JP2000074601A - 長手方向の計測装置 - Google Patents

長手方向の計測装置

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JP2000074601A JP11200406A JP20040699A JP2000074601A JP 2000074601 A JP2000074601 A JP 2000074601A JP 11200406 A JP11200406 A JP 11200406A JP 20040699 A JP20040699 A JP 20040699A JP 2000074601 A JP2000074601 A JP 2000074601A
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    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/18Micrometers

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 組立中にスリーブとマイクロメータネジとの
間の遊びを調節するために材料の機械加工を何ら必要の
無いようにする。 【解決手段】 マイクロメータは、部分的にネジ山10
5を形成した内面と部分的にネジ山101を形成した外
面とが設けられたスリーブ10から構成されている。そ
の外面には、一つの変形可能なテーパ部分107が設け
られている。マイクロメータネジは、スリーブ10に係
合されており、本装置の長手方向計測軸線xに沿って自
身を移動させるようにスリーブ10に対して回動され
る。ナット11は、スリーブ外ネジ山101上に係合さ
れており、マイクロメータネジとスリーブ10の間の遊
びを調節するべくテーパ部分107を変形させるように
該部分107と接触させる。テーパ部分107には、長
手方向スリットは何も無く、その変形能力は、その周囲
に沿って変化できる外径によって、好ましくは奇数の平
坦な切片で与えられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばマイクロメ
ータ等の請求項1の前提命題部分に上述されたような長
手方向の計測装置に関する。本発明は、より具体的に
は、固定されたスリーブ内に係合されネジ山を形成した
ネジから構成され且つスリーブとネジの間の遊びを調節
する手段を有したマイクロメータに関する。本発明は、
更にスケールに向かい合った固定トランスデューサから
構成された電子式マイクロメータにも関する。
【0002】
【従来の技術】米国特許第5,433,016号は、在
来の電子式マイクロメータについて説明している。この
マイクロメータは、マイクロメータのアンビルと一体に
なりネジ山を形成したスリーブ内に係合されたマイクロ
メータネジから構成されている。マイクロメータのシン
ブルによってマイクロメータネジを回すことによって、
かくしてネジはアンビルに対して長手方向に移動され
る。容量性の計測システムは、マイクロメータネジが行
う回転数を計測し、かくしてネジの自由端とアンビルと
の間の距離が決められるようにしている。
【0003】1ミクロンのオーダの最適精度と最小識別
能力で距離計測するためには、マイクロメータネジと固
定スリーブとの間の機械的遊びをできるだけ少なくする
ことが必要である。この目的の為に、スリーブの一部分
はテーパ加工されており、複数の長手方向スリットが設
けられている。遊びを調節するために、ナットがスリー
ブのこの部分にねじ込まれている。ナットをよりきつく
締めることによって、そのスリーブテーパ部分との接触
点が変えられ、それでスリットレベルにおけるスリーブ
の変形を起こし、ネジとの遊びを補償するようにスリー
ブの直径を縮小するようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、外部ナットを
締めることによって、スリットレベルのスリーブの内ネ
ジ山も変形される。更に、圧縮されたスリーブが最早完
全な円形にはならないように且つマイクロメータネジの
滑らかな移動が保証されることがないようにスリーブ変
形はスリット領域に集中されることに成る。従って、若
干拘束した状態で同時に外部ナットと共にスリーブに孔
をあけて、ネジ立てを行う必要がある。この調節作業
は、特別に造られた孔あけネジ立て工具によってマイク
ロメータの組立中に手作業で行われなければならない。
出来上がりは常に保証されるとは限らず、また時々その
作業を数回繰り返す必要がある。更に、スリットの機械
加工とネジ立ては、しばしば、完全に無くすることが難
しく且つマイクロメータの機能を確実に乱すことに成る
カエリを発生させる。
【0005】米国特許第3,877,149号は、スリ
ーブとマイクロメータネジとの間の遊びがスリーブの周
囲の或る点に圧入されたピンによって調節されるように
したマイクロメータについて説明している。スリーブと
マイクロメータネジとの間の圧力は、スリーブの変形が
この装置で非常に大きく成るようにピンとスリーブとの
間の接触点においてほんの局部的に調節されるに過ぎな
い。
【0006】英国特許第1,361,991号は、マイ
クロメータネジとの遊びを補償するために圧縮によって
変形可能な合成材で作られネジ山を形成した小片を採用
したマイクロメータを記載している。しかし、合成材製
のネジ山形成小片は、高い精度で機械加工することが難
しい上に確実に早く摩滅する。かくして、この種の構造
は高レンジのマイクロメータには不適当である。
【0007】本発明の一目的は、かくして、従来技術の
装置の欠点を克服したり、又は低減するようにした、例
えばマイクロメータ等の長手方向の計測装置を提供する
ものである。特に、本発明の目的は、組立中にスリーブ
とマイクロメータネジとの間の遊びを調節するために材
料の機械加工が何ら必要の無いマイクロメータを提供す
るもである。
【0008】
【課題を解決するための手段】これらの目的は、本発明
に依り、独立請求項の特徴を有した長手方向の計測装置
によって達成され、好適な変形例は更に従属請求項に示
されている。
【0009】特に、これらの目的は、スリーブに、特に
そのテーパ部分に長手方向スリットを全く無くしている
長手方向の計測装置によって達成される。スリーブの変
形能力は、好ましくはその周囲の複数の平坦部分によっ
てその周囲に沿って変化可能な外径から結果的に得られ
るものである。
【0010】この構造は、それに伴って、内ネジ山を損
傷せずに、またスリーブの円形状を変えずにスリーブ直
径を変えることができるようにする予期していなかった
効果をもたらすものである。かくして、本発明は、従来
技術の装置のようにマイクロメータネジの正確性の機能
を損なうようなこと無しにマイクロメータの遊びを補償
することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の他の効果は、図面によっ
て示された本発明の一実施例の説明を読むとより明らか
になるであろう。図1は、スピンドル1(マイクロメー
タネジと一体となっている)の取付けチップ130とマ
イクロメータの本体8及び顎と一体となったアンビル2
との間の距離を計測するようにした電子式マイクロメー
タの側面図を示している。計測された距離は、例えば液
晶表示器等のスクリーン5上に表示され、その表示は、
例えば計測単位の選択を行い且つ絶対距離計測や相対距
離計測間の選択をする機能キーによって制御される。ネ
ジ1は、シンブル3を回すことによって、又はより早い
移動のためにはシンブル上の金具4を回すことによって
長手方向の計測軸線xに沿って移動される。ネジの移動
は、阻止レバー7によってどの位置にでも止められる。
装置全体は、合成材製のケーシング23によって衝撃に
対してまた水の浸透に対して保護されている。
【0012】図2は、図1のマイクロメータの断面図で
あり、特に合成材製ケーシング23によって保護された
マイクロメータの構成部品を示している。この図におい
てマイクロメータネジ1は、基本的に4つの機能部品:
即ち取り付けられたチップ130と、マイクロメータの
本体8から出る円筒スピンドル131と、ネジ山を形成
した部分132と、伝達部分133とから構成されてい
ることが分かる。ネジ山形成部分のピッチの精度は、好
ましくしは0.001mmよりも優れており、特にマイ
クロメータの精度を決定している。
【0013】ネジ1は、摩擦スプリング13と、摩擦リ
ング12と、伝達部133上に搭載された伝達片14と
を介してシンブル3によって回動される。伝達片14の
周りの周囲溝に搭載されたスプリング140は、摩擦リ
ング12の回転力がネジ1に伝達されるようにしてい
る。摩擦スプリング13は、特に計測経過の終わりに、
又はスピンドル端が被計測片と接続した時にシンブル3
がネジから分離できるようにするもので、かくして、ほ
ぼ一定の計測圧力が確保されるようにしている。しか
し、ネジは、更に特に長い距離に渡って非常に早く確実
に移動させるために金具4によって直接回動されるよう
に成っている。シンブル3と金具4とは、好ましくは、
心地良い手ざわりと、良好な握りと、ケーシング23に
適した外観を確保するために平行筋のある合成材から造
られている。大寸法のマイクロメータの場合、モータ駆
動で移動を行わせることも考えられる。シンブルとネジ
との間で回転力を伝達する他の手段で、例えばヨーロッ
パ特許出願公開明細書(サーチレポート無し)第791
801号に説明されているようなラチェット装置を有し
たものも、本発明の枠内で使用され得るものである。
【0014】ネジ1のネジ山形成部分132は、マイク
ロメータの本体8と一体となりネジ山を形成したスリー
ブ10内に係合されている。シンブル3を回すことによ
って、かくしてネジ1は、ネジ山形成スリーブ10に対
して長手方向に移動される。固定トランスデューサ台1
6は、図7に関してより詳細に説明されているように、
組立カラー17とスプリング18を介してネジ山形成ス
リーブ10上に搭載されている。固定トランスデューサ
に向かい合ったままで、スケール台15は、ネジ1が回
転するとリング12によって回動される。2つの台1
6、15は、各々一組の容量性電極を備えたトランスデ
ューサ19と、スケール20とを各々支承している。2
組の電極を重ねることで、固定トランスデューサに対す
るスケール20の角度位置を決定する。例えばバッテリ
22等の自律的電源によって給電される電子回路21
は、受信された計測信号から開始して容量性電極の給電
と、スケール20の角度位置の決定を可能にする。電子
回路21は、好ましくは、可撓なプリント回路上に搭載
されており、縮小された寸法のケーシングへの搭載を容
易にしている。所定位置から開始して、スケール20が
行う回転数を計測することによって、かくして電子回路
21は、マイクロメータネジ1の長手方向の位置を算定
することができ、スクリーン5上にこの情報を表示した
り、又はそれを直列インタフェイース(図示されていな
い)を介して外部装置へ伝達することになる。適当な容
量性トランスデューサの例が、米国特許第4,578,
868号に記載されている。ヨーロッパ特許出願明細書
第836076号は、適当な電子回路21に関する例を
説明している。当業者は、磁気抵抗式、光学式又は純粋
に機械式の在来システムを含んだ他のタイプの計測シス
テムが本発明の枠内で使用され得ることを理解するでし
ょう。
【0015】図3は、固定スリーブ10の組立体を示し
ており、図の上方部分は断面で示されており、それに対
して下方部分は外形図となっている。スリーブ10は、
少なくとも一部分にマイクロメータネジ1(この図には
示されていない)を受け入れることができるネジ山10
5を設けている長手方向開口100から構成されてい
る。環状収容部102が、液体の浸透を防止するジョイ
ントを収容するためにこの開口(スピンドル130に接
近した)の前方の端部に設けられている。ネジ1のスピ
ンドル130の部分を収容するようにしたネジ山の無い
部分108は、半径方向の遊びを防ぎながらネジを案内
するように正確にドリル加工されている。
【0016】スリーブ10の後端部が、図4において拡
大されて示されている。この後端部の外面は、テーパ部
分107から構成されており、その直径はスリーブの後
部から前部にかけて増大している。外ネジ山101は、
スリーブ10とネジ1との間の遊びを調節するために、
既に述べたようにスリーブの外側でナット11をネジ移
動させられるようにしている。
【0017】外ネジ山101上でナット11をネジで前
進させたり、ネジで後退させたりすることで、ナットと
テーパ部分107との間の接触点112の位置が変えら
れ、結果的にスリーブとネジ1との間の遊びがスリーブ
直径の調節によって除去されることに成る。
【0018】本発明に依れば、スリーブ10のテーパ部
分には従来技術の装置で知られていた長手方向スリット
が無い。スリーブ10のこの部分の変形能力は、その外
周に沿った変化可能な直径から、即ちこのスリーブ部分
の内部横断面がもし円形ならば他の部分は特に図5の横
断面に見受けられるように円形になっていないと言う事
実から結果的に生ずるものである。図示の好適な例で
は、スリーブのテーパ部分107の外面には、平坦な切
片、ここでは5つの切片104が設けられている。しか
し、ナット11を締めることで惹起され得る局部変形を
分散させるために3つよりも多い切片の数が好ましい
が、切片の数は決定的には重要でない。更に、経験的に
奇数個の平坦な切片がネジ山105の変形と開口100
の円形状の変形をより良く制限できるようにしているよ
うである。平坦な切片は、好ましくはネジ山105が設
けられたスリーブ10の部分の少なくとも全長に渡って
延びている。
【0019】スリーブ10の変形可能な部分の他の形状
は、本発明の枠内で採用される。例えば、外面全体に長
手方向溝を設けることができ、深さ、幅及び数は最大限
に変え得るものである。テーパ部分107の傾斜自体
も、別の実施例に依って多かれ少なかれ強調することが
でき、非線形スロープも採用できる。
【0020】図6は、図4のものと同じネジ山形成スリ
ーブ部分を断面で示しているが、しかし調節ナット11
を搭載している。調節ネジには、スリーブ10の外ネジ
山101と協働できる内ネジ山110が設けられてい
る。本発明の一特徴に依れば、スリーブ10のネジ山形
成部分101は、スリーブ上の応力が限定領域に集中さ
れないように変形可能なテーパ部分によって延長されて
いる。
【0021】ナット11を貫通した開口には、ナットが
十分に深く外ネジ山101の内側まで係合されるとスリ
ーブ10のテーパ部分と点112で接触する肩部111
が設けられている。ナットを更に締めることで、スリー
ブ10の端部は平坦部品から構成された一帯で変形さ
れ、これでネジ山105のレベルでスリーブの内径を減
じる効果を享受し、かくしてスリーブとマイクロメータ
ネジ1(この図に示されていない)との間の遊びを調節
すると言う効果を持つことになる。
【0022】ナット11は、組立中にスリーブ10上に
搭載される。スリーブ10は内ネジ山と円形状における
非常に僅かな変形によって、新たに孔あけしネジ立て作
業を行う必要が無く成り、それで組立作業場において何
ら機械加工作業を行う必要が無くなった点に注目され
る。ナット11の締めつけは、熟練作業者によって手で
調節されるか、又はその目的に用意された溝113に係
合された検力機能付きネジ込み工具によって調節され
る。ナット11は、スリーブ10の外ネジ山101を保
護するためにそれを全体的に覆っている。
【0023】図7は、容量性計測システムをより具体的
に示している図1の部分の拡大図である。計測システム
は、ネジ1と共に回転駆動されるスケール20に向かい
合って搭載された固定トランスデューサ19から構成さ
れている。トランスデューサとスケールは、各々一組の
電極(図示されていない)を有しており、それら2組の
電極は隙間24によって分離されている。回転スケール
は、例えば台15上に接着やかしめによって搭載され
る:同様に固定トランスデューサ19は、トランスデュ
ーサ台16上に搭載される。
【0024】隙間24は、台15の突起150に対して
押圧する台16の突起160によって与えられる。本発
明に依れば、固定トランスデューサ19の長手方向位置
は阻止されていないが、しかし反対に、固定トランスデ
ューサは、スリーブ10に沿って長手方向に自からを移
動させることができる。しかし、固定トランスデューサ
台16は、例えば生ゴム、ゴム又は粘性ゴムのエレメン
トや、又は図示の好適な例におけるように組立カラー1
7に対して支持されたスプリング18等の圧縮可能なエ
レメントによって、回転スケール台15に対して押圧さ
れている。スプリングは、製造公差に依る不揃いや不正
確さを補償できるようにしており、特にスケールの角度
位置に独立してトランスデューサ19とスケール20と
の間の平行度と間隔を保証することによって計測精度を
改善している。組立カラー17とトランスデューサ台1
6を貫通した孔に係合されたピン25は、後者の台16
の回転が防止され得るようにしている。
【0025】当業者は、非常に多種多様な寸法のマイク
ロメータが本発明の枠内で実現され且つ他のタイプの長
手方向計測装置も同様であることを理解するであろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】電子式マイクロメータの側面図である。
【図2】本発明に係るマイクロメータの断面図を示して
いる。
【図3】本発明に係るスリーブ組立体図であり、図の上
方部分は断面で示されており、他方下方部分は外形図で
ある。
【図4】本発明に係るスリーブの端部の拡大図であり、
図の上方部分は断面で示されており、他方下方部分は外
形図である。
【図5】図4に示されたスリーブの軸線A−Aに沿った
横断面を示している。
【図6】調節ナットを搭載した本発明のスリーブの端部
の断面を示している。
【図7】容量性計測システムを特に詳細に示した図1の
部分の一部の拡大図を示している。
【符号の説明】
1 ネジ 10 スリーブ 100 部分的にネジ山の形成された内面 101 外ネジ山形成部分 104 平坦切片 105 内ネジ山形成部分 107 外部の変形可能なテーパ部分 11 ナット 15 スケール台 150 スケール台の接触域 16 トランスデューサ台 160 トランスデューサ台の接触域 18 圧縮可能なエレメント 19 トランスデューサ 20 スケール 21 回路 24 隙間 25 回転防止ピン x 長手方向計測軸線
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成11年7月29日(1999.7.2
9)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 長手方向の計測装置
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばマイクロメ
ータ等の請求項1の前提命題部分に上述されたような長
手方向の計測装置に関する。本発明は、より具体的に
は、固定されたスリーブ内に係合されネジ山を形成した
ネジから構成され且つスリーブとネジの間の遊びを調節
する手段を有したマイクロメータに関する。本発明は、
更にスケールに向かい合った固定トランスデューサから
構成された電子式マイクロメータにも関する。
【0002】
【従来の技術】米国特許第5,433,016号は、在
来の電子式マイクロメータについて説明している。この
マイクロメータは、マイクロメータのアンビルと一体に
なりネジ山を形成したスリーブ内に係合されたマイクロ
メータネジから構成されている。マイクロメータのシン
ブルによってマイクロメータネジを回すことによって、
かくしてネジはアンビルに対して長手方向に移動され
る。容量性の計測システムは、マイクロメータネジが行
う回転数を計測し、かくしてネジの自由端とアンビルと
の間の距離が決められるようにしている。
【0003】1ミクロンのオーダの最適精度と最小識別
能力で距離計測するためには、マイクロメータネジと固
定スリーブとの間の機械的遊びをできるだけ少なくする
ことが必要である。この目的の為に、スリーブの一部分
はテーパ加工されており、複数の長手方向スリットが設
けられている。遊びを調節するために、ナットがスリー
ブのこの部分にねじ込まれている。ナットをよりきつく
締めることによって、そのスリーブテーパ部分との接触
点が変えられ、それでスリットレベルにおけるスリーブ
の変形を起こし、ネジとの遊びを補償するようにスリー
ブの直径を縮小するようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、外部ナットを
締めることによって、スリットレベルのスリーブの内ネ
ジ山も変形される。更に、圧縮されたスリーブが最早完
全な円形にはならないように且つマイクロメータネジの
滑らかな移動が保証されることがないようにスリーブ変
形はスリット領域に集中されることに成る。従って、若
干拘束した状態で同時に外部ナットと共にスリーブに孔
をあけて、ネジ立てを行う必要がある。この調節作業
は、特別に造られた孔あけネジ立て工具によってマイク
ロメータの組立中に手作業で行われなければならない。
出来上がりは常に保証されるとは限らず、また時々その
作業を数回繰り返す必要がある。更に、スリットの機械
加工とネジ立ては、しばしば、完全に無くすることが難
しく且つマイクロメータの機能を確実に乱すことに成る
カエリを発生させる。
【0005】米国特許第3,877,149号は、スリ
ーブとマイクロメータネジとの間の遊びがスリーブの周
囲の或る点に圧入されたピンによって調節されるように
したマイクロメータについて説明している。スリーブと
マイクロメータネジとの間の圧力は、スリーブの変形が
この装置で非常に大きく成るようにピンとスリーブとの
間の接触点においてほんの局部的に調節されるに過ぎな
い。
【0006】英国特許第1,361,991号は、マイ
クロメータネジとの遊びを補償するために圧縮によって
変形可能な合成材で作られネジ山を形成した小片を採用
したマイクロメータを記載している。しかし、合成材製
のネジ山形成小片は、高い精度で機械加工することが難
しい上に確実に早く摩滅する。かくして、この種の構造
は高レンジのマイクロメータには不適当である。
【0007】本発明の一目的は、かくして、従来技術の
装置の欠点を克服したり、又は低減するようにした、例
えばマイクロメータ等の長手方向の計測装置を提供する
ものである。特に、本発明の目的は、組立中にスリーブ
とマイクロメータネジとの間の遊びを調節するために材
料の機械加工が何ら必要の無いマイクロメータを提供す
るもである。
【0008】
【課題を解決するための手段】これらの目的は、本発明
に依り、独立請求項の特徴を有した長手方向の計測装置
によって達成され、好適な変形例は更に従属請求項に示
されている。
【0009】特に、これらの目的は、スリーブに、特に
そのテーパ部分に長手方向スリットを全く無くしている
長手方向の計測装置によって達成される。スリーブの変
形能力は、好ましくはその周囲の複数の平坦部分によっ
てその周囲に沿って変化可能な外径から結果的に得られ
るものである。
【0010】この構造は、それに伴って、内ネジ山を損
傷せずに、またスリーブの円形状を変えずにスリーブ直
径を変えることができるようにする予期していなかった
効果をもたらすものである。かくして、本発明は、従来
技術の装置のようにマイクロメータネジの正確性の機能
を損なうようなこと無しにマイクロメータの遊びを補償
することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の他の効果は、図面によっ
て示された本発明の一実施例の説明を読むとより明らか
になるであろう。図1は、スピンドル1(マイクロメー
タネジと一体となっている)の取付けチップ130とマ
イクロメータの本体8及び顎と一体となったアンビル2
との間の距離を計測するようにした電子式マイクロメー
タの側面図を示している。計測された距離は、例えば液
晶表示器等のスクリーン5上に表示され、その表示は、
例えば計測単位の選択を行い且つ絶対距離計測や相対距
離計測間の選択をする機能キーによって制御される。ネ
ジ1は、シンブル3を回すことによって、又はより早い
移動のためにはシンブル上の金具4を回すことによって
長手方向の計測軸線xに沿って移動される。ネジの移動
は、阻止レバー7によってどの位置にでも止められる。
装置全体は、合成材製のケーシング23によって衝撃に
対してまた水の浸透に対して保護されている。
【0012】図2は、図1のマイクロメータの断面図で
あり、特に合成材製ケーシング23によって保護された
マイクロメータの構成部品を示している。この図におい
てマイクロメータネジ1は、基本的に4つの機能部品:
即ち取り付けられたチップ130と、マイクロメータの
本体8から出る円筒スピンドル131と、ネジ山を形成
した部分132と、伝達部分133とから構成されてい
ることが分かる。ネジ山形成部分のピッチの精度は、好
ましくしは0.001mmよりも優れており、特にマイ
クロメータの精度を決定している。
【0013】ネジ1は、摩擦スプリング13と、摩擦リ
ング12と、伝達部133上に搭載された伝達片14と
を介してシンブル3によって回動される。伝達片14の
周りの周囲溝に搭載されたスプリング140は、摩擦リ
ング12の回転力がネジ1に伝達されるようにしてい
る。摩擦スプリング13は、特に計測経過の終わりに、
又はスピンドル端が被計測片と接続した時にシンブル3
がネジから分離できるようにするもので、かくして、ほ
ぼ一定の計測圧力が確保されるようにしている。しか
し、ネジは、更に特に長い距離に渡って非常に早く確実
に移動させるために金具4によって直接回動されるよう
に成っている。シンブル3と金具4とは、好ましくは、
心地良い手ざわりと、良好な握りと、ケーシング23に
適した外観を確保するために平行筋のある合成材から造
られている。大寸法のマイクロメータの場合、モータ駆
動で移動を行わせることも考えられる。シンブルとネジ
との間で回転力を伝達する他の手段で、例えばヨーロッ
パ特許出願公開明細書(サーチレポート無し)第791
801号に説明されているようなラチェット装置を有し
たものも、本発明の枠内で使用され得るものである。
【0014】ネジ1のネジ山形成部分132は、マイク
ロメータの本体8と一体となりネジ山を形成したスリー
ブ10内に係合されている。シンブル3を回すことによ
って、かくしてネジ1は、ネジ山形成スリーブ10に対
して長手方向に移動される。固定トランスデューサ台1
6は、図7に関してより詳細に説明されているように、
組立カラー17とスプリング18を介してネジ山形成ス
リーブ10上に搭載されている。固定トランスデューサ
に向かい合ったままで、スケール台15は、ネジ1が回
転するとリング12によって回動される。2つの台1
6、15は、各々一組の容量性電極を備えたトランスデ
ューサ19と、スケール20とを各々支承している。2
組の電極を重ねることで、固定トランスデューサに対す
るスケール20の角度位置を決定する。例えばバッテリ
22等の自律的電源によって給電される電子回路21
は、受信された計測信号から開始して容量性電極の給電
と、スケール20の角度位置の決定を可能にする。電子
回路21は、好ましくは、可撓なプリント回路上に搭載
されており、縮小された寸法のケーシングへの搭載を容
易にしている。所定位置から開始して、スケール20が
行う回転数を計測することによって、かくして電子回路
21は、マイクロメータネジ1の長手方向の位置を算定
することができ、スクリーン5上にこの情報を表示した
り、又はそれを直列インタフェイース(図示されていな
い)を介して外部装置へ伝達することになる。適当な容
量性トランスデューサの例が、米国特許第4,578,
868号に記載されている。ヨーロッパ特許出願明細書
第836076号は、適当な電子回路21に関する例を
説明している。当業者は、磁気抵抗式、光学式又は純粋
に機械式の在来システムを含んだ他のタイプの計測シス
テムが本発明の枠内で使用され得ることを理解するでし
ょう。
【0015】図3は、固定スリーブ10の組立体を示し
ており、図の上方部分は断面で示されており、それに対
して下方部分は外形図となっている。スリーブ10は、
少なくとも一部分にマイクロメータネジ1(この図には
示されていない)を受け入れることができるネジ山10
5を設けている長手方向開口100から構成されてい
る。環状収容部102が、液体の浸透を防止するジョイ
ントを収容するためにこの開口(スピンドル130に接
近した)の前方の端部に設けられている。ネジ1のスピ
ンドル130の部分を収容するようにしたネジ山の無い
部分108は、半径方向の遊びを防ぎながらネジを案内
するように正確にドリル加工されている。
【0016】スリーブ10の後端部が、図4において拡
大されて示されている。この後端部の外面は、テーパ部
分107から構成されており、その直径はスリーブの後
部から前部にかけて増大している。外ネジ山101は、
スリーブ10とネジ1との間の遊びを調節するために、
既に述べたようにスリーブの外側でナット11をネジ移
動させられるようにしている。
【0017】外ネジ山101上でナット11をネジで前
進させたり、ネジで後退させたりすることで、ナットと
テーパ部分107との間の接触点112の位置が変えら
れ、結果的にスリーブとネジ1との間の遊びがスリーブ
直径の調節によって除去されることに成る。
【0018】本発明に依れば、スリーブ10のテーパ部
分には従来技術の装置で知られていた長手方向スリット
が無い。スリーブ10のこの部分の変形能力は、その外
周に沿った変化可能な直径から、即ちこのスリーブ部分
の内部横断面がもし円形ならば他の部分は特に図5の横
断面に見受けられるように円形になっていないと言う事
実から結果的に生ずるものである。図示の好適な例で
は、スリーブのテーパ部分107の外面には、平坦な切
片、ここでは5つの切片104が設けられている。しか
し、ナット11を締めることで惹起され得る局部変形を
分散させるために3つよりも多い切片の数が好ましい
が、切片の数は決定的には重要でない。更に、経験的に
奇数個の平坦な切片がネジ山105の変形と開口100
の円形状の変形をより良く制限できるようにしているよ
うである。平坦な切片は、好ましくはネジ山105が設
けられたスリーブ10の部分の少なくとも全長に渡って
延びている。
【0019】スリーブ10の変形可能な部分の他の形状
は、本発明の枠内で採用される。例えば、外面全体に長
手方向溝を設けることができ、深さ、幅及び数は最大限
に変え得るものである。テーパ部分107の傾斜自体
も、別の実施例に依って多かれ少なかれ強調することが
でき、非線形スロープも採用できる。
【0020】図6は、図4のものと同じネジ山形成スリ
ーブ部分を断面で示しているが、しかし調節ナット11
を搭載している。調節ネジには、スリーブ10の外ネジ
山101と協働できる内ネジ山110が設けられてい
る。本発明の一特徴に依れば、スリーブ10のネジ山形
成部分101は、スリーブ上の応力が限定領域に集中さ
れないように変形可能なテーパ部分によって延長されて
いる。
【0021】ナット11を貫通した開口には、ナットが
十分に深く外ネジ山101の内側まで係合されるとスリ
ーブ10のテーパ部分と点112で接触する肩部111
が設けられている。ナットを更に締めることで、スリー
ブ10の端部は平坦部品から構成された一帯で変形さ
れ、これでネジ山105のレベルでスリーブの内径を減
じる効果を享受し、かくしてスリーブとマイクロメータ
ネジ1(この図に示されていない)との間の遊びを調節
すると言う効果を持つことになる。
【0022】ナット11は、組立中にスリーブ10上に
搭載される。スリーブ10は内ネジ山と円形状における
非常に僅かな変形によって、新たに孔あけしネジ立て作
業を行う必要が無く成り、それで組立作業場において何
ら機械加工作業を行う必要が無くなった点に注目され
る。ナット11の締めつけは、熟練作業者によって手で
調節されるか、又はその目的に用意された溝113に係
合された検力機能付きネジ込み工具によって調節され
る。ナット11は、スリーブ10の外ネジ山101を保
護するためにそれを全体的に覆っている。
【0023】図7は、容量性計測システムをより具体的
に示している図1の部分の拡大図である。計測システム
は、ネジ1と共に回転駆動されるスケール20に向かい
合って搭載された固定トランスデューサ19から構成さ
れている。トランスデューサとスケールは、各々一組の
電極(図示されていない)を有しており、それら2組の
電極は隙間24によって分離されている。回転スケール
は、例えば台15上に接着やかしめによって搭載され
る:同様に固定トランスデューサ19は、トランスデュ
ーサ台16上に搭載される。
【0024】隙間24は、台15の突起150に対して
押圧する台16の突起160によって与えられる。本発
明に依れば、固定トランスデューサ19の長手方向位置
は阻止されていないが、しかし反対に、固定トランスデ
ューサは、スリーブ10に沿って長手方向に自からを移
動させることができる。しかし、固定トランスデューサ
台16は、例えば生ゴム、ゴム又は粘性ゴムのエレメン
トや、又は図示の好適な例におけるように組立カラー1
7に対して支持されたスプリング18等の圧縮可能なエ
レメントによって、回転スケール台15に対して押圧さ
れている。スプリングは、製造公差に依る不揃いや不正
確さを補償できるようにしており、特にスケールの角度
位置に独立してトランスデューサ19とスケール20と
の間の平行度と間隔を保証することによって計測精度を
改善している。組立カラー17とトランスデューサ台1
6を貫通した孔に係合されたピン25は、後者の台16
の回転が防止され得るようにしている。
【0025】当業者は、非常に多種多様な寸法のマイク
ロメータが本発明の枠内で実現され且つ他のタイプの長
手方向計測装置も同様であることを理解するであろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】電子式マイクロメータの側面図である。
【図2】本発明に係るマイクロメータの断面図を示して
いる。
【図3】本発明に係るスリーブ組立体図であり、図の上
方部分は断面で示されており、他方下方部分は外形図で
ある。
【図4】本発明に係るスリーブの端部の拡大図であり、
図の上方部分は断面で示されており、他方下方部分は外
形図である。
【図5】図4に示されたスリーブの軸線A−Aに沿った
横断面を示している。
【図6】調節ナットを搭載した本発明のスリーブの端部
の断面を示している。
【図7】容量性計測システムを特に詳細に示した図1の
部分の一部の拡大図を示している。
【符号の説明】 1 ネジ 10 スリーブ 100 部分的にネジ山の形成された内面 101 外ネジ山形成部分 104 平坦切片 105 内ネジ山形成部分 107 外部の変形可能なテーパ部分 11 ナット 15 スケール台 150 スケール台の接触域 16 トランスデューサ台 160 トランスデューサ台の接触域 18 圧縮可能なエレメント 19 トランスデューサ 20 スケール 21 回路 24 隙間 25 回転防止ピン x 長手方向計測軸線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 オーサー ボベイ スイス ローザンヌ 3 1000,アベニュ ー ルショネット 51 (72)発明者 ミカエル パウデックス スイス シャンバンヌ−レーネン 1022, アベニュー デ ラ ガーレ 54

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも部分的にネジ山を形成した内
    面(100)と、少なくとも一つの変形可能なテーパ部
    分(107)から構成された少なくとも部分的にネジ山
    を形成した外面とを有したスリーブ(10)と、 該スリーブ(10)内に係合され且つ本装置の長手方向
    計測軸線(x)に沿って自から移動するように上記スリ
    ーブに対して回動されるネジ(1)と、 上記スリーブのネジ山形成部(101)上に係合され且
    つ上記ネジと上記スリーブとの間の遊びを調節するため
    に上記テーパ部分(107)を変形するように該テーパ
    部分(107)と接触されるナット(11)とから構成
    された長手方向の計測装置において、 上記テーパ部分(107)は、長手方向スリットが全く
    無く、またその変形可能性は、その周囲に沿って変化す
    る外径によって与えられることを特徴とする長手方向の
    計測装置。
  2. 【請求項2】 上記テーパ部分(107)は、平坦な切
    片(104)から構成されていることを特徴とする請求
    項1記載の装置。
  3. 【請求項3】 上記テーパ部分(107)は、奇数個の
    平坦な切片から構成されていることを特徴とする請求項
    2記載の装置。
  4. 【請求項4】 上記テーパ部分(107)は、外ネジ山
    がないことを特徴とする上記請求項のいずれか一つに記
    載の装置。
  5. 【請求項5】 上記ナット(11)によって完全に覆わ
    れ得る上記外面の一部分のみに外ネジ山(101)が設
    けられていることを特徴とする上記請求項のいずれか一
    つに記載の装置。
  6. 【請求項6】 本装置は、トランスデューサ(19)と
    該トランスデューサに向かい合ったスケール(20)と
    が装備されており、上記スケールは、上記ネジの移動の
    際に上記トランスデューサに対して相対回動され、上記
    ネジの位置を上記トランスデューサ(19)と上記スケ
    ール(20)との相対位置によって決定することがで
    き、 そこで上記トランスデューサ(19)は、圧縮可能なエ
    レメント(18)の助けで上記スケール(20)に向か
    い合った状態で長手方向において維持されていることを
    特徴とする上記請求項のいずれか一つに記載の装置。
  7. 【請求項7】 少なくとも部分的にネジ山を形成した内
    面(100)を有したスリーブ(10)と、 該スリーブ(10)に係合され且つ本装置の長手方向の
    計測軸線(x)に沿って自からを移動するように上記ス
    リーブに対して回動されるネジ(1)と、 トランスデューサ(19)と、 該トランスデューサに向かい合い、上記ネジ(1)の移
    動に際してトランスデューサに対して相対回動されるス
    ケール(20)とから構成されており、上記トランスデ
    ューサ(19)と上記スケール(20)の相対位置によ
    って上記ネジの位置を決定することができる長手方向の
    計測装置において、 上記トランスデューサ(19)は、圧縮可能なエレメン
    ト(18)によって上記スケール(20)に向かい合っ
    た状態で長手方向において維持されていることを特徴と
    する長手方向の計測装置。
  8. 【請求項8】 上記圧縮可能なエレメント(18)は、
    上記スケール(20)に向かい合った状態で上記トラン
    スデューサ(19)を支持できるようにしており、間隔
    (24)は、上記スケール台(15)と上記トランスデ
    ューサ台(16)との間の接触域(160、150)に
    よって決定されることを特徴とする請求項6と7のいず
    れか一に記載の装置。
  9. 【請求項9】 上記固定されたトランスデューサ(1
    9)の回転は、回り止めピン(25)によって防止され
    ていることを特徴とする請求項6から8のいずれか一に
    記載の装置。
  10. 【請求項10】 上記トランスデューサ(19)と上記
    スケール(20)とには容量性電極が設けられており、
    上記ネジ(1)の長手方向位置が上記電極間の位相シフ
    トから開始して決定されるようにする回路(21)が設
    けられていることを特徴とする請求項6から9のいずれ
    か一に記載の装置。
  11. 【請求項11】 本装置はマイクロメータとなっている
    ことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか一に記載
    の装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005003441A (ja) * 2003-06-10 2005-01-06 Mitsutoyo Corp デジタル式変位測定器
JP2005227285A (ja) * 2004-02-11 2005-08-25 Carl Mahl Holding Gmbh 間隔測定のための精密測定機器
JP2008180621A (ja) * 2007-01-25 2008-08-07 Mitsutoyo Corp デジタル式変位測定器

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3751540B2 (ja) * 2000-07-26 2006-03-01 株式会社ミツトヨ 測定器
JP4533314B2 (ja) * 2003-06-09 2010-09-01 株式会社ミツトヨ 測定器
JP5426459B2 (ja) * 2010-04-08 2014-02-26 株式会社ミツトヨ マイクロメータ
US8578620B1 (en) * 2011-07-13 2013-11-12 Randy L. Adams Measurement device for measuring alignment of screen printed images
JP2013088287A (ja) * 2011-10-18 2013-05-13 Mitsutoyo Corp マイクロメータ
JP5986790B2 (ja) * 2012-04-23 2016-09-06 株式会社ミツトヨ マイクロメータ
US8997369B2 (en) * 2012-05-15 2015-04-07 Mitutoyo Corporation Fast rotary drive for a handheld micrometer
USRE47140E1 (en) * 2013-12-11 2018-11-27 Tesa Sa Micrometer
USD744359S1 (en) * 2013-12-11 2015-12-01 Tesa Sa Micrometer
CN104111049A (zh) * 2014-08-12 2014-10-22 广西玉柴机器股份有限公司 用于检测曲轴锥面尺寸的辅助工具
US9678701B2 (en) * 2014-11-05 2017-06-13 Mitutoyo Corporation Handheld measuring device comprising a user interface responsive to changes in a displacement sensed by a displacement sensor
US9482509B2 (en) * 2014-12-12 2016-11-01 Mitutoyo Corporation Ergonomic micrometer including two modes of adjustment
EP3225950B1 (en) 2016-03-31 2018-09-12 Tesa Sa Portable displacement measuring instrument with constant force mechanism
US11040422B1 (en) * 2018-01-25 2021-06-22 Dennis Willard Davis Manual stage with magnetic sensor and digital readout
CN114001712B (zh) * 2021-12-24 2022-03-22 四川公路工程咨询监理有限公司 危岩体变形监测装置及预警***

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1098694A (en) * 1914-02-16 1914-06-02 Starrett L S Co Micrometer.
FR538184A (fr) 1921-07-12 1922-06-06 Marc Perret Et Cie Procédé et appareil pour la fabrication des agglomérés pleins ou creux
US2212910A (en) * 1939-01-03 1940-08-27 Lufkin Rule Co Micrometer gauge
US2325351A (en) * 1941-09-22 1943-07-27 William B Heaps Micrometer
US2555243A (en) * 1945-01-24 1951-05-29 Brown & Sharpe Mfg Thread construction
US2467499A (en) * 1946-03-06 1949-04-19 Rudolph H Sachtleber Micrometer
US2563061A (en) * 1947-01-15 1951-08-07 Brown & Sharpe Mfg Micrometer thimble
US2871571A (en) * 1956-10-08 1959-02-03 Starrett L S Co Friction thimble
US3131482A (en) * 1961-10-09 1964-05-05 Brown & Sharpe Mfg Micrometer with adjustable barrel sleeve
JPS471096Y1 (ja) * 1967-07-15 1972-01-14
US3686766A (en) * 1970-04-02 1972-08-29 Olympus Optical Co Digital micrometer
US3667127A (en) * 1970-06-04 1972-06-06 Taisuke Tsugami Digital micrometer caliper
JPS4736262U (ja) * 1971-05-11 1972-12-22
US3877149A (en) * 1971-11-22 1975-04-15 Yehan Numata Accuracy regulating means for a linear micrometer
US3835544A (en) * 1972-02-01 1974-09-17 Schneider & Kern Impact-protected gear unit for measuring tools
GB1361991A (en) * 1972-06-14 1974-07-30 Neil Holdings Ltd James Precision measuring instruments
BE836986A (fr) * 1975-12-22 1976-04-16 Unite micrometrique de tres haute precision a ecrou cinematique auto-compensateur
BR7703896A (pt) * 1976-06-23 1978-04-04 Tesa Sa Aperfeicoamento em cabeca micrometrica para instrumento de medida de interiores
DE2920161C2 (de) * 1978-05-30 1982-12-23 Asahi Seimitsu K.K., Tokyo Vorrichtung für die Winkeleinstellung der Lineale bei einem Zeichenkopf
JPS6145441Y2 (ja) * 1978-06-24 1986-12-20
US4561185A (en) * 1983-03-31 1985-12-31 Mitutoyo Mfg. Co., Ltd. Measuring instrument
JPH02167425A (ja) * 1988-12-21 1990-06-27 Mutoh Ind Ltd 磁気式エンコーダ
CH685214A5 (fr) * 1991-10-15 1995-04-28 Hans Ulrich Meyer Capteur capacitif de position.
JPH06194102A (ja) * 1992-12-24 1994-07-15 Mitsutoyo Corp マイクロメータ
JP2965444B2 (ja) * 1993-10-01 1999-10-18 株式会社ミツトヨ 定圧型測定機
JP3623038B2 (ja) * 1996-02-26 2005-02-23 株式会社ミツトヨ マイクロメータ

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005003441A (ja) * 2003-06-10 2005-01-06 Mitsutoyo Corp デジタル式変位測定器
JP4516288B2 (ja) * 2003-06-10 2010-08-04 株式会社ミツトヨ デジタル式変位測定器
JP2005227285A (ja) * 2004-02-11 2005-08-25 Carl Mahl Holding Gmbh 間隔測定のための精密測定機器
JP2008180621A (ja) * 2007-01-25 2008-08-07 Mitsutoyo Corp デジタル式変位測定器

Also Published As

Publication number Publication date
HK1026019A1 (en) 2000-12-01
CN1249421A (zh) 2000-04-05
US6247244B1 (en) 2001-06-19
DE69818241D1 (de) 2003-10-23
CN1175245C (zh) 2004-11-10
JP3116307B2 (ja) 2000-12-11
EP0973007A1 (fr) 2000-01-19
EP0973007B1 (fr) 2003-09-17
DE69818241T2 (de) 2004-07-15

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