JP2000069250A - 原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電的にスキャンするための装置 - Google Patents
原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電的にスキャンするための装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 僅少な機器技術的なコストでも結像スケール
の変更が可能であるように、原稿をピクセル毎に及びラ
イン毎に光電的にスキャンするための装置を改良するこ
とである。 【解決手段】 上記課題は、原稿を光電変換器に結像す
る結像スケールの変更のために及び原稿を光電変換器に
フォーカスするために、対物レンズ及び少なくとも１つ
のミラーはスキャン光のビーム路に沿ってシフト可能に
配置され、さらに、共通の同時的な及び相対的に互いに
等距離のシフトがスキャン光のビーム路に沿って実現さ
れるように、対物レンズ及びミラーは結合エレメントを
用いて互いに固定的に結合されていることによって解決
される。
の変更が可能であるように、原稿をピクセル毎に及びラ
イン毎に光電的にスキャンするための装置を改良するこ
とである。 【解決手段】 上記課題は、原稿を光電変換器に結像す
る結像スケールの変更のために及び原稿を光電変換器に
フォーカスするために、対物レンズ及び少なくとも１つ
のミラーはスキャン光のビーム路に沿ってシフト可能に
配置され、さらに、共通の同時的な及び相対的に互いに
等距離のシフトがスキャン光のビーム路に沿って実現さ
れるように、対物レンズ及びミラーは結合エレメントを
用いて互いに固定的に結合されていることによって解決
される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子的再生技術の
分野に関連し、スキャンされる原稿を照明するための光
源、原稿から来るこの原稿の内容によって変調されたス
キャン光を電気信号に変換するための光電変換器及び原
稿と光電変換器との間のスキャン光のビーム路にある対
物レンズ及び少なくとも１つのミラーから成る、原稿を
ピクセル毎に及びライン毎に光電的にスキャンするため
の装置に関する。
分野に関連し、スキャンされる原稿を照明するための光
源、原稿から来るこの原稿の内容によって変調されたス
キャン光を電気信号に変換するための光電変換器及び原
稿と光電変換器との間のスキャン光のビーム路にある対
物レンズ及び少なくとも１つのミラーから成る、原稿を
ピクセル毎に及びライン毎に光電的にスキャンするため
の装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電
的にスキャンするための装置、以下においてはスキャナ
と呼ぶ、において、平台スキャナの場合には、スキャン
される原稿は平らな原稿担体上に配置され、この平らな
原稿担体はスキャンラインの方向に対して垂直方向にス
キャン機器に対して相対的に可動する。このスキャン機
器は、基本的に原稿をライン毎に照明するための光源、
この原稿から来るスキャン光を画素値に変換するための
光電変換器、例えばフォトダイオードライン（ＣＣＤラ
イン）ならびに異なるサイズの原稿において結像スケー
ルを調整するためのスキャン対物レンズを有する。この
ようなスキャナは例えばドイツ特許公開第１９５３４３
３４号公報から公知である。
的にスキャンするための装置、以下においてはスキャナ
と呼ぶ、において、平台スキャナの場合には、スキャン
される原稿は平らな原稿担体上に配置され、この平らな
原稿担体はスキャンラインの方向に対して垂直方向にス
キャン機器に対して相対的に可動する。このスキャン機
器は、基本的に原稿をライン毎に照明するための光源、
この原稿から来るスキャン光を画素値に変換するための
光電変換器、例えばフォトダイオードライン（ＣＣＤラ
イン）ならびに異なるサイズの原稿において結像スケー
ルを調整するためのスキャン対物レンズを有する。この
ようなスキャナは例えばドイツ特許公開第１９５３４３
３４号公報から公知である。
【０００３】スキャンラインの方向におけるスキャン精
度又はスキャン分解能（ピクセル/ｃｍ）は、フォトダ
イオードラインのセンサエレメントの個数及びスキャン
ラインの方向におけるそれぞれの原稿幅に依存する。ス
キャンラインの方向におけるスキャン精度は、スキャン
対物レンズがそれぞれの原稿幅をフォトダイオードライ
ンに結像する結像スケールによって変化する。この場
合、結像スケールの調整は、原稿幅ができるだけ完全に
かつ最適な画像シャープネスでフォトダイオードライン
に結像されるように実施される。スキャンラインに対し
て垂直方向のスキャン精度は、原稿とスキャン機器との
間の相対速度によって決定される。
度又はスキャン分解能（ピクセル/ｃｍ）は、フォトダ
イオードラインのセンサエレメントの個数及びスキャン
ラインの方向におけるそれぞれの原稿幅に依存する。ス
キャンラインの方向におけるスキャン精度は、スキャン
対物レンズがそれぞれの原稿幅をフォトダイオードライ
ンに結像する結像スケールによって変化する。この場
合、結像スケールの調整は、原稿幅ができるだけ完全に
かつ最適な画像シャープネスでフォトダイオードライン
に結像されるように実施される。スキャンラインに対し
て垂直方向のスキャン精度は、原稿とスキャン機器との
間の相対速度によって決定される。
【０００４】ライン方向におけるスキャン精度の変更
は、従来のスキャナでは大抵の場合レンズに対する周知
の結像方程式に従って像距離（フォトダイオードライン
とスキャン対物レンズとの間の間隔）及び物体距離（ス
キャン対物レンズと原稿との間の間隔）を調整すること
によって行われる。これは、一定の焦点距離を有するス
キャン対物レンズ及び/又はフォトダイオードラインを
シフトすること又は異なる焦点距離を有する複数のスキ
ャン対物レンズをビーム路に旋回して挿入することによ
って行われる。
は、従来のスキャナでは大抵の場合レンズに対する周知
の結像方程式に従って像距離（フォトダイオードライン
とスキャン対物レンズとの間の間隔）及び物体距離（ス
キャン対物レンズと原稿との間の間隔）を調整すること
によって行われる。これは、一定の焦点距離を有するス
キャン対物レンズ及び/又はフォトダイオードラインを
シフトすること又は異なる焦点距離を有する複数のスキ
ャン対物レンズをビーム路に旋回して挿入することによ
って行われる。
【０００５】この場合、最適な画像シャープネスを最適
に調整できるために、像距離と物体距離との間の非線形
関係に基づいて物体距離も像距離も変化させなければな
らない。というのも、結像方程式を満足することによっ
てのみ最適な画像シャープネスが保障されるからであ
る。個別の光学コンポーネントを大抵位置固定された原
稿に対して無段階的にシフトすることは、通常はキャリ
ッジ又は往復台の形式の独立した機械的シフト装置を用
いて行われる。これらの機械的シフト装置は、正確な調
整を保障するためにコスト高で高価であり、スキャナの
値段を上昇させてしまう。
に調整できるために、像距離と物体距離との間の非線形
関係に基づいて物体距離も像距離も変化させなければな
らない。というのも、結像方程式を満足することによっ
てのみ最適な画像シャープネスが保障されるからであ
る。個別の光学コンポーネントを大抵位置固定された原
稿に対して無段階的にシフトすることは、通常はキャリ
ッジ又は往復台の形式の独立した機械的シフト装置を用
いて行われる。これらの機械的シフト装置は、正確な調
整を保障するためにコスト高で高価であり、スキャナの
値段を上昇させてしまう。
【０００６】比較的値段も安く品質もよいスキャナにお
いてはこの理由からしばしば結像スケールの可変的調整
は放棄される。この結果、小さい原稿をスキャンする場
合にはフォトダイオードラインの可能な分解能を部分的
にしか利用しないのでスキャン品質が低下してしまう。
いてはこの理由からしばしば結像スケールの可変的調整
は放棄される。この結果、小さい原稿をスキャンする場
合にはフォトダイオードラインの可能な分解能を部分的
にしか利用しないのでスキャン品質が低下してしまう。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、僅少
な機器技術的なコストでも結像スケールの変更が可能で
あるように、原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電的
にスキャンするための装置を改良することである。
な機器技術的なコストでも結像スケールの変更が可能で
あるように、原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電的
にスキャンするための装置を改良することである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題は、原稿を光電
変換器に結像する結像スケールの変更のために及び原稿
を光電変換器にフォーカスするために、対物レンズ及び
少なくとも１つのミラーはスキャン光のビーム路に沿っ
てシフト可能に配置され、さらに、共通の同時的な及び
相対的に互いに等距離のシフトがスキャン光のビーム路
に沿って実現されるように、対物レンズ及びミラーは結
合エレメントを用いて互いに固定的に結合されているこ
とによって解決される。
変換器に結像する結像スケールの変更のために及び原稿
を光電変換器にフォーカスするために、対物レンズ及び
少なくとも１つのミラーはスキャン光のビーム路に沿っ
てシフト可能に配置され、さらに、共通の同時的な及び
相対的に互いに等距離のシフトがスキャン光のビーム路
に沿って実現されるように、対物レンズ及びミラーは結
合エレメントを用いて互いに固定的に結合されているこ
とによって解決される。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の有利な実施形態は従属請
求項から得られる。
求項から得られる。
【００１０】図１は、２つの異なる結像スケールが１：
２の比率で調整可能であるスキャナのビーム路に対する
本発明の第１の実施例の概略図である。
２の比率で調整可能であるスキャナのビーム路に対する
本発明の第１の実施例の概略図である。
【００１１】このスキャナは透過原稿（Durchsichtsvor
lage）をスキャンするための平台タイプのモノクロスキ
ャナとして構成される。
lage）をスキャンするための平台タイプのモノクロスキ
ャナとして構成される。
【００１２】このスキャナでは、位置固定的な原稿担体
２の上のスキャンすべき透過原稿１が設けられている。
この原稿１は光源３によってライン毎に照明される。こ
の原稿１の画像内容によって変調されこの原稿１を通過
したスキャン光４は３つのミラー５、６、７によって多
重に偏向され、このスキャン光４は次いで一定の焦点距
離ｆを有するスキャン対物レンズ８を通過して光電変換
器９に到達する。この光電変換器９は例えばフォトダイ
オードライン（ＣＣＤライン）として構成されている。
２の上のスキャンすべき透過原稿１が設けられている。
この原稿１は光源３によってライン毎に照明される。こ
の原稿１の画像内容によって変調されこの原稿１を通過
したスキャン光４は３つのミラー５、６、７によって多
重に偏向され、このスキャン光４は次いで一定の焦点距
離ｆを有するスキャン対物レンズ８を通過して光電変換
器９に到達する。この光電変換器９は例えばフォトダイ
オードライン（ＣＣＤライン）として構成されている。
【００１３】入力側の第１のミラー５及びスキャン対物
レンズ８は互いに固定的に結合されており、共に結合エ
レメントとしての光学系往復台又は光学系キャリッジ１
０に取り付けられている。この光学系往復台又は光学系
キャリッジ１０は第１の実施例では原稿担体２の平面に
対してパラレルにガイド部材１０’を用いてシフト可能
に支持されている。第２及び第３のミラー６、７は位置
固定的に設けられている。各ミラー５、６、７はスキャ
ン光４のそれぞれの入射方向に対して４５°の角度で配
向されており、これにより各ミラー５、６、７において
スキャン光４の９０°の偏向が行われる。
レンズ８は互いに固定的に結合されており、共に結合エ
レメントとしての光学系往復台又は光学系キャリッジ１
０に取り付けられている。この光学系往復台又は光学系
キャリッジ１０は第１の実施例では原稿担体２の平面に
対してパラレルにガイド部材１０’を用いてシフト可能
に支持されている。第２及び第３のミラー６、７は位置
固定的に設けられている。各ミラー５、６、７はスキャ
ン光４のそれぞれの入射方向に対して４５°の角度で配
向されており、これにより各ミラー５、６、７において
スキャン光４の９０°の偏向が行われる。
【００１４】３つのミラー５、６、７の選択された位置
決めによって次のことが達成される。すなわち、スキャ
ン光４は第１のミラー５と第２のミラー６との間の領域
ならびに第３のミラー７とスキャン対物レンズ８との間
の領域において互いにパラレルに経過し、原稿１から来
るスキャン光４の方向と光電変換器９に入射するスキャ
ン光の方向との間の角度が９０°となることが達成され
る。
決めによって次のことが達成される。すなわち、スキャ
ン光４は第１のミラー５と第２のミラー６との間の領域
ならびに第３のミラー７とスキャン対物レンズ８との間
の領域において互いにパラレルに経過し、原稿１から来
るスキャン光４の方向と光電変換器９に入射するスキャ
ン光の方向との間の角度が９０°となることが達成され
る。
【００１５】従って、光学系往復台１０を原稿担体２に
対してパラレルにシフトすることによって、スキャン対
物レンズ８と第１のミラー５との間のスキャン光４のビ
ーム路の長さは光電変換器９とスキャン対物レンズ８と
の間の間隔の２倍のスケールで変化する。これにより２
つの異なる結像スケールが比率１：２で最適な画像シャ
ープネスにおいて調整されうる。従って、例えば２つの
異なる基準フォーマットを有する透明陽画（Diapositi
v）を最適なスキャン分解能及び画像シャープネスでス
キャンすることができる。
対してパラレルにシフトすることによって、スキャン対
物レンズ８と第１のミラー５との間のスキャン光４のビ
ーム路の長さは光電変換器９とスキャン対物レンズ８と
の間の間隔の２倍のスケールで変化する。これにより２
つの異なる結像スケールが比率１：２で最適な画像シャ
ープネスにおいて調整されうる。従って、例えば２つの
異なる基準フォーマットを有する透明陽画（Diapositi
v）を最適なスキャン分解能及び画像シャープネスでス
キャンすることができる。
【００１６】図２は、座標系においてパラメータとして
対物レンズの焦点距離ｆを有する曲線群としての対物レ
ンズに対する光学的結像方程式を示す線図である。物体
距離Ｇと像距離Ｂとの間の関数関係を表す結像方程式は
次式で表される： １/Ｇ＋１/Ｂ＝１/ｆ ただしここで Ｇ＝物体距離（原稿とスキャン対物レンズとの間の距
離） Ｂ＝像距離（スキャン対物レンズと変換器との間の距
離） ｆ＝対物レンズの焦点距離 である。
対物レンズの焦点距離ｆを有する曲線群としての対物レ
ンズに対する光学的結像方程式を示す線図である。物体
距離Ｇと像距離Ｂとの間の関数関係を表す結像方程式は
次式で表される： １/Ｇ＋１/Ｂ＝１/ｆ ただしここで Ｇ＝物体距離（原稿とスキャン対物レンズとの間の距
離） Ｂ＝像距離（スキャン対物レンズと変換器との間の距
離） ｆ＝対物レンズの焦点距離 である。
【００１７】結像スケールβを導入してこの結像方程式
をそれぞれＧ及びＢについて解くと、次式 Ｇ＝ｆ（１＋１/β）及び Ｂ＝ｆ（１＋β） が得られる。
をそれぞれＧ及びＢについて解くと、次式 Ｇ＝ｆ（１＋１/β）及び Ｂ＝ｆ（１＋β） が得られる。
【００１８】パラメータとしての対物レンズの焦点距離
ｆによって、各像距離Ｂ乃至は各物体距離Ｇに一意的な
結像スケールβが所属することが分かる。上記の方程式
はさらに次のように変形される： Ｂ＝ｆＧ/（Ｇ−ｆ）及び Ｇ＝ｆＢ/（Ｂ−ｆ） 従って、光学的関心領域において双曲線状の曲線経過が
存在する。図２において破線の調整直線１１として図示
されている物体距離Ｇと像距離Ｂとの間の線形関係をこ
の双曲線状曲線経過に重ねると、この調整直線１１が座
標系原点から十分な距離を有する場合にこの双曲線状曲
線との２つの交点１２、１３が生じる。これら２つの交
点１２、１３の領域においてそれぞれ光電変換器９にお
ける原稿１の鮮明な結像が保障され、各交点１２、１３
には異なる結像スケールβが対応している。第１の位置
が一方の交点１２に相応して実現されるか又は第２の位
置が他方の交点１３に相応して実現されるような２つの
所定の位置に光学系往復台１０をシフトすることによっ
て、２つの異なる結像スケールβが最適な画像シャープ
ネスにおいて実現されうる。交点１２、１３の位置は、
調整直線１１の勾配ならびにこの調整直線１１と座標系
原点との間の距離によって決定される。
ｆによって、各像距離Ｂ乃至は各物体距離Ｇに一意的な
結像スケールβが所属することが分かる。上記の方程式
はさらに次のように変形される： Ｂ＝ｆＧ/（Ｇ−ｆ）及び Ｇ＝ｆＢ/（Ｂ−ｆ） 従って、光学的関心領域において双曲線状の曲線経過が
存在する。図２において破線の調整直線１１として図示
されている物体距離Ｇと像距離Ｂとの間の線形関係をこ
の双曲線状曲線経過に重ねると、この調整直線１１が座
標系原点から十分な距離を有する場合にこの双曲線状曲
線との２つの交点１２、１３が生じる。これら２つの交
点１２、１３の領域においてそれぞれ光電変換器９にお
ける原稿１の鮮明な結像が保障され、各交点１２、１３
には異なる結像スケールβが対応している。第１の位置
が一方の交点１２に相応して実現されるか又は第２の位
置が他方の交点１３に相応して実現されるような２つの
所定の位置に光学系往復台１０をシフトすることによっ
て、２つの異なる結像スケールβが最適な画像シャープ
ネスにおいて実現されうる。交点１２、１３の位置は、
調整直線１１の勾配ならびにこの調整直線１１と座標系
原点との間の距離によって決定される。
【００１９】図３は、２つの異なる結像スケールが１：
３の比率で調整可能であるスキャナのビーム路に対する
本発明の第２の実施例の概略図である。この実施例で
は、スキャン光４のビーム路に第４のミラー１４が配置
され、この第４のミラー１４はスキャン対物レンズ８及
び第１のミラー５と共に光学系往復台１０に取り付けら
れている。この光学系往復台１０はこの実施例では原稿
担体２の平面に対して垂直なガイド部材１０’を用いて
シフト可能に支持されている。
３の比率で調整可能であるスキャナのビーム路に対する
本発明の第２の実施例の概略図である。この実施例で
は、スキャン光４のビーム路に第４のミラー１４が配置
され、この第４のミラー１４はスキャン対物レンズ８及
び第１のミラー５と共に光学系往復台１０に取り付けら
れている。この光学系往復台１０はこの実施例では原稿
担体２の平面に対して垂直なガイド部材１０’を用いて
シフト可能に支持されている。
【００２０】この実施例でも、全てのミラー５、６、
７、１４はスキャン光４のそれぞれの入射方向に対して
４５°の角度で配向されている。これにより次のことが
達成される。すなわち、原稿１と第１のミラー５との間
の、第４のミラー１４と第２のミラー６との間のならび
に第３のミラー７とスキャン対物レンズ８との間のビー
ム路はそれぞれ互にパラレルに経過し、原稿１から来る
スキャン光４の方向は光電変換器９に入射するスキャン
光４の方向と一致する、ということが達成される。
７、１４はスキャン光４のそれぞれの入射方向に対して
４５°の角度で配向されている。これにより次のことが
達成される。すなわち、原稿１と第１のミラー５との間
の、第４のミラー１４と第２のミラー６との間のならび
に第３のミラー７とスキャン対物レンズ８との間のビー
ム路はそれぞれ互にパラレルに経過し、原稿１から来る
スキャン光４の方向は光電変換器９に入射するスキャン
光４の方向と一致する、ということが達成される。
【００２１】ミラー５、６、７、１４の選択された配向
によって、スキャン対物レンズ８と原稿１との間のスキ
ャン光４のビーム路の長さはこのスキャン対物レンズ８
と光電変換器９との間の間隔の３倍のスケールで変化す
ることが達成される。
によって、スキャン対物レンズ８と原稿１との間のスキ
ャン光４のビーム路の長さはこのスキャン対物レンズ８
と光電変換器９との間の間隔の３倍のスケールで変化す
ることが達成される。
【００２２】光学的な関係をさらに詳しく見るために以
下において２つの実施例を考察することにしよう。
下において２つの実施例を考察することにしよう。
【００２３】図１の実施例では、像距離Ｂの物体距離Ｇ
に対する実現される比率が１：２の場合に、スキャン対
物レンズ８はｆ＝１００ｍｍの焦点距離を有すると仮定
する。この場合、結像スケールβ1＝０.５及びβ2＝１
が得られる。さらにフォトダイオードラインの長さを７
２ｍｍと仮定すると原稿幅は１４４ｍｍ及び７２ｍｍで
ある。この実施形態の典型的な適用事例は例えば１０ｃ
ｍ×１３ｃｍ又は６ｃｍ×７ｃｍのフォーマットの原稿
のスキャンである。
に対する実現される比率が１：２の場合に、スキャン対
物レンズ８はｆ＝１００ｍｍの焦点距離を有すると仮定
する。この場合、結像スケールβ1＝０.５及びβ2＝１
が得られる。さらにフォトダイオードラインの長さを７
２ｍｍと仮定すると原稿幅は１４４ｍｍ及び７２ｍｍで
ある。この実施形態の典型的な適用事例は例えば１０ｃ
ｍ×１３ｃｍ又は６ｃｍ×７ｃｍのフォーマットの原稿
のスキャンである。
【００２４】図３の実施例では、像距離Ｂの物体距離Ｇ
に対する実現される比率が１：３の場合にスキャン対物
レンズ８はｆ＝１２０ｍｍの焦点距離を有すると仮定す
る。この場合、結像スケールβ1＝０.２５及びβ2＝１.
３３が得られる。さらにフォトダイオードラインの長さ
を７２ｍｍとすると、この場合原稿幅は２８８ｍｍ又は
５４ｍｍである。
に対する実現される比率が１：３の場合にスキャン対物
レンズ８はｆ＝１２０ｍｍの焦点距離を有すると仮定す
る。この場合、結像スケールβ1＝０.２５及びβ2＝１.
３３が得られる。さらにフォトダイオードラインの長さ
を７２ｍｍとすると、この場合原稿幅は２８８ｍｍ又は
５４ｍｍである。
【００２５】スキャン光４のビーム路において図１及び
３に図示された実施例とは異なるミラー５、６、７、１
４の配向を行う場合、例えばスキャン光４のビーム路の
領域が互にパラレルには配置されていないような場合、
原理的には像距離Ｂと物体距離Ｇとの間に奇数の比率が
得られる。ミラー５、６、７、１４のそれぞれの配向は
実現すべき適用事例の要請に応じて簡単なやり方で選択
される。
３に図示された実施例とは異なるミラー５、６、７、１
４の配向を行う場合、例えばスキャン光４のビーム路の
領域が互にパラレルには配置されていないような場合、
原理的には像距離Ｂと物体距離Ｇとの間に奇数の比率が
得られる。ミラー５、６、７、１４のそれぞれの配向は
実現すべき適用事例の要請に応じて簡単なやり方で選択
される。
【００２６】本発明はモノクロスキャナ又は透過原稿の
スキャンに限定されるものではない。本発明の枠内には
カラースキャナとしてのスキャナ又は反射原稿（Aufsic
htsvorlage）のスキャンのためのスキャナを構成するこ
とも含まれている。
スキャンに限定されるものではない。本発明の枠内には
カラースキャナとしてのスキャナ又は反射原稿（Aufsic
htsvorlage）のスキャンのためのスキャナを構成するこ
とも含まれている。
【図１】２つの異なる結像スケールが１：２の比率で調
整可能であるスキャナのビーム路に対する本発明の第１
の実施例の概略図である。
整可能であるスキャナのビーム路に対する本発明の第１
の実施例の概略図である。
【図２】レンズの光学的結像方程式の線図である。
【図３】２つの異なる結像スケールが１：３の比率で調
整可能であるスキャナのビーム路に対する本発明の第２
の実施例の概略図である。
整可能であるスキャナのビーム路に対する本発明の第２
の実施例の概略図である。
１ 原稿 ２ 原稿担体 ３ 光源 ４ スキャン光 ５ 第１のミラー ６ 第２のミラー ７ 第３のミラー ８ スキャン対物レンズ ９ 光電変換器 １０ 光学系往復台又は光学系キャリッジ １０’ ガイド部材 １４ 第４のミラー
フロントページの続き (71)出願人 390009232 Ｋｕｒｆｕｅｒｓｔｅｎ−Ａｎｌａｇｅ 52−60，Ｈｅｉｄｅｌｂｅｒｇ，Ｆｅｄｅ ｒａｌ Ｒｅｐｕｂｌｉｃ ｏｆ Ｇｅｒ ｍａｎｙ (72)発明者 ヴェルナー バルト ドイツ連邦共和国 ヴェスターレーンフェ ルト レルヒェンシュトラーセ ８
Claims (15)
- 【請求項１】 原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電
的にスキャンするための装置であって、 前記スキャンされる原稿（１）を照明するための光源
（３）、 前記原稿（１）から来る、該原稿（１）の内容によって
変調されたスキャン光（４）を電気信号に変換するため
の光電変換器（９）及び前記原稿（１）と前記光電変換
器（９）との間の前記スキャン光（４）のビーム路にあ
る対物レンズ（８）及び少なくとも１つのミラーから成
る、原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電的にスキャ
ンするための装置において、 前記原稿（１）を前記光電変換器（９）に結像する結像
スケールの変更のために及び前記原稿（１）を前記光電
変換器（９）にフォーカスするために、 前記対物レンズ（８）及び少なくとも１つのミラー
（５、１４）は前記スキャン光（４）のビーム路に沿っ
てシフト可能に配置され、 共通の同時的な及び相対的に互いに等距離のシフトが前
記スキャン光（４）の前記ビーム路に沿って実現される
ように、前記対物レンズ（８）及び前記ミラー（５、１
４）は結合エレメント（１０）を用いて互いに固定的に
結合されていることを特徴とする、原稿をピクセル毎に
及びライン毎に光電的にスキャンするための装置。 - 【請求項２】 少なくとも３つのミラー（５、６、７）
はスキャン光（４）のビーム路に配置されることを特徴
とする請求項１記載の装置。 - 【請求項３】 ミラー（５、６、７）は、スキャン光
（４）がビーム路の少なくとも２つの領域においてパラ
レルに経過するように、前記スキャン光（４）のビーム
路の方向に対して相対的に配向されていることを特徴と
する請求項１又は２記載の装置。 - 【請求項４】 対物レンズ（８）は結合エレメント（１
０）によってミラー（５）に固定的に結合されており、 前記結合エレメント（１０）は原稿（１）の平面に対し
てパラレルにシフト可能に支持されている（図１）こと
を特徴とする、請求項１〜３までのうちの少なくとも１
項記載の装置。 - 【請求項５】 対物レンズ（８）は結合エレメント（１
０）によって２つのミラー（５、１４）に固定的に結合
されており、 前記結合エレメント（１０）は原稿（１）の平面に対し
て垂直にシフト可能に支持されている（図３）ことを特
徴とする、請求項１〜３までのうちの少なくとも１項記
載の装置。 - 【請求項６】 結合エレメント（１０）に結合されてい
るミラー（５、１４）はそれぞれスキャン光（４）を９
０°だけ偏向する配向を有することを特徴とする、請求
項５記載の装置。 - 【請求項７】 ミラー（５、６、８）は、スキャン光
（４）が原稿（１）の領域において光電変換器（９）の
領域においてよりも９０°だけ回転された配向を有する
ように、前記スキャン光（４）のビーム路に配向されて
いることを特徴とする請求項１〜６までのうちの少なく
とも１項記載の装置。 - 【請求項８】 ミラー（５、６、１４）は、スキャン光
（４）が原稿（１）の領域において光電変換器（９）の
領域においてと同一の配向を有するように、前記スキャ
ン光（４）のビーム路に配向されていることを特徴とす
る請求項１〜６までのうちの少なくとも１項記載の装
置。 - 【請求項９】 結合エレメント（１０）は２つの所定の
位置にシフト可能に配置されていることを特徴とする、
請求項１〜８まのうちの少なくとも１項記載の装置。 - 【請求項１０】 ２つの所定の位置の領域に結合エレメ
ント（１０）をシフトすることによって、原稿（１）が
それぞれ異なる結像スケール及び最適な画像シャープネ
スで光電変換器（９）に結像されることを特徴とする請
求項９記載の装置。 - 【請求項１１】 結合エレメント（１０）の２つの所定
の位置において像距離Ｂの物体距離Ｇに対する比率１：
２が実現されることを特徴とする請求項１０記載の装
置。 - 【請求項１２】 結合エレメント（１０）の２つの所定
の位置において像距離Ｂの物体距離Ｇに対する比率１：
３が実現されることを特徴とする請求項１０記載の装
置。 - 【請求項１３】 装置は平台スキャナとして構成される
ことを特徴とする請求項１〜１２までのうちの少なくと
も１項記載の装置。 - 【請求項１４】 光電変換器（９）はフォトダイオード
ライン（ＣＣＤライン）であることを特徴とする請求項
１〜１３までのうちの少なくとも１項記載の装置。 - 【請求項１５】 結合エレメント（１０）はガイド部材
（１０’）を用いてシフト可能な光学系往復台又は光学
系キャリッジとして構成されていることを特徴とする請
求項１〜１４までのうちの少なくとも１項記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19829974.5 | 1998-07-04 | ||
| DE1998129974 DE19829974C2 (de) | 1998-07-04 | 1998-07-04 | Vorrichtung zur Vorlagenabtastung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000069250A true JP2000069250A (ja) | 2000-03-03 |
| JP3202734B2 JP3202734B2 (ja) | 2001-08-27 |
Family
ID=7873012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19066899A Expired - Fee Related JP3202734B2 (ja) | 1998-07-04 | 1999-07-05 | 原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電的にスキャンするための装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3202734B2 (ja) |
| DE (1) | DE19829974C2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0556217A (ja) * | 1991-08-27 | 1993-03-05 | Mitsubishi Electric Corp | イメージスキヤナの縮小光学機構 |
-
1998
- 1998-07-04 DE DE1998129974 patent/DE19829974C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-07-05 JP JP19066899A patent/JP3202734B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19829974C2 (de) | 2001-08-23 |
| JP3202734B2 (ja) | 2001-08-27 |
| DE19829974A1 (de) | 2000-01-13 |
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