JP2000136984A - センサピクセル画像を処理する画像フィルタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】人間の知覚に基づいて画像等級付けを行うこと
ができる。 【解決手段】光センサの画質を等級付ける複数しきい値
の光ビニング方法を提供する。この発明によると、セン
サテスターは、被試験センサにセンサピクセル画像を生
成させる。センサピクセル画像は複数のピクセルを含
み、それぞれのピクセルは、関連する量子化輝度レベル
により表現される。ピクセルの量子化輝度レベルは、第
１のピクセルクラス、第２のピクセルクラスまたは第３
のピクセルクラスのうちの１つに分類される。画像フィ
ルタはセンサピクセル画像を処理は、許容可能ピクセル
クラスに分類されるすべてのピクセルをフィルタリング
して、欠陥ピクセルマップを生成する。欠陥ピクセルマ
ップは、第１および／または第２のピクセルクラスに分
類されるが第３のピクセルクラスには分類されない量子
化輝度レベルを持つピクセルを含む。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は概して画像処理に
関し、より具体的には画像特徴のしきい値を使用して光
センサの画質を等級づける方法および装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】デジタル画像は、それぞれがデジタル的
に輝度レベルに量子化されたピクセルアレイである。デ
ジタル画像には、相当量の記憶領域が必要であることが
知られている。たとえば、モノクロ画像において、それ
ぞれ８ビットで表現される階調（グレーレベル）に量子
化される５１２×５１２ピクセルのアレイから構成され
るデジタル画像は、０．２５メガバイトの記憶領域を必
要とする。サンプリングレート（すなわち、アレイのピ
クセル数）を上げる、および／または量子化レベル（す
なわち、画像を表現するビット数すなわち階調（グレー
レベル））を上げると、画像に必要とされる記憶領域量
がさらに増大する。三原色である赤（Ｒ）、緑（Ｇ）お
よび青（Ｂ）（業界では総称してＲＧＢ成分として知ら
れる）の組み合わせの輝度レベルを変化させることで通
常形成されるカラーを使用すると、また必要な記憶領域
量が増大する。したがって、１つの画像について生成さ
れるデータ量が大きいため、コンピュータ・アプリケー
ションにおける高解像度のデジタル画像の使用は、最近
まで一般的にある程度制限されていた。

【０００３】過去数年にわたる最近のコンピュータシス
テムにおける処理能力量およびデータ記憶容量の急激な
上昇に伴い、より低コスト、したがってより多くのエン
ドユーザに対して向上した可用性、より高い解像度（よ
り多くのピクセル数によって表される）、より高品質
（量子化レベルの数が増加することにより表される）、
およびカラーデジタル画像の使用でさえもますます実用
可能になってきている。

【０００４】同時に、インターネットおよびデジタルセ
ルラー方式の両方についてネットワーク帯域幅およびネ
ットワーク・スイッチングハードウェアにおける改良も
含めて、最近のデジタル電気通信システム技術の急激な
上昇により、ネットワーク化されたコンピュータにおけ
るビジネス通信およびパーソナル通信の両方が増大し
た。これにより、最近の遠隔通信の一部としてデジタル
画像に対する需要およびその使用が増加した。

【０００５】コンピュータ・アプリケーションおよび通
信におけるデジタル画像の使用増加に伴い、画像の品質
に対して注目が高まっている。デジタル画像は、ミクロ
デンシトメーター（microdensitometer）、飛点走査器
（flying spot scanner）、解像管（image dissecto
r）、ビジコンカメラ、および光電性の固体（ソリッド
ステート）アレイセンサを介する方法も含めて、多くの
方法で生成することができる。

【０００６】ミクロデンシトメーターおよび飛点走査器
は、フィルムネガまたは写真のようなアナログ透明陽画
の形で入力を受け取り、それらをデジタルピクセルファ
イルにデジタル化する。解像管およびビジコンカメラで
は、画像は、その応答が入射光パターンに比例する光電
性の管上に結像される。解像管は電磁石を使用し、ディ
セクター管の後ろに配置されたピンホールを通過するビ
ーム全体を偏向させる。ピンホールは、小さな断面のビ
ームのみを通過させ、このビームが１つのピクセルに量
子化される。電磁石は、所望の別個のピクセルそれぞれ
についてビームを動かさなければならない。ビジコンカ
メラでは、管の表面上に結像された画像は、光学画像に
おける輝度の分布を整合するよう変化する導電率パター
ンを生成する。導電率パターンは電子ビームによって走
査され、電子ビームはこれを入力画像の輝度パターンに
比例する信号に変換する。この信号は量子化され、デジ
タル画像を生成する。

【０００７】デジタル画像を生成するのに明らかに最も
一般的な方法は、固体アレイを介する方法である。固体
アレイセンサは、「フォトサイト（photosite）」と呼
ばれる個々のシリコン撮像素子のアレイを含み、通常、
２つの幾何学的配列のうちのいずれかに編成される。第
１の幾何学的配列は「ラインスキャンセンサ（line-sca
n sensor）」と呼ばれ、１行のフォトサイトを備え、情
景（シーン）と検出器との間の相対運動により二次元画
像を生成する。第２の幾何学的配列は「エリアセンサ
（area sensor）」と呼ばれ、フォトサイトの二次元マ
トリクスであり、ビジコンカメラと同様の方法で画像を
取り込む。

【０００８】デジタル画像センサの製造において、セン
サの品質は、画質に基づく等級の異なるレベルに分類さ
れることが多い。たとえば、固体アレイセンサでは、セ
ンサを構成する１つ以上のフォトサイトで欠陥が発生す
ることが珍しくなく、そのセンサを保持すべきかそれと
も破棄すべきかに関して判定を行う必要がある。等級
は、そのアレイセンサによって生成される画像の品質を
反映し、特定のアレイセンサに適する適切な用途を示す
のに使用される。

【０００９】図１は、いくつかの一般的なタイプの欠陥
を含む空白画像１０を示す二次元ピクセル図である。欠
陥ピクセルはこの図において四角で囲まれている。欠陥
の１つの種類は「点（point）」欠陥として知られる。
点欠陥は、ピクセル１２および２０のように単一ピクセ
ルの欠陥であり、この場合Ｎ個の近傍ピクセルすべてに
は欠陥がない。二次元アレイにおいて、座標（ｘ,ｙ）
のピクセルｐは、ｐから一単位距離である（ｘ＋１,
ｙ）、（ｘ−１,ｙ）、（ｘ,ｙ＋１）、（ｘ,ｙ−１）
に位置する４つの水平および垂直の近傍ピクセルと、ｐ
から一単位距離である（ｘ＋１,ｙ＋１）、（ｘ＋１,ｙ
−１）、（ｘ−１,ｙ＋１）および（ｘ−１,ｙ−１）に
位置する４つの対角線上の近傍ピクセルを有する。当該
技術分野の当業者には理解されるように、画像の境界に
沿って位置するピクセルは、計算される近傍ピクセルの
うちいくつかの位置が画像の外側にあるため、近傍ピク
セルの完全なセットは持たない。

【００１０】画質を規定する一般的な方法は、「暗い」
および／または「明るい」ピクセル輝度の平均値に対し
て１つの低（暗い）しきい値限界および／または高（明
るい）しきい値限界を設定することに基づく。図２は、
従来技術の単一しきい値欠陥ピクセル方式を示すグラフ
である。この方式において、暗いしきい値限界より下お
よび／または明るいしきい値限界より上の輝度を有する
ピクセルが欠陥としてフラグを立てられる。図３の
（ａ）は図１のピクセル画像の斜視図であり、図３の
（ｂ）はその側面図であり、量子化輝度レベルがｚ軸に
沿ってプロットされている。

【００１１】画質は、許容されるクラスタの最大サイズ
と、単一ピクセル欠陥およびクラスタ欠陥の数に基づい
て等級に分類される。典型的に、図１および図３の１２
および２０で示される点欠陥は、裸眼では知覚できな
い。このため、１つまたは２、３個の点欠陥ピクセルを
有するセンサは、欠陥を含んではいるが実際には多くの
用途に対して十分高品質であり、したがっていくつかの
用途に使用することができる。

【００１２】別の種類の欠陥は「クラスタ」欠陥として
知られる。クラスタ欠陥は１４で示されるピクセルの集
合的な群のように、物理的に隣接した点欠陥が集まった
ものである。

【００１３】単一しきい値方法の欠点は、人間の目によ
って容易に観察される局所的な非均一性すなわち「領域
（エリア）欠陥」を検出できないことがあるということ
である。たとえば、１６および１８の集合ピクセルの一
部は暗いしきい値レベルよりも上であり、そのため単一
しきい値方法を使用するとクラスタ欠陥が検出されな
い。しかし、近傍ピクセルの一部は、人間の目で集合的
に見ると十分に暗く、領域欠陥を容易に観察することが
できる。より厳しい暗い（明るい）しきい値レベルを設
定すると、領域欠陥検出およびクラスタ検出には役立つ
が、これにより欠陥の数が多くなり、通常の観察条件下
では欠陥として知覚されない単一ピクセル欠陥の検出が
多くなる。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】人間の知覚に基づいて
等級づける１つの方法は、全アレイの小さなサブセット
（部分集合）においてほぼ近傍の濃度平均を計算して、
局所的な平均に限界を設定することにより、局所的な非
均一性を検出することによる。しかし、局所的な平均を
計算するには大量のデータを集めて処理する必要があ
り、結果としてテスト時間が非常に長くなり、テスト費
用が高くなる。

【００１５】したがって、高テストコストを伴わない、
人間の知覚に基づいた改良型の画像等級付方法が必要と
されている。

【００１６】

【課題を解決するための手段】この発明は、被試験光セ
ンサによって生成される画像の画質を等級づける新規な
方法および装置である。この発明によると、センサテス
ターは、被試験センサにセンサピクセル画像を生成させ
る。センサピクセル画像は複数のピクセルから構成さ
れ、それぞれのピクセルは、関連する量子化輝度レベル
によって表現される。ピクセルの量子化輝度レベルは、
第１のピクセルクラス、第２のピクセルクラス、または
第３のピクセルクラス（たとえば、暗いピクセルクラ
ス、薄暗いピクセルクラス、および許容可能ピクセルク
ラス）のうちの１つに分類されることができる。画像フ
ィルタは、センサピクセル画像を処理し、許容可能ピク
セルクラスに分類されるすべてのピクセルをフィルタリ
ングして、欠陥ピクセルマップを生成する。欠陥ピクセ
ルマップは、第１および／または第２のピクセルクラス
に分類されるが第３のピクセルクラスには分類されない
量子化輝度レベルを持つピクセルを含む。

【００１７】この発明により、ビニング(binning)プロ
セッサは、センサピクセル画像から、明らかに欠陥であ
る（すなわち、第１のピクセルクラスに分類される）か
または欠陥の可能性がある（すなわち、第２のピクセル
クラスに分類される）かのいずれかのピクセルのみを処
理することができる。フィルタリングされたピクセルに
ついてのみ局所的な平均濃度計算を使用することで、ビ
ニングプロセッサは領域欠陥を識別するとともに、被試
験センサの画質を高速に等級づけることができる。

【００１８】この発明は、図面とともに以下の詳細な説
明を読むことにより、よりよく理解されよう。図面にお
いて同一の符号は同一の構成要素を示すのに使用され
る。

【００１９】

【発明の実施の形態】光センサの画質を等級づける新規
な方法および装置が、ここで詳細に説明される。この発
明は光センサを背景に説明されるが、この発明の方法お
よび装置が、任意のデジタル画像ビニング・アプリケー
ションに適用しうることが、当該技術分野の当業者には
理解されよう。

【００２０】図４を参照すると、光センサテストシステ
ム１００が示される。システム１００は、被試験光セン
サ１０４を試験するセンサテスター１０２を備える。セ
ンサテスター１０２は、被試験センサ１０４からセンサ
のピクセル画像１０５を生成させる。ある実施形態にお
いて、光学テストに用いられる標準的な撮像条件は、タ
ングステンハロゲンランプ（図示せず）を使用し、被試
験センサ１０４のフォトサイトアレイを均一に照明す
る。センサピクセル画像１０５は、被試験センサ１０４
により生成された画像におけるすべてのピクセルまたは
そのサブセットの量子化輝度レベルを含む。

【００２１】画像フィルタ１０６は、センサピクセル画
像１０５のそれぞれのピクセルを処理し、図５に示すよ
うに、ピクセルの量子化輝度レベルを、「薄暗い」
（「明るい」）ピクセルクラスおよび「暗い」（「最も
明るい」）ピクセルクラスの要件と比較する。センサピ
クセル画像１０５において薄暗い（明るい）ピクセルク
ラスおよび／または暗い（最も明るい）ピクセルクラス
の要件に一致するピクセルが、被試験センサ１０４に関
連する欠陥ピクセルマップ１０８に加えられる。画像フ
ィルタ１０６は、一般に図６に示される薄暗い（明る
い）ピクセルクラス比較器１６６および暗い（最も明る
い）ピクセルクラス比較器１６８を備え、これらは、処
理されるべきそれぞれのピクセルの量子化輝度レベルを
クラスパラメータ（すなわち、範囲を定める輝度しきい
値レベル）と比較して、所与のピクセルがそれぞれのク
ラスに分類されるかどうか判定する。画像フィルタ１０
６は、ソフトウェアプロセスとして、または一組の薄暗
い（明るい）比較回路および暗い（最も明るい）比較回
路を使用するハードウェアにおいて実現することができ
る。欠陥ピクセルマップジェネレータ１７０は、暗い
（明るい）または薄暗い（最も明るい）ピクセルクラス
のいずれかに分類されるそれぞれピクセルについてのエ
ントリを蓄積する。好ましい実施形態において、欠陥ピ
クセルマップ１０８のそれぞれのエントリは、それに関
連するピクセルの座標および薄暗い／暗い（明るい／最
も明るい）という等級を含む。センサピクセル画像１０
５全体が画像フィルタ１０６により処理されると、特定
の被試験センサ１０４に関連する欠陥ピクセルマップ１
０８は、センサピクセル画像１０５の画像ピクセルのセ
ット全体のうち、薄暗い／暗い（明るい／最も明るい）
という等級のうちの１つに分類される画像ピクセルのサ
ブセットを含む。典型的な製造プロセスでは、画像フィ
ルタ１０６は、センサピクセル画像１０５からすべての
「良好な」ピクセルをフィルタリングして、欠陥ピクセ
ルマップ１０８を生成するよう動作し、それにより、ビ
ニングプロセッサ１１０が処理しなければならないピク
セルの大部分（通常９９％）を除外する。さらに、ビデ
オグラフィックスアレイ（ＶＧＡ）のような比較的小さ
なアレイさえも非常に大きなピクセル数（307,200個）
を表すため、センサテスター１０２から遠隔地に配置さ
れたビニングプロセッサ１１０まで、散在するピクセル
情報をアップロードするのに必要な時間がかなり低減さ
れる。

【００２２】図７の（ａ）は、図１のピクセル画像の斜
視図であり、図７の（ｂ）はその側面図であり、この発
明の２しきい値方法を使用して得られる、異なる製造歩
留まりの結果を示す。この例では、暗いしきい値レベル
を緩和することができるため、人間の目に知覚されない
輝度レベルのピクセル２０は欠陥としてフラグを立てら
れないが、知覚されうるほど十分暗いピクセル１２は欠
陥として取り込まれる。さらに、この発明は新しい薄暗
いピクセルクラスを要求するため、領域欠陥の検出がビ
ニングプロセッサ１１０にとってはるかにより容易にな
る。多くの隣接する、またはほぼ近傍にある薄暗いピク
セルは、人間の目に知覚されうる領域欠陥を示すことが
ある。これは、従来技術の単一しきい値方法を用いては
検出されない。

【００２３】点欠陥がクラスタ欠陥に結合されるとき、
近傍距離が定義される。大きな近傍距離を使用すること
により、単一しきい値モデル下では検出することができ
ない、薄暗いピクセルのまばらなセットがクラスタに結
合される。クラスタの程度は、その暗さおよびサイズに
より評価される。領域欠陥は、大きなクラスタが平均輝
度を超えるときに発生する。小さなサイズのクラスタに
ついては、暗さは、暗いおよび薄暗いピクセルの数によ
り記述される。

【００２４】ビニングプロセッサ１１０は、欠陥ピクセ
ルマップ１０８を処理して、被試験センサ１０４がどの
画像等級に分類されるかを判定する。ビニングプロセッ
サ１１０は、ハードウェアまたはソフトウェアで実現す
ることができ、センサテスター１０２内にあっても、ま
たはそれから離れていてもよい。画像等級は製造業者の
仕様であって、それぞれの格付け（グレード）レベルを
判定するのに使用される格付けおよび基準は、通常製造
業者ごとに異なる。しかし、この発明において検出され
る薄暗い（明るい）および暗い（最も明るい）の等級の
ような異なる輝度レベル等級の検出とともに、人間の知
覚に基づいて画像を等級づけるよう、ビニングプロセッ
サ１１０をより多くの知能（インテリジェンス）で実現
することができる。たとえば、ビニングプロセッサ１１
０は、欠陥ピクセルマップ１０８に含まれるピクセルに
ついてのみ局所的な平均濃度計算を行い、そうでなけれ
ば検出されないかもしれない領域欠陥を検出する。さら
に、ビニングプロセッサ１１０は、完全な画像からのピ
クセルの微小なサブセットのみを処理するため、より精
密な知能を実現し、従来技術の画像等級付け技術よりも
いっそう試験時間を短縮することができる。

【００２５】図８は、画像フィルタ１０６によって行わ
れる方法の一実施形態のフローチャートである。ステッ
プ３０２において、ピクセルをセンサピクセル画像１０
５から得る。ピクセル輝度値は、「薄暗い」（「明る
い」）しきい値レベルと比較される。このしきい値レベ
ルは、「暗い」（「最も明るい」）しきい値レベルより
も輝度がより明るい（より暗い）。ステップ３０６にお
いて、ピクセル輝度値が薄暗い（明るい）しきい値レベ
ル以下であるかどうか判定が行われる。以下でない場合
には、ステップ３１８に進む。薄暗い（明るい）しきい
値レベル以下であるならば、ステップ３０８において、
ピクセル輝度値が暗い（最も明るい）しきい値と比較さ
れる。ステップ３１０において、ピクセル輝度値が暗い
（最も明るい）しきい値レベル以下であるかどうか判定
が行われる。ピクセル輝度値が暗い（最も明るい）しき
い値レベル以下であるならば、ステップ３１２におい
て、そのピクセルが「暗い」ピクセルクラスに属するも
のとしてマークされる。ピクセル輝度値が暗い（最も明
るい）しきい値レベルより上であるならば、ステップ３
１４において、そのピクセルは「薄暗い」ピクセルクラ
スに属するものとしてマークされる。そのピクセルが、
それぞれのステップ３１２または３１４において「暗
い」または「薄暗い」のいずれかとして等級づけられる
ため、ステップ３１６において、そのピクセルは欠陥ピ
クセルマップ１０８に加えられる。ステップ３１８にお
いて判定されるように、センサピクセル画像１０５が画
像フィルタ１０６によって処理されるピクセルをまだ含
んでいるならば、ステップ３０２から３１８が繰り返さ
れる。センサピクセル画像１０５のすべてのピクセルが
処理されると、方法３００が完了する。

【００２６】方法３００は、センサピクセル画像１０５
のピクセルを逐次処理するが、代わりに、ピクセルを並
列に処理してもよいことが、当該技術分野の当業者には
理解されよう。ピクセル画像の並列処理は、被試験セン
サ１０４のピクセル輝度値が複数のピンを介して並列に
利用可能である場合に、特に適切である。

【００２７】詳細に上述したように、この発明は散在す
るデータセットのみを使用して、人間の知覚に従って等
級づける効率的な技術を提供する。

【００２８】この発明は、以下の実施態様を含む。 （１）被試験センサ（１０４）により生成されるセンサ
ピクセル画像（１０５）を処理する画像フィルタであっ
て、該センサピクセル画像（１０５）のそれぞれは、関
連する量子化輝度レベルにより表現される複数のピクセ
ルを含んでおり、該量子化輝度レベルは、第１のピクセ
ルクラス、第２のピクセルクラスまたは第３のピクセル
クラスのうちの１つのクラス内にあり、前記画像フィル
タが、前記センサピクセル画像（１０５）の前記複数の
ピクセルを受け取る画像フィルタ入力と、前記センサピ
クセル画像（１０５）の前記複数のピクセルに関連する
前記量子化輝度レベルのそれぞれが、前記第１のピクセ
ルクラス、前記第２のピクセルクラスまたは前記第３の
ピクセルクラスのいずれに分類されるかを判定するフィ
ルタ（１０６）と、前記複数のピクセルのうち、前記第
１のピクセルクラスおよび／または前記第２のピクセル
クラスに分類されるが前記第３のピクセルクラスには分
類されないピクセルを示す印を出力する画像フィルタ出
力と、を備える画像フィルタ。

【００２９】（２）前記画像フィルタ出力からの前記印
に応答して、欠陥ピクセルマップ（１０８）を生成する
欠陥ピクセルマップジェネレータを備え、前記欠陥ピク
セルマップ（１０８）が、前記センサピクセル画像（１
０５）の前記複数のピクセル（１０８）のサブセットを
含み、該複数のピクセルのそれぞれが、前記第１のピク
セルクラスおよび／または前記第２のピクセルクラスに
分類されるが前記第３のピクセルクラスには分類されな
い量子化輝度レベルを有するようにした上記（１）に記
載の画像フィルタ。

【００３０】（３）前記欠陥ピクセルマップ（１０８）
を処理して、前記被試験センサ（１０４）の画質等級を
判定するビニングプロセッサ（１１０）を備え、前記被
試験センサ（１０４）が複数の品質カテゴリのいずれに
属するかを前記画質等級が示すようにした上記（２）に
記載の画像フィルタ。

【００３１】（４）前記被試験センサ（１０４）によ
り、前記センサピクセル画像（１０５）が生成されるよ
うにするセンサテスター（１０２）を備える上記（１）
から（３）のいずれかに記載の画像フィルタ。

【００３２】（５）前記フィルタ（１０６）が、前記量
子化されたピクセル輝度が、前記第１のピクセルクラス
に分類されるかどうかを判定する第１の比較器（１６
６）と、前記量子化されたピクセル輝度が、前記第２の
ピクセルクラスに分類されるかどうかを判定する第２の
比較器（１６８）と、を備える上記（１）から（４）の
いずれかに記載の画像フィルタ。

【００３３】（６）前記第１のピクセルクラスが、暗い
しきい値レベルより下のピクセルを含む暗いピクセルク
ラスを含み、前記第２のピクセルクラスが、薄暗いしき
い値より下であり、かつ前記暗いしきい値レベルより上
のピクセルを含む薄暗いピクセルクラスを含む上記
（１）から（５）のいずれかに記載の画像フィルタ。

【００３４】（７）前記第１のピクセルクラスが、最も
明るいしきい値レベルより上のピクセルを含む最も明る
いピクセルクラスを含み、前記第２のピクセルクラス
が、明るいしきい値より上であり、かつ前記最も明るい
しきい値レベルより下のピクセルを含むより明るいピク
セルクラスを含む上記（１）から（５）のいずれかに記
載の画像フィルタ。

【００３５】（８）前記第１のピクセルクラスが、暗い
しきい値レベルより下のピクセルを含む暗いピクセルク
ラスと、最も明るいしきい値レベルより上のピクセルを
含む最も明るいピクセルクラスとを含み、前記第２のピ
クセルクラスが、薄暗いしきい値より下であり、かつ暗
いしきい値レベルより上のピクセルを含む薄暗いピクセ
ルクラスと、明るいしきい値より上であり、かつ前記最
も明るいしきい値レベルより下のピクセルを含む明るい
ピクセルクラスとを含む上記（１）から（５）のいずれ
かに記載の画像フィルタ。

【００３６】（９）被試験の光センサ（１０４）により
生成された画像の画質を等級づける方法であって、前記
被試験光センサ（１０４）により生成されたセンサピク
セル画像（１０５）を得るステップであって、該センサ
ピクセル画像（１０５）は、それぞれが関連する量子化
輝度レベルによって表現される複数のピクセルを含んで
おり、該量子化輝度レベルは、第１のピクセルクラス、
第２のピクセルクラスまたは第３のピクセルクラスのい
ずれかにあり、それぞれが前記第１のピクセルクラスお
よび／または前記第２のピクセルクラスに分類されるが
前記第３のピクセルクラスには分類されない量子化輝度
レベルを有する前記複数のピクセルのサブセットを含む
欠陥ピクセルマップ（１０８）を生成するステップと、
を含む画像の画質を等級づける方法。

【００３７】（１０）前記生成ステップが、前記複数の
ピクセルのうちの未処理ピクセルに関連する量子化輝度
レベルを得るステップと、前記量子化輝度レベルを、前
記第１のピクセルクラスを定義する予め決められた第１
のピクセルクラスパラメータのセットと比較するステッ
プと、前記量子化輝度レベルが、前記第１のピクセルク
ラスに分類されるかどうかを判定するステップと、前記
量子化輝度レベルを、前記第２のピクセルクラスを定義
する予め決められた第２のピクセルクラスパラメータの
セットと比較するステップと、前記量子化輝度レベルが
前記第２のピクセルクラスに分類されるかどうかを判定
するステップと、前記複数のピクセルのうちの前記未処
理ピクセルに関連する前記量子化輝度レベルが、前記第
１のピクセルクラスまたは前記第２のピクセルクラスの
いずれかに分類されるならば、前記複数のピクセルのう
ちの前記未処理ピクセルを前記欠陥ピクセルマップ（１
０８）に加えるステップと、前記複数のピクセルが１つ
以上の未処理ピクセルを含むならば、前記量子化輝度レ
ベルを得るステップから前記欠陥ピクセルマップに加え
るステップを繰り返すステップと、を含む上記（９）に
記載の画像の画質を等級づける方法。

【００３８】

【発明の効果】高テストコストを伴わない、人間の知覚
に基づいた改良型の画像等級付方法を提供することによ
り、センサによって生成される画像に対し、画質に基づ
いて等級付けを行い、そのセンサを保持すべきかそれと
も破棄すべきかに関して判定できるようにする。

【図面の簡単な説明】

【図１】いくつかの一般的な種類の欠陥を含む空白画像
１０を示す、二次元ピクセル図。

【図２】従来技術の単一しきい値欠陥ピクセル方式を示
すグラフ。

【図３】（ａ）図１のピクセル画像の斜視図、および
（ｂ）図１および図３の（ａ）のピクセル画像の側面
図。

【図４】本発明による光センサテストシステム１００を
示す図。

【図５】本発明の２しきい値欠陥ピクセル方式を示すグ
ラフ。

【図６】本発明による画像フィルタの一実施形態のブロ
ック図。

【図７】（ａ）図１のピクセル画像の斜視図、および
（ｂ）図１および図７の（ａ）のピクセル画像の側面図
であり、本発明の２しきい値方法を使用して得られる利
点を示す図。

【図８】 本発明による方法の一実施形態のフローチャ
ート。

【符号の説明】

１０２ センサテスター １０４ 被試験センサ １０５ センサピクセル画像 １０６ フィルタ １０８ 欠陥ピクセルマップ １１０ ビニングプロセッサ １６６ 第１の比較器 １６８ 第２の比較器

フロントページの続き (71)出願人 399117121 395 Ｐａｇｅ Ｍｉｌｌ Ｒｏａｄ Ｐ ａｌｏ Ａｌｔｏ，Ｃａｌｉｆｏｒｎｉａ Ｕ．Ｓ．Ａ.

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被試験センサによって生成されるセンサピ
   クセル画像を処理する画像フィルタであって、 該センサピクセル画像のそれぞれは、関連する量子化輝
   度レベルにより表現される複数のピクセルを含んでお
   り、該量子化輝度レベルは、第１のピクセルクラス、第
   ２のピクセルクラス、または第３のピクセルクラスのう
   ちの１つのクラス内にあり、前記画像フィルタが、 前記センサピクセル画像の前記複数のピクセルを受け取
   る画像フィルタ入力と、 前記センサピクセル画像の前記複数のピクセルに関連す
   る前記量子化輝度レベルのそれぞれが、前記第１のピク
   セルクラス、前記第２のピクセルクラス、または前記第
   ３のピクセルクラスのいずれに分類されるかを判定する
   フィルタと、 前記複数のピクセルのうち、前記第１のピクセルクラス
   および／または前記第２のピクセルクラスに分類される
   が前記第３のピクセルクラスには分類されないピクセル
   を示す印を出力する画像フィルタ出力と、 を備える画像フィルタ。