information corresponding to the searched ratio information. Performing a step of setting a temperature to be performed.