DE69810175T3 - Ionenfalle - Google Patents

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    • H01J49/34Dynamic spectrometers
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Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Ionenfalle mit einer Ringelektrode und zwei Endkappenelektroden, welche Ionen zur Speicherung, Selektion, Fragmentierung und zum Ausstoß, insbesondere für ein Ionenfallen-Massenspektrometer, manipuliert.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Eine Ionenfalle für ein Ionenfallen-Massenspektrometer mit einem zentralen Bereich und zwei Endbereichen, wobei jeder Bereich zwei Paare von gegenüberliegenden Elektroden enthält, ist aus der US-5.420.425 bekannt. Die Kombination der Bereiche der bekannten Ionenfalle bildet eine verlängerte und vergrößerte Fallenkammer zum Fangen von Ionen in einem vergrößerten Raumvolumen.
  • Die Innenflächen der Ringelektrode und der Endkappenelektroden eines Ionenfallen-Massenspektrometers sind als Hyperboloide ausgebildet mit einer hyperbolischen Seitenfläche in ihrem zentralen Querschnitt. Wenn eine geeignete Spannung an diese Elektroden angelegt wird, wird ein elektrisches Feld in dem Raum erzeugt, der von diesen Elektroden umgeben wird, welcher den Analysenraum des Massenspektrometers darstellt. Das elektrische Feld ϕ(r,z) wird idealerweise durch das folgende elektrische Quadrupolfeld ausgedrückt: ϕ(r,z) ∝ r2 – 2·z2 (1)worin r und z die Koordinaten des zylindrischen Koordinatensystems sind, wobei r den Abstand von der zentralen Achse der Ionenfalle zur Ringelektrode und z den Abstand von der Mitte der Ionenfalle zu einer Endkappenelektrode angeben.
  • Wenn eine RF(Radiofrequenz)-Spannung V der Frequenz Ω an die Ringelektrode angelegt wird, die mit einer DC(Gleichstrom)-Spannung U überlagert ist, werden Ionen in dem Analysenraum des darin erzeugten elektrischen Quatrupolfeldes gefangen. Der Ionenfallenzustand wird durch verschiedene Parameter, einschließlich der RF-Spannung V, der Frequenz Ω, der DC-Spannung U und der Abmessungen der Vorrichtung (der Radius r0 der Ringelektrode und die halbe Distanz z0 zwischen den Endkappenelektroden), bestimmt.
  • Der Ionenfallenzustand wird beispielsweise durch die qz-az-Ebene, wie in dem Stabilitätsdiagramm von 14 gezeigt, dargestellt. Die Bewegungsgleichung für ein Ion mit einer Masse m und einer elektrischen Ladung e wird durch die allgemeine Mathieu-Gleichung wiedergegeben: d2u/dξ2 + (au – 2·qu·cos(2·ξ))·u = 0 (2),wobei u = x, y, z (3), ξ = Ω·t/2 (4), az = –2·ax = –2·ay = –8·e·U/(m·r0 2·Ω2) (5),und qz = –2·qx = –2·qy = 4·e·V/(m·r0 2·Ω2) (6).
  • Die Parameter az und qz werden durch das Massen-Ladungsverhältnis m/e des Ions bestimmt. Wenn ein Satz Parameter (az, qz) innerhalb des Stabilitätsbereichs, wie in 14 dargestellt, liegt, oszilliert ein Ion mit entsprechendem m/e bei mit einer bestimmten Frequenz, welche als Säkularfrequenz bezeichnet wird, und wird in dem Analysenraum gefangen. Der Parameter β in 14 ist ein Wert, der von dem Parameter q abhängig ist.
  • In einem Ionenfallen-Massenspektrometer wird ein Massenspektrum durch ein Verfahren erhalten, welches den massen-selektiven Instabilitäts-Scanmodus verwendet, bei dem Ionen durch ein oder mehrere Löcher, die im Zentrum einer Endkappenelektrode ausgebildet sind, ausgestoßen und detektiert werden, während die RF-Spannung V kontinuierlich erhöht wird. Wenn die RF-Spannung allein an die Elektroden angelegt wird, ist az Null (az = 0), während qz einen bestimmten Wert in Abhängigkeit von dem m/e-Verhältnis des Ions besitzt. Wenn die RF-Spannung erhöht wird, steigt qz entsprechend an. Wenn ein Satz an Parametern (az, qz) die Grenze des Stabilitätsbereichs erreicht (az = 0, qz 0,908), wird die Oszillation der Ionen entlang der z-Richtung unstabil, und es werden Ionen durch das Loch oder die Löcher der Endkappenelektrode ausgestoßen. Dies bedeutet, dass die RF-Spannung, bei der Ionen ausgestoßen werden, proportional zu dem m/e-Verhältnis ist, und ein Massenspektrum erhalten wird, welches die RF-Spannung V als ein Parameter für das m/e-Verhältnis abtastet.
  • Ein weiteres Verfahren zum Erhalt eines Massenspektrums in einem Ionenfallen-Massenspektrometer ist der Resonanz-Ausstoßmodus, bei dem, ähnlich wie bei dem zuvor beschriebenen Verfahren, ein Massenspektrum erhalten wird, während die RF-Spannung kontinuierlich erhöht wird. Eine Hilfs-AC(Wechselstrom)-Spannung wird zwischen den Endkappenelektroden angelegt. Wenn die Frequenz der Hilfs-AC-Spannung mit der Säkularfrequenz der Ionen übereinstimmt, ruft die AC-Spannung eine Resonanz-Oszillation der Ionen hervor und stößt sie aus dem Analysenraum aus. Somit wird ein Massenspektrum durch den Ausstoß von Ionen bei der Frequenz der Hilfs-AC-Spannung erhalten, da die Säkularfrequenz der Ionen durch die Parameter az und qz bestimmt wird und nachfolgend mit der Frequenz bei ansteigender RF-Spannung übereinstimmt.
  • Da die Elektroden eines üblichen Ionenfallen-Massenspektrometers begrenzte Ausmaße haben müssen, sollte die theoretisch unbegrenzte hyperbolische Fläche bei einem begrenzten Ausmaß beendet werden. Dies verursacht eine Abweichung des aktuellen elektrischen Feldes von einem reinen elektrischen Quadrupolfeld, wie es in der Theorie verwendet wird, und verschlechtert die Leistung des Massenspektrometers. Die Richtung der Abweichung in dem peripheren Bereich des Analysenraums tendiert zu einem schwächeren e lektrischen Feld als ein reines elektrisches Quadrupolfeld. Wenn das elektrische Feld in dem Analysenraum durch Multipolausdehnung gekennzeichnet ist, sind die Vorzeichen der Quadrupolkomponente und der Summe der anderen Multipolkomponenten (beispielsweise Hexapol und Octopol) entgegengesetzt.
  • Diese Abweichung reduziert die Kraft, die auf die Ionen wirkt, wenn die Oszillation in z-Richtung unstabil wird und die Amplitude der Oszillation ansteigt, um etwa qz ≈ 0,908 in dem massen-selektiven Instabilitäts-Scanmodus, im Vergleich zu dem Fall, wenn ein reines elektrisches Quadrupolfeld verwendet wird. Die Reduktion der Kraft wird als Reduktion der effektiven RF-Spannung von qz angesehen, und das Ion wird zurück in den Stabilitätsbereich gezogen. Dies erfordert einen weiten Anstieg der RF-Spannung, um die Ionen auszustoßen, was zu einer Verschlechterung der Leistung, wie Massenauflösung, führt. Ein ähnliches Problem wird bei dem Resonanzausstoßmodus beobachtet.
  • Die Abweichung von einem reinen Quadrupolfeld, die durch die Verkürzung der Elektroden eingeführt wird, kann gemildert werden, indem die Position der Verkürzung ausgedehnt wird; die Abweichung des elektrischen Feldes besitzt jedoch immer noch ein entgegengesetztes Vorzeichen zu einem reinen elektrischen Quadrupolfeld. Das zuvor erwähnte Problem, die Verschlechterung der Leistung, kann durch diese Mittel nicht gelöst werden.
  • Aus R. E. March, J. F. I. Todel, „Practical Aspects of Ion Trap Mass Spectrometry Volume I", CRC Press, 1995, Seite 68, sind zwei Verfahren bekannt, die üblicherweise zur Lösung des Problems verwendet werden. Ein Verfahren verwendet einen ausgedehnten Geometriemodus der Elektroden, in dem die Endkappenelektroden weiter voneinander entfernt werden, als die theoretisch bestimmten Positionen, wie in 15 dargestellt. Bei dem anderen, in 16 dargestellten Verfahren werden die Flächen der Ringelektrode und der Endkappenelektroden von der theoretisch erforderlichen Position abgelenkt, so dass die Asymptoten leicht abgeschrägt sind. Die durchgezogenen Linien zeigen die theoretischen Positionen der Asymptoten und die gepunkteten Linien ihre Modifikationen in den 15 und 16. Die zwei Verfahren korrigieren die Abweichungen des elektrischen Feldes durch ein Überlagern elektrischer Felder gleicher Polarität, wie das elektrische Quadrupolfeld, im gesamten Analysenraum.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Wie bereits beschrieben, sind ein oder mehrere kleine Löcher in der Mitte der Endkappenelektroden ausgebildet, um Ionen in den Analysenraum einzuführen oder Proben und Elektronen einzuführen, um Ionen innerhalb des Analysenraums zu erzeugen oder Ionen aus dem Analysenraum auszustoßen. Das elektrische Potential um die Löcher besitzt eine kleinere Krümmung aufgrund des feldfreien Raums außerhalb des Analysenraums, und eine Abweichung des Feldes mit entgegengesetztem Vorzeichen wird eingeführt, was zu einer Verschlechterung der Leistung des Massenspektrometers, wie der Auflösung, führt. Während die Abweichung, die durch Verkürzung bei einer bestimmten Elektrodengröße eingeführt wird, den gesamten Analysenraum betrifft, ist die Abweichung, die durch die Löcher in den Endkappenelektroden verursacht wird, lokal in der Umgebung der Löcher, so dass konventionelle Verfahren, wie oben beschrieben, bei der Korrektur der entsprechenden Abweichung nutzlos werden.
  • Die vorliegende Erfindung stellt zur Lösung des Problems ein Ionenfallen-Massenspektrometer zur Verfügung, in dem die lokale Abweichung des elektrischen Feldes, welche durch die Löcher in den Endkappenelektroden verursacht wird, genau reguliert wird, wobei die Auflösung verbessert und die Ionenfallenleistung verstärkt werden.
  • Die vorliegende Erfindung stellt somit eine Ionenfalle zur Verfü gung, bei der die Endkappenelektrode ein Loch oder Löcher in ihrer Mitte aufweist, wobei die lokale Abweichung des elektrischen Feldes, die um die Löcher auftritt, durch eine hyperbolische Fläche mit einer Ausbauchung, entweder lokal um jedes Loch herum oder über die gesamte Innenfläche der Endkappenelektrode und alle Löcher bedeckend, reguliert wird.
  • Die vorliegende Erfindung stellt somit eine Ionenfalle zur Verfügung, welche eine Ringelektrode und zwei Endkappenelektroden aufweist, wobei jede der Endkappenelektroden wenigstens ein Loch etwa in ihrer Mitte aufweist, und eine Fläche jeder der Endkappenelektroden eine Ausbauchung aufweist, die um wenigstens eines der Löcher ausgebildet ist. Die Ausbauchung ist beispielsweise eine lokale Erhöhung oder ein Vorsprung, welcher um das Loch auf der Innenfläche der Endkappenelektrode ausgebildet ist, wobei die lokale Abweichung des elektrischen Feldes um das Loch reguliert wird.
  • In der Ionenfalle wird das elektrische Feld in dem zentralen Bereich des Analysenraums präzise um einen kleinen Betrag korrigiert, um ein reines quadratisches Feld zu liefern, da das elektrische Feld in diesem Bereich hauptsächlich durch die Gesamtkonfiguration der Elektroden beeinflusst wird. Die Korrektur des elektrischen Feldes um das Loch ist andererseits effektiver als das konventionelle Verfahren, da die Fläche der Elektrode aufgrund der Ausbauchung in dem Bereich des Analysenraums enger ist. Somit wird in der erfindungsgemäßen Ionenfalle ein gewünschtes elektrisches Feld in dem gesamten Analysenraum erzeugt, ohne eine unerwünschte Änderung des elektrischen Feldes in dem zentralen Bereich des Analysenraums zu verursachen. Die Auflösung des Massenspektrometers wird verbessert, da ein werthohes elektrisches Multipolfeld mit der gleichen Polarität wie das der elektrischen Quadrupolfeld-Komponente um das Loch erzeugt wird.
  • In einer weiteren Modifikation der Ionenfalle weist jede der End kappenelektroden mehrere Löcher etwa in ihrer Mitte auf, und eine Ausbauchung ist um jedes der Löcher an der hyperbolischen Fläche jeder der Endkappenelektroden ausgebildet. Das Ausmaß, in dem das elektrische Feld reguliert wird, kann durch Änderung der Höhe der Erhöhung oder des Vorsprungs eingestellt werden.
  • In einer Modifikation der Ionenfalle ist die Ausbauchung ein Teil eines Kegels, dessen Seitenfläche die hyperbolische Fläche der Endkappenelektrode tangential berührt. Das Ausmaß, in dem das elektrische Feld reguliert wird, kann durch Änderung der radialen Position, bei der der Kegel die Fläche der Endkappenelektrode berührt, eingestellt werden.
  • In einer weiteren Modifikation der erfindungsgemäßen Ionenfalle ist die Ausbauchung ein Teil eines Kegels, dessen Seitenfläche die hyperbolische Fläche der Endkappenelektrode unter einem Winkel berührt. Das Ausmaß, in dem das elektrische Feld reguliert wird, kann durch Änderung der Höhe des Kegels eingestellt werden.
  • In einer weiteren Modifikation der Ionenfalle ist die Ausbauchung ein zylindrischer Vorsprung. Das Ausmaß, in dem das elektrische Feld reguliert wird, kann durch Änderung der Höhe des zylindrischen Vorsprungs eingestellt werden.
  • Die vorliegende Erfindung stellt außerdem eine Ionenfalle zur Verfügung, welche eine Ringelektrode und zwei Endkappenelektroden mit einer Anzahl von Löchern etwa in ihrer Mitte aufweist, wobei eine Fläche jeder der Endkappenelektroden eine Ausbauchung aufweist, die alle diese zentralen Löcher bedeckt. Das Ausmaß, in dem das elektrische Feld reguliert wird, kann durch Änderung der Höhe der Erhöhung oder des Vorsprungs eingestellt werden.
  • Außerdem kann in der Ionenfalle die Ausbauchung ein Vorsprung sein, der die Form einer Seitenfläche hat, die durch eine Kurve wiedergegeben wird, die sich mit steigendem Abstand von dem zentralen Loch schnell an eine hyperbolische Fläche einer Endkappenelektrode annähert.
  • Durch die erfindungsgemäße Ionenfalle wird nicht nur die lokale Abweichung des elektrischen Feldes um das Loch korrigiert, sondern ebenso die Leistung des Massenspektrometers (z. B. die Auflösung, die Ionenfallenleistung usw.) verbessert, aufgrund einer Überlagerung der werthohen elektrischen Multipolfeld-Komponenten, welche die gleiche Polarität wie die elektrische Quadrupolfeld-Komponente aufweisen.
  • Selbstverständlich kann jedes der zentralen Löcher mit einer Ausbauchung verbunden sein.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Eine bevorzugte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wird im Folgenden mit Bezug auf die angefügten Zeichnungen näher erläutert, wobei:
  • 1 eine schematische Darstellung eines Masenspektrometers mit einer erfindungsgemäßen Ionenfalle zeigt;
  • 2 den zentralen Querschnitt einer ersten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Ionenfalle darstellt, und 3 eine perspektivische Ansicht einer in der obigen Ionenfalle verwendeten Endkappenelektrode zeigt;
  • 4 den zentralen Querschnitt einer zweiten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Ionenfalle darstellt, und 5 eine perspektivische Ansicht einer in der obigen Ionenfalle verwendeten Endkappenelektrode zeigt;
  • 6 den zentralen Querschnitt einer dritten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Ionenfalle darstellt, und 7 eine perspektivische Ansicht einer in der obigen Ionenfalle verwendeten Endkappenelektrode zeigt;
  • 8 den zentralen Querschnitt einer vierten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Ionenfalle darstellt, 9 eine perspektivische Ansicht einer in der obigen Ionenfalle verwendeten Endkappenelektrode zeigt, und 10 eine Aufsicht auf die obige Endkappenelektrode zeigt;
  • 11 den zentralen Querschnitt einer fünften Ausführungsform der erfindungsgemäßen Ionenfalle darstellt, 12 eine perspektivische Ansicht einer in der obigen Ionenfalle verwendeten Endkappenelektrode zeigt, und 13 eine Aufsicht auf die obige Endkappenelektrode zeigt;
  • 14 ein Stabilitätsdiagramm für die Ionenfalle, dargestellt in der qz-az-Ebene, zeigt;
  • 15 ein Diagramm zur Erklärung eines konventionellen Verfahrens zur Korrektur einer Abweichung in einem elektrischen Feld darstellt; und
  • 16 ein Diagramm zur Erklärung eines weiteren konventionellen Verfahrens zur Korrektur einer Abweichung in einem elektrischen Feld darstellt.
  • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG EINER BEVORZUGTEN AUSFÜHRNGSFORM
  • Ein erfindungsgemäßes Ionenfallen-Massenspektrometer ist in 1 dargestellt, wobei das Ionenfallen-Massenspektrometer 1 eine Ionenfalle 2, einen Elektronengenerator 3, einen Ionendetektor 4 und eine Steuervorrichtung 5 enthält. Die Ionenfalle 2 wird zu Erzeugung, Speicherung, Selektion, Fragmentierung und zum Ausstoß von Ionen verwendet und besteht aus einer Ringelektrode 23 und einem Paar Endkappenelektroden 21 und 22. Die Ringelektrode 23 ist mit einem RF-Generator 24 verbunden, welcher normalerweise eine RF-Spannung V·cos(Ω·t) von etwa 1 MHz Frequenz an die Ringelektrode 23 anlegt, während die Spannung der zwei Endkappenelektroden 21 und 22 bei Null gehalten wird.
  • Die drei Elektroden 21, 22 und 23 definieren den Analysenraum 25, wo die RF-Spannung das elektrische Quadrupolfeld erzeugt und das elektrische Quadrupolfeld Ionen innerhalb des Analysenraums fängt.
  • Wenn Spannungen entgegengesetzter Polaritäten an die zwei Endkappenelektroden 21 und 22 angelegt werden, wird ein elektrisches Dipolfeld zur Erregung und/oder zum Austausch von Ionen in dem Analysenraum 25 erzeugt. Verstärker 26 und 27 sind mit den Endkappenelektroden 21 und 22 verbunden, um elektrischen RF-Strom der gleichen Phase durch ihre geringe Output-Impedanz zu absorbieren. Die Verstärker 26 und 27 liefern ebenso Spannungen entgegengesetzter Polarität, die durch einen Wellengenerator 28 erzeugt werden.
  • Der Elektronengenerator 3 ist gerade außerhalb einer Endkappenelektrode 21 platziert, um Elektronen in den Analysenraum 25 durch ein Loch (oder Löcher) 31 in der Endkappenelektrode 21 zur Erzeugung von Ionen einzuführen. Es ist möglich, anstelle eines Elektronengenerators 3 einen Ionengenerator an der gleichen Stelle zu verwenden, wobei Ionen von außen in den Analysenraum 25 eingeführt werden.
  • Ein Ionendetektor 41 ist gerade außerhalb der anderen Endkappenelektrode 22 angeordnet, um Ionen zu detektieren, die aus dem Loch (oder den Löchern) 32 in der Endkappenelektrode 22 austreten. Ein Vorverstärker 42 und eine Datenverarbeitungsanlage 43 sind mit dem Ionendetektor 41 verbunden. Der Elektronengenerator 3, der RF-Generator 24, der Wellenformgenerator 28 und die Datenverarbeitungsanlage 43 sind alle mit der Steuervorrichtung 5 verbunden und werden von dieser gesteuert.
  • Wenn die Größen der hyperbolischen Flächen der Ringelektrode 23 und der Endkappenelektroden 21 und 22 groß genug sind im Vergleich zu den kennzeichnenden Dimensionsparametern der Ionenfalle 2 (d. h. r0 und z0), und wenn die Endkappenelektroden 21 und 22 kein Loch 31 oder 32 aufweisen, wird ein ideales elektrisches Quadrupolfeld in dem Analysenraum 25 der Ionenfalle 2 gebildet. Das tatsächliche elektrische Feld weist jedoch eine Abweichung von dem idealen Feld in Richtung eines kleineren Wertes um die Löcher 31 und 32 auf, welches die Leistung des Massenspektrometers verschlechtert.
  • In dem Ionenfallen-Massenspektrometer der vorliegenden Ausführungsform sind Ausbauchungen 33 und 34 um die Löcher 31 und 32 der Endkappenelektroden 21 und 22 ausgebildet, so dass die lokale Abweichung des elektrischen Feldes um die Löcher 31 und 32 korrigiert und reguliert wird, um eine elektrische Multipolfeld-Komponente zu erzeugen, welche die Leistung, z. B. die Massenauflösung und die Stabilität des Ionenfangens in der Ionenfalle, verbessert.
  • Die Ausführungsform wird mit Bezug auf die 213 detailliert beschrieben. Wie in den 2 und 3 dargestellt, sind Ausbauchungen 33a und 34a um jedes der Löcher 31 und 32 der Endkappenelektroden 21 und 22, die die Form eines kreisförmigen Kegels aufweisen, dessen Seitenflächen die hyperbolische Fläche der Endkappenelektrode bei dem Kreis, größer als der Endkreis der Löcher, tangential berührt, ausgebildet. Ein derartiger Kegel sollte eine Ausbauchung an der Spitze des Hyperboloids der Endkappenelektroden bilden. Die in den 2 und 3 dargestellten Ausbauchungen sind zum Zwecke der Veranschaulichung übertrieben dargestellt; tatsächlich können die Ausbauchungen kleiner sein, um die Abweichung des elektrischen Feldes um die Löcher zu regulieren.
  • Das zweite Beispiel für die Ausbauchung ist in den 4 und 5 dargestellt, in denen die Ausbauchungen 33b und 34b als kreisförmige Kegel ausgebildet sind, dessen Seitenfläche nicht notwendigerweise die hyperbolische Fläche der Endkappenelektroden 21 und 22 tangiert. Die in den 4 und 5 dargestellten Ausbauchungen 33b und 34b sind ebenso zum Zweck der Veranschaulichung übertrieben dargestellt; tatsächlich können die Ausbauchungen kleiner sein, um die Abweichung des elektrischen Feldes um die Löcher zu regulieren.
  • Die Ausbauchungen 33b und 34b des zweiten Beispiels können das elektrische Feld in einem begrenzteren Bereich um das Loch regulieren. Je mehr der Spitzenwinkel in Richtung des tangentialen Kontakts erhöht wird, wie in dem ersten Beispiel, desto größer ist die relative Wirkung der Ausbauchung auf das elektrische Feld in der Mitte der Ionenfalle im Vergleich zu dem das Loch umgebenden Feld. Somit können durch Einstellung des Spitzenwinkels des kreisförmigen Kegels in dem zweiten Beispiel die Korrektur in dem elektrischen Feld in der Mitte des Analysenraums und außerdem die Einstellung der Multipol-Komponente des elektrischen Feldes um das Loch gleichzeitig optimiert werden.
  • Ein drittes Beispiel für die Ausbauchung ist in den 6 und 7 dargestellt. Die Ausbauchung ist derart, dass die Seitenfläche der Ausbauchung durch eine funktionelle Kurve erzeugt wird. Die Kurve kann derart ausgewählt werden, dass die Ausbauchung auf einen Bereich begrenzt wird, der das Loch umgibt, wie in den vorherigen Beispielen, oder sich über die gesamte Endkappenelektrode erstreckt. Im letzteren Fall nähert sich die Kurve der Seitenfläche der Ausbauchung schnell der theoretischen hyperbolischen Fläche der Ionenfalle, wenn der Abstand von dem Loch größer wird.
  • Die in den 6 und 7 dargestellten Ausbauchungen 33c und 34c sind derart, dass ein Teilbereich um das Loch um einen bestimmten Betrag angehoben wird, d. h., die Ausbauchung wie ein Zylinder ausgebildet ist. Die Seitenfläche des Zylinders kann konisch erweitert sein, und/oder die obere Fläche des Zylinders kann abgeflacht sein (eigentlicher Zylinder). Die in den 6 und 7 dargestellten Ausbauchungen 33c und 34c sind ebenso aus Gründen der Anschaulichkeit übertrieben dargestellt; die tatsächlichen Ausbauchungen können jedoch kleiner sein, um die Abweichung des elektrischen Feldes um das Loch zu regu lieren.
  • Das vierte Beispiel für die Ausbauchung ist in den 8 bis 10 dargestellt, wo die vorliegende Erfindung auf eine Endkappenelektrode angewendet wird, die eine Mehrzahl an Löchern aufweist. In diesem Fall sind die Ausbauchungen 33d und 34d um jedes einzelne Loch 31 und 32 der Endkappenelektroden 21 und 22 ausgebildet. Die in den 8 bis 10 dargestellten Ausbauchungen 33d und 34d sind ebenso aus Gründen der Anschaulichkeit übertrieben dargestellt; tatsächlich können die Ausbauchungen kleiner sein, um die Abweichung des elektrischen Feldes um das Loch zu regulieren.
  • Das fünfte Beispiel für die Ausbauchung ist in den 11 bis 13 dargestellt, wobei die vorliegende Erfindung auf eine Endkappenelektrode angewendet wird, die mehrere Löcher aufweist. In diesem Fall sind die Ausbauchungen 33e und 34e in dem Bereich ausgebildet, der die Löcher 31 und 32 bedeckt. Die Ausbauchungen 33e und 34e sind zylindrisch oder gemäß einer bestimmten funktionellen Kurve, wie in dem dritten Beispiel beschrieben, geformt. Die in den 11 bis 13 dargestellten Ausbauchungen 33e und 34e sind ebenso aus Gründen der Anschaulichkeit übertrieben dargestellt; tatsächlich können die Ausbauchungen kleiner sein, um die Abweichung des elektrischen Feldes um das Loch zu regulieren.
  • Die Außenflächen der Endkappenelektroden 21 und 22 sind in den 1 bis 13 flach dargestellt. Es ist möglich, die äußeren Oberflächen in einer Form auszubilden, die der inneren (hyperbolischen) Fläche, der kegelförmigen Fläche oder Hohlfläche in irgendeiner Weise entspricht, so dass die Endkappenelektroden eine dünne Wand aufweisen können, um verschiedene Mittel, wie ein Linsensystem zur Fokussierung von Ionen, die von der Ionenfalle extrahiert werden oder in die Ionenfalle injiziert werden, aufzunehmen.

Claims (6)

  1. Ionenfalle mit einer Ringelektrode (23) und zwei Endkappenelektroden (21, 22), wobei jede der Endkappenelektroden (21, 22) wenigstens ein Loch (31, 32) etwa in ihrer Mitte aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Endkappenelektroden (21, 22) eine hyperbolische Fläche mit einer Ausbauchung (33a, 33b, 33c, 33d, 33e; 34a, 34b, 34c, 34d, 34e) aufweist, die um wenigstens eines der Löcher (31, 32) ausgebildet ist.
  2. Ionenfalle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Endkappenelektroden (21, 22) mehrere Löcher (31, 32) etwa an ihrer Mitte aufweist, und die Ausbauchung (33d, 34d; 33e, 34e) um jedes der Löcher (31, 32) an der Fläche jeder der Kappenendelektroden (21, 22) ausgebildet ist, oder alle diese Löcher (31, 32) überdeckt.
  3. Ionenfalle nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausbauchung (33a, 34a, 33d, 34d) ein Teil eines Kegels ist, dessen Seitenfläche die hyperbolische Fläche der Endkappenelektrode (21, 22) tangetial berührt.
  4. Ionenfalle nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausbauchung (33b, 34b, 33d, 34d) ein Teil eines Kegels ist, dessen Seitenfläche die hyperbolische Fläche der Endkappenelektrode (21, 22) unter einem Winkel berührt.
  5. Ionenfalle nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausbauchung (33c, 34c, 33d, 34d) ein zylindrischer Vorsprung ist.
  6. Ionenfalle nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausbauchung (33e, 34e) ein Vorsprung ist, der die Form einer Seitenfläche hat, die durch eine Kurve wiedergegeben wird, die sich mit steigendem Abstand von dem Loch oder den Löchern (31, 32) schnell an die hyperbolische Fläche der Endkappenelektroden (21, 22) annähert.
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Application Number Priority Date Filing Date Title
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Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE69810175D1 DE69810175D1 (de) 2003-01-30
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US (1) US6087658A (de)
EP (1) EP0863537B2 (de)
JP (1) JP3617662B2 (de)
DE (1) DE69810175T3 (de)

Families Citing this family (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6469298B1 (en) * 1999-09-20 2002-10-22 Ut-Battelle, Llc Microscale ion trap mass spectrometer
DE10028914C1 (de) * 2000-06-10 2002-01-17 Bruker Daltonik Gmbh Interne Detektion von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen
US20050229003A1 (en) 2004-04-09 2005-10-13 Miles Paschini System and method for distributing personal identification numbers over a computer network
US7676030B2 (en) 2002-12-10 2010-03-09 Ewi Holdings, Inc. System and method for personal identification number distribution and delivery
AU2002305449A1 (en) * 2001-05-08 2002-11-18 Thermo Finnigan Llc Ion trap
US6608303B2 (en) 2001-06-06 2003-08-19 Thermo Finnigan Llc Quadrupole ion trap with electronic shims
US6762404B2 (en) * 2001-06-25 2004-07-13 Micromass Uk Limited Mass spectrometer
WO2003017319A2 (en) * 2001-08-15 2003-02-27 Purdue Research Foundation Method of selectively inhibiting reaction between ions
GB2381653A (en) 2001-11-05 2003-05-07 Shimadzu Res Lab Europe Ltd A quadrupole ion trap device and methods of operating a quadrupole ion trap device
JP3653504B2 (ja) 2002-02-12 2005-05-25 株式会社日立ハイテクノロジーズ イオントラップ型質量分析装置
US10205721B2 (en) 2002-12-10 2019-02-12 Ewi Holdings, Inc. System and method for distributing personal identification numbers over a computer network
WO2004107280A2 (en) 2003-05-28 2004-12-09 Ewi Holdings, Inc. System and method for electronic prepaid account replenishment
CA2525978C (en) * 2003-05-30 2011-07-19 Purdue Research Foundation Process for increasing ionic charge in mass spectrometry
JP3912345B2 (ja) * 2003-08-26 2007-05-09 株式会社島津製作所 質量分析装置
US7280644B2 (en) 2004-12-07 2007-10-09 Ewi Holdings, Inc. Transaction processing platform for faciliating electronic distribution of plural prepaid services
US11599873B2 (en) 2010-01-08 2023-03-07 Blackhawk Network, Inc. Systems and methods for proxy card and/or wallet redemption card transactions
US11475436B2 (en) 2010-01-08 2022-10-18 Blackhawk Network, Inc. System and method for providing a security code
DE102004025262A1 (de) * 2004-05-19 2005-12-22 Bruker Daltonik Gmbh Massenspektrometer mit Ionenfragmentierung durch Elektroneneinfang
US20060045244A1 (en) 2004-08-24 2006-03-02 Darren New Method and apparatus for receipt printing and information display in a personal identification number delivery system
US7279681B2 (en) * 2005-06-22 2007-10-09 Agilent Technologies, Inc. Ion trap with built-in field-modifying electrodes and method of operation
US7180057B1 (en) * 2005-08-04 2007-02-20 Thermo Finnigan Llc Two-dimensional quadrupole ion trap
US9053919B2 (en) * 2005-12-13 2015-06-09 Brigham Young University Miniature toroidal radio frequency ion trap mass analyzer
US7405400B2 (en) * 2006-01-30 2008-07-29 Varian, Inc. Adjusting field conditions in linear ion processing apparatus for different modes of operation
US7351965B2 (en) * 2006-01-30 2008-04-01 Varian, Inc. Rotating excitation field in linear ion processing apparatus
US7501623B2 (en) * 2006-01-30 2009-03-10 Varian, Inc. Two-dimensional electrode constructions for ion processing
US7405399B2 (en) * 2006-01-30 2008-07-29 Varian, Inc. Field conditions for ion excitation in linear ion processing apparatus
US7470900B2 (en) * 2006-01-30 2008-12-30 Varian, Inc. Compensating for field imperfections in linear ion processing apparatus
US7365318B2 (en) * 2006-05-19 2008-04-29 Thermo Finnigan Llc System and method for implementing balanced RF fields in an ion trap device
US10296895B2 (en) 2010-01-08 2019-05-21 Blackhawk Network, Inc. System for processing, activating and redeeming value added prepaid cards
US7842918B2 (en) * 2007-03-07 2010-11-30 Varian, Inc Chemical structure-insensitive method and apparatus for dissociating ions
US8334506B2 (en) 2007-12-10 2012-12-18 1St Detect Corporation End cap voltage control of ion traps
US7973277B2 (en) 2008-05-27 2011-07-05 1St Detect Corporation Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter
US20100058514A1 (en) * 2008-09-10 2010-03-11 Ho-Seong Koh Size adjustable headwear piece
EP2521999A4 (de) 2010-01-08 2015-01-07 Blackhawk Network Inc System zur verarbeitung, aktivierung und löschung von prepaid-mehrwert-karten
US10037526B2 (en) 2010-01-08 2018-07-31 Blackhawk Network, Inc. System for payment via electronic wallet
KR101903963B1 (ko) 2010-08-27 2018-10-05 블랙호크 네트워크, 아이엔씨. 저축 특징을 갖는 선불 카드
US8759759B2 (en) 2011-04-04 2014-06-24 Shimadzu Corporation Linear ion trap analyzer
US11042870B2 (en) 2012-04-04 2021-06-22 Blackhawk Network, Inc. System and method for using intelligent codes to add a stored-value card to an electronic wallet
US10970714B2 (en) 2012-11-20 2021-04-06 Blackhawk Network, Inc. System and method for using intelligent codes in conjunction with stored-value cards
US9117646B2 (en) 2013-10-04 2015-08-25 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for a combined linear ion trap and quadrupole mass filter
CN110783165A (zh) * 2019-11-01 2020-02-11 上海裕达实业有限公司 线性离子阱离子引入侧的端盖电极结构

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3555273A (en) 1968-07-18 1971-01-12 Varian Associates Mass filter apparatus having an electric field the equipotentials of which are three dimensionally hyperbolic
US4540884A (en) 1982-12-29 1985-09-10 Finnigan Corporation Method of mass analyzing a sample by use of a quadrupole ion trap
US5055678A (en) * 1990-03-02 1991-10-08 Finnigan Corporation Metal surfaces for sample analyzing and ionizing apparatus
US5420425A (en) * 1994-05-27 1995-05-30 Finnigan Corporation Ion trap mass spectrometer system and method
US5629519A (en) * 1996-01-16 1997-05-13 Hitachi Instruments Three dimensional quadrupole ion trap

Also Published As

Publication number Publication date
US6087658A (en) 2000-07-11
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EP0863537B2 (de) 2008-08-13

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