FI125973B - Järjestelmä saheiden kuvaamiseksi - Google Patents
Järjestelmä saheiden kuvaamiseksi Download PDFInfo
- Publication number
- FI125973B FI125973B FI20125733A FI20125733A FI125973B FI 125973 B FI125973 B FI 125973B FI 20125733 A FI20125733 A FI 20125733A FI 20125733 A FI20125733 A FI 20125733A FI 125973 B FI125973 B FI 125973B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- saw
- mirror
- transverse
- saws
- mirrors
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/002—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/04—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/245—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
- G01N21/8986—Wood
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/46—Wood
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Wood Science & Technology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Sawing (AREA)
Description
JÄRJESTELMÄ SAHEIDEN KUVAAMISEKSI
Keksinnön kohteena on patenttivaatimuksen 1 johdannon mukainen järjestelmä saheiden kuvaamiseksi.
Tunnettu tekniikka
Julkaisussa WO 00/62011 AI on kuvattu laitteisto puutavaran dimensioiden ja ulkoisten ominaisuuksien määrittämiseksi nk. poikittaismittausmenetelmällä.
Poikittaismittausmenetelmässä saheet kulkevan laitteiston ohitse poikittain elikkä laitteisto kuvaa saheen oleellisesti koko pituudeltaan samanaikaisesti. Vastaavasti tunnetaan myös nk. pitkittäismenetelmä, jossa saheet ohittavat kuvauslaitteiston pituussuuntaisesti, jolloin laitteisto kuvaa kerrallaan saheen koko leveyden. Pitkittäismenetelmässä saheen kuljettaminen laitteiston läpi kestää kuitenkin pidempään, sillä saheiden pituus on tyypillisesti huomattavasti suurempi kuin leveys.
Julkaisussa WO 00/62011 AI kuvatussa laitteistossa mitattavaa kohdetta tarkastellaan poikittaismittauksessa yhdessä mittausasemassa samalla valaisujärjestelyllä kolmesta eri suunnasta väriviivakameroilla, edullisesti väriviivakameroilla. Laitteisto käsittääkin vähintään kolme tällaista kameraa.
Keksinnön kuvaus
Keksinnön tarkoituksena on luoda uusi ratkaisu saheiden kuvaamista varten.
Keksintö perustuu siihen, että mittausalueen ohittava sahe kuvataan matriisikameralla samalla kertaa sekä suoraan että ainakin yhden peilin kautta muodostetun ainakin yhden peilikuvan avulla, jolloin yhdellä kertaa saadaan koottua kuvamateriaalia ainakin kahdesta, ja joissakin sovellusmuodoissa jopa kolmesta, saheen sivusta.
Täsmällisemmin sanottuna keksinnön mukaiselle menetelmälle on tunnusomaista se, mikä on esitetty patenttivaatimuksen 1 tunnusmerkkiosassa.
Keksinnön avulla luodaan uusi ratkaisu saheiden kuvaamista varten.
Keksintö mahdollistaa myös useita erilaisia sovellusmuotoja, jotka tarjoavat lisäetuja.
Keksinnöllä on esimerkiksi sovellusmuotoja, joissa kameroiden lukumäärää voidaan vähentää tunnettuihin ratkaisuihin verrattuna. Sovellusmuotojen avulla on nimittäin mahdollista kuvata saheen kaikki kolme sivua samalla mittauselementillä.
Keksinnöllä on myös sovellusmuotoja, jotka helpottavat kameroiden kalibrointia.
Keksinnöllä on myös sovellusmuotoja, jotka mahdollistavat tunnettuja ratkaisuja kompaktimman mittausalueen, jolloin myös mittausalueen valaistus on helpompi toteuttaa. Samalla myös mittauskuljetin on mahdollista toteuttaa lyhempänä.
Kuvioiden esittely
Keksintöä tarkastellaan seuraavassa esimerkkien avulla ja oheisiin piirustuksiin viitaten.
Kuvio 1 esittää yhden sovellusmuodon mukaista järjestelmää ylhäältä päin katsottuna periaatepiirroksena.
Kuvio 2 esittää yhden sovellusmuodon mukaista järjestelmää sivulta päin katsottuna periaatepiirroksena.
Kuvio 3 esittää esimerkin kuvan muodostumisesta yhdessä sovellusmuodossa.
Kuvio 4 esittää toisen sovellusmuodon mukaista järjestelmää sivulta päin katsottuna periaatepiirroksena.
Keksinnön sovellusmuotoja
Kuvion 1 järjestelmä käsittää pääkuljettimen 1, johon kuuluu ketjuja kolat saheiden 3 kuljettamiseksi poikittaissuunnassa mittauskuljettimelle 2 ja edelleen mittauskuljettimelta 2 poispäin. Mittauskuljetin 2 on puolestaan tyypillisesti hihnakuljetin.
Kuvion 1 järjestelmä käsittää myös mittausaseman 4, joka puolestaan käsittää kamerat 5 ja peilit 6, joiden asemoinnin mukaisesti määräytyy mittausaseman 4 mittausalue 7, jolla mittausalueella 7 saheita 3 voidaan kuvata.
Kuviossa 2 kuvion 1 järjestelmää katsotaan sivulta päin eli mittausalueella 7 olevan saheen 3 päädyn suunnasta. Kuviossa on esitetty kuviossa 1 esitettyjä elementtejä sivusuunnasta. Lisäksi kuviossa on esitetty mittausasemaan 4 kuuluvat valot 8 kuvattavien saheiden 3 valaisemiseksi. Kuvion 2 sovellusmuodossa valot 8 valaisevat kuvattavaan sahetta 3 kahdesta eri suunnasta.
Kuvio 3 esittää kuvan muodostamista kuvion 1 mittausasemassa 4. Kuvio 3 esittää matriisikameraelementin 9, linssin 10, kuvattavan kohteen pinnan 11 (saheen 3 päälipinnan tai alapinnan) sekä kuvattavasta kohteesta matriisikameraelementin 9 CCD-tai CMOS-matriisille muodostuvan kuvan 12.
Kuviossa 4 on esitetty kuvion 2 järjestelyn yksi mahdollinen muunnelma. Molemmissa järjestelyissä yhteistä on se, että kamerat 5 kuvaavat sahetta 3 suoraan peilien 6 välistä ja lisäksi peilien 6 kautta kahtena peilikuvana. Järjestelyt poikkeavat toisistaan siten, että kuvion 2 laitteessa peilikuvat heijastetaan peilien 6 välistä ja kuvion 4 laitteessa peilien 6 vastakkaisilta puolilta. Kuvion 2 laitteessa suoran kuvauksen ja peilikuvien muodostamat kuvausalueet voivat olla osittain päällekkäisiä ja mittausalue 7 on näin kompaktimpi. Kuvion 4 laitteessa taas suojan kuvauksen alue ja peilikuvat sijaitsevat välimatkan päässä toisistaan, jolloin mittausalue 7 hajaantuu laajemmalle alueelle.
Kuvioiden 2 ja 4 poikkileikkauksen tasossa tarkasteltuna kamerat 5 kuvaavat sahetta 3 oleellisesti kohtisuorassa kulmassa. Yksi mahdollinen muunnelma on sellainen, jossa kamerat 5 kuvaavat sahetta 3 kuvioiden 2 ja 4 poikkileikkauksen tasossa tarkasteltuna muussa kuin oleellisesti kohtisuorassa kulmassa eli kameroiden kuvaussuuntaan on poikkeutettu kallistamalla ja siirtämällä kameroita saheiden saapumissuuntaa tai poistumissuuntaa kohti.
Edelleen yksi mahdollinen muunnelma kaikkiin edellä esitettyihin sovellusmuotoihin on sellainen, jossa kahden peilin 6 tai peilirivin sijasta käytetään vain yhtä peiliä 6 tai peiliriviä.
Yleisesti sahatavaraa kuvataan tarkoituksena automaattisesti laaduttaa ja optimoida saheet. Kuvauksella halutaan saada selville esimerkiksi kunkin saheen leveys, paksuus, pituus, vajaasärmäisyyden leveys ja syvyys. Lisäksi voidaan kuvataan lappeilta ja syrjiltä oksat, pihkataskut, halkeamat, lahot, sinistymät ja muut saheen laatuun ja arvoon vaikuttavat tekijät.
Kuvioiden sovellusmuodoissa saheet 3 kuljetetaan pääkuljettimella 1 eli poikittaisella kolakuljettimella, joka työntää saheita johteilla eteenpäin ketjujen ja niihin kiinnitettyjen kolien avulla. Mittauskuljettimen 2 hihnat vetävät saheet 3 irti pääkuljettimen 1 kolista, jotta jälkimmäinen syrjä saadaan esteettömäsii kuvatuksi. Nykyisin tyypillinen nopeus on 100 - 200 sahetta minuutissa. Perinteinen tapa on kuvata saheet kahdessa mitta-asemassa ja kääntää saheet mekaanisesti asemien välissä. Kolmisuuntaisella mitta-asemalla voidaan kuvata saheen molemmat syrjät ja päälilappeen.
Sovellusmuotojen mukaisessa järjestelyssä saheet kuvataan kolmisuuntaisessa mitta-asemassa 4 yhdellä matriisikamerarivillä siten, että mittausalueet 7 kattavat suoraan saheen yläpinnan ja peilien 6 avulla molemmat syrjät. Kameran kuvausmatriisit 9 voivat olla esimerkiksi CCD- tai CMOS- tai vastaavan tyyppisiä.
Edellä esitettyjen sovellusmuotojen avulla voidaan toteuttaa järjestelmä poikittais-suuntaisesti järjestelmän ohi kulkevien saheiden 3 kuvaamiseksi, jossa kukin sahe 3 käsittää päälipinnan ja pohjapinnan sekä nämä yhdistävät reunat ja järjestelmä on sovitettu kuvaamaan päälipinta ja ainakin yksi reuna saheen 3 kulkiessa järjestelmän mittausalueen 7 ohitse.
Yhdessä sovellusmuodossa järjestelmä käsittää saheen 3 kuvaamista varten ainakin yhden matriisikameran 5, joka on asemoitu ensimmäiseen asemaan suhteessa saheiden 3 kulureittiin. Lisäksi järjestelmä käsittää ainakin yhden peilin 6, joka on asemoitu toiseen asemaan suhteessa saheiden 3 kulureittiin ja mainittuun ensimmäiseen asemaan. Sovellusmuodon mukaan ensimmäinen ja toinen asema on valittu siten, että kukin poikittaissuuntaisesti ohi kulkeva sahe 3 voidaan kuvata mainitulla ainakin yhdellä matriisikameralla 5 suoraan ensimmäisestä suunnasta ja mainitun ainakin yhden peilin 6 kautta peilikuvana ainakin yhdestä toisesta suunnasta, joka on eri suunta kuin ensimmäinen suunta.
Yhden sovellusmuodon mukaan mainittu ainakin yksi matriisikamera 5 käsittää kaksi, kolme tai useampia matriisikameroita 5, jotka on sijoitettu poikittaissuuntaiseen riviin. Poikittaissuunta viittaa tällöin saheiden 3 kulkusuuntaan nähden poikittaiseen suuntaan eli rivin pituussuunta on oleellisesti yhdensuuntainen kuvattavan saheen 3 pituussuunnan kanssa.
Yhden sovellusmuodon mukaan mainittu ainakin yksi peili 6 käsittää kaksi, kolme tai useampia peilejä 6, jotka on sijoitettu poikittaissuuntaiseen riviin. Poikittaissuunnalla tarkoitetaan tällöin vastaavaa suuntaa kuin edellisessä kappaleessa kuvattiin.
Yhden sovellusmuodon mukaan järjestelmä käsittää ainakin yhden toisen peilin 6, joka on asemoitu kolmanteen asemaan suhteessa saheiden 3 kulureittiin ja mainittuun ensimmäiseen asemaan. Kolmas asema valitaan siten, että kukin poikittaissuuntaisesti ohi kulkeva sahe 3 voidaan kuvata mainitulla ainakin yhdellä matriisikameralla 5 mainitun ainakin yhden toisen peilin 6 kautta toisena peilikuvana ainakin yhdestä kolmannesta suunnasta, joka on eri suunta kuin ensimmäinen suunta ja toinen suunta.
Yhden sovellusmuodon mukaan mainittu ainakin yksi toinen peili 6 käsittää kaksi, kolme tai useampia toisia peilejä 6, jotka on sijoitettu poikittaissuuntaiseen riviin vastaavalla tavalla kuin ensimmäisetkin peilit, mutta eri kohtaan asemoituina.
Yhden sovellusmuodon mukaan ensimmäinen suunta on saheen kulkusuuntaan ja ainakin saheen 3 päälipinnan osaan nähden oleellisesti kohtisuorassa silloin, kun sahe on vastaavan ainakin yhden matriisikameran 5 mittausalueella. Tällainen asemointi on esitetty kuvioissa 2 ja 4.
Toisen sovellusmuodon mukaan ensimmäinen suunta on kallistettu saheen 3 lähestymissuuntaa tai poistumissuuntaa kohti suunnasta, joka on saheen kulkusuuntaan ja ainakin saheen 3 päälipinnan osaan nähden oleellisesti kohtisuorassa silloin, kun sahe on vastaavan ainakin yhden matriisikameran 5 mittausalueella 7.
Yhden sovellusmuodon mukaan toinen suunta on saheen 3 lähestymissuuntaa tai poistumissuuntaa kohti suuntautuvassa kallistuskulmassa ensimmäiseen suuntaan nähden.
Yhden sovellusmuodon mukaan mainittu ainakin yksi matriisi kamera 5 käsittää kaksi, kolme tai useampia matriisikameroita 5, jotka on sijoitettu ensimmäiseen poikittaissuuntaiseen riviin, ja vastaavasti myös mainittu ainakin yksi peili 6 käsittää kaksi, kolme tai useampia peilejä 6, jotka on sijoitettu toiseen poikittaissuuntaiseen riviin. Lisäksi järjestelmä käsittää toiset kaksi, kolme tai useampia peilejä 6, jotka on sijoitettu kolmanteen poikittaissuuntaiseen riviin, ja ensimmäinen, toinen ja kolmas rivi on asemoitu siten, että mittausalue 7 sijoittuu ensimmäisen rivin suunnasta katsottuna oleellisesti toisen ja kolmannen rivin väliin. Yksi tällainen sovellusmuoto on kuvattu kuviossa 2.
Yhden sovellusmuodon mukaan järjestelmä käsittää valot 8, jotka on sovitettu valaisemaan mittausalueella 7 olevaa sahetta 3.
Yhden sovellusmuodon mukaan valot 8 asemoidaan yhteen valaisinriviin, joka valaisee sahetta 3 yhdestä suunnasta. Tällainen sovellusmuoto soveltuu käytettäväksi esimerkiksi silloin, kun mittausasema 4 käsittää yhden peilirivin. Tällöin toki koko järjestelmä mielellään käsittää kaksi mittausasemaa 4, joiden välillä sahe 3 käännetään. Eli järjestelmän kahdessa mittausasemassa kummassakin (sahe käännetään mittausasemien välissä) mitataan ylälape ja toinen syrjä. Kunkin mittausaseman 4 yksi valaisinrivi sijoitetaan suoran matriisikameran 5 näkemän ja peilin 6 kautta tulevan näkemän väliin tai lähelle näiden näkemien symmetria-akselin suuntaa.
Toisen sovellusmuodon mukaan valot 8 asemoidaan kahteen valaisinriviin, jotka on sovitettu valaisemaan mittausalueella 7 olevaa sahetta 3 kahdesta eri suunnasta. Tällainen sovellusmuoto on kuvattu kuviossa 2 ja kuviossa 4.
Kolmannen sovellusmuodon mukaan valot 8 sijoitetaan useampaan kuin kahteen valaisinriviin, jotka on sovitettu valaisemaan mittausalueella 7 olevaa sahetta 3 useammasta kuin kahdesta eri suunnasta.
Yhden sovellusmuodon mukaan järjestelmä käsittää toisen vastaavan matriisikameroiden 5 ja peilien 6 ryhmän asemoituna saheiden 3 kulkureitille ensimmäisen ryhmän ja saheiden kääntölaitteen jälkeen siten, että ensimmäisen ryhmän avulla voidaan kuvata kunkin saheen 3 päälipinta ja ainakin yksi reuna ja toisen ryhmän avulla voidaan kuvata kunkin saheen 3 pohjapinta ja ainakin toinen reuna.
Edellä esitettyjen esimerkkien perusteella onkin selvää, että keksinnön puitteissa voidaan toteuttaa lukuisia yllä kuvatuista sovellusmuodoista poikkeavia ratkaisuja. Keksintöä ei siis ole tarkoitus rajoittaa koskemaan ainoastaan edellä esitettyjä esimerkkejä, vaan patenttisuojaa tulee tarkastella oheisten patenttivaatimusten täydessä laajuudessa.
Claims (12)
1. Järjestelmä poikittaissuuntaisesti järjestelmän ohi kulkevien saheiden (3) kuvaamiseksi, jossa kukin sahe (3) käsittää päälipinnan ja pohjapinnan sekä nämä yhdistävät reunat ja joka järjestelmä on sovitettu kuvaamaan päälipinta ja ainakin yksi reuna saheen (3) kulkiessa järjestelmän mittausalueen (7) ohitse, tunnettu siitä, että järjestelmä käsittää: - ainakin yhden matriisikameran (5) saheen (3) kuvaamista varten, joka on asemoitu ensimmäiseen asemaan suhteessa saheiden (3) kulureittiin, ja - ainakin yhden peilin (6), joka on asemoitu toiseen asemaan suhteessa saheiden (3) kulureittiin ja mainittuun ensimmäiseen asemaan, jotka ensimmäinen ja toinen asema on valittu siten, että kukin poikittaissuuntaisesti ohi kulkeva sahe (3) voidaan kuvata mainitulla ainakin yhdellä matriisikameralla (5) suoraan ensimmäisestä suunnasta ja mainitun ainakin yhden peilin (6) kautta peilikuvana ainakin yhdestä toisesta suunnasta.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että mainittu ainakin yksi matriisikamera (5) käsittää kaksi, kolme tai useampia matriisikameroita (5), jotka on sijoitettu poikittaissuuntaiseen riviin.
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että mainittu ainakin yksi peili (6) käsittää kaksi, kolme tai useampia peilejä (6), jotka on sijoitettu poikittaissuuntaiseen riviin.
4. Jonkin patenttivaatimuksen 1-3 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että järjestelmä käsittää ainakin yhden toisen peilin (6), joka on asemoitu kolmanteen asemaan suhteessa saheiden (3) kulureittiin ja mainittuun ensimmäiseen asemaan, joka kolmas asema on valittu siten, että kukin poikittaissuuntaisesti ohi kulkeva sahe (3) voidaan kuvata mainitulla ainakin yhdellä matriisikameralla (5) mainitun ainakin yhden toisen peilin (6) kautta toisena peilikuvana ainakin yhdestä kolmannesta suunnasta.
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että mainittu ainakin yksi toinen peili (6) käsittää kaksi, kolme tai useampia toisia peilejä (6), jotka on sijoitettu poikittaissuuntaiseen riviin.
6. Jonkin patenttivaatimuksen 1-5 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että ensimmäinen suunta on saheen kulkusuuntaan ja ainakin saheen (3) päälipinnan osaan nähden oleellisesti kohtisuorassa silloin, kun sahe on vastaavan ainakin yhden matriisikameran (5) mittausalueella.
7. Jonkin patenttivaatimuksen 1-5 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että ensimmäinen suunta on kallistettu saheen (3) lähestymissuuntaa tai poistumissuuntaa kohti suunnasta, joka on saheen kulkusuuntaan ja ainakin saheen (3) päälipinnan osaan nähden oleellisesti kohtisuorassa silloin, kun sahe on vastaavan ainakin yhden matriisikameran (5) mittausalueella (7).
8. Jonkin patenttivaatimuksen 1-7 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että toinen suunta on saheen (3) lähestymissuuntaa tai poistumissuuntaa kohti suuntautuvassa kallistuskulmassa ensimmäiseen suuntaan nähden.
9. Jonkin patenttivaatimuksen 1-8 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että mainittu ainakin yksi matriisikamera (5) käsittää kaksi, kolme tai useampia matriisikameroita (5), jotka on sijoitettu ensimmäiseen poikittaissuuntaiseen riviin, mainittu ainakin yksi peili (6) käsittää kaksi, kolme tai useampia peilejä (6), jotka on sijoitettu toiseen poikittaissuuntaiseen riviin, mainittu ainakin yksi peili (6) käsittää toiset kaksi, kolme tai useampia peilejä (6), jotka on sijoitettu kolmanteen poikittaissuuntaiseen riviin, ja ensimmäinen, toinen ja kolmas rivi on asemoitu siten, että mittausalue (7) sijoittuu ensimmäisen rivin suunnasta katsottuna oleellisesti toisen ja kolmannen rivin väliin.
10. Jonkin patenttivaatimuksen 1-9 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että se käsittää valot (8), jotka on sovitettu valaisemaan mittausalueella olevaa sahetta (3).
11. Patenttivaatimuksen 10 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että valot (8) on asemoitu ainakin kahteen poikittaissuuntaiseen valaisinriviin siten, että ne valaisevat mittausalueella olevaa sahetta (3) ainakin kahdesta eri suunnasta.
12. Jonkin patenttivaatimuksen 1-10 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että se käsittää toisen vastaavan matriisikameroiden (5) ja peilien (6) ryhmän asemoituna saheiden (3) kulkureitille ensimmäisen ryhmän ja saheiden kääntölaitteen jälkeen siten, että ensimmäisen ryhmän avulla voidaan kuvata kunkin saheen (3) päälipinta ja ainakin yksi reuna ja toisen ryhmän avulla voidaan kuvata kunkin saheen (3) pohjapinta ja ainakin toinen reuna.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20125733A FI125973B (fi) | 2012-06-27 | 2012-06-27 | Järjestelmä saheiden kuvaamiseksi |
EP13397522.7A EP2679951A3 (en) | 2012-06-27 | 2013-06-19 | System for imaging sawn timber |
CA2820471A CA2820471A1 (en) | 2012-06-27 | 2013-06-21 | System for imaging sawn timber |
US13/927,277 US20140002634A1 (en) | 2012-06-27 | 2013-06-26 | System for imaging sawn timber |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI20125733A FI125973B (fi) | 2012-06-27 | 2012-06-27 | Järjestelmä saheiden kuvaamiseksi |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI20125733A FI20125733A (fi) | 2013-12-28 |
FI125973B true FI125973B (fi) | 2016-05-13 |
Family
ID=48703388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI20125733A FI125973B (fi) | 2012-06-27 | 2012-06-27 | Järjestelmä saheiden kuvaamiseksi |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20140002634A1 (fi) |
EP (1) | EP2679951A3 (fi) |
CA (1) | CA2820471A1 (fi) |
FI (1) | FI125973B (fi) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104613894A (zh) * | 2015-01-26 | 2015-05-13 | 中山市美捷时包装制品有限公司 | 一种视觉高速检测*** |
CN107246841A (zh) * | 2017-05-27 | 2017-10-13 | 武汉理工大学 | 一种汽车零部件的多视点检测分选装置 |
CN109323664B (zh) * | 2017-07-31 | 2021-06-29 | 深圳市炫硕智造技术有限公司 | 双面影像测试机构 |
DE102017009153B4 (de) * | 2017-09-29 | 2021-12-09 | Baumer Inspection Gmbh | Anordnung und Verfahren zur Inspektion von bewegten plattenförmigen Objekten |
CN111389765A (zh) * | 2020-03-31 | 2020-07-10 | 上海电气集团股份有限公司 | 一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣*** |
CN111521618B (zh) * | 2020-04-27 | 2023-01-31 | 衢州职业技术学院 | 一种工业机器人用轴承缺陷快速检测装置及其检测方法 |
EP3916378B1 (en) * | 2020-05-29 | 2023-09-27 | MICROTEC S.r.l. | Method and apparatus for capturing an image of a lateral face of a wooden board |
EP4227673A1 (en) * | 2022-01-27 | 2023-08-16 | Finnos Oy | Apparatus for capturing images of elongated timber |
US12028497B1 (en) | 2023-05-22 | 2024-07-02 | Certified Guaranty Company, LLC | Simultaneous single obverse and reverse imaging of collectible items |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4891530A (en) * | 1986-02-22 | 1990-01-02 | Helmut K. Pinsch Gmbh & Co. | Testing or inspecting apparatus and method for detecting differently shaped surfaces of objects |
DE19716468C2 (de) * | 1997-04-21 | 1999-07-08 | Autronic Bildverarbeitung | Einrichtung zur Oberflächeninspektion, insbesondere von Holz |
FI990712A (fi) | 1999-03-30 | 2000-10-01 | Finscan Oy | Menetelmä ja laitteisto kolmiulotteisten kappaleiden, esimerkiksi puutavaran dimensioiden ja ulkoisten ominaisuuksien määrittämiseksi |
US6701081B1 (en) * | 2000-06-06 | 2004-03-02 | Air Controls, Inc. | Dual camera mount for stereo imaging |
CA2378625A1 (fr) * | 2002-03-20 | 2003-09-20 | Martin Castonguay | Optimiseur de grade a haute perfomance |
US7406190B2 (en) * | 2003-07-24 | 2008-07-29 | Lucidyne Technologies, Inc. | Wood tracking by identification of surface characteristics |
DE102007030865A1 (de) * | 2007-06-25 | 2009-07-09 | GreCon Dimter Holzoptimierung Süd GmbH & Co. KG | Vorrichtung und Verfahren zum Scannen von Massivhölzern |
-
2012
- 2012-06-27 FI FI20125733A patent/FI125973B/fi active IP Right Grant
-
2013
- 2013-06-19 EP EP13397522.7A patent/EP2679951A3/en not_active Withdrawn
- 2013-06-21 CA CA2820471A patent/CA2820471A1/en not_active Abandoned
- 2013-06-26 US US13/927,277 patent/US20140002634A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20140002634A1 (en) | 2014-01-02 |
EP2679951A3 (en) | 2017-07-05 |
EP2679951A2 (en) | 2014-01-01 |
FI20125733A (fi) | 2013-12-28 |
CA2820471A1 (en) | 2013-12-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI125973B (fi) | Järjestelmä saheiden kuvaamiseksi | |
US8388204B2 (en) | High speed, high resolution, three dimensional solar cell inspection system | |
EP3066456B1 (en) | Inspection apparatus | |
KR102339677B1 (ko) | 광학 검사 장치 | |
US20150253129A1 (en) | Inspection apparatus | |
JP5809628B2 (ja) | カメラアレイ及びコンパクトな組み込み照明装置を備えた高速光学検査システム | |
KR101115010B1 (ko) | 웨이퍼 검사 장치 | |
US8681211B2 (en) | High speed optical inspection system with adaptive focusing | |
ES2894869T3 (es) | Sistema de inspección de superficies y método de inspección de superficies | |
KR102186431B1 (ko) | 가시 광선 및 적외선으로 반도체 구성요소를 검사하는 광학 검사 장치 및 광학 검사 방법 | |
JP6229968B2 (ja) | 凹凸検査装置 | |
SG191055A1 (en) | Optical examination device and optical examination method | |
FI116804B (fi) | Materiaalikappaleiden eri suuntiin osoittavien pintojen optinen tarkastus | |
JP2008047093A (ja) | 走査方法及び走査装置 | |
US9255893B2 (en) | Apparatus for illuminating substrates in order to image micro cracks, pinholes and inclusions in monocrystalline and polycrystalline substrates and method therefore | |
SE1450426A1 (sv) | Avbildningssystem för granulärt material med homogen bakgrund | |
US9553034B1 (en) | Combined semiconductor metrology system | |
JP2007322166A (ja) | プリント基板検査装置 | |
JP2005188929A (ja) | ワーク検査装置 | |
EP2600140A1 (en) | Inspection system | |
JP2013084792A (ja) | 撮像装置 | |
EP2634565B1 (en) | Method and apparatus for determining the dimensions and external properties of three-dimensional objects such as sawn timber | |
US8208133B2 (en) | Banknote verification device | |
RU2649612C2 (ru) | Контрольное устройство с инверсной пленочной линзой | |
FI13191Y1 (fi) | Laitteisto pitkänomaisten sahatavarakappaleiden kuvaamiseksi |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FG | Patent granted |
Ref document number: 125973 Country of ref document: FI Kind code of ref document: B |