FI97647C - Menetelmä ja laitteisto alkuaineen pitoisuuden määrittämiseksi - Google Patents
Menetelmä ja laitteisto alkuaineen pitoisuuden määrittämiseksi Download PDFInfo
- Publication number
- FI97647C FI97647C FI945364A FI945364A FI97647C FI 97647 C FI97647 C FI 97647C FI 945364 A FI945364 A FI 945364A FI 945364 A FI945364 A FI 945364A FI 97647 C FI97647 C FI 97647C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- sample mass
- radiation
- content
- detector
- correction coefficient
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 66
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 33
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 32
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 30
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 4
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 2
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 2
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 2
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 2
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 2
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004568 cement Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000005065 mining Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 description 1
- 238000000611 regression analysis Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/12—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a flowing fluid or a flowing granular solid
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Networks Using Active Elements (AREA)
- Bipolar Transistors (AREA)
Description
97647
Menetelmä ja laitteisto alkuaineen pitoisuuden määrittämiseksi Tämän keksinnön kohteena on menetelmä alkuaineen 5 pitoisuuden määrittämiseksi virtaavasta näytemassasta röntgenfluoresenssia hyväksikäyttäen, jossa menetelmässä säteilytetään näytemassaa röntgen- tai gammasäteilyllä, ilmaistaan näytemassan emittoima säteily, 10 määritetään näytemassan emittoiman säteilyn ener- giadispersiivinen säteilyspektri, ja määritetään alkuaineen pitoisuus mitatusta sätei-lyspektristä tälle alkuaineelle karakteristisen säteilyspektri -ikkunan intensiteetin perusteella.
15 Röntgenfluoresenssia hyväksikäyttävässä mittalait- teistossa ilmaisimen havaitsemista fotoneista muodostuu energiadispersiivinen säteilyspektri (intensiteetti) aallonpituuden tai energian funktiona, josta valitaan elektroniikan ja/tai ohjelmiston avulla kutakin alkuainetta 20 edustavat jaksot, joita kutsutaan energiaikkunoiksi eli kanaviksi. Kanaviin kerättyjä pulsseja (intensiteettejä) käytetään analyysilaskennassa. Spektristä valitaan myös useita eri energia-alueella olevia nk. taustakanavia eli — sirontakanavia, joiden avulla saadaan tietoa mitattavan 25 massan kokonaismäärästä ja etäisyydestä ilmaisimiin nähden.
Röntgenfluoresenssiin pohjautuvia analyysimenetelmiä voidaan soveltaa teollisuusprosessissa virtaavan näytemassan alkuainepitoisuuksien määrittämiseen. Menetelmän 30 avulla voidaan mitataan alkuaineita suoraan massavirrasta, jonka määrä alustalla voi vaihdella. Tyypillinen sovellus on murskatun malmin alkuaineiden mittaus suoraan kuljettimen yläpuolelta. Erilaisilla mineraalirikastamoilla, louhoksilla, sementtiteollisuudessa ja muuallakin kemianteol-35 lisuudessa on tarvetta juuri tällaiseen alkuaineiden mit- 2 97647 taamiseen suoraan prosessivirrasta. Tavoitteena on tällöin yleensä suorittaa mittaus sellaisella tarkkuudella ja nopeudella, että prosessia voidaan saadun mittaustuloksen perusteella ohjata ja säätää reaaliaikaisesti.
5 Röntgenf luoresenssiin perustuvat alkuaineanalysaat- torit ovat laajassa käytössä laboratorioissa. Hienonnetun näytteen mittaamiseen käytetään yhä enenevässä määrin myös prosessianalysaattoreita, joilla ei kuitenkaan voida mitata materiaalia, jonka raekoko on tyypillisesti suurempi 10 kuin 1 mm.
Suoraan hihnan päältä tai hihnan läpi massavirrasta alkuaineita mittaavia, röntgenfluoresenssiin perustuvia laitteita ja menetelmiä on myös nykyisin käytössä. Esimerkiksi Ima Engineering Ltd. Oy, Espoo, Suomi, valmistaa ja 15 myy Beltcon 100 ja Beltcon 200 analysaattoreita ylläkuvattuihin käyttötarkoituksiin. Näiden molempien laitteiden ongelmana on erityisesti mittaustuloksen epätarkkuus vaih-televissa ympäristöolosuhteissa. Erityisesti kevyiden alkuaineiden, kuten kalsiumin mittaaminen tällaisella kiin-20 teästi asennetulla mittalaitteella on osoittautunut ongel malliseksi, koska karakteristisen röntgensäteilyn intensiteetti vaimenee etäisyyden neliöön verrannollisena. Täten mittausetäisyyden tulisi olla mahdollisimman pieni mitattaessa kevyitä alkuaineita, kuten Ca, K, Si ja Ai.
25 Esillä olevan keksinnön tavoitteena on mitata ja analysoida murskatun ja/tai hienonnetun malmin alkuainepitoisuuksia röntgenfluoresenssiperiaatteella reaaliajassa suoraan kuljettimen päältä tarkasti siten, että prosessin reaaliaikainen säätö alkuainepitoisuuksien perusteella on 30 mahdollista.
Keksinnön tavoitteena on kompensoida massan ja mittalaitteen etäisyyden sekä mittausympäristön olosuhteiden vaihtelut automaattisesti.
Keksinnön tavoitteena on myös vakiinnuttaa mitta-35 laitteen suorituskyky sekä hetkellisiä että pitkäaikaisia
II
3 97647 vaihteluita vastaan.
Keksinnön tavoitteena on mitata myös kevyitä alkuaineita luotettavasti ja tarkasti.
Keksinnön tavoitteena on myös esittää menetelmä ja 5 laitteisto, jonka avulla voidaan mitata ja analysoida alkuainepitoisuudet röntgenfluoresenssiperiaatteella massa-virrasta, joka voi olla kiinteää ainetta, lietettä tai nestemäistä ainetta.
Edellä mainittujen ongelmien ratkaisemiseksi ja 10 lueteltujen tavoitteiden saavuttamiseksi keksinnön mukai nen menetelmä käsittää lisävaiheet, joissa mitataan ilman lämpötila näytemassan ja säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien välisessä ilmatilassa, määritetään mitatusta ilman lämpötilasta riippuvai-15 nen ensimmäinen korjauskerroin ja korjataan alkuaineen määritettyä pitoisuutta mainitulla ensimmäisellä korjauskertoimella näytemassan ja säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien välisessä ilmassa tapahtuneen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompensoimi-20 seksi.
Edelleen on havaittu, että myös ilman kosteus, ilmanpaine, pölypitoisuus ja jonkin tietyn osakaasupitoisuu-den muutokset vaikuttavat mittaustuloksen tarkkuuteen. Keksinnön mukaisesti myös nämä suureet voidaan tarvittaes-25 sa mitata ja määrittää niitä vastaavat korjauskertoimet, joiden avulla mittaustulosta edelleen korjataan lämpötila-korjauksen lisäksi.
Jotta kyettäisiin kompensoimaan myös näytemassan ja ilmaisimen tai ilmaisimien välisen etäisyyden muutokset 30 aikaisempaa tarkemmin ja jotta toisaalta kyettäisiin yllä pitämään mahdollisimman pientä etäisyyttä näytemassan ja ilmaisimien välillä, keksinnön mukainen menetelmä käsittää lisävaiheen, jossa oleellisesti vakioidaan näytemassan ja säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien välinen etäisyys vir-35 taavan näytemassan pintaa tasaamalla ja/tai mittaamalla 4 97647 mainittu etäisyys ja asettelemalla säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien etäisyyttä näytemassasta mainitun mittaustuloksen perusteella.
Keksinnön mukaisen menetelmän ja laitteiston avulla 5 kyetään ottamaan huomioon lämpötilavaihtelut ja muut ympäristöolosuhteiden vaihtelut mittaustilassa. Tämä on osoittautunut erittäin merkittäväksi, koska kevyiden alkuaineiden intensiteetit vaimenevat eksponentiaalisesti lämpötilan ja pölypitoisuuden funktioina.
10 Vaikka keksinnön mukainen menetelmä ja laitteisto soveltuu erityisen hyvin murskatun ja hienonnetun malmin alkuaineiden nopeaan mittaamiseen suoraan kuljettimen päältä, menetelmää ja laitteistoa voidaan käyttää laajemminkin erilaisissa massateollisuuden sovelluksissa, joissa 15 näytteiden ottaminen on hankalaa, hidasta ja kallista, näytteiden osakomponentit ovat epähomogeenisia alkuainepitoisuuksiltaan ja massan määrä kuljettimella vaihtelee.
Seuraavassa keksinnön mukaista ja laitteistoa kuvataan yksityiskohtaisemmin viitaten oheiseen piirustukseen, 20 jossa kuvio 1 esittää kaaviokuvana mittalaitteiston me kaanista sijoittelua mitattavan massavirran suhteen, kuvio 2 esittää kaaviokuvan mittalaitteistosta ja . kompensointiin käytettävistä antureista, 25 kuvio 3 esittää kaaviokuvan etäisyyden vakiointi- järjestelyn ensimmäisestä suoritusmuodosta ja kuvio 4 esittää kaaviokuvan etäisyyden vakiointi-järjestelyn toisesta suoritusmuodosta.
Kuviossa 1 esitetty mittalaitteisto, jota on ylei-30 sesti merkitty viitenumerolla 3, on asennettu alustalla 2 olevan massan 1 välittömään läheisyyteen. Massa voi olla murskattua ja/tai hienonnettua mineraalia ja alusta 2 voi olla esimerkiksi hihnakuljetin. Tyypillisesti joko massa tai alusta ovat liikkeessä, jolloin on kyse massavirrasta. 35 Keksinnön mukaisen menetelmän ja laitteiston kannalta on 5 97647 myös mahdollista, että massan virtaus mittauksen ajaksi keskeytetään, mutta tällainen pysäyttäminen ei useinkaan tule kysymykseen pelkästään jo kuljettimellä olevien suurten massamäärien johdosta, eikä se myöskään ole keksinnön 5 mukaisen menetelmän ja laitteiston toiminnan kannalta tarpeellista .
Kuviossa 1 liikkeen suuntaa on merkitty suuntanuo-lella A. Massa 1 voi olla kiinteää ainetta, lietettä tai nestemäistä ainetta. Massan alkuainekoostumus voi vaihdelle» la suuresti. Myös mitattavan massavirran määrä voi vaihdella suuresti ja se voi sisältää partikkeleita, kuten lohkareita, joiden koko vaihtelee lohkareesta toiseen. Myös lohkareiden alkuainekoostumus voi vaihdella lohkareesta toiseen. Kun massan määrä alustalla voi vaihdella, 15 myös etäisyys D massan pinnasta mittalaitteeseen voi vaihdella.
Mittalaitteistoon 3 kuuluu yksi tai useampia röntgen- tai gammasäteilylähteitä 4 ja yksi tai useampia sä-teilynilmaisimia 5, jotka on sijoitettu edulliselle etäi-20 syydelle D mitattavasta massavirrasta. Säteilylähde voi olla esimerkiksi röntgenputki tai radioaktiivinen isotoop-pisäteilijä. Säteilynilmaisin 5 voi puolestaan olla tuike-aine, verrannollisuuslaskuri tai puolijohdeilmaisin. Jos ilmaisimia on useampia, voi jokin niistä olla herkempi 25 kevyiden ja jokin toinen raskaiden alkuaineiden karakteristiselle röntgensäteilylle. Useampia säteilylähteitä ja/tai ilmaisimia käytetään, kun yhdellä säteilylähteellä ja/tai ilmaisimella ei voida virittää ja havaita riittävän tehokkaasti kaikkia mitattavia alkuaineita tai, kun mita-30 taan karkeita massarakeita, jolloin mittaus ja säteilyttä-' ‘ " minen useammasta suunnasta antaa luotettavamman mittaustu loksen.
Mittalaitteistoon 3 kuuluu myös säteilyn havaitsemiseen tarvittava elektroniikka 23, tietokone ja ohjelmis-35 tot 27 tulosten laskemiseksi, sisäisen lämpötilan mitta- 6 97647 anturi 6a ja ilmastointilaite 6b sisälämpötilan vakioimi-seksi, tarvittaessa pursotuskaasun syöttölaite 7a ja varastosäiliö 7b mittausta häiritsevän kaasukomponentin huuhtelemiseksi, kosteusanturi 8 mittalaitteiston sisällä 5 olevan ilman kosteuden mittaamiseksi, turva-, mittaus- ja ohjauselektroniikka 24, mekaaninen runko ja tiivis kotelo 25, säteilyä helposti läpäisevät ikkunat 26 säteilylähteiden 4 ja ilmaisimien 5 edessä joko runkoon, koteloon tai kyseessä olevaan komponenttiin kiinnitettyinä. Mittalait-10 teiston 3 sisäiset anturit ja toimilaitteet on liitetty sähköisesti turva-, mittaus- ja ohjauselektroniikkaan 24, joka puolestaan on liitetty sähköisesti ja ohjelmallisesti tietokoneeseen 27. Säteilyn havaitsemiseen käytetty elektroniikka 23 liittyy sähköisesti ja ohjelmallisesti tieto-15 koneeseen 27.
Keksinnön mukaisesti mittauslaitteistoon kuuluu myös välineet ulkoisten olosuhteiden mittaamiseksi näyte-massan 1 ja ilmaisimien 5 välisessä ilmatilassa. Nämä mittarit ovat ulkoisen lämpötilan mitta-anturi 9, ulkoisen 20 ilmanpaineen mitta-anturi 10, ulkoisen kosteuden mitta-anturi 11, ulkoisen pölypitoisuuden mitta-anturi 12 ja ulkoisen häiritsevän osakaasun komponentin mitta-anturi 13. Edellä mainitut mitta-anturit on sijoitettu mittauspisteen välittömään läheisyyteen siten, että ne antavat 25 oikean kuvan mittauspisteessä vallitsevista olosuhteista, jolloin niiden antamaa mittaustietoa voidaan käyttää näytteistä mitattujen karakterististen röntgensäteilyintensi-teettien korjaamiseen laskennallisia kaavoja käyttäen. Ulkoiset mitta-anturit 9-13 on liitetty yhden tai useamman 30 signaalien käsittely-yksikön 28 kautta tietokoneeseen 27.
Keksinnön mukaisesti mitattuja ulkoisia olosuhteita kuvaavia mittaussuureita, jotka kertovat ympäristöolosuhteista mitattavan näytteen ja mittalaitteiston 3 välisessä tilassa, käytetään erilaisten korjauskertoimien laskemi-35 seen, joiden avulla kyetään kompensoimaan näiden ulkoisten 7 97647 suureiden vaikutus määritettyihin röntgensäteilyintensi-teetteihin eri alkuaineille. Lähtökohtana on tällöin, että mitattavan näytteen 1 ja ilmaisinvälineiden 5 välinen ilma vaimentaa näytteen emittoimaa säteilyä riippuen niistä 5 olosuhteista, joissa tämä ilma on. Käytännössä on havaittu, että näillä ympäristötekijöillä ja erityisesti ilman lämpötilalla on kevyitä alkuaineita mitattaessa merkittävä vaikutus mittaustulokseen. Kevyiden alkuaineiden yhteydessä mittaustuloksena saatavat intensiteetit jäävät 10 hyvin alhaisiksi, jolloin absoluuttitasoltaan vähäinenkin vaimeneminen saattaa vääristää mittaustulosta merkittävästi .
Oleellisin keksinnön mukainen korjaus on lämpötila-korjaus. Lämpötilakorjauksen yhteydessä lasketaan ensin 15 lämpötilasta riippuvainen vaimennuskerroin μ1 kaavalla
Mi = KE/T, missä KE on ainekohtaisesti laskettu vakio ja T on lämpötila. Lämpötilakorjattu intensiteetti IE voidaan tällöin laskea kaavalla 20 IE= Ne * βμιΧ, missä Ne on normioitu intensiteetti ja x on etäisyys (cm).
Jos ilman tiheyden ja toisaalta mittausetäisyyden oletetaan pysyvän vakioina ja ainoastaan ilman lämpötilan . muuttuvan arvosta 20 °C arvoon 30 °C, muuttuu intensiteet- 25 ti 4,3 %. Tällainen 10 asteen lämpötilan muutos on hyvinkin pieni kun ajatellaan kaivosolosuhteita ja toisaalta mittaustuloksen muutos 4,3 % on jo erittäin merkittävä.
Edellä kuvatun kaltaiset yhtälöt voidaan johtaa myös muille kompensoinnissa mahdollisesti huomioon otetta-30 ville suureille, jotka vaikuttavat röntgensäteilyn vaimenemiseen näytemassan ja säteilynilmaisimen välisessä ilmassa. Käytännössä näiden mitattujen suureiden vaikutus vaimenemiseen voidaan määrittää korjauskertoimena, joita lasketaan lohkossa 28 käytettäväksi saatujen intensiteet-35 timittaustulosten korjaamiseen. Kuten edellä on jo todet- 8 97647 tu, kaikkein merkittävimmin mittaustulokseen vaikuttaa ilman lämpötila. Seuraavaksi merkittävimpinä ovat kosteus ja ilmanpaine. Luonnollisesti myös oleellinen pölypitoi-suus saattaa vaikuttaa ilmatien vaimennukseen erittäinkin 5 merkittävästi.
Ilmatien vaimennuksen määrään vaikuttaa luonnollisesti merkittävästi myös se etäisyys, jolla ilmaisin on näytteestä. Tämän johdosta pyritään kevyitä alkuaineita mitattaessa minimoimaan mainittu etäisyys, jota kuvioissa 10 1-4 on merkitty viitteellä D. Jotta tämä etäisyys saatai siin mahdollisimman pieneksi ja myös mahdollisimman vakioksi on kuvioissa 3 ja 4 esitetty kaksi erilaista keksinnön suoritusmuotoa, joiden avulla kyseinen etäisyys saadaan oleellisesti vakioitua.
15 Kuviossa 3 on esitetty ratkaisu, jossa näytemassan 1 pinta tasataan tasaimella 16 siten, että pinta saadaan vakioetäisyydelle mittalaitteistosta 3 . Tällainen tasaimen käyttö tulee erityisesti kysymykseen silloin, kun näyte-massa 1 on suhteellisen hienojakoista. Kovinkaan karkeiden 20 rakeiden tai jopa lohkareiden tapauksessa tasainta 16 ei voida soveltaa, koska tällöin näytemassan 1 kautta hihnaan 2 kohdistuvat voimat kasvaisivat kohtuuttoman suuriksi. Luonnollisesti tasaimen 16 käyttö edellyttää myös suhteel- , lisen tasaista näytemassavirtaa. Jos nimittäin näytemassa- 25 virran määrä ajallisesti vaihtelee suuresti, tarvitaan niin suuri tasausvaikutus, että se ei ole enää käytännössä toteutettavissa.
Kuviossa 4 onkin esitetty toinen ratkaisu mittaus-etäisyyden vakioimiseksi, joka tulee kysymykseen myös sil-30 loin, kun mitattava näytemassa on lohkareista tai karkeajakoista tai kun sen määrä ajallisesti vaihtelee suuresti. Tässä kuvion 4 mukaisessa ratkaisussa mitataan anturilla 15a näytemassan etäisyys mitta-anturista jonkin matkaa mittalaitteiston 3 etupuolella. Tämän mittaustiedon perus-35 teella mittalaitteiston 3 etäisyyttä kuljetushihnasta 2 9 97647 sitten asetellaan käyttäen hyväksi esimerkiksi hydrauli-sylinteriä 15b siten, että mittalaitteiston 3 etäisyys näytemassan 1 pinnasta pysyy mahdollisimman vakiona. Tässä yhteydessä tulee muistaa, että tavanomaisesti mittalait-5 teiston 3 mittauksen aikana suoritetaan koko energiadis-persiivisen säteilyspektrin mittaus ja tästä spektristä kyetään myös määrittämään taustasäteilyn perusteella se etäisyys, jolla mittalaitteisto on näytemassasta 1. Tämän mittauksen perusteella kyetään mittaustuloksia myös kor-10 jaamaan. Kevyiden alkuaineiden kyseessä ollen tämä korjaus ei kuitenkaan ole mahdollinen ellei itse mittausetäisyys ole niin pieni, että kyetään saamaan mielekäs mittaustulos eri vaimentavista tekijöistä huolimatta.
Luotettavan tuloksen saamiseksi massan liikkuessa 15 mittaustapahtuma on järjestettävä pieniin mittajaksoihin jaksotettuna, joista lasketaan esimerkiksi keskiarvotuloksia. Useasta suunnasta tehdyillä samanaikaisilla mittauksilla eli käyttäen useampia ilmaisimia, jotka mittaavat näytemassasta eri suunnalta tulevia säteilyjä, parannetaan 20 mittauksen tilastollista luotettavuutta samalla kun mitataan suurempi tilavuus näytteestä.
Kuten edellä todettiin, säteilyspektristä valitaan etsittyjen alkuaineiden karakterististen energiaikkunoiden lisäksi myös nk. taustakanavia, eli sirontakanavia. Itse 25 analyysilaskenta perustuu laskentakaavoihin, joissa on mukana kyseisen alkuaineen mitattu intensiteetti sekä si-rontaintensiteetit. Laskentakaava saadaan kalibrointimit-tausten avulla käyttämällä regressioanalyysissa tunnettujen näytteiden alkuaineiden ja sirontataustan mitattuja 30 intensiteettejä ja pitoisuuksia. Karkeita näytteitä mitattaessa havaitsimia voi olla useampia ja ne voivat olla sijoitettuina eri mittauskulmiin siten, että myös rakeisesta näytemassasta saadaan edustavat mittausintensitee-tit. Useampia säteilylähteitä voidaan käyttää myös samasta 35 syystä. Mitattaessa sekä kevyitä että raskaita alkuaineita 10 97647 voidaan käyttää useampaa säteilylähdettä tai yhtä säädettävää säteilylähdettä, josta saadaan siis useampia erilaisia viritysenergioita. Mittausmenetelmässä laitteen sisäiset lyhytkestoiset tai pitkäaikaiset muutokset kompensoi-5 daan vakioimalla varsinaisen mittalaitteiston sisäiset olosuhteet, kuten edellä on jo esitetty, ja mittaamalla ulkoinen ja/tai sisäinen referenssinäyte. Referenssimit-taus kompensoi sisäisen elektroniikan ryöminnän ja ulkopuolisen kosteuden ja pölyn vaikutuksen. Referenssimit-10 tauksen intensiteettiä verrataan alkuperäisiin kalibroinnin ajankohtana mitattuihin referenssi-intensiteetteihin ja näin saatua tietoa käytetään korjauskertoimien laskemiseen mitatuille intensiteeteille.
Edellä keksinnön mukaista menetelmää ja laitteistoa 15 on havainnollistettu joidenkin esimerkinomaisten suoritusmuotojen avulla ja on ymmärrettävää, että niihin voidaan tehdä joitakin muutoksia poikkeamatta kuitenkaan oheisten patenttivaatimusten määrittelemästä suojapiiristä.
li
Claims (14)
11 97647
1. Menetelmä alkuaineen pitoisuuden määrittämiseksi virtaavasta näytemassasta (1) röntgenfluoresenssia hyväk-5 sikäyttäen, jossa menetelmässä säteilytetään näytemassaa (1) röntgen- tai gammasäteilyllä, ilmaistaan näytemassan emittoima säteily, määritetään näytemassan emittoiman säteilyn ener-10 giadispersiivinen säteilyspektri, ja määritetään alkuaineen pitoisuus mitatusta sätei-lyspektristä tälle alkuaineelle karakteristisen säteilyspektri -ikkunan intensiteetin perusteella, tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää vaiheet, joissa 15 mitataan ilman lämpötila näytemassan (1) ja sätei lyn ilmaisimen tai ilmaisimien (5) välisessä ilmatilassa, määritetään mitatusta ilman lämpötilasta riippuvainen ensimmäinen korjauskerroin ja korjataan alkuaineen määritettyä pitoisuutta maini- 20 tulla ensimmäisellä korjauskertoimella näytemassan (1) ja säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien (5) välisessä ilmassa tapahtuneen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompensoimiseksi . : 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, 25 tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää vaiheet, joissa mitataan ilman kosteus näytemassan (1) ja säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien (5) välisessä ilmatilassa, määritetään mitatusta ilman kosteudesta riippuvai-30 nen toinen korjauskerroin ja korjataan alkuaineen määritettyä pitoisuutta mainitulla toisella korjauskertoimella näytemassan (1) ja säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien (5) välisessä ilmassa tapahtuneen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompen-35 soimiseksi. 12 97647
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää vaiheet, joissa mitataan ilmanpaine näytemassan (1) ja säteilyn 5 ilmaisimen tai ilmaisimien (5) välisessä ilmatilassa, määritetään mitatusta ilmanpaineesta riippuvainen kolmas korjauskerroin ja korjataan alkuaineen määritettyä pitoisuutta mainitulla kolmannella korjauskertoimella näytemassan ja sätei- 10 lyn ilmaisimen tai ilmaisimien välisessä ilmassa tapahtu neen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompensoimiseksi .
4. Patenttivaatimuksen 1, 2 tai 3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää vai- 15 heet, joissa mitataan pölypitoisuus näytemassan (1) ja säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien (5) välisessä ilmatilassa, määritetään mitatusta pölypitoisuudesta riippuvainen neljäs korjauskerroin ja 20 korjataan alkuaineen määritettyä pitoisuutta maini tulla neljännellä korjauskertoimella näytemassan ja säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien välisessä ilmassa tapahtuneen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompensoimisek-si.
5. Patenttivaatimuksen 1, 2, 3 tai 4 mukainen mene telmä, tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää vaiheet, joissa mitataan tietty osakaasupitoisuus näytemassan (1) ja säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien (5) välisessä ilma-; 30 tilassa, määritetään mitatusta osakaasupitoisuudesta riippuvainen viides korjauskerroin ja korjataan alkuaineen määritettyä pitoisuutta mainitulla viidennellä korjauskertoimella näytemassan ja sätei- 35 lyn ilmaisimen tai ilmaisimien välisessä ilmassa tapahtu- II 13 97647 neen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompensoimiseksi .
6. Jonkin patenttivaatimuksen 1-5 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää vai- 5 heen, jossa oleellisesti vakioidaan näytemassan (1) ja säteilyn ilmaisimen tai ilmaisimien (4) välinen etäisyys (D) vir-taavan näytemassan pintaa tasaamalla ja/tai mittaamalla mainittu etäisyys ja asettelemalla säteilyn ilmaisimen tai 10 ilmaisimien (5) etäisyyttä näytemassasta mainitun mittaus tuloksen perusteella.
7. Laitteisto alkuaineen pitoisuuden määrittämiseksi virtaavasta näytemassasta röntgenfluoresenssia hyväksikäyttäen, joka laitteisto käsittää 15 ainakin yhden röntgen- tai gammasäteilylähteen (4) näytemassan (1) säteilyttämiseksi, ilmaisinvälineet (5) näytemassan emittoiman säteilyn ilmaisemiseksi ja välineet (27) näytemassan emittoiman säteilyn ener-20 giadispersiivisen säteilyspektrin määrittämiseksi ja alku aineen pitoisuuden määrittämiseksi tästä säteilyspektristä tälle alkuaineelle karakteristisen säteilyspektri-ikkunan intensiteetin perusteella, tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää 25 välineet (9) ilman lämpötilan mittaamiseksi näyte- massan ja ilmaisinvälineiden (5) välisessä ilmatilassa, välineet (28) mitatusta ilman lämpötilasta riippuvaisen ensimmäisen korjauskertoimen määrittämiseksi ja välineet (27) alkuaineen määritetyn pitoisuuden ! 30 korjaamiseksi mainitulla ensimmäisellä korjauskertoimella näytemassan (1) ja ilmaisinvälineiden (5) välisessä ilmassa tapahtuneen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompensoimiseksi .
8. Patenttivaatimuksen 7 mukainen laitteisto, 35 tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää 14 97647 välineet (11) ilman kosteuden mittaamiseksi näyte-massan (1) ja ilmaisinvälineiden (5) välisessä ilmatilassa, välineet (28) mitatusta ilman kosteudesta riippu-5 vaisen toisen korjauskertoimen määrittämiseksi ja välineet (27) alkuaineen määritetyn pitoisuuden korjaamiseksi mainitulla toisella korjauskertoimella näy- temassan ja ilmaisinvälineiden välisessä ilmassa tapahtuneen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompensoimisek-10 si.
9. Patenttivaatimuksen 7 tai 8 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää välineet (10) ilmanpaineen mittaamiseksi näytemas-san (1) ja ilmaisinvälineiden välisessä ilmatilassa, 15 välineet (28) mitatusta ilmanpaineesta riippuvaisen kolmannen korjauskertoimen määrittämiseksi ja välineet (27) alkuaineen määritetyn pitoisuuden korjaamiseksi mainitulla kolmannella korjauskertoimella näytemassan ja ilmaisinvälineiden välisessä ilmassa tapah-20 tuneen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompensoimi seksi .
10. Patenttivaatimuksen 7, 8 tai 9 mukainen lait teisto, tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää välineet (12) pölypitoisuuden mittaamiseksi näyte-25 massan (1) ja ilmaisinvälineiden (5) välisessä ilmatilas sa , välineet (28) mitatusta pölypitoisuudesta riippuvaisen neljännen korjauskertoimen määrittämiseksi ja välineet (27) alkuaineen määritetyn pitoisuuden ( 30 korjaamiseksi mainitulla neljännellä korjauskertoimella näytemassan ja ilmaisinvälineiden välisessä ilmassa tapahtuneen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompensoimiseksi .
11. Patenttivaatimuksen 7, 8, 9 tai 10 mukainen 35 laitteisto, tunnettu siitä, että se lisäksi kä- II 15 97647 sittää välineet (13) tietyn osakaasupitoisuuden määrittämiseksi näytemassan ja ilmaisinvälineiden välisessä ilmatilassa, 5 välineet (28) mitatusta osakaasupitoisuudesta riip puvaisen viidennen korjauskertoimen määrittämiseksi ja välineet (27) alkuaineen määritetyn pitoisuuden korjaamiseksi mainitulla viidennellä korjauskertoimella näytemassan ja ilmaisinvälineiden välisessä ilmassa tapah- 10 tuneen karakteristisen säteilyn vaimenemisen kompensoimiseksi .
12. Jonkin patenttivaatimuksen 7-11 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että se lisäksi käsittää välineet näytemassan (1) ja ilmaisinvälineiden (5) 15 välisen etäisyyden (D) oleelliseksi vakioimiseksi.
13. Patenttivaatimuksen 12 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että välineet näytemassan ja ilmaisinvälineiden välisen etäisyyden (D) oleelliseksi vakioimiseksi käsittävät välineet (16) virtaavan näytemassan 20 pinnan tasaamiseksi.
14. Patenttivaatimuksen 12 tai 13 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että välineet näytemassan ja ilmaisinvälineiden välisen etäisyyden oleelliseksi vakioimiseksi käsittävät välineet (15a) näytemassan (1) ja 25 ilmaisinvälineiden välisen etäisyyden mittaamiseksi ja välineet (15b) ilmaisinvälineiden etäisyyden (D) asettele-miseksi näytemassasta (1) mainitun mittaustuloksen perusteella . 30 16 97647
Priority Applications (11)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI945364A FI97647C (fi) | 1994-11-14 | 1994-11-14 | Menetelmä ja laitteisto alkuaineen pitoisuuden määrittämiseksi |
| KR1019970703202A KR100385375B1 (ko) | 1994-11-14 | 1995-11-13 | 원소함량을결정하기위한방법및장치 |
| EP95937904A EP0792453B1 (en) | 1994-11-14 | 1995-11-13 | Method and equipment for determining the content of an element |
| CA002204848A CA2204848C (en) | 1994-11-14 | 1995-11-13 | Method and equipment for determining the content of an element |
| AU38730/95A AU693950B2 (en) | 1994-11-14 | 1995-11-13 | Method and equipment for determining the content of an element |
| DE69530858T DE69530858T2 (de) | 1994-11-14 | 1995-11-13 | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung des gehalts eines elements |
| ES95937904T ES2200007T3 (es) | 1994-11-14 | 1995-11-13 | Procedimiento y dispositivo para determinar el contenido de un elemento. |
| AT95937904T ATE241136T1 (de) | 1994-11-14 | 1995-11-13 | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung des gehalts eines elements |
| PCT/FI1995/000621 WO1996015442A1 (en) | 1994-11-14 | 1995-11-13 | Method and equipment for determining the content of an element |
| CN95196218A CN1098457C (zh) | 1994-11-14 | 1995-11-13 | 确定元素含量的方法与设备 |
| US08/817,883 US5721759A (en) | 1994-11-14 | 1995-11-13 | Method and equipment for determining the content of an element |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI945364 | 1994-11-14 | ||
| FI945364A FI97647C (fi) | 1994-11-14 | 1994-11-14 | Menetelmä ja laitteisto alkuaineen pitoisuuden määrittämiseksi |
Publications (4)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI945364A0 FI945364A0 (fi) | 1994-11-14 |
| FI945364A FI945364A (fi) | 1996-05-15 |
| FI97647B FI97647B (fi) | 1996-10-15 |
| FI97647C true FI97647C (fi) | 1997-01-27 |
Family
ID=8541801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI945364A FI97647C (fi) | 1994-11-14 | 1994-11-14 | Menetelmä ja laitteisto alkuaineen pitoisuuden määrittämiseksi |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5721759A (fi) |
| EP (1) | EP0792453B1 (fi) |
| KR (1) | KR100385375B1 (fi) |
| CN (1) | CN1098457C (fi) |
| AT (1) | ATE241136T1 (fi) |
| AU (1) | AU693950B2 (fi) |
| CA (1) | CA2204848C (fi) |
| DE (1) | DE69530858T2 (fi) |
| ES (1) | ES2200007T3 (fi) |
| FI (1) | FI97647C (fi) |
| WO (1) | WO1996015442A1 (fi) |
Families Citing this family (45)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19710420C2 (de) * | 1997-03-13 | 2001-07-12 | Helmut Fischer Gmbh & Co | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Dicken dünner Schichten mittels Röntgenfluoreszenz |
| DE19810306A1 (de) * | 1998-03-10 | 1999-10-14 | Aumund Foerdererbau | Verfahren zur kontinuierlichen Bestimmung der Zusammensetzung eines Materialstromes und dafür geeignete Vorrichtung |
| JP3062685B2 (ja) * | 1998-07-23 | 2000-07-12 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 蛍光ｘ線分析計 |
| FR2785052B1 (fr) * | 1998-10-27 | 2000-12-01 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de determination de la concentration d'une substance melangee a un fluorophore et procede de mise en oeuvre de ce dispositif |
| JP2002529699A (ja) | 1998-10-29 | 2002-09-10 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | Ｘ線光学基準チャネルを有するｘ線回折装置 |
| AUPQ109499A0 (en) * | 1999-06-21 | 1999-07-15 | Adelaide Brighton Management Limited | Sample presentation for x-ray diffraction |
| EP1232388A2 (en) | 1999-11-19 | 2002-08-21 | Battelle Memorial Institute | An apparatus for machine fluid analysis |
| JP2002031522A (ja) * | 2000-07-18 | 2002-01-31 | Seiko Instruments Inc | 蛍光ｘ線膜厚計 |
| US6662091B2 (en) * | 2001-06-29 | 2003-12-09 | Battelle Memorial Institute | Diagnostics/prognostics using wireless links |
| US6668039B2 (en) | 2002-01-07 | 2003-12-23 | Battelle Memorial Institute | Compact X-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis |
| DE10230990A1 (de) * | 2002-07-10 | 2004-02-05 | Elisabeth Katz | Vorrichtung zur Durchführung einer Online-Elementanalyse |
| US7064337B2 (en) * | 2002-11-19 | 2006-06-20 | The Regents Of The University Of California | Radiation detection system for portable gamma-ray spectroscopy |
| US6859517B2 (en) * | 2003-04-22 | 2005-02-22 | Battelle Memorial Institute | Dual x-ray fluorescence spectrometer and method for fluid analysis |
| DE102004012704B4 (de) * | 2004-03-16 | 2008-01-03 | Katz, Elisabeth | Vorrichtung zur online-Analyse und Verwendung einer solchen Vorrichtung |
| DE102004019030A1 (de) * | 2004-04-17 | 2005-11-03 | Katz, Elisabeth | Vorrichtung für die Elementanalyse |
| US7847260B2 (en) | 2005-02-04 | 2010-12-07 | Dan Inbar | Nuclear threat detection |
| US7820977B2 (en) * | 2005-02-04 | 2010-10-26 | Steve Beer | Methods and apparatus for improved gamma spectra generation |
| US8173970B2 (en) * | 2005-02-04 | 2012-05-08 | Dan Inbar | Detection of nuclear materials |
| DE102005020567A1 (de) * | 2005-04-30 | 2006-11-09 | Katz, Elisabeth | Verfahren und Vorrichtung zur Online-Bestimmung des Aschegehalts einer auf einem Födermittel geförderten Substanz und Vorrichtung zur Durchführung einer Online-Analyse |
| JP4247559B2 (ja) * | 2005-06-07 | 2009-04-02 | 株式会社リガク | 蛍光ｘ線分析装置およびそれに用いるプログラム |
| US7409037B2 (en) * | 2006-05-05 | 2008-08-05 | Oxford Instruments Analytical Oy | X-ray fluorescence analyzer having means for producing lowered pressure, and an X-ray fluorescence measurement method using lowered pressure |
| EP2096431A1 (en) * | 2008-02-27 | 2009-09-02 | Oxford Instruments Analytical Oy | Portable X-ray fluorescence analyzer |
| CN102257111B (zh) | 2008-12-25 | 2014-06-11 | 陶氏环球技术有限责任公司 | 具有宽pH稳定性的表面活性剂组合物 |
| US20120236989A1 (en) * | 2011-03-16 | 2012-09-20 | Peter John Hardman | Portable XRF analyzer for low atomic number elements |
| DE102012021709B4 (de) * | 2011-11-22 | 2014-09-11 | Technische Universität Dresden | Verfahren zur qualitativen und quantitativen Bestimmung von Zuschlagstoffen in Papier und papierähnlichen Materialien mit Zellulosematerial |
| JP6026936B2 (ja) * | 2013-03-28 | 2016-11-16 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 異物検出装置 |
| US20140301531A1 (en) * | 2013-04-08 | 2014-10-09 | James L. Failla, JR. | Protective shield for x-ray fluorescence (xrf) system |
| US20140301530A1 (en) * | 2013-04-08 | 2014-10-09 | James L. Failla, JR. | Protective shield for x-ray fluorescence (xrf) system |
| CN103278485A (zh) * | 2013-05-16 | 2013-09-04 | 清华大学 | 一种固体物料中硫成分的快速检测方法及其检测装置 |
| JP6325338B2 (ja) * | 2014-05-20 | 2018-05-16 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置及び校正方法 |
| CN105092624B (zh) * | 2014-05-20 | 2019-08-27 | 株式会社堀场制作所 | 分析装置和校正方法 |
| JP6412340B2 (ja) * | 2014-05-20 | 2018-10-24 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置及び校正方法 |
| JP6528279B2 (ja) * | 2015-09-25 | 2019-06-12 | 清水建設株式会社 | コンクリート中の微量元素の分析方法および分析装置 |
| EP3249394B1 (en) * | 2016-05-26 | 2018-09-12 | Malvern Panalytical B.V. | X-ray analysis of drilling fluid |
| JP6423048B1 (ja) * | 2017-06-16 | 2018-11-14 | マルバーン パナリティカル ビー ヴィ | 掘削流体のｘ線分析 |
| WO2019019042A1 (en) * | 2017-07-26 | 2019-01-31 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | INTEGRATED X-RAY SOURCE |
| CN110082816B (zh) * | 2018-01-25 | 2022-12-09 | 中国辐射防护研究院 | 一种基于poe的水下伽马谱仪的温度补偿装置和方法 |
| KR102039137B1 (ko) * | 2018-03-13 | 2019-11-26 | 한국원자력연구원 | 중성자가 발생되는 시설의 건설 폐기물 자체처리 가부 평가방법 및 중성자가 발생되는 시설의 건설을 위한 자재의 인증방법 |
| WO2019218051A1 (en) * | 2018-05-18 | 2019-11-21 | Enersoft Inc. | Systems, devices, and methods for analysis of geological samples |
| CN108680592B (zh) * | 2018-06-11 | 2019-09-27 | 南京航空航天大学 | 一种钾盐成分在线检测方法 |
| CN109580326A (zh) * | 2018-12-05 | 2019-04-05 | 西王金属科技有限公司 | 一种除尘灰中氧化锌及碱金属的测定方法 |
| CN109632854B (zh) * | 2019-01-14 | 2022-10-11 | 东华理工大学 | 一种双探测结构的块状铀矿多元素在线x荧光分析仪 |
| CN110427705B (zh) * | 2019-08-05 | 2023-04-07 | 核工业航测遥感中心 | 航空放射性测量主标准器单元素模型的设计方法 |
| CN113640859A (zh) * | 2021-07-22 | 2021-11-12 | 中国原子能科学研究院 | 一种用于辐射剂量仪环境适应性测试的多参数测量*** |
| GB2617858A (en) * | 2022-04-22 | 2023-10-25 | Anglo American Technical & Sustainability Services Ltd | System and method for treating mined material |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ZA741707B (en) * | 1974-03-15 | 1975-07-30 | Chamber Of Mines Services Ltd | Determining heavy element concentration in ores |
| GB1494549A (en) * | 1975-03-14 | 1977-12-07 | Coal Ind | Determining the concentration of sulphur in coal |
| FI51872C (fi) * | 1975-08-12 | 1977-04-12 | Outokumpu Oy | Laite liikkeellä olevan kiinteän tai jauhemaisen aineen analysoimiseks i röntgenfluoresenssiperiaatteella. |
| SU823993A1 (ru) * | 1979-07-02 | 1981-04-23 | Предприятие П/Я А-7629 | Рентгенофлуоресцентный датчик |
| JPS58204357A (ja) * | 1982-05-24 | 1983-11-29 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 螢光ｘ線分析方法およびその装置 |
| JPS6061649A (ja) * | 1983-09-16 | 1985-04-09 | Rigaku Denki Kogyo Kk | 螢光ｘ線分析の補正方法 |
-
1994
- 1994-11-14 FI FI945364A patent/FI97647C/fi not_active IP Right Cessation
-
1995
- 1995-11-13 ES ES95937904T patent/ES2200007T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-13 WO PCT/FI1995/000621 patent/WO1996015442A1/en active IP Right Grant
- 1995-11-13 AT AT95937904T patent/ATE241136T1/de not_active IP Right Cessation
- 1995-11-13 CA CA002204848A patent/CA2204848C/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-13 US US08/817,883 patent/US5721759A/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-13 DE DE69530858T patent/DE69530858T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-11-13 AU AU38730/95A patent/AU693950B2/en not_active Expired
- 1995-11-13 EP EP95937904A patent/EP0792453B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-13 CN CN95196218A patent/CN1098457C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1995-11-13 KR KR1019970703202A patent/KR100385375B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ATE241136T1 (de) | 2003-06-15 |
| DE69530858D1 (de) | 2003-06-26 |
| EP0792453B1 (en) | 2003-05-21 |
| CN1098457C (zh) | 2003-01-08 |
| AU693950B2 (en) | 1998-07-09 |
| KR100385375B1 (ko) | 2003-08-19 |
| CA2204848A1 (en) | 1996-05-23 |
| KR970707435A (ko) | 1997-12-01 |
| AU3873095A (en) | 1996-06-06 |
| CN1163663A (zh) | 1997-10-29 |
| CA2204848C (en) | 2008-01-29 |
| DE69530858T2 (de) | 2004-03-11 |
| WO1996015442A1 (en) | 1996-05-23 |
| EP0792453A1 (en) | 1997-09-03 |
| FI97647B (fi) | 1996-10-15 |
| FI945364A0 (fi) | 1994-11-14 |
| US5721759A (en) | 1998-02-24 |
| ES2200007T3 (es) | 2004-03-01 |
| FI945364A (fi) | 1996-05-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI97647C (fi) | Menetelmä ja laitteisto alkuaineen pitoisuuden määrittämiseksi | |
| AU759426B2 (en) | X-ray fluorescence elemental analyzer | |
| US7006919B2 (en) | Real time continuous elemental measurement of bulk material | |
| US8712700B2 (en) | Method and apparatus for detection of the remote origin fraction of radon present in a measuring site | |
| CA2713383A1 (en) | Apparatus and method for x-ray fluorescence analysis of a mineral sample | |
| CN110274925A (zh) | 基于能量色散x射线荧光光谱法测定矿石中的金的方法 | |
| FI70750C (fi) | Anordning foer maetning av koncentrationen foer ett foersta oc andra tillsatsaemne | |
| US4016419A (en) | Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer | |
| Sokolov et al. | On‐line analysis of chrome–iron ores on a conveyor belt using x‐ray fluorescence analysis | |
| US7253414B2 (en) | Multi-energy gamma attenuation for real time continuous measurement of bulk material | |
| CN110927193B (zh) | 一种基于深度学习的煤质在线检测分析***及方法 | |
| AU2018226434B2 (en) | XRF detector and source calibration apparatus | |
| RU2196979C2 (ru) | Способ автоматической коррекции градуировки датчиков и датчик рентгенофлуоресцентного контроля химсостава сырья в транспортном потоке | |
| Kondratjevs et al. | Performance improvement of on-line XRF analysis of minerals on a conveyor belt | |
| FI128182B (fi) | XRF puikkoanturi ja menetelmä | |
| Hołyńska et al. | Empirical method of matrix effect elimination for samples of ‘intermediate’thickness in EDXRF analysis | |
| JPS5932731B2 (ja) | 放射線分析装置 | |
| Peyvandi et al. | Influence of temperature on the performance of gamma densitometer | |
| SU958933A1 (ru) | Способ флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа | |
| Procoptchuk et al. | On the perfection and application of the ‘scintillation method’for spectral analysis of disperse substances |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| BB | Publication of examined application | ||
| MA | Patent expired |