DE69118451D1 - Prüfungsanordnung für elektrische Schaltungen auf Printplatten - Google Patents
Prüfungsanordnung für elektrische Schaltungen auf PrintplattenInfo
- Publication number
- DE69118451D1 DE69118451D1 DE69118451T DE69118451T DE69118451D1 DE 69118451 D1 DE69118451 D1 DE 69118451D1 DE 69118451 T DE69118451 T DE 69118451T DE 69118451 T DE69118451 T DE 69118451T DE 69118451 D1 DE69118451 D1 DE 69118451D1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- printed circuit
- circuit boards
- electrical circuits
- test arrangement
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07314—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
- G01R1/07328—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL9001478A NL9001478A (nl) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | Testinrichting voor electrische schakelingen op panelen. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69118451D1 true DE69118451D1 (de) | 1996-05-09 |
DE69118451T2 DE69118451T2 (de) | 1996-10-02 |
Family
ID=19857328
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69118451T Expired - Fee Related DE69118451T2 (de) | 1990-06-28 | 1991-06-18 | Prüfungsanordnung für elektrische Schaltungen auf Printplatten |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5166601A (de) |
EP (1) | EP0463684B1 (de) |
JP (1) | JPH04233248A (de) |
CN (1) | CN1026357C (de) |
DE (1) | DE69118451T2 (de) |
NL (1) | NL9001478A (de) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4313962C1 (de) * | 1993-04-28 | 1994-09-29 | Siemens Ag | Vorrichtung für den automatischen Test von hochintegrierten Baugruppen |
US5793218A (en) * | 1995-12-15 | 1998-08-11 | Lear Astronics Corporation | Generic interface test adapter |
DE19814312C2 (de) * | 1998-03-31 | 2000-06-08 | Deutsche Telekom Ag | Vorrichtung zum automatischen Testen von Baugruppen oder Bauateilen |
US6335627B1 (en) * | 1998-04-13 | 2002-01-01 | Intel Corporation | Apparatus and method for testing an electronics package substrate |
US6468098B1 (en) * | 1999-08-17 | 2002-10-22 | Formfactor, Inc. | Electrical contactor especially wafer level contactor using fluid pressure |
US7396236B2 (en) | 2001-03-16 | 2008-07-08 | Formfactor, Inc. | Wafer level interposer |
US7122760B2 (en) | 2002-11-25 | 2006-10-17 | Formfactor, Inc. | Using electric discharge machining to manufacture probes |
US6945827B2 (en) | 2002-12-23 | 2005-09-20 | Formfactor, Inc. | Microelectronic contact structure |
US20050131513A1 (en) * | 2003-12-16 | 2005-06-16 | Cook Incorporated | Stent catheter with a permanently affixed conductor |
CN100419433C (zh) * | 2004-09-24 | 2008-09-17 | 京元电子股份有限公司 | 具有讯号转接装置的集成电路插座及电子元件测试方法 |
JP5334355B2 (ja) * | 2005-05-27 | 2013-11-06 | ヤマハファインテック株式会社 | プリント基板の電気検査装置および電気検査方法 |
CN101424702B (zh) * | 2007-10-29 | 2010-07-28 | 京元电子股份有限公司 | 一种探针、测试插座及其测试机 |
DE102009012021B4 (de) * | 2009-03-10 | 2011-02-03 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Messvorrichtung zur elektrischen Vermessung einer einseitig an einer Messseite elektrisch kontaktierbaren Messstruktur |
CN102466760A (zh) * | 2010-11-08 | 2012-05-23 | 亚旭电脑股份有限公司 | 频率测量装置 |
CN102944829B (zh) * | 2012-10-30 | 2015-04-15 | 江苏斯菲尔电气股份有限公司 | 一种多功能的线路板测试机台及其使用方法 |
CN105093044B (zh) * | 2015-09-14 | 2018-06-05 | 博众精工科技股份有限公司 | 一种针载板模组测试机构 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4115735A (en) * | 1976-10-14 | 1978-09-19 | Faultfinders, Inc. | Test fixture employing plural platens for advancing some or all of the probes of the test fixture |
US4321533A (en) * | 1979-04-19 | 1982-03-23 | Fairchild Camera & Instrument Corp. | Printed circuit board test fixture having interchangeable card personalizers |
US4344033A (en) * | 1980-09-12 | 1982-08-10 | Virginia Panel Corporation | Vacuum-actuated test fixture for printed circuit boards |
US4625164A (en) * | 1984-03-05 | 1986-11-25 | Pylon Company | Vacuum actuated bi-level test fixture |
US4626776A (en) * | 1984-06-07 | 1986-12-02 | O. B. Test Group, Inc. | Programmable test fixture |
US4626779A (en) * | 1985-03-19 | 1986-12-02 | Pylon Company, Inc. | Spring-stops for a bi-level test fixture |
GB2178860B (en) * | 1985-08-09 | 1988-12-14 | Databasix Limited | Improvements in or relating to testing equipment for printed circuit boards |
US4667155A (en) * | 1986-01-07 | 1987-05-19 | Virginia Panel Corporation | Modular molded vacuum test fixture |
US4636723A (en) * | 1986-03-21 | 1987-01-13 | Coffin Harry S | Testing device for printed circuit boards |
US4746861A (en) * | 1986-08-21 | 1988-05-24 | Tti Testron, Inc. | Test fixture for printed circuit board assembly |
US4841231A (en) * | 1987-10-30 | 1989-06-20 | Unisys Corporation | Test probe accessibility method and tool |
GB2223631B (en) * | 1988-10-06 | 1993-01-13 | British Aerospace | Universal test fixture |
-
1990
- 1990-06-28 NL NL9001478A patent/NL9001478A/nl not_active Application Discontinuation
-
1991
- 1991-02-06 US US07/651,685 patent/US5166601A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-06-18 EP EP91201528A patent/EP0463684B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-06-18 DE DE69118451T patent/DE69118451T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-06-25 CN CN91104150A patent/CN1026357C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1991-06-28 JP JP3184120A patent/JPH04233248A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1026357C (zh) | 1994-10-26 |
EP0463684B1 (de) | 1996-04-03 |
US5166601A (en) | 1992-11-24 |
CN1057719A (zh) | 1992-01-08 |
JPH04233248A (ja) | 1992-08-21 |
NL9001478A (nl) | 1992-01-16 |
DE69118451T2 (de) | 1996-10-02 |
EP0463684A1 (de) | 1992-01-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69017582D1 (de) | Zwischenverbindungsvorrichtung für Leiterplatten. | |
DE68916373D1 (de) | Bestückungs- und ausziehvorrichtung für gedruckte schaltungen für elektronische anordnungen. | |
DE69118451D1 (de) | Prüfungsanordnung für elektrische Schaltungen auf Printplatten | |
DE69430656D1 (de) | Elektrische Prüfmaschine mit Presse für Leiterplatten | |
DE69612787D1 (de) | Flexible gedruckte Mikrostreifen-Leiterplatte als elektrische Verbindungslinie | |
DE69103652D1 (de) | Verbinderanordnung für gedruckte Leiterplatten. | |
DE69204754D1 (de) | Klemmleiste für gedruckte Leiterplatten. | |
DE69307364D1 (de) | Befestigungssystem für elektrischen Verbinder auf Leiterplatten | |
DE69400551D1 (de) | Verbinderanordnung für gedruckte Leiterplatte | |
DE69129580D1 (de) | Abgeschirmter elektrischer Verbinder für gedruckte Schaltungsplatten | |
DE69209921D1 (de) | Randverbinder für Leiterkarten | |
DE69226937D1 (de) | Prüfverfahren für Leiterplatten | |
DE68918487D1 (de) | Elektrische Einrichtung mit verbesserten Leitern für die Oberflächenmontage von gedruckten Schaltungen. | |
DE59103371D1 (de) | Gehäuse für eine elektronische schaltung. | |
DE69410575D1 (de) | Elektrische Verbinderanordnung zum Montieren auf gedruckte Leiterplatten | |
DE69105832D1 (de) | Elektrischer Zwischenverbinder für Leiterplatten. | |
DE69105927D1 (de) | Elektrische Verbinderanordung zum Montieren auf gedruckter Leiterplatte. | |
DE69304640D1 (de) | Oberflächen montierter elektrische Verbinder für Leiterplatten | |
DE3887599D1 (de) | Prüfen von integrierten Schaltungen auf einer bestückten Leiterplatte. | |
DE69301975D1 (de) | Elektrischer Verbinder für gedruckte Leiterplatten | |
DE69011958D1 (de) | Verbindungszusammenbau für gedruckte Schaltungskarten. | |
DE69623843D1 (de) | Elektrische Schaltungsplatte für eine Anzeigevorrichtung | |
DE69214581D1 (de) | Leiterplatte für gedruckte Schaltungen | |
FR2604260B1 (fr) | Testeur de circuits electroniques | |
EP0281426A3 (en) | Electronic circuit device for diagnosing status-holding circuits by scanning |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V., EINDHOVEN, N |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |