FI91446C - Menetelmä ja laitteisto hierteen freeneksen määrittämiseksi - Google Patents
Menetelmä ja laitteisto hierteen freeneksen määrittämiseksi Download PDFInfo
- Publication number
- FI91446C FI91446C FI920341A FI920341A FI91446C FI 91446 C FI91446 C FI 91446C FI 920341 A FI920341 A FI 920341A FI 920341 A FI920341 A FI 920341A FI 91446 C FI91446 C FI 91446C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- measurement
- radiation
- measured
- fiber
- frost
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 26
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 13
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 11
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 30
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 10
- 238000001764 infiltration Methods 0.000 description 8
- 230000008595 infiltration Effects 0.000 description 8
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 6
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 244000062793 Sorghum vulgare Species 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 235000019713 millet Nutrition 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 2
- WPWMAIDTZPLUGB-IUCAKERBSA-N (5S)-5-[(1S)-1-hydroxyhexyl]oxolan-2-one Chemical compound CCCCC[C@H](O)[C@@H]1CCC(=O)O1 WPWMAIDTZPLUGB-IUCAKERBSA-N 0.000 description 1
- 241000428199 Mustelinae Species 0.000 description 1
- 230000001143 conditioned effect Effects 0.000 description 1
- 238000010908 decantation Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000012432 intermediate storage Methods 0.000 description 1
- 238000002386 leaching Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 241000894007 species Species 0.000 description 1
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/34—Paper
- G01N33/343—Paper pulp
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Paper (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
91446
Menetelmå ja laitteisto hierteen freeneksen måårittåmiseksi
Keksinndn tarkoituksena on hierteen freeneksen on-line mittaaminen.
5 Tåsmållisemmin sanottuna keksinnon kohteena on patenttivaatimuksen 1 johdan-non mukainen menetelmå hierteen freeneksen måårittåmiseksi.
Keksinnon kohteena on myos laitteisto hierteen freeneksen måårittåmiseksi.
10
Perinteisesti hierteen laatua kuvataan erilaisilla lujuussuureilla, freeneksellå ja optisilla ominaisuuksilla.
Forgacs tutki vuonna 1962 hiokkeen lujuusominaisuuksia ja partikkelikokoja-1S kaumia. Hån tuli siihen tulokseen, ettå hiokkeen ominaisuudet kuten puhkaisulu-juus, vetolujuus, repåisylujuus, bulkki ja mårkåvetolujuus voitiin ennustaa laajalle joukolle SGW-hioketta kåyttåmållå vain kahta kuituja luonnehtivaa parametria.
20 1. Pituustekijåå, joka luonnehtii kuidunpituusjakaumaa. (ns.
L-factor.) 2. Muototekijåå, joka kuvaa kuidun pinnan kehitysastetta. Forgacs luonnehti tåtå kåyttåmållå +100 Bauer McNett-jakeen 25 ominaispintaa.(ns. S-tekijå.)
Forgacsen ja muiden tulosten myohempi analysointi on osoittanut, ettå seuraava kaava on voimassa hyvin laajalla aluella eri massan valmistustavoilla ja eri puulajeilla.
30
Al = 0.6 + K/L2, jossa Al = on kuitujakeen, jonka massa painotettu keskikuitupituus on L, ominaispinta (m2/g) K-factor = indikoi kuidun pinnan kehittymisen astetta (Oleellisesti sama kuin
Forgacsen S-factor).
2
Canadian Standard freeness (CSF) on perusteeltaan ominaispinnan mittaus. 5 Kiijallisuuden mukaan ominaispinnan ja CSF:n vålillå on logaritminen yhteys:
Atot = -3.03 ln(CSF) + 21.3, jossa Atot = hierteen kokonaisominaispinta (m2/g).
10
Nykyiset freeness-mittarit ja niiden toimintaperiaatteet
Freenesta pystytåån mittaamaan kuvion 1 mukaisen on-line II-hiertimen 1 jålkeisen latenssinpoistosåilion 2 jalkeisesta massasta. Joissakin mittareissa on sisåanra-15 kennettu latenssin poisto, jolloin ne eivåt tarvitse varsinaista latenssinpoistosåiliota. Nåmåkin tarvitsevat jonkin vålisåilion, jossa massan sakeus on huomattavasti pienempi kuin heti hiertimen jålkeen. Hiertimestå massa siirtyy kaasufaasissa puhallusputkea 3 pitkin prosessissa eteenpain.
20 Nykyiset, låhes jatkuvatoimiset freeness-mittarit voidaan jakaa kahteen ryhmåån toimintaperiaatteensa mukaan: suotautumis- ja låpåisevyysmittareihin.
Suotautumismittarit 25 Suotautumista kuvaa kaava dv_ A*xdP dt pxcxVxl? jossa V = virtaustilavuus A, = sihdin poikkipinta-ala dP = paine-ero massapatjan yli 30 μ = viskositeettikerroin 3 91446 c = sakeus R = kuitujen keskimååråmen suotautumisvastus
Olettamalla P vakioksi, ottamalla huomioon mittarin fyysiset mitat ja reunaehdot, 5 voidaan ratkaista mittarin suotautumisaika pxcxRx^-K^) 2 1_-2^dP- jossa R = massan keskimååråinen ominaissuotautumisvastus
Vj = mittakammion tilavuus sihdilta alempaan elektrodiin 10 V2 = mittakammion tilavuus sihdilta ylempåån elektrodiin tj = suotautumisaika tilavuuteen Vx t2 = suotautumisaika tilavuuteen V2 dt = mittarin rekisteroimå suotautumisaika
15 Mittarin toimiessa vakiolåmpotilassa ja vakiosakeudessa, suotautumisaika on suoraan verrannollinen massan keskimååråiseen ominaissuotautumisvastukseen R
dt = o*R
20 R:n arvoon vaikuttaa kuitujen ominaispinta ja -tilavuus. Korkeissa freeneksisså R:n ja CSF:n vålinen yhteys on hyvå, mutta matalissa freeneksisså (50 - 100 ml) herkkyys våhenee huomattavasti.
Lapaisevyys- eli permeabiliteettimittarit 25 d’Arcyn lain mukaan:
u=KxdP
μχΐ, 4 jossa K = låpåisykyky dP = painehåvio kuitupatjassa μ = viskositeettikerroin L = kuitupatjan paksuus 5 U = virtausnopeus kuitupatjan lapi
Kuitupatjan låpåisykyky voidaan lausua Kozeny-Karman’in lain avulla:
e3xK
5.55χ5/χ(1-ε)2 10 jossa S0 = kuitujen ominaispinta-ala ε = huokoisuus
Kun paine P pidetåån mittauskammiossa vakiosuuruisena, niin virtausnopeus U kuvaa låhinnå kuitupinnassa tapahtuneita muutoksia. Eli virtausnopeus on CSF:n 15 funktio.
Kuidunpituusmittarit
Kuvioissa 2 ja 3 kuvatut nykyiset, låhes on-line kuidunpituusmittarit perustuvat 20 nåytteen ottoon ja niisså mitataan massan voimakkaan laimennuksen jålkeen valolåhteellå 10 valaistun yksittåisen kuidun varjon pituus detektorilla 12. PQM-mittarissa nåytteen otto ja analysointi on tåysin automaattista. Nåyte otetaan latenssinpoistosåilion jålkeen. Kuviossa 3 esitetty PQM mittaa myos kuidun paksuutta. Tåsså ratkaisussa valolåhteet ja ilmaisimet on sijoitettu ristikkåin.
25
Kajaanin FS-200 mittari perustuu kåsin tehtåvåån nåytteen ottoon. Analysointi tapahtuu tåysin automaattisesti.
Epåkohtia on useita. Tuloksia ei saada ensimmåisen hiertimen jålkeen. Mittaamalla 30 latenssisåilion jålkeen, hiertimillå tapahtuvat muutokset nåkyvåt vasta 30-60 91446 5 minuutin pååstå mittarilla. Mittaukset ovat jaksottaisia, koska ne perustuvat nåyttei-den ottoon.
Tåmån keksinnon tarkoituksena on poistaa edellå kuvatun tekniikan puutteellisuudet S ja aikaansaada aivan uuden tyyppinen menetelmå ja laitteisto hierteen freeneksen måårittåmiseksi tutkimalla suoraan kuidun fysikaalisia ominaisuuksia ja ennusta-malla perinteisiå laatusuureita miden avulla.
KeksintO perustuu siihen, ettå hierteeseen kohdistetaan jo hiertimen jfilkeisesså 10 putkessa såteilyå aallonpituusalueella 0,1-10 pm ja joko hierteestå heijastunutta tai sen låpåissyttå valoa mitataan samanaikaisesti våhintåån neljållå eri taajuuskaistalia ja saaduista intensiteettiarvoista lasketaan freeness edullisesti pfiåkomponentti-menetelmållå.
15 Takaisin heijastuneen såteilyn intensiteetti on riippuvainen muun muassa kuitujen ominaispinnasta, kuitujen pituudesta ja kuitupartikkeleiden mååråstå. Lisaksi eri kokoiset partikkelit heijastavat såteilyå eri tavalla. Spektristå lasketaan eri aallonpi-tuuksia yhdistelemållå uusia muuttujia, joille lasketaan pååkomponenttimenetelmåå kåyttåen lineaariset kalibrointikertoimet kullekin halutulle laatusuureelle.
20
Uudet muuttujat pitåå loytåå siten, ettå ne ovat eri tavoilla herkkiå ominaispinnalle, kuitupituudelle, kuitujakaumalle, hierteen sakeudelle ja muille hierteesså mahdolli-sesti oleville muutoksille.
25 Kalibroinnin yhteydesså muutetaan yksi kerrallaan kaikkia mitattavaksi tarkoitettuja ominaisuuksia. Kalibrointilaskentamenetelmå kompensoi muiden kuin mitattavan suuren, esimerkiksi sakeuden, aiheuttamat vaihtelut spektrisså.
Tåsmållisemmin sanottuna keksinnon mukaiselle menetelmålle on tunnusomaista se, 30 mikå on esitetty patenttivaatimuksen 1 tunnusmerkkiosassa.
Keksinnon mukaiselle laitteistolle puolestaan on tunnusomaista se, mikå on esitetty 6 patenttivaatimuksen 3 tunnusmerkkiosassa.
Keksinnon avulla saavutetaan huomattavia etuja.
S Keksinnon mukaisella menetelmållå ja laitteistolla havaitaan vfilittOmåsti hierteen freeneksesså tapahtuvat muutokset, jolloin ne voidaan myds koijata heti. Niinpå erillistå naytteen ottoa ja/tai massan laimennusta ei tarvita. Suora mittaus mahdol-listaa myos hiertimen såådon paremman mallintamisen, koska aikaviiveen aiheutta-ma virhe jaa tastå prosessista pois.
10
Keksintdå ryhdytåån seuraavassa låhemmin tarkastelemaan oheisten kuvioiden mukaisten suoritusesimerkkien avulla.
Kuvio 1 esittåå kaaviomaisesti prosessiympåristdå, johon keksintdå sovelletaan.
15
Kuvio 2 esittåå perspektiivikuvantona yhtå tunnetun tekniikan mukaista kuidunpi-tuusmittana.
Kuvio 3 esittåå perspektiivikuvantona toista tunnetun tekniikan mukaista kuidunpi-20 tuusmittaria.
Kuvio 4 esittåå perspektiivikuvantona eråstå keksinnon mukaisessa menetelmåssa kåytettåvåå laitteistoa.
25 Kuvio 5 esittåå taulukkona laskentatulosta freenekselle keksinnon mukaisella menetelmållå.
Kuvio 6 esittåå taulukkona laskentatulosta repåisylujuudelle keksinnon mukaisella menetelmållå.
30
Kuvioiden 1 - 3 osalta viitataan aiemmin yleisessa osassa esitettyyn kuvaukseen.
7 91446
Kuviossa 4 esitetyn mittarin rakenne on periaatteessa sama kuin suursakeusanturin. IR-såteilylåhteenå kåytetåån halogeenilamppua 20, jonka låhettamå valo vakioi-daan tarkasti. Såteily kohdistetaan kuituihin peilien ja linssien 22 avulla. Kuituja 24 pitkin såteily siirtyy prosessiputkeen 26. Prosessiputki 26 vastaa kuvion 1 puhallus-5 putkea 3. Hierteestå takaisin heijastunutta såteilyå keråtåån toisen optisen kuidun 28 avulla ja johdetaan ilmaisimille 30. Ilmaisimien 30 edesså on hiloja 32, jotka pååståvåt såteilystå låpi vain halutut aallonpituusalueet Såteilyn intensiteetti kullakin aallonpituuskaistalla vahvistetaan yhtåaikaa, eli kullakin kaistalla on oma vahvistin 34. Laskenta toteutetaan laskentalaitteistolla 36.
10
Sopiva aallonpituus alue on 0,1 μιη - 10 μm.
Vahvistetuista signaaleista ja niiden yhdistelmistå lasketaan uusia muuttujia, joille lasketaan kalibroinnissa kertoimet.
15
Kalibrointikertoimet lasketaan pååkomponenttimenetelmåå kåyttåen. Pååkom-ponenttimenetelmåå on kuvattu mm. kirjoissa Martens, Naes; Multivariable calibration; Whiley 89 (s. 97 - 101) ja C.R. Rao; Linear Statistical Inference and its Application (s. 590 * 593); Whiley 65.
20 Pååkomponenttimenetelmån tarkoituksena on esittåå muuttujien (mittaustulosten) informaatio pienemmållå muuttujien måårållå, niin sanotuilla pååkomponenteilla.
Esimerkki: 25 F reeness-mittaus Kåytetåån neljåå aallonpituutta I, = 1.450 μπι I2 = 1.700 μπι 30 I3 = 1.960 μπι I4 = 2.100 μπι 8
Mittaustuloksista muodostetaan uudet (6 kpl) muuttujat: x^lnCI^), x2=ln(I1/l4), x3=ln(l2/I4) X4=ln(I,/l3), xs=ln(l3/I4), x6=ln(I1/l2) 5 Nåista muodostetaan kalibrointiyhtalo pååkomponenttimenetelmån avulla: Kalibrointiyhtalo: 10 csf= ajXj + aax2 + 83X3 + a^ + asX5 + a^ + ao
Kalibrointikertoimet riippuvat mittauspaikasta ja freeness alueesta. Kertoimet saatiin kåyttåmållå kolmea pååkomponenttia.
15 Freeness alueella 300 ml - 600 ml saatiin seuraavat tulokset (kts. kuvio 5): corr 0.97 keskivirhe (std) 23 ml « 4 % kokeen keskiarvosta
Freeness alueella 110 ml - 220 ml saatiin seuraavat tulokset (kts. kuvio 5): 20 corr 0.89 keskivirhe (std) 13 ml * 8 % kokeen keskiarvosta
Kuviossa 6 on puolestaan esitetty repåisylujuuteen liittyvå mallinnus.
25 Matemaattisesti påakomponenttimenetelmåå sovelletaan seuraavasti:
Kalibroinnissa kåytettyjen koepisteiden lukumåårå on K. Kussakin koepisteesså i mitataan heijastuneen såteilyn intensiteetti neljållå taajuudella Iib Ii2, Iq ja Ij4 sekå mååritetåån laboratoriossa kutakin mittausta vastaava freeness (CFS) Uj.
30 1. Lasketaan uudet muuttujat x^ (i=l...k j=1...6), esim. xn = ln (W^) ja laitetaan ne matriisiin X**6.
9 91446 xi2 · · *16 1 Jcoepiste xzi *22 * ' *26 2Jcoepiste (1) **,*«··· xj^-koepiste 2. Lasketaan kovarianssimatriisi A6*6, joka on symmetrinen neliomatriisi: k k k T X‘lX‘l Σ *17*12 * · · *|7*«5 ι·1 M i*l
Ami1*- έχΑ iv“ k k k Σ/Χί£ί1 Σ*Λ * · 5Z*«J*«5 i»l i*l i«l 3. Ratkaistaan matriisin A ominaisarvot ja vektorit. Matriisilla A*** sanotaan olevan ominaisvektori Vj ja ominaisarvo Xt, jos 5 A y = λ, Vj (3)
Symmetrisellå positiividefiniitillå NxN matriisiUa on N erilaista ominaisarvoa. Jos A on symmetrinen, ominaisarvot ratkaistaan yleenså kahdessa vaiheessa. Matriisi 10 A muunnetaan Householderin muunnoksella tridiagonaaliseen muotoon. Tåmån jålkeen ratkaistaan OR-algoritmin avulla tridiagonaalimatriisin ominaisarvot ja -vektorit.
Tåtå vaihetta on kuvattu tarkemmin esimerkiksi julkaisussa: 15
Smith, B.T. et al, Matrix Eigensystem Routines - EISPACK Guide, 2nd ed, Vol 6 of Lecture Notes in Computer Science, New York, Spriner -Verlog (1976) 20 Ominaisarvot laitetaan matriisiin U6*6 siten, etta ensimmåiseen sarakkeeseen tulee 10 suuhnta ominaisarvoa vastaava ominaisvektori, toiseen sarakkeeseen toiseksi suurinta ominaisarvoa vastaava ominaisvektori jne.
4. Lasketaan pååkomponenttimatriisi P**6 matriisien X ja U tulona: 5 P = X U (4) 5. Lasketaan halutulle måårålle pååkomponentteja, seuraavassa 3: lie ensimmaiselle, kalibrointikertoimet bj (j = 1, 2, 3) yhden muuttujan pienimman neliosumman 10 menetelmållå. Kertoimet bj voidaan laskea yksi kerraUaan, koska pååkomponentit ovat ortogonaalisia keskenåån. Eli minimoidaan b e,Σ O'rWV-lAS (5) 1 t-1 saadaan kertoimet bl5 b2, ja b3. Vastaava kalibrointimalli on 15 CSFj = bj Pjj + b2 Pj2 + b3 P0 (6) 6. Lasketaan kertoimet a» i = 1,...6 seuraavasti: 20 Sijoitetaan kaavassa ¢6) Ρ^:η paikalle kaavasta (4) laskettava vastaava arvo: CSF, = b1 (Uu Xn + U21 Xj2 + ... + U„X*) + b2 (U12 Xn + υΏ XQ + ... + U^X*) + b3 (U13 Xjj + U* Xq + ... + UjjX^) 25 Keråtåån X^den kertoimet niin saadaan a^n kertoimet: ai = (bxUn + b2 U12 + b3 U13) a2 = (b1U21 + b2 U22 + b3 U^j) 30 11 91446 a« = (biU6i + b2 U^2 + b2 U^) Kåytettyjen pååkomponenttien måårå valitaan aina halutun laskentatarkkuuden mukaan. Toisaalta pååkomponenttien lukumåårån kasvattaminen lisåå laskentatar-5 vetta ja samalla kasvattaa vaadittavaa tietokonekapasiteettia ja/tai hidastaa laskentaa.
Menetelmåå voidaan kåyttåå myos ominaispinnan, kuitupituuden, kuitujakautuman tai repåisylujuuden mittaamiseen.
10
Mittauspaikka voi olla joko I-vaiheen hiertimen jålkeisesså puhallusputkessa tai myos II-vaiheen hiertimen puhallusputkessa.
Neljån tai useamman taajuuskaistan sijasta voidaan periaatteessa pyyhkåistå tietty 15 taajuusalue låpi, jolloin taajuusalueiden lukumåårå keksinnon mååritelmillå on tåsså tapauksessa ååreton. Digitaalisten laiteratkaisujen vuoksi tållaisella pyyh-kåisyratkaisulla on kuitenkin numeerisesti mååriteltåvisså oleva taajuuskaistamåårå.
Claims (3)
1. Menetelmå hierteen freeneksen tosiaikaiseksi (on-line) mittaamiseksi, jossa menetelmåsså 5 - kaasufaasissa olevaan hierteeseen kohdistetaan såhkomagneettinen sateily aallonpituusalueella 0,1-10 μιη, ja - hierteen aiheuttama såteilyn muutos mitataan usealla aallonpituus- 10 alueella, tunnettu siitå, ettå - hierteen aiheuttamaa såteilyn muutosta mitataan samanaikaisesti 15 ainakin neljållå eri taajuuskaistalla, ja - mitatuista intensiteeteista lasketaan haluttu laatusuure.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen mittausmenetelmå, tunnettu siita, etta 20 mittausjåijestelmån kalibroimiseksi - mitataan useita kertoja haluttu suure samanaikaisesti intensiteetti-mittausten kanssa, 25. luodaan mittaustuloksista uusia muuttujia, ja - lasketaan halutun suureen riippuvuus uusista muuttujista påakom-ponenttimenetelmån avulla.
3. Laitteisto hierteen freeneksen tosiaikaiseksi mittaamiseksi, joka laitteisto kasittaå - såteilyelimet (20) såhkomagneettisen såteilyn kohdistamiseksi 91446 kaasufaasissa olevaan hierteeseen, - mittauselimet (30) hierteen aiheuttaman såteilyn muutoksen mittaa-miseksi usealla taajuuskaistalla, 5 - ainakin yhden optisen kuidun (28) hierteesta heijastuneen/låpåis-seen såteilyn johtamiseksi mittauselimille (30), ja - laskentaelimet (36) intensiteettitietojen muuttamiseksi tiedoksi 10 halutusta suureesta, tunnettu siita, etta - mittauselimet (30) ovat varus te tut vålineillå ainakin neljån eri 15 taajuuskaistan samanaikaiseksi mittaamiseksi.
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI920341A FI91446C (fi) | 1992-01-24 | 1992-01-24 | Menetelmä ja laitteisto hierteen freeneksen määrittämiseksi |
| AU33545/93A AU3354593A (en) | 1992-01-24 | 1993-01-22 | Method and apparatus for determination of refiner mechanical pulp properties |
| PCT/FI1993/000023 WO1993015389A1 (en) | 1992-01-24 | 1993-01-22 | Method and apparatus for determination of refiner mechanical pulp properties |
| CA002128600A CA2128600C (en) | 1992-01-24 | 1993-01-22 | Method and apparatus for determination of refiner mechanical pulp properties |
| US08/256,355 US5491340A (en) | 1992-01-24 | 1993-01-22 | Method and apparatus for determination of refiner mechanical pulp properties |
| DE4390253T DE4390253T1 (de) | 1992-01-24 | 1993-01-22 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Eigenschaften von Holzschliff |
| SE9402547A SE503449C2 (sv) | 1992-01-24 | 1994-07-21 | Sätt och anordning för bestämning av mekanisk raffinörmassas egenskaper |
| NO942764A NO942764D0 (no) | 1992-01-24 | 1994-07-22 | Fremgangsmåte og apparat for bestemmelse av mekanisk raffinörmasses egenskaper |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI920341A FI91446C (fi) | 1992-01-24 | 1992-01-24 | Menetelmä ja laitteisto hierteen freeneksen määrittämiseksi |
| FI920341 | 1992-01-24 |
Publications (4)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI920341A0 FI920341A0 (fi) | 1992-01-24 |
| FI920341A FI920341A (fi) | 1993-07-25 |
| FI91446B FI91446B (fi) | 1994-03-15 |
| FI91446C true FI91446C (fi) | 1994-06-27 |
Family
ID=8534228
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI920341A FI91446C (fi) | 1992-01-24 | 1992-01-24 | Menetelmä ja laitteisto hierteen freeneksen määrittämiseksi |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5491340A (fi) |
| AU (1) | AU3354593A (fi) |
| CA (1) | CA2128600C (fi) |
| DE (1) | DE4390253T1 (fi) |
| FI (1) | FI91446C (fi) |
| NO (1) | NO942764D0 (fi) |
| SE (1) | SE503449C2 (fi) |
| WO (1) | WO1993015389A1 (fi) |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE502148C2 (sv) * | 1993-12-03 | 1995-08-28 | Bexelius | Anordning för mätning av mängden fast substans i ett fluidum med ljus |
| AUPM533094A0 (en) | 1994-04-27 | 1994-05-19 | Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation | Methods and apparatus for determining a first parameter(s) of an object |
| WO1996000381A1 (fr) * | 1994-06-27 | 1996-01-04 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Appareil de detection de corps etrangers dans une matiere coulante |
| US5500735A (en) * | 1994-07-18 | 1996-03-19 | Pulp And Paper Research Institute Of Canada | Method and apparatus for on-line measurement of pulp fiber surface development |
| DE19510008C2 (de) * | 1995-03-23 | 1997-01-30 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Prozeßführung bei der Zellstoff- und/oder Papierherstellung |
| DE19645923A1 (de) * | 1996-11-07 | 1998-05-14 | Bayer Ag | Vorrichtung zur Bestimmung der Produktfeuchte und der Korngröße in einer Wirbelschicht |
| DE19653479C1 (de) * | 1996-12-20 | 1998-09-03 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Prozeßführung und zur Prozeßoptimierung beim Bleichen von Faserstoffen |
| DE19653477C2 (de) * | 1996-12-20 | 1999-04-22 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Prozeßführung bei der Herstellung von Papier |
| DE19653532C2 (de) * | 1996-12-20 | 2001-03-01 | Siemens Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Prozeßführung bei der Herstellung von Faserstoff aus Holz |
| DE19823695A1 (de) * | 1998-05-27 | 1999-12-02 | Voith Sulzer Papiertech Patent | Verfahren und Meßgerät zur quantitativen Erfassung von Inhaltsstoffen |
| US6324490B1 (en) | 1999-01-25 | 2001-11-27 | J&L Fiber Services, Inc. | Monitoring system and method for a fiber processing apparatus |
| DE19912500A1 (de) | 1999-03-19 | 2000-09-21 | Voith Sulzer Papiertech Patent | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen von Eigenschaften einer laufenden Materialbahn |
| US6452679B1 (en) | 1999-12-29 | 2002-09-17 | Kimberly-Clark Worldwide, Inc. | Method and apparatus for controlling the manufacturing quality of a moving web |
| US6502774B1 (en) | 2000-03-08 | 2003-01-07 | J + L Fiber Services, Inc. | Refiner disk sensor and sensor refiner disk |
| US6752165B2 (en) | 2000-03-08 | 2004-06-22 | J & L Fiber Services, Inc. | Refiner control method and system |
| US6778936B2 (en) | 2000-03-08 | 2004-08-17 | J & L Fiber Services, Inc. | Consistency determining method and system |
| US6314381B1 (en) * | 2000-03-08 | 2001-11-06 | J & L Fiber Services, Inc | Refiner measurement system and method |
| DE10041071C2 (de) * | 2000-08-22 | 2002-09-26 | Siemens Ag | Verfahren zur Überwachung von thermo-mechanischen Holzaufschlussprozessen |
| US6938843B2 (en) | 2001-03-06 | 2005-09-06 | J & L Fiber Services, Inc. | Refiner control method and system |
| FI112806B (fi) * | 2001-03-09 | 2004-01-15 | Metso Paper Inc | Menetelmä kuitumassan laadun ohjaamiseksi |
| US20030187898A1 (en) * | 2002-03-29 | 2003-10-02 | Fujitsu Limited | Parallel processing method of an eigenvalue problem for a shared-memory type scalar parallel computer |
| DE10253822A1 (de) * | 2002-11-18 | 2004-05-27 | Voith Paper Patent Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Sensorkalibrierung |
| US7104480B2 (en) * | 2004-03-23 | 2006-09-12 | J&L Fiber Services, Inc. | Refiner sensor and coupling arrangement |
| US20060196621A1 (en) * | 2005-03-01 | 2006-09-07 | Johansson Ola M | Virtual hand sheet method and system for estimating paper properties |
| FI123566B (fi) * | 2008-06-30 | 2013-07-15 | Metso Automation Oy | Suotautuvuuden mittaus |
| CN107917865B (zh) * | 2016-10-11 | 2020-01-31 | 中国石油化工股份有限公司 | 一种致密砂岩储层多参数渗透率预测方法 |
| FI130825B1 (fi) * | 2017-02-08 | 2024-04-09 | Valmet Automation Oy | Menetelmä ja laite määrittää kuitupartikkeleiden hajoamisaste hienoaineeksi massassa |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4040743A (en) * | 1975-09-22 | 1977-08-09 | Howell Laboratories, Incorporated | Method and apparatus for measuring the brightness of pulp slurry |
| SE450528B (sv) * | 1981-03-19 | 1987-06-29 | Svenska Traeforskningsinst | Forfarande for metning av innehallet av kryll i pappersmassa |
| EP0076301A1 (en) * | 1981-04-13 | 1983-04-13 | Ab Bonnierföretagen | Distinct wavelength light reflection measuring apparatus |
| DE3490231T1 (de) * | 1983-05-12 | 1985-07-11 | The Broken Hill Proprietary Co. Ltd., Melbourne, Victoria | Kennzeichnung und Handhabung von vielteiligen Stoffen |
| EP0262138A1 (en) * | 1985-06-10 | 1988-04-06 | Chemtronics Ab | Method for measuring the fibre and filler concentration in the wet end of a paper machine and a control system using the method |
| US4800279A (en) * | 1985-09-13 | 1989-01-24 | Indiana University Foundation | Methods and devices for near-infrared evaluation of physical properties of samples |
| FI78561C (fi) * | 1986-02-25 | 1989-08-10 | Valmet Automation Oy | Foerfarande foer att maeta egenskaper av en blandning bestaoende av vaetska och fasta partiklar och en i foerfarandet anvaendbar anordning. |
| CA1277110C (en) * | 1986-05-07 | 1990-12-04 | Rudolf Patt | Method for cooking control of lignocelluloses by ftir spectroscopy |
| US4886576A (en) * | 1987-12-16 | 1989-12-12 | Boise Cascade Corporation | Method and apparatus for producing uniform pulp yields by controlling the operation of a refiner |
| SE463118B (sv) * | 1988-02-26 | 1990-10-08 | Btg Kaelle Inventing Ab | Foerfarande och anordning foer bestaemning av koncentrationen av ett aemne som aer bundet till partiklar i ett stroemmande medium |
| US5104485A (en) * | 1988-05-31 | 1992-04-14 | Hercules Incorporated | Method of measuring non-aqueous constituents in a pulp slurry of a water/cellulose matrix |
-
1992
- 1992-01-24 FI FI920341A patent/FI91446C/fi active
-
1993
- 1993-01-22 CA CA002128600A patent/CA2128600C/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-01-22 DE DE4390253T patent/DE4390253T1/de not_active Withdrawn
- 1993-01-22 AU AU33545/93A patent/AU3354593A/en not_active Abandoned
- 1993-01-22 WO PCT/FI1993/000023 patent/WO1993015389A1/en active Application Filing
- 1993-01-22 US US08/256,355 patent/US5491340A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-07-21 SE SE9402547A patent/SE503449C2/sv not_active IP Right Cessation
- 1994-07-22 NO NO942764A patent/NO942764D0/no unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NO942764L (no) | 1994-07-22 |
| FI920341A (fi) | 1993-07-25 |
| WO1993015389A1 (en) | 1993-08-05 |
| NO942764D0 (no) | 1994-07-22 |
| SE9402547D0 (sv) | 1994-07-21 |
| FI920341A0 (fi) | 1992-01-24 |
| CA2128600A1 (en) | 1993-08-05 |
| CA2128600C (en) | 2004-07-27 |
| DE4390253T1 (de) | 1995-01-26 |
| FI91446B (fi) | 1994-03-15 |
| SE9402547L (sv) | 1994-09-13 |
| US5491340A (en) | 1996-02-13 |
| AU3354593A (en) | 1993-09-01 |
| SE503449C2 (sv) | 1996-06-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI91446C (fi) | Menetelmä ja laitteisto hierteen freeneksen määrittämiseksi | |
| US3946239A (en) | Ellipsoidal cell flow system | |
| CA2118404A1 (en) | Meter and Method for in Situ Measurement of the Electromagnetic Properties of Various Materials Using Cutoff Frequency Characterization and Analysis | |
| US4193692A (en) | Method and apparatus for the optical measurement of the concentration of a particulate in a fluid | |
| AU5959090A (en) | Sand detector | |
| AU4113801A (en) | Method and apparatus for detecting mastitis by using visible light and/or near infrared light | |
| ATE284532T1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum ermitteln der gasbeschaffenheit eines erdgases | |
| GB2044443A (en) | A method of measuring the content of a substance in a film comprising at least one other substance | |
| US4942363A (en) | Apparatus and method for measuring two properties of an object using scattered electromagnetic radiation | |
| US2443427A (en) | Infrared gas analyzer | |
| FI70750C (fi) | Anordning foer maetning av koncentrationen foer ett foersta oc andra tillsatsaemne | |
| Tsuchikawa et al. | Nondestructive measurement of the subsurface structure of biological material having cellular structure by using near-infrared spectroscopy | |
| EP0939896A1 (en) | Infrared measuring gauges | |
| US3082323A (en) | Radiation analysis | |
| US2806957A (en) | Apparatus and method for spectral analysis | |
| US3452193A (en) | Moisture content measuring method and apparatus | |
| US2810835A (en) | Composition analyzer utilizing radiation | |
| KR20180048644A (ko) | 액체 매질 중의 물질 농도 또는 물질을 측정하기 위한 방법 및 장치 | |
| JPH1164217A (ja) | 分光分析機における成分量検出装置 | |
| EP0039718B1 (en) | Method and apparatus for determining the concentration of a substance contained in particles carried by a flowing medium | |
| JPH10311792A (ja) | 茶葉の水分測定装置及び水分測定方法 | |
| FI71617B (fi) | Direktbevakning av den specifika ytan hos mekaniska massor | |
| US20100302537A1 (en) | Spectroscopy device and method for its implementation | |
| DE19721475A1 (de) | Verfahren zur berührungslosen Temperaturmessung | |
| Gong et al. | Near-infrared measurement of surface moisture on porous materials |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| BB | Publication of examined application |