上記２つの画素信号Ｘ（m,n)，Ｘ（m,n+1)に連続する画素信号Ｘ（m,n-1)とフリップフロップ301 ，302 の出力は、それぞれ比較器（ＣＯＭＰ）304 ，306 に送られると同時に、平均値算出部（ＡＶＥ）303 に入力される。平均値算出部303 では、次式（１）で示す注目画素Ｘ（m,n)を中心とした連続する３画素の平均値（図４，６におけるＡve１）が算出される。
〔Ｘ（m,n-1)＋Ｘ（m,n)＋Ｘ（m,n+1)〕／３ ・・・・・・・・（１）
そして、この平均値算出部303 の出力を同時に受けた比較器304 ，306 では、該平均値レベルと連続する３つの画素信号レベルそれぞれの大小を比較し、（１）式で示した平均値レベルを境界として、２個対１個に画素分布を分割する。図３に示した論理値表においてａ，ｃはそれぞれ比較器304 ，306 の出力を示し、平均値レベルＡve１より画素信号レベルが大きな場合はＨを、小さな場合にはＬを出力している。
The outputs of the pixel signals X (m, n-1) and the flip-flops 301 and 302 that are continuous with the above two pixel signals X (m, n) and X (m, n + 1) are the comparators (COMP) 304, respectively. , 306, and at the same time, it is input to the average value calculation unit (AVE) 303. The average value calculation unit 303 calculates the average value (Ave1 in FIGS. 4 and 6) of three consecutive pixels centered on the pixel of interest X (m, n) represented by the following equation (1).
[X (m, n- 1) + X (m, n) + X (m, n + 1)] / 3 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ (1)
Then, the comparators 304 and 306 that simultaneously received the output of the average value calculation unit 303 compare the magnitude of each of the three consecutive pixel signal levels with the average value level, and the average value level shown in Eq. (1). Is used as a boundary, and the pixel distribution is divided into two to one. In the logical value table shown in FIG. 3, a and c indicate the outputs of the comparators 304 and 306, respectively, and H is output when the pixel signal level is larger than the average value level Ave1 and L is output when the pixel signal level is smaller than the average value level Ave1.
図２において、平均値算出部308 では、次式（２）で示す、注目画素を除いたその両隣の画素Ｘ（m,n-1)とＸ（m,n+1)のレベルの平均値（図４，６におけるＡve２）を算出する。
〔Ｘ（m,n-1)＋Ｘ（m,n+1)〕／２ ・・・・・・・・・・・・・（２）
この平均値算出部308 の出力結果は、差分絶対値算出部309 において注目画素信号レベルとの差分がとられ、次式（３）で示す絶対値が出力される。
｜Ｘ（m,n)−〔Ｘ（m,n-1)＋Ｘ（m,n+1)〕／２｜ ・・・・・・（３）
そして、この差分絶対値算出部309 の絶対値出力は比較器310 に入力される。更に、該絶対値出力は比較器310 で所定の閾値Ｔhrと大小比較され、閾値Ｔhrより大きな場合、注目画素は欠陥である可能性があるとして、欠陥判定フラグ用ＯＲゲート311 へ１bit の判別パルスを出力する。ここで、比較器310 は注目画素を欠陥と判定したときに“Ｌ”を出力するものとすると、前述のデコード部307 出力と比較器310 出力が共に“Ｌ”であるときのみ、ＯＲゲート311 の出力は“Ｌ”となり、これにより注目画素は最終的に欠陥と判定され、セレクタ（ＳＥＬ）312 では注目画素を平均値算出部308 の出力、即ち（２）式で示す両隣の画素の平均値で置き換えるように構成されている。
In FIG. 2, in the average value calculation unit 308, the average value of the levels of the pixels X (m, n-1) and X (m, n + 1) on both sides of the pixel excluding the pixel of interest, which is shown by the following equation (2). (Ave2 in FIGS. 4 and 6) is calculated.
[X (m, n- 1) + X (m, n + 1)] / 2 ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ ・ (2)
The output result of the average value calculation unit 308 is different from the pixel signal level of interest in the difference absolute value calculation unit 309, and the absolute value represented by the following equation (3) is output.
｜ X (m, n)-[X (m, n- 1) + X (m, n + 1)] / 2 ｜ ・ ・ ・ ・ ・ ・ (3)
Then, the absolute value output of the difference absolute value calculation unit 309 is input to the comparator 310. Further, the absolute value output is compared in magnitude with a predetermined threshold value Thr by the comparator 310, and if it is larger than the threshold value Thr, it is considered that the pixel of interest may be a defect, and a 1-bit discrimination pulse is sent to the OR gate 311 for the defect determination flag. Is output. Here, assuming that the comparator 310 outputs "L" when the pixel of interest is determined to be defective, the OR gate 311 only when both the decoding unit 307 output and the comparator 310 output described above are "L". The output of is "L", and the pixel of interest is finally determined to be defective. In the selector (SEL) 312, the pixel of interest is output by the average value calculation unit 308, that is, the average of the pixels on both sides shown in equation (2). It is configured to replace with a value.
次に、第３の実施の形態について説明する。図９は、第３の実施の形態における欠陥検出補正回路を示す概略ブロック構成図である。この実施の形態は、シフトレジスタ340 及び欠陥検出部341 により、上記第１の実施の形態と同じく水平方向から欠陥検出を行うものである。そして、欠陥位置メモリ342 には、注目画素Ｘ（m,n)が該当水平方向の欠陥検出処理により欠陥か正常かを判定された結果、例えば欠陥であれば“Ｌ”、正常であれば“Ｈ”のディジタルデータ１bit と、更に欠陥と判定された場合には、それが白欠陥か黒欠陥かを表す１bit ，例えば黒欠陥であれば“Ｌ”、白欠陥であれば“Ｈ”とする計２bit を記憶する。欠陥が白か黒かは、Ｘ（m,n)の信号レベルがＸ（m,n-1)とＸ（m,n+1)の信号レベル平均値Ａve２（又はＡve１でも全く同等）より大きいか小さいかで判定すればよい。
Next, a third embodiment will be described. FIG. 9 is a schematic block configuration diagram showing a defect detection correction circuit according to the third embodiment. In this embodiment, the shift register 340 and the defect detection unit 341 perform defect detection from the horizontal direction as in the first embodiment. Then, in the defect position memory 342, as a result of determining whether the pixel X (m, n) of interest is defective or normal by the corresponding horizontal defect detection process, for example, if it is defective, it is “L”, and if it is normal, it is “L”. 1 bit of digital data of "H" and 1 bit indicating whether it is a white defect or a black defect when it is further determined to be a defect, for example, "L" for a black defect and "H" for a white defect. Stores a total of 2 bits. Whether the defect is white or black is that the signal level of X (m, n ) is larger than the average signal level of X (m, n-1) and X (m, n + 1) Ave2 (or even Ave1 is exactly the same). It may be judged whether it is small or small.