FI98757C - Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi - Google Patents
Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi Download PDFInfo
- Publication number
- FI98757C FI98757C FI952638A FI952638A FI98757C FI 98757 C FI98757 C FI 98757C FI 952638 A FI952638 A FI 952638A FI 952638 A FI952638 A FI 952638A FI 98757 C FI98757 C FI 98757C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- glass
- light
- measured
- profile
- cameras
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2545—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with one projection direction and several detection directions, e.g. stereo
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
98757
Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi. - Förfarande för mätning av böjningsgraden av en böjd glasskiva.
5 Keksinnön kohteena on menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi.
Esim. autojen tuulilasien ja takalasien painovoimaisessa taivutuksessa taipumisastetta on vaikea hallita riittävällä 10 tarkkuudella. Taivutuksen jälkeen taipumisaste joudutaan tarkistamaan, jotta virheellisesti taipuneet kappaleet voidaan hylätä. Tähän tarkoitukseen on käytetty mekaanisia laitteita, joissa lasi kiinnitetään tarkistuspenkkiin ja mekaanisilla tuntoelimillä tarkistetaan taipumisaste tie-15 tyissä pisteissä. Menettely on hidas ja hankala ja tarkis-tuspisteiden määrä rajoittunut. Taipumisasteen mittaustarve esiintyy myös laseilla, jotka on taivutettu "pressbend" menetelmällä tai kaareutettavalla kuljettimella. Kysymyksessä voi siis olla telauunilla tuotetun taivutetun karkaistun 20 lasin taivutustuloksen mittaus.
Patenttijulkaisusta FI-74556 tunnetaan menetelmä kohdetilan kolmiulotteiseksi valvomiseksi kahdella tai useammalla videokameralla, jotka on asetettu mielivaltaiseen, mutta 25 kiinteänä pysyvään kulmaan toisiinsa nähden ja joilla on yhteinen kuvautuva kenttä, johon valvottava kohde sijoittuu. Tämä tunnettu menetelmä ei kuitenkaan sellaisenaan sovellu lasilevyn taipumisasteen mittaamiseen, koska lasi on läpinäkyvää kameroiden havaitsemalla aallonpituusalueella.
30
Keksinnön tarkoituksena on saada aikaan menetelmä, jonka avulla mainittua kamerakuvaukseen perustuvaa mittaustekniikkaa voidaan soveltaa lasilevyn taipumisasteen mittaamiseen.
35 Tämä tarkoitus saavutetaan keksinnöllä oheisessa patenttivaatimuksessa 1 esitettyjen tunnusmerkkien perusteella.
2 98757
Epäitsenäisissä patenttivaatimuksissa on esitetty keksinnön edullisia sovellutusmuotoja.
Seuraavassa keksintöä selostetaan lähemmin viittaamalla 5 oheisiin piirustuksiin, joissa kuvio 1 esittää kaaviokuvaa laitteistosta, jolla keksinnön mukainen menetelmä toteutetaan; 10 kuvio 2 esittää päätyosaa taivutetusta lasilevystä, jonka kaarevuusprofiili on mittauksen kohteena; ja kuvio 3 esittää mittaukseen käytettävän kameraparin videos ignaaleita.
15
Menetelmässä käytetyn laitteiston rakenteellinen järjestely on seuraava. Vähintään kaksi videokameraa 1 on kiinnitetty yhteiseen runkoon 3 siten, että kamerat 1 pysyvät kiinteässä kulmassa toisiinsa nähden. Tämä kulma voi olla mielivaltai-20 sesti valittu, kuitenkin niin, että kameroilla 1 on yhteinen kuvautuva kenttä, jossa mittauskohde sijaitsee. Kameroiden 1 tuottamat videosignaalit käsitellään tietokoneessa 2 patenttijulkaisussa Fl-74556 kuvatulla tavalla. Sama koskee myös mittausjärjestelyn kalibrointia eli kameroiden suuntakertoi-25 mien määrittämistä koordinaateiltaan tunnettujen pisteiden avulla.
Lasilevy 5, jonka taipumisprofiilia mitataan, sijoitetaan kameroiden yhteiseen kuvautuvaan kenttään 6. Mittauksen 30 aikana lasilevyltä ei edellytetä mitään tarkkaa sijaintia tai asentoa. Näin ollen mittaus voidaan tehdä suoraan kuljetusradalta. Mittauskohdan yläpuolelle on asetettu valolähde 4, jonka valolla on suuri intensiteetti aallon pituudella 253,7 nm. Käytännössä tehokkaan intensiteetin aallonpituus 35 voi olla alueella 254 ± 3 nm. Tällöin lasin valmistuksen yhteydessä sen toiseen pintaan muodostunut hyvin ohut tina-kerros tulee kameroille 1 näkyväksi. Aallonpituudella 98757 3 253,7 nm tehokkaan intensiteetin omaavaa valaisinta on aikaisemmin käytetty lasin pinnan valaisemiseen, kun on visuaalisesti tutkittu, kummalla lasin pinnalla tinakerros on. Keksinnössä tätä sinänsä tunnettua ilmiötä käytetään 5 hyväksi uudenlaisessa mittausmenetelmässä.
Valonlähteen 4 ja lasin 5 välissä on rakovarjostin 10, jonka läpi pääsee yksi tai useampi kapea valokeila, joka synnyttää lasin 5 pintaan valojuovan 7. Haluttu määrä valojuovia 10 synnytetään siis kohtiin, joiden kaarevuusprofiili halutaan mitata. Vaihtoehtoisesti varjostinta 10 voidaan liikuttaa niin, että valojuova 7 siirtyy eri kohtiin lasin 5 pinnalla, jolloin vastaavien kohtien kaarevuusprofiilit mitataan peräkkäin.
15
Esitetyllä laitejärjestelyllä mittaus tapahtuu seuraavasti. Molempien videokameroiden 1 kuvakentät skannaavat toisiinsa nähden risteäviä juovia 9. Molempien kameroiden 1 videosig-naaleihin V saadaan intensiteettipulssi aina kun kamerat 20 näkevät valojuovan 7 lasin pinnassa. Molempien kameroiden 1 jokaisen kenttäjuovan aikana esiintyy siis pulssi 8, jonka esiintymishetki määräytyy siitä, mistä CCD-kuvakentän pikse-listä pulssi on peräisin. Koska mittausjärjestelmän kalibroinnin jälkeen kameroiden keskinäinen sijainti on tiedossa, 25 jokaisen juovaparin aikana esiintyvien pulssien 8 keskinäisen sijainnin perusteella voidaan määrittää juovien 9 leikkauskohtaan osuvan valojuovan 7 pisteen 3-D koordinaatit. Kameroiden 1 CCD-kuvakenttien kuvapisteiden lukumäärästä riippuen voidaan määrittää jopa yli 200 pisteen 3-D koor-, . 30 dinaatit, jotka ilmaisevat pinnan kaarevuusprofiilin valo juovan 7 kohdalla.
Tämän lisäksi on mahdollista määrittää lasilevyn reunojen kaarevuusprofiili sijoittamalla ainakin kaksi kameraa 1 35 niin, että ne molemmat näkevät lasilevyn saman reunapinnan. Yllättäen on havaittu, että lasilevyn 5 pinnan valaisu valolähteellä 4 aikaansaa myös lasilevyn reunapinnan valais- 4 98757 tumista. Tätä lasin reunan "valaistumista" voidaan käyttää myös lasin koon mittaamiseen kun molemmat kamerat näkevät lasin vastakkaiset reunapinnat tai koko ääriviivan.
5 Keksintöä voidaan soveltaa taivutusuunin jälkeen tapahtuvassa taivutuksen jälkitarkastuksessa. Tällöin mitattua kaare-vuusprofiilia verrataan ennalta määrättyyn profiiliin ja kun vertailun tuloksena havaitaan tietyn rajan ylittävä poikkeama, lasilevy hylätään. Keksintöä voidaan soveltaa myös 10 taivutusprosessin säätämiseen siten, että tietyn rajan ylittävillä poikkeamilla suoritetaan taivutusprosessin säätöä poikkeamien kompensoimiseksi. Tässä sovellutuksessa tulee luonnollisesti seurata sekä taipuman hajontaa että keskiarvoa.
1 5
Keksintöä voidaan soveltaa myös niin, että mittaustulosta verrataan lasin todellisen CAD-tiedoston pisteisiin tai niistä muodostettuun pintaan.
20 Mittauksen suorittamisessa tarvittava kameroiden minimilukumäärä on kaksi. Käytännössä kameroita voi kuitenkin olla useampia, tyypillisesti esim. neljä kappaletta.
Keksintö ei ole rajoittunut edellä esitettyyn suori-25 tusesimerkkiin. Esimerkiksi lasin pinnalla olevan valojuovan 7 ei tarvitse olla jatkuva, vaan se voi muodostua useista pisteistä tai yhdestä liikkuvasta pisteestä. Valon lähteenä 4 voi olla loisteputki tai laser, jolla voidaan tuottaa tarvittava aallonpituus. Valo voidaan tuoda valolähteestä 30 kohteeseen myös valokaapelilla. Tässä yhteydessä käytetty termin "valo" on ymmärrettävä laajasti niin, että siihen kuuluu näkyvän valon ulkopuolella olevat sähkömagneettisen säteilyn aallonpituudet, erityisesti UV-alueella oleva 254 nm. Myös monet muut yksityiskohdat voivat vaihdella 35 seuraavien patenttivaatimusten puitteissa.
Claims (12)
1. Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi, tunnettu siitä, että mittaus tehdään sinänsä 5 tunnetusti kameroilla (1), jotka on asetettu mielivaltaiseen mutta kiinteänä pysyvään kulmaan toisiinsa nähden ja joilla on yhteinen kuvautuva kenttä mitattavan pinnan alueella, ja että lasin pinnalla oleva tinakalvo tehdään kameroille näkyväksi kohdistamalla lasin pintaan sopivan aallonpituuden 10 omaavaa valoa.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnet-t u siitä, että lasin pintaan kohdistetaan valojuova (7) tai useita valopisteitä mitattavan profiilin kohdalle. 15
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valolla on suuri intensiteetti aallonpituudella 254 ± 3 nm.
4. Jonkin patenttivaatimuksen 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että lasin pinnalla olevaa valojuovaa (7) pitkin määritetään yli 200 pisteen 3-D koordinaatit, jotka vastaavat pinnan kaarevuusprofiilia valojuovan (7) kohdalla. 25
5. Jonkin patenttivaatimuksen 1-4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että lasin pintaan kohdistetaan useita valojuovia (7) tai valojuovaa (7) siirretään pitkin pintaa niin, että kaarevuusprofiili saadaan mitatuksi useis- , ·· 30 ta eri kohdista.
6. Jonkin patenttivaatimuksen 1-5 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitattua kaarevuusprofiilia verrataan ennalta määrättyyn profiiliin ja kun vertailun 35 tuloksena havaitaan tietyn rajan ylittävä poikkeama, lasilevy hylätään. 98757
7. Jonkin patenttivaatimuksen 1-6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitattua kaarevuusprofiilia verrataan ennalta määrättyyn profiiliin ja kun vertailun tuloksena havaitaan tietyn rajan ylittäviä poikkeamia, 5 taivutusprosessia säädetään poikkeamien kompensoimiseksi.
8. Jonkin patenttivaatimuksen 1-7 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ainakin kaksi kameraa (1) on sijoitettu niin, että ne molemmat näkevät lasilevyn saman 10 reunapinnan ja/tai kaksi vastakkaista reunapintaa.
9. Jonkin patenttivaatimuksen 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valo tuodaan valolähteestä kohteeseen valokaapelilla. 15
10. Jonkin patenttivaatimuksen 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että valolähteenä käytetään laservaloa .
11. Patenttivaatimuksen 8 mukainen menetelmä, tunnet- t u siitä, että lasin reunan valaistumista käytetään lasin koon mittaamiseen.
12. Jonkin patenttivaatimuksen 1-11 mukainen menetelmä, 25 tunnettu siitä, että mittaustulosta verrataan lasin todellisen CAD-tiedoston pisteisiin tai niistä muodostettuun pintaan. 98757
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI952638A FI98757C (fi) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi |
DE69614452T DE69614452T2 (de) | 1995-05-31 | 1996-05-06 | Verfahren zum Messen des Verbiegungsgrades einer gebogenen Glasscheibe |
EP96201243A EP0747664B1 (en) | 1995-05-31 | 1996-05-06 | Method for measuring the degree of bending in a bent glass sheet |
JP16114896A JP3863221B2 (ja) | 1995-05-31 | 1996-05-31 | 曲げ板ガラスの曲げ率測定方法 |
US08/655,856 US5680217A (en) | 1995-05-31 | 1996-05-31 | Method for measuring the degree of bending in a bent glass sheet |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI952638A FI98757C (fi) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi |
FI952638 | 1995-05-31 |
Publications (4)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI952638A0 FI952638A0 (fi) | 1995-05-31 |
FI952638A FI952638A (fi) | 1996-12-01 |
FI98757B FI98757B (fi) | 1997-04-30 |
FI98757C true FI98757C (fi) | 1997-08-11 |
Family
ID=8543504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI952638A FI98757C (fi) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5680217A (fi) |
EP (1) | EP0747664B1 (fi) |
JP (1) | JP3863221B2 (fi) |
DE (1) | DE69614452T2 (fi) |
FI (1) | FI98757C (fi) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7414223B2 (en) | 2003-03-12 | 2008-08-19 | Tamglass Ltd. Oy | Method and apparatus for monitoring safety glass production or controlling a treatment process |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI118238B (fi) * | 2004-11-30 | 2007-08-31 | Mapvision Ltd Oy | Menetelmä ja järjestelmä kappaleen muodon mittaamiseksi optisesti |
JP4626982B2 (ja) * | 2005-02-10 | 2011-02-09 | セントラル硝子株式会社 | ガラス板の端面の欠陥検出装置および検出方法 |
DE102005021654A1 (de) * | 2005-05-06 | 2006-11-09 | Laser 2000 Gmbh | Verfahren und Anordnung zum Aufbringen einer sichtbaren Kennzeichnung auf transparente Substrate |
FI123049B (fi) * | 2007-09-03 | 2012-10-15 | Mapvision Ltd Oy | Tallentava konenäköjärjestelmä |
EP2288902B1 (de) * | 2008-06-05 | 2013-05-22 | Bohle AG | Vorrichtung zur bestimmung der elementbelegung auf einer glasoberfläche mittels fluoreszenz |
US7920257B2 (en) * | 2008-08-27 | 2011-04-05 | Corning Incorporated | Systems and methods for determining the shape of glass sheets |
US7710558B2 (en) * | 2008-09-11 | 2010-05-04 | Litesentry Corporation | Automated online measurement of glass part geometry |
TWI377343B (en) * | 2008-11-11 | 2012-11-21 | Ind Tech Res Inst | Clip for detecting bending forces and electrical characteristics |
US9990004B2 (en) * | 2013-04-02 | 2018-06-05 | Samsung Dispaly Co., Ltd. | Optical detection of bending motions of a flexible display |
US10526232B2 (en) | 2013-05-30 | 2020-01-07 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Microwave heating glass bending process |
US20210304396A1 (en) * | 2018-07-24 | 2021-09-30 | Glasstech, Inc. | System and method for measuring a surface in contoured glass sheets |
EP3786576A1 (de) * | 2019-08-26 | 2021-03-03 | Saint-Gobain Glass France | Verfahren und vorrichtung zur messung der geometrie einer gekrümmten floatglas-scheibe mittels fluoreszenzstrahlung nach laseranregung |
CN112782197A (zh) * | 2021-01-06 | 2021-05-11 | 蚌埠凯盛工程技术有限公司 | 退火窑炸板在线监测装置 |
WO2023052064A1 (de) | 2021-09-30 | 2023-04-06 | Saint-Gobain Glass France | Verfahren und vorrichtung zur messung der geometrie einer gekrümmten glas-scheibe |
US11867630B1 (en) | 2022-08-09 | 2024-01-09 | Glasstech, Inc. | Fixture and method for optical alignment in a system for measuring a surface in contoured glass sheets |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI74556C (fi) * | 1986-04-11 | 1988-02-08 | Valtion Teknillinen | Foerfarande foer tredimensionell oevervakning av ett maolutrymme. |
FI89583C (fi) * | 1991-10-22 | 1994-07-06 | Tamglass Eng Oy | Foerfarande och anordning foer maetning av boejningsgraden hos en glasskiva |
DE4218219C2 (de) * | 1992-06-03 | 1998-05-07 | Geyer Medizin Und Fertigungste | Vorrichtung zum berührungslosen Vermessen eines schlecht zugänglichen, dreidimensionalen medizinischen oder zahntechnischen Objektes |
FI92816C (fi) * | 1993-04-23 | 1995-01-10 | Tamglass Eng Oy | Menetelmä ja uunilaitteisto rengasmuotilla kannatetun lasilevyn taivuttamiseksi ja karkaisemiseksi |
-
1995
- 1995-05-31 FI FI952638A patent/FI98757C/fi active IP Right Grant
-
1996
- 1996-05-06 DE DE69614452T patent/DE69614452T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-05-06 EP EP96201243A patent/EP0747664B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-05-31 US US08/655,856 patent/US5680217A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-05-31 JP JP16114896A patent/JP3863221B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7414223B2 (en) | 2003-03-12 | 2008-08-19 | Tamglass Ltd. Oy | Method and apparatus for monitoring safety glass production or controlling a treatment process |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3863221B2 (ja) | 2006-12-27 |
EP0747664B1 (en) | 2001-08-16 |
US5680217A (en) | 1997-10-21 |
JPH08334319A (ja) | 1996-12-17 |
EP0747664A2 (en) | 1996-12-11 |
DE69614452T2 (de) | 2002-04-11 |
DE69614452D1 (de) | 2001-09-20 |
FI98757B (fi) | 1997-04-30 |
EP0747664A3 (en) | 1997-07-30 |
FI952638A0 (fi) | 1995-05-31 |
FI952638A (fi) | 1996-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI98757C (fi) | Menetelmä taivutetun lasilevyn taipumisasteen mittaamiseksi | |
CN102023164B (zh) | 用于检测透明平板的局部缺陷的装置和方法 | |
FI94551B (fi) | Menetelmä ja laite liikkuvan työkappaleen pintaprofiilin tarkkailemiseksi | |
RU2763417C2 (ru) | Система и связанный с ней способ обнаружения мелких дефектов на/в листе стекла на технологической линии | |
US7345698B2 (en) | Optical system for imaging distortions in moving reflective sheets | |
CN102680496B (zh) | 异物检测装置及方法 | |
RU2762130C2 (ru) | Система и связанный способ измерения оптических характеристик листа стекла на технологической линии | |
ATE297007T1 (de) | Vorrichtung und verfahren für eine optische oberflächenkonturmessung | |
JP2004184397A (ja) | 帯状体の形状不良検査方法およびその装置 | |
EP0250089B1 (en) | Method and apparatus for dimensional measurement of an object | |
CN113196006B (zh) | 无接触的厚度测量 | |
US5048965A (en) | Three-dimensional imaging technique with occlusion avoidance | |
KR20120065948A (ko) | 표면 형상의 평가 방법 및 표면 형상의 평가 장치 | |
EP0567916A1 (en) | Inspection of transparent containers | |
CN103189714A (zh) | 用于测量镜子形状或镜表面形状的设备和方法 | |
CN112672017B (zh) | 测试结构件、ToF装置以及镜头脏污检测方法 | |
JP3322606B2 (ja) | 板幅・蛇行検出方法及び装置 | |
KR102682167B1 (ko) | 담배 가공 산업의 로드 형상 제품을 검사하기 위한 장치 및 방법 | |
EP1676238B1 (en) | A method for measuring dimensions by means of a digital camera | |
TWI795552B (zh) | 測量方法以及測量裝置 | |
KR100953202B1 (ko) | 유리기판 품질 검사장치의 조명부 광원 조절 구조 | |
ES2398665T3 (es) | Procedimiento y dispositivo para la determinación en línea de la topografía micrométrica de productos en movimiento | |
JP2913903B2 (ja) | 光学的形状測定方法 | |
JP3222595B2 (ja) | ガラスファイバの長さ測定方法及び同測定装置 | |
CN117405038A (zh) | 一种热轧带钢边浪的三维检测装置及方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FG | Patent granted |
Owner name: TAMGLASS ENGINEERING OY |
|
BB | Publication of examined application |