JP2000124507A - 表面実装型発光ダイオード - Google Patents

表面実装型発光ダイオード

Info

Publication number
JP2000124507A
JP2000124507A JP31689198A JP31689198A JP2000124507A JP 2000124507 A JP2000124507 A JP 2000124507A JP 31689198 A JP31689198 A JP 31689198A JP 31689198 A JP31689198 A JP 31689198A JP 2000124507 A JP2000124507 A JP 2000124507A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
resin layer
emitting element
resin
mold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP31689198A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3434714B2 (ja
Inventor
Yoshio Murano
由夫 村野
Akira Koike
晃 小池
Koichi Fukazawa
孝一 深澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Citizen Electronics Co Ltd
Original Assignee
Citizen Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Citizen Electronics Co Ltd filed Critical Citizen Electronics Co Ltd
Priority to JP31689198A priority Critical patent/JP3434714B2/ja
Publication of JP2000124507A publication Critical patent/JP2000124507A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3434714B2 publication Critical patent/JP3434714B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48257Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a die pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12041LED
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単に且つ大量な生産が可能で、蛍光剤等を
最適位置に混入することが可能な表面実装型発光ダイオ
ード及びその製造方法を提供する。 【解決手段】 第1の樹脂層48には、発光素子42か
らの光に反応して光量を増す蛍光物質等が混入されてい
る。第2の樹脂層50には、第1の樹脂層48及び発光
素子42の劣化を防止する紫外線吸収剤等の老化防止剤
が混入されている。蛍光物質は発光素子42の周囲に沈
殿し、最適位置に混入される。老化防止剤は紫外線を吸
収して、紫外線による第1の樹脂層48や発光素子42
の劣化を防止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、発光素子を樹脂モ
ールドした電子部品に関するものであり、特に、プリン
ト基板への表面実装に適した表面実装型発光ダイオード
の構造及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の発光ダイオードとして
は、特開平5−152609号公報、実公昭54−41
660号公報、実開昭63−108655号公報及び特
開平7−99345号公報に開示されているものがあ
り、それぞれ図30乃至図33に示すような構成からな
るものであった。
【0003】即ち、この従来の発光ダイオードは、図3
0乃至図32に示すもののように、一方のリードフレー
ム2又は端子ピン6にダイボンドされ、他方のリードフ
レーム4又は端子ピン8にワイヤーボンドされた発光素
子10を、蛍光剤を入れた樹脂12や老化防止剤を入れ
た樹脂14で封止したものであった。また、図33に示
すもののように、リードフレーム2の端部に設けられた
カップ2a内に発光素子10をダイボンドし、そのカッ
プ2a内にて発光素子10を蛍光剤等が入った樹脂16
で封止し、更に蛍光剤等を混入していない樹脂18でリ
ードフレーム2、4と共に一体化したものもあった。
【0004】図30乃至図32に示す発光ダイオードは
次のようにして製造される。図34に示すように、対を
なすリードフレーム2、4が継ぎ部20を介して多数連
設されてたものを用意し、はじめに、このような連設さ
れたリードフレーム2、4にそれぞれ発光素子10がダ
イボンド及びワイヤーボンドされて電気的導通が図られ
る。次に、図34に示すように、複数の成形部22aが
設けられて多数個取りが可能な金型22の成形部22a
内に、リードフレーム2、4の先端が位置するようにリ
ードフレーム2、4を固定し、更に、金型24をセット
した後、金型22内に圧力をかけて樹脂を充填してイン
サート成形を行う。その後、樹脂を冷却硬化させ、継ぎ
部20を切断してリードフレーム2、4を切り離し、完
成させる。
【0005】上記インサート成形に使用される樹脂は、
図35及び図36に示すような、エポキシ樹脂に蛍光剤
あるいは老化防止剤を混入したペレット26を熱で溶解
したものを用いている。
【0006】一方、図33に示す発光ダイオードも、上
述した図30乃至図32に示すものとほぼ同様の工程を
経て製造されるが、2種類の樹脂16、18を使用して
いるため、その製造工程がより煩雑なものとなってい
る。即ち、発光素子10をダイボンド及びワイヤーボン
ドした後、蛍光剤等を混入した樹脂16をリードフレー
ム2のカップ2a内に充填して硬化させる。その後、前
述したものと同様に、金型22にリードフレーム2、4
をセットし、蛍光剤等を混入していない樹脂18を充填
することによりインサート成形を行う。
【0007】この発光ダイオードにおいて使用される樹
脂も、前述したものと同様にエポキシ樹脂に蛍光剤等を
混入したペレット26を溶かしたものを使用し、更に、
蛍光剤等を混入していないエポキシ樹脂のペレットを溶
かしたものも使用している。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記図30乃至図32
に示す従来の発光ダイオードにおいては、図34に示す
ように、金型22が下で、リードフレーム2、4が上に
なるように配置されてインサート成形されている。この
ような配置において、蛍光剤や老化防止剤は、一般的な
樹脂モールド材としてのエポキシ樹脂より比重が重いた
め、エポキシ樹脂内では沈んでしまう。このため、図3
7に示すように、樹脂12のエポキシ樹脂部分12aが
硬化するまでに蛍光剤等は下方に沈殿して、沈殿部分1
2bを形成してしまい、エポキシ樹脂部分12aに均一
に混入することができなかった。また、金型22、24
を上下逆にして、レンズ部頂点にゲートを作って成形す
る方法もあるが、レンズ部頂点にゲート残りとしてのバ
リや凹凸ができてしまい、バリ取り等の工数も必要で、
又、集光性等レンズ効果に問題が出てしまうため、この
方法でも問題が残る。
【0009】このように均一に蛍光剤等を混入すること
ができないと、図38に示すように、その沈殿部分12
bにより輝度のムラやバラツキ等が発生し、発光変換効
率が悪くなるという課題が生じるものであった。
【0010】特に、蛍光剤を樹脂に混入する場合、均一
に発光し且つ輝度を高めるため、発光素子の周辺に蛍光
剤が位置することが最も理想的な状態であり、これに次
いで樹脂内に均一に分布することが好ましい状態と言え
る。この観点からすれば、図38に示す発光ダイオード
は、その蛍光剤等が発光素子10から最も離れた樹脂1
2の先端部分に位置しており、しかもその先端部分に集
まって沈殿していて樹脂12内に均一に分布もしていな
いため、最も悪い状態となっていた。
【0011】また、図33に示す発光ダイオードにおい
ては、蛍光剤を混入した樹脂をリードフレーム2のカッ
プ2a内に充填して硬化した後に、金型22に入れてイ
ンサート成形しているため、前述したような図30乃至
図32に示す発光ダイオードのように蛍光剤等が発光素
子10から離れた所に沈殿することがないものとなって
いる。しかしながら、この発光ダイオードにおいては、
樹脂16をカップ2a内にて充填・硬化させ、その後、
金型22(図34)にセットして樹脂18を充填・硬化
させるという、全く異なる手法で2つの樹脂をそれぞれ
充填・硬化させることが必要であったため、図30乃至
図32のものに比べて製造にかかる時間と手間が大幅に
増加するという課題があった。また、このような生産性
の悪さにより、コストアップをまねくという課題もあっ
た。
【0012】更に、上記従来の発光ダイオードは、何れ
も金型を用いたインサート成形加工を要するものであっ
た。このため、モールド樹脂材としてエポキシ樹脂のペ
レット材を準備し、これを成形時に溶解して金型内に射
出することが必要であった。その際に使用するペレット
26(図35、図36)は、一般に数トン単位のロット
で製造・販売されている汎用性の高いものと異なり、蛍
光剤等を混入した特殊なものであり、しかも1度に数キ
ログラム単位でしか必要とされないものであるためコス
トが高くなり、材料費の低減を図ることが困難であっ
た。
【0013】更にまた、金型22(図34)を用いたイ
ンサート成形では、その成形部22aに樹脂を圧力をか
けて送り込む関係上、1度に多数の発光ダイオードをモ
ールドする多数個取りをしたとしても、せいぜい数十個
単位でしか成形することができず、量産性の向上が望め
ないという課題があった。
【0014】また、従来の発光ダイオードにおいては、
リードフレーム材を金型で所定のリードフレームの形状
に形成し、前述したように発光素子を取り付けてから金
型にセットして樹脂で封止した後、リードフレームの継
ぎ部20(図34)を切除することが必要であった。こ
のため、リードフレーム形成用の金型、インサート成形
用の金型、リードフレームの継ぎ部切断用装置、成形機
等が必要であり、それらの機器に直接かかる費用とそれ
らのメンテナンス等の間接的にかかる費用が極めて多く
なり、このような設備費の上昇がコストアップをまねく
という課題もあった。
【0015】更に、従来の発光ダイオードにおいては、
リード端子、即ちリードフレームの端部にて回路基板と
の電気的接続を図ることが必要であったため、図38に
示すように、回路基板28に穴を形成してそこにリード
フレーム2、4を差し込み、回路基板28上の導電パタ
ーン30に半田付けしていた。このように、回路基板2
8に穴が必要であったり、その穴にリードフレームを差
し込む作業が必要であったため、作業性が著しく悪いと
いう課題があった。特に、衝撃や落下、取扱の不注意に
より、リードフレームが曲がってしまうと回路基板の穴
への挿入が困難になり、自動マウントができず、手作業
で対応することが必要であった。
【0016】本発明は、上記従来技術の課題に鑑みなさ
れたもので、簡単に且つ大量な生産が可能で、蛍光剤等
を最適位置に混入することが可能な表面実装型発光ダイ
オード及びその製造方法を提供するものである。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明の表面実装型発光
ダイオードは、絶縁基板と、該絶縁基板の表面に形成さ
れた電極パターンと、該電極パターンに接続された発光
素子と、該発光素子を覆い、該発光素子が発する光の光
量を増す第1の樹脂層と、該第1の樹脂層を覆い、該第
1の樹脂層及び前記発光素子の劣化を防止する第2の樹
脂層と、からなるものである。
【0018】上記表面実装型発光ダイオードにおける前
記第1の樹脂層には波長変換材料が混入されたものとな
っている。また、前記波長変換材料は、蛍光染料及び蛍
光顔料の一方又は両方からなる蛍光物質となっている。
【0019】また、上記表面実装型発光ダイオードにお
ける前記第1の樹脂層には拡散剤及び着色剤の一方又は
両方が混入されている。
【0020】上記表面実装型発光ダイオードにおける前
記第2の樹脂層には老化防止剤が混入されたものとなっ
ている。また、前記老化防止剤は紫外線吸収剤からなる
ものである。
【0021】上記表面実装型発光ダイオードにおける前
記発光素子は窒化ガリウム系化合物半導体からなるもの
である。
【0022】また、上記表面実装型発光ダイオードにお
ける前記発光素子はシリコンカーバイド系化合物半導体
からなるものでもある。
【0023】一方、本発明の表面実装型発光ダイオード
の製造方法は、複数の電極パターンと複数のスルーホー
ル電極が形成された大型絶縁基板の前記スルーホール電
極をフィルムで塞ぐ工程と、前記電極パターン上に発光
素子をダイボンドする工程と、前記発光素子を前記電極
パターンにワイヤーボンドする工程と、前記大型絶縁基
板上に、前記複数の電極パターンを全て囲う枠状の金型
を固定し、該金型内に第1の樹脂を注入して前記電極パ
ターン及び前記発光素子を覆い、該発光素子が発する光
の光量を増す第1の樹脂層を形成する工程と、前記第1
の樹脂層を硬化させる工程と、前記金型内に第2の樹脂
を注入して前記第1の樹脂層を覆い、該第1の樹脂層及
び前記発光素子の劣化を防止する第2の樹脂層を形成す
る工程と、前記第2の樹脂層を硬化させる工程と、前記
金型を取り外し、前記第1及び第2の樹脂層と共に前記
大型絶縁基板を切断して単体のチップ部品にする工程
と、からなる。
【0024】また、本発明の表面実装型発光ダイオード
の製造方法は、複数の電極パターンと複数のスルーホー
ル電極が形成された大型絶縁基板の前記電極パターン上
に発光素子をダイボンドする工程と、前記発光素子を前
記電極パターンにワイヤーボンドする工程と、前記大型
絶縁基板上に、1チップの表面実装型発光ダイオードに
対応する前記電極パターンをそれぞれ囲う複数の窓部を
有する金型を固定し、該金型の窓部内に第1の樹脂を注
入して前記電極パターン及び前記発光素子を覆い、該発
光素子が発する光の光量を増す第1の樹脂層を形成する
工程と、前記第1の樹脂層を硬化させる工程と、前記金
型の窓部内に第2の樹脂を注入して前記第1の樹脂層を
覆い、該第1の樹脂層及び前記発光素子の劣化を防止す
る第2の樹脂層を形成する工程と、前記第2の樹脂層を
硬化させる工程と、前記金型を取り外し、前記大型絶縁
基板を切断して単体のチップ部品にする工程と、からな
るものでもある。
【0025】更に、本発明の表面実装型発光ダイオード
の製造方法は、複数の電極パターンと一定の方向にそれ
ぞれ平行に配設された複数の長穴スルーホール電極が形
成された大型絶縁基板の前記電極パターン上に発光素子
をダイボンドする工程と、前記発光素子を前記電極パタ
ーンにワイヤーボンドする工程と、前記大型絶縁基板上
に、前記長穴スルーホール電極をそれぞれ塞ぐ複数の棧
部と該棧部の間に形成され前記電極パターンを一群ずつ
それぞれ囲う複数の長窓部を有する金型を固定し、該金
型の長窓部内に第1の樹脂を注入して前記電極パターン
及び前記発光素子を覆い、該発光素子が発する光の光量
を増す第1の樹脂層を形成する工程と、前記第1の樹脂
層を硬化させる工程と、前記金型の長窓部内に第2の樹
脂を注入して前記第1の樹脂層を覆い、該第1の樹脂層
及び前記発光素子の劣化を防止する第2の樹脂層を形成
する工程と、前記第2の樹脂層を硬化させる工程と、前
記金型を取り外し、前記第1及び第2の樹脂層と共に前
記大型絶縁基板を切断して単体のチップ部品にする工程
と、からなるものでもある。
【0026】更にまた、本発明の表面実装型発光ダイオ
ードの製造方法は、複数の電極パターンと一定の方向に
それぞれ平行に配設された複数の長穴スルーホール電極
が形成された大型絶縁基板の前記電極パターン上に発光
素子をダイボンドする工程と、前記発光素子を前記電極
パターンにワイヤーボンドする工程と、前記大型絶縁基
板上に、1チップの表面実装型発光ダイオードに対応す
る前記電極パターンをそれぞれ囲う複数の窓部を有する
金型を固定し、該金型の窓部内に第1の樹脂を注入して
前記電極パターン及び前記発光素子を覆い、該発光素子
が発する光の光量を増す第1の樹脂層を形成する工程
と、前記第1の樹脂層を硬化させる工程と、前記金型の
窓部内に第2の樹脂を注入して前記第1の樹脂層を覆
い、該第1の樹脂層及び前記発光素子の劣化を防止する
第2の樹脂層を形成する工程と、前記第2の樹脂層を硬
化させる工程と、前記金型を取り外し、前記大型絶縁基
板を切断して単体のチップ部品にする工程と、からなる
ものでもある。
【0027】
【発明の実施の形態】本発明の表面実装型発光ダイオー
ドは、絶縁基板上の電極パターンに実装された発光素子
を覆う第1の樹脂層と、この第1の樹脂層を覆う第2の
樹脂層を有している。第1の樹脂層は、発光素子が発す
る光に反応して光量を増すものであり、蛍光物質、拡散
剤等が混入されている。また、第2の樹脂層は、第1の
樹脂層及び発光素子の劣化を防止するものであり、紫外
線吸収剤等の老化防止剤が混入されている。
【0028】上記のように、絶縁基板上で発光素子を蛍
光物質、拡散剤等が混入された第1の樹脂層で覆い、こ
の第1の樹脂層を紫外線吸収剤等の老化防止剤が混入さ
れた第2の樹脂層で覆っているため、第1の樹脂層内で
は蛍光物質等が基板上面側へ沈殿し、蛍光物質を発光素
子の周囲に集めることができ、更に、紫外線による第1
の樹脂層や発光素子の劣化を第2の樹脂層で防止するこ
とができ、理想的な位置に蛍光物質等を配置することが
できると共に樹脂や発光素子の長寿命化を図ることもで
きる。
【0029】また、上記表面実装型発光ダイオードの製
造方法についても、蛍光物質等の理想的な最適位置への
混入を促すと共に作業性の向上等を図ることが可能なも
のとなっている。即ち、大型絶縁基板の複数の電極パタ
ーンにそれぞれ発光素子を実装した後、その複数の電極
パターンを囲う枠状の金型を大型絶縁基板に固定する。
そして、この金型内に第1の樹脂を注入して第1の樹脂
層を形成し、硬化後、これに続けて第2の樹脂を金型内
に注入して第2の樹脂層を形成する。このように、一つ
の金型でしかも金型の固定と取り外しをそれぞれ1回行
うだけで第1及び第2の樹脂層を形成することができる
ものとなっている。従って、第1及び第2の樹脂層を同
一且つ連続した工程で形成することができる。また、樹
脂層を形成する際に、基板等の表裏を逆にする必要がな
いため、常に表面側(樹脂層下方)に発光素子が位置す
ることになり、樹脂内の蛍光物質等が下方に沈殿しても
発光素子の周囲に集まって理想的な最適位置への混入と
なる。
【0030】
【実施例】図1及び図2は本発明の一実施例に係る表面
実装型発光ダイオードを示す斜視図と断面図である。図
中、32は絶縁基板であり、その表面側には独立した電
極パターン34、36が形成されている。この電極パタ
ーン34、36は、それぞれ絶縁基板32の端面に形成
されたスルーホール電極38、40を介して絶縁基板3
2の裏面側にまで回り込んで形成されている。
【0031】42は窒化ガリウム系化合物半導体、シリ
コンカーバイド系化合物半導体等からなる青色光を発光
する発光素子である。この発光素子42は、絶縁基板3
2の表面側の電極パターン34にダイボンドされ、電極
パターン36にワイヤーボンドされて電極パターン3
4、36にそれぞれ電気的に接続されている。
【0032】44、46は後述する第1の樹脂層を形成
する際に、樹脂がスルーホール電極38、40内に入ら
ないように塞ぐためのドライフィルムである。
【0033】48は発光素子42及び電極パターン3
4、36を覆う第1の樹脂層である。この第1の樹脂層
48は、エポキシ樹脂等の透光性を有する樹脂に発光素
子42が発する光の発光波長を変換して他の色に変換し
て輝度を高める蛍光染料及び蛍光顔料の一方又は両方か
らなる蛍光物質を混入したものからなる。また、この蛍
光物質と共に、発光素子42からの光を拡散させる拡散
剤、あるいは発光色に変化をもたらす着色剤を混入する
場合もある。
【0034】50は第1の樹脂層48の表面を覆う第2
の樹脂層である。この第2の樹脂層50は、エポキシ樹
脂等の透光性を有する樹脂に第1の樹脂層48及び発光
素子42の劣化の原因となる紫外線を吸収する紫外線吸
収剤等の老化防止剤を混入したものからなる。
【0035】上記構成からなる表面実装型発光ダイオー
ドにおいては、発光素子42を覆う第1の樹脂層48の
中に蛍光物質を混入しているため、比重の違いによる沈
殿から蛍光物質を確実に発光素子42の周囲である最適
位置に混入することが可能となっている。
【0036】また、第1及び第2の樹脂48、50は共
にエポキシ樹脂を主成分としているため、紫外線の影響
で組成が変化し、黄色に変色して、発光素子42からの
光の透過率が低下することがある。このような樹脂の劣
化を防ぐため、紫外線吸収剤等の老化防止剤を第2の樹
脂層50に混入して、樹脂の劣化を防いでいる。また、
蛍光物質や発光素子42も紫外線により劣化を早めるこ
とがあり、上記老化防止剤を第2の樹脂層50に混入す
ることにより、それらの劣化も防止することができる。
【0037】次に、上記表面実装型発光ダイオードの製
造方法に関して説明する。はじめに、図3及び図4に示
すような大型絶縁基板52を用意する。この大型絶縁基
板52には、その表面に複数の電極パターン54と複数
のスルーホール電極56が形成されており、このスルー
ホール電極56を塞ぐようにドライフィルム58を貼り
付ける。
【0038】その後、図5及び図6に示すように、電極
パターン54の所定位置に銀ペースト等の導電性接着剤
をダイボンドペーストとして印刷し、その上に発光素子
60をダイボンド機で搭載する。発光素子60の搭載
後、キュア炉にてダイボンドペーストを固め、発光素子
60を電極パターン54に接着固定する。
【0039】上記のように電極パターンの所定位置にダ
イボンドされた発光素子60は、次に図7及び図8に示
すように、ワイヤーボンド機にて金線61で対応する他
の電極パターン54に接続される。
【0040】その後、図9及び図10に示すように、全
ての電極パターン54を囲うように枠状の金型62を大
型絶縁基板52の外周平面上に固定する。そして、前述
したように、蛍光物質又は蛍光物質及び拡散剤等をエポ
キシ樹脂に混入した第1の樹脂64を金型62内に注入
する。このときに、第1の樹脂64は、発光素子60及
び金線61を覆う八分目程度まで金型62内に注入され
る。尚、金型62の高さは、少なくとも第1の樹脂64
の高さと後の工程で注入される第2の樹脂の高さを合わ
せた寸法に設定されている。このため、第1の樹脂64
を所定量注入しても金型62内は一杯に満たされず、第
1の樹脂64の上には後述する第2の樹脂を注入するス
ペースが残ることになる。その後、第1の樹脂64をキ
ュア工程にて硬化させて、第1の樹脂層66(図12)
を形成する。
【0041】上記のように第1の樹脂層66を形成した
後、図11及び図12に示すように、第1の樹脂層66
の上に前述した紫外線吸収剤等の老化防止剤をエポキシ
樹脂に混入した第2の樹脂68を注入して、金型62内
を満たす。その後、キュア工程にて第2の樹脂68を硬
化させて、第2の樹脂層70(図14)を形成する。
【0042】上記のように、第1及び第2の樹脂層6
6、70を形成した後、図13及び図14に示すよう
に、金型62を取り外し、ダイシング機又はスライシン
グ機でX−Y方向に切断分割して、図1及び図2に示す
ような単体のチップ部品にする。その際に、スルーホー
ル電極56を半分に切断した部分がチップ部品の端部と
なるように設定しているため、スルーホール電極56が
そのまま表面実装用の電極となる。
【0043】図1及び図2に示す表面実装型発光ダイオ
ードを製造する場合、上記製造方法に基づいて製造すれ
ば、従来のようなリードフレーム材及びリードフレーム
を加工する金型、更に切断装置等の必要がない。一方、
インサート成形に用いる複雑な成形機や金型、ペレット
等も必要とせず、製造過程において基板の表裏を逆にす
る等の作業も全く必要がない。特に、蛍光物質等を含む
第1の樹脂64の注入時に、発光素子60が基板表面側
(樹脂層下方)に位置しているため、蛍光物質等が下方
に沈殿すると発光素子60の周囲に集まることになり、
理想的な最適位置への混入状態になる。
【0044】一方、上記製造方法において、図9等に示
す金型62に代えて図15に示す金型72を用いること
もできる。この金型72には、図1に示す表面実装型発
光ダイオードの1チップに対応する1チップサイズの窓
部72aが複数形成されている。この金型72を使用す
ると、第1及び第2の樹脂層66、70を1チップごと
に分離した状態で形成することができ、その後の切断分
割工程において大型絶縁基板52だけを切断すれば良い
ことになる。このため、第1及び第2の樹脂層66、7
0に切断時の負荷がかからず、断線や発光素子60の破
損の発生を防ぐことができる。また、金型72内に注入
する樹脂の量も最小限にすることができ、材料コストを
削減することも可能となる。更に、金型72のY方向の
棧部72bにてスルーホール電極56を塞ぐことによ
り、ドライフィルム58でスルーホール電極56を予め
塞ぐ必要もなくなる。
【0045】次に、本発明の表面実装型発光ダイオード
の他の製造方法に関して説明する。この製造方法は、前
述したものと製造工程自体はほぼ同じであるが、大型絶
縁基板に形成するスルーホールの形状や金型の形状を変
えることにより、より効率良く大量生産することができ
るようにしたものである。尚、図3乃至図14に示すも
のと同一のものに関しては同一の符号が付してある。
【0046】はじめに、図16及び図17に示すような
大型絶縁基板74を用意する。この大型絶縁基板74に
は、複数の電極パターン54とY方向にそれぞれ平行に
配置された複数の長穴からなる長穴スルーホール電極7
6が設けられている。尚、この長穴スルーホール電極7
6はドライフィルム等で塞がれていない。
【0047】このような大型絶縁基板74の電極パター
ン54に、前述した製造方法と同様に、図18及び図1
9に示すように発光素子60をダイボンドし、図20及
び図21に示すように金線61でワイヤーボンドする。
【0048】その後、図22及び図23に示すように、
金型78を大型絶縁基板74の上に固定する。この金型
78は、長穴スルーホール電極76に対応する位置に棧
部78aを有し、この棧部78aの間に電極パターン5
4を長穴スルーホール電極76に沿って一群ずつ囲う長
窓部78bを有している。この金型78を大型絶縁基板
74の上に固定することにより、長穴スルーホール電極
76は棧部78aで塞がれる。ここで前述した製造方法
と同様に、蛍光物質又は蛍光物質及び拡散剤等をエポキ
シ樹脂に混入した第1の樹脂64を金型78の長窓部7
8b内に注入する。このとき長窓部78b内の樹脂量は
前述と同程度で後述する第2の樹脂68を注入するスペ
ースを残すように金型78の高さが設定されている。そ
して、注入された第1の樹脂64を硬化させて、第1の
樹脂層66(図25)を形成する。
【0049】上記第1の樹脂層66を形成した後、図2
4及び図25に示すように、紫外線吸収剤等の老化防止
剤をエポキシ樹脂に混入した第2の樹脂68を注入し、
金型78の長窓部78b内を満たす。その後、この第2
の樹脂68を硬化させて、第2の樹脂層70(図27)
を形成する。
【0050】図26及び図27に示すように、ここで金
型78を取り外し、前述した製造方法と同様に切断分割
して単体のチップ部品にする。その際に、大型絶縁基板
74にはY方向に長穴スルーホール電極76が設けられ
て分割されているため、この長穴スルーホール電極76
に直交するX方向に切断するだけで1チップずつの部品
に分割することができる。
【0051】上記製造方法にて製造された表面実装型発
光ダイオードにおいては、図28及び図29に示すよう
に、長穴スルーホール電極76であった部分が、分割さ
れた絶縁基板74cの側面電極76aとなる。また、長
穴スルーホール電極76が金型78の棧部78aで塞が
れるため、長穴スルーホール電極76の長穴内周部分に
は第1及び第2の樹脂64、68が流れ込まず、絶縁基
板74cの側面電極76aから離れた基板内側位置に第
1及び第2の樹脂層66、70が形成された形状とな
る。
【0052】上記製造方法においては、前述したものと
同様に作業性が良く、蛍光物質等の理想的な最適位置へ
の混入を可能とするものであり、更に、切断分割工程に
おいて一方向にのみ切断するだけで1チップの部品に分
割することができるため、量産性を更に向上させること
が可能となる。
【0053】また、この製造方法において用いている金
型78に代えて図15に示す金型72を使用することも
可能であり、その際には、金型72のY方向の棧部72
bで長穴スルーホール電極76を塞ぐように大型絶縁基
板74上に固定する。
【0054】
【発明の効果】本発明によれば、発光素子を覆う樹脂層
を2層構造とし、蛍光物質等を混入した第1の樹脂層で
発光素子を覆い、老化防止剤を混入した第2の樹脂層で
第1の樹脂層を覆っている。このため、発光素子の周囲
に蛍光物質を集めることができ、蛍光物質を理想的な最
適位置への混入状態にすることができる。また、第2の
樹脂層によりエポキシ樹脂、蛍光物質、発光素子等を紫
外線による劣化から防ぐことができる。
【0055】また、リードフレーム等のリード端子のな
い表面実装型の発光ダイオードであるため、自動マウン
トが可能で、大量に一括してリフロー半田付けができ
る。
【0056】更に、大型絶縁基板上に数百から数千個単
位での一括集合処理で順次部品を取り付け樹脂で覆って
行くだけの簡単な製造方法であるため、一度に高い密度
で多数の発光ダイオードを形成することができ、生産性
に優れ、大量生産が可能な製造方法となっている。この
ように、量産性を大幅に引き上げることが可能となるた
め、製造コストを大幅に引き下げて、コストを大幅に低
くすることができる。
【0057】更にまた、本発明の製造方法においては、
樹脂層の成形時に、基板の表裏を逆にする必要がないた
め、樹脂内の蛍光物質等が沈殿しても、下方にある発光
素子の周囲に集まることになるので、最も理想的な位置
に蛍光物質等を混入することができる。
【0058】また、複雑な成形機や金型を必要とせず、
更に、リードフレーム材やリードフレーム成形用のプレ
ス機、切断機等も不要であるため、設備費を大幅に削減
することができる。更に、本発明の製造方法において
は、上記のような成形機、プレス機あるいはそれらに用
いる金型のようなメンテナンスを要するものを用いてい
ないため、ランニングコストも削減することができる。
【0059】また、本発明の製造方法においては、第1
及び第2の樹脂層を、一つの金型を用いて且つほぼ同様
の連続した工程で形成しているので、第1及び第2の樹
脂層をそれぞれ別々の金型で形成する場合に比べて、金
型の着脱や交換に係る工程数を削減することができ、ス
ムーズ且つ迅速に製造することができる。
【0060】更に、インサート成形において必要とされ
るペレットを特別に発注したり購入する必要がなく、材
料費も削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る表面実装型発光ダイオ
ードを示す斜視図である。
【図2】図1に示す表面実装型発光ダイオードの断面図
である。
【図3】本発明の製造方法において使用する大型絶縁基
板を示す斜視図である。
【図4】図3に示す大型絶縁基板の断面図である。
【図5】図3に示す電極パターン上に発光素子をダイボ
ンドした状態を示す斜視図である。
【図6】図5の要部断面図である。
【図7】図5に示す発光素子を電極パターンにワイヤー
ボンドした状態を示す斜視図である。
【図8】図7の要部断面図である。
【図9】図7に示す大型絶縁基板に金型を固定して第1
の樹脂を注入した状態を示す斜視図である。
【図10】図9の要部断面図である。
【図11】図9に示す金型内に更に第2の樹脂を注入し
た状態を示す斜視図である。
【図12】図11の要部断面図である。
【図13】図11に示す金型を取り外した状態を示す斜
視図である。
【図14】図13の要部断面図である。
【図15】他の金型を示す斜視図である。
【図16】本発明の他の製造方法において使用する大型
絶縁基板を示す斜視図である。
【図17】図16に示す大型絶縁基板の断面図である。
【図18】図16に示す電極パターン上に発光素子をダ
イボンドした状態を示す斜視図である。
【図19】図18の要部断面図である。
【図20】図18に示す発光素子を電極パターンにワイ
ヤーボンドした状態を示す斜視図である。
【図21】図20の要部断面図である。
【図22】図20に示す大型絶縁基板に金型を固定して
第1の樹脂を注入した状態を示す斜視図である。
【図23】図22の要部断面図である。
【図24】図22に示す金型内に更に第2の樹脂を注入
した状態を示す斜視図である。
【図25】図24の要部断面図である。
【図26】図24に示す金型を取り外した状態を示す斜
視図である。
【図27】図26の要部断面図である。
【図28】他の製造方法で製造した表面実装型発光ダイ
オードの斜視図である。
【図29】図28に示す表面実装型発光ダイオードの断
面図である。
【図30】従来の発光ダイオードを示す断面図である。
【図31】従来の発光ダイオードを示す断面図である。
【図32】従来の発光ダイオードを示す正面図である。
【図33】従来の発光ダイオードを示す断面図である。
【図34】従来の発光ダイオードを製造する際のインサ
ート成形の状態を示す断面図である。
【図35】インサート成形に使用するペレットを示す斜
視図である。
【図36】図35に示すペレットの拡大斜視図である。
【図37】従来の発光ダイオードにおける樹脂内の蛍光
剤の沈殿状態を示す断面図である。
【図38】図37に示す発光ダイオードを回路基板に取
り付けた状態を示す断面図である。
【符号の説明】
2、4 リードフレーム 6、8 端子ピン 10 発光素子 12、14、16、18 樹脂層 20 継ぎ部 22、24 金型 26 ペレット 28 回路基板 30 導電パターン 32 絶縁基板 34、36 電極パターン 38、40 スルーホール電極 42 発光素子 44、46 ドライフィルム 48 第1の樹脂層 50 第2の樹脂層 52、74 大型絶縁基板 54 電極パターン 56 スルーホール電極 58 ドライフィルム 60 発光素子 61 金線 62、72、78 金型 64 第1の樹脂 66 第1の樹脂層 68 第2の樹脂 70 第2の樹脂層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 深澤 孝一 山梨県富士吉田市上暮地1丁目23番1号 株式会社シチズン電子内 Fターム(参考) 5F041 AA03 AA44 CA12 CA33 CA40 DA02 DA03 DA07 DA44 DB03 DC23

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁基板と、 該絶縁基板の表面に形成された電極パターンと、 該電極パターンに接続された発光素子と、 該発光素子を覆い、該発光素子が発する光の光量を増す
    第1の樹脂層と、 該第1の樹脂層を覆い、該第1の樹脂層及び前記発光素
    子の劣化を防止する第2の樹脂層と、 からなることを特徴とする表面実装型発光ダイオード。
  2. 【請求項2】 前記第1の樹脂層には波長変換材料が混
    入されていることを特徴とする請求項1記載の表面実装
    型発光ダイオード。
  3. 【請求項3】 前記波長変換材料は、蛍光染料及び蛍光
    顔料の一方又は両方からなる蛍光物質であることを特徴
    とする請求項2記載の表面実装型発光ダイオード。
  4. 【請求項4】 前記第1の樹脂層には拡散剤及び着色剤
    の一方又は両方が混入されていることを特徴とする請求
    項2又は請求項3記載の表面実装型発光ダイオード。
  5. 【請求項5】 前記第2の樹脂層には老化防止剤が混入
    されていることを特徴とする請求項1又は請求項2又は
    請求項3又は請求項4記載の表面実装型発光ダイオー
    ド。
  6. 【請求項6】 前記老化防止剤は紫外線吸収剤からなる
    ことを特徴とする請求項5記載の表面実装型発光ダイオ
    ード。
  7. 【請求項7】 前記発光素子は窒化ガリウム系化合物半
    導体からなることを特徴とする請求項1又は請求項2又
    は請求項3又は請求項4又は請求項5又は請求項6記載
    の表面実装型発光ダイオード。
  8. 【請求項8】 前記発光素子はシリコンカーバイド系化
    合物半導体からなることを特徴とする請求項1又は請求
    項2又は請求項3又は請求項4又は請求項5又は請求項
    6記載の表面実装型発光ダイオード。
  9. 【請求項9】 複数の電極パターンと複数のスルーホー
    ル電極が形成された大型絶縁基板の前記スルーホール電
    極をフィルムで塞ぐ工程と、 前記電極パターン上に発光素子をダイボンドする工程
    と、 前記発光素子を前記電極パターンにワイヤーボンドする
    工程と、 前記大型絶縁基板上に、前記複数の電極パターンを全て
    囲う枠状の金型を固定し、該金型内に第1の樹脂を注入
    して前記電極パターン及び前記発光素子を覆い、該発光
    素子が発する光の光量を増す第1の樹脂層を形成する工
    程と、 前記第1の樹脂層を硬化させる工程と、 前記金型内に第2の樹脂を注入して前記第1の樹脂層を
    覆い、該第1の樹脂層及び前記発光素子の劣化を防止す
    る第2の樹脂層を形成する工程と、 前記第2の樹脂層を硬化させる工程と、 前記金型を取り外し、前記第1及び第2の樹脂層と共に
    前記大型絶縁基板を切断して単体のチップ部品にする工
    程と、 からなることを特徴とする表面実装型発光ダイオードの
    製造方法。
  10. 【請求項10】 複数の電極パターンと複数のスルーホ
    ール電極が形成された大型絶縁基板の前記電極パターン
    上に発光素子をダイボンドする工程と、 前記発光素子を前記電極パターンにワイヤーボンドする
    工程と、 前記大型絶縁基板上に、1チップの表面実装型発光ダイ
    オードに対応する前記電極パターンをそれぞれ囲う複数
    の窓部を有する金型を固定し、該金型の窓部内に第1の
    樹脂を注入して前記電極パターン及び前記発光素子を覆
    い、該発光素子が発する光の光量を増す第1の樹脂層を
    形成する工程と、 前記第1の樹脂層を硬化させる工程と、 前記金型の窓部内に第2の樹脂を注入して前記第1の樹
    脂層を覆い、該第1の樹脂層及び前記発光素子の劣化を
    防止する第2の樹脂層を形成する工程と、 前記第2の樹脂層を硬化させる工程と、 前記金型を取り外し、前記大型絶縁基板を切断して単体
    のチップ部品にする工程と、 からなることを特徴とする表面実装型発光ダイオードの
    製造方法。
  11. 【請求項11】 複数の電極パターンと一定の方向にそ
    れぞれ平行に配設された複数の長穴スルーホール電極が
    形成された大型絶縁基板の前記電極パターン上に発光素
    子をダイボンドする工程と、 前記発光素子を前記電極パターンにワイヤーボンドする
    工程と、 前記大型絶縁基板上に、前記長穴スルーホール電極をそ
    れぞれ塞ぐ複数の棧部と該棧部の間に形成され前記電極
    パターンを一群ずつそれぞれ囲う複数の長窓部を有する
    金型を固定し、該金型の長窓部内に第1の樹脂を注入し
    て前記電極パターン及び前記発光素子を覆い、該発光素
    子が発する光の光量を増す第1の樹脂層を形成する工程
    と、 前記第1の樹脂層を硬化させる工程と、 前記金型の長窓部内に第2の樹脂を注入して前記第1の
    樹脂層を覆い、該第1の樹脂層及び前記発光素子の劣化
    を防止する第2の樹脂層を形成する工程と、前記第2の
    樹脂層を硬化させる工程と、 前記金型を取り外し、前記第1及び第2の樹脂層と共に
    前記大型絶縁基板を切断して単体のチップ部品にする工
    程と、 からなることを特徴とする表面実装型発光ダイオードの
    製造方法。
  12. 【請求項12】 複数の電極パターンと一定の方向にそ
    れぞれ平行に配設された複数の長穴スルーホール電極が
    形成された大型絶縁基板の前記電極パターン上に発光素
    子をダイボンドする工程と、 前記発光素子を前記電極パターンにワイヤーボンドする
    工程と、 前記大型絶縁基板上に、1チップの表面実装型発光ダイ
    オードに対応する前記電極パターンをそれぞれ囲う複数
    の窓部を有する金型を固定し、該金型の窓部内に第1の
    樹脂を注入して前記電極パターン及び前記発光素子を覆
    い、該発光素子が発する光の光量を増す第1の樹脂層を
    形成する工程と、 前記第1の樹脂層を硬化させる工程と、 前記金型の窓部内に第2の樹脂を注入して前記第1の樹
    脂層を覆い、該第1の樹脂層及び前記発光素子の劣化を
    防止する第2の樹脂層を形成する工程と、 前記第2の樹脂層を硬化させる工程と、 前記金型を取り外し、前記大型絶縁基板を切断して単体
    のチップ部品にする工程と、 からなることを特徴とする表面実装型発光ダイオードの
    製造方法。
JP31689198A 1998-10-20 1998-10-20 表面実装型発光ダイオードの製造方法 Expired - Fee Related JP3434714B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31689198A JP3434714B2 (ja) 1998-10-20 1998-10-20 表面実装型発光ダイオードの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31689198A JP3434714B2 (ja) 1998-10-20 1998-10-20 表面実装型発光ダイオードの製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000124507A true JP2000124507A (ja) 2000-04-28
JP3434714B2 JP3434714B2 (ja) 2003-08-11

Family

ID=18082072

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31689198A Expired - Fee Related JP3434714B2 (ja) 1998-10-20 1998-10-20 表面実装型発光ダイオードの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3434714B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002124705A (ja) * 2000-10-17 2002-04-26 Citizen Electronics Co Ltd 発光ダイオードとその製造方法
JP2006229055A (ja) * 2005-02-18 2006-08-31 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
JP2007158009A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
DE20321614U1 (de) 2002-04-05 2008-06-12 Citizen Electronics Co., Ltd., Fujiyoshida-shi Licht emittierende Diode
WO2011015449A1 (de) * 2009-08-07 2011-02-10 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur herstellung eines optoelektronischen halbleiterbauelements und optoelektronisches halbleiterbauelement
KR101204115B1 (ko) * 2005-02-18 2012-11-22 니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤 배광 특성을 제어하기 위한 렌즈를 구비한 발광 장치
JP2014179384A (ja) * 2013-03-13 2014-09-25 Mtek-Smart Corp Ledの製造方法

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002124705A (ja) * 2000-10-17 2002-04-26 Citizen Electronics Co Ltd 発光ダイオードとその製造方法
DE20321614U1 (de) 2002-04-05 2008-06-12 Citizen Electronics Co., Ltd., Fujiyoshida-shi Licht emittierende Diode
US8836210B2 (en) 2005-02-18 2014-09-16 Nichia Corporation Light emitting device provided with lens for controlling light distribution characteristic
JP2006229055A (ja) * 2005-02-18 2006-08-31 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
KR101204115B1 (ko) * 2005-02-18 2012-11-22 니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤 배광 특성을 제어하기 위한 렌즈를 구비한 발광 장치
US9093619B2 (en) 2005-02-18 2015-07-28 Nichia Corporation Light emitting device provided with lens for controlling light distribution characteristic
US8558446B2 (en) 2005-02-18 2013-10-15 Nichia Corporation Light emitting device provided with lens for controlling light distribution characteristic
TWI419375B (zh) * 2005-02-18 2013-12-11 Nichia Corp 具備控制配光特性用之透鏡之發光裝置
JP2007158009A (ja) * 2005-12-05 2007-06-21 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
US9728683B2 (en) 2009-08-07 2017-08-08 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor component
US8723192B2 (en) 2009-08-07 2014-05-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing an optoelectronic semiconductor component and optoelectronic semiconductor component
JP2013501368A (ja) * 2009-08-07 2013-01-10 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング オプトエレクトロニクス半導体部品の製造方法およびオプトエレクトロニクス半導体部品
US9209328B2 (en) 2009-08-07 2015-12-08 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor component
US9490396B2 (en) 2009-08-07 2016-11-08 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor component
WO2011015449A1 (de) * 2009-08-07 2011-02-10 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur herstellung eines optoelektronischen halbleiterbauelements und optoelektronisches halbleiterbauelement
US9985171B2 (en) 2009-08-07 2018-05-29 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor component
US10665747B2 (en) 2009-08-07 2020-05-26 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor component
US11239386B2 (en) 2009-08-07 2022-02-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor component
US11749776B2 (en) 2009-08-07 2023-09-05 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor component
US12002901B2 (en) 2009-08-07 2024-06-04 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic semiconductor component
JP2014179384A (ja) * 2013-03-13 2014-09-25 Mtek-Smart Corp Ledの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3434714B2 (ja) 2003-08-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8053259B2 (en) Manufacturing method of light emitting diode
EP1905070B1 (en) Mold for forming a molding member and method of fabricating a molding member using the same
US8058662B2 (en) Light emitting diode and method of fabricating the same
EP2479810B1 (en) Light-emitting device package and method of manufacturing the same
US20080054285A1 (en) Light emitting device and manufacturing method thereof
JP2007189116A (ja) 光素子の樹脂封止成形方法
KR20100115365A (ko) 발광 장치
JP2002094123A (ja) 表面実装型発光ダイオード及びその製造方法
JP3332880B2 (ja) 表面実装型発光ダイオードの製造方法
KR100462394B1 (ko) 백색 발광다이오드 및 그 제조방법
JP3434714B2 (ja) 表面実装型発光ダイオードの製造方法
KR100757825B1 (ko) 발광 다이오드 제조방법
KR100748707B1 (ko) 발광 소자의 제조 방법
KR100609971B1 (ko) 발광 소자 패키지 및 그의 제조 방법
KR100660630B1 (ko) 발광다이오드 및 그 제조방법
CN1354500A (zh) 薄型球栅阵列式集成电路封装的制作方法
JP3474841B2 (ja) 面実装部品の製造方法
KR101202171B1 (ko) 발광소자
KR100694847B1 (ko) 발광 다이오드 및 그 제조방법
JPH07307408A (ja) Icパッケージおよびその組立方法
KR20040105063A (ko) 스크린프린트 방법으로 제조한 발광소자
JPH09102632A (ja) 樹脂モールドledランプ及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120530

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150530

Year of fee payment: 12

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees