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Die Erfindung betrifft ein Röntgenstrahlungsmeßgerät zum Detektieren der
von einer Röntgenstrahlungsquelle emittierten Röntgenstrahlen, mit wenigstens zwei
Detektoren, wenigstens zwei Röntgenstrahlungsabsorbierende Filter, die zwischen der
Röntgenquelle und den Detektoren angeordnet werden können, und verschiedene
Durchlässigkeitsfaktoren haben, Verstärkerschaltungen zum Verstärken der von den
Detektoren zu erzeugenden Meßsignale, Abtastmitteln zum Abtasten der
Ausgangssignale der Verstärkerschaltungen, und einer arithmetischen Einrichtung zum Bestimmen
der Stärke und der Energie der Röntgenstrahlung aus den Meßsignalen, wobei jeder der
Detektoren einen Szintillationskristall enthält, mit dem eine Photodiode optisch
gekoppelt ist.
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Ein Röntgenstrahlungsmeßgerät dieser Art ist in EP-A-0 045 156
beschrieben. In diesem Patent ist ein Röntgenstrahlungsmeßgerät beschrieben, mit dem
Strahlungseigenschaften einer Strahlungsquelle, insbesondere einer
Röntgenstrahlungsröhre, gemessen werden kann. Röntgenstrahlung wird in einer Röntgenstrahlungsröhre
durch Anstrahlen einer Anode mit einem Elektronenstrahl erzeugt. Die Höchstenergie
der Röntgenstrahlung wird durch die Höchstspannung bestimmt, mit der die Elektronen
in der Röntgenstrahlungsröhre beschleunigt werden, so daß die
Beschleunigungsspannung der Röntgenröhre aus dem Strahlungsspektrum der Röntgenstrahlung
bestimmbar ist. Wenn die Röntgenstrahlungsquelle zum An strahlen von Objekten verwendet
wird, wird die im Objekt ankommende Strahlungsdosis nicht nur durch die Dauer der
Bestrahlung, sondern auch durch die Strahlungsenergie bestimmt. Die Strahlungsenergie
ist von dem Spitzenwert der Beschleunigungsspannung abhängig, die oft impulsförmig
ist. Wenn für die Erzeugung Röntgen- oder Fluoroskopbildern Patienten bestrahlt
werden, ist genaue Übereinstimmung zwischen der eingestellten
Beschleunigungsspannung und der momentan in der Röntgenstrahlungsröhre vorhandenen Spannung
erforderlich, um eine qualitativ hohe und sichere Abbildung zu erhalten, unter
Berücksichtigung der nachteiligen Effekte hoher Strahlungsdosen im menschlichen Körper und
der Beeinflussung des Abbildungskontrasts durch die Energie der Röntgenstrahlung. Zu
diesem Zweck ist Kalibrierung des spitzen Werts der eingestellten
Beschleunigungsspannung, im weiteren mit kVp bezeichnet, in regelmässigen Zeitabständen erforderlich.
Da die Beschleunigungsspannungen einige zehn kV in einer Röntgenstrahlungsröhre
betragen, ist direkte Messung der Beschleunigungsspannung schwierig. Wennn ein
Verhältnis zwischen der Energie der Röntgenstrahlung und dem kVp-Wert benutzt wird,
kann ein kVp-Wert mittelbar von der Messung des Spektrums der Röntgenstrahlung
abgeleitet werden. Wenn ein Filter angestrahlt wird, wird ein Strahlungsbündel u.a.
durch den photoelektrischen Effekt und durch Compton-Streuung geschwächt, diese
Wechselwirkungen zwischen Röntgenstrahlung und Materie sind dabei von der Energie
der Röntgenstrahlung abhängig. Wenn ein Röntgenstrahlungsbündel mit einer Stärke Io
ein Objekt mit einer Dicke d in der Bestrahlungsrichtung erreicht, geht von dem Objekt
ein Bündel mit einer Stärke I aus, worin I = Ioexp(-u(E).d). Hier ist u(E) der
energieabhängige lineare Abschwächungskoeffizient. Für eine große Auswahl von Werkstoffen
ist die Änderung von u(E) abhängig von der Energie auf Basis von Messungen genau
bekannt. Wenn ein Strahlungsbündel mit einer Starke Io auf zwei Filter mit einer
verschiedenen Dicke d&sub1; bzw. d&sub2; landet, erzeugt der Logarithmus des Quotienten der
hinter den Filtern detektierten Strahlungsintensitäten einen Wert für u(E).(d&sub2;-d&sub1;). Für
den gefundenen linearen Abschwächungskoeffizienten kann ein zugeordneter
Energiewert des Röntgenstrahlungsbündels in einer Tabelle oder in einer graphischen
Darstellung aufgesucht werden.
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Neben der Messung der Strahlungsenergie kann bei pulsiertem Betrieb der
Röntgenstrahlungsquelle die Impulsform ebenfalls aus den Detektorsignalen bestimmt
werden. Dieser Vorgang liefert u.a. Information über den Betrieb des
Beschleunigungsspannungsgenerators. Eine andere wichtige zu bestimmende Menge ist die von der
Quelle ausgelieferte Gesamtdosis. Diese Dosis wird in Röntgen gemessen, wobei ein
Röntgen dem Strahlungsbetrag entspricht, der 2,08 10&sup9; Ionenpaaren je cm³ Luft bei
Normaldruck und Normaltemperatur erzeugt. Dies entspricht einer Energieabscheidung
von 0,85 10&supmin;²Jkg&supmin;¹. Für die Messung der kVp-Werte der Röntgenstrahlungsquelle
genügt es, wenn ein Höchstwert für die von den Detektoren erzeugten Signale
detektierbar ist, so daß die Messung des kVp-Werts mittels Detektoren ausführbar ist, die durch
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Photodioden gebildet werden, die mit einem Szintillationskristall optisch gekoppelt sind.
Die niedrige Umsetzung von Licht in ein elektrisches Signal in den Photodioden und die
diesbezüglichen niedrigen Ströme in der Größenordnung von 100 pA beeinträchtigen
diese Messungen nicht. Jedoch ist für Dosismessungen eine kräftigere Signalverstärkung
oder ein empfindlicher Detektor erforderlich, um auch die Messung niedriger Dosen zu
ermöglichen, insbesondere wenn die Röntgenstrahlungsquelle im Fluoroskopbetrieb
verwendet wird. Bekannte Röntgenstrahlungsmeßgeräte, beispielsweise nach der
Beschreibung in einer Broschüre in der Veröffentlichung von Victoreenn Inc.,
Cleveland, Ohio, 1985, bezüglich "Nero 6000 B" benutzen eine luftgefüllte
Ionisationskammer als Detektor für Dosismessungen, wobei ein Meßstrom davon ein Maß für die
Dosisleistung ist, die grundsätzlich in Rs&supmin;¹ gemessen wird. Da der Betrag ionisierter
Luft und damit die Empfindlichkeit des Detektors vom Volumen der Ionisationskammer
abhängig ist, haben diese Detektoren verhältnismäßig große Abmessungen (einige zehn
von cm³). Die Möglichkeit der Verwendung eines derartigen
Röntgenstrahlungsmeßgeräts in einem Automationssteuerbetrieb, in dem Dosis und kVp während
Fluoroskopie eines Objekts gemessen werden und ihre Meßwerte in einer Steuerschaltung zum
Neueinstellen der Röntgenstrahlungsquelle verwendet werden, ist durch die
verhältnismäßig großen Abmessungen des Röntgenstrahlungsdetektors nicht sehr gut möglich ohne
bedeutende Verzeichnung des Röntgenstrahlungsbildes.
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Der Erfindung liegt die Aufgabe zu grunde, ein kompaktes und robustes
Röntgenstrahlungsmeßgerät zum Messen von Röntgenstrahlungsdosen und von kVp-
Werten zu schaffen, das sich zum Messen verhältnismäßig niedriger Dosisleistungen
eignet (10 uRs&supmin;¹-10 mRs&supmin;¹).
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Zur Lösung dieser Aufgabe ist ein erfindungsgemäßes
Röntgenstrahlungsmeßgerät dadurch gekennzeichnet, daß die Photodioden eine Eigenkapazität haben, und
daß jede der Verstärkerschaltungen eine Integratorschaltung enthält, die einen
Operationsverstärker enthält, wobei ein Ausgangssignal des Operationsverstärkers nach einem
Inversionseingang des Operationsverstärkers durch reinkapazitive Rückkopplung
zurückgekoppelt wird, wobei ein erster Schalter, der ein Ein/Ausschalter mit einem
geschlossenen und einem geöffneten Zustand ist, zum selektiven Anlegen eines
Meßsignals an den Eingang der Integratorschaltung im geschlossenen Zustand und zum
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Ermöglichen der Speicherung der in der Photodiode erzeugten Ladung in der
Eigenkapazität der Photodiode im offenen Zustand vorgesehen ist, die Integratorschaltung einen
zweiten Schalter zum selektiven Herstellen eines elektrischen Leitweges parallel zur
kapazitiven Rückkopplung enthält, die Abtastmittel einen Speicherkondensator und einen
dritten Schalter zum selektiven Anlegen des Ausgangssignals der Integratorschaltung an
den Speicherkondensator enthält.
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Wenn alle Detektoren in Form von Szintillationskristallen aufgebaut sind,
mit denen eine Photodiode optisch gekoppelt ist, wird ein kleiner Detektor erhalten, der
u.a. dadurch robust ist, daß es keine Ionisationskammer mit einem dünnen und
verletzlichen Eintrittsfenster gibt. Außerdem ist für ein erfindungsgemäßes
Röntgenstrahlungsmeßgerät der Effekt der Luftfeuchtigkeit und der Umgebungstemperatur auf
die Genauigkeit der Messungen des Röntgenstrahlungsdetektors geringer als bei
Verwendung einer Ionisationskammer. Die Meßsignale werden direkt ohne
vorangehende Verstärkung an den Integrator gelegt. Durch die Verwendung einer kapazitiven
Rückkopplung werden Stabilitätsprobleme vermieden, die beispielsweise bei der
Verstärkung durch Rückkopplung des Ausgangssignals über einen verhältnismäßig
großen Rückkoppelwiderstand zum Erhalten einer hohen Verstärkung auftreten. Die
Meßsignale der Photodioden werden über den Rückkoppelkondensator in einer
Integrationsperiode (beispielsweise 10 ms) integriert, die durch die Dauer des geschlossenen
Zustands des ersten Schalters bestimmt wird, so daß eine Ausgangsspannung des
Integrators proportional dem mittleren Detektorstrom ist. Nach dem Öffnen des ersten
Schalters kann die an der kapazitiven Rückkopplung akkumulierte Ladung einen
Speicherkondensator (Abtast-und-Halte-Kondensator) gelegt, und die kapazitive
Rückkopplung kann durch Schließen eines Schalters entladen werden, der zur
kapazitiven Rückkopplung parallel geschaltet ist. In dieser Rückstellzeit (beispielsweise 10 us)
und in der Abtastzeit (beispielsweise 10 us) wird die Photodiode über ihre
Eigenkapazität aufgeladen. Anschließend überträgt im geschlossenen Zustand des ersten Schalters
die Photodiode ihre Ladung auf die kapazitive Kopplung.
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Es sei bemerkt, daß ein Röntgenstrahlungsmeßgerät mit einem Detektor in
Form von Szintillationskristallen, die mit Photodioden optisch gekoppelt sind und auch
eine Integratorschaltung mit einer kapazitiven Rückkopplung enthalten, ist an sich aus
der deutschen Auslegeschrift DE 26 30 961 bekannt.
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In der erwähnten Auslegeschrift ist beschrieben, auf welche Weise die
Meßsignale über einen Rückkoppelkondensator mittels einer Integratorschaltung
integriert werden. Das Ausgangssignal der Integratorschaltung ist dem mittleren
Eingangsstrom proportional. Der Nachteil dieser Schaltung besteht darin, daß beim
Entladen der kapazitiven Kopplung in der Entladungszeit ein Verlust in der von der
Photodiode erzeugten Ladung auftritt. Also wird eine genaue Messung der in der
Photodiode erzeugten Gesamtladung verhindert.
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Es sei ebenfalls bemerkt, daß ein Integrator mit einem Schalter an seinem
Eingang zum Unterbrechen der Integration an sich aus dem Buch
"Halbleiter-Schaltungstechnik" von U. Tietze und Ch. Schenk bekannt ist, 3. Ausgabe, Springer-Verlag,
Berlin, Heidelberg, New Yor, 1974, Abschnitt 10.9.2. Ein Integrator mit einer
reinkapazitiven Rückkopplung ist im Buch "Switched Capacitor Circuits" von P.E.
Allen et al, Van Nostrand Reinhold Company, New York 1984, S. 90, beschrieben.
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Wenn die Verstärkerschaltung als integrierte CMOS-Schaltung aufgebaut
ist, können Ladungsverluste durch den ersten, den zweiten und den dritten Schalter
minimisiert werden, und es kann eine kapazitive Rückkopplung mit hoher
Temperaturstabilisation verwirklicht werden.
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Ein Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen
Röntgenstrahlungsmeßgeräts ist dadurch gekennzeichnet, daß das Röntgenstrahlungsmeßgerät eine
Lichtquelle zum Exponieren der Photodioden enthält.
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Da das Szintillationsmaterial keine zeitstabile Ausgangsleistung für die
Kalibrierung der Detektoren hat, genügt es, die Photodioden mit der zugeordneten
Verstärkerschaltung zu kalibrieren. Bei Verwendung einer Lichtquelle, die einen genau
bekannten Lichtbetrag an die Photodiode legt, kann Kalibrierung verhältnismäßig
einfach ohne Verwendung einer getrennten Röntgenkalibrierquelle durchgeführt werden.
Die mit der Speicherung und dem Transport der Kalibrierquelle verknüpften Probleme
werden dabei vermieden und außerdem kann eine Routineprüfung vor der Verwendung
des Röntgenstrahlungsmeßgeräts durchgeführt werden.
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Ein weiteres Ausführungsbeispiel eines erfindungsgemäßen
Röntgenstrahlungsmeßgeräts ist dadurch gekennzeichnet, daß die arithmetische Einrichtung bei
pulsiertem Betrieb der Röntgenstrahlungsquelle Mittel zum Bestimmen einer
Impulsfrequenz und einer Impulsbreite durch Fourier-Analyse wenigstens eines der Meßsignale
enthält.
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Für die Messung von Impulsbreiten und Impulsfrequenzen der
Beschleunigungsspannung, beispielsweise bei der Durchführung einer schnellen Aufeinanderfolge
von Belichtungen (Kinobetrieb), enthält die arithmetische Einrichtung einen Fourier-
Algorithmus zum Bestimmen des Leistungsdichtespektrums der
Beschleunigungsspannung durch Fourier-Transformation eines der Meßsignale. Die Zeit T und der
mittlere Wert Vav der Detektorsignale läßt sich aus dem Leistungsdichtespektrum
bestimmen. Die Impulsbreite W ist mit der Beziehung Vmax. W = Vav.T gegeben.
Dabei ist Vmax der Höchstwert des Meßsignals.
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Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachstehend anhand der
Zeichnung näher erläutert. Es zeigen
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Fig. 1 schematisch ein erfindungsgemäßes Röntgenstrahlungsmeßgerät,
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Fig. 2a und 2b eine graphische Darstellung von in einer Tabelle in der
arithmetischen Einrichtung enthaltenen Werte,
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Fig. 3 eine Integratorschaltung mit einem Rückkoppelwiderstand,
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Fig. 4 eine Verstärkerschaltung mit einer kapazitiven Rückkopplung, und
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Fig. 5 eine graphische Darstellung zur Veranschaulichung der gemessenen
Temperaturabhängigkeit des Röntgenstrahlungsmeßgeräts.
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In Fig. 1 ist eine Röntgenstrahlungsquelle 2 dargestellt, der von einem
Hochspannungsgenerator 5 gespeist wird. In der Röntgenstrahlungsquelle 2 emittiert
eine (in der Figur nicht dargestellte) Heizfadenkathode Elektronen, die von der
Beschleunigungsspannung derart beschleunigt werden, daß sie eine Anode erreichen,
und damit Röntgenstrahlung frei machen. Teile der Röntgenstrahlen bilden ein Bündel 3,
das auf ein Filter 1 fällt, wobei die Detektoren 7 und 9 hinter dem Filter bestrahlt
werden. Die Detektoren 7 und 9 enthalten einen Szintillationskristall, beispielsweise
CDW04, der die Energie der Röntgenstrahlen in Licht umsetzt. Das vom
Szintillationskristall emittierte Licht befreit Ladungsträger in den Photodioden, und erzeugt auf diese
Weise einen Diodenstrom, der in den Verstärkerschaltungen 11 und 13 verstärkt wird.
Das verstärkte Signal gelangt an einen Analog/Digital-Wandler 15, der die digitalisierte
Meßsignale an eine arithmetische Einrichtung 17 legt. In der arithmetischen Einrichtung
17 wird eine Energie der Röntgenstrahlung aus dem Verhältnis der Meßsignale der
beiden Detektoren bestimmt. Die arithmetische Einrichtung 17 berechnet einen kVp-
Wert der Röntgenstrahlungsquelle und eine von der Quelle gelieferte Dosis. Auf der
Basis dieser Werte kann die kVp-Einstellung des Beschleunigungsspannungsgenerators 5
korrigiert werden, oder es kann der Beschleunigungsspannungsgenerator nach dem
Überschreiten einer Höchstdosis abgeschaltet werden.
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Die graphische Darstellung nach Fig. 2a stellt eine Tabelle dar, die in der
arithmetischen Einrichtung 17 gespeichert ist und Verhältniswerte r der Meßsignale der
Detektoren 7 und 9 und die zugeordneten Beschleunigungsspannungen in kVp enthält. In
Fig. 2b sind die Umsetzungsfaktoren f (der Reziprokwert der Empfindlichkeit) der
Detektoren 7 und 9 abhängig von kVp in uRs&supmin;¹/mV dargestellt. Die Detektorsignale
müssen um den Umsetzungsfaktor vervielfacht werden, um einen Wert für die
Dosisleistung zu erhalten. Für jedes Verhältnis r der Meßsignale kann ein Umsetzungsfaktor f
durch die Kombination der graphischen Darstellung 2a und der graphischen Darstellung
2b gefunden werden.
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In Fig. 3 ist ein bekannter Strom/Spannungsumsetzer für die Messung
kleiner Ströme dargestellt. Zu diesem Zweck wird ein Ausgangssignal eines
Operationsverstärkers 25 über einen Rückkoppelwiderstand Rf an den Inversionseingang gelegt. In
einer ersten Annäherung ist die Ausgangsspannung des Verstärkers 25 gleich dem
Produkt eines Eingangsstroms und des Rückkoppelwiderstands Rf. Eine Photodiode 26
erzeugt einen Strom, der einer einfallenden Lichtstärke proportional ist und
beispielsweise 100 pA betragen kann. Zum Erhalten einer Meßspannung von 1 V am Ausgang
des Verstärkers 25 ist ein Rückkoppelwiderstand Rf zum Betrage von 10 GΩ
erforderlich. So hohe Widerstände sind schwer verwirklichbar durch Probleme bezüglich der
Temperaturstabilität und der Abmessungen. Aus einem Blickpunkt des thermischen
Rauschens ist ein möglichst hoher Wert des Rückkoppelwiderstands Rf erwünscht. Da
die Standardabweichung Δ des thermischen Rauschens proportional Rf 0,5 ist, sinkt das
relative Rauschen in einem Ausgangssignal V&sub0; (proportional Rf) ab, wenn Rf -0,5 ist.
Die Photodiode 26 verhält sich als Stromquelle mit einem parallelen Widerstand Rd in
der Größenordnung von 10 MΩ und mit einer Parallelkapazität Cd in der
Größenordnung
von 500 pF. Für einen Wert Rf beispielsweise von 100 MΩ in Kombination mit
einem Frequenzgan des Qperationsverstärkers 25 von -6 dB je Oktave ergibt dies eine
ziemlich instabile Schaltung. Eine Möglichkeit der Förderung der Stabilität ist die
Verbindung eines Rückkoppelkondensators Cf parallel zu Rf, so daß Rf.Cf = Rd.Cd ist.
Durch die Verwendung einer reinkapazitiven RUckkopplung statt eines
Rückkoppelwiderstands Rf werden Probleme hinsichflich der Stabilität der Schaltung vermieden.
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In Fig. 4 ist ein Schaltbild einer Verstärkerschaltung dargestellt, der als
integrierte CMOS-Schaltung aufgebaut ist und einen Operationsverstärker 31 enthält,
dessen Ausgang nach dem Inversionseingang durch vier parallel zu schaltende
Kondensatoren 33 rückgekoppelt wird. Die Kondensatoren 33 werden mit einer logischen
Schaltung 37 verbunden. Ein Kondensator 49 wird mit dem Ausgang 43 des Verstärkers
31 verbunden. Ein externer Kondensator 50 kann parallel zum Kondensator 49 mit dem
Ausgang 43 durch Schließen eines Schalters 51 verbunden werden. Ein Schalter 58 kann
durch eine logische Schaltung 60 geschlossen werden, so daß der Kondensator 50 zum
Speicherkondensator 47 parallel geschaltet wird. Der Ausgang 43 kann mit einer
Pufferschaltung 48 durch das Schließen des Schalters 45 verbunden werden. Der
Speicherkondensator 47 wird mit dem Eingang der Pufferschaltung 48 gekoppelt. Ein
Ausgangssignal kann aus der Pufferschaltung 48 durch Schließen des Schalters 54
mittels einer Spannung an der Klemme 57 abgeleitet werden. Die Schalter 34 können
durch Eingangssignale an Klemmen 35 der logischen Schaltung 37 geschlossen werden.
Die Verstärkung des Eingangssignals des Verstärkers 31 ist durch mehr oder weniger
Parallelschalten der Kondensatoren 33 einstellbar. Das Meßsignal eines Detektors (in
der Figur nicht dargestellt) wird an die Klemme 39 gelegt. Der Schalter 41 kann mittels
einer Steuerspannung an der Klemme 38 geschlossen werden, wobei das Eingangssignal
über einen oder mehreren Kondensatoren 33 integriert wird. Durch das Schließen des
Schalters für eine Integrationszeit T ist das Ausgangssignal am Ausgang 43 des
Verstärkers 31 eine Spannung V&sub0;, die proportional dem mittleren Signalstrom Iav
entsprechend
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V&sub0; = Iav.T/Cf ist.
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Hierin ist Cf der Kapazitätswert der Kombination der Kondensatoren 33. Die
Verstärkung kann durch Verlängerung der Integrationszeit T oder durch die Reduktion des
Kapazitätswerts Cf durch das Öffnen von einem oder mehreren Schalter 34 erhöht
werden. Am Ende einer Integrationszeit wird der Schalter 41 geöffnet und das Signal
am Ausgang 43 wird abgetastet und am Speicherkondensator 47 durch das Schließen des
Schalters 45 unter der Steuerung eines Signals an der Klemme 56 festgehalten. Danach
werden die Kondensatoren 33 durch das Schließen des Schalters 36 entladen, und die
Kondensatoren 47 und 50 entladen sich durch das Schließen des Schalters 52. Die
Schalter 36, 41 und 45 führen Rauschen in das Signal V&sub0; ein. Die Standardabweichung
Δn des Rauschens wird annäherend durch
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Δn = (3kt/Cf)0,5 gegeben (wobei die Kondensatoren Cd, 47 und 49 viel größer sind als
der Kondensator (die Kondensatoren) 33 und das geringe Spannungsrauschen des
Verstärkers 31 vernachlässigbar klein sind).
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Dabei ist t die Temperatur und k die Boltzmannsche Konstante. Die
Standardabweichung ist von dem Widerstand der Schalter unabhängig, der sich beim
Schließen und Öffnen ändert, und damit unabhängig von der Integrationszeit. Aus dem
Signalrauschabstand N geht hervor, daß
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N = TIav/(3ktCf)0,5
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Wenn das Spannungsrauschen des Verstärkers 31 nicht vernachlässigbar klein ist, kann
der Signalrauschabstand durch Begrenzen der Bandbreite des Verstärkers 31 durch
Einschalten des Kondensators 50 über den Schalter 51 verbessert werden.
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Wenn die Verstärkerschaltung durch Verwendung diskreter Bauteile
aufgebaut ist, wird eine große Schaltung mit einer verhältnismäßig hohen
Temperaturempfindlichkeit und Suszeptibilität für Rauschen durch Streukapazitäten erhalten. Wenn
die Verstärkerschaltung als integrierte Schaltung mit CMOS-Transistoren aufgebaut
wird, wird ein Verstärker mit einem sehr geringen Vormagnetisierungsstrom und
Offset-Spannung erhalten, wobei die thermische Stabilität der Rückkoppelkapazität sehr
hoch ist. In Fig. 5 ist der gemessene Zusammenhang zwischen der Temperatur t und
den Detektorsignalen aus einer CMOS-Verstärkerschaltung dargestellt. Die
Temperaturänderung wird durch den Szintillationskristall und die Photodiode verursacht. Die
Auswirkung des Verstärkers 31 auf die Temperaturänderung ist vernachlässigbar klein.
Durch die im wesentlichen lineare Änderung der Verstärkung abhängig von der
Temperatur kann beim Bearbeiten der Meßsignale in der arithmetischen Einrichtung 17
Temperaturausgleich gut durchgeführt werden.