JP2000101298A - 部品位置整合装置及びこれを用いた部品位置整合方法 - Google Patents

部品位置整合装置及びこれを用いた部品位置整合方法

Info

Publication number
JP2000101298A
JP2000101298A JP11265161A JP26516199A JP2000101298A JP 2000101298 A JP2000101298 A JP 2000101298A JP 11265161 A JP11265161 A JP 11265161A JP 26516199 A JP26516199 A JP 26516199A JP 2000101298 A JP2000101298 A JP 2000101298A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
component
light source
light
scattering plate
position matching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11265161A
Other languages
English (en)
Inventor
Sang-Cheol Kim
相哲 金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hanwha Aerospace Co Ltd
Original Assignee
Samsung Aerospace Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Aerospace Industries Ltd filed Critical Samsung Aerospace Industries Ltd
Publication of JP2000101298A publication Critical patent/JP2000101298A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/0015Orientation; Alignment; Positioning
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0812Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines the monitoring devices being integrated in the mounting machine, e.g. for monitoring components, leads, component placement

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Containers And Plastic Fillers For Packaging (AREA)
  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
  • Input Circuits Of Receivers And Coupling Of Receivers And Audio Equipment (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 部品位置整合装置及びこれを用いた部品位
置整合方法を提供する。 【解決手段】 光源と、前記光源から放射された光を
部品の側面に向けて散乱させる散乱板と、前記部品を経
由した散乱光を結像する結像レンズと、前記結像レンズ
により結像された光を受光して前記部品の側面映像を検
出する光検出器とを含む。放射される光を散乱させて部
品の側面映像を検出し、これにより部品の位置座標及び
角度座標が求められる。従って、部品装着のための正確
な情報が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ピックアップ装置
により電子部品をピックアップしてプリント回路基板に
装着することにおいて、前記部品をプリント回路基板に
対して正確に整合させる部品位置整合装置とこれを用い
た部品位置整合方法に関する。
【0002】
【従来の技術】チップマウンタのような電子部品実装機
は、小型の部品をプリント回路基板に実装する装置であ
る。一般に電子部品実装機は部品が吸着される吸着部
と、前記吸着部を支持しこれを回転及び昇降運動させる
ヘッダ部と、前記ヘッダ部をX軸及び/またはY軸に移動
させる移送部とを含む。
【0003】このような部品実装機の動作において、部
品は吸着部によりピックアップされた後、移送部によっ
て装着地点まで移動される。次いで、吸着部が回転及び
昇降運動して部品をプリント回路基板上に実装する。
【0004】このような部品の実装過程において、何よ
りも部品をプリント回路基板の装着部に対して正確に装
着させることが必要である。このような部品の位置整合
はビジョンシステム(vision system)ま
たは光回折を用いて遂行される。
【0005】前記ビジョンシステムの場合には、カメラ
で部品を撮影してその映像をコンピュータに入力する。
そして、モニターにディスプレーされる前記部品の中心
点と、予め設定されたテンプレートパターンの中心点と
を比較してX、Y座標値及び回転角度の誤差を検出して
これを修正した後、前記プリント回路基板に部品を実装
する。ところが、このような方式では、吸着部により部
品をピックアップしてビジョンシステムが位置する領域
に移動させる必要があり、例えば、半導体チップのよう
な部品の場合、リードが移動中損傷される恐れがある。
【0006】前記のような点を勘案して、ピックアップ
装置の吸着部によりピックアップされた部品に光を照射
して直接的に部品の位置の誤差を検出する方法が米国特
許5,559,727号に示されている。即ち、部品の側
面に光を照射し、それによって生成される部品の影を電
荷結合素子(CCD、ChArge-CoupleD DeviCe)と
して検出する。この時、ピックアップ装置の動作に従っ
て部品の影幅が変化するので、この影幅の変化を検出す
ることによって部品の位置と角度が把握できる。
【0007】ところが、前記の方法において、電子部品
の側面に照射される光は完全な平行光になるべきであ
り、そうでない場合には部品の影幅の変化が正確に検出
できない。従って、この方法は平行光を作る装置が必須
であり、これは装置の構造を複雑にする。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は前記のような
問題点を解決するために創案されたことであって、ピッ
クアップ装置により電子部品をピックアップした後、部
品の位置と角度を測定することによって正確な位置での
装着が可能になった部品位置整合装置と、これを用いた
部品位置整合方法とを提供することにその目的がある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記のような目的を達成
するために本発明に係る部品位置整合装置は、光源と、
前記光源から放射された光を部品の側面に向けて散乱さ
せる散乱板と、前記部品を経由した散乱光を結像する結
像レンズと、前記結像レンズにより結像された光を受光
して前記部品の側面映像を検出する光検出器とを含む。
【0010】ここで、前記光源と散乱板は前記部品の一
側に設けられ、前記結像レンズと光検出器は前記部品の
他側に設けられる。
【0011】本発明の他の実施例によれば、前記光源は
前記部品の一側に設けられた第1光源及び第2光源を含
み、前記散乱板は前記部品と第1光源との間に設けられ
た第1散乱板及び前記部品と第2光源との間に設けられ
た第2散乱板を含み、前記結像レンズと光検出器は前記
部品を中心とする前記第1光源及び第2光源を結ぶ線に
対して垂直線を成すように配置される。
【0012】本発明のさらに他の実施例によれば、前記
光源、散乱板、結像レンズ及び光検出器が前記部品の一
側に全て配置される。
【0013】本発明の他の側面によれば、部品をピック
アップする段階と、光源から放射された光を散乱板で散
乱させて前記部品の側面に照射する段階と、前記散乱光
による前記部品の側面映像をレンズで結像させて光検出
器で検出する段階とを含む部品位置整合方法が提供され
る。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面を参照して本
発明の望ましい実施例について詳細に説明する。
【0015】本発明の第1実施例を示す図1及び図2を
参照すれば、部品位置整合装置はフレーム100に設け
られる。吸着部11はヘッダ部(図示せず)に昇降及び回
転運動が可能となるように結合されて部品12を負圧に
よって吸着する。前記フレーム100には通孔110が
形成されるが、この通孔110は前記吸着部11により
ピックアップされた部品12がプリント回路基板上に移
動する前に、その位置を検査するために部品12を部品
位置整合装置に配置すべく、通路を提供する。
【0016】前記フレーム100の一側には吸着部11
の端部に吸着された部品12に光13Aを放射する光源
13が設けられる。前記光源13としてレーザーダイオ
ードまたは発光ダイオードが採用されたり、またはこれ
らと光ファイバをカップリングすることによって構成す
ることも可能である。
【0017】前記部品12と光源13との間には、前記
光源13から放射された光13Aを部品12側に散乱さ
せる散乱板14が配置される。前記散乱板14は光13
Aが透過されうる透過型散乱板であることが望ましい。
【0018】前記部品12を基準として散乱板14の対
向側には入射光を結像するレンズ15が設けられ、前記
レンズ15により結像された光を検出する光検出器1
6、望ましくは電荷結合素子(CCD、ChArge-Coupl
eD DeviCe)がフレーム100の他側に結合される。
前記光検出器16から検出された光信号は制御器(図示
せず)に転送される。
【0019】このように構成された本発明に係る部品位
置整合装置の動作を説明する。
【0020】部品12が前記吸着部11に吸着された状
態でフレーム100の通孔110を通って部品位置整合
装置に位置すれば、前記光源13から散乱板14に光1
3Aが放射される。前記散乱板14は透明な高分子材料
よりなっていて、前記光13Aを部品12方向に散乱透
過させる。
【0021】部品12方向に入射された光13Aは部品
12を過ぎてレンズ15によって結像された後、光検出
器16により検出される。光検出器16から検出された
光信号は制御器に転送されて信号処理される。
【0022】ここで、前記部品12の回転角に対する情
報は、部品12を吸着した吸着部11が回転する時、吸
着部11を駆動させるモータ(図示せず)に装着されたエ
ンコーダから部品12の回転角θの値を得、このθ値と
前記光検出器16の映像信号を同期させることによって
求められる。
【0023】また、部品12のX軸、Y軸位置に対する
情報は吸着部11の中心の基準座標値と部品12の中心
座標値の差により求められる。即ち、前記部品12をピ
ックアップする前に前記吸着部11の映像を光検出器1
6に検出して吸着部11の中心座標を求める。次に、吸
着部11に転置された部品12の中心座標を求める。こ
のように得られた前記座標値を比較して部品12の位置
に対する情報が得られる。
【0024】前記光検出器16から検出された信号は前
記散乱板14によって散乱された光13Aの強度分布と
同じパターンを有する。
【0025】光検出器16によって検出された部品12
に対する情報は図7に示したグラフを用いて分析でき
る。ここで、グラフの横軸は光検出器16の画素位置を
示し、縦軸は散乱された光強度を示す。
【0026】グラフを参照すれば、部品12の側面に光
が照射される時、散乱現象によって光の強度は顕著に低
下することが分かる。即ち、強度の所定の閾値より低い
強度値を有する領域Aが示され、この領域Aは部品12
の側面に散乱された光により形成される部品12の映像
幅に当る。
【0027】前記部品12を所定角度回転させれば部品
12の映像サイズが変化するが、このような部品のサイ
ズ変化が図8に示されている。
【0028】ここで、横軸は部品12が回転する角度で
あり、縦軸は画素の位置を示す。グラフに示されたよう
に、光検出器16から検出される信号波形の幅が部品1
2の回転に応じて変化する。
【0029】グラフを参照すれば、波形71は部品12
の一方の側面に沿って変化する部品12の側面映像の幅
変化であり、波形72は前記部品12の他方の側面に沿
って変化する部品12の側面映像の幅変化である。
【0030】即ち、前記部品12が矩形である場合、点
73Aと点73Bとの距離Bは部品12の短辺の長さで
あり、点74Aと点74Bとの距離Cは部品12の長辺
の長さを示す。そして、点75Aと点75Bとの距離D
は部品12の対角線の長さを示す。
【0031】このように、前記波形71及び波形72の
二曲線間の距離が前記光検出器16から検出された部品
12の側面映像の大きさとして測定される。従って、部
品12の幅がBまたはCである時の中心点の座標と回転
角度を求めることによって、前記部品12のX、Y座標
値と回転角θ値を求め基準点と比較して誤差が検出でき
る。
【0032】本発明の光源、散乱板及び光検出器などは
多様に配置されうるが、このような実施例が図3乃至図
6に示されている。この図面で先に示した図1及び図2
と同じ参照符号は同じ部材を示す。
【0033】具体的に、発明の第2実施例を示した図3
及び図4を参照すれば、部品12の上部に光源33が配
置され、吸着部11の一側に散乱板34が設けられる。
前記散乱板34は光源33から放射された光33Aが乱
反射されて部品12に入射されるように反射型散乱板で
あることが望ましい。
【0034】前記部品12を基準として、散乱板34の
反対側には光33Aを結像するレンズ35とこれを検出
する光検出器36とが配置される。
【0035】図5は本発明の第3実施例に係る部品位置
整合装置を示したものである。
【0036】図面を参照すれば、吸着部11に吸着され
た部品12の一側に光源53と、レンズ55及び光検出
器56が全て配置される。前記部品12と光源53との
間には光53Aが透過されうる透過型散乱板54が配置
される。
【0037】前記光源53から放射された光53Aは散
乱板54を透過して部品12に入射される。前記光53
Aは再び部品12で反射されて結像レンズ55で結像さ
れた後、光検出器56から検出される。
【0038】図6は本発明の第4実施例に他の部品位置
整合装置を示したものである。
【0039】図面を参照すれば、部品12の両側に相互
に対向する位置に第1光源63A及び第2光源63Bが
配され、透過型第1散乱板64A及び第2散乱板64B
が図のように配置される。また、前記部品12を中心と
して前記第1、2光源63A、63Bと垂直になるよう
に結像レンズ65と光検出器66が配置される。
【0040】以上のように構成された第2実施例乃至第
4実施例に係る部品位置整合装置の動作は、前述した第
1実施例と同一であるので具体的な説明は省略する。
【0041】
【発明の効果】本発明の部品位置整合装置及び整合方法
によれば、照射される光を散乱させて部品の側面映像を
検出し、これより部品の位置座標及び角度座標を求めら
れる。従って、部品位置整合のための正確な情報を得ら
れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係る部品位置整合装置の
構成を示す断面図。
【図2】図1の部品位置整合装置の平面図。
【図3】本発明の第2実施例に係る部品位置整合装置の
正面図。
【図4】図2の部品位置整合装置の平面図。
【図5】本発明の第3実施例に係る部品位置整合装置の
平面図。
【図6】本発明の第4実施例に係る部品位置整合装置の
平面図。
【図7】本発明の部品位置整合装置から検出された部品
の映像幅を示すグラフ。
【図8】本発明の部品位置整合装置から検出された部品
に対する角度変化に従う映像幅を示すグラフ。
【符号の説明】
11 吸着部 12 部品 13、33 光源 13a、53a、63a 光源から放射された光 14、34、54、64a、64b 散乱板 15、35、55、65 結像レンズ 16、36、56、66 光検出器 71 部品12の一方の側面に沿って変化する波形 72 部品12の他方の側面に沿って変化する波形 73A,74A,75A 部品12の一方の側面に沿っ
て変化する点 73B,74B,75B 部品12の他方の側面に沿っ
て変化する点 100 フレーム 110 通孔 B 部品12の短辺の長さ C 部品12の長辺の長さ D 部品12の対角線の長さ

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源と、 前記光源から放射された光を部品の側面に向けて散乱さ
    せる散乱板と、 前記部品を経由した散乱光を結像する結像レンズと、 前記結像レンズにより結像された光を受光して前記部品
    の側面映像を検出する光検出器とを含む部品位置整合装
    置。
  2. 【請求項2】 前記光源と散乱板は前記部品の一側に
    設けられ、 前記結像レンズと光検出器は前記部品の他側に設けられ
    たことを特徴とする請求項1に記載の部品位置整合装
    置。
  3. 【請求項3】 前記散乱板は前記光源から放射された
    光を前記部品の側面に透過させることを特徴とする請求
    項2に記載の部品位置整合装置。
  4. 【請求項4】 前記散乱板、光源、結像レンズ及び光
    検出器が前記部品の一側に全て配置されたことを特徴と
    する請求項1に記載の部品位置整合装置。
  5. 【請求項5】 前記光源は前記部品の一側に設けられ
    た第1光源及び第2光源を含み、 前記散乱板は前記部品と第1光源との間に設けられた第
    1散乱板及び前記部品と第2光源との間に設けられた第
    2散乱板を含み、 前記結像レンズと光検出器は前記部品を中心とする前記
    第1光源及び第2光源とを結ぶ線に対して、垂直線を成
    すように配置されたことを特徴とする請求項1に記載の
    部品位置整合装置。
  6. 【請求項6】 前記散乱板は前記光源から放射された
    光を前記部品の側面に透過させることを特徴とする請求
    項5に記載の部品位置整合装置。
  7. 【請求項7】 前記光源は前記部品の上部に設けら
    れ、 前記散乱板は前記部品の一側に設けられ、 前記結像レンズと光検出器は前記部品の他側に設けられ
    たことを特徴とする請求項1に記載の部品位置整合装
    置。
  8. 【請求項8】 前記散乱板は前記光源から放射された
    光を前記部品の側面に反射させることを特徴とする請求
    項7に記載の部品位置整合装置。
  9. 【請求項9】 部品をピックアップする段階と、光源
    から放射された光を散乱板で散乱させて前記部品の側面
    に照射する段階と、 前記散乱光による前記部品の側面映像を結像するために
    前記部品を任意の角度で回転させながら側面映像をレン
    ズで結像させて光検出器に検出する段階とを含む部品位
    置整合方法。
JP11265161A 1998-09-24 1999-09-20 部品位置整合装置及びこれを用いた部品位置整合方法 Pending JP2000101298A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980039728A KR100287787B1 (ko) 1998-09-24 1998-09-24 부품위치정렬장치및이를이용한정렬방법
KR1998-39728 1998-09-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000101298A true JP2000101298A (ja) 2000-04-07

Family

ID=19551820

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11265161A Pending JP2000101298A (ja) 1998-09-24 1999-09-20 部品位置整合装置及びこれを用いた部品位置整合方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6473188B1 (ja)
JP (1) JP2000101298A (ja)
KR (1) KR100287787B1 (ja)
CN (1) CN1131415C (ja)
DE (1) DE19944721A1 (ja)
IT (1) IT1313366B1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6639239B2 (en) * 1998-10-30 2003-10-28 Cyberoptics Corporation Angle rejection filter
JP4387745B2 (ja) * 2003-09-30 2009-12-24 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ 電子部品装着装置
DE102005023705A1 (de) * 2005-05-23 2006-11-30 Siemens Ag Sensor und Sensorsystem zur optischen Erfassung von Objekten, Bestückkopf, Verfahren zur Bestimmung der Höhenposition eines Bauelements
NL1033000C2 (nl) * 2006-03-30 2007-08-21 Assembleon Nv Componentplaatsingseenheid alsmede componentplaatsingsinrichting die is voorzien van een dergelijke componentplaatsingseenheid.
NL1031471C2 (nl) * 2006-03-30 2007-03-16 Assembleon Nv Componentplaatsingseenheid alsmede componentplaatsingsinrichting die is voorzien van een dergelijke componentplaatsingseenheid.
KR102425309B1 (ko) * 2016-10-12 2022-07-26 삼성전자주식회사 본딩 헤드와 스테이지 사이의 평행도 보정 장치 및 이를 포함하는 칩 본더

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4628464A (en) * 1983-10-07 1986-12-09 Westinghouse Electric Corp. Robotic system for mounting electrical components
US4827436A (en) 1987-04-22 1989-05-02 Micro Component Technology, Inc. Non-contact high resolution displacement measurement technique
US5278634A (en) * 1991-02-22 1994-01-11 Cyberoptics Corporation High precision component alignment sensor system
US5331406A (en) * 1991-06-25 1994-07-19 Cyberoptics Corporation Multi-beam laser sensor for semiconductor lead measurements
DE69318677T2 (de) * 1992-11-25 1999-02-18 Sumitomo Electric Industries Methode zum Erkennen von Verunreinigungen in geschmolzenem Kunststoff
JP3189500B2 (ja) * 1993-06-25 2001-07-16 松下電器産業株式会社 電子部品の外観検査装置および外観検査方法
WO1996005477A1 (en) * 1994-08-11 1996-02-22 Cyberoptics Corporation High precision semiconductor component alignment systems

Also Published As

Publication number Publication date
US6473188B1 (en) 2002-10-29
ITMI991962A1 (it) 2001-03-22
CN1131415C (zh) 2003-12-17
ITMI991962A0 (it) 1999-09-22
DE19944721A1 (de) 2000-05-18
KR20000020912A (ko) 2000-04-15
KR100287787B1 (ko) 2001-04-16
IT1313366B1 (it) 2002-07-23
CN1251421A (zh) 2000-04-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2002023123A1 (fr) Capteur optique
US5114229A (en) Apparatus for measuring leads of electrical component and method of measuring leads of electrical component
JP2000101298A (ja) 部品位置整合装置及びこれを用いた部品位置整合方法
JP2004347417A (ja) パターン検査装置
JP4999502B2 (ja) 部品移載装置及び表面実装機
JP4191295B2 (ja) 半導体パッケージの検査装置
JP2000013097A (ja) 部品搭載装置
JPH0653694A (ja) 電子部品実装機
JP2000009452A (ja) 表面の凹凸検査方法および装置
JP2006317391A (ja) スリット光照射装置
JP2003130619A (ja) 電子部品の不良リード端子検出方法及び装置
JP3923168B2 (ja) 部品認識方法及び部品実装方法
JP3645340B2 (ja) フラットパッケージのピン曲がりの検出装置
JP3039645B1 (ja) 電子部品の位置認識方法及び装置
JP2002267415A (ja) 半導体測定装置
JP2001217599A (ja) 表面実装部品装着機および表面実装部品装着機における電子部品検出方法
JPH0682732B2 (ja) Icパッケージのリード端子浮き量検査装置
JP2739739B2 (ja) 位置ずれ検査装置
JP2885443B2 (ja) フラットパッケージ集積回路のリード検査装置
KR100287786B1 (ko) 부품위치정렬장치및이를이용한부품정렬방법
JP3247925B2 (ja) 電子部品実装方法
KR200176165Y1 (ko) 3디센서를 이용한 아이시 및 패턴드 웨이퍼의 3차원 외관및 대미지 검사장치
JPH03208400A (ja) 電子部品検査装置および電子部品実装装置
JP3247920B2 (ja) 電子部品実装装置の制御方法
JPH0310151A (ja) 物体検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060605

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080715

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20081015

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20081020

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081114

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20081209

RD13 Notification of appointment of power of sub attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7433

Effective date: 20090128

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20090128