FR2500216A1 - Procede de fabrication de cellules solaires au silicium amorphe - Google Patents

Procede de fabrication de cellules solaires au silicium amorphe Download PDF

Info

Publication number
FR2500216A1
FR2500216A1 FR8117005A FR8117005A FR2500216A1 FR 2500216 A1 FR2500216 A1 FR 2500216A1 FR 8117005 A FR8117005 A FR 8117005A FR 8117005 A FR8117005 A FR 8117005A FR 2500216 A1 FR2500216 A1 FR 2500216A1
Authority
FR
France
Prior art keywords
amorphous silicon
substrate
layer
during
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR8117005A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2500216B1 (fr
Inventor
David Emil Carlson
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RCA Corp
Original Assignee
RCA Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RCA Corp filed Critical RCA Corp
Publication of FR2500216A1 publication Critical patent/FR2500216A1/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2500216B1 publication Critical patent/FR2500216B1/fr
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • C23C16/24Deposition of silicon only
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/20Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof such devices or parts thereof comprising amorphous semiconductor materials
    • H01L31/202Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof such devices or parts thereof comprising amorphous semiconductor materials including only elements of Group IV of the Periodic Table
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

PROCEDE POUR LA FABRICATION DE CELLULES SOLAIRES AU SILICIUM AMORPHE, SELON LEQUEL ON FORME UNE COUCHE DE SILICIUM AMORPHE SUR UN SUBSTRAT, CARACTERISE EN CE QU'ON FAIT VARIER LA TEMPERATURE DU SUBSTRAT PENDANT L'OPERATION DE DEPOT DE LA COUCHE DE SILICIUM AMORPHE, DE MANIERE QUE SA TEMPERATURE SOIT LA PLUS BASSE PENDANT LE DEPOT DE LA PARTIE DE LA COUCHE DE SILICIUM AMORPHE DEVANT RECEVOIR LA LUMIERE INCIDENTE.

Description

2 5 0 0 2 1 6
La présente invention est relative à un procédé de fabrication de dispositifs photovoltatques comportant des corps semiconducteurs constitués
de silicium amorphe.
On sait que les dispositifs photovoltalques, tels que les cellules so-
laires, sont capables de transformer l'énergie rayonnante solaire en énergie électrique utilisable. Cette transformation d'énergie résulte de ce qu'il est convenu d'appeler "l'effet photovoltaique". Une cellule solaire au silicium amorphe est constituée d'un corps de silicium amorphe hydrogéné (a - Si: H),
qui est formé, de façon typique, par décharge luminescente dans du silane.
De telles cellules sont décrites dans le brevet américain n0 4 064 521, auquel
on pourra se référer.
A l'intérieur du corps de la cellule existe un champ électrique qui résulte des types de conductivité différents des régions semiconductrices qui
constituent le corps.
De façon typique, on utilise une structure P-I-N, et, lorsque la lumière vient frapper le corps, les photons engendrent des paires trou-électron dans la région intrinsèque du corps. Dans une cellule solaire au silicium
amorphe, le mécanisme de glissement qui résulte du champ électrique inhé-
rent, à l'intérieur du corps, amène les électrons à s'écouler vers la région de type N, et les trous à s'écouler vers la région de type P, ces régions étant sur les côtés opposés de la région intrinsèque. Par conséquent, s'il existe un circuit externe reliant la région de type N à la région de type P, il circule un courant au travers de ce circuit tant que la lumière continue à engendrer des
paires électron-trou dans la cellule solaire.
Ainsi que le savent les techniciens en ce domaine, des cellules au silicium amorphe sont fabriquées, de façon typique, par décharge luminescente de silane (SiH4). Le procédé de décharge luminescente implique une décharge d'énergie au travers d'un gaz, à une pression relativement faible, dans une enceinte partiellement sous vide. En particulier, la décharge luminescente
de silane est effectuée typiquement à une pression ne dépassant pas 5 torr.
Comme cela est décrit en détail dans le brevet américain n0 4 14Z 195, un
procédé typique, pour fabriquer une cellule solaire au silicium amorphe, con-
siste en premier lieu à placer un substrat sur un élément chauffé placé dans une chambre sous vide. Une électrode écran, ou grille est reliée à une borne
2 50 0 2 1 6
d'une source d'énergie, et une seconde électrode est connectée à l'autre borne de la source d'énergie, de façon que l'électrode écran soit située entre la seconde électrode et le substrat. Pendant que du silane, à faible pression, est admis dans la chambre sous vide, on établit une décharge luminescente entre les deux électrodes, et une pellicule de silicium amorphe se dépose sur
le substrat.
La structure P-I-N au silicium amorphe peut être formée, par exemple, de la manière décrite dans le brevet américain n0 4 064 521, et,
dans ce cas, le substrat est constitué typiquement d'un métal tel que l'alumi-
nium, le niobium, le tantale, le chrome, le fer, le bismuth, l'antimoine ou l'acier inoxydable. Dans un procédé typique, le silicium amorphe est dopé en ajoutant des impuretés au silane. Par exemple, le premier dopant peut être du
diborane (B H), qui est ajouté au silane afin de former une couche de sili-
2 6 cium amorphe de type P. Après formation de la couche de type P de manière qu'elle présente une épaisseur de l'ordre de 100 A environ, on interrompt l'écoulement du diborane de façon à former une région intrinsèque ayant une épaisseur de l'ordre de quelques milliers d'Angstroms. Ensuite, un dopant de type N, tel que la phosphine (PH3) est ajouté au flux de silane, afin de former une couche de silicium amorphe de type N présentant une épaisseur de quelques centaines d'Angstroms. Il se forme une couche transparente, conductrice, sur la couche de type N. Selon un procédé typique, on utilise dans ce but de l'oxyde
d'étain et d'indium.
Comme le savent les techniciens dans ce domaine, les régions de type P et N peuvent être inversées. De même, le substrat peut être formé
de verre, au lieu d'un métal. Dans ce cas, un revêtement conducteur et trans-
parent, par exemple d'oxyde d'étain et d'indium, est appliqué sur le substrat de verre avant la formation du silicium amorphe. Ensuite, la cellule peut être formée de type P-I-N ou N-I-P, avec un contact métallique sur sa partie supérieure, c'est-à-dire sa surface enlevée du substrat. Ces divers types de
cellules sont décrits dans le brevet américain n0 4 162 505.
Bien que de nombreuses solutions aient été proposées pour la réali-
sation de cellules solaires au silicium amorphe, le besoin se fait sentir d'aug-
menter le rendement, l'efficacité et les facteurs de remplissage de telles
cellules. C'est là, précisément, le but de la présente invention.
25002 1 6
En conséquence, cette invention a pour objet un procédé perfectionné
pour former une cellule solaire au silicium amorphe, selon lequel on fait va-
rier la température du substrat lors du dépôt du silicium amorphe. On a ob-
servé expérimentalement que, lorsque la température du substrat varie lors de l'opération de dépôt de la couche de silicium amorphe, de façon que le subs- trat soit plus froid lorsque s'effectue le dépôt de la surface incidente de la
couche de silicium amorphe, on obtient une amélioration du facteur de rem-
plissage et de l'efficacité de la cellule ainsi formée. Bien que l'on n'ait pas totalement déterminé les motifs de cette amélioration technique, on suppose que la bande interdite peut s'ouvrir quelque peu lors du dépôt, en raison de l'augmentation de l'incorporation de l'hydrogène dans une pellicule déposée sur un substrat plus froid. Il en résulte que la surface incidente de la couche de silicium amorphe n'absorbe pas autant de lumière qu'elle en aurait absorbé
autrement. Par conséquent, on pense -mais ceci ne constitue qu'une hypothèse-
que la région intrinsèque reçoit davantage de lumière à l'endroit o sont en-
gendrées les paires électron-trou.
Comme on l'a expliqué dans la description qui précède, le but de la
variation de la température du substrat pendant l'opération de dépôt de la couche de silicium amorphe est d'augmenter la quantité d'hydrogène contenue dans la pellicule, ce qui ouvre sa bande interdite. Comme cela est évident pour l'homme de l'art, le but recherché est que la partie de la pellicule qui reçoit la lumière possède la bande interdite la plus large. Par conséquent, bien que, dans les exemples qui suivent, on se réfère au refroidissement du substrat lors de l'opération de dépôt de la couche de silicium amorphe, Z5 exemples dans lesquels les couches de silicium amorphe sont formées sur des substrats opaques, on pourrait utiliser l'approche inverse, selon laquelle une couche de silicium amorphe est formée sur un substrat transparent, au travers duquel la lumière doit être introduite dans la cellule. Par conséquent, si l'on voulait réaliser une cellule solaire devant être illuminée au travers du substrat, c'est-à-dire, par exemple, une structure verre/oxyde d'étain et
d'indium/silicium amorphe (a-SiH) P-I-N/Al, on ferait varier la tempéra-
ture lors du dépôt de la couche de silicium amorphe, en l'augmentant plutôt
qu'en la faisant décroître.
De même, on a indiqué, dans les exemples suivants, l'utilisation
25002 16
d'une décharge de proximité en courant continu pour former les couches de silicium amorphe; il est cependant évident, pour l'homme du métier, que l'on peut utiliser une décharge anodique en courant continu ou une décharge à
haute fréquence.
Les exemples qui suivent, qui n'ont bien entendu aucun caractère
limitatif, illustrent la présente invention.
Exemples -
Dans la série d'exemples qui suit, on a montré les effets du refroi-
dissement du substrat lors du déroulement de l'opération de dépôt du silicium amorphe. Dans chacun de ces exemples, on a formé une cellule solaire au silicium amorphe sur un substrat d'acier inoxydable. Dans chaque cas, la structure était constituée par une structure: oxyde d'étain et d'indium/ silicium amorphe (a-Si:H) N-I-P /acier inoxydable. Dans chaque cas, la cellule solaire a été formée par une décharge luminescente de proximité en courant continu, dans une atmosphère de silane (SiH4), sous une pression de
0, 66 mbar environ.
Exemple 1 -
Ce premier exemple a constitué un contrôle, au cours duquel la tem-
pérature du substrat a été maintenue à 380'C lors du dépôt des couches de Z0 silicium amorphe. La tension en circuit ouvert de la cellule était de 774 mV,
et la densité du courant de court-circuit était égale à 9, 13 mA/cm. La cel-
lule présentait un facteur de remplissage de 0, 513, et un rendement de 3, 63%.
Exemple 2 -
Dans ce second exemple, le substrat a été refroidi, lors du dépôt à partir d'une température de 3800C, à 340'C. La tension en circuit ouvert de la cellule était égale à 794 mV, et la densité du courant de court- circuit était de 10, 00 mA/cm.Le coefficient de remplissage de la cellule était de
0, 542, et son rendement égal à 4, 30 %.
Exemple 3 -
Dans ce troisième exemple, le substrat a été refroidi, lors du dé-
pôt, depuis une température de 380'C jusqu'à 319'C. La tension en circuit
ouvert de la cellule était égale à 783 mV, et sa densité de courant de court-
circuit était de 9, 37 mA/cm. La cellule présentait un facteur de charge de
0, 530, et un rendement de 3, 89 %.
2 5 0 0 2 1 6
Exemple 4 -
Dans ce quatrième exemple, le substrat a été refroidi pendant le
dépôt, à partir d'une température de 378'C jusqu'à 295'C. La tension en cir-
cuit ouvert de la cellule était de 794 mV, et la densité de courant de court-
circuit était égale à 10, 31 mA/cm. La cellule présentait un facteur de rem-
plissage de 0, 582, et un rendement de 4, 76 %.
Exemple 5 -
Dans cet exemple, le substrat a été refroidi, lors du dépôt, depuis une température de 380'C jusqu'à 279'C. La tension en circuit ouvert de la cellule était de 790 mV, et sa densité de courant de court-circuit de 9, 62 mA/cm. La cellule présentait un coefficient de remplissage de 0, 594, et
un rendement de 4, 52 %.
Il demeure bien entendu que cette invention n'est pas limitée aux exemples de mise en oeuvre décrits ci-dessus, mais qu'elle en englobe toutes
les variantes.
25002 1 6

Claims (6)

REVENDICATIONS
1 - Procédé pour la fabrication de cellules solaires au silicium
amorphe, selon lequel on forme une couche de silicium amorphe sur un subs-
trat, caractérisé en ce qu'on fait varier la température du substrat pendant l'opération de dépôt de la couche de silicium amorphe, de manière que sa température soit la plus basse pendant le dépôt de la partie de la couche de
silicium amorphe devant recevoir la lumière incidente.
2 - Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le subs-
trat est opaque, et en ce qu'il est refroidi dans un domaine de températures compris entre 400'C et Z00'C environ, lors du dépôt de la couche de silicium amorphe.
3 - Procédé selon la revendication 1, caractérisé en fce que le subs-
trat est transparent, et en ce qu'il est chauffé dans une gamme de températures comprise entre 200'C et 400'C environ, pendant l'opération de dépôt de la
couche de silicium amorphe.
4 - Procédé selon l'une des revendications 2 ou 3, caractérisé en ce
que la couche de silicium amorphe est déposée par décharge luminescente de silane. - Procédé selon la revendication 4, caractérise en ce que la dé-
charge luminescente est une décharge de proximité en courant continu.
6 - Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que la dé-
charge luminescente est une décharge anodique en courant continu.
7 - Procédé selon la revendication 4, caractérisé en ce que la dé-
charge luminescente est une décharge à haute fréquence.
FR8117005A 1981-02-13 1981-09-08 Procede de fabrication de cellules solaires au silicium amorphe Expired FR2500216B1 (fr)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/234,567 US4339470A (en) 1981-02-13 1981-02-13 Fabricating amorphous silicon solar cells by varying the temperature _of the substrate during deposition of the amorphous silicon layer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2500216A1 true FR2500216A1 (fr) 1982-08-20
FR2500216B1 FR2500216B1 (fr) 1987-05-07

Family

ID=22881915

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR8117005A Expired FR2500216B1 (fr) 1981-02-13 1981-09-08 Procede de fabrication de cellules solaires au silicium amorphe

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4339470A (fr)
JP (1) JPS57139972A (fr)
DE (1) DE3140139A1 (fr)
FR (1) FR2500216B1 (fr)
GB (1) GB2093271B (fr)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57157577A (en) * 1981-03-23 1982-09-29 Sumitomo Electric Ind Ltd Manufacture of thin film photovoltaic element
US4407710A (en) * 1981-10-15 1983-10-04 Exxon Research And Engineering Co. Hybrid method of making an amorphous silicon P-I-N semiconductor device
EP0094426B1 (fr) * 1981-11-20 1987-08-05 Chronar Corporation Commande de l'espace interbande dans des semiconducteurs amorphes
US4485128A (en) * 1981-11-20 1984-11-27 Chronar Corporation Bandgap control in amorphous semiconductors
US4465706A (en) * 1981-11-20 1984-08-14 Chronar Corporation Bandgap control in amorphous semiconductors
AT380974B (de) * 1982-04-06 1986-08-11 Shell Austria Verfahren zum gettern von halbleiterbauelementen
JPS58204527A (ja) * 1982-05-24 1983-11-29 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 繊維構造を有する半導体およびその作製方法
DE3317269A1 (de) * 1983-05-11 1984-12-13 Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8000 München Duennschicht-solarzellenanordnung
US4670762A (en) * 1984-02-10 1987-06-02 Kanegafuchi Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha Amorphous silicon semiconductor and process for same
JPH0782998B2 (ja) * 1990-08-06 1995-09-06 プラズマ・フィジクス・コーポレーション 半導体装置
JPH09512665A (ja) * 1994-03-25 1997-12-16 アモコ/エンロン・ソーラー 高水素希釈低温プラズマ沈着によって製造される非晶質珪素ベースの器具の向上せしめられた安定化特性
JPH1116838A (ja) * 1997-06-24 1999-01-22 Nec Corp 多結晶シリコン膜の成長方法およびcvd装置
US6121541A (en) * 1997-07-28 2000-09-19 Bp Solarex Monolithic multi-junction solar cells with amorphous silicon and CIS and their alloys
US6077722A (en) * 1998-07-14 2000-06-20 Bp Solarex Producing thin film photovoltaic modules with high integrity interconnects and dual layer contacts
US6111189A (en) * 1998-07-28 2000-08-29 Bp Solarex Photovoltaic module framing system with integral electrical raceways
KR20120118092A (ko) * 2011-04-18 2012-10-26 삼성디스플레이 주식회사 태양 전지

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4064521A (en) * 1975-07-28 1977-12-20 Rca Corporation Semiconductor device having a body of amorphous silicon
DE2944382A1 (de) * 1978-11-02 1980-05-14 Fuji Photo Film Co Ltd Verfahren zur herstellung eines duennfilmphotoleiters
US4226643A (en) * 1979-07-16 1980-10-07 Rca Corporation Method of enhancing the electronic properties of an undoped and/or N-type hydrogenated amorphous silicon film
US4237151A (en) * 1979-06-26 1980-12-02 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Thermal decomposition of silane to form hydrogenated amorphous Si film

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4192195A (en) * 1975-12-03 1980-03-11 Nippondenso Co., Ltd. Starter with a shock absorbing arrangement
US4109271A (en) * 1977-05-27 1978-08-22 Rca Corporation Amorphous silicon-amorphous silicon carbide photovoltaic device
US4226898A (en) * 1978-03-16 1980-10-07 Energy Conversion Devices, Inc. Amorphous semiconductors equivalent to crystalline semiconductors produced by a glow discharge process
US4162505A (en) * 1978-04-24 1979-07-24 Rca Corporation Inverted amorphous silicon solar cell utilizing cermet layers
JPS55151328A (en) * 1979-05-16 1980-11-25 Hitachi Ltd Method and apparatus for fabricating hydrogen-containing amorphous semiconductor film
JPS55154781A (en) * 1979-05-22 1980-12-02 Shunpei Yamazaki Semiconductor device
US4253882A (en) * 1980-02-15 1981-03-03 University Of Delaware Multiple gap photovoltaic device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4064521A (en) * 1975-07-28 1977-12-20 Rca Corporation Semiconductor device having a body of amorphous silicon
DE2944382A1 (de) * 1978-11-02 1980-05-14 Fuji Photo Film Co Ltd Verfahren zur herstellung eines duennfilmphotoleiters
US4237151A (en) * 1979-06-26 1980-12-02 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Thermal decomposition of silane to form hydrogenated amorphous Si film
US4226643A (en) * 1979-07-16 1980-10-07 Rca Corporation Method of enhancing the electronic properties of an undoped and/or N-type hydrogenated amorphous silicon film

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
EXTENDED ABSTRACTS, vol. 80, no. 2, octobre 1980, abstrait no. 570, Princeton, New Jersey (US); *
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, vol. 48, no. 12, décembre 1977, American Institute of Physics; *
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, vol. 116, no. 1, janvier 1969; *

Also Published As

Publication number Publication date
FR2500216B1 (fr) 1987-05-07
DE3140139C2 (fr) 1990-03-22
GB2093271B (en) 1984-09-19
GB2093271A (en) 1982-08-25
DE3140139A1 (de) 1982-09-09
JPS57139972A (en) 1982-08-30
JPH0359588B2 (fr) 1991-09-11
US4339470A (en) 1982-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0673550B1 (fr) Procede de fabriction d'un dispositif photovoltaique monte en tandem a efficacite amelioree et dispositif obtenu
JP2677503B2 (ja) 光起電力装置
US8168463B2 (en) Zinc oxide film method and structure for CIGS cell
FR2500216A1 (fr) Procede de fabrication de cellules solaires au silicium amorphe
JP2951146B2 (ja) 光起電力デバイス
AU2005200023B2 (en) Photovoltaic device
JP5285651B2 (ja) 太陽電池の製造方法
US6307146B1 (en) Amorphous silicon solar cell
US4609771A (en) Tandem junction solar cell devices incorporating improved microcrystalline p-doped semiconductor alloy material
US4600801A (en) Fluorinated, p-doped microcrystalline silicon semiconductor alloy material
FR2781930A1 (fr) Procede de fabrication de modules photovoltaiques et module photovoltaique
JPH11243218A (ja) 積層型光起電力素子
JPH0677510A (ja) 光起電力素子
FR2490013A1 (fr) Dispositif amorphe photosensible a cellules multiples
US5256576A (en) Method of making pin junction semiconductor device with RF deposited intrinsic buffer layer
US4956023A (en) Integrated solar cell device
US4555586A (en) Photovoltiac device having long term energy conversion stability and method of producing same
US4799968A (en) Photovoltaic device
US4749588A (en) Process for producing hydrogenated amorphous silicon thin film and a solar cell
JP2006216624A (ja) 太陽電池及び太陽電池の製造方法
FR2471671A1 (fr) Dispositif photovoltaique au silicium amorphe produisant une tension elevee en circuit ouvert
RU2501121C2 (ru) Фотоэлектрический элемент и способ изготовления фотоэлектрического элемента
US5242504A (en) Photovoltaic device and manufacturing method therefor
JPH0262482B2 (fr)
JP2757896B2 (ja) 光起電力装置

Legal Events

Date Code Title Description
ST Notification of lapse