DE69819219T2 - Stabilisation der Wellenlänge in verstimmbaren Halbleiterlasern - Google Patents

Stabilisation der Wellenlänge in verstimmbaren Halbleiterlasern Download PDF

Info

Publication number
DE69819219T2
DE69819219T2 DE69819219T DE69819219T DE69819219T2 DE 69819219 T2 DE69819219 T2 DE 69819219T2 DE 69819219 T DE69819219 T DE 69819219T DE 69819219 T DE69819219 T DE 69819219T DE 69819219 T2 DE69819219 T2 DE 69819219T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
section
spontaneous emission
tuning
optical signal
detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE69819219T
Other languages
English (en)
Other versions
DE69819219D1 (de
Inventor
John Evan New Providence Johnson
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Agere Systems LLC
Original Assignee
Agere Systems Optoelectronics Guardian Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agere Systems Optoelectronics Guardian Corp filed Critical Agere Systems Optoelectronics Guardian Corp
Publication of DE69819219D1 publication Critical patent/DE69819219D1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE69819219T2 publication Critical patent/DE69819219T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/0687Stabilising the frequency of the laser
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/026Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
    • H01S5/0262Photo-diodes, e.g. transceiver devices, bidirectional devices
    • H01S5/0264Photo-diodes, e.g. transceiver devices, bidirectional devices for monitoring the laser-output
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/0625Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
    • H01S5/06255Controlling the frequency of the radiation
    • H01S5/06256Controlling the frequency of the radiation with DBR-structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/1078Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region with means to control the spontaneous emission, e.g. reducing or reinjection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung betrifft allgemein abstimmbare Laser und andere abstimmbare optische Signalquellen und insbesondere Verfahren zur Stabilisierung der Wellenlänge eines optischen Signals, das durch eine abstimmbare optische Signalquelle erzeugt wird.
  • Allgemeiner Stand der Technik
  • Ein Haupthindernis für die weitverbreitete Kommerzialisierung von abstimmbaren Halbleiterlasern ist die langfristige Wellenlängenstabilität. Bei vielen abstimmbaren Lasern wird die Ausgangswellenlänge geregelt, indem Strom an einen Abstimmabschnitt angelegt wird, um den Brechungsindex über den Plasmaeffekt zu ändern. Bei einem typischen, auf zwei Abschnitte verteilten Braggschen Reflektor- (DBR-) Laser zum Beispiel, der einen Verstärkungsabschnitt und einen Abstimmabschnitt aufweist, wird die Ausgangswellenlänge abgestimmt, indem die Braggsche Wellenlänge λB des Abstimmabschnitts der folgenden Gleichung entsprechend geändert wird: λB = 2neff Λg wobei neff der effektive Brechungsindex des Abstimmabschnitts und Λg die Gitterweite eines Gitters im Abstimmabschnitt ist. Die Ausgangswellenlänge ist also eine Funktion des Brechungsindexes, der wiederum proportional zur Ladungsträgerdichte in einer aktiven Halbleiterschicht des Abstimmabschnitts ist.
  • Bei vielen praktischen Anwendungen ist es wünschenswert, den Laser mit einer festen Einstellung zu betreiben, in welcher der Abstimmstrom, der an die aktive Schicht angelegt wird, im Wesentlichen konstant ist. Da stromabgestimmte Laser aber unter konstanten Vorlastbedingungen altern, neigt die Ladungsträgerdichte dazu, aufgrund von Faktoren wie der Nukleierung strahlungsloser Fehler oder der Zunahme von Leckströmen um die aktive Schicht herum abzunehmen, wodurch die Wellenlänge verschoben wird. Diese Verschiebung kann erheblich sein und sogar dazu führen, dass der Laser große diskrete Modensprünge durchführt. Nähere Informationen in Bezug auf die Wellenlängenstabilisierungsprobleme bei DBR-Lasern sind zum Beispiel in „The Effects of Aging on the Bragg Section of a DBR Laser" von S. L. Woodward et al., IEEE Photonics Technology Letters, Bd. 5, Nr. 7, S. 750–752, Juli 1993, zu finden.
  • Konventionelle Ansätze zur Lösung des Wellenlängenstabilisierungsproblems bei abstimmbaren Halbleiterlasern beinhalten allgemein die Überwachung der Laserwellenlänge mit präzisen Filtern. Beispielhafte Filtertechniken sind zum Beispiel in „Active Wavelength Measurement System Using an InGaAs-InP Quantum-Well Electroabsorption Filtering Detector" von T. Coroy et al., IEEE Photonics Technology Letters, Bd. 8, Nr. 12, S. 1686–1688, Dezember 1996, „100-GHz-Spaced 8-Channel Frequency Control of DBR-Lasers for Virtual Wavelength Path Cross-Connect System" von M. Teshima und M. Koga, IEEE Photonics Technology Letters, Bd. 8, Nr. 12, S. 1701–1703, Dezember 1996, und „Method for Setting the Absolute Frequency of a Tunable, 1,5 μm Two-Section DBR Laser" von C. R. Giles und T. L. Koch, IEEE Photonics Technology Letters, Bd. 2, Nr. 1, S. 63– 65, Januar 1990, zu finden.
  • Diese Filtertechniken können aber kostspielig und bei vielen praktischen Anwendungen schwer implementierbar sein. Darüber hinaus sind die erforderlichen Filter oft nicht dazu geeignet, mit dem Halbleiterlaser auf einem Chip integriert zu werden.
  • Eine andere konventionelle Wellenlängenstabilisierungs technik wird in „A Control Loop Which Ensures High Side-Mode-Suppression Ratio in a Tunable DBR Laser" von S. L. Woodward et al., IEEE Photonics Technology Letters, Bd. 4, Nr. 5, S. 417–419, Mai 1992, beschrieben. Diese Technik verwendet einen Regelkreis, um den an einen Abstimmabschnitt eines DBR-Lasers angelegten Strom auf der Basis einer Messung des Laserlichts zu regeln, das den Abstimmabschnitt durchdringt. Das Laserlicht wird in einem integrierten Sensor erkannt, und der Regelkreis stellt den Abstimmstrom so ein, dass die Wellenlänge des ausgegebenen Laserlichts stets im Zentrum des Braggschen Bands liegt. Der Regelkreis gewährleistet, dass der DBR-Laser trotz der Alterungseinflüsse im Einmodenbetrieb bleibt. Diese Technik ist aber nur bei wenigen abstimmbaren DBR-Laserdesigns verwendbar und eignet sich allgemein nicht zur Verwendung bei einem abstimmbaren Laser, der mit einer anderen Wellenlänge betrieben wird als der, die dem Zentrum des Braggschen Bands entspricht.
  • Kurzdarstellung der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung stellt ein Verfahren gemäß Anspruch 1 und eine Vorrichtung gemäß Anspruch 12 zur Wellenlängenstabilisierung bei einem abstimmbaren Halbleiterlaser oder anderen optischen Signalquellen bereit, umfassend das Erkennen der spontanen Emission (SE) aus einem Abstimmabschnitt der optischen Signalquelle und das Verwenden der erkannten SE in einem Regelkreis, um die Wellenlänge eines von der Signalquelle erzeugten optischen Signals zu regeln.
  • Bei einer vorzugsweisen Ausführungsform wird eine wellenlängengeregelte abstimmbare optische Signalquelle bereitgestellt, die einen Verstärkungsabschnitt und mindestens einen Abstimmabschnitt umfasst. Ein Sensor wird verwendet, um die SE aus dem Abstimmabschnitt der optischen Signalquelle zu erkennen. Der Sensor kann mit dem Verstärkungsabschnitt und dem Abstimmabschnitt in einem Chip integriert sein oder benachbart zum Chip angeordnet sein, um die SE von einer Seite des Abstimmabschnitts zu erkennen. In beiden Fällen können ein oder mehrere Isolationsbereiche auf dem Chip ausgebildet sein, um den Sensor von der SE zu isolieren, die vom Verstärkungsabschnitt erzeugt wird, sowie vom Laserlicht, das durch den Verstärkungsabschnitt gestreut wird. In anderen Ausführungsformen kann die SE erkannt werden, indem ein Anteil der optischen Signalleistung aus einer Ausgangsfaser an einen externen Sensor gekoppelt wird. Die Kopplung aus der Ausgangsfaser kann mit einem optischen Spalter, einem wellenlängenmultiplexierten (WDM) Koppler oder einem anderen geeigneten optischen Signalkoppler implementiert werden. Vor dem Sensor kann eine Filterung verwendet werden, um jede gekoppelte SE des Verstärkungsabschnitts oder das Laserlicht aus der Ausgangsfaser auszufiltern. Die von einem internen oder externen Sensor erkannte SE wird dann in einem Regelkreis verwendet, um die Wellenlänge des optischen Signals zu regeln. Der Regelkreis kann zum Beispiel betrieben werden, um die erkannte SE des Abstimmabschnitts auf ein im Wesentlichen konstantes Niveau zu halten, so dass der Wellenlänge des ausgegebenen Laserlichts trotz der Abnahme der Ladungsträgerdichte in der aktiven Schicht stabilisiert wird, die durch Einflüsse wie z. B. Alterung bedingt ist.
  • In einer anderen Ausführungsform kann die Ausgangswellenlänge einer abstimmbaren optischen Quelle mit mehrfachen Abstimmabschnitten mit Hilfe von entsprechenden mehrfachen SE-Sensoren und Regelkreisen stabilisiert werden. Ein DBR-Laser mit mehreren Abschnitten kann zum Beispiel einen Verstärkungsabschnitt, einen DBR-Abstimmabschnitt und einen Phasenabstimmabschnitt umfassen. Ein erster integrierter oder externer SE-Sensor, der zum DBR-Abstimmabschnitt gehört, erkennt SE aus dem DBR-Abstimmabschnitt und treibt einen Eingang einer ersten spannungsgeregelten Stromquelle. Die Stromquelle regelt die Strommenge, die dem DBR-Abstimmabschnitt zugeführt wird, so, dass die SE, die aus dem DBR-Abstimmabschnitt erkannt wird, auf einem ersten Niveau gehalten wird. Ein zweiter integrierter oder externer SE-Sensor, der zum Phasenabstimmabschnitt gehört, erkennt die SE aus dem Phasenabstimmabschnitt und treibt einen Eingang einer zweiten spannungsgeregelten Stromquelle. Die zweite Stromquelle regelt die Strommenge, die dem Phasenabstimmabschnitt zugeführt wird, so, dass die SE, die aus dem Phasenabstimmabschnitt erkannt wird, auf einem zweiten Niveau gehalten wird. Die elektrische Isolation zwischen den zwei SE-Sensoren kann durch geätzte oder implementierte Isolationsbereiche vorgesehen werden, die auf geeignete Weise angeordnet werden. Dies ermöglicht die separate Regelung der SE aus dem DBR-Abstimmabschnitt und aus dem Phasenabstimmungsabschnitt sogar in Anwendungen, bei denen die SE-Spektren des DBR-Abstimmabschnitts und des Phasenabstimmabschnitts sich überschneiden. Die vorliegende Erfindung lässt sich daher optional in abstimmbaren Quellen mit mehrfachen Abstimmabschnitten implementieren, durch Verwendung mehrfacher Regelkreise, wobei jeder dieser Regelkreise die Wellenlänge des ausgegebenen Laserlichts der SE entsprechend regelt, die aus einem bestimmten Abstimmabschnitt erkannt wird.
  • Die vorliegende Erfindung stellt Wellenlängenstabilisierungstechniken bereit, die leichter implementierbar und weniger kostspielig sind als konventionelle Stabilisierungstechniken wie z. B. solche, die eine präzise Filterung beinhalten. Die Erfindung kann zum Beispiel mit einem oder mehreren SE-Sensor(en) implementiert werden, die geeignet sind, mit einem abstimmbaren Halbleiterlaser in einen Chip integriert zu werden. Diese und weitere Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus den beiliegenden Zeichnungen und der folgenden ausführlichen Beschreibung ersichtlich.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • 1 zeigt einen beispielhaften abstimmbaren Halbleiterlaser mit Wellenlängenstabilisierung, der einen integrierten Sensor verwendet, um die spontane Emission (SE) aus einem Abstimmabschnitt des erfindungsgemäßen Lasers zu erkennen.
  • 2A ist eine detaillierte Ansicht eines Abschnitts des abstimmbaren Lasers von 1.
  • 2B ist eine Querschnittsansicht des Abschnitts des abstimmbaren Lasers, der in 2A dargestellt ist.
  • 3 zeigt eine beispielhafte Implementierung eines externen SE-Sensors, der geeignet ist, zur erfindungsgemäßen Wellenlängenstabilisierung verwendet zu werden.
  • 4 zeigt eine andere beispielhafte Implementierung eines externen SE-Sensors, der geeignet ist, zur erfindungsgemäßen Wellenlängenstabilisierung verwendet zu werden.
  • 5 zeigt einen beispielhaften abstimmbaren Halbleiterlaser mit Wellenlängenstabilisierung, der eine Inline-Überwachungstechnik verwendet, um die SE aus einem Abstimmabschnitt des erfindungsgemäßen Lasers zu erkennen.
  • 6 zeigt ein beispielhaftes optisches Spektrum in der überwachten Leitung von 5 und ein entsprechendes Ansprechverhalten eines Bandpassfilters, das geeignet ist, mit der Inline-Überwachungstechnik von 5 verwendet zu werden.
  • 7 zeigt eine andere Implementierung einer Inline-Überwachungstechnik, die verwendet werden kann, um die SE aus dem Abstimmabschnitt des abstimmbaren Lasers von 5 zu erkennen.
  • 8 zeigt eine beispielhafte Ausführungsform eines wellenlängenstabilisierten abstimmbaren Halbleiterlasers mit mehrfachen Abstimmabschnitten, SE-Sensoren und erfindungsgemäßen Regelkreisen.
  • 9 ist eine graphische Darstellung eines optischen Ausgabespektrums, das vom Laser mit mehrfachem Abstimmabschnitt in der beispielhaften Ausführungsform von 8 erzeugt werden kann.
  • Ausführliche Beschreibung der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung wird unten in Verbindung mit beispielhaften abstimmbaren Halbleiterlasern veranschaulicht. Es versteht sich, dass die Erfindung nicht auf die Verwendung eines bestimmten Lasertyps beschränkt ist, sondern vielmehr allgemein auf jede optische Quelle anwendbar ist, in welcher die Wellenlänge durch Rückkopplungsregelung der erkannten spontanen Emission (SE) stabilisiert werden kann. Die Erfindung ist zum Beispiel zur Verwendung mit einem abstimmbaren einfachen, auf zwei Abschnitte verteilten Braggschen Reflektor (DBR)-Laser geeignet, der einen Verstärkungsabschnitt und einen einzigen Abstimmabschnitt aufweist, sowie mit komplexeren Geräten wie z. B. einem abstimmbaren DBR-Laser mit vier Abschnitten und Gitter, der einen Verstärkungsabschnitt, zwei DBR-Abstimmabschnitte und einen Phasenabstimmabschnitt aufweist. Die Erfindung kann aber auch mit anderen abstimmbaren Lasern verwendet werden, die keine DBR-Laser sind. Der Begriff „abstimmbarer Laser" schließt hier optische Signalquellen jeder Art ein, in denen die Ausgangswellenlänge abgestimmt oder auf andere Weise geregelt werden kann, indem der am Abstimmabschnitt angelegte Strom oder andere Betriebsparameter variiert werden. Der Begriff „Stabilisierung" schließt nicht nur das Halten der Ausgangswellenlänge auf einen bestimmten Vorgabewert ein, sondern auch andere Arten der Wellenlängenregelung, einschließlich des Vorsehens einer gewünschten Änderung der Wellenlänge, die zeitabhängig, temperaturabhängig oder von anderen Betriebsbedingungen abhängig sein kann. Der Begriff „spontane Emission" schließt jede Art von Rauschen oder ein anderes Signal oder andere Signale ein, die von einem Laser oder von einer anderen optischen Quelle emittiert werden, welches proportional zur Ladungsträgerdichte in der aktiven Schicht und daher zur Ausgangswellenlänge ist. Der Begriff „Abstimmabschnitt" schließt sowohl DBR-Gitterabstimmabschnitte als auch Phasenabstimmabschnitte ein, sowie Abstimmabschnitte anderen Typs. Der Begriff „Laserlicht" bezieht sich hier auf das gewünschte optische Primärsignal, das von einem Laser oder von einer anderen optischen Quelle erzeugt wird.
  • Die erfindungsgemäße Wellenlängenstabilisierung wird durch Überwachung der spontanen Emission (SE) aus einem Abstimmabschnitt eines abstimmbaren Lasers erreicht. Die vorliegende Erfindung basiert zum Teil darauf, dass die SE aus einem Abstimmabschnitt eines DBR-Lasers oder eines anderen abstimmbaren Lasertyps allgemein proportional zur Ladungsträgerdichte in der oder den aktiven Schicht(en) des Abstimmabschnitts ist. Die erkannte SE des Abstimmabschnitts kann daher in einem Regelkreis benutzt werden, der die Ausgangswellenlänge stabilisiert, indem er die erkannte SE und dadurch die Ladungsträgerdichte der aktiven Schicht auf gewünschten Niveaus hält. Der Regelkreis kann zum Beispiel verwendet werden, um ein erkanntes SE-Signal auf ein vorgegebenes konstantes Niveau zu halten, so dass die Ladungsträgerdichte der aktiven Schicht und dadurch der effektive Brechungsindex neff des Abstimmabschnitts ebenfalls konstant bleiben, wodurch das Ausgangslaserlicht eine im Wesentlichen konstante Wellenlänge aufweist.
  • 1 zeigt einen beispielhaften erfindungsgemäßen wellenlängenstabilisierten abstimmbaren Halbleiterlaser 10. Der Laser 10 umfasst einen abstimmbaren DBR-Chip 12 mit einem Verstärkungsabschnitt 14 und einem Abstimmabschnitt 16. Der Verstärkungsabschnitt 14 wird durch einen Verstärkungsstrom Igain getrieben, während der Abstimmabschnitt 16 durch einen Abstimmstrom Itune getrieben wird. Ein optischer Wellenleiter 18 verläuft über oder durch den Verstärkungsabschnitt 14 und den Abstimmabschnitt 16 des DBR-Chips 12. Der Abstimmabschnitt 16 umfasst ein Gitter, das in dieser Abbildung als eine Anzahl von parallelen vertikalen Linien dargestellt ist, die den Wellenleiter 18 schneiden. Der DBR-Chip 12 erzeugt ein optisches Ausgangssignal, das eine bestimmte Wellenlänge und eine optische Gesamtausgabe Pout aufweist. Der DBR-Chip 12 ist ein Laser mit zwei Abschnitten, wobei die Ausgangswellenlänge geregelt wird, indem die Größe des Stroms Itune, der an den Abstimmabschnitt 16 angelegt wird, wodurch der Brechungsindex neff des Abstimmabschnitts variiert wird. Die Ausgangswellenlänge ist auch abhängig von der Gitterweite Λg, die dem Abstand zwischen benachbarten Gitterelementen des Gitters im Abstimmabschnitt 16 entspricht.
  • Der wellenlängenstabilisierte Laser 10 umfasst außerdem einen integrierten SE-Sensor 20. Der Sensor 20 ist zusammen mit dem Verstärkungsabschnitt 14 und dem Abstimmabschnitt 16 im DBR-Chip 12 integriert. Der Sensor 20 ist gegenüber der oder den Wellenlänge(n) der vom Abstimmabschnitt 16 emittierten SE empfindlich und benachbart zum Abstimmabschnitt 16 angeordnet, um die SE zu empfangen, wie in 1 durch die in den Sensor 20 eindringenden Pfeile dargestellt. Der Sensor 20 erzeugt ein Stromsignal Idet „SE erkannt", das proportional zur Menge der erkannten SE ist. Das Stromsignal Idet „SE erkannt" wird über eine Rückkopplungsleitung 22 zu einem ersten Eingang einer spannungsgeregelten Stromquelle 24 geleitet. Der erste Eingang der Stromquelle 24 ist über einen Widerstand R1 mit dem Massepotenzial verbunden. Ein zweiter Eingang der Stromquelle 24 ist über einen Regelwiderstand Rset mit einer Spannungsquelle Vcc und über einen Widerstand R2 mit dem Massepotenzial verbunden. Der Widerstand Rset wird geregelt, um eine Sollspannung zu ändern, die am zweiten Eingang der Stromquelle 24 anliegt. Die Stromquelle 24 erzeugt den Abstimmstrom Itune, der an den Abstimmabschnitt 16 des DBR-Chips 12 angelegt wird, um die Ladungsträgerdichte der aktiven Schicht und dadurch den effektiven Brechungsindex neff und die Ausgangswellenlänge des optischen Signals wie oben beschrieben zu regeln. Der wellenlängenstabilisierte Laser 10 in dieser Ausführungsform umfasst daher einen Regelkreis, der den integrierten SE-Sensor 20, die Leitung 22 und die spannungsgeregelte Stromquelle 24 einschließt. Der Regelkreis wird betrieben, um den Abstimmstrom Itune so zu regeln, dass die erkannte SE eine entsprechende Spannung am ersten Eingang der Stromquelle 24 erzeugt, die der Sollspannung am zweiten Eingang der Stromquelle 24 entspricht. Auf diese Weise wird der Regelkreis von 1 betrieben, um die erkannte SE auf eine im Wesentlichen konstante Menge zu halten, und dadurch die Ladungsträgerdichte der aktiven Schicht, den effektiven Brechungsindex neff und die Wellenlänge des ausgegebenen Laserlichts im Wesentlichen konstant zu halten.
  • 2A und 2B zeigen den beispielhaften DBR-Chip 12 von 1 mit näheren Details. 2A zeigt, dass der Chip 12 in dieser Ausführungsform konfiguriert wurde, um einen ersten elektrischen Isolationsbereich 30 zu enthalten, der den Verstärkungsabschnitt 14 vom Abstimmabschnitt 16 und dem integrierten Sensor 20 trennt, und einen zweiten elektrischen Isolationsbereich 32, der den Abstimmabschnitt 16 vom integrierten Sensor 20 trennt. Die Isolationsbereiche 30, 32 können als Graben oder implantierte Bereiche implementiert werden und sind vorgesehen, um die Menge des Licht, das keine SE ist, oder des SE-Lichts aus dem Verstärkerabschnitt zu reduzieren, die am integrierten Sensor 20 einfällt. 2B zeigt eine Querschnittsansicht eines DBR-Chips 12 entlang der Schnittlinie B-B' von 2A. Wie zu sehen ist, ist der DBR-Chip 12 ein Mehrschichtenaufbau, der in dieser Ausführungsform ein Substrat 40 vom Typ n-InP, aktive Bereiche 41 und 43, die eine Anzahl von im Wesentlichen intrinsischen InGaAsP-Schichten umfassen, und einen oberen Überzugsbereich 42 vom Typ p-InP umfasst. Der obere Überzugsbereich 42 kann auch eine oder mehrere InGaAsP-Schichten umfassen. Der Mehrschichtenaufbau umfasst zudem eine Anzahl von stromsperrenden Bereichen 44, die durch mehrfache Schichten aus InP gebildet werden, die so dotiert sind, dass Ladungsträger, die aus den n-InP- und p-Inp-Bereichen 40 und 42 zugeführt werden, von den seitlich angeordneten intrinsisch aktiven Bereichen 41 und 43 eingeschlossen werden. Der elektrische Isolationsbereich 32 ist zwischen den elektrischen Kontaktschichten 16a des Abstimmabschnitts 16 und den elektrischen Kontaktschichten 20a des Sensors 20 angeordnet.
  • Die Bereiche 40, 41, 42, 43 und 44 des DBR-Chips 12 bilden allgemein eine Anzahl von positiv-intrinsischnegativen (p-i-n) Diodenstrukturen. Die p-i-n-Diodenstruktur, die zum Abstimmabschnitt 16 gehört, der durch die Bereiche 42, 41 und 40 gebildet wird, sorgt für einen maximalen elektrischen Einschluß der zugeführten Ladungsträger sowie für den optischen Einschluß des Laserlichts, das im Verstärkungsabschnitt 14 erzeugt wird. Im Betrieb weist die zum Abstimmabschnitt 16 gehörige p-i-n-Diodenstruktur allgemein eine Durchlassvorspannung auf, die bewirkt, dass die SE aus dem aktiven Bereich 41 emittiert wird, wie allgemein durch die gewellten Pfeile in 2B angezeigt. Die zum integrierten Sensor 20 gehörige p-i-n-Diodenstruktur, die durch Bereiche 42, 43 und 40 gebildet wird, ist allgemein angeordnet, um einen Teil der vom Bereich 41 emittierten SE zu absorbieren. Die zum integrierten Sensor 20 gehörige p-i-n-Diodenstruktur ist allgemein im Sperrichtungsbetrieb. Der beispielhafte Mehrschichtenaufbau, der in 2B gezeigt wird, ist vom Typ, der mit einem konventionellen „capped-mesa buried heterostructure" (CMBH)-Laserverfahren hergestellt wird. Es ist anzumerken, dass die Erfindung mit abstimmbaren Lasern implementiert werden kann, die mit einer großen Vielfalt anderer Strukturen mit jedem anderen Verfahren hergestellt werden.
  • 3 und 4 zeigen zwei beispielhafte Ausführungsformen der Erfindung, wobei der integrierte SE-Sensor 20 des wellenlängenstabilisierten Lasers 10 von 1 durch einen externen SE-Sensor ersetzt wird. 3 zeigt den DBR-Chip 12 mit dem Verstärkungsabschnitt 14, dem Abstimmabschnitt 16 und dem Wellenleiter 18, wie oben beschrieben. Die SE aus dem Abstimmabschnitt wird in 3 durch einen p-i-n-Diodensensor 50 erkannt, der von einem Befestigungsblock 52 getragen wird. Der Sensor 50 ist mit seiner Vorderseite benachbart zu einer Seitenkante des DBR-Chips 12 angeordnet, um die SE aus der entsprechenden Seite des Abstimmabschnitts wie gezeigt zu empfangen. Der DBR-Chip 12 umfasst einen Isolationsbereich 54, der als Graben oder implantierter Bereich implementiert werden kann. Der Isolationsbereich 54 reduziert die Mengen der SE aus dem Verstärkungsabschnitt und des gestreuten Laserlichts, die auf den externen p-i-n-Diodensensor 50 einfallen. Der externe Sensor 50 kann auch einen integrierten Filter auf seiner Vorderseite umfassen, um für eine zusätzliche Ausfilterung der SE aus dem Verstärkungsabschnitt und des gestreuten Laserlichts zu sorgen. 4 zeigt den DBR-Chip 12 mit dem Verstärkungsabschnitt 14, dem Abstimmabschnitt 16, dem Wellenleiter 18, dem externen p-i-n-Diodensensor 50, dem Befestigungsblock 52 und dem Isolationsbereich 54, wie oben beschrieben. Die Ausführungsform in 4 umfasst auch eine Linse 5b, die die SE aus dem Abstimmabschnitt 16 sammelt und auf den externen Sensor 50 fokussiert. Ein Filter 58 ist zwischen der Linse 56 und dem Sensor 50 angeordnet, um eine zusätzliche Ausfilterung der SE des Verstärkungsabschnitts und des gestreuten Laserlichts zu gewährleisten. Obwohl die Ausführungsform von 4 allgemein sperriger ist als die von 3, kann sie bei bestimmten Anwendungen eine größere Empfindlichkeit für die Erkennung der SE des Abstimmabschnitts und eine bessere Ausfilterung der SE des Verstärkungsabschnitts und des gestreuten Laserlichts gewährleisten.
  • 5 zeigt einen wellenlängenstabilisierten abstimmbaren Laser 10 N, wobei die SE aus dem Abstimmabschnitt in einer Lichtleitfaser 60 überwacht wird, die an einen Ausgang des DBR-Chips 12 gekoppelt ist. Die Lichtleitfaser 60 kann eine konventionelle Einmodenglasfaser sein. Der DBR-Chip 12 erzeugt eine optische Gesamtausgabe Pout, die auf konventionelle Weise an die Faser 60 gekoppelt wird. Die optische Ausgabe Pout umfasst die SE aus dem Verstärkungsabschnitt 14, die SE aus dem Abstimmabschnitt 16 und Laserlicht, dessen Wellenlänge vom Abstimmstrom Itune abhängig ist, der am Abstimmabschnitt 16 angelegt wird. Ein Anteil der optischen Gesamtausgabe Pout an die Faser 60 wird über einen optischen Koppler 62 an einen Eingang eines Bandpassfilters 64 gekoppelt. Der verbleibende Anteil PoutN der optischen Gesamtausgabe Pout erscheint am Ausgang der Lichtleitfaser 60. Der Koppler 62 kann als ein optischer Spalter oder als ein optischer Signalkoppler eines anderen geeigneten Typ implementiert werden und so konfiguriert werden, dass etwa 1% bis 10% der optischen Signalleistung, die vom DBR-Chip 12 erzeugt wird, an den Eingang des Bandpassfilters 64 gekoppelt wird. Der Bandpassfilter 69 ist vorgesehen, um die Wellenlängen der SE aus dem Abstimmabschnitt durchzulassen, während er die Wellenlängen der SE aus dem Verstärkungsabschnitt und des Laserlichts sperrt.
  • 6 zeigt eine beispielhafte Spektralkurve der optischen Gesamtausgabe Pout des DBR-Chips 12 als eine Funktion der Wellenlänge λ und ein entsprechendes Ansprechverhalten R(λ) für den Bandpassfilter 64. Die Kurve Pout(λ) zeigt die SE des Abstimmabschnitts, die auf einer Wellenlänge von etwa 1,3 bis 1,4 μm zentriert ist, die SE des Verstärkungsabschnitts, die auf einer Wellenlänge von etwa 1,55 bis 1,6 μm zentriert ist, und das Laserlicht. Das Ansprechverhalten R(λ) des Bandpassfilters 64 ist auf die mittlere Wellenlänge der SE des Abstimmabschnitts von 1,3 bis 1,4 μm zentriert und lässt daher die SE des Abstimmabschnitts durch, während es die SE des Verstärkungsabschnitts und das Laserlicht dämpft. Die spezifische Charakteristik des Bandpassfilters, die in einer bestimmten Anwendung verwendet wird, ist allgemein von Faktoren wie die relativen Wellenlängen und Leistungspegel der SE des Abstimmabschnitts, der SE des Verstärkungsabschnitts und des Laserlichts abhängig. In anderen Ausführungsformen kann der Bandpassfilter 64 durch einen Tiefpassfilter ersetzt werden, der vorgesehen wird, um die SE des Abstimmabschnitts durchzulassen, während die SE des Verstärkungsabschnitts und das Laserlicht ausgefiltert werden.
  • Wieder auf 5 Bezug nehmend, wird die gefilterte SE des Abstimmabschnitts an den SE-Sensor 66 angelegt, um ein Stromsignal Idet „SE erkannt" zu erzeugen, das an einen Eingang der spannungsgeregelten Stromquelle 24 angelegt wird. Die Quelle 24 erzeugt den Abstimmstrom Itune, der an den Abstimmabschnitt 16 angelegt wird, um die Wellenlänge des vom DBR-Chip 12 erzeugten Laserlichts zu regeln. Die Quelle 24 ändert den Strom Itune so, dass die Spannung, die durch den Widerstand R1 vom Stromsignal Idet „SE erkannt" am ersten Eingang der Quelle 24 erzeugt wird, im Wesentlichen einer Sollspannung entspricht, die am zweiten Eingang der Quelle 24 durch den Spannungsteiler des Widerstands R2 und den Regelwiderstand Rset erzeugt wird. Der wellenlängenstabilisierte Laser von 5 weist daher einen Regelkreis auf, der den optischen Koppler 62, den Bandpass filter 64, den SE-Sensor 66 und die spannungsgeregelte Stromquelle 24 umfasst. Wie der entsprechende Regelkreis von 1 wird der Regelkreis von 5 betrieben, um den Abstimmstrom Itune so zu regeln, dass die erkannte SE des Abstimmabschnitts eine Spannung am ersten Eingang der Stromquelle 24 erzeugt, die der Sollspannung am zweiten Eingang der Stromquelle 24 entspricht. Der Regelkreis von 5 hält die Menge der erkannten SE des Abstimmabschnitt im Wesentlichen konstant, wodurch die Ladungsträgerdichte der aktiven Schicht, der effektive Brechungsindex neff und die Wellenlänge des ausgegebenen Laserlichts im Wesentlichen konstant bleiben.
  • 7 zeigt eine andere Ausführungsform des wellenlängenstabilisierten abstimmbaren Lasers von 5, wobei der optische Koppler 62 als wellenlängenmultiplexierter (WDM) Koppler 70 implementiert ist. Der WDM-Koppler 70 teilt die optische Gesamtausgabe Pout des DBR-Chips 12 in einen ersten Kanal, der an eine Lichtleitfaser 72 gekoppelt ist, und in einen zweiten Kanal auf, der an eine Lichtleitfaser 74 gekoppelt ist. Der erste Kanal kann auf eine Wellenlänge von etwa 1,55 μm zentriert sein, während der zweite Kanal auf eine Wellenlänge von etwa 1,3 μm ist. Wenn das Spektrum der Gesamtausgabeleistung Pout, die vom DBR-Chip 12 erzeugt wird, dem in 6 gezeigten entspricht, schließt der erste Kanal, der mit der Lichtleitfaser 72 verbunden ist, die SE des Verstärkungsabschnitts und das Laserlicht ein, während der zweite Kanal, der mit der Lichtleitfaser 74 verbunden ist, die SE des Abstimmabschnitts einschließt. Die SE des Abstimmabschnitts wird daher über den WDM-Koppler 70 und die Faser 74 zum SE-Sensor 66 geleitet. Die erkannte SE des Abstimmabschnitts wird dann in einem Regelkreis verwendet, wobei die spannungsgeregelte Stromquelle 24 den Abstimmstrom Itune so regelt, dass die SE des Abstimmabschnitts auf ein vorgegebenes Niveau gehalten wird und die Wellenlänge des ausgegebenen Laserlichts im Wesentlichen konstant bleibt. Die Wellenlängenkanäle des WDM-Kopplers sind für eine optimale Kopplung der SE des Abstimmabschnitts an die Faser 74 spezifiziert, mit maximaler Sperrung der SE des Verstärkungsabschnitts und des Laserlichts. Die Verwendung des WDM-Kopplers, wie in 7 gezeigt, kann gegenüber der Ausführungsform von 5 einige Vorteile bieten, wie z. B. erhöhte Empfindlichkeit und Kostensenkung. Es ist anzumerken, dass die Inline-Überwachungstechniken, die in 5 und 7 dargestellt sind, zur Verwendung mit manchen optischen Quellen nicht geeignet sind, wie z. B. Geräte mit elektroabsorbierenden (EA) Modulatoren, die die SE des Abstimmabschnitts stark dämpfen, Geräte, in denen die SE-Wellenlängen des Abstimmabschnitts zu nahe an den Wellenlängen der SE des Verstärkungsabschnitts oder des Laserlichts liegen, oder Geräte mit mehrfachen Abstimmabschnitten, die sich überschneidende SE-Spektren erzeugen. In diesen Fällen können jedoch Ausführungsformen wie die in Verbindung mit 1, 3 und 4 beschriebenen verwendet werden, um eine Wellenlängenstabilisierung zu erreichen.
  • 8 veranschaulicht eine andere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, die zwei Regelkreise verwendet, um die erkannten SE-Signale aus zwei verschiedenen Abstimmabschnitten eines abstimmbaren Lasers 100 zu überwachen und zu regeln. Der in 8 gezeigte wellenlängenstabilisierte abstimmbare Laser 100 umfasst einen DBR-Chip 102 mit drei Abschnitten, der einen Verstärkungsabschnitt 104, einen DBR-Abstimmabschnitt 106 und einen Phasenabstimmabschnitt 112 aufweist. Der Verstärkungsabschnitt 104, der DBR-Abstimmabschnitt 106 und der Phasenabstimmabschnitt 112 werden durch jeweilige Stromsignale Igain, IDBR und Iphase angetrieben. Dieser Chip 102 erzeugt eine optische Gesamtausgabe Pout am Ausgang eines optischen Wellenleiters 108, der über oder durch die drei Abschnitte 104, 106 und 112 verläuft. Der Chip 102 umfasst einen ersten integrierten SE-Sensor 110 und einen zweiten integrierten SE-Sensor 114. Der erste Sensor 110 erkennt die SE aus dem DBR-Abstimmabschnitt 106 und legt das resultierende Stromsignal „SE erkannt" über die Leitung 22 an einen Eingang der spannungsgeregelten Stromquelle 24 an. Die Stromquelle 24 verwendet das Stromsignal „SE erkannt", um den Strom IDBR zu regeln, der auf ähnliche Weise wie oben in Verbindung mit 1 beschrieben an den DBR-Abstimmabschnitt angelegt wird. Der erste Regelkreis, der den Sensor 110, die Leitung 22 und die Stromquelle 24 umfasst, wird daher betrieben, um die erkannte SE aus dem DBR-Abstimmabschnitt 106 auf einem ersten vorgegebenen Niveau zu halten, und dient daher dazu, die Wellenlänge des Laserlichts am Ausgang des Chips 102 zu stabilisieren.
  • Der zweite Sensor 114 erkennt die SE aus dem Phasenabstimmabschnitt 112 und legt das resultierende Stromsignal „SE erkannt" über die Leitung 122 an einen Eingang einer zweiten spannungsgeregelten Stromquelle 129 an. Die zweite Stromquelle 124 wird in Verbindung mit den Widerständen R1N, R2N und RsetN so betrieben, dass die Spannung, die durch den Widerstand R1N vom Stromsignal „SE erkannt" erzeugt wird, einer Sollspannung entspricht, die durch einen Spannungsteiler von R2N und RsetN festgelegt wird. Der zweite Regelkreis, der den Sensor 114, die Leitung 122 und die Stromquelle 124 umfasst, wird daher betrieben, um die gemessene SE aus dem Phasenabstimmabschnitt 112 auf einem zweiten vorgegebenen Niveau zu halten, und dient daher in Verbindung mit dem ersten Regelkreis auch dazu, die Wellenlänge des ausgegebenen Laserlichts zu stabilisieren. Der DBR-Chip 102 umfasst zudem eine Anzahl von implantierten oder geätzten Isolationsbereichen 130, 132, 134 und 136, die für die elektrische Isolierung zwischen den verschiedenen Bereichen des Chips 102 und den integrierten Sensoren 110 und 114 sorgen. Dadurch wird gewährleistet, dass das auf die integrierten Sensoren 110 und 114 einfallende Licht hauptsächlich die SE einschließt, die jeweils von den Abstimmabschnitten 106 und 112 erzeugt wird. Jeder SE-Sensor ist daher so angeordnet, dass er die SE erkennt, die in seinem jeweiligen Abstimmabschnitt erzeugt wird, statt die SE aus dem Verstärkungsabschnitt, das Laserlicht, das keine SE ist, oder die SE aus dem benachbarten Abstimmabschnitt zu erkennen. Dies ist besonders bei Abwendungen von Vorteil, in denen sich die SE-Spektren der Abstimmabschnitte vollständig oder teilweise überschneiden.
  • 9 ist eine graphische Darstellung eines beispielhaften optischen Spektrums, die die optische Gesamtausgabe Pout als eine Funktion der Wellenlänge λ zeigt, die vom DBR-Chip 102 mit drei Abschnitten von 8 erzeugt werden können. Das Spektrum Pout(λ) schließt die SE aus dem Verstärkungsabschnitt 104, die SE aus dem DBR-Abstimmabschnitt 106, die SE aus dem Phasenabstimmabschnitt 112 und das Laserlicht ein. Die SE aus dem DBR-Abstimmabschnitt 106 und die SE aus dem Phasenabstimmabschnitt 112 überschneiden sich wie gezeigt in der Wellenlänge. Die Ausführungsform von 8 erlaubt die gleichzeitige Überwachung der SE aus dem DBR-Abstimmabschnitt 106 und der SE aus dem Phasenabstimmabschnitt 112 in zwei getrennten Regelkreisen, indem zwei separate elektrisch isolierte Sensoren wie oben beschrieben verwendet werden. Es ist anzumerken, dass die Ausführungsform von 8 auch mit den externen Sensoranordnungen von 3 und 4 sowie mit anderen Sensoranordnungen implementiert werden kann und sich leicht auf Anwendungen ausdehnen lässt, in denen die optische Quelle drei oder mehr Abstimmabschnitte aufweist.
  • Die oben beschriebenen Ausführungsformen der Erfindung dienen nur der Veranschaulichung. Zahlreiche andere Ausführungsformen können vom Fachmann ersonnen werden, ohne vom Umfang der folgenden Ansprüche abzuweichen.

Claims (22)

  1. Verfahren zum Regeln der Wellenlänge des optischen Signals, wobei das Verfahren durch die folgenden Schritte gekennzeichnet ist: Erkennen der spontanen Emission von einem Abstimmabschnitt (16) einer abstimmbaren optischen Signalquelle (10); und Verwenden der erkannten spontanen Emission in einer Rückkopplungsregelschleife (22, 24), um die Wellenlänge eines optischen Signals zu regeln, das von der optischen Signalquelle erzeugt wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Schritt des Verwendens der erkannten spontanen Emission in einer Rückkopplungsregelschleife (22, 24) weiterhin das Betreiben der Rückkopplungsregelschleife (22, 24) umfasst, so dass der Anteil der spontanen Emission auf einem im Wesentlichen konstanten Pegel gehalten wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Schritt des Erkennens der spontanen Emission von dem Abstimmabschnitt (16) weiterhin die folgenden Schritte umfasst: Konfigurieren der abstimmbaren optischen Signalquelle (10), um einen Detektor (20), der auf einem gemeinsamen Chip mit dem Abstimmabschnitt (16) integriert ist, und einen Verstärkungsabschnitt (14) einzuschließen, so dass der Detektor (20) von dem Verstärkungsabschnitt (14) durch einen Isolationsbereich (30) getrennt wird; Erkennen der spontanen Emission von dem Abstimm abschnitt (16) in dem integrierten Detektor (20).
  4. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Schritt des Erkennens der spontanen Emission von dem Abstimmabschnitt (16) weiterhin den Schritt des Erkennens der spontanen Emission in einem Detektor (50) umfasst, der außerhalb eines Chips (12) angeordnet ist, der den Abstimmabschnitt (16) enthält.
  5. Verfahren nach Anspruch 4, wobei der Schritt des Erkennens der spontanen Emission in einem Detektor (50), der außerhalb eines Chips (12) angeordnet ist, der den Abstimmabschnitt (16) enthält, weiterhin den Schritt des Erkennens der spontanen Emission in einem äußeren Detektor für p-i-n-Diode (50) umfasst, der auf einem Befestigungsblock (52) abgestützt und angeordnet ist, μm die spontane Emission zu erkennen, die von einer Seite des Abstimmabschnittes (16) emittiert wird.
  6. Verfahren nach Anspruch 4, wobei der Schritt des Erkennens der spontanen Emission in einem Detektor (50), der außerhalb eines Chips (12) angeordnet ist, der den Abstimmabschnitt (1b) enthält, weiterhin den Schritt des Erkennens der spontanen Emission in einem äußeren Detektor (50) umfasst, der angeordnet ist, um die spontane Emission zu erkennen, die von einer Seite des Abstimmabschnittes (16) emittiert und auf den äußeren Detektor (50) über die Fokussierungsoptik (56) fokussiert wird.
  7. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Schritt des Erkennens der spontanen Emission von dem Abstimmabschnitt (16) weiterhin den Schritt umfasst: Erkennen der spontanen Emission in einem Abschnitt eines Ausganges der optischen Quelle (10).
  8. Verfahren nach Anspruch 7, wobei der Schritt des Erkennens der spontanen Emission in einem Abschnitt des Ausganges der optischen Quelle (10) weiterhin den Schritt des Anlegens des Ausganges der optischen Quelle (10) an einen Wellenlängen-Multiplex-Koppler (70) umfasst.
  9. Verfahren nach Anspruch 7, das weiterhin den Schritt des Filterns des Abschnittes des Ausganges der optischen Quelle (10) vor dem Schritt des Erkennens der spontanen Emission in dem Abschnitt des Ausganges der optischen Quelle umfasst.
  10. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die optische Signalquelle (10) eine Mehrzahl von Abstimmabschnitten (106, 112) umfasst, der Schritt des Erkennens der spontanen Emission weiterhin den Schritt des Erkennens der spontanen Emission von den Abstimmabschnitten (106, 112) unter Verwendung einer entsprechenden Mehrzahl von Detektoren (110, 114) umfasst, und der Schritt des Verwendens der erkannten spontanen Emission in einer Rückkopplungsregelschleife weiterhin den Schritt des Verwendens der spontanen Emission umfasst, die von der Mehrzahl von Abstimmabschnitten (106, 112) in einer entsprechenden Mehrzahl von Rückkopplungsregelschleifen (22, 24; 122, 124) erkannt wird, um die Wellenlänge des optischen Signals zu regeln.
  11. Verfahren nach Anspruch 10, wobei die Mehrzahl von Abstimmabschnitten einen Phasenabstimmabschnitt (112) und einen Abstimmabschnitt des verteilten Bragg-Reflektors (106) umfasst.
  12. Wellenlängengeregelte abstimmbare optische Signalquelle (10), umfassend: mindestens einen Abstimmabschnitt (16) und gekenn zeichnet durch einen Detektor (20) für das Erkennen der spontanen Emission von dem Abstimmabschnitt (16) der optischen Signalquelle (10); und eine Rückkopplungsregelschleife (22, 24), in welcher die durch den Detektor (20) erkannte spontane Emission verwendet wird, um die Wellenlänge eines optischen Signals zu regeln, das von der optischen Quelle (10) erzeugt wird.
  13. Optische Signalquelle nach Anspruch 12, wobei die Rückkopplungsregelschleife (22, 24) betrieben wird, um den Anteil der erkannten spontanen Emission von dem Abstimmabschnitt (16) auf einem im Wesentlichen konstanten Pegel zu halten.
  14. Optische Signalquelle nach Anspruch 12, wobei der Detektor (20) auf einem gemeinsamen Chip (12) mit dem Abstimmabschnitt (1b) und einem Verstärkungsabschnitt (14) integriert ist, und der Detektor (20) von dem Verstärkungsabschnitt (14) durch einen Isolationsbereich (30) getrennt wird.
  15. Optische Signalquelle nach Anspruch 12, wobei der Detektor (20) außerhalb eines Chips (12) angeordnet ist, der den Abstimmabschnitt (1b) enthält.
  16. Optische Signalquelle nach Anspruch 15, wobei der Detektor als ein äußerer Detektor für p-i-n-Diode (50) realisiert wird, der auf einem Befestigungsblock (52) abgestützt und angeordnet ist, um die spontane Emission zu erkennen, die von einer Seite des Abstimmabschnittes (16) emittiert wird.
  17. Optische Signalquelle nach Anspruch 15, wobei der Detektor als ein äußerer Detektor (50) angeordnet wird, um die spontane Emission zu erkennen, die von einer Seite des Abstimmabschnittes (1b) emittiert und auf den äußeren Detektor über die Fokussierungsoptik (56) fokussiert wird.
  18. Optische Signalquelle nach Anspruch 12, weiterhin umfassend einen optischen Koppler (62) für das Koppeln eines Abschnittes eines Ausganges der optischen Quelle (10), wobei die spontane Emission in dem gekoppelten Abschnitt erkannt wird.
  19. Optische Signalquelle nach Anspruch 18, wobei der optische Koppler ein Wellenlängen-Multiplex-Koppler (70) ist.
  20. Optische Signalquelle nach Anspruch 18, weiterhin umfassend ein Filter (64) für das Filtern des gekoppelten Abschnittes, bevor die spontane Emission in diesem Abschnitt erkannt wird.
  21. Optische Signalquelle nach Anspruch 12, weiterhin umfassend: eine Mehrzahl von Abstimmabschnitten (106, 112); eine Mehrzahl von Detektoren (110, 114), wobei jeder der Detektoren die spontane Emission von einem entsprechenden der Mehrzahl von Abstimmabschnitten (106, 112) erkennt; und eine Mehrzahl von Rückkopplungsregelschleifen (22, 24; 122, 124), wobei jede der Regelschleifen die spontane Emission verwendet, die von einem der Mehrzahl von Abstimmabschnitten (110, 114) erkannt wird, um die Wellenlänge des optischen Signals zu regeln.
  22. Optische Signalquelle nach Anspruch 21, wobei die Mehrzahl von Abstimmabschnitten einen Phasenabstimmabschnitt (112) und einen Abstimmabschnitt des verteilten Bragg-Reflektors (106) umfasst.
DE69819219T 1997-02-11 1998-02-03 Stabilisation der Wellenlänge in verstimmbaren Halbleiterlasern Expired - Lifetime DE69819219T2 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US799653 1991-11-29
US08/799,653 US5832014A (en) 1997-02-11 1997-02-11 Wavelength stabilization in tunable semiconductor lasers

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69819219D1 DE69819219D1 (de) 2003-12-04
DE69819219T2 true DE69819219T2 (de) 2004-09-16

Family

ID=25176426

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE69819219T Expired - Lifetime DE69819219T2 (de) 1997-02-11 1998-02-03 Stabilisation der Wellenlänge in verstimmbaren Halbleiterlasern

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5832014A (de)
EP (1) EP0858138B1 (de)
JP (1) JP3301376B2 (de)
DE (1) DE69819219T2 (de)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6222861B1 (en) * 1998-09-03 2001-04-24 Photonic Solutions, Inc. Method and apparatus for controlling the wavelength of a laser
US6243403B1 (en) 1999-01-11 2001-06-05 Agere Systems Optoelectronics Guardian Corp Method and apparatus for integrated optical wavelength stabilization
US6301280B1 (en) 1999-01-11 2001-10-09 Agere Systems Optoelectronics Guardian Corp. Apparatus and method for forming a laser control signal, and a laser including the apparatus
US6272157B1 (en) 1999-01-11 2001-08-07 Agere Systems Optoelectronics Guardian Corp. Apparatus and method for calibrating a wavelength stabilized laser
SE515435C2 (sv) * 1999-02-17 2001-08-06 Altitun Ab Metod för att våglängdslåsa och modkontrollera en avstämbar laser
SE518827C2 (sv) * 1999-02-17 2002-11-26 Altitun Ab Metod för karakterisering av en avstämbar laser
US6449077B1 (en) 1999-03-09 2002-09-10 Agere Systems Guardian Corp. Method and apparatus for electrically switching a wavelength control system
US6516010B1 (en) 1999-07-13 2003-02-04 Agere Systems, Inc. Method and apparatus for active numeric temperature compensation of an etalon in a wavelength stabilized laser
US6400737B1 (en) 1999-12-14 2002-06-04 Agere Systems Guardian Corp. Automatic closed-looped gain adjustment for a temperature tuned, wavelength stabilized laser source in a closed-loop feedback control system
JP2002043698A (ja) * 1999-12-22 2002-02-08 Yokogawa Electric Corp Shgレーザ光源及びshgレーザ光源の変調方法
JP3772650B2 (ja) * 2000-07-13 2006-05-10 日本電気株式会社 モード同期半導体レーザの駆動方法及び装置
US6829262B1 (en) * 2000-09-22 2004-12-07 Tri Quint Technology Holding Co. Aging in tunable semiconductor lasers
US6839364B1 (en) * 2000-09-29 2005-01-04 Triquint Technology Holding Co. Feedback control loop operating system for tunable source
ATE298468T1 (de) * 2001-04-12 2005-07-15 Finisar Corp Verfahren und vorrichtung zur regelung der mittenwellenlänge eines lasers, insbesondere eines halbleiterlasers
GB2378811A (en) * 2001-08-16 2003-02-19 Bookham Technology Plc A Laser System
GB2380058A (en) * 2001-09-21 2003-03-26 Marconi Caswell Ltd Telecommunication laser transmitter systems and methods of operating such systems
JP4128356B2 (ja) * 2001-12-28 2008-07-30 富士通株式会社 光デバイスの制御装置
US6985644B2 (en) * 2002-04-26 2006-01-10 T-Networks, Inc. Semiconductor micro-resonator for monitoring an optical device
IL150831A0 (en) * 2002-07-21 2003-05-29 Xlight Photonics Ltd On-line recharacterization of laser diodes
DE10237695A1 (de) * 2002-08-15 2004-03-11 Infineon Technologies Ag Lasermodul für optische Übertragungssysteme und Verfahren zum Stabilisieren einer Ausgangswellenlänge eines Lasermoduls
US20050180711A1 (en) * 2004-02-13 2005-08-18 Kamath Kishore K. Dual loop automatic power control of optical transmitters
DE102007041529A1 (de) * 2007-08-31 2009-03-05 Robert Bosch Gmbh Lasereinrichtung und Betriebsverfahren hierfür
JP2014170903A (ja) * 2013-03-05 2014-09-18 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 波長安定化装置を内蔵した波長可変分布ブラッグ反射(dbr)型半導体光デバイス

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3486131A (en) * 1966-05-27 1969-12-23 Bell Telephone Labor Inc Dual cavity single-mode laser with feedback control of main cavity resonance
FR2070473A5 (de) * 1969-12-05 1971-09-10 Telecommunications Sa
US4103254A (en) * 1976-11-10 1978-07-25 Chikami Leslie F Tunable frequency laser
DE2862391D1 (de) * 1977-10-26 1984-04-26 Post Office Control apparatus for a semi-conductor laser device
JPS6079788A (ja) * 1983-10-06 1985-05-07 Nec Corp 光双安定素子
JPH0632332B2 (ja) * 1984-08-24 1994-04-27 日本電気株式会社 半導体レ−ザ装置
JPH0728077B2 (ja) * 1986-04-16 1995-03-29 株式会社トプコン 半導体レ−ザ−の発振周波数・発振出力安定化装置
EP0301320A1 (de) * 1987-07-27 1989-02-01 Siemens Aktiengesellschaft Gaslaseranordnung
DE3744323C2 (de) * 1987-12-28 1999-03-11 Lambda Physik Forschung Verfahren und Vorrichtung zum Stabilisieren der Frequenz eines Laserstrahles
DE3819333A1 (de) * 1988-06-07 1989-12-14 Siemens Ag Laseranordnung mit hoher frequenz- und intensitaetsstabilitaet der laserstrahlung
GB2224389B (en) * 1988-10-20 1993-04-21 Mitsubishi Electric Corp Laser device with wavelength stabilization control and method of operating the same
FR2639773B1 (fr) * 1988-11-25 1994-05-13 Alcatel Nv Laser a semi-conducteur accordable
JPH02189529A (ja) * 1989-01-19 1990-07-25 Fujitsu Ltd 光双安定半導体レーザ装置
JPH02250042A (ja) * 1989-03-23 1990-10-05 Nec Corp 光増幅装置および半導体光アンプ
JP2854330B2 (ja) * 1989-07-14 1999-02-03 キヤノン株式会社 波長可変光フィルタ
GB2230912B (en) * 1989-04-22 1993-10-20 Stc Plc Optical amplifier gain control
DE69033405T2 (de) * 1989-07-15 2000-07-20 Fujitsu Ltd., Kawasaki Abstimmbare Laserdiode mit verteilter Rückkoppelung
JPH03252188A (ja) * 1990-02-28 1991-11-11 Mitsubishi Electric Corp 光集積化素子
JPH0457384A (ja) * 1990-06-27 1992-02-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体レーザ
JP3067880B2 (ja) * 1991-01-12 2000-07-24 キヤノン株式会社 回折格子を有する光検出装置
US5253314A (en) * 1992-01-31 1993-10-12 At&T Bell Laboratories Tunable optical waveguide coupler
JP3184359B2 (ja) * 1993-03-19 2001-07-09 富士通株式会社 半導体レーザ制御方法および半導体レーザ制御装置
US5384799A (en) * 1993-09-09 1995-01-24 Martin Marietta Corporation Frequency stabilized laser with electronic tunable external cavity
JPH07131113A (ja) * 1993-10-27 1995-05-19 Canon Inc 半導体光装置
US5473625A (en) * 1994-09-26 1995-12-05 At&T Corp. Tunable distributed Bragg reflector laser for wavelength dithering
FR2728399B1 (fr) * 1994-12-20 1997-03-14 Bouadma Nouredine Composant laser a reflecteur de bragg en materiau organique et procede pour sa realisation
JPH08198032A (ja) * 1995-01-23 1996-08-06 Nishikawa Rubber Co Ltd グラスルーフ用ウエザーストリップの波打ち防止構造

Also Published As

Publication number Publication date
EP0858138B1 (de) 2003-10-29
DE69819219D1 (de) 2003-12-04
JP3301376B2 (ja) 2002-07-15
US5832014A (en) 1998-11-03
EP0858138A3 (de) 2001-04-25
EP0858138A2 (de) 1998-08-12
JPH10223964A (ja) 1998-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69819219T2 (de) Stabilisation der Wellenlänge in verstimmbaren Halbleiterlasern
DE69226885T2 (de) Licht-Detektionsvorrichtung mit Beugungsgitter
DE69408276T2 (de) Digital, reflektiv abstimmbarer Laser
DE60025676T2 (de) Wellenlängenstabilisierter abstimmbarer optischer Sender mit hohem Seitenmodenunterdrückungsverhältnis
DE69033405T2 (de) Abstimmbare Laserdiode mit verteilter Rückkoppelung
EP0187198B1 (de) Verfahren zur Herstellung einer integriert - optischen Anordnung
EP0284908B1 (de) Anordnung zur Steuerung oder Regelung einer Emissionswellenlänge und emittierten Leistung eines Halbleiterlasers
DE60124834T2 (de) Licht emittierendes modul
DE69905342T2 (de) Verfahren und vorrichtung zum überwachen und steuern der laserwellenlänge
EP0970550B1 (de) Lasermodul mit wellenlängenstabilisierung
DE69315872T2 (de) Optische Vorrichtung und Methode unter Benutzung dieser Vorrichtung, welche die Änderung einer über die beiden Anschlussenden eines verstärkenden Bereichs abfallenden Spannung ausnutzt
DE69510829T2 (de) Geregelter optischer Verstärker
EP0187979B1 (de) Monolithisch integrierter WDM-Demultiplexmodul und ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Moduls
DE4328777A1 (de) Optische Filtervorrichtung
DE60012704T2 (de) Abstimmbarer laser mit einer integrierten vorrichtung zur wellenlängenüberwachung und zugehöriges betriebsverfahren
EP1560306B1 (de) Oberflächenemittierender Halbleiterlaser mit einem Interferenzfilter
DE102008058017B4 (de) Wellenlängenmesser und zugehöriges Verfahren
EP1465335A1 (de) Rauscharmer Lichtempfänger
DE60111207T2 (de) Stabilisierte strahlungsquelle
EP0531768B1 (de) Verfahren zum Betreiben eines Halbleiterbauelements als optisches Filter
DE68910754T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur optischen Filterung und Photodetektion von intensitätsmodulierten Signalen.
DE69730872T2 (de) Laservorrichtung
DE3785610T2 (de) Optisch gesteuerter waehler.
DE3889423T2 (de) Filter mit abstimmbarer Wellenlänge.
EP3414804B1 (de) Laseranordnung, verfahren zum steuern eines lasers und messverfahren

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition