DE69730247T2 - Auffinden einer schlechten zelle in einer speicherbatterie - Google Patents
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Description
- Hintergrund der Erfindung
- Die vorliegende Erfindung betrifft die Prüfung von Speicherbatterien. Insbesondere betrifft die vorliegende Erfindung die Identifikation einer defekten oder fehlerhaften Zelle in einer Speicherbatterie.
- Speicherbatterien, wie beispielsweise Blei-Säure-Speicherbatterien der Art, wie sie in der Kraftfahrzeugindustrie benutzt werden, existieren seit vielen Jahren. Allerdings ist es eine laufende Bestrebung und hat sich als recht kompliziert herausgestellt, die Beschaffenheit derartiger Speicherbatterien zu verstehen, und zu verstehen, wie derartige Speicherbatterien funktionieren und wie derartige Batterien genau geprüft werden können. Speicherbatterien bestehen aus einer Mehrzahl von einzelnen Speicherzellen, die elektrisch in Reihe verbunden werden. Üblicherweise weist jede Zelle ein Spannungspotential von etwa 2,1 Volt auf. Durch das Verbinden der Zellen in Reihe werden die Spannungen der einzelnen Zellen kumulativ addiert. Zum Beispiel werden bei einer üblichen Kraftfahrzeug-Speicherbatterie sechs Speicherzellen benutzt, um bei voll geladener Batterie eine Gesamtspannung von 12,6 Volt bereitzustellen.
- Bestrebungen, den Zustand einer Speicherbatterie zu prüfen, haben eine lange Geschichte. Eine einfache Prüfung ist es, die Spannung der Batterie zu messen. Wenn die Spannung unter einem bestimmten Schwellenwert liegt, wird bestimmt, dass die Batterie defekt ist. Diese Prüfung ist allerdings unpraktisch, da sie erfordert, dass die Batterie vor der Durchführung der Prü fung geladen wird. Wenn die Batterie entladen ist, wird die Spannung niedrig sein und eine funktionierende Batterie kann fälschlicherweise bei der Prüfung als defekt bestimmt werden. Weiterhin gibt eine derartige Prüfung keinen Anhaltspunkt darauf, wie viel Energie in der Batterie gespeichert ist. Eine andere Methode zum Prüfen einer Batterie wird als Belastungsprüfung bezeichnet. Bei einer Belastungsprüfung wird die Batterie unter einer bekannten Belastung entladen. Beim Entladen der Batterie wird die Spannung an der Batterie überwacht und dazu benutzt, den Zustand der Batterie zu bestimmen. Diese Methode erfordert, dass die Batterie ausreichend aufgeladen ist, um zu der Belastung Strom liefern zu können.
- In letzter Zeit ist von Dr. Keith S. Champlin eine Methode entwickelt worden, bei der Speicherbatterien geprüft werden, indem die Leitfähigkeit der Batterien gemessen wird. Diese Methode wird in etlichen von Dr. Champlin erlangten US Patenten beschrieben, zum Beispiel US-A 3,873,911, erteilt am 25. März 1975 an Champlin, mit dem Titel „Electronic Battery Testing Device"; US-A 3,909,708, erteilt am 30. September 1975 an Champlin, mit dem Titel „Electronic Battery Testing Device"; US-A 4,816,768, erteilt am 28. März 1989 an Champlin, mit dem Titel „Electronic Battery Testing Device"; US-A 4,825,170, erteilt am 25. April 1989 an Champlin, mit dem Titel „Electronic Battery Testing Device with Automatic Voltage Scaling"; US-A 4,881,038, erteilt am 14. November 1989 an Champlin, mit dem Titel „Electronic Battery Testing Device with Automatic Voltage Scaling to Determine Dynamic Conductance"; US-A 4,912,416, erteilt am 27. März 1990 an Champlin, mit dem Titel „Electronic Battery Testing Device with State-of-Charge Compensation"; und US-A 5,140,269, erteilt am 18. August 1992 an Champlin, mit dem Titel „Electronic Tester for Assessing Battery/Cell Capacity".
- Der Stand der Technik ist größtenteils nicht in der Lage, eine nützliche und praktische Methode zum Auffinden einer defekten Zelle in einer Batterie bereitzustellen. Eine Methode zum Bestimmen des Vorhandenseins einer defekten Zelle unter der Mehrzahl von Zellen in der Speicherbatterie ist, die relative Dichte der Säure in jeder Zelle zu messen. Dies ist eine zeitrau bende Methode, bei der Säure aus jeder der einzelnen Zellen entfernt werden muss. Weiterhin sind viele neue Batterien „wartungsfreie" Batterien, bei denen die Batterie versiegelt ist und Zugang zu einzelnen Zellen verhindert wird. Bei derartigen Batterien ist es unmöglich, die relative Dichte der einzelnen Zellen zu prüfen.
- Eine andere Methode zur Identifikation einer defekten Zelle wird in der US-A 4,322,685 beschrieben, die am 30. März 1982 an Frailing et al. erteilt wurde, mit dem Titel „Automatic Battery Analyzer Including Apparatus for Determining Presence of a Single Bad Cell". Das Frailing-Patent identifiziert defekte Zellen in einer Speicherbatterie unter Benutzung einer Belastungsprüfungs-Methode. Wie in Spalte 2, Zeile 58–64 des Dokuments beschrieben, werden Batterien, die eine Spannung von weniger als 10,80 Volt aufweisen, immer als inakzeptabel zurückgewiesen.
- Die Veröffentlichung „A Deterioration Estimating System for 200-Ah Sealed Lead-Acid Batteries", Proceedings of the International Telecommunications Conference (INTELEC), US, New York, IEEE, Band CONF. 16, Seiten 256–262, veröffentlicht am 30. Oktober 1994, offenbart ein System zum Prüfen der Kapazität von Blei-Säure-Batterien. Bei diesem System wird die Batterie-Anschlussspannung mit einer Referenzspannung verglichen und, sofern die Anschlussspannung die Referenzspannung erreicht, geht das System dazu über, einen Prüfungs-Strompuls in die Batterieanschlüsse einzuspeisen und den folgenden Abfall der Anschlussspannung zu überwachen. Der Betrag des Strompulses und der Betrag des Spannungsabfalls werden dann benutzt, um den internen Widerstand der Batterie zu berechnen und dieser wird dann benutzt, um mittels eines diese beiden Werte in Beziehung setzenden mathematischen Ausdrucks die Batteriekapazität zu bestimmen. Wenn herausgefunden wird, dass die Batteriekapazität niedriger ist als der Nennwert der Batteriekapazität, wird bestimmt, dass die Batterie degradiert ist.
- Dem Stand der Technik fehlt eine einfache und praktische Methode zur Identifikation einer defekten Zelle in einer Speicherbatterie. Insbesondere fehlt dem Stand der Technik eine Methode zur schnellen und genauen Identifikation einer defekten Zelle, welche nicht erfordert, dass die Batterie geladen sein muss.
- Überblick über die Erfindung
- Die vorliegende Erfindung stellt ein Verfahren und eine Vorrichtung bereit zur genauen Identifikation einer defekten Zelle in einer Speicherbatterie, die eine Mehrzahl von Zellen aufweist. Die Vorrichtung umfasst eine Eingabe-Schaltungstechnik zur elektrischen Verbindung mit einem ersten und einem zweiten Anschluss der Speicherbatterie. Eine Spannungsmess-Schaltungstechnik ist mit der Eingabe-Schaltungstechnik verbunden und stellt eine Spannungsausgabe bereit, die in Bezug zu einem zwischen dem ersten und dem zweiten Anschluss der Speicherbatterie gemessenen Spannungspotential steht. Eine mit der Eingabe-Schaltungstechnik verbundene Leitfähigkeitsmess-Schaltungstechnik stellt eine Leitfähigkeitsausgabe bereit, die in Bezug zu einer zwischen dem ersten und dem zweiten Anschluss der Speicherbatterie gemessenen Leitfähigkeit steht.
- Eine Spannungsvergleichs-Schaltungstechnik vergleicht die Spannungsausgabe mit einer Spannungsreferenz und stellt eine Entladen-Ausgabe bereit, wenn die Spannungsausgabe kleiner ist als die Spannungsreferenz. Eine Leitfähigkeitsvergleichs-Schaltungstechnik vergleicht die Leitfähigkeitsausgabe mit einer Leitfähigkeitsreferenz und stellt eine Ausgabe für hohe Leitfähigkeit bereit, wenn die Leitfähigkeitsausgabe größer ist als die Leitfähigkeitsreferenz. Eine Ausgabe-Schaltungstechnik stellt eine Defektzellen-Ausgabe bereit als Antwort auf die Detektion der Entladen-Ausgabe und einer Ausgabe für hohe Leitfähigkeit. Die Defektzellen-Ausgabe zeigt eine defekte Zelle unter der Mehrzahl von Zellen in der Speicherbatterie an.
- Bei einem Verfahren zum Detektieren einer defekten Zelle in einer eine Mehrzahl von Zellen umfassenden Speicherbatterie wird die Spannung der Speicherbatterie zwischen den beiden Anschlüssen der Speicherbatterie gemessen. Die Leitfähigkeit der Speicherbatterie wird gemessen. Die Spannung der Speicherbatterie wird mit einer Referenzspannung verglichen und die Leitfähigkeit der Speicherbatterie wird mit einer Referenzleitfähigkeit verglichen. Eine defekte Zelle wird detektiert, wenn die Spannung der Speicherbatterie kleiner ist als die Referenzspannung und wenn die Leitfähigkeit der Batterie größer ist als die Referenzleitfähigkeit.
- Kurze Beschreibung der Zeichnungen
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1 ist ein vereinfachtes schematisches Diagramm, das eine Defektzellen-Detektions-Schaltungstechnik gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt. -
2 ist ein Flussdiagramm, das von einem Mikroprozessor und1 bei Betrieb gemäß der vorliegenden Erfindung durchgeführte Schritte zeigt. - Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen
- Die vorliegende Erfindung stellt eine neue und nützliche Methode zum Detektieren einer defekten Zelle unter einer Mehrzahl von Zellen in einer Speicherbatterie, wie beispielsweise einer Blei-Säure-Speicherbatterie, bereit. Die vorliegende Erfindung nutzt die oben erwähnten Methoden von Dr. Keith S. Champlin, um gemäß der vorliegenden Erfindung bei einer Bestimmung, ob eine defekte Zelle vorhanden ist, die elektrische Leitfähigkeit der Speicherbatterie zu messen. Durch die Nutzung der von Dr. Champlin bereitgestellten Methoden, stellt die vorliegende Erfindung ein schnelles und praktisches Verfahren und eine Vorrichtung zum Detektieren einer defekten Zelle bereit, das es nicht erfordert, dass die Batterie geladen ist, um eine genaue Bestimmung durchzuführen.
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1 ist ein vereinfachtes Blockdiagramm einer Defektzellen-Bestimmungs-Schaltungstechnik16 gemäß der vorliegenden Erfindung. Vorrichtung16 ist mit der Batterie12 verbunden gezeigt, die einen positiven Batterieanschluss22 und einen negativen Batterieanschluss24 umfasst. Die Batterie12 ist eine Speicherbatterie, die eine Mehrzahl von einzelnen Zellen, üblicherweise sechs, und eine Spannung von 12,6 Volt aufweist. - Schaltungstechnik
16 ist gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung in Betrieb und bestimmt die Leitfähigkeit (GBAT) von Batterie12 und das Spannungspotential (VBAT) zwischen Anschlüssen22 und24 von Batterie12 . Die Schaltungstechnik16 umfasst eine Stromquelle50 , einen Differenzverstärker52 , einen Analog-Digital-Wandler54 und einen Mikroprozessor56 . Der Verstärker52 ist kapazitiv mittels Kondensatoren C1 und C2 mit der Batterie12 verbunden. Der Verstärker52 weist einen Ausgang auf, der mit einem Eingang des Analog-Digital-Wandlers54 verbunden ist. Der Mikroprozessor56 ist mit einer Systemuhr58 , einem Speicher60 , einer Defektzellen-Anzeige62 und dem Analog-Digital-Wandler54 verbunden. Der Mikroprozessor56 kann ebenfalls eine Eingabe von einem Eingabegerät66 empfangen. - Bei Betrieb wird die Stromquelle
50 durch den Mikroprozessor56 gesteuert/geregelt und stellt einen Strom in der in1 durch den Pfeil gezeigten Richtung an. Bei einer Ausführungsform ist dies eine Rechteckwelle oder ein Puls. Der Differenzverstärker52 ist mit den Anschlüssen22 und24 von Batterie12 jeweils mittels der Kondensatoren C1 und C2 verbunden und stellt eine Ausgabe bereit, die in Bezug zu der Spannungspotential-Differenz zwischen Anschlüssen22 und24 steht. Bei einer bevorzugten Ausführungsform weist Verstärker52 eine hohe Eingangsimpedanz auf. Die Schaltungstechnik16 umfasst einen Differenzverstärker70 , der invertierende und nicht-invertierende Eingänge aufweist, die jeweils mit den Anschlüssen22 und24 verbunden sind. Der Verstärker70 ist verbunden, um die Leerlauf-Potentialspannung (VBAT) von Batterie12 zwischen den Anschlüssen22 und24 zu messen. Die Ausgabe von Verstärker70 wird dem Analog-Digital-Wandler54 bereitgestellt, so dass die Spannung zwischen den Anschlüssen22 und24 durch den Mikroprozessor56 gemessen werden kann. - Die Schaltungstechnik
16 ist mit der Batterie12 mittels einer als Kelvin-Klemme bezeichneten Vierpunkt-Verbindungstechnik verbunden. Diese Kelvin-Klemme ermöglicht es, dass ein Strom I in die Batterie12 durch ein erstes Paar von Anschlüssen eingespeist wird, während die Spannung V zwischen den Anschlüssen22 und24 durch ein zweites Paar von Verbindungen gemessen wird. Weil durch den Verstärker52 sehr wenig Strom fließt, ist der Spannungsabfall zwischen den Eingängen zum Verstärker52 im Wesentlichen identisch mit dem Spannungsabfall zwischen Anschlüssen22 und24 der Batterie12 . Die Ausgabe des Differenzverstärkers52 wird in ein digitales Format umgewandelt und wird dem Mikroprozessor56 bereitgestellt. Der Mikroprozessor56 wird bei einer durch die Systemuhr58 bestimmten Frequenz und gemäß im Speicher60 gespeicherten Programmanweisungen betrieben. - Der Mikroprozessor
56 bestimmt die Leitfähigkeit von Batterie12 durch das Anlegen eines Strompulses I unter Benutzung von Stromquelle50 . Der Mikroprozessor bestimmt die Änderung der Batteriespannung aufgrund des Strompulses I unter Benutzung von Verstärker52 und Analog-Digital-Wandler54 . Der Betrag des von der Stromquelle50 erzeugten Stroms I ist bekannt und ist im Speicher60 gespeichert. Bei einer Ausführungsform wird Strom I erhalten, indem eine Belastung an die Batterie12 angelegt wird. Der Mikroprozessor56 berechnet die Leitfähigkeit von Batterie12 unter Benutzung der folgenden Gleichung: wobei ΔI die Änderung der aufgrund der Stromquelle50 durch die Batterie12 fließenden Stromstärke und ΔV die Änderung der Batteriespannung durch die angelegte Stromstärke ΔI ist. - Der Mikroprozessor
56 ist gemäß der vorliegenden Erfindung in Betrieb und bestimmt das Vorhandensein einer defekten Zelle in Batterie12 .2 ist ein Flussdiagramm100 , das den Betrieb des Mikroprozessors56 basierend auf im Speicher60 gespeicherten Programmanweisungen zeigt. Bei Feld102 berechnet der Mikroprozessor56 die Batterieleitfähigkeit GBAT gemäß Gleichung 1. Bei Feld104 bestimmt der Mikroprozessor56 die Leerlaufspannung VBAT zwischen Anschlüssen22 und24 , zum Beispiel unter Benutzung des Analog-Digital-Wandlers54 und des Verstärkers70 . Es ist zu beachten, dass während der Messung der Spannung VBAT die Kondensatoren C1 und C2 aus der Schaltung entfernt werden sollten, damit die Gleichspannung der Batterie gemessen werden kann. - Als nächstes erhält der Mikroprozessor
56 bei Feld106 eine Referenzspannung VREF und eine Referenzleitfähigkeit GREF, die im Speicher60 gespeichert sind. Bei Feld108 wird, wenn VBAT kleiner ist als VREF, ein Entladen-Zustand detektiert und die Steuerung wird an Feld110 weitergereicht. Wenn andererseits VBAT nicht kleiner ist als VREF, wird bestimmt, dass die Batterie in einem Ladungs-Zustand ist und gemäß bekannter Batterieprüfungsmethoden, wie beispielsweise den von Dr. Champlin beschriebenen, geprüft werden kann. - Bei Feld
110 wird, wenn GBAT kleiner ist als GREF, bestimmt, dass der Entladen-Zustand nicht aufgrund einer defekten Zelle besteht. Wenn andererseits GBAT größer ist als GREF, wird bei Feld112 eine Defektzellen-Ausgabe bereitgestellt. Zum Beispiel kann ein Warnlicht62 aufleuchten, um anzuzeigen, dass ein Defektzellenzustand vorliegt oder es können auf einer Datenausgabeleitung vom Mikroprozessor56 Daten zum Speichern oder zur Anzeige auf eine andere Art bereitgestellt werden. - Bei einer bevorzugten Ausführungsform beträgt die Spannungsreferenz VREF etwa 11,0 Volt und die Leitfähigkeitsreferenz GREF etwa 30 Ohm–1.
- Bei einer Ausführungsform werden im Speicher
60 Werte für VREF und GREF für verschiedene Arten von Speicherbatterien gespeichert. Ein Benutzer wählt die jeweilige Speicherbatterie, die geprüft wird, unter Benutzung des Eingabegeräts66 aus, wobei der Mikroprozessor56 die geeigneten Referenzwerte aus dem Speicher60 abruft. - Tabelle 1 ist eine Tabelle, die eine Anzahl von gemäß der vorliegenden Erfindung durchgeführten Prüfungen zeigt. Tabelle 1 zeigt die Leerlaufspannung VBAT einer Batterie und die Batterieleitfähigkeit GBAT. Die defekte Zelle in einer Batterie wird durch Messen der relativen Dichte jeder Zelle in der Batterie bestimmt und die Nummer dieser Zelle (1–6) wird angezeigt. Das Ergebnis einer gemäß der vorliegenden Erfindung durchgeführten Prüfung wird ebenfalls gezeigt.
- Die vorliegende Erfindung kann unter Benutzung irgendeine geeigneten Methode implementiert werden. Der Einfachheit halber ist hierin eine einzige Methode illustriert worden. Allerdings können andere Methoden benutzt werden, einschließlich der Implementierung in einer reinen Analog-Schaltungstechnik. Zusätzlich können bei Benutzung von geeigneten Methoden der Batteriewiderstand und ein Referenzwiderstand (der Kehrwert der Leitfähigkeit) bei der Erfindung eingesetzt werden. Es ist zu beachten, dass die verschiedenen Referenzwerte im Speicher gespeichert sein können oder unter Benutzung von geeigneten Schaltungstechniken generiert werden können, und dass die im Flussdiagramm von
2 beschriebenen verschiedenen Vergleiche unter Benutzung von analoger Vergleichs-Schaltungstechnik implementiert werden können. - Die vorliegende Erfindung stellt eine schnelle und praktische Methode zur Bestimmung, ob eine Batterie eine defekte Zelle aufweist, bereit. Die Erfindung erfordert nicht, dass die Batterie vor der Prüfung wieder aufgeladen wird. Dies spart Zeit, was in einer Kraftfahrzeug-Service-Umgebung von besonderer Wichtigkeit ist. Weiterhin wird die vorliegende Erfindung anzeigen, dass die Batterie eine defekte Zelle aufweist, so dass ein Benutzer weiß, dass die Batterie nicht wieder aufgeladen werden zu braucht, was potentielle Schäden verursachen könnte. Die hierin beschriebenen Methoden können als ein Schritt eines gesamten Batterieprüfungsablaufs eingegliedert werden.
- Obwohl die vorliegende Erfindung mit Bezug auf die bevorzugten Ausführungsformen beschrieben worden ist, werden Fachleute erkennen, dass Änderungen in Form und Detail durchgeführt werden können, ohne den Rahmen der Erfindung zu verlassen.
Claims (9)
- Vorrichtung zur Detektion einer defekten Zelle in einer eine Mehrzahl von Zellen aufweisenden Speicherbatterie (
12 ), umfassend: Eingabe-Schaltungstechnik zur elektrischen Verbindung mit einem ersten und einem zweiten Anschluss (22 ,24 ) der Speicherbatterie; mit der Eingabe-Schaltungstechnik verbundene Spannungsmess-Schaltungstechnik (70 ) zum Bereitstellen einer Spannungsausgabe, die in Bezug zu einem Spannungspotential zwischen dem ersten und dem zweiten Anschluss der Speicherbatterie steht; mit der Eingabe-Schaltungstechnik verbundene Leitfähigkeitsmess-Schaltungstechnik (70 ,50 ,52 ,54 ,56 ) zum Bereitstellen einer Leitfähigkeitsausgabe, die in Bezug zu einer zwischen dem ersten und dem zweiten Anschluss gemessenen Leitfähigkeit der Speicherbatterie steht, und Spannungsvergleichs-Schaltungstechnik (56 ,60 ) zum Vergleichen der Spannungsausgabe mit einer Spannungsreferenz; gekennzeichnet durch: mit der Spannungsvergleichs-Schaltungstechnik verbundene Mittel zum Bereitstellen einer Entladen-Ausgabe, wenn die Spannungsausgabe kleiner ist als die Spannungsreferenz; eine Leitfähigkeitsvergleichs-Schaltungstechnik (56 ,60 ) zum Vergleichen der Leitfähigkeitsausgabe mit einer Leitfähigkeitsreferenz und zum Bereitstellen einer Ausgabe für hohe Leitfähigkeit, wenn die Leitfähigkeitsausgabe größer ist als die Leitfähigkeitsreferenz; und eine Ausgabe-Schaltungstechnik (62 ) zum Bereitstellen einer Defektzellen-Ausgabe als Antwort auf die Detektion einer Entladen-Ausgabe und einer Ausgabe für hohe Leitfähigkeit, wobei die Defektzellen-Ausgabe eine defekte Zelle unter der Mehrzahl von Zellen in der Speicherbatterie anzeigt. - Vorrichtung nach Anspruch 1, die einen Speicher (
60 ) umfasst, der die Spannungsreferenz und die Leitfähigkeitsreferenz enthält. - Vorrichtung nach Anspruch 2, die ein Eingabegerät (
66 ) umfasst zum Empfangen einer Eingabe von einem Benutzer, die zum Auswählen der Spannungsreferenz und der Leitfähigkeitsreferenz aus einer Mehrzahl von im Speicher gespeicherten Referenzen benutzt wird. - Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Leitfähigkeitsmess-Schaltungstechnik Mittel zum Bestimmen von Leitfähigkeit durch Messen von Widerstand umfasst.
- Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Spannungsmess-Schaltungstechnik, Leitfähigkeitsmess-Schaltungstechnik, Spannungsvergleichs-Schaltungstechnik, Leitfähigkeitsvergleichs-Schaltungstechnik und die Ausgabe-Schaltungstechnik unter Benutzung eines Mikroprozessors (
56 ) implementiert sind. - Vorrichtung nach Anspruch 1, die eine Stromquelle bekannter Stromstärke (
56 ) umfasst zum Einspeisen einer bekannten Stromstärke in die Speicherbatterie, wobei die Leitfähigkeitsmess-Schaltungstechnik Mittel zum Messen der Leitfähigkeit basierend auf der bekannten Stromstärke und einer resultierenden Änderung der Spannung der Speicherbatterie umfasst. - Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Leitfähigkeitsmess-Schaltungstechnik eine Kelvin-Klemme zum Verbinden mit der Speicherbatterie nutzt.
- Verfahren zum Detektieren einer defekten Zelle in einer eine Mehrzahl von Zellen umfassenden Speicherbatterie (
12 ), umfassend die Schritte: Messen einer Spannung (VBAT) zwischen Anschlüssen der Speicherbatterie; Messen einer Leitfähigkeit (GBAT) der Speicherbatterie; Vergleichen der Anschlussspannung (VBAT) mit einer Referenzspannung (VREF); gekennzeichnet durch die Schritte: Vergleichen der Leitfähigkeit (GBAT) mit einer Referenzleitfähigkeit (GREF); Detektieren eines Entladen-Zustands, wenn die Anschlussspannung (VBAT) kleiner als die Referenzspannung (VREF) ist; Detektieren eines Zustands hoher Leitfähigkeit, wenn die Leitfähigkeit (GBAT) größer als die Referenzleitfähigkeit (GREF) ist; und Hinweisen auf das Vorhandensein einer defekten Zelle als Antwort auf den Entladen-Zustand und den Zustand hoher Leitfähigkeit. - Verfahren nach Anspruch 8, wobei die Referenzspannung (VREF) und die Referenzleitfähigkeit (GREF) auf Grundlage des Typs der Speicherbatterie ausgewählt werden.
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