DE664193C

DE664193C - Apparat zur Nivellierung und Winkelabmessung

Info

Publication number: DE664193C
Application number: DER96009D
Authority: DE
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1936-04-07
Filing date: 1936-04-07
Publication date: 1938-08-22

Description

Apparat zur Nivellierung. und Winkelabmessung Die Erfindung bezieht sich auf einen Apparat zur Nivellierung und Winkelabmessung, bestehend aus einem Gehäuse mit Sehschlitzen und mit Visierdrähten versehenen Öffnungen. Die bekannten Apparate dieser Art, deren trommelförmiges Gehäuse auch eine Gradeinteilung besaß, mußten immer erst in eine waagerechte oder senkrechte Richtung eingerichtet werden und waren daher wegen :der besonders genau vorzunehmenden Einstellung nicht einfach zu bedienen und konnten überdies nicht gleichzeitig als Nivelliergerät benutzt werden.
Dem Bekannten gegenüber wird gemäß der Erfindung erreicht, daß: der Apparat sich selbsttätig in waagerechter oder/und senkrechter Richtung einstellt und @daß er sowohl zur Nivellierung als auch zur Winkelabmessung verwendet werden kann. Dies wird im wesentlichen dadurch ,gelöst, daß das Gehäuse des Apparates, welches einen rechteckigen, vieleckigen oder kreisförmigen Querschnitthaben kann, derart kardanisch aufgehängt ist, daß sein Schwerpunkt weit unter der kardanisch:en Aufhängung liegt, daß eine Mehrzahl von Quer- und Längsschlitzen vorgesehen ist, die sich entsprechend den in diesen Schlitzen gegenüberliegenden Wänden vorgesehenen Visieröffnungen selbsttätig in waagerechter bzw. senkrechter Richtung einstellen, wobei die Visierdrähte auf waagerechten bzw. senkrechten Flächen zu liegen kommen, die durch die Mitte der genannten Schlitze angeordnet sind und auf diese Weise die gesuchte Nivellierungs- oder Abmessungsfläche begrenzen.
Ein Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes, ist auf der Zeichnung dargestellt, und zwar zeigen: Fig. i und z zwei sich diagonal gegenüberliegende, perspektivische Ansichten des Apparates, Fig.3 eine Aufsicht auf eine Seitenfläche, Fig. q. einen senkrechten Mittelschnitt nach Linie IV-IV der Fig. 5, Fig. 5 eine Aufsicht .auf den Apparat, Fig. 6 einen waagerechten Mittelschnitt durch den Apparat nach Linie VI-VI der Fig. 3.
Die Bezeichnung ist in allen Figuren die gleiche, so daß die Visiermöglichkeit leicht zu ersehen ist.
Der Apparat zur Nivellierung und Winkelabmessung besteht aus einem rechteckigen Gehäuse D" das erfindungsgemäß am oberen Ende drehbar mit zwei sich gegenüberliegenden Zapfen in einem Rahmen U aufgehängt ist. Der Rahmen U ist wieder mit zwei sich gegenüberliegenden Zapfen, die senkrecht zu den erstgenannten liegen, in einem Bügel C drehbar gelagert, so daß das Gehäuse kardanisch aufgehängt ist und einen Schwerpunkt besitzt, der weit unter den kardanischen Drehachsen liegt. Der Bügel C ist in bekannter Weise zweckmäßig auf einem lotrechten Zapfen eines auf einem Dreifuß B o. dgl. befestigten Lagerbockes ,1, drehbar gelagert und mit einem Zeiger R versehen, der mit einer Gradskala S auf dem Lagerbock A zusammenarbeitet, so daß, wie noch beschrieben wird, neben festen Winkeln auch Zwischenwink bestimmt werden können. ' In den senkrechten Wandungen des G'=; häuses D@ sind nach der Erfindung zu NivelÄ'.', lierungszwecken waagerechte Sehschlitze und Schlitze bzw. öffnungen mit Visierdrähten vorgesehen, und zwar liegt in dem Beispiel dem waagerechten Sehschlitz E eine Öffnung E' mit einem mittleren Visierdraht T und dem waagerechten Sehschlitz F eine öffnung F' mit einem Visierdraht T gegenüber, so daß durch Anvisieren der Drähte T durch die Sehschlitze E oder F eine waagerechte Fläche bestimmt wird; nachdem das kardanisch aufgehängte Gehäuse D- ausgerichtet ist. Dies kann z. B. dadurch geschehen, daß auf dem Boden des Gehäuses D ein z. B. quaderförmiges Gewicht P mittels einer durch das Gewicht hindurchlaufenden Gewindespindel Q in der Richtung der einen Kärdanächse und ebenso ein entsprechendes zweites Gewicht mit einer Gewindespindel in Richtung der zweiten Kardanachse verschieblich angeordnet ist. Das zweite Gewicht kann z. B: unter dem Boden des Gehäuses D@ angeordnet werden. Es können aber auch beliebige andere bekannte Mittel zum Ausrichten des Gehäuses zur Anwrendung gelangen. Das Ausrichten kann zweckmäßig schon in der Herstellungsstätte vorgenommen werden, so daß der Apparat gebrauchsfertig eingerichtet geliefert wird.
Unterhalb der Nivellierschlitze EE'; FF' sind senkrecht zu ihnen Sehschlitze G, H, h und L in den Seitenwandungen des Gehäuses D angeordnet, durch die man die Visierdrähte T' von schräg gegenüberliegenden Öffnungen G', H', l,(' und L' anvisieren kann. Um das Anvisieren von G nach 0', von H nach H' üsw. zu erleichtern und um falsche Anvisierungen zu vermeiden; sind im Innern des Gehäuses D Blenden M, M' und -N; -N' angebracht. Die senkrechten Sehschlitze und Visierdrähte liegen nun so zueinander, daß die Richtung G zum Visierdraht T' des Schlitzes G' senkrecht zur Richtung L-L' und die Richtung H-H' senkrecht zur Richtung liegt, während die Winkel zwischen je zwei Visierrichtungen 450 betragen, so däß man unmittelbar Winkel-Messungen von q.5°, 9o° und i2o° vornehmen n., während Zwischenwinkel und größere ekel durch Verdrehung des ganzen Appat#es mit Bügel C und Zeiger R auf dem .gerbockA mit Gradskala S gemessen werden.

Claims

PATI:NTANSPRÜCHR; i. Apparat zur Nivellierung und Winkelabmessung, bestehend aus einem Gehäuse mit Sehschlitzen und mit Visierdrähten versehenen öffnungen, dadurch gekennzeichnet; daß das Gehäuse kardänisch aufgehängt ist mit einem Schwerpunkt weit unter der kardanischen Aufhängung, und daß eine Mehrzahl von Quer- und Längsschlitzes. vorgesehen ist, die sich entsprechend den in diesen Schlitzen gegenüberliegenden Wänden vorgesehenen Visieröffnungen selbsttätig in waagerechter bzw. senkrechter Richtung einstellen, wobei die Visierdrähte auf waagerechten bzw. senkrechten Flächen zu liegen kommen, die durch die Mitte der genannten Schlitze angeordnet sind und auf diese Weise die gesuchte Nivellierungs-oder Abmessungsfläche begrenzen.
2. Apparat zur Nivellierung und Winkelahmessung nach Anspruch i, dadurch' gekennzeichnet, daß im Innern des Gehäuses (D@) Blenden (M, M' und N, N') angebra@cht sind.
3. Apparat zur Nivellierung und Winkelabmessung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die senkrechten Schlitze und Öffnungen so. angeordnet sind, daß sie senkrechte Flächen begrenzen, die untereinander die für Absteckungen meist üblichen Winkel, z. B. q.5° oder ein Mehrfaches von 45°, -bilden,. q.. Apparat zur Nivellierung und Winkelabmessung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, däß mindestens zweiwaagerechte Schlitze (E, F) in gegenüberliegenden Wänden des Gehäuses angebracht sind und mit Visierdrähten versehenen öffnungen (E-, F') entsprechen.