FI85308C - Foerfarande och anordning foer optisk granskning av ark- och banformiga produkter. - Google Patents

Foerfarande och anordning foer optisk granskning av ark- och banformiga produkter. Download PDF

Info

Publication number
FI85308C
FI85308C FI902842A FI902842A FI85308C FI 85308 C FI85308 C FI 85308C FI 902842 A FI902842 A FI 902842A FI 902842 A FI902842 A FI 902842A FI 85308 C FI85308 C FI 85308C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
signal
value
output
compression
converter
Prior art date
Application number
FI902842A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI85308B (fi
FI902842A0 (fi
FI902842A (fi
Inventor
Timo Piironen
Toni Laitinen
Original Assignee
Rautaruukki Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rautaruukki Oy filed Critical Rautaruukki Oy
Publication of FI902842A0 publication Critical patent/FI902842A0/fi
Priority to FI902842A priority Critical patent/FI85308C/fi
Priority to CA002041456A priority patent/CA2041456A1/en
Priority to AT91107806T priority patent/ATE113719T1/de
Priority to DE69104906T priority patent/DE69104906T2/de
Priority to EP91107806A priority patent/EP0460431B1/en
Priority to JP3143983A priority patent/JPH04232573A/ja
Priority to US07/705,621 priority patent/US5263094A/en
Publication of FI902842A publication Critical patent/FI902842A/fi
Publication of FI85308B publication Critical patent/FI85308B/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI85308C publication Critical patent/FI85308C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details
    • G01N21/8903Optical details; Scanning details using a multiple detector array
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T9/00Image coding

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Saccharide Compounds (AREA)
  • Preparation Of Compounds By Using Micro-Organisms (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Description

1 85308
Menetelmä ja laitteisto nauha- ja arkkimaisten tuotteiden optista tarkastusta varten Tämä keksintö koskee menetelmää ja laitteistoa nau-5 ha- ja arkkimaisten tuotteiden optista tarkastusta varten pintavirheiden havaitsemiseksi, joka menetelmä käsittää kuvien muodostamisen tuotteen pinnan peräkkäisistä osista, muodostettujen kuvien muuntamisen analogiseksi sig-10 naaliksi kuva-alkioiden kirkkauden perusteella, analogisen signaalin muunnon digitaaliseksi signaaliksi antamalla kullekin kuva-alkiolle sen kirkkautta kuvaava digitaalinen arvo, digitaalisen signaalin analysoinnin tuotteen pin-15 tavirheiden löytämiseksi ja tiedon antamisen havaituista pintavirheistä. Ylläkuvatun kaltainen menetelmä pintavirheiden havaitsemiseksi liikkuvasta nauhasta tunnetaan US-patentti-julkaisusta 4 665 317. Tällaisen laitteiston avulla kye-20 tään antamaan käyttöhenkilökunnalle hälytykset oleellisten pintavirheiden esiintyessä ja toisaalta tuottamaan tarvittavat tarkastusraportit. Tällaisten automaattisten tarkas-tuslaitteistojen käyttöönotto on perustunut toisaalta siihen, että on ongelmallista saada riittävän kyvykästä työ-25 voimaa tämäntyyppiseen luonteeltaan erittäin yksitoikkoi seen työhön ja toisaalta siihen, että nauhanopeuksien kasvaessa ihmisen suorittama tarkastus ei ole enää lainkaan mahdollinen. Nauhanopeuksien kasvusta ja toisaalta halusta saada mahdollisimman yksityiskohtainen kuva nauhalla mah-30 dollisesti esiintyvistä virheistä seuraa tarve kasvattaa myös automaattisen tarkastuslaitteiston käsittelykapasi-teettia. Ongelmaksi muodostuu tällöin tarvittavien operaatioiden lukumäärä. Jos nimittäin tarkastellaan 1500 mm leveää, nopeudella 300 m/min liikkuvaa nauhaa, 1 mm:n ku-35 vapistekoolla, täytyy järjestelmän kyetä analysoimaan 7,5 2 35308 miljoonaa kuvapistettä sekunnissa. Käytännössä on ilman kohtuuttomia kustannuksia aikaansaatavissa laitteisto, joka kykenee suorittamaan 1,5 miljardia kuvapisteoperaa-tiota sekunnissa. Tällainen nopeus edellyttää kuitenkin jo 5 suhteellisen kalliiden laitteistojen käyttämistä. Jos laitteiston kapasiteettia haluttaisiin edelleen kasvattaa, jouduttaisiin tällaisia jo sinällään kalliita laitteistoja hankkimaan useampia ja sijoittamaan niitä rinnakkain, jolloin kukin laitteisto olisi sovitettu tarkastamaan vain 10 osaa nauhan leveydestä.
Esillä olevan keksinnön tavoitteena on aikaansaada menetelmä ja laitteisto, joiden avulla kyetään joko tar-kastuskapasiteettia lisäämään tai vaihtoehtoisesti yksinkertaistamaan tarkastuksen suorittavaa laitteistoa tarkas-15 tuksen laadun tästä kuitenkaan kärsimättä. Tähän päästään keksinnön mukaisella menetelmällä, jolle on tunnusomaista, että se edelleen käsittää digitaalisen signaalin kompressoinnin ennen sen analysointia.
Tämä kompressointi voi tapahtua siten, että kunkin 20 kuva-alkion arvoa verrataan n/2. sitä edeltävän ja n/2. sen jälkeisen kuva-alkion arvoon ja korvataan se pienimmällä tai suurimmalla vertailussa havaitulla arvolla riippuen siitä erottuvatko pintavirheet tummina vai vaaleina ympäristöstään ja valitaan näin saadusta arvojonosta joka 25 n. arvo käytettäväksi kompressoidun signaalin muodostamiseen.
Vaihtoehtoisesti kompressoinnissa kuva-alkiot jaetaan n peräkkäisen alkion ryhmiin ja kustakin ryhmästä valitaan kulloinkin arvoltaan suurin tai pienin riippuen 30 siitä erottuvatko pintavirheet tummina vai vaaleina ympäristöstään käytettäväksi kompressoidun signaalin muodostamiseen. Edullisesti n peräkkäisen alkion ryhmästä valitaan arvoltaan pienin tai suurin vertaamalla ensin kahta ensimmäistä alkiota toisiinsa ja valitsemalla niistä pie-35 nempi/suurempi ja vertaamalla tätä seuraavaan alkioon ja li 3 85308 valitsemalla niistä pienempi/suurempi ja niin edelleen, jolloin ryhmän viimeisen alkion kanssa suoritetun vertailun tulos on etsitty arvoltaan pienin tai suurin alkio.
Ylläkuvatun kaltaisilla menetelmillä aikaansaadussa 5 kuvasignaalin kompressoinnissa alkuperäinen signaali korvataan signaalilla, joka sisältää alkuperäisen signaalin oleellisimmat piirteet. Täten on varmaa, että myös kompressoidussa signaalissa on mukana kaikki tarkastuksen kannalta oleellinen informaatio. Jos kompressointi suorite-10 taan nauhaan nähden poikittaisten kuva-alkiorivien suunnassa, menetetään kompressoinnissa tieto pintavirheen todellisesta leveydestä. Tällä leveydellä ei ole kuitenkaan merkitystä pintavirheen havaitsemisen tai edes sen luokittelun kannalta. Jos menetelmää sovelletaan sekä nauhan 15 poikki- että pituussuunnassa, menetetään myös tieto pinta-virheiden pituudesta, mikä vaikeuttaa pintavirheiden luokittelua. Täten tällainen kaksiulotteinen kompressointi ei välttämättä ole suotavaa vaikkakin mahdollista.
Keksinnön mukainen laitteisto nauha- ja arkkimais-20 ten tuotteiden optista tarkastusta varten pintavirheiden havaitsemiseksi käsittää kuvauslaitteiston kuvien muodostamiseksi tuotteen pinnan peräkkäisistä osista ja näiden kuvien muuntamiseksi analogiseksi signaaliksi, A/D-muunti-men analogisen signaalin muuntamiseksi digitaaliseksi sig-25 naaliksi ja kuva-analyysiyksikön digitaalisen signaalin analysoimiseksi pintavirheiden löytämiseksi ja niiden saattamiseksi käyttäjän tietoon. Tälle laitteistolle on tunnusomaista, että se edelleen käsittää kompressointiyk-sikön sovitettuna A/D-muuntimen ja kuva-analyysiyksikön 30 väliin digitaalisen signaalin kompressoimiseksi ennen sen analysointia.
Keksinnön ensimmäisen suoritusmuodon mukaisesti kompressointiyksikkö käsittää sarjaan kytkettyinä n kappaletta viive-elimiä ja sarjaan kytkettyinä n kappaletta 35 vertailuyksiköitä ja n. vertailuyksikön perään sovitetun 4 85308 rekisterin, jolloin viive-elinten sarjaankytkentä on sovitettu vastaanottamaan A/D-muuntimen ulostulosignaalin ja vertailuyksiköiden sarjaankytkentä on samoin sovitettu vastaanottamaan A/D-muuntimen ulostulosignaalin kunkin 5 vertailuyksikön vastaanottaessa lisäksi järjestyksessä vastaavan viive-elimen ulostulosignaalin ja rekisteri on sovitettu antamaan ulostuloonsa joka n. signaaliarvon.
Keksinnön toisen suoritusmuodon, joka on erityisen edullinen ajatellen keksinnön toteuttamista integroituna 10 piirinä, mukaisesti kompressointiyksikkö käsittää multi plekserin, viive-elimen ja rekisterin sarjaankytkennän, jolloin multiplekseri on sovitettu vastaanottamaan A/D-muuntimelta tulevan digitaalisen signaalin ja viive-elimen ulostulosignaalin, ja komparaattorin, joka on sovitettu 15 vastaanottamaan A/D-muuntimelta tulevan signaalin ja viive-elimen ulostulosignaalin, vertaamaan näitä toisiinsa ja ohjaamaan multiplekseriä vertailun tuloksen perusteella ja ohjauslogiikan sovitettuna ohjaamaan rekisteriä antamaan ulostuloonsa joka n. signaaliarvon ja komparaattoria sen 20 suorittamasta vertailusta riippumatta ohjaamaan multiplek seriä antamaan ulostuloonsa joka n+1. signaaliarvon.
Seuraavassa keksinnön mukaista menetelmää ja laitteistoa kuvataan yksityiskohtaisemmin viitaten oheiseen piirustukseen, jossa 25 kuvio 1 esittää kuvarivin sävyprofiilin muutosta keksinnön mukaisen kompressoinnin yhteydessä, kuvio 2 esittää keksinnön ensimmäisen suoritusmuodon mukaisen laitteiston lohkokaavion, kuvio 3 esittää kuvion 2 mukaiseen laitteistoon 30 sisältyvän vertailuyksikön yksityiskohtaisemman rakenteen, ja kuvio 4 esittää keksinnön toisen suoritusmuodon mukaiseen laitteistoon sisältyvän kompressointiyksikön lohkokaavion.
35 Kuviossa 1 on esitetty keksinnön mukaisessa opti- 5 85308 sessa tarkastusmenetelmässä käytetyn kompressoinnin vaikutus käsiteltävään informaatioon. Kuviossa 1 ylempi esimerkki esittää tapauksen, jossa jonkin kuva-alkion kirkkaus on oleellisesti alhaisempi kuin muiden, eli tällä 5 kohtaa tarkasteltavassa nauhassa on tumma alue. Kun tähän sävyprofiiliin sovelletaan ensin keksinnön mukaisen menetelmän vaihtoehtoa, jonka mukaisesti kunkin kuva-alkion arvoa verrataan n/2. sitä edeltävän ja n/2. sen jälkeisen kuva-alkion arvoon ja korvataan se pienimmällä vertailussa 10 havaitulla arvolla saadaan kuviossa 1 otsikon "suodatetun kuvan sävyprofiili" alla esitetyn kaltainen sävyprofiili, jossa n kuva-alkiolla on sama sävyarvo kuin alkuperäisen kuvarivin alhaisimman sävyarvon omaavalla kuva-alkiolla. Kun tästä sävyprofiilista sitten poimitaan keksinnön mu-15 kaisesti joka n. arvo saadaan kuviossa 1 oikealla otsikon "kompressoidun kuvan sävyprofiili" alla esitetty sävyprofiili, joka vastaa oleellisesti alkuperäistä sävyprofii-lia, vaikka tähän sävyprofiiliin sisältyvien kuva-alkioiden määrä on vain n. osa alkuperäisen sävyprofiilin kuva-20 alkioiden lukumäärästä. Täten havaitaan, että yksittäisen pintavirheen yhteydessä ei menetetä mitään oleellista informaatiota.
Kuvion 1 alempi esimerkki esittää tapausta, jossa lyhyellä alueella on useita pintavirheitä. Kun tähän sävy-25 profiiliin sovelletaan yllä mainittua menettelyä saadaan sävyprofiili, jossa kaikille n kuva-alkiolle on annettu sävyarvoltaan alhaisimman kuva-alkion sävyarvo. Tämä sävy-profiili on esitetty kuvion 1 keskiosassa. Kun tästä sävy-profiilista sitten poimitaan joka n. arvo saadaan kuviossa 30 1 oikealla esitetty sävyprofiili. Tästä sävyprofiilista voidaan edelleen luotettavasti havaita pintavirheen olemassaolo, mutta tässä sävyprofiilissa kuitenkin useat alkuperäiset pintavirheet ovat yhdistyneet yhdeksi pinta-virheeksi. Täten alkuperäisen pintavirheen leveystieto on 35 kompressoinnissa menetetty. Tällä pintavirheen leveydellä 6 85308 ei kuitenkaan ole oleellista merkitystä pintavirheiden havaitsemisen eikä myöskään niiden luokittelun kannalta silloin kun on kysymys metallinauhan tai -arkkien pinta-virheiden luokittelusta. Käytännön tapauksissa n voi olla 5 jokin kokonaisluku esimerkiksi välillä 4-32, joskin kovin suuret n:n arvot eivät välttämättä ole edullisia silloin, kun kompressoitua kuvaa on tarkoitus tarkastella myös visuaalisesti esimerkiksi televisiomonitorin avulla.
Kuviossa 2 on esitetty laitteisto kuviossa 1 esite-10 tyn kaltaisen menetelmän toteuttamiseksi. Laitteisto käsittää ensinnäkin kuvauslaitteiston, joka käsittää viiva-tai matriisityyppisen videokameran 1 ja valaisulaitteiston 2 tarkasteltavan pinnan 3 valaisemiseksi. Tällä kuvaus-laitteistolla muodostetaan kuvia pinnan peräkkäisistä 15 osista ja muutetaan ne analogiseksi videosignaaliksi 4. Tämä analoginen videosignaali analogi/digitaalimuunnetaan A/D-muuntimella 5 digitaalisen signaalin 6 saamiseksi. Tämän jälkeen tämä digitaalinen signaali 6 kompressoidaan yksiköllä 8 kompressoidun signaalin 9 saamiseksi ennen 20 signaalin analysointia kuva-analyysiyksiköllä 7. Tämä kuva-analyysiyksikkö 7 käsittää sarjaan kytkettyinä kuva-muistin 14, kuvaprosessorin 15 ja mikrotietokoneen 16. Koska kompressointi säilyttää kuvan "kuvamuodossa" (mat-riisimuodossa) rikkomatta kuvan rakennetta tai muuttamatta 25 sitä oleellisesti erilaiseen formaattiin, voidaan käyttää kuva-analyysiyksiköitä, jotka on suunniteltu kompressoimattoman signaalin käsittelyyn. Tällaisten kuvaanalyysiyk-siköiden avulla kyetään toisaalta havaitsemaan pintavirheeksi tulkittavat poikkeamat kompressoidusta digitaali-30 sesta signaalista 9 ja toisaalta aikaansaamaan tarvittavat hälytykset ja raportit nauhan tarkastuksesta. Tällaista kuva-analyysiyksikköä markkinoi esimerkiksi Rautaruukki Oy nimikkeellä SMARTVIS. Koska tämä kuva-analyysiyksikkö on sinänsä tavanomainen eikä ole esillä olevan keksinnön eri-35 tyisenä kohteena, ei sitä kuvata tässä yksityiskohtaisemmin .
7 85308
Keksinnön oleellisimman osan muodostaa kuvasignaalin kompressointiyksikkö 8. Kuvion 2 mukaisessa esimerkinomaisessa suoritusmuodossa tämä kompressointiyksikkö 8 käsittää sarjaan kytkettyinä 4 kappaletta viive-elimiä 10 ja 5 vastaavasti sarjaan kytkettyinä 4 kappaletta vertailuyksi-köitä 11 ja rekisterin 12 joka 4. kuva-alkion poimimiseksi sille syötetystä digitaalisesta signaalista. Kunkin viive-elimen 10 viive vastaa yhtä analogia/digitaalimuuntimelle 5 tulevan kellon CLK kellojaksoa. Viive-elimien 10 sar-10 jaankytkentä liittyy vertailuyksiköiden 11 sarjaankytken-tään siten, että kullekin vertailuyksiköllä syötetään toisaalta edeltävän vertailuyksikön signaali 19 ja toisaalta sitä järjestysluvultaan vastaavan viive-elimen 10 ulostulosignaali 13. Tämä vertailuyksikkö valitsee sitten näistä 15 kahdesta sisääntulosignaalista joko pienemmän tai suuremman riippuen siitä ilmenevätkö pintavirheet kyseisessä tapauksessa vaaleina vai tummina ympäristöstään. Tämän valitsemansa arvon vertailuyksikkö 11 sitten syöttää ulostuloonsa 19. Tällä tavoin kullakin viimeisen vertailuyksi-20 kön 11 ulostulosta lähtevällä signaalilla on 4 peräkkäisen kuva-alkion arvon joukosta löydetyn arvoltaan pienimmän tai suurimman kuva-alkion arvo, kuten kuvioon 1 viitaten on selitetty. Nämä peräkkäiset digitaalisessa muodossa olevat arvot syötetään sitten rekisteriin 12, jota kello-25 tetaan kellotaajuudella CLK/n, joka siis kuvion 2 esimerkissä on CLK/4, jolloin sen ulostulosta saatava digitaalinen signaali 9 sisältää joka 4. digitaalisen arvon siitä arvojonosta, joka syötettiin rekisteriin 12. Tällä tavoin kuvasignaali on saatu kompressoitua muotoon, joka sisältää 30 4. osan siitä kuva-alkiomäärästä, joka sisältyi alkuperäi seen digitaaliseen signaaliin 6. Näin ollen kuva-analyysiyksikkö 7 voidaan toteuttaa joko aikaisempaa hitaampien ja siten yksinkertaisempien laitteistojen avulla tai tavanomaisen kuva-analyysiyksikön avulla kyetään nyt tarkasta-35 maan 4 kertaa laajempi alue aikayksikössä kuin aikaisemmin.
8 85308
Kuviossa 3 on esitetty yksityiskohtaisemmin kuvion 2 lohkokaavioon sisältyvän vertailuyksikön 11 rakenne. Tämä vertailuyksikkö käsittää multiplekserin 17 ja komparaattorin 18. Nämä molemmat vastaanottavat sekä viive-eli-5 meitä 10 tulevan digitaalisen signaalin 13 että digitaalisen signaalin 6, jos on kysymys ensimmäisestä vertailijas-ta tai edeltävän vertailijän ulostulosignaalin 19. Komparaattori 18 vertaa näitä arvoja keskenään ja valitsee niistä joko suuremman tai pienemmän sen mukaan ollaanko 10 hakemassa arvoltaan alhaisinta tai suurinta kuva-alkiota. Vertailun perusteella komparaattori 18 ohjaa multiplekse-riä 17, joka on tallentanut molemmat sisääntulosignaaliin-sa, siten, että juuri vertailun perusteella löydetty arvo saadaan multiplekserin ulostuloon 19. Täten multiplekseri 15 17 on tyyppiä 2:1, joka siis saa kaksi samanaikaista si- sääntulosignaalia ja antaa vain toisen niistä eteenpäin.
Kuviossa 4 on esitetty kuvion 2 kompressointiyksi-kön 8 sijasta käytettäväksi soveltuva kompressointiyksikkö 20, joka on helpommin toteutettavissa integroituna piirinä 20 kuin kuviossa 2 kuvattu kompressointiyksikkö 8 varsinkin n:n arvon kasvaessa. Kuvion 2 rakenteessahan sekä viive-elimien että vertailuyksiköiden lukumäärä on sama kuin n sen sijaan kuvion 4 rakenteessa komponenttien lukumäärää ei tarvitse muuttaa n:n arvon mukaan vaan ainoastaan ta-25 paa, jolla piiriä ohjataan.
Sisääntulonaan kuvion 4 kompressointiyksikkö 20 vastaanottaa analogiadigitaalimuuntimelta 5 saatavan digitaalisen signaalin 6. Ulostulonaan se antaa kompressoidun digitaalisen signaalin 9, joka vastaa kuvion 2 suoritus-30 muodossa saatavaa kompressoitua digitaalista signaalia 9. Kompressointiyksikkö 20 käsittää multiplekserin 21, viive-elimen 22 ja rekisterin 12 sarjaankytkennän. Ja edelleen komparaattorin 23 sovitettuna ohjaamaan multiplekse-riä 21. Kuten viitenumeroinnistakin ilmenee, vastaa rekis-35 teri 12 oleellisesti kuvion 2 mukaiseen kompressointiyk- ti 9 85308 sikköön 8 sisältyvää rekisteriä 12. Kuvion 4 mukaisessa kompressointiyksikössä 20 multiplekseri 21 vastaanottaa sekä digitaalisen signaalin 6 että tämän multiplekserin 21 ulostulosta viive-elimen 22 kautta takaisin syötetyn sig-5 naalin 25. Komparaattori 23 vastaanottaa myös digitaalisen signaalin 6 sekä viive-elimen 22 ulostulosignaalin 25. Tämä komparaattori 23 valitsee näistä sisääntuloistaan suuremman tai pienemmän riippuen siitä erottuvatko pintavirheet taustastaan tummina vai vaaleina, ja ohjaa vertailun-10 sa tuloksen perusteella multiplekseriä 21 antamana ulostuloonsa komparaattorin 23 valinnan perusteella valitun arvon. Tämä arvo viedään viive-elimelle 22, jonka viive vastaa yhtä kellojaksoa. Tämän viive-elimen 22 ulostulo 25 viedään edellä mainittujen multiplekserin 21 ja komparaat-15 torin 23 lisäksi myös rekisteriin 12, jota ohjauslogiikan 24 avulla ohjataan antamaan ulostuloonsa 9 joka n. signaaliarvo. Tämä ohjauslogiikka 24 ohjaa myös komparaattoria 23 siten, että multiplekseri 21 saadaan antamaan ulostuloonsa vertailun tuloksesta riippumatta aina n alkiota 20 sisältävän ryhmän ensimmäisen alkion arvo riippumatta edellisen n alkiota sisältäneen ryhmän viimeisen alkion arvosta. Tällä tavoin kuvion 4 mukainen kompressointiyk-sikkö suorittaa toimenpiteen, jossa kuva-alkiot jaetaan n peräkkäisen alkion ryhmiin ja kustakin ryhmästä valitaan 25 kulloinkin arvoltaan suurin tai pienin riippuen siitä, erottuvatko pintavirheet tummina vai vaaleina ympäristöstään. Kompressointiyksikössä 20 tämä n peräkkäisen alkion ryhmän pienin tai suurin alkio valitaan vertaamalla ensin kahta ensimmäistä alkiota toisiinsa ja valitsemalla niistä 30 pienempi/suurempi ja vertaamalla tätä seuraavaan alkioon ja valitsemalla niistä pienempi/suurempi jne., jolloin ryhmän viimeisen alkion eli n. alkion kanssa suoritetun vertailun tulos on etsitty tämän n alkion ryhmän arvoltaan pienin tai suurin alkio.
35 Yllä on kuvattu kahta esimerkinomaista menetelmää ίο 8 5 308 ja laitteistoa halutun tyyppisen kompression suorittamiseksi digitaaliselle kuvasignaalille. On ymmärrettävää, että sama lopputulos voidaan aikaansaada myös jossain määrin yllä esitetyistä menettelyistä tai rakenneratkaisuista 5 poikkeavilla tavoilla ja rakenteilla poikkeamatta kuitenkaan oheisten patenttivaatimusten määrittelemästä suoja-piiristä. lisäksi yllä kuvattuihin menetelmiin ja laitteistoihin voitaisiin edelleen sisällyttää osat, joiden avulla voitaisiin aikaansaada kuvasignaalin kaksiulottei-10 nen kompressointi, johon jo jossain määrin onkin viitattu. Tällainen kompressointi voitaisiin toteuttaa keräämällä sopivaan muistiin riittävä määrä kompressoituja digitaalisia signaaleja 9 ja suorittamalla näille signaaleille uusi kompressio sillä tavoin, että kompressointi suoritettai-15 siin nyt vertaamalla kutakin kompressoitua kuva-alkiota vierekkäisiin kuva-alkioihin nauhan pituussuunnassa tarkasteltuna. Täten kaksiulotteinen tarkastettavan pinnan alue saataisiin nyt kuvattua yhden kuva-alkion avulla. Tällainen kaksiulotteinen kompressointi ei tule kuitenkaan 20 kysymykseen, jos jommassa kummassa kompressointisuunnassa ei haluta menettää tietoa pintavirheen todellisesta ulottuvuudesta .
li

Claims (7)

11 85308
1. Menetelmä nauha- ja arkkimaisten tuotteiden optista tarkastusta varten pintavirheiden havaitsemiseksi, 5 joka menetelmä käsittää kuvien muodostamisen tuotteen pinnan peräkkäisistä osista, muodostettujen kuvien muuntamisen analogiseksi signaaliksi kuva-alkioiden kirkkauden perusteella, 10 analogisen signaalin muunnon digitaaliseksi sig naaliksi antamalla kullekin kuva-alkiolle sen kirkkautta kuvaava digitaalinen arvo, digitaalisen signaalin analysoinnin tuotteen pintavirheiden löytämiseksi ja 15 tiedon antamisen havaituista pintavirheistä, tunnettu siitä, että menetelmä edelleen käsittää digitaalisen signaalin kompressoinnin ennen sen analysointia.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, 20 tunnettu siitä, että kompressoinnissa kunkin kuva- alkion arvoa verrataan n/2 sitä edeltävän ja n/2 sen jälkeisen kuva-alkion arvoon ja korvataan se pienimmällä tai suurimmalla vertailussa havaitulla arvolla riippuen siitä erottuvatko pintavirheet tummina vai vaaleina ympä-25 ristöstään ja valitaan näin saadusta arvojonosta joka n. arvo käytettäväksi kompressoidun signaalin muodostamiseen.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kompressoinnissa kuva-alkiot jaetaan n peräkkäisen alkion ryhmiin ja kustakin ryhmästä 30 valitaan kulloinkin arvoltaan suurin tai pienin riippuen siitä erottuvatko pintavirheet tummina vai vaaleina ympäristöstään käytettäväksi kompressoidun signaalin muodostamiseen.
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen menetelmä, 35 tunnettu siitä, että n peräkkäisen alkion ryhmästä i2 8 5 308 valitaan arvoltaan pienin tai suurin vertaamalla ensin kahta ensimmäistä alkiota toisiinsa ja valitsemalla niistä pienempi/suurempi ja vertaamalla tätä seuraavaan alkioon ja valitsemalla niistä pienempi/suurempi ja niin edelleen, 5 jolloin ryhmän viimeisen alkion kanssa suoritetun vertailun tulos on etsitty arvoltaan pienin tai suurin alkio.
5. Laitteisto nauha- ja arkkimaisten tuotteiden optista tarkastusta varten pintavirheiden havaitsemiseksi käsittäen kuvauslaitteiston (1, 2) kuvien muodostamiseksi 10 tuotteen (3) pinnan peräkkäisistä osista ja näiden kuvien muuntamiseksi analogiseksi signaaliksi (4), A/D-muuntimen (5) analogisen signaalin (4) muuntamiseksi digitaaliseksi signaaliksi (6) ja kuva-analyysiyksikön (7) digitaalisen signaalin (6) analysoimiseksi pintavirheiden löytämiseksi 15 ja niiden saattamiseksi käyttäjän tietoon, tunnet-t u siitä, että laitteisto edelleen käsittää kompressoin-tiyksikön (8;20) sovitettuna A/D-muuntimen (5) ja kuva-analyysiyksikön (7) väliin digitaalisen signaalin (6) kom-pressoimiseksi ennen sen analysointia.
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että kompressointiyksikkö (8) käsittää sarjaan kytkettyinä n kappaletta viive-elimiä (10) ja sarjaan kytkettyinä n kappaletta vertailuyksiköitä (11) ja n. vertailuyksikön perään sovitetun rekisterin (12), 25 jolloin viive-elinten (10) sarjaankytkentä on sovitettu vastaanottamaan A/D-muuntimen (5) ulostulosignaalin (6) ja vertailuyksiköiden (11) sarjaankytkentä on samoin sovitettu vastaanottamaan A/D-muuntimen (5) ulostulosignaalin (6) kunkin vertailuyksikön (11) vastaanottaessa lisäksi jär-30 jestyksessä vastaavan viive-elimen (10) ulostulosignaalin (13) ja rekisteri (12) on sovitettu antamaan ulostuloonsa joka n. signaaliarvon.
7. Patenttivaatimuksen 5 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että kompressointiyksikkö (20) 35 käsittää multiplekserin (21), viive-elimen (22) ja rekis- i3 8 5308 terin (12) sarjaankytkennän, jolloin multiplekseri (21) on sovitettu vastaanottamaan A/D-muuntimelta (5) tulevan digitaalisen signaalin (6) ja viive-elimen (22) ulostulosignaalin (25), ja komparaattorin (23), joka on sovitettu 5 vastaanottamaan A/D-muuntimelta (5) tulevan signaalin (6) ja viive-elimen (22) ulostulosignaalin (25), vertaamaan näitä toisiinsa ja ohjaamaan multiplekseriä (21) vertailun tuloksen perusteella ja ohjauslogiikan (24) sovitettuna ohjaamaan rekisteriä (12) antamaan ulostuloonsa (9) joka 10 n. signaaliarvon ja komparaattoria (23) sen suorittamasta vertailusta riippumatta ohjaamaan multiplekseriä (21) antamaan ulostuloonsa joka n+1. signaaliarvon. i4 8 5 308
FI902842A 1990-06-07 1990-06-07 Foerfarande och anordning foer optisk granskning av ark- och banformiga produkter. FI85308C (fi)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI902842A FI85308C (fi) 1990-06-07 1990-06-07 Foerfarande och anordning foer optisk granskning av ark- och banformiga produkter.
CA002041456A CA2041456A1 (en) 1990-06-07 1991-04-29 Method of and an equipment for optical inspection of strip and sheet products
AT91107806T ATE113719T1 (de) 1990-06-07 1991-05-14 Verfahren und apparat zur optischen inspektion von band- oder blattförmigen produkten.
DE69104906T DE69104906T2 (de) 1990-06-07 1991-05-14 Verfahren und Apparat zur optischen Inspektion von band- oder blattförmigen Produkten.
EP91107806A EP0460431B1 (en) 1990-06-07 1991-05-14 A method of and an equipment for optical inspection of strip and sheet products
JP3143983A JPH04232573A (ja) 1990-06-07 1991-05-20 光学検査方法および該方法を用いた光学検査装置
US07/705,621 US5263094A (en) 1990-06-07 1991-05-28 Method of and an equipment for optical inspection of strip and sheet products

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI902842 1990-06-07
FI902842A FI85308C (fi) 1990-06-07 1990-06-07 Foerfarande och anordning foer optisk granskning av ark- och banformiga produkter.

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI902842A0 FI902842A0 (fi) 1990-06-07
FI902842A FI902842A (fi) 1991-12-08
FI85308B FI85308B (fi) 1991-12-13
FI85308C true FI85308C (fi) 1992-03-25

Family

ID=8530584

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI902842A FI85308C (fi) 1990-06-07 1990-06-07 Foerfarande och anordning foer optisk granskning av ark- och banformiga produkter.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5263094A (fi)
EP (1) EP0460431B1 (fi)
JP (1) JPH04232573A (fi)
AT (1) ATE113719T1 (fi)
CA (1) CA2041456A1 (fi)
DE (1) DE69104906T2 (fi)
FI (1) FI85308C (fi)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5325443A (en) * 1990-07-06 1994-06-28 Westinghouse Electric Corporation Vision system for inspecting a part having a substantially flat reflective surface
US5440648A (en) * 1991-11-19 1995-08-08 Dalsa, Inc. High speed defect detection apparatus having defect detection circuits mounted in the camera housing
DE4239456A1 (de) * 1992-11-24 1994-06-09 Rheinmetall Sick Optical Inspe Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion von Oberflächen
US5515452A (en) * 1992-12-31 1996-05-07 Electroglas, Inc. Optical character recognition illumination method and system
ES2117575B1 (es) * 1996-08-05 1999-04-01 Chep Pooling Systems B V Procedimiento para el reconocimiento y la clasificacion automaticos de defectos en paletas o elementos similares, y sistema correspondiente .
US6064429A (en) * 1997-08-18 2000-05-16 Mcdonnell Douglas Corporation Foreign object video detection and alert system and method
US7171033B2 (en) * 2001-03-28 2007-01-30 The Boeing Company System and method for identifying defects in a composite structure
US6871684B2 (en) 2002-08-13 2005-03-29 The Boeing Company System for identifying defects in a composite structure
US20060108048A1 (en) * 2004-11-24 2006-05-25 The Boeing Company In-process vision detection of flaws and fod by back field illumination
US7424902B2 (en) * 2004-11-24 2008-09-16 The Boeing Company In-process vision detection of flaw and FOD characteristics
SE531120C2 (sv) * 2007-09-25 2008-12-23 Abb Research Ltd En anordning och ett förfarande för stabilisering och visuell övervakning av ett långsträckt metalliskt band
TWI387320B (zh) * 2008-08-15 2013-02-21 Novatek Microelectronics Corp 影像信號雜訊濾除裝置與方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1762412A1 (de) * 1968-06-12 1970-05-06 Telefunken Patent Einrichtung in einer Datenverarbeitungsanlage mit einer Analog-Digital-Umsetzungsstufe und einem dieser nachgeschalteten Digitalspeicher
FR2559581B1 (fr) * 1984-02-10 1986-07-11 Siderurgie Fse Inst Rech Procede et installation de detection de defauts de surface sur une bande en cours de defilement
DE3542484A1 (de) * 1985-11-30 1987-07-02 Ant Nachrichtentech Verfahren zur erkennung von kantenstrukturen in einem bildsignal
JPS62247478A (ja) * 1986-04-21 1987-10-28 Hitachi Ltd パタ−ン検査装置
US4751572A (en) * 1986-12-30 1988-06-14 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy High speed data compactor
JP2539856B2 (ja) * 1987-10-15 1996-10-02 株式会社ヒューテック 印刷パタ―ン周期長のずれ検知方法
US4953023A (en) * 1988-09-29 1990-08-28 Sony Corporation Coding apparatus for encoding and compressing video data

Also Published As

Publication number Publication date
ATE113719T1 (de) 1994-11-15
FI85308B (fi) 1991-12-13
EP0460431A1 (en) 1991-12-11
DE69104906T2 (de) 1995-03-23
DE69104906D1 (de) 1994-12-08
FI902842A0 (fi) 1990-06-07
JPH04232573A (ja) 1992-08-20
EP0460431B1 (en) 1994-11-02
US5263094A (en) 1993-11-16
CA2041456A1 (en) 1991-12-08
FI902842A (fi) 1991-12-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI85308C (fi) Foerfarande och anordning foer optisk granskning av ark- och banformiga produkter.
KR101819711B1 (ko) 머신 비전을 이용한 너트 풀림 감지 장치 및 방법
CN113810621B (zh) 一种应用于多线线阵相机的分时曝光和tdi并行处理装置及方法
Behera Image-processing in textiles
JPS61107139A (ja) 米粒品位測定装置
EP0823629B1 (en) Process for the automatic recognition and categorization of defects in pallets or similar elements, and corresponding system
EP1565873B1 (en) Particle extraction for automatic flow microscope
Park et al. REAL‐TIME DUAL‐WAVELENGTH IMAGE PROCESSING FOR POULTRY SAFETY INSPECTION 1
JP3311880B2 (ja) 青果物の傷害自動検出装置
US5631468A (en) Telecamera with a high frame frequency and associated manufacturing method
JPH03291507A (ja) 円筒体の検査装置
JPH0829357A (ja) 自動化ライン外観検査装置
JP2005274325A (ja) 金属帯の光学式欠陥検査方法
KR910007348B1 (ko) 다수의 개별 도형 판별용 기계시각 인식 방법 및 장치
JP2560539B2 (ja) 水晶薄板双晶検査装置
JPH054075A (ja) 胡瓜の選別装置
JPH0581415A (ja) 視覚認識システム
JPH04260180A (ja) 青果物の色むら判定装置
JP2000241140A (ja) 潰れ蓋検出装置
KR101669075B1 (ko) 결함 검사 시스템 및 방법
JP3035578B2 (ja) 検査条件決定装置、検査装置及びシャッタ速度決定装置
JP2004132801A (ja) 帯状体の表面欠陥検査装置
JPH02303579A (ja) 青果物色彩判別方法及び青果物色彩判別装置
JPH04296977A (ja) 青果物の着色検定装置
JPH0894336A (ja) 薄板検査装置及び検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: RAUTARUUKKI OY