FI128094B - Mittausmenetelmä, mittausjärjestely ja mittalaite - Google Patents
Mittausmenetelmä, mittausjärjestely ja mittalaite Download PDFInfo
- Publication number
- FI128094B FI128094B FI20165587A FI20165587A FI128094B FI 128094 B FI128094 B FI 128094B FI 20165587 A FI20165587 A FI 20165587A FI 20165587 A FI20165587 A FI 20165587A FI 128094 B FI128094 B FI 128094B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- silicone
- coated layer
- silicone coated
- layer
- image
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D21—PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
- D21H—PULP COMPOSITIONS; PREPARATION THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASSES D21C OR D21D; IMPREGNATING OR COATING OF PAPER; TREATMENT OF FINISHED PAPER NOT COVERED BY CLASS B31 OR SUBCLASS D21G; PAPER NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- D21H19/00—Coated paper; Coating material
- D21H19/10—Coatings without pigments
- D21H19/14—Coatings without pigments applied in a form other than the aqueous solution defined in group D21H19/12
- D21H19/24—Coatings without pigments applied in a form other than the aqueous solution defined in group D21H19/12 comprising macromolecular compounds obtained otherwise than by reactions only involving carbon-to-carbon unsaturated bonds
- D21H19/32—Coatings without pigments applied in a form other than the aqueous solution defined in group D21H19/12 comprising macromolecular compounds obtained otherwise than by reactions only involving carbon-to-carbon unsaturated bonds obtained by reactions forming a linkage containing silicon in the main chain of the macromolecule
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
- G01B11/0625—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
- G01B11/303—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
-
- D—TEXTILES; PAPER
- D21—PAPER-MAKING; PRODUCTION OF CELLULOSE
- D21H—PULP COMPOSITIONS; PREPARATION THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASSES D21C OR D21D; IMPREGNATING OR COATING OF PAPER; TREATMENT OF FINISHED PAPER NOT COVERED BY CLASS B31 OR SUBCLASS D21G; PAPER NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- D21H27/00—Special paper not otherwise provided for, e.g. made by multi-step processes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
- G01N2021/8427—Coatings
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Keksinnön kohteena on mittausmenetelmä, mittausjärjestely ja mittauslaite. Esitetyssä ratkaisussa valaistaan silikonipäällystettyä kerrosta (1) valonlähteellä (2). Kuvantavalla mittalaitteella (4) muodostetaan kuva silikonipäällystetyn kerroksen (1) pinnasta. Kuvantamalla havainnoidusta kuvasta analysoidaan silikonipäällysteen peittovaikutus.
Description
Keksinnön tausta
Keksinnön kohteena on mittausmenetelmä, mittausjärjestely ja mittalaite.
Esimerkiksi tarralaminaattia valmistettaessa irrokekerros päällystetään silikonilla. Silikonin tarkoitus on varmistaa tarran irtoaminen irrokekerroksesta eli irrotusvoiman tulee olla sovitettu tarralaminaatin lopulliseen käyttötarkoitukseen. Toisaalta silikoni on kohtuullisen kallista materiaalia, joten sitä pyritään käyttämään irrokekerroksen päällä 10 mahdollisimman vähän.
Irrokekerroksen päällä oleva silikonin määrä pystytään mittamaamaan varsin tarkasti esimerkiksi infrapunaspektroskopiaan tai röntgenfluoresenssispektroskopiaan perustuvilla mittausmenetelmillä. Silikonin määrä ei kuitenkaan kaikissa tapauksissa riittävällä tarkkuudella korreloi 15 irrotusvoiman kanssa. Niinpä silikonin määrän mittauksen lisäksi on tarpeen määrittää silikonin peittovaikutus (silicone coverage). Silikonin peittovaikutus määritetään niin sanotulla värjäystestillä. Värjäystestissä silikonoidun irrokekerroksen päälle levitetään väriaine määrätyksi ajaksi. Väriaineen poistamisen jälkeen mitataan väriaineen tunkeuma irrokekerrokseen 20 havainnoimalla väriero värjätyn ja värjäämättömän tuotteen välillä.
Värjäystesti joudutaan suorittamaan laboratoriomittauksena, mikä aiheuttaa usein hyvinkin pitkän viiveen tuotantoprosessin ohjausta ajatellen, sekä kattaa valmistettavasta tuotteesta vain hyvin pienen osan. Värjäystesti on myöskin varsin työläs, hankala ja hidas. Niinpä on tarve parannetulle 25 mittausratkaisulle määrittämään silikonin peittovaikutus.
Keksinnön lyhyt selostus
Keksinnön mukaiselle ratkaisulle on tunnusomaista se, mitä on esitetty itsenäisissä patenttivaatimuksissa. Eräitä sovellutusmuotoja on esitetty epäitsenäisissä patenttivaatimuksissa.
Esitetyssä ratkaisussa valaistaan silikonipäällystettyä kerrosta valonlähteellä. Edelleen silikonipäällysteisestä kerroksesta havainnoidaan kuvantamalla peiliheijastuksella heijastuva valonlähteestä tuleva valo. Kuvantamalla havainnoidusta kuvasta analysoidaan silikonipäällysteen peittovaikutus (silicone coverage). Tällöin pystytään yksinkertaisesti, nopeasti ja 35 luotettavasti mittaamaan silikonin peittovaikutusta. Mittaustulosta pystytään
20165587 prh 05 -07- 2019 käyttämään esimerkiksi silikonin määrän optimointiin, jolloin toisaalta silikonia sovitetaan esimerkiksi irrokekerroksen päälle mahdollisimman vähän mutta toisaalta riittävästi, jotta silikonin peittovaikutus on riittävän hyvällä tasolla ja irrotusvoima saadaan halutulle tasolle.
Erään suoritusmuodon ajatuksena on, että analysoinnissa kuvasta tunnistetaan huokoset ja/tai aukot silikonipäällysteessä ja huokosten ja/tai aukkojen määrän, kokojakauman tai niiden pinta-alaosuuden tai jonkun muun vastaavan ominaisuuden perusteella määritetään silikonin peittovaikutus. Tällainen ratkaisu vastaa varsin hyvin edellä esitetyn värjäystestin antamaa 10 lopputulosta, jolloin tämä ratkaisu on helposti sovellettavissa käyttöön ja sen luotettavuus on helposti todennettavissa.
Kuvioiden lyhyt selostus
Keksintöä selitetään tarkemmin oheisessa piirustuksessa, jossa:
Kuvio 1 esittää kaavamaisesti mittausjärjestelyä sivulta päin katsottuna,
Kuvio 2 on kuva silikonoidun paperin peilipinnasta ja
Kuvio 3 on kuva silikonoidun muovikalvon peilipinnasta.
Keksinnön yksityiskohtainen selostus
Kuviossa 1 on esitetty silikonipäällysteinen kerros 1, jota havainnoidaan kuvantamalla. Kerros 1 voi olla esimerkiksi silikonilla päällystetty irrokepaperi tai joku muu silikonipäällystetty paperi. Edelleen kerros 1 voi olla silikonilla päällystetty muovia oleva irrokekerros. Tällainen irrokekerros voi olla esimerkiksi polyeteenitereftalaattia PET. Kerros 1 voi olla mittauksen aikana paikallaan. Kerros 1 voi olla esimerkiksi arkki tai pala silikonipäällystetystä 25 rainasta. Tällöin mittaus voidaan toteuttaa esimerkiksi mittauslaboratoriossa.
Edelleen kerros 1 voi olla liikkuva raina, jolloin siis mittaus toteutetaan on-linemittauksena. Tällöin mittausjärjestely sovitetaan esimerkiksi silikonoivan tarralaminaattikoneen, erillisen silikonoivan päällystyskoneen tai silikonilla päällystävän paperikoneen yhteyteen mittaamaan liikkuvan rainan 30 ominaisuuksia.
Mittausjärjestelyyn kuuluu valonlähde 2. Valonlähde 2 on sovitettu tuottamaan valonsäde kulmassa a kerroksen 1 pinnan normaaliin nähden. Valonlähde 2 voi tuottaa näkyvää valoa esimerkiksi alueella 400 nm - 750 nm. Valonlähde voi tuottaa valoa myös aallonpituuksilla näkyvän valon ulkopuolella, 35 kuten ultraviolettialueella tai infrapuna-alueella. Valonlähde 2 voi käsittää yhden
20165587 prh 05 -07- 2019 tai useamman hehkulampun, halogeenilampun, kaasupurkauslampun, ledin (light emitting diode), laserin tai jonkin kombinaation edellisistä tai vastaavan.
Valonlähteen 2 aallonpituus on edullisesti sovitettu kuvantavan mittalaitteen 4 herkkyysalueelle. Edelleen valonlähde 2 voi olla kollimoitu.
Valonlähde 2 voi olla myös diffuusi pinta, joka kuvataan kiiltävän pinnan kautta peiliheijastuksena. Valonlähteen 2 tuottama valaisu voi olla jatkuva tai pulssitettu. Jatkuva valaisu sopii hyvin käytettäväksi laboratoriomittauksissa ja pulssitettua valaisua voidaan käyttää erityisesti on-line-mittauksissa.
Mittausjärjestelyyn kuuluu edelleen kuvantava mittalaite 4. Kuvantava 10 mittalaite 4 on sovitettu havainnoimaan kuvantamalla kohteesta peiliheijastuksella heijastuva valonsäde 3 ja muodostamaan siten peiliheijastuskuva kohteesta. Kuvantava mittalaite 4 on sovitettu kulmaan β havainnoitavan kerroksen 1 normaaliin nähden. Koska kuvantava mittalaite 4 on sovitettu havainnoimaan peiliheijastuksella heijastuvaa valoa, ovat nuo kulmat a 15 Ja β siis olennaisesti yhtä suuret. Kulmien a Ja β suuruus voi olla Jotain esimerkiksi välillä 10° - 80°.
Kuvantava mittalaite 4 voi olla kamera, kuten CMOS-kamera tai CCDkamera. Kameran optiikka sovitetaan siten, että kameran 2D-kennon pintaan saadaan tarvittavalla resoluutiolla riittävä syväterävyysalue kuvattaessa 20 halutusta kulmasta β.
Kuvantava mittalaite 4 muodostaa halutun suuruisen kuvan kerroksen 1 pinnasta. Kuvan suuruus voi olla esimerkiksi 10 mm kertaa 10 mm.
Mittausjärjestelyyn kuuluu vielä prosessointiyksikkö 5. Prosessointiyksikkö 5 voi olla osa kuvantavaa mittalaitetta 4 tai erillinen yksikkö. 25 Prosessointiyksikkö 5 voi olla tietokone. Prosessointiyksikkö 5 voi käsittää ainakin yhden prosessorin, muistin Ja ainakin yhden sopivan tietokoneohjelman tämän selityksen yhteydessä esitettyjen yhden tai useamman toiminnon suorittamiseksi. Prosessointiyksikkö 5 on sovitettu analysoimaan kuvantavalla mittalaitteella muodostettua kuvaa. Prosessointiyksikkö 5 on sovitettu 30 analysoimaan kuvantamalla havainnoidusta kuvasta silikonipäällysteen peittovaikutus.
Prosessointiyksikkö 5 voidaan sovittaa tunnistamaan kuvasta huokoset Ja/tai aukot silikonipäällysteessä. Aukko silikonipäällysteessä voi olla esimerkiksi silikonoimaton alue kerroksen 1 pinnalla. Aukon tai huokosen 35 silikonipäällysteessä voi aiheuttaa esimerkiksi ilmakupla päällystepastassa. Huokoseksi Ja/tai aukoksi voidaan määrittää esimerkiksi kohdat, Joiden
20165587 prh 05 -07- 2019 intensiteetti taso jää tietyn raja-arvon alapuolelle. Edelleen huokosen ja/tai aukon määrittämiseen voidaan käyttää intensiteetin alhaisuutta tietyllä alueella. Prosessointiyksiköllä 5 pystytään määrittämään esimerkiksi huokosten ja/tai aukkojen määrä tietyllä pinta-alalla. Toisaalta pystytään määrittämään huokosten 5 ja/tai aukkojen koko ja kokojakauma. Edelleen pystytään määrittämään huokosten ja/tai aukkojen osuus pinta-alalla.
Prosessointiyksikkö 5 voidaan sovittaa analysoimaan kuvasta silikonipäällysteen peittovaikutus ja/tai tasaisuus myös esimerkiksi siten, että prosessointiyksikkö 5 määrittää konesuunnan/poikkisuunnan (MD/CD 10 suuntien) spektraalisen tehon valituilla aallonpituuksilla. Edelleen prosessointiyksikkö 5 voi määrittää MD/CD -suuntien keskihajonnan valituilla aallonpituuksilla. Edelleen prosessointiyksikkö voidaan sovittaa analysoimaan kuvasta silikonipäällysteen peittovaikutus käyttäen jotain muuta kuvaanalyysimenetelmää ja soveltaen jotain muuta tilastollista tunnuslukua.
Mittalaitteessa ja mittausjärjestelyssä voi vielä lisäksi olla valonlähteen ja kerroksen 1 välissä polarisaattori 6a ja/tai kerroksen 1 ja kuvantavan mittalaitteen 4 välissä polarisaattori 6b. Polarisaattorit 6a ja 6b voivat olla esimerkiksi vaakapolarisaattoreita. Vaakapolarisaattori korostaa pinnan peiliheijastusta. Polarisaatiokulmia muuttamalla voidaan 20 peilikomponentin osuutta muutella, mikä mahdollistaa peiliheijastuksen ja diffuusin heijastuksen suhteen muutoksen.
Kuviossa 2 on esitetty kuva silikonoidun paperin peilipinnasta.
Kuvioon on 2 viitemerkinnällä 7 havainnollistettu muutamia huokosia silikonipäällyksessä. Värjäystestillä, jossa silikonoidun irrokekerroksen päälle 25 levitetään väriaine määritetyksi ajaksi ja väriaineen poistamisen jälkeen havainnoidaan väriaineen tunkeuma irrokekerrokseen esimerkiksi mittaamalla väriero värjätyn ja värjäämättömän tuotteen välillä, saadaan aikaan vastaava lopputulos kuin mikä on esitetty kuviossa 2. Näin ollen esitetty mittausratkaisu saadaan korreloimaan varsin hyvin värjäystestin kanssa. Näin saadaan 30 määritettyä silikonin peittovaikutus vastaavalla tavalla kuin värjäystestissä ja edelleen pystytään määrittämään irrotusvoima. Esitetyllä mittausratkaisulla pystytään siis saaman vastaavanlainen tieto irrotusvoimassa kuin hankalalla ja pitkäkestoisella värjäystestillä. Niinpä esitetyllä mittausratkaisulla saadaan nopeammin tieto tuotteen laadusta ja näin tarvittavat korjaustoimenpiteet 35 saadaan toteutettua nopeammin.
20165587 prh 05 -07- 2019
Silikonin peittovaikutuksen mittaus voidaan suorittaa jopa tuotantokoneella on-line, mikä mahdollistaa suoran takaisinkytkennän silikonimäärän säätöön. Silikonin peittovaikutuksen mittaustulosta voidaan käyttää esimerkiksi silikonimäärän säätimen asetusarvon määrittämiseen.
On-line-mittaus voidaan suorittaa joko kiinteästä pisteestä tuotantokoneen poikkisuuntaan nähden tai perinteisenä traversoivana mittauksena. Traversoiva mittaus mahdollistaa sekä konesuuntaisen (MD) trendin että poikkisuuntaisen (CD) profiilin tuottamisen lasketuista suureista.
Tunnistettavat huokoset ja/tai aukot ovat suuruudeltaan tyypillisesti 10 joitain kymmeniä mikrometrejä. Näin ollen kuvantavan mittauksen resoluution ollessa esimerkiksi suuruusluokkaa 5 pm, pystytään pääsemään varsin hyvään lopputulokseen.
Mikäli kerros 1 on liikkuva raina, voidaan valonlähdettä 2 ja/tai kuvantavaa mittalaitetta 4 ohjata esimerkiksi julkaisussa WO 2014/068188 15 esitetyillä tekniikoilla. Näin myös liikkuvasta rainasta saadaan riittävän tarkkoja kuvia. Esimerkinomaisesti voidaan todeta, että mikäli raina liikkuu nopeudella 15 m/s eli 900 m/min ja halutaan kuvan resoluutioksi suuruusluokkaa 10 pm, tulee valaisun/detektoinnin keston olla suuruusluokkaa 1 ps, jotta liikkuvasta rainasta saadaan riittävän terävä kuva.
Kuviossa 3 on esitetty edellä kuvatulla menetelmällä kuvattu peiliheijastus silikonipäällystetystä PET-kalvosta. Vastaavasta värikuvasta näkyisi silikonikerroksen paksuuden vaihtelu paikallisena sinänsä tunnettuna interferenssi-ilmiöön perustuvana värierona. Kuvioon 3 on viitemerkinnällä 8 havainnollistettu epätasaisuuksia silikonipinnassa.
Silikonipinnan tasaisuuteen voi vaikuttaa esimerkiksi päällystimen ominaisuudet, kuivatus/kovetusprosessin ominaisuudet, PET-kalvon pintaenergia tai PET-kalvon pinnan tasaisuus. Samoin silikonipinnan tasaisuuteen voi vaikutta silikonin ja reaktioaineiden ominaisuudet ja/tai niiden määrä.
Interferenssikuvasta voidaan siis pystyä määrittämään esimerkiksi 30 silikonikerroksen paksuutta, silikonikerroksen tasaisuutta ja PET-kalvon pinnan tasaisuutta. Pelkän silikonoimattoman PET-kalvon pintarakenne ei näy esimerkiksi vastaavanlaisesta interferenssikuviosta, joka on otettu silikonoimattoman PET-kalvon pinnasta, koska tässä yhteydessä tarkoitettu interferenssikuvio muodostuu suuruusluokassa 0,1 - 1 pm paksusta 35 silikonikerroksesta.
Mikäli silikonipinnan epätasaisuus johtuu PET-kalvon pintaenergiasta, voidaan pintaa muokata esimerkiksi koronakäsittelyllä. Näin ollen koronakäsittelyä voidaan ohjata interferenssikuvion perusteella.
Interferenssikuvion kontrastia saadaan esimerkiksi laboratorio5 olosuhteissa parannettua esimerkiksi maalamalla PET-kalvon tausta mustaksi, mikä poistaa transparentin kalvon rajapintaheijastuksen päällystämättömältä puolelta.
Tässä selityksessä esitettyä mittausjärjestelyä vastaava mittausjärjestely voidaan soveltaa jonkin muunkin päällystetyn kerroksen kuin 10 silikonipäällystetyn kerroksen yhteyteen. Tällöin siis voidaan mitata jonkin muun päällysteen kuin silikonipäällysteen peittovaikutus. Tällöin sovellutuskohde voi siis olla esimerkiksi muovipäällystetyn paperin tai kartongin muovipäällysteen peittovaikutuksen määrittäminen. Muovipäällyste voi olla esimerkiksi polyeteeniä. Edelleen päällyste voi olla lakka tai vaha tai vastaava. Tällöin siis 15 päällystetty kerros voi olla esimerkiksi vahapäällystetty valokuvakartonki tai lakkapäällystetty painotuote.
Alan ammattilaiselle on ilmeistä, että tekniikan kehittyessä keksinnön perusajatus voidaan toteuttaa monin eri tavoin. Keksintö ja sen suoritusmuodot eivät siten rajoitu yllä kuvattuihin esimerkkeihin vaan ne voivat vaihdella 20 patenttivaatimusten puitteissa.
Claims (7)
- Patenttivaatimukset1. Mittausmenetelmä, jossa mittausmenetelmässä:valaistaan silikonipäällystettyä kerrosta valonlähteellä, havainnoidaan kuvantamalla silikonipäällystetystä kerroksesta peiliheijastuksella heijastuvaa valonlähteestä tulevaa valoa siten, että muodostetaan kuva silikonipäällystetyn kerroksen pinnasta, analysoidaan kuvantamalla havainnoidusta kuvasta silikonipäällysteen peittovaikutus ja analysointivaiheessa tunnistetaan kuvasta huokoset ja/tai aukot silikonipäällysteessä ja silikonipäällysteen peittovaikutus analysoidaan tunnistettujen huokosten ja/tai aukkojen perusteella, tunnettu siitä, että määritetään silikonipäällysteen peittovaikutuksesta irrotusvoima.
- 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, missä20165587 prh 05 -07- 2019 silikonipäällystetty kerros on liikkuva raina.
- 3. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, missä silikonipäällystetty kerros on silikonipäällystetty paperi.
- 4. Mittausjärjestely, johon mittausjärjestelyyn kuuluu: silikonipäällystettykerros, valonlähde valonsäteen suuntaamiseksi silikonipäällystetyn kerroksen pintaan halutussa kulmassa, kuvantava mittalaite, joka on sovitettu muodostamaan kuva silikonipäällystetyn kerroksen peiliheijastuspinnasta ja prosessointiyksikkö, joka on sovitettu analysoimaan mainitusta kuvasta silikonipäällysteen peittovaikutus, missä prosessointiyksikkö on sovitettu tunnistamaan mainitusta kuvasta huokoset ja/tai aukot silikonipäällysteessä ja analysoimaan silikonipäällysteen peittovaikutus tunnistettujen huokosten ja/tai aukkojen perusteella, tunnettu siitä, että prosessointiyksikkö on sovitettu määrittämään silikonipäällysteen peittovaikutuksesta irrotusvoima.
- 5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen järjestely, missä silikonipäällystetty kerros on liikkuva raina.
- 6. Patenttivaatimuksen 4 tai 5 mukainen järjestely, missä silikonipäällystetty kerros on silikonipäällystetty paperi.
- 7. Mittauslaite, johon mittauslaitteeseen kuuluu:valonlähde valonsäteen suuntaamiseksi silikonipäällystetyn kerroksen pintaan halutussa kulmassa, kuvantava mittalaite, joka on sovitettu muodostamaan kuva 5 silikonipäällystetyn kerroksen peiliheijastuspinnasta ja prosessointiyksikkö, joka on sovitettu analysoimaan mainitusta kuvasta silikonipäällysteen peittovaikutus, missä prosessointiyksikkö on sovitettu tunnistamaan mainitusta kuvasta huokoset ja/tai aukot silikonipäällysteessä ja analysoimaan 10 silikonipäällysteen peittovaikutus tunnistettujen huokosten ja/tai aukkojen perusteella, tunnettu siitä, että prosessointiyksikkö on sovitettu määrittämään silikonipäällysteen peittovaikutuksesta irrotusvoima.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20165587A FI128094B (fi) | 2016-07-13 | 2016-07-13 | Mittausmenetelmä, mittausjärjestely ja mittalaite |
| DE112017003510.4T DE112017003510T5 (de) | 2016-07-13 | 2017-07-05 | Messverfahren, Messanordnung und Messvorrichtung |
| US16/316,327 US10969343B2 (en) | 2016-07-13 | 2017-07-05 | Measuring method, measuring arrangement and measuring device |
| PCT/FI2017/050508 WO2018011465A1 (en) | 2016-07-13 | 2017-07-05 | Measuring method, measuring arrangement and measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20165587A FI128094B (fi) | 2016-07-13 | 2016-07-13 | Mittausmenetelmä, mittausjärjestely ja mittalaite |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI20165587A FI20165587A (fi) | 2016-10-11 |
| FI128094B true FI128094B (fi) | 2019-09-13 |
Family
ID=57234784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI20165587A FI128094B (fi) | 2016-07-13 | 2016-07-13 | Mittausmenetelmä, mittausjärjestely ja mittalaite |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10969343B2 (fi) |
| DE (1) | DE112017003510T5 (fi) |
| FI (1) | FI128094B (fi) |
| WO (1) | WO2018011465A1 (fi) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112066917B (zh) * | 2020-09-17 | 2023-01-31 | 北京半导体专用设备研究所（中国电子科技集团公司第四十五研究所） | 平面度检测设备、方法和电子设备 |
| WO2023078980A1 (de) | 2021-11-04 | 2023-05-11 | Loparex Germany Gmbh & Co. Kg | Erkennung von silikonfehlstellen im laufenden beschichtungsbetrieb |
| CN114184612B (zh) * | 2021-11-11 | 2024-03-26 | 南方电网科学研究院有限责任公司 | 一种交联聚乙烯电缆脱气效果评价方法 |
Family Cites Families (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4250382A (en) * | 1979-08-14 | 1981-02-10 | Scott Paper Company | Coat detection method |
| US5084354A (en) * | 1990-10-23 | 1992-01-28 | Daubert Coated Products, Inc. | Stabilized paper substrate for release liners |
| US5162660A (en) | 1991-06-27 | 1992-11-10 | Macmillan Bloedel Limited | Paper roughness or glass sensor using polarized light reflection |
| DE4425737C2 (de) * | 1994-07-21 | 1998-01-08 | Kaemmerer Gmbh | Trennrohpapier mit silikathaltigen Primerstrichen und damit hergestelltes Trennpapier |
| FI110638B (fi) | 1998-10-06 | 2003-02-28 | Metso Paper Automation Oy | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi |
| US6179918B1 (en) | 1998-11-20 | 2001-01-30 | Honeywell International Inc. | Silicone coat weight measuring and control apparatus |
| FI20030976A (fi) * | 2003-06-30 | 2004-12-31 | M Real Oyj | Päällystetty pohjapaperi ja menetelmä päällystetyn pohjapaperin valmistamiseksi |
| US20050181118A1 (en) | 2004-02-12 | 2005-08-18 | Janssen Robert A. | Method for the precision saturation of substrates in preparation for digital printing, and the substrates produced therefrom |
| US7866782B2 (en) | 2007-04-09 | 2011-01-11 | Xerox Corporation | System for optically detecting and measuring release agent on a print drum in an ink jet printer |
| US7619740B2 (en) | 2007-10-11 | 2009-11-17 | Honeywell International Inc. | Microgloss measurement of paper and board |
| JP2009229173A (ja) | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Toppan Printing Co Ltd | 薄膜コート未塗工部検査装置及び方法 |
| RU2555791C2 (ru) | 2009-09-24 | 2015-07-10 | Упм Рафлатак Ой | Способ прикрепления этикеток к предметам |
| FI20126126L (fi) | 2012-10-30 | 2014-05-01 | Metso Automation Oy | Menetelmä ja laite kiillon mittaamiseksi |
| US9056495B2 (en) | 2012-12-19 | 2015-06-16 | Xerox Corporation | System and method for imaging and evaluating coating on an imaging surface in an aqueous inkjet printer |
| US9457374B2 (en) * | 2013-11-08 | 2016-10-04 | Upm Raflatac Oy | Method and apparatus for curtain coating |
| US20160178528A1 (en) | 2014-12-19 | 2016-06-23 | Agiltron, Inc. | Devices for detecting contamination in coatings |
-
2016
- 2016-07-13 FI FI20165587A patent/FI128094B/fi active IP Right Grant
-
2017
- 2017-07-05 US US16/316,327 patent/US10969343B2/en active Active
- 2017-07-05 WO PCT/FI2017/050508 patent/WO2018011465A1/en active Application Filing
- 2017-07-05 DE DE112017003510.4T patent/DE112017003510T5/de active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20190277768A1 (en) | 2019-09-12 |
| WO2018011465A1 (en) | 2018-01-18 |
| DE112017003510T5 (de) | 2019-03-28 |
| FI20165587A (fi) | 2016-10-11 |
| US10969343B2 (en) | 2021-04-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7880156B2 (en) | System and method for z-structure measurements using simultaneous multi-band tomography | |
| EP1880198B1 (en) | Method and apparatus for measurement of fiber orientation | |
| FI128094B (fi) | Mittausmenetelmä, mittausjärjestely ja mittalaite | |
| US7619740B2 (en) | Microgloss measurement of paper and board | |
| JPH11230819A (ja) | コーティング重量の計測と制御装置及び方法 | |
| US9062964B1 (en) | Laser caliper measurement of paper material | |
| US7012698B2 (en) | Method and arrangement for contactless determination of geometric and optical characteristics | |
| FI115163B (fi) | Spektrierottelevaan mittaukseen perustuva laadun- ja kunnonvalvonta | |
| US9625382B2 (en) | Method and apparatus for measuring gloss | |
| FI121033B (fi) | Menetelmä ja laitteisto paperipinnan optiseksi määrittämiseksi | |
| JP2002530664A (ja) | シリコン被覆厚さ測定および制御装置 | |
| US6111651A (en) | Method and apparatus for measuring properties of a moving web | |
| JP2002532700A (ja) | ラテックス被覆の厚さを測定し制御する装置 | |
| US10228329B2 (en) | Arrangement for determining properties and/or parameters of a sample and/or of at least one film formed on the surface of a sample | |
| CA2628862C (en) | Pass-line insensitive sensor | |
| FI110638B (fi) | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi | |
| JP7130944B2 (ja) | 検査システム、検査方法及び検査システムの製造方法 | |
| JP2016200439A (ja) | 塗膜ムラ測定方法および塗膜ムラ測定装置 | |
| JP3651219B2 (ja) | 電子写真感光体の膜厚測定装置および膜厚測定方法、電子写真感光体の製造装置および製造方法 | |
| JP2000177263A (ja) | 感熱孔版用印刷原紙の製造方法および製造装置 | |
| Oksman et al. | Diffractive optical element–based glossmeter for the on-line measurement of normal reflectance on a printed porous coated paper | |
| FI114119B (fi) | Menetelmä ja laite paperin optisten pintaominaisuuksien määrittämiseksi laser-optisella anturilla | |
| JPH08114502A (ja) | 液体測色方法及び装置 | |
| JPH0571927A (ja) | 塗膜の膜厚簡易検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG | Patent granted |
Ref document number: 128094 Country of ref document: FI Kind code of ref document: B |