DE881556C - Upper electron microscope for generating stereoscopic images by viewing the object from different angles - Google Patents

Upper electron microscope for generating stereoscopic images by viewing the object from different angles

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DE881556C
DE881556C DEA8517D DEA0008517D DE881556C DE 881556 C DE881556 C DE 881556C DE A8517 D DEA8517 D DE A8517D DE A0008517 D DEA0008517 D DE A0008517D DE 881556 C DE881556 C DE 881556C
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Germany
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electron
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DEA8517D
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Hans Dr-Ing Mahl
Alfred Dr Phil Recknagel
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AEG AG
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    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/09Diaphragms; Shields associated with electron or ion-optical arrangements; Compensation of disturbing fields
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01J37/147Arrangements for directing or deflecting the discharge along a desired path
    • H01J37/1478Beam tilting means, i.e. for stereoscopy or for beam channelling

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

Die - .Deutung von übermikroskopischen Aufnahmen ist .häufig erst möglich, wenn Stereobilder hergestellt werden. Stereoaufnahmen lassen sich in der Weise erzeugen, daß das. Objekt aus zwei verschiedenen Richtungen nacheinander bestrahlt wird und die beiden photographischen Aufnahmen mit dem Stereoskop betrachtet werden. Zur Vermeidung des Umweges über die photographischen Aufnahmen ist bereits vorgeschlagen worden, das Objekt in genügend schneller Folge abwechselnd aus zwei Richtungen zu bestrahlen und die beiden am gleichen Ort entstehenden Bilder in gleicher Folge abwechselnd mit dem einen und dem anderen Auge zu betrachten. In diesem Fall können die Elektronenbilder direkt stereoskopisch betrachtet werden.The - .interpretation of supermicroscopic images is. Often only possible when stereo images are produced. Stereo recordings can be made in the Generate way that the object irradiates from two different directions one after the other and the two photographs can be viewed with the stereoscope. To avoid the detour via the photographic recordings, this has already been suggested the object has been alternating from two directions in sufficiently rapid succession irradiate and the two images created in the same place in the same sequence to look alternately with one eye and the other. In this case you can the electron images can be viewed directly stereoscopically.

Die Erfindung betrifft ein Elektronenübermikroskop zur Erzeugung stereoskopischer Bilder durch Betrachtung des Objektes unter verschiedenen Winkeln, welches den Vorteil hat, daß die beiden Stereoteilbilder gleichzeitig nebeneinander entstehen und gleichzeitig stereoskopisch betrachtet werden. Dieses wird nach der Erfindung dadurch erzielt, daß unter Ausnutzung des sphärischen Fehlers der Linse die beiden Bilder gleichzeitig nebeneinander entstehen und gleichzeitig stereoskopisch betrachtet werden. Es wird also der Öffnungsfehler der Elektronenlinsen benutzt.The invention relates to an electron microscope for generating stereoscopic Pictures by looking at the object from different angles, which has the advantage has that the two stereo sub-images arise at the same time side by side and at the same time can be viewed stereoscopically. This is achieved according to the invention by that taking advantage of the spherical error of the lens, the two images simultaneously arise side by side and at the same time be viewed stereoscopically. It will thus the aperture error of the electron lenses is used.

Das dem Gegenstand der Erfindung zugrunde liegende Prinzip ist im folgenden an Hand der Fig. i näher erläutert. Ein Objekt O wird. durch zwei feine Elektronenstrahlen I und II beleuchtet, welche unter .dem Winkel mit der optischen Achse entstehen. An der Stelle Bbefindet sich der Ort des idealen Bildes. Mit Rücksicht auf den Öffnungsfehler entsteht aber der angedeutete Strahlengang mit .den Bildpunkten Bi und B2. Wenn mit C die Konstante der sphärischen Aberration der Linse bezeichnet wird, dann besteht für die Erfindung die folgende Beziehung Für elektrostatische Linsen mit ihren großen Werten der Aberrationskonstanten C lassen sich leicht erhebliche Abstände erzielen. Bei C ,-:z::# 80 mm, t = 30,a = 5 - io-2,-;:3° ergibt sich ö =@2 mm. a Dieser Abstand kann leicht durch Nachvergrößerung mit einer zweiten Linse auf die .gewünschte Entfernung vergrößert werden. Bei diesem Ausführungsbeispiel ,genügt eine etwa 3ofache Nachvergrößerung für eine Aufspaltung von 6 cm. Zur Erzeugung der beiden - Elektronenstrahlen kann entweder eine Kathode mit Doppelblende' und geeigneten Ablenk- bzw. Konzentrierungsmitteln benutzt werden, oder es -können zwei Kathoden verwendet werden.The principle on which the subject matter of the invention is based is explained in more detail below with reference to FIG. An object O becomes. Illuminated by two fine electron beams I and II, which arise at .dem angle with the optical axis. The location of the ideal image is located at point B. With regard to the aperture error, however, the indicated beam path arises with the image points Bi and B2. If C denotes the constant of the spherical aberration of the lens, then the following relationship exists for the invention For electrostatic lenses with their large values of the aberration constant C, considerable distances can easily be achieved. At C, -: z :: # 80 mm, t = 30, a = 5 - io-2, - ;: 3 ° the result is ö = @ 2 mm. a This distance can easily be enlarged to the desired distance by further magnification with a second lens. In this embodiment, an approximately 3-fold subsequent enlargement is sufficient for a split of 6 cm. Either a cathode with a double aperture and suitable deflecting or concentrating means can be used to generate the two electron beams, or two cathodes can be used.

Zur Erzeugung eines kontrastreichen Elektronenbildes ist es zweckmäßig, durch feine Blenden die Streuelektronen abzufangen. Mit Rücksicht auf das Vorhandensein von zwei Elektronenstrählengängen müssen auch zwei Blenden vorgesehen werden. Gegebenenfalls kann auch eine sehr enge Schlitzblende benutzt werden, welche die beiden Strahlengänge durchläßt. Es ist auch möglich, über der Schlitzblende verschiebbare Schneiden (Fig. 2) vorzusehen, welche die Erzeugung zweier Blendenlöcher in wählbarem Abstand ermöglichen.To generate a high-contrast electron image, it is useful to to intercept the scattered electrons through fine diaphragms. With regard to the presence two orifices must also be provided for two electron beam passages. Possibly a very narrow slit diaphragm can also be used, which separates the two beam paths lets through. It is also possible to use cutting edges that can be moved over the slit diaphragm (Fig. 2) to be provided, which allow the creation of two aperture holes at a selectable distance.

Es ist zweckmäßig, die Vergrößerung nicht zu hoch zu wählen, um zu vermeiden, daß der Astigmatismus stören kann. Zudem muß die Bestrahlungsapertur sehr klein sein, und zwar wesentlich kleiner als io-2, vorzugsweise etwa io-4, und geringer.It is advisable not to choose the magnification too high in order to avoid that the astigmatism can interfere. In addition, the irradiation aperture be very small, much smaller than io-2, preferably about io-4, and less.

Claims (7)

PATENTANSPRÜCHE: i. Elektrönenübermikroskop zur Erzeugung stcreosk opischer Bilder durch Betrachtung des Objektes unter verschiedenen Winkeln, dadurch gekennzeichnet, daß unter Ausnutzung des sphärischen Fehlers der Linse die beiden Bilder gleichzeitig .nebeneinander entstehen und gleichzeitig stereoskopisch betrachtet werden. PATENT CLAIMS: i. Electron microscope to generate stcreosk optical images by viewing the object from different angles, thereby characterized in that, taking advantage of the spherical error of the lens, the two Images are created side by side and viewed stereoscopically at the same time will. 2.. Elektronenübermikroskop nach Anspruch i, gekennzeichnet durch .die Verwendung von zwei Kathoden. 2 .. electron microscope according to claim i, characterized by .the use of two cathodes. 3. Elektronenübermikröskop nach Anspruch i, dadurch .gekennzeichnet, daß der Strahl einer einzigen Kathode in zwei Strahlen aufgespalten ist. 3. electron microscope according to claim i, characterized. that the beam from a single cathode is split into two beams. 4.. Elektronenübermikroskop nach Anspruch 2 oder 3, gekennzeichnet durch die Verwendung von zwei Streuel.ektronenblenden. 4 .. electron microscope according to claim 2 or 3, characterized by the use of two scatter electron apertures. 5. Elektronenübermikroskop nach Anspruch 2 oder 3, gekennzeichnet durch eine schlitzförmige ,Streuelektronen'blende. 5. electron microscope according to claim 2 or 3, characterized by a slot-shaped 'Scattering electron' aperture. 6. Eaektronenübermikros'lcop nach Anspruch i .oder folgenden, gekennzeichnet durch ein System verschiebbarer Blenden, welche .die Erzeugung zweier Blendenlöcher in wählbarem Abstand ermöglichen. 6. Eaektronenübermikros'lcop according to claim i. Or the following, characterized by a system of movable diaphragms, which .the creation of two Allow aperture holes at a selectable distance. 7. Elektronenübermikroskop nach Anspruch i oder folgenden, gekennzeichnet .durch eine Bestrahlungsapertur kleiner als 5 - io-4.7. Electron microscope according to Claim i or the following, characterized .by a radiation aperture smaller as 5 - io-4.
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