JP2000069369A - エネルギーサブトラクション画像形成装置 - Google Patents
エネルギーサブトラクション画像形成装置Info
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ワンショット法のエネルギーサブトラクショ
ンにおいて、エネルギー弁別性能を向上させる。 【解決手段】 放射線粒子のエネルギーに応じた信号を
生成するセンサ31を使用してＸ線を検出する。センサ31
の出力電圧パルスS0を比較器42ａ，42ｂで低エネルギー
レベルおよび高エネルギーレベルに分離する。比較器42
ａ，42ｂの出力パルスPL，PHをカウンタ43ａ，43ｂでカ
ウントすることにより、単位時間内にセンサ31に入射し
た低エネルギーレベルおよび高エネルギーレベルの放射
線粒子の数を夫々計数する。信号処理手段44が、計数し
た各エネルギーレベル毎の放射線粒子量CL，CHに基づい
て、低エネルギー画像データDLと高エネルギー画像デー
タDHを生成する。サブトラクション処理手段３が、両画
像データDL，DHに基づいてサブトラクション処理を行
う。
ンにおいて、エネルギー弁別性能を向上させる。 【解決手段】 放射線粒子のエネルギーに応じた信号を
生成するセンサ31を使用してＸ線を検出する。センサ31
の出力電圧パルスS0を比較器42ａ，42ｂで低エネルギー
レベルおよび高エネルギーレベルに分離する。比較器42
ａ，42ｂの出力パルスPL，PHをカウンタ43ａ，43ｂでカ
ウントすることにより、単位時間内にセンサ31に入射し
た低エネルギーレベルおよび高エネルギーレベルの放射
線粒子の数を夫々計数する。信号処理手段44が、計数し
た各エネルギーレベル毎の放射線粒子量CL，CHに基づい
て、低エネルギー画像データDLと高エネルギー画像デー
タDHを生成する。サブトラクション処理手段３が、両画
像データDL，DHに基づいてサブトラクション処理を行
う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、放射線画像のエネ
ルギーサブトラクション画像形成装置に関し、より詳細
には１回の放射線照射により観察性能の優れた画像を得
るエネルギーサブトラクション画像形成装置に関するも
のである。
ルギーサブトラクション画像形成装置に関し、より詳細
には１回の放射線照射により観察性能の優れた画像を得
るエネルギーサブトラクション画像形成装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】放射線画像情報が蓄積記録された蓄積性
蛍光記録媒体（例えば、蓄積性蛍光体シートなど。以
下、単に「記録媒体」と称す。）にレーザ光等の励起光
を照射し、この記録媒体に蓄積記録された前記放射線画
像情報に応じて輝尽発光する輝尽発光光を検出してこの
放射線画像情報を読み取る放射線画像情報読取装置が知
られている（特開昭62-18536号等）。
蛍光記録媒体（例えば、蓄積性蛍光体シートなど。以
下、単に「記録媒体」と称す。）にレーザ光等の励起光
を照射し、この記録媒体に蓄積記録された前記放射線画
像情報に応じて輝尽発光する輝尽発光光を検出してこの
放射線画像情報を読み取る放射線画像情報読取装置が知
られている（特開昭62-18536号等）。
【０００３】また、このような放射線画像情報読取装置
において、記録された複数の放射線画像情報を読み取っ
て複数の画像データを得た後、これら複数の画像データ
に基づいてサブトラクション処理を施す装置も提案され
ている。
において、記録された複数の放射線画像情報を読み取っ
て複数の画像データを得た後、これら複数の画像データ
に基づいてサブトラクション処理を施す装置も提案され
ている。
【０００４】ここで、放射線画像情報のサブトラクショ
ン処理とは、互いに異なった条件で撮影された複数の放
射線画像情報を両画像の各画素を対応させて減算処理
し、放射線画像情報中の特定の構造物の画像を形成する
ための差信号に対応する画像を得る処理をいい、具体的
にはこれら複数の放射線画像情報を所定のサンプリング
間隔で読み取って各放射線画像情報に対応する複数のデ
ィジタルの画像信号を得、これら複数のディジタルの画
像信号の各対応するサンプリング点毎に減算処理を施す
ことにより、放射線画像情報中の特定の被写体部分のみ
を強調または抽出した放射線画像情報を得る処理をい
う。
ン処理とは、互いに異なった条件で撮影された複数の放
射線画像情報を両画像の各画素を対応させて減算処理
し、放射線画像情報中の特定の構造物の画像を形成する
ための差信号に対応する画像を得る処理をいい、具体的
にはこれら複数の放射線画像情報を所定のサンプリング
間隔で読み取って各放射線画像情報に対応する複数のデ
ィジタルの画像信号を得、これら複数のディジタルの画
像信号の各対応するサンプリング点毎に減算処理を施す
ことにより、放射線画像情報中の特定の被写体部分のみ
を強調または抽出した放射線画像情報を得る処理をい
う。
【０００５】このサブトラクション処理には基本的には
次の二つの方法がある。すなわち、造影剤の注入により
被写体の特定の部分（たとえば人体を被写体としたとき
の血管等）が強調された放射線画像情報の画像信号から
造影剤が注入されていない放射線画像情報の画像信号を
引き算（サブトラクト）することによって被写体の特定
の部分（たとえば血管等）を抽出するいわゆる時間サブ
トラクション処理と、被写体の特定の部分が互いに異な
るエネルギーを有する放射線に対して異なる放射線吸収
率を有することを利用して、同一の被写体に対して互い
に異なるエネルギーを有する放射線を照射してこれら互
いに異なるエネルギーを有する各放射線による複数の放
射線画像情報を得、これら複数の放射線画像情報を適当
に重み付けしてその差を演算すること（下記式（１）お
よび（２）参照）によって被写体の特定部分を抽出する
いわゆるエネルギーサブトラクション処理とがある（こ
のエネルギーサブトラクション処理により得られた画像
（あるいは画像情報）を「エネルギーサブトラクション
画像（あるいは画像情報）」と称す。）。本出願人は、
蓄積性蛍光体シートを用いた放射線画像のエネルギーサ
ブトラクション処理について提案している（特開昭60-2
25541 号，特開平3-285475号参照）。
次の二つの方法がある。すなわち、造影剤の注入により
被写体の特定の部分（たとえば人体を被写体としたとき
の血管等）が強調された放射線画像情報の画像信号から
造影剤が注入されていない放射線画像情報の画像信号を
引き算（サブトラクト）することによって被写体の特定
の部分（たとえば血管等）を抽出するいわゆる時間サブ
トラクション処理と、被写体の特定の部分が互いに異な
るエネルギーを有する放射線に対して異なる放射線吸収
率を有することを利用して、同一の被写体に対して互い
に異なるエネルギーを有する放射線を照射してこれら互
いに異なるエネルギーを有する各放射線による複数の放
射線画像情報を得、これら複数の放射線画像情報を適当
に重み付けしてその差を演算すること（下記式（１）お
よび（２）参照）によって被写体の特定部分を抽出する
いわゆるエネルギーサブトラクション処理とがある（こ
のエネルギーサブトラクション処理により得られた画像
（あるいは画像情報）を「エネルギーサブトラクション
画像（あるいは画像情報）」と称す。）。本出願人は、
蓄積性蛍光体シートを用いた放射線画像のエネルギーサ
ブトラクション処理について提案している（特開昭60-2
25541 号，特開平3-285475号参照）。
【０００６】 Ｓ＝Ｋａ・Ｈ−Ｋｂ・Ｌ＋Ｋｃ ・・・・・ （１） ただし、Ｓはサブトラクション処理により得られるエネ
ルギーサブトラクション画像情報、Ｋａ、Ｋｂは重み付
け係数、Ｋｃはバイアス成分（以下、Ｋａ、Ｋｂ、Ｋｃ
をまとめてサブトラクション処理のパラメータとい
う）、ＨおよびＬはサブトラクション処理すべき放射線
画像情報であって、Ｈは比較的高いエネルギーレベルの
成分（いわゆる高圧側）の放射線画像情報、Ｌは比較的
低いエネルギーレベルの成分（いわゆる低圧側）の放射
線画像情報をそれぞれ意味する。
ルギーサブトラクション画像情報、Ｋａ、Ｋｂは重み付
け係数、Ｋｃはバイアス成分（以下、Ｋａ、Ｋｂ、Ｋｃ
をまとめてサブトラクション処理のパラメータとい
う）、ＨおよびＬはサブトラクション処理すべき放射線
画像情報であって、Ｈは比較的高いエネルギーレベルの
成分（いわゆる高圧側）の放射線画像情報、Ｌは比較的
低いエネルギーレベルの成分（いわゆる低圧側）の放射
線画像情報をそれぞれ意味する。
【０００７】なお、バイアス成分Ｋｃをゼロとして下記
式（２）のように表す場合もある。
式（２）のように表す場合もある。
【０００８】 Ｓ＝Ｋａ・Ｈ−Ｋｂ・Ｌ ・・・・・ （２）
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ここで、特開昭60-225
541 号および特開平3-285475号において提案されている
エネルギーサブトラクション処理は、いわゆるツーショ
ット（２ショット）法といわれるものであり、被写体に
対して低いエネルギーのＸ線等の放射線を照射して低圧
側の放射線画像情報を記録媒体に記録し、次いで同一の
被写体に対して高いエネルギーの放射線を照射して高圧
側の放射線画像情報を記録媒体に記録し、放射線画像情
報読取装置でこれら低圧側の放射線画像情報が記録され
た記録媒体と高圧側の放射線画像情報が記録された記録
媒体とから夫々各別に放射線画像情報を読み取って、上
述の式（１）または（２）のような演算処理を施すもの
であって、エネルギー分離性に優れたエネルギーサブト
ラクション処理を施すことが可能である。しかしなが
ら、このツーショット法によるエネルギーサブトラクシ
ョン処理は、両画像情報の記録に時間差を生じるため、
２つの画像情報間での被写体の動きがエネルギーサブト
ラクション画像にボケあるいはアーチファクトを生じさ
せ、高精度のエネルギーサブトラクション処理が行えな
いという問題を有する。
541 号および特開平3-285475号において提案されている
エネルギーサブトラクション処理は、いわゆるツーショ
ット（２ショット）法といわれるものであり、被写体に
対して低いエネルギーのＸ線等の放射線を照射して低圧
側の放射線画像情報を記録媒体に記録し、次いで同一の
被写体に対して高いエネルギーの放射線を照射して高圧
側の放射線画像情報を記録媒体に記録し、放射線画像情
報読取装置でこれら低圧側の放射線画像情報が記録され
た記録媒体と高圧側の放射線画像情報が記録された記録
媒体とから夫々各別に放射線画像情報を読み取って、上
述の式（１）または（２）のような演算処理を施すもの
であって、エネルギー分離性に優れたエネルギーサブト
ラクション処理を施すことが可能である。しかしなが
ら、このツーショット法によるエネルギーサブトラクシ
ョン処理は、両画像情報の記録に時間差を生じるため、
２つの画像情報間での被写体の動きがエネルギーサブト
ラクション画像にボケあるいはアーチファクトを生じさ
せ、高精度のエネルギーサブトラクション処理が行えな
いという問題を有する。
【００１０】一方、特開昭59-83147号および特開平5-14
2713号において提案されている積層体を用いた方法は、
１回の放射線照射（ワンショット、１ショット）により
エネルギーレベルの異なる放射線画像情報を撮影してエ
ネルギーサブトラクション処理を施すことが可能で、被
写体の動きが問題とならない方法である。しかしなが
ら、このワンショット法によるエネルギーサブトラクシ
ョン処理は、積層体の放射線吸収領域が完全に分離され
ているわけではなく、さらに一般に放射線のエネルギー
はある程度幅を持つので、低圧側の放射線画像情報と高
圧側の放射線画像情報とを完全に分離することができな
い、即ちエネルギー分離性が十分でないという問題を有
する。
2713号において提案されている積層体を用いた方法は、
１回の放射線照射（ワンショット、１ショット）により
エネルギーレベルの異なる放射線画像情報を撮影してエ
ネルギーサブトラクション処理を施すことが可能で、被
写体の動きが問題とならない方法である。しかしなが
ら、このワンショット法によるエネルギーサブトラクシ
ョン処理は、積層体の放射線吸収領域が完全に分離され
ているわけではなく、さらに一般に放射線のエネルギー
はある程度幅を持つので、低圧側の放射線画像情報と高
圧側の放射線画像情報とを完全に分離することができな
い、即ちエネルギー分離性が十分でないという問題を有
する。
【００１１】このように、従来より提案されている方法
によるエネルギーサブトラクション処理では、ボケある
いはアーチファクトを生じさせず、且つエネルギー分離
性に優れる、ということを共に満足させたエネルギーサ
ブトラクション処理を行うことは困難であった。
によるエネルギーサブトラクション処理では、ボケある
いはアーチファクトを生じさせず、且つエネルギー分離
性に優れる、ということを共に満足させたエネルギーサ
ブトラクション処理を行うことは困難であった。
【００１２】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、ボケあるいはアーチファクトを生じさせないワン
ショット法を採用しつつ、エネルギー分離性の優れたエ
ネルギーサブトラクション画像を形成生成するエネルギ
ーサブトラクション画像形成装置を提供することを目的
とするものである。
あり、ボケあるいはアーチファクトを生じさせないワン
ショット法を採用しつつ、エネルギー分離性の優れたエ
ネルギーサブトラクション画像を形成生成するエネルギ
ーサブトラクション画像形成装置を提供することを目的
とするものである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明によるエネルギー
サブトラクション画像形成装置は、放射線粒子のエネル
ギーに応じた信号を生成するセンサと、単位時間内にセ
ンサに入射した相異なる複数のエネルギーレベルの放射
線粒子の数を画素毎に計数し、該計数した各エネルギー
レベル毎の放射線粒子量に基づいて相異なるエネルギー
成分の放射線画像信号を生成する画像信号生成手段と、
生成された相異なるエネルギー成分の放射線画像信号間
でエネルギーサブトラクション処理を行うエネルギーサ
ブトラクション処理手段とを備えたことを特徴とするも
のである。
サブトラクション画像形成装置は、放射線粒子のエネル
ギーに応じた信号を生成するセンサと、単位時間内にセ
ンサに入射した相異なる複数のエネルギーレベルの放射
線粒子の数を画素毎に計数し、該計数した各エネルギー
レベル毎の放射線粒子量に基づいて相異なるエネルギー
成分の放射線画像信号を生成する画像信号生成手段と、
生成された相異なるエネルギー成分の放射線画像信号間
でエネルギーサブトラクション処理を行うエネルギーサ
ブトラクション処理手段とを備えたことを特徴とするも
のである。
【００１４】この画像形成装置の画像信号生成手段は、
複数のエネルギーレベルを、ノイズレベル、該ノイズレ
ベルより高く且つ比較的低いエネルギーレベル、および
ノイズレベルより高く且つ比較的高いエネルギーレベル
として前記計数を行い、比較的低いエネルギー成分の放
射線画像信号および比較的高いエネルギー成分の放射線
画像信号を生成するものであって、エネルギーサブトラ
クション処理手段が、比較的低いエネルギー成分の放射
線画像信号と比較的高いエネルギー成分の放射線画像信
号との間でエネルギーサブトラクション処理を行うもの
であることが望ましい。
複数のエネルギーレベルを、ノイズレベル、該ノイズレ
ベルより高く且つ比較的低いエネルギーレベル、および
ノイズレベルより高く且つ比較的高いエネルギーレベル
として前記計数を行い、比較的低いエネルギー成分の放
射線画像信号および比較的高いエネルギー成分の放射線
画像信号を生成するものであって、エネルギーサブトラ
クション処理手段が、比較的低いエネルギー成分の放射
線画像信号と比較的高いエネルギー成分の放射線画像信
号との間でエネルギーサブトラクション処理を行うもの
であることが望ましい。
【００１５】この場合、画像信号生成手段は、被写体の
主成分のＫ吸収端に対応するエネルギー近傍のエネルギ
ーを比較的低いエネルギーレベルと比較的高いエネルギ
ーレベルの境界値として計数を行うものであることが望
ましい。
主成分のＫ吸収端に対応するエネルギー近傍のエネルギ
ーを比較的低いエネルギーレベルと比較的高いエネルギ
ーレベルの境界値として計数を行うものであることが望
ましい。
【００１６】また、この画像形成装置の画像信号生成手
段は、複数のエネルギーレベルを、ノイズレベル、該ノ
イズレベルより高く且つ比較的低いエネルギーレベル、
ノイズレベルより高く且つ比較的高いエネルギーレベ
ル、およびノイズレベルより高く且つ中程度のエネルギ
ーレベルとして前記計数を行い、比較的低いエネルギー
成分の放射線画像信号および比較的高いエネルギー成分
の放射線画像信号を生成するものであって、エネルギー
サブトラクション処理手段が、比較的低いエネルギー成
分の放射線画像信号と比較的高いエネルギー成分の放射
線画像信号との間でエネルギーサブトラクション処理を
行うものであることが望ましい。
段は、複数のエネルギーレベルを、ノイズレベル、該ノ
イズレベルより高く且つ比較的低いエネルギーレベル、
ノイズレベルより高く且つ比較的高いエネルギーレベ
ル、およびノイズレベルより高く且つ中程度のエネルギ
ーレベルとして前記計数を行い、比較的低いエネルギー
成分の放射線画像信号および比較的高いエネルギー成分
の放射線画像信号を生成するものであって、エネルギー
サブトラクション処理手段が、比較的低いエネルギー成
分の放射線画像信号と比較的高いエネルギー成分の放射
線画像信号との間でエネルギーサブトラクション処理を
行うものであることが望ましい。
【００１７】この場合、画像信号生成手段は、被写体の
主成分のＫ吸収端に対応するエネルギー近傍部分を含む
領域を中程度のエネルギーレベルとし、その前後を夫々
比較的低いエネルギーレベルおよび比較的高いエネルギ
ーレベルとして前記計数を行うものであることが望まし
い。
主成分のＫ吸収端に対応するエネルギー近傍部分を含む
領域を中程度のエネルギーレベルとし、その前後を夫々
比較的低いエネルギーレベルおよび比較的高いエネルギ
ーレベルとして前記計数を行うものであることが望まし
い。
【００１８】上記において「被写体の主成分」とは、エ
ネルギーサブトラクション処理により分離したい被写体
の主要部分であって、例えば、ヨウ素Ｉあるいはバリウ
ムBa等の造影剤を被写体内に注入する場合においては、
該造影剤が沈着している主要な被写体の部分である。
ネルギーサブトラクション処理により分離したい被写体
の主要部分であって、例えば、ヨウ素Ｉあるいはバリウ
ムBa等の造影剤を被写体内に注入する場合においては、
該造影剤が沈着している主要な被写体の部分である。
【００１９】
【発明の効果】本発明によるエネルギーサブトラクショ
ン画像形成装置によれば、放射線粒子のエネルギーに応
じた信号を生成するセンサを使用してＸ線を検出し、単
位時間内に該センサに入射した相異なる複数のエネルギ
ーレベルの放射線粒子の数を画素毎に計数し、該計数し
た各エネルギーレベル毎の放射線粒子量に基づいて相異
なるエネルギー成分の放射線画像信号を生成するように
したので、エネルギー分離性が良好な各エネルギーレベ
ルの画像信号を得ることができ、これによりエネルギー
サブトラクション処理後のサブトラクション画像は、ボ
ケあるいはアーチファクトを生じず、且つエネルギー分
離性に優れた画像として得ることができる。
ン画像形成装置によれば、放射線粒子のエネルギーに応
じた信号を生成するセンサを使用してＸ線を検出し、単
位時間内に該センサに入射した相異なる複数のエネルギ
ーレベルの放射線粒子の数を画素毎に計数し、該計数し
た各エネルギーレベル毎の放射線粒子量に基づいて相異
なるエネルギー成分の放射線画像信号を生成するように
したので、エネルギー分離性が良好な各エネルギーレベ
ルの画像信号を得ることができ、これによりエネルギー
サブトラクション処理後のサブトラクション画像は、ボ
ケあるいはアーチファクトを生じず、且つエネルギー分
離性に優れた画像として得ることができる。
【００２０】また、前記放射線粒子数の計数は、いわゆ
るワンショット法に相当するので、２画像間での被写体
の動きによりボケが生じるということもない。
るワンショット法に相当するので、２画像間での被写体
の動きによりボケが生じるということもない。
【００２１】また、被写体の主成分のＫ吸収端に対応す
るエネルギー近傍部分を高低の各エネルギーレベルの境
界或いは中エネルギーレベルとしてエネルギー弁別を行
って各エネルギー成分の画像信号を生成するようにすれ
ば、造影剤を被写体に注入してその造影剤が沈着した部
分をサブトラクション処理により抽出することによりエ
ネルギー弁別性能の優れた画像を得ることができる。
るエネルギー近傍部分を高低の各エネルギーレベルの境
界或いは中エネルギーレベルとしてエネルギー弁別を行
って各エネルギー成分の画像信号を生成するようにすれ
ば、造影剤を被写体に注入してその造影剤が沈着した部
分をサブトラクション処理により抽出することによりエ
ネルギー弁別性能の優れた画像を得ることができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明によ
るエネルギーサブトラクション画像形成装置の実施の形
態について詳細に説明する。図１は本発明の実施の形態
による画像形成装置の概略構成図である。
るエネルギーサブトラクション画像形成装置の実施の形
態について詳細に説明する。図１は本発明の実施の形態
による画像形成装置の概略構成図である。
【００２３】図１に示すように、この画像形成装置１
は、放射線画像読取部２とエネルギーサブトラクション
処理手段３とから成る。サブトラクション処理手段３に
はＣＲＴ表示装置４が接続されており、該ＣＲＴ表示装
置４上にサブトラクション画像が表示される。
は、放射線画像読取部２とエネルギーサブトラクション
処理手段３とから成る。サブトラクション処理手段３に
はＣＲＴ表示装置４が接続されており、該ＣＲＴ表示装
置４上にサブトラクション画像が表示される。
【００２４】放射線画像読取部２は、Ｘ線L1を被写体５
に照射するＸ線照射手段20、被写体５を透過したＸ線粒
子（放射線粒子）を検出するセンサ31がライン状に形成
されたセンサユニット30、単位時間内にセンサ31に入射
した相異なる複数のエネルギーレベルのＸ線粒子の数を
画素毎に計数し、該計数した各エネルギーレベル毎の放
射線粒子量に基づいて相異なるエネルギー成分の放射線
画像信号を生成する画像信号生成手段40とからなる。Ｘ
線照射手段20から発せられるＸ線L1のエネルギーはある
程度幅を持つものであってかまわない。
に照射するＸ線照射手段20、被写体５を透過したＸ線粒
子（放射線粒子）を検出するセンサ31がライン状に形成
されたセンサユニット30、単位時間内にセンサ31に入射
した相異なる複数のエネルギーレベルのＸ線粒子の数を
画素毎に計数し、該計数した各エネルギーレベル毎の放
射線粒子量に基づいて相異なるエネルギー成分の放射線
画像信号を生成する画像信号生成手段40とからなる。Ｘ
線照射手段20から発せられるＸ線L1のエネルギーはある
程度幅を持つものであってかまわない。
【００２５】図２は、放射線画像を読み取る際の走査方
法を示した図である。この図２に示すように、放射線画
像読取部２は、走査型の読取装置の構成となっている。
すなわち、センサユニット30がセンサ駆動ユニット32
（図１）によりセンサユニット30と略直行する副走査方
向Ｙに移動する。また、このセンサユニット30の移動に
同期して、駆動ユニット22が、センサ31の検出結晶31ａ
を見込むファンビーム状の範囲にのみ一定強度のＸ線L1
を照射するようにＸ線照射手段20のアーム23先端部に配
設されたスリット24の位置およびＸ線管21の角度を移動
する。
法を示した図である。この図２に示すように、放射線画
像読取部２は、走査型の読取装置の構成となっている。
すなわち、センサユニット30がセンサ駆動ユニット32
（図１）によりセンサユニット30と略直行する副走査方
向Ｙに移動する。また、このセンサユニット30の移動に
同期して、駆動ユニット22が、センサ31の検出結晶31ａ
を見込むファンビーム状の範囲にのみ一定強度のＸ線L1
を照射するようにＸ線照射手段20のアーム23先端部に配
設されたスリット24の位置およびＸ線管21の角度を移動
する。
【００２６】センサユニット30を構成する多数のセンサ
31が画素に対応しており、主走査は、ライン状に配設さ
れた多数のセンサ31により順次読み取られることにより
行われる。
31が画素に対応しており、主走査は、ライン状に配設さ
れた多数のセンサ31により順次読み取られることにより
行われる。
【００２７】なお、本発明による画像形成装置において
は、上述のようなライン状のセンサに限らず、２次元状
のエリアセンサを使用してもよいのは勿論である。
は、上述のようなライン状のセンサに限らず、２次元状
のエリアセンサを使用してもよいのは勿論である。
【００２８】スリット24は、従来のフィルムスクリーン
法で用いられているグリットと同様に散乱線を低減する
効果があり、被爆線量を従来よりも低減するとともに、
かぶりの少ない画像が得られるように設けられたもので
ある。
法で用いられているグリットと同様に散乱線を低減する
効果があり、被爆線量を従来よりも低減するとともに、
かぶりの少ない画像が得られるように設けられたもので
ある。
【００２９】図３は、画像形成装置１の回路構成の詳細
を示すブロック図である。なお、この図３は、センサユ
ニット30を構成するライン状に配設されたセンサ31の１
つについて示したものである。センサ31は入射したＸ線
粒子のエネルギーに応じた電荷量を生成する検出結晶31
ａと、生成された電荷に応じた電圧に変換するアンプ31
ｂとからなる。検出結晶31ａとしては、CdTe（カドニウ
ム・テルライド）結晶を用いた半導体検出器を使用する
のが望ましい。センサ31の出力信号S0は画像信号生成手
段40に入力される。なお、図２には示していないが、各
センサ32の出力は切替スイッチに入力され、該スイッチ
により主走査に応じて順次切り替えられて画像信号生成
手段40に入力されるようになっている。
を示すブロック図である。なお、この図３は、センサユ
ニット30を構成するライン状に配設されたセンサ31の１
つについて示したものである。センサ31は入射したＸ線
粒子のエネルギーに応じた電荷量を生成する検出結晶31
ａと、生成された電荷に応じた電圧に変換するアンプ31
ｂとからなる。検出結晶31ａとしては、CdTe（カドニウ
ム・テルライド）結晶を用いた半導体検出器を使用する
のが望ましい。センサ31の出力信号S0は画像信号生成手
段40に入力される。なお、図２には示していないが、各
センサ32の出力は切替スイッチに入力され、該スイッチ
により主走査に応じて順次切り替えられて画像信号生成
手段40に入力されるようになっている。
【００３０】画像信号生成手段40は、夫々が相異なる複
数のエネルギーレベルを仕訳しうる各基準電圧ＶREF1，
ＶREF2を出力する基準電圧出力手段41、この各基準電圧
ＶREF1，ＶREF2を閾値としてセンサ31の出力信号S0を比
較する２つの比較器42ａ，42ｂ、単位時間内にセンサ31
に入射した前記基準電圧ＶREF1，ＶREF2に対応する各エ
ネルギーレベル以上のエネルギーをもつＸ線粒子の数を
計数するカウンタ43ａ，43ｂ、およびこの各カウンタ43
ａ，43ｂによる計数値すなわちＸ線粒子量に基づいて相
異なるエネルギー成分の放射線画像信号を生成する信号
処理手段44からなる。ここで、本例における「相異なる
複数のエネルギーレベル」は、ノイズレベル、該ノイズ
レベルより高く且つ比較的低いエネルギーレベル、およ
びノイズレベルより高く且つ比較的高いエネルギーレベ
ルであり、また、「相異なるエネルギー成分の放射線画
像信号」は、比較的低いエネルギー成分（低エネルギー
成分）の放射線画像信号（低エネルギー画像データ）DL
および比較的高いエネルギー成分（高エネルギー成分）
の放射線画像信号（高エネルギー画像データ）DHであ
る。
数のエネルギーレベルを仕訳しうる各基準電圧ＶREF1，
ＶREF2を出力する基準電圧出力手段41、この各基準電圧
ＶREF1，ＶREF2を閾値としてセンサ31の出力信号S0を比
較する２つの比較器42ａ，42ｂ、単位時間内にセンサ31
に入射した前記基準電圧ＶREF1，ＶREF2に対応する各エ
ネルギーレベル以上のエネルギーをもつＸ線粒子の数を
計数するカウンタ43ａ，43ｂ、およびこの各カウンタ43
ａ，43ｂによる計数値すなわちＸ線粒子量に基づいて相
異なるエネルギー成分の放射線画像信号を生成する信号
処理手段44からなる。ここで、本例における「相異なる
複数のエネルギーレベル」は、ノイズレベル、該ノイズ
レベルより高く且つ比較的低いエネルギーレベル、およ
びノイズレベルより高く且つ比較的高いエネルギーレベ
ルであり、また、「相異なるエネルギー成分の放射線画
像信号」は、比較的低いエネルギー成分（低エネルギー
成分）の放射線画像信号（低エネルギー画像データ）DL
および比較的高いエネルギー成分（高エネルギー成分）
の放射線画像信号（高エネルギー画像データ）DHであ
る。
【００３１】サブトラクション処理手段４は、この低エ
ネルギー画像データDLと高エネルギー画像データDHとの
間でエネルギーサブトラクション処理を行う。基準電圧
出力手段41は、キーボード45と接続されており、各基準
電圧ＶREF1，ＶREF2は、キーボード45からのデータ入力
により変更できるようになっている。
ネルギー画像データDLと高エネルギー画像データDHとの
間でエネルギーサブトラクション処理を行う。基準電圧
出力手段41は、キーボード45と接続されており、各基準
電圧ＶREF1，ＶREF2は、キーボード45からのデータ入力
により変更できるようになっている。
【００３２】以下、上記構成の画像形成装置１の作用に
ついて説明する。
ついて説明する。
【００３３】Ｘ線管21からＸ線L1を被写体５に照射しな
がら、副走査方向Ｙにセンサユニット30，Ｘ線管21およ
びスリット24を移動させる。
がら、副走査方向Ｙにセンサユニット30，Ｘ線管21およ
びスリット24を移動させる。
【００３４】センサユニット30の各センサ31に、被写体
５を透過したＸ線粒子が入射する。１個のＸ線粒子が検
出結晶31ａに入射すると、該検出結晶31ａがＸ線粒子の
エネルギーに応じた電荷量を生成する。生成された電荷
は、アンプ31ｂでエネルギーに応じた波高を持つ１つの
電圧パルス信号S0に変換され、該パルス信号S0が画像信
号生成手段40の各比較器42ａ，42ｂに入力される。
５を透過したＸ線粒子が入射する。１個のＸ線粒子が検
出結晶31ａに入射すると、該検出結晶31ａがＸ線粒子の
エネルギーに応じた電荷量を生成する。生成された電荷
は、アンプ31ｂでエネルギーに応じた波高を持つ１つの
電圧パルス信号S0に変換され、該パルス信号S0が画像信
号生成手段40の各比較器42ａ，42ｂに入力される。
【００３５】画像信号生成手段40の基準電圧出力手段41
から、図４に示すように、ノイズレベルENと低エネルギ
ーレベルELの境界ENL に対応する基準電圧ＶREF1，低エ
ネルギーレベルELと高エネルギーレベルEHの境界ELH に
対応する基準電圧ＶREF2が出力されており、基準電圧Ｖ
REF1は比較器42ａに，基準電圧ＶREF2は比較器42ｂに夫
々入力されている。
から、図４に示すように、ノイズレベルENと低エネルギ
ーレベルELの境界ENL に対応する基準電圧ＶREF1，低エ
ネルギーレベルELと高エネルギーレベルEHの境界ELH に
対応する基準電圧ＶREF2が出力されており、基準電圧Ｖ
REF1は比較器42ａに，基準電圧ＶREF2は比較器42ｂに夫
々入力されている。
【００３６】各比較器42ａ，42ｂに入力された電圧パル
ス信号S0は、各基準電圧を閾値として電圧比較される。
各基準電圧よりも信号S0が大きいときのみ各比較器から
パルスPL，PHを出力する。したがって、信号S0が図４の
ａで示すような電圧レベルのものであれば全比較器42
ａ，42ｂが夫々パルス信号PL，PHを出力し、ｂで示すよ
うな電圧レベルのものであれば比較器42ｂがパルス信号
PHを出力し、ｃで示すような電圧レベルのものであれば
何れの比較器もパルス信号を出力しない。これにより単
位時間内にセンサ31に入射したＸ線粒子が、各レベルEN
L ，ELH を閾値としてエネルギー弁別される。なお、こ
のようにパルス信号についての波高値を異なるレベルで
夫々検出する計測器として、マルチチャネル波高分析器
（ＭＰＨＡ：Multichannel Pulse-Hight Analyzer）が
知られており、本発明においては、基準電圧出力手段4
1，各比較器42ａ，42ｂおよびキーボート45をこのマル
チチャネルアナライザに置き換えて使用することができ
る。
ス信号S0は、各基準電圧を閾値として電圧比較される。
各基準電圧よりも信号S0が大きいときのみ各比較器から
パルスPL，PHを出力する。したがって、信号S0が図４の
ａで示すような電圧レベルのものであれば全比較器42
ａ，42ｂが夫々パルス信号PL，PHを出力し、ｂで示すよ
うな電圧レベルのものであれば比較器42ｂがパルス信号
PHを出力し、ｃで示すような電圧レベルのものであれば
何れの比較器もパルス信号を出力しない。これにより単
位時間内にセンサ31に入射したＸ線粒子が、各レベルEN
L ，ELH を閾値としてエネルギー弁別される。なお、こ
のようにパルス信号についての波高値を異なるレベルで
夫々検出する計測器として、マルチチャネル波高分析器
（ＭＰＨＡ：Multichannel Pulse-Hight Analyzer）が
知られており、本発明においては、基準電圧出力手段4
1，各比較器42ａ，42ｂおよびキーボート45をこのマル
チチャネルアナライザに置き換えて使用することができ
る。
【００３７】各比較器の出力パルス信号PL，PHは、夫々
カウンタ43ａ，43ｂに入力される。各カウンタ43ａ，43
ｂは、夫々パルス信号PL，PHを一定時間計数する。これ
により、単位時間内にセンサ31に入射した各エネルギー
レベルのＸ線粒子数がカウントされる。したがって、本
発明による画像形成装置１によれば、ある一定時間（単
位時間）に入射した一定レベル以上のエネルギーをもつ
Ｘ線粒子を１つずつ計数し、その値を各画素の値として
いるので、当然、被写体５のＸ線吸収率が大きいほど、
この計数値は小さくなり、逆に被写体５のＸ線吸収率が
小さいほど、大きな値が各カウンタから出力されること
となる。これを主走査方向については画素に対応する各
センサ31の出力信号S0毎に行い、また副走査方向につい
てはセンサユニット30等を移動させながら行うことによ
り、夫々のエネルギーレベル以上の成分からなる画像信
号CL，CHが得られる。
カウンタ43ａ，43ｂに入力される。各カウンタ43ａ，43
ｂは、夫々パルス信号PL，PHを一定時間計数する。これ
により、単位時間内にセンサ31に入射した各エネルギー
レベルのＸ線粒子数がカウントされる。したがって、本
発明による画像形成装置１によれば、ある一定時間（単
位時間）に入射した一定レベル以上のエネルギーをもつ
Ｘ線粒子を１つずつ計数し、その値を各画素の値として
いるので、当然、被写体５のＸ線吸収率が大きいほど、
この計数値は小さくなり、逆に被写体５のＸ線吸収率が
小さいほど、大きな値が各カウンタから出力されること
となる。これを主走査方向については画素に対応する各
センサ31の出力信号S0毎に行い、また副走査方向につい
てはセンサユニット30等を移動させながら行うことによ
り、夫々のエネルギーレベル以上の成分からなる画像信
号CL，CHが得られる。
【００３８】なお、このように、センサ31によりＸ線粒
子を捕捉しその数を計数することによりＸ線画像を得る
方法の詳細については、”医用電子と生体工学”第32
巻；P311、および”INNERVISION (10・7）”1995 P47-P
48に詳しく述べられている。
子を捕捉しその数を計数することによりＸ線画像を得る
方法の詳細については、”医用電子と生体工学”第32
巻；P311、および”INNERVISION (10・7）”1995 P47-P
48に詳しく述べられている。
【００３９】画像信号CL，CHは、信号処理手段44に入力
され、ここで、下記式にしたがった信号処理が施される
ことにより、低エネルギーレベルELより高く且つ高エネ
ルギーレベルEHより低いエネルギー成分から成る画像信
号である低エネルギー画像データDLおよび高エネルギー
レベルEHより高いエネルギー成分のみから成る画像信号
である高エネルギー画像データDHが得られる。
され、ここで、下記式にしたがった信号処理が施される
ことにより、低エネルギーレベルELより高く且つ高エネ
ルギーレベルEHより低いエネルギー成分から成る画像信
号である低エネルギー画像データDLおよび高エネルギー
レベルEHより高いエネルギー成分のみから成る画像信号
である高エネルギー画像データDHが得られる。
【００４０】DL＝CL−CH DH＝CH 従来のサブトラクション処理においては、先ず入力され
た２つの画像信号がそれぞれ担持する各Ｘ線画像の相対
的な位置合わせが画像信号上で行なわれるのが一般的で
あるが（例えば特開昭58-163338 号参照）、本発明によ
る上記画像読取部２では、各画素毎に両画像データDL、
DHを同時に得ており（ワンショットに相当する）、しか
も対応する各画素位置もずれることがないので、位置合
わせ処理が不要となる。
た２つの画像信号がそれぞれ担持する各Ｘ線画像の相対
的な位置合わせが画像信号上で行なわれるのが一般的で
あるが（例えば特開昭58-163338 号参照）、本発明によ
る上記画像読取部２では、各画素毎に両画像データDL、
DHを同時に得ており（ワンショットに相当する）、しか
も対応する各画素位置もずれることがないので、位置合
わせ処理が不要となる。
【００４１】サブトラクション処理手段３は、入力され
た低エネルギー画像データDLおよび高エネルギー画像デ
ータDHに基づいて、サブトラクション処理を行う。すな
わち、両画像データDL，DHは、互いに軟部および骨部の
濃度は異なるものの両者ともこれら軟部および骨部の双
方の情報を含む信号であるが、両画像データDL，DHの互
いに対応する画素毎に、 D1＝Ａ・DL−Ｂ・DH＋Ｃ （但し、Ａ，Ｂ，Ｃは係数）の演算を行うことにより、
被写体５の軟部組織の陰影が消去されるとともに骨部の
陰影のみが抽出された骨部画像を表す骨部画像データ
（サブトラクション画像信号）D1が求められる。また上
記式の係数Ａ，Ｂ，Ｃを変えることによって、骨部組織
の陰影が消去されるとともに軟部の陰影のみが抽出され
た軟部画像を表す軟部画像データD2を求めることもでき
る。
た低エネルギー画像データDLおよび高エネルギー画像デ
ータDHに基づいて、サブトラクション処理を行う。すな
わち、両画像データDL，DHは、互いに軟部および骨部の
濃度は異なるものの両者ともこれら軟部および骨部の双
方の情報を含む信号であるが、両画像データDL，DHの互
いに対応する画素毎に、 D1＝Ａ・DL−Ｂ・DH＋Ｃ （但し、Ａ，Ｂ，Ｃは係数）の演算を行うことにより、
被写体５の軟部組織の陰影が消去されるとともに骨部の
陰影のみが抽出された骨部画像を表す骨部画像データ
（サブトラクション画像信号）D1が求められる。また上
記式の係数Ａ，Ｂ，Ｃを変えることによって、骨部組織
の陰影が消去されるとともに軟部の陰影のみが抽出され
た軟部画像を表す軟部画像データD2を求めることもでき
る。
【００４２】このようにして求められた軟部画像データ
D1或いは骨部画像データD2はＣＲＴ表示装置４に入力さ
れ、軟部画像データD1に基づく軟部画像或いは骨部画像
データD2に基づく骨部画像がＣＲＴ上に可視画像として
表示される。
D1或いは骨部画像データD2はＣＲＴ表示装置４に入力さ
れ、軟部画像データD1に基づく軟部画像或いは骨部画像
データD2に基づく骨部画像がＣＲＴ上に可視画像として
表示される。
【００４３】また、被写体５にヨウ素Ｉあるいはバリウ
ムBa等の造影剤を注入することにより、サブトラクショ
ン処理により造影剤が沈着した被写体主要部を抽出した
画像を得ることも可能である。
ムBa等の造影剤を注入することにより、サブトラクショ
ン処理により造影剤が沈着した被写体主要部を抽出した
画像を得ることも可能である。
【００４４】この場合、図５に示すように、放射線エネ
ルギーの値を大きくしたときの造影剤のＸ線吸収係数
は、造影剤のＫ吸収端波長に対応するエネルギー近傍で
急激に増加し、該Ｋ吸収端近傍以外では漸次低下すると
いう特性を呈する。したがって、該Ｋ吸収端近傍に対応
するエネルギーが低エネルギー成分と高エネルギー成分
の境界値となるように基準電圧ＶREF2を設定すると、造
影剤が沈着した被写体部と造影剤が沈着していない被写
体部とを分離することができる。例えば、図５中、造影
剤のＫ吸収端波長に対応するエネルギー近傍であるエネ
ルギーレベルELHをその境界値としてエネルギー弁別を
行えば、造影剤を吸収する生体部分に対応するａで示し
たエネルギーレベルと、造影剤を吸収しない生体部分に
対応するｂで示したエネルギーレベルとを峻別すること
ができる。したがって、このように両エネルギーレベル
の境界がＫ吸収端近傍（できるだけその中心が望まし
い）となるようにエネルギー弁別を行えば、サブトラク
ション処理において係数を適当な値に設定することによ
り、造影剤が沈着した被写体部分の画像或いは造影剤が
沈着していない被写体部分の画像を得ることができる。
なお、このＫ吸収端波長に対応するエネルギーは、造影
剤がヨウ素の場合には約３３ＫｅＶであり、バリウムの
場合には約３７ＫｅＶである。
ルギーの値を大きくしたときの造影剤のＸ線吸収係数
は、造影剤のＫ吸収端波長に対応するエネルギー近傍で
急激に増加し、該Ｋ吸収端近傍以外では漸次低下すると
いう特性を呈する。したがって、該Ｋ吸収端近傍に対応
するエネルギーが低エネルギー成分と高エネルギー成分
の境界値となるように基準電圧ＶREF2を設定すると、造
影剤が沈着した被写体部と造影剤が沈着していない被写
体部とを分離することができる。例えば、図５中、造影
剤のＫ吸収端波長に対応するエネルギー近傍であるエネ
ルギーレベルELHをその境界値としてエネルギー弁別を
行えば、造影剤を吸収する生体部分に対応するａで示し
たエネルギーレベルと、造影剤を吸収しない生体部分に
対応するｂで示したエネルギーレベルとを峻別すること
ができる。したがって、このように両エネルギーレベル
の境界がＫ吸収端近傍（できるだけその中心が望まし
い）となるようにエネルギー弁別を行えば、サブトラク
ション処理において係数を適当な値に設定することによ
り、造影剤が沈着した被写体部分の画像或いは造影剤が
沈着していない被写体部分の画像を得ることができる。
なお、このＫ吸収端波長に対応するエネルギーは、造影
剤がヨウ素の場合には約３３ＫｅＶであり、バリウムの
場合には約３７ＫｅＶである。
【００４５】上記説明はノイズレベル成分、低レベル成
分、高レベル成分に分離する場合について説明したが、
更に低レベル成分と高レベル成分との中間となる中レベ
ル成分をも分離するようにすると更にエネルギー弁別性
能が改善される。以下この態様について説明する。
分、高レベル成分に分離する場合について説明したが、
更に低レベル成分と高レベル成分との中間となる中レベ
ル成分をも分離するようにすると更にエネルギー弁別性
能が改善される。以下この態様について説明する。
【００４６】図６は、この態様の画像形成装置７の回路
構成の詳細を示すブロック図である。この装置７は、画
像信号形成手段46が、中レベル成分を抽出するために、
比較器42ｃとその出力パルスPCを計数するカウンタ43ｃ
が更に設けられている点が上記画像信号形成手段40と異
なり、その他の構成は上記装置１と同様である。
構成の詳細を示すブロック図である。この装置７は、画
像信号形成手段46が、中レベル成分を抽出するために、
比較器42ｃとその出力パルスPCを計数するカウンタ43ｃ
が更に設けられている点が上記画像信号形成手段40と異
なり、その他の構成は上記装置１と同様である。
【００４７】画像信号生成手段40の基準電圧出力手段41
からは、図７に示すように、ノイズレベルENと低エネル
ギーレベルELの境界ENL に対応する基準電圧ＶREF1，低
エネルギーレベルELと中エネルギーレベルECの境界ELH
に対応する基準電圧ＶREF3および中エネルギーレベルEC
と高エネルギーレベルEHの境界ECH に対応する基準電圧
ＶREF3が出力されており、基準電圧ＶREF1は比較器42ａ
に，基準電圧ＶREF2は比較器42ｂに，基準電圧ＶREF3は
比較器42ｃに夫々入力されている。
からは、図７に示すように、ノイズレベルENと低エネル
ギーレベルELの境界ENL に対応する基準電圧ＶREF1，低
エネルギーレベルELと中エネルギーレベルECの境界ELH
に対応する基準電圧ＶREF3および中エネルギーレベルEC
と高エネルギーレベルEHの境界ECH に対応する基準電圧
ＶREF3が出力されており、基準電圧ＶREF1は比較器42ａ
に，基準電圧ＶREF2は比較器42ｂに，基準電圧ＶREF3は
比較器42ｃに夫々入力されている。
【００４８】各比較器42ａ，42ｂ，42ｃに入力された電
圧パルス信号S0が図７のａで示すような電圧レベルのも
のであれば全比較器42ａ，42ｂ，42ｃが夫々パルス信号
PL，PH，PCを出力し、ｂで示すような電圧レベルのもの
であれば比較器42ｂ，42ｃがパルス信号PH，PCを出力
し、ｃで示すような電圧レベルのものであれば比較器42
ｂがパルス信号PHを出力し、ｄで示すような電圧レベル
のものであれば何れの比較器もパルス信号を出力しな
い。
圧パルス信号S0が図７のａで示すような電圧レベルのも
のであれば全比較器42ａ，42ｂ，42ｃが夫々パルス信号
PL，PH，PCを出力し、ｂで示すような電圧レベルのもの
であれば比較器42ｂ，42ｃがパルス信号PH，PCを出力
し、ｃで示すような電圧レベルのものであれば比較器42
ｂがパルス信号PHを出力し、ｄで示すような電圧レベル
のものであれば何れの比較器もパルス信号を出力しな
い。
【００４９】各比較器の出力パルス信号PL，PH，PCが入
力された各カウンタ43ａ，43ｂ，43ｃは、夫々該パルス
信号PL，PH，PCを一定時間計数する。これにより、単位
時間内にセンサ31に入射したエネルギーレベルENL 以
上，レベルELC 以上、レベルECH 以上のＸ線粒子数がカ
ウントされ、単位時間に入射した夫々のエネルギーレベ
ル以上の成分からなる画像信号CL，CH，CCが得られる。
力された各カウンタ43ａ，43ｂ，43ｃは、夫々該パルス
信号PL，PH，PCを一定時間計数する。これにより、単位
時間内にセンサ31に入射したエネルギーレベルENL 以
上，レベルELC 以上、レベルECH 以上のＸ線粒子数がカ
ウントされ、単位時間に入射した夫々のエネルギーレベ
ル以上の成分からなる画像信号CL，CH，CCが得られる。
【００５０】各画像信号CL，CH，CCは、信号処理手段44
に入力され、ここで、下記式にしたがった信号処理が施
されることにより、エネルギーレベルがENL より高く且
つELC より低い低エネルギー成分のみから成る低エネル
ギー画像データDL，エネルギーレベルがELC より高く且
つECH より低い中エネルギー成分のみから成る中エネル
ギー画像データDCおよびエネルギーレベルがEHより高い
エネルギー成分のみから成る画像信号である高エネルギ
ー画像データDHが得られる。
に入力され、ここで、下記式にしたがった信号処理が施
されることにより、エネルギーレベルがENL より高く且
つELC より低い低エネルギー成分のみから成る低エネル
ギー画像データDL，エネルギーレベルがELC より高く且
つECH より低い中エネルギー成分のみから成る中エネル
ギー画像データDCおよびエネルギーレベルがEHより高い
エネルギー成分のみから成る画像信号である高エネルギ
ー画像データDHが得られる。
【００５１】DL＝CL−CC DC＝CC−CH DH＝CH このように中エネルギー画像データDCをも抽出するよう
にすれば、低エネルギー画像データDLと高エネルギー画
像データDHとをより明確に弁別することが可能となる。
にすれば、低エネルギー画像データDLと高エネルギー画
像データDHとをより明確に弁別することが可能となる。
【００５２】このようにして弁別された低エネルギー画
像データDLおよび高エネルギー画像データDHが、サブト
ラクション処理手段３（図３）に入力され、上記装置１
と同様にサブトラクション処理が施される。
像データDLおよび高エネルギー画像データDHが、サブト
ラクション処理手段３（図３）に入力され、上記装置１
と同様にサブトラクション処理が施される。
【００５３】また、本例においても被写体５にヨウ素Ｉ
あるいはバリウムBa等の造影剤を注入することにより、
造影剤を抽出した画像を得ることが可能である。
あるいはバリウムBa等の造影剤を注入することにより、
造影剤を抽出した画像を得ることが可能である。
【００５４】この場合、被写体の主成分のＫ吸収端に対
応するエネルギー近傍部分を中エネルギーレベルとして
エネルギー弁別を行って各エネルギー成分の画像信号を
生成するようにすれば、造影剤を被写体に注入してその
造影剤が沈着した部分をサブトラクション処理により抽
出することによりエネルギー弁別性能のより優れた画像
を得ることができる。
応するエネルギー近傍部分を中エネルギーレベルとして
エネルギー弁別を行って各エネルギー成分の画像信号を
生成するようにすれば、造影剤を被写体に注入してその
造影剤が沈着した部分をサブトラクション処理により抽
出することによりエネルギー弁別性能のより優れた画像
を得ることができる。
【００５５】例えば、図８中、各エネルギー成分の境界
が造影剤のＫ吸収端波長に対応するエネルギー近傍であ
って、Ｘ線のエネルギーレベルELC が低レベル成分と中
レベル成分の境界，レベルECH が中レベル成分と高レベ
ル成分の境界となるように夫々エネルギー弁別を行え
ば、造影剤を吸収する生体部分に対応するａで示したエ
ネルギーレベルと、造影剤を吸収しない生体部分に対応
するｂで示したエネルギーレベルとを明確に峻別するこ
とができ、これにより、造影剤が沈着した被写体部と造
影剤が沈着していない被写体部との分離性が、上記画像
形成装置１よりも優れた画像を得ることができる。
が造影剤のＫ吸収端波長に対応するエネルギー近傍であ
って、Ｘ線のエネルギーレベルELC が低レベル成分と中
レベル成分の境界，レベルECH が中レベル成分と高レベ
ル成分の境界となるように夫々エネルギー弁別を行え
ば、造影剤を吸収する生体部分に対応するａで示したエ
ネルギーレベルと、造影剤を吸収しない生体部分に対応
するｂで示したエネルギーレベルとを明確に峻別するこ
とができ、これにより、造影剤が沈着した被写体部と造
影剤が沈着していない被写体部との分離性が、上記画像
形成装置１よりも優れた画像を得ることができる。
【図１】本発明によるエネルギーサブトラクション画像
形成装置の実施の形態を示す概略構成図
形成装置の実施の形態を示す概略構成図
【図２】上記画像形成装置の画像読取時の走査方法を示
した図
した図
【図３】上記画像形成装置の回路構成の詳細を示すブロ
ック図
ック図
【図４】センサにより検出された電圧パルス信号と基準
電圧の関係を示した図
電圧の関係を示した図
【図５】造影剤のＸ線吸収係数特性とエネルギー弁別領
域の設定例を示す図
域の設定例を示す図
【図６】本発明による他の態様の画像形成装置の回路構
成の詳細を示すブロック図
成の詳細を示すブロック図
【図７】センサにより検出された電圧パルス信号と基準
電圧の関係を示した図
電圧の関係を示した図
【図８】上記他の態様の画像形成装置において、造影剤
のＸ線吸収係数特性とエネルギー弁別領域の設定例を示
す図
のＸ線吸収係数特性とエネルギー弁別領域の設定例を示
す図
１，７ エネルギーサブトラクション画像形成装置 ２ 放射線画像読取部 ３ エネルギーサブトラクション処理手段 ４ ＣＲＴ表示装置 ５ 被写体 20 Ｘ線照射手段 30 センサユニット 31 センサ 40，46 画像信号生成手段
Claims (5)
- 【請求項１】 放射線粒子のエネルギーに応じた信号を
生成するセンサと、 単位時間内に前記センサに入射した相異なる複数のエネ
ルギーレベルの放射線粒子の数を画素毎に計数し、該計
数した各エネルギーレベル毎の放射線粒子量に基づいて
相異なるエネルギー成分の放射線画像信号を生成する画
像信号生成手段と、 生成された相異なるエネルギー成分の放射線画像信号間
でエネルギーサブトラクション処理を行うエネルギーサ
ブトラクション処理手段とを備えたことを特徴とするエ
ネルギーサブトラクション画像形成装置。 - 【請求項２】 前記画像信号生成手段が、前記複数のエ
ネルギーレベルを、ノイズレベル、該ノイズレベルより
高く且つ比較的低いエネルギーレベル、および前記ノイ
ズレベルより高く且つ比較的高いエネルギーレベルとし
て前記計数を行い、比較的低いエネルギー成分の放射線
画像信号および比較的高いエネルギー成分の放射線画像
信号を生成するものであって、 前記エネルギーサブトラクション処理手段が、前記比較
的低いエネルギー成分の放射線画像信号と前記比較的高
いエネルギー成分の放射線画像信号との間で前記エネル
ギーサブトラクション処理を行うものであることを特徴
とする請求項１記載のエネルギーサブトラクション画像
形成装置。 - 【請求項３】 前記画像信号生成手段が、前記被写体の
主成分のＫ吸収端に対応するエネルギー近傍のエネルギ
ーを前記比較的低いエネルギーレベルと前記比較的高い
エネルギーレベルの境界値として前記計数を行うもので
あることを特徴とする請求項２記載のエネルギーサブト
ラクション画像形成装置。 - 【請求項４】 前記画像信号生成手段が、前記複数のエ
ネルギーレベルを、ノイズレベル、該ノイズレベルより
高く且つ比較的低いエネルギーレベル、前記ノイズレベ
ルより高く且つ比較的高いエネルギーレベル、および前
記ノイズレベルより高く且つ中程度のエネルギーレベル
として前記計数を行い、比較的低いエネルギー成分の放
射線画像信号および比較的高いエネルギー成分の放射線
画像信号を生成するものであって、 前記エネルギーサブトラクション処理手段が、前記比較
的低いエネルギー成分の放射線画像信号と前記比較的高
いエネルギー成分の放射線画像信号との間で前記エネル
ギーサブトラクション処理を行うものであることを特徴
とする請求項１記載のエネルギーサブトラクション画像
形成装置。 - 【請求項５】 前記画像信号生成手段が、前記被写体の
主成分のＫ吸収端に対応するエネルギー近傍部分を含む
領域を前記中程度のエネルギーレベルとし、、その前後
を夫々前記比較的低いエネルギーレベルおよび前記比較
的高いエネルギーレベルとして前記計数を行うものであ
ることを特徴とする請求項４記載のエネルギーサブトラ
クション画像形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10232542A JP2000069369A (ja) | 1998-08-19 | 1998-08-19 | エネルギーサブトラクション画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10232542A JP2000069369A (ja) | 1998-08-19 | 1998-08-19 | エネルギーサブトラクション画像形成装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000069369A true JP2000069369A (ja) | 2000-03-03 |
Family
ID=16940964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10232542A Withdrawn JP2000069369A (ja) | 1998-08-19 | 1998-08-19 | エネルギーサブトラクション画像形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JP2000069369A (ja) |
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