DE60305779T2 - Mikroskop - Google Patents

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National Institute Nakahiro Inage-ku Chiba-shi Chiba-ken Yasuda
Yoshihiro Narashino-shi Honma
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National Institute Of Radiological Sciences Chiba
Seiko Precision Inc
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Seiko Precision Inc
National Institute of Radiological Sciences
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Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Mikroskopvorrichtung zum Prüfen einer Bestrahlungsmenge von Neutronen, oder dergleichen, von zellularem Gewebe, oder dergleichen, in einem Krankenhaus oder in einem Laboratorium, und insbesondere auf eine Mikroskopvorrichtung zum Abbilden einer Probe durch einen Zeilensensor.
  • [Stand der Technik]
  • In den vergangenen Jahren haben Stellen zugenommen, wo Strahlung abgegeben wird, einschließlich Krankenhaus-Radiotherapie und Atomkraftwerken. Dabei ist eine zunehmende Notwendigkeit vorhanden, die persönliche Bestrahlung der Person, die an solchen Stellen beschäftigt ist, zu messen. Dabei ist, herkömmlich, in Bezug auf die Messung einer persönlichen Bestrahlung, ein Vorschlag von Maßnahmen vorhanden, dass eine Probe an einem Mantel, oder dergleichen, befestigt wird, um eine Messung einer Strahlenauftreffmenge oder einer -auftreffrichtung, aufgezeichnet auf der Probe, vorzunehmen, wie dies in der JP-A-11-174157, der JP-A-2001-42038, usw., offenbart ist. Die Messeinrichtungen sind allgemein wie folgt:
    Die Probe aus organischem Kunststoff, oder dergleichen, erleidet, wenn sie durch eine Strahlung durchdrungen wird, eine Beschädigung in den molekularen Bindungen. Der beschädigte Teil erzeugt, wenn er mit einer vorbestimmten Lösung geätzt wird, feine Ätz-Pits. Die Ätz-Pits sind in der Form in Abhängigkeit von einer Strahlungseinfallsmenge oder -einfallsrichtung abhängig. Dementsprechend kann, durch Prüfen und Aufsummieren der Formen von Ätz-Pits, verursacht auf der Probe, durch das Mikroskop, eine Messung in Bezug auf die Strahlungseinfallsmenge und die Einfallsrichtung vorgenommen werden. Dabei werden in der medizinischen Institution, wie beispielsweise in einem Krankenhaus oder einem Universitätslaboratorium, häufig zellulare Gewebeprüfungen von Krebszellen, und dergleichen, durch die Mikroskope vorgenommen.
  • Dabei ist es möglich, visuell eine Prüfung, eine Bestimmung, oder dergleichen, an jeder Ätz-Pit-Form, einem zellularen Gewebe, oder dergleichen, während durch das Mikroskop gesehen wird, durchzuführen. Allerdings erfordert dies eine umfangreiche Arbeit und Belastung, um eine Prüfung, Bestimmung, oder dergleichen, in Bezug auf eine Vielzahl von Proben vorzunehmen. Weiterhin kann eine Variation bei der Prüfung oder bei dem Bestimmen des Ergebnisses, oder dergleichen, aufgrund des einzelnen Unterschieds zwischen den Personen, die die Prüfung, Bestimmung, oder dergleichen, durchführen, auftreten. Aus diesem Grund wird eine Einrichtung in Erwägung gezogen, die als eine sogenannte zweidimensionale CCD-Kamera bezeichnet wird, die an einem Mikrsoskop so befestigt ist, dass das Bild, das durch den ladungsgekoppelten Vorrichtungs-(nachfolgend bezeichnet als „CCD")-Sensor aufgenommen wird, auf einem Computerbildschirm angezeigt wird, um eine Prüfung der Strahlungsauffallsmenge und der -auffallsrichtung oder des zellularen Gewebes durchzuführen. Auch kann eine Einrichtung in Erwägung gezogen werden, die, unter Verwendung einer Bildverarbeitungseinrichtung, eine Bestimmung der Strahlungsauffallmenge oder -auffallsrichtung, oder eine Prüfung eines Bereichs, einer fortschreitenden Situation, oder dergleichen, von Krebszellen, usw., automatisch von dem Bild, aufgenommen durch das Mikroskop, vornimmt.
  • Das Dokument nach dem Stand der Technik WO 00/43820 offenbart eine Vorrichtung für eine kontinuierliche Volumenbilderzeugung einer Probe unter Verwendung einer Abildung einer Vielzahl von Bildebenen unter vorbestimmten Fokustiefen. Die Fokustiefe jeder Bildebene ist entsprechend einer Vielzahl von erwünschten, räumlichen Anordnungen einstellbar. Die Bilder, erzeugt an den Bildebenen, werden parallel verarbeitet, und das Bild entsprechend zu einer optimalen Fokustiefe an den Probenstellen wird zum Abbilden der Probe an dieser Stelle ausgewählt.
  • [Problem, das die Erfindung lösen soll]
  • Allerdings verwendet der CCD-Sensor, der an einer herkömmlichen CCD-Kamera verwendet wird, eine ebene Anordnung, wie eine zweidimensionale solche, die vertikal und horizontal 600 Teile jeweils besitzt, d.h. 3,5 Billionen, an ladungsgekoppelten Vorrichtungen, die eine Seite mit 21 Mikrometern zum Beispiel haben. Dementsprechend ist es, in dem Fall eines Aufnehmens eines Bildes mit einer Vergrößerung von ×30, zum Beispiel, möglich, zu einem Zeitpunkt ein Bild nur in einem Bereich von 21 Mikrometern × 600 Teilen ÷ 30 = 0,42 Quadratmillimetern aufzunehmen. Demzufolge ist dabei ein Erfordernis vorhanden, eine Abbildung der Probe als ein Gegenstand zu wiederholen, während der quadratische Bildbereich mit 0,42 Millimetern sequenziell von einem Ende davon bewegt wird. Dabei ist, um einen klaren Bildschirm zu erhalten, immer eine Notwendigkeit vorhan den, ein Bild durch Anhalten der Probe zu jedem Zeitpunkt einer Bewegung basierend auf einem Bildschirm vorzunehmen. Es benötigt viel Zeit, um ein Bild von Proben innerhalb eines vorbestimmten Bereiches aufzunehmen. Weiterhin ist, um einen klaren Bildschirm zu erhalten, dabei Erfordernis vorhanden, korrekt eine Brennweite für jedes Bild einzustellen. Demzufolge kann in Erwägung gezogen werden, einen zweidimensionalen CCD-Sensor zu verwenden und automatisch eine Brennweite wie in der gewöhnlichen CCD-Kamera einzustellen. Allerdings ist dabei das folgende Problem in einer solchen eine Brennweite automatisch einstellenden Einrichtung vorhanden. Die Fokuseinstellung an der gewöhnlichen CCD-Kamera, unter Verwendung eines zweidimensionalen CCD-Sensors, wird nämlich an einer Fokusposition eingestellt, wo das aufgenommene Bild das schärfste Bild ist, d.h. einen intensiven Kontrast zeigt, wie in der Position im Fokus. Dementsprechend erfordert, um eine Fokuseinstellung mit dem zweidimensionalen CCD-Sensor, zum Suchen des stärksten Kontrastpunkts, auszuführen, ein Prüfen eines maximalen Kontrastwerts ein Prüfen um einen Fokuspunkt herum. Dabei ist nämlich, aufgrund einer Notwendigkeit, auch um einen Fokuspunkt herum zu prüfen, ein Nachteil vorhanden, dass die Fokuseinstellung Zeit benötigt.
  • Dabei ist, zum Erhalten eines klaren Bildes, eine Notwendigkeit vorhanden, genau und schnell drei Faktoren einzustellen, das bedeutet, sowohl Neigungen in der X- und Y-Richtung als auch der durchschnittlichen Brennweite. Die automatische Fokuseinstellung an der herkömmlichen Mikroskopvorrichtung wird durch Antreiben der Objektivlinse durch einen Motor, oder dergleichen, oder durch eine Fokuseinstellungs-Antriebseinrichtung, wo zwei Arten von Antriebseinrichtungen einer Neigungseinstellungs-Antriebseinrichtung und einer Fokuseinstellungs-Antriebseinrichtung an der Tragebasis vorgesehen sind, vorgenommen. Auch ist, in dem Fall eines Abbildens einer Probe, ein Erfordernis vorhanden, ein Bild durch Einstellen eines bestimmten Bereichs in der Probe aufzunehmen. Da nämlich oftmals die Größe in Abhängigkeit von der Probe unterschiedlich ist, ist ein Erfordemis vorhanden, ein Bild innerhalb des Bereichs aufzunehmen, der nicht außerhalb des Umfangs der Probe herausragt, immer wenn die Probe geändert wird. Demzufolge ist dabei eine Notwendigkeit vorhanden, einen Startpunkt 11a und einem Endpunkt 11b des Abbildungsbereichs einzustellen, bevor ein Bild aufgenommen wird. Weiterhin muss dort, wo ein Bild eines zellularen Gewebes, wie beispielsweise Krebszellen, aufgenommen wird, ein Teil, oder dergleidergleichen, der Probe, wo die Zelle existiert, ausgewählt werden, um einen Bildbereich einzustellen.
  • Demgemäß ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Mikroskopvorrichtung zu schaffen, die dazu geeignet ist, schnell und genau ein Bild innerhalb eines vorbestimmten Bereichs einer Probe bei einer Prüfung, oder dergleichen, in Bezug auf die Strahlungsauffallmenge oder zellulares Gewebe, oder dergleichen, aufzunehmen.
  • [Mittel zum Lösen des Problems]
  • Um das vorstehende Problem zu lösen, liegt ein erstes Merkmal einer Mikroskopvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung darin, dass sie aufweist: ein Mikroskop zum Abbilden einer Probe durch einen Zeilensensor; eine Bildverarbeitungsvorrichtung, die ein Bild der Probe aus den durch den Zeilensensor erfassten Zeilenbildern erzeugt; wobei das Mikroskop eine Fokussiereinrichtung mit einer Lichtsprojektionseinrichtung aufweist; wobei die Fokussiereinrichtung eine Projektionsposition auf der Probe in einer Nähe eines durch den Zeilensensor abzubildenden Bereiches schafft.
  • Hierbei bedeutet die Probe ein spurenerfassendes Feststoffmaterial zum Messen einer Strahlungsauffallsmenge oder Einfallsrichtung oder eines zellularen Gewebes zum Prüfen von Krebszellen, oder dergleichen. Allerdings sind diese nicht hierauf beschränkt, sondern umfassen alle solche zum Prüfen oder Messen eines bestimmten Bereiches durch das Mikroskop. Auch bedeutet der Zeilensensor ein Sensor, der eine lineare Anordung aus, zum Beispiel, mehreren Tausend einzelner solcher ladungsgekoppelten Vorrichtungen in einer Spalte aufweist. Allerdings ist eine einzelne solche nicht einschränkend, sondern umfasst sind solche in einer linearen Anordung mit einer Vielzahl, oder nahezu zwei bis zehn, der ladungsgekoppelten Vorrichtungen. Auch bedeutet die Bildverarbeitungseinrichtung eine Einrichtung einer bekannten Art, bei der einzelne Zeilenbilder, die durch den Zeilensensor aufgenommen sind, eines über das andere überlagert werden, um ein Bild in einem vorgegebenen Bereich einer Probe zu präparieren oder sie zu vergleichen/zusammenzustellen. Die Fokussiereinrichtung, die eine Lichtprojektionseinrichtung besitzt, bezeichnent eine Einrichtung einer bekannten Art, bei der, zum Beispiel, ein kreisförmiger Laserflecken auf eine Probe projiziert wird, um eine Abweichung von einer geeigneten Brennweite aus einer Deformation einer Reflexionslichtform davon zu messen.
  • Ein zweites Merkmal einer Mikroskopvorrichtung gemäß der Erfindung liegt darin, dass die Projektionsposition, wie sie in dem ersten Merkmal beschrieben ist, eine Vorwärtsposition des Zeilensensors ist.
  • Indem die Erfindung so aufgebaut wird ist es, in dem Fall eines sequenziellen Aufnehmens von Bildern über einen Probemessbereich durch den Zeilensensor, möglich, zuvor immer eine Brennweite des Gegenstandes der Abbildung zu messen und einzustellen. Weiterhin wird positiv verhindert, dass Projektionslicht der Lichtsprojektionseinrichtung auf ein Zeilenbild einfällt.
  • Ein drittes Merkmal bei einer Mikroskopvorrichtung der Erfindung liegt darin, dass die Projektionseinrichtung, wie sie in dem ersten Merkmal beschrieben ist, eine Vorwärtslichtprojektionseinrichtung zum Projizieren von Licht in einer Vorwärtsposition des Zeilensensors und eine Rückwärtslichtprojektionseinrichtung zum Projizieren von Licht zu einer Rückwärtsposition des Zeilensensors besitzt.
  • Hierbei bezeichnet die Vorwärtsposition des Zeilensensors eine bewegungsseitige Position eines Abbildungsbereichs des Zeilensensors bei einer horizontalen Bewegung, während die Rückwärtsposition des Zeilensensors eine rückwärtsseitige Position zu der Bewegungsrichtung eines Abbildungsbereichs eines Zeilensensors bei einer horizontalen Bewegung angibt.
  • Durch einen solchen Aufbau, bei dem sequenziell durch den Zeilensensor abgebildet wird, während die Probe bewegt wird, gerade dann, wenn die Bewegungsrichtung geändert wird, zum Beispiel von links nach rechts und dann von rechts nach links, um dadurch eine Zweiwege-Abtastung durchzuführen, ist es möglich, zuvor eine Brennweite eines Gegenstandes der Abbildung durch den Zeilensensor zu messen und einzustellen. Weiterhin wird das Projektionslicht positiv durch die Lichtprojektionseinrichtung davor geschützt, dass es auf ein Zeilenbild auffällt.
  • Ein viertes Merkmal einer Mikroskopvorrichtung gemäß der Erfindung liegt darin, dass sie aufweist: einen Trägeruntersatz, der die Proben trägt; ein Mikroskop zum Vergrößern der Probe; einen Zeilensensor zum Abbilden der vergrößerten Probe als ein Zeilenbild; und eine Bildverarbeitungseinrichtung, um ein Bild der Proben von einem Zeilenbild, aufgenommen durch den Zeilensensor, zu erstellen; wobei der Trägeruntersatz eine Einstelleinrichtung zum Einstellen einer Neigung des selben und einer Brennweite des Mikroskop umfasst.
  • Ein fünftes Merkmal der Mikroskopvorrichtung gemäß der Erfindung liegt darin, dass die Einstelleinrichtung, wie sie in dem vierten Merkmal beschrieben ist, vertikale Positionen an wenigstens drei Punkten des Trägeruntersatzes einstellt.
  • Indem die Erfindung so aufgebaut wird, ist es möglich, einfach die Neigung und die Brennweite der Probe einzustellen.
  • Ein sechstes Merkmal einer Mikroskopvorrichtung gemäß der Erfindung liegt darin, dass die Einstelleinrichtung, wie sie in irgendeinem des vorstehenden Merkmals vier oder fünf beschrieben ist, durch ein Signal von der Fokussiereinrichtung gesteuert wird.
  • Durch einen solchen Aufbau der Erfindung ist es möglich, genau und schnell die Neigung und die Brennweite der Probe einzustellen.
  • Ein siebtes Merkmal einer Mikroskopvorrichtung gemäß der Erfindung liegt darin, dass sie aufweist: ein Mikroskop zum Vergrößern einer Probe; einen Zeilensensor zum Abbilden der vergrößerten Probe als ein Zeilenbild; eine zweidimensionale ladungsgekoppelte Vorrichtung zum Abbilden einer Bildposition des Zeilensensors; und eine Bildverarbeitungseinrichtung, um immer ein Bild der Probe von einem Zeilenbild, aufgenommen durch den Zeilensensor, zu erstellen.
  • Durch diesen Aufbau wird der nachfolgende, betriebsmäßige Effekt erhalten. Durch Abbilden der Probe unter Verwendung des Zeilensensors kann eine Probenabbildung schnell vorgenommen werden. Unter Verwendung eines zweidimensionalen CCD-Sensors, geeignet zum Abbilden einer zweidimensionalen Spreizung, ist es möglich, schnell und einfach einen Abbildungsbereich in der Probe einzustellen.
  • Allerdings ist, obwohl in Erwägung gezogen werden kann, einen sich in der Probe befindlichen Abbildungsbereich für ein Bild, aufgenommen durch den Zeilensensor, einzustellen, der Abbildungsbereich des Zeilensensors extrem schmal in der Breite so, wie er hier verwendet wird. Dementsprechend ist es, in einem Spurenerfassungs-Feststoffmaterial zum Messen einer Strahlungsauffallmenge, oder dergleichen, extrem schwierig, einen Messbereich einzustellen, der nicht außerhalb eines Umfangs des Spurenerfassungs-Feststoffmaterials liegt, während ein peripherer Teil eingegrenzt wird. Auch ist es bei einer Prüfung eines zellularen Gewebes, oder dergleichen, schwierig, eine bestimmte Stelle oder einen bestimmten Bereich zu bestätigen, wo Krebszellen, oder dergleichen, existieren. Andererseits ist es in dem Fall eines zweidimensionalen CCD-Sensors, der zum Abbilden einer zweidimensionalen Spreizung geeignet ist, einfach, einen Umfangsteil eines Spurerfassungs-Feststoffmaterials oder eine bestimmte Stelle oder einen bestimmten Bereich eines zellularen Gewebes, oder dergleichen, zu bestätigen. Demzufolge ermöglicht, gemäß der Erfindung, die Vorsehung eines zweidimensionalen CCD-Sensors zusätzlich zu dem Zeilensensor eine schnelle und einfache Einstellung eines sich in der Probe befindlichen Abbildungsbereichs.
  • [Kurze Beschreibung der Zeichnung]
  • [1] Eine Teilseitenansicht einer Mikroskopvorrichtung.
  • [2] Eine Vorderansicht der Mikroskopvorrichtung.
  • [3] Ein schematisches Anordnungsdiagramm einer Fokussiereinrichtung und eines zweidimensionalen CCD-Sensors.
  • [4] Eine Figur eines Sichtfeldes und eines Mikroskops, das einen Zeilensensor-Abbildungsbereich und eine Laserfleckposition darstellt.
  • [5] Eine Figur eines Sichtfeldes eines Mikroskops, das einen Abbildungsbereich eines Zeilensenors und eines zweidimensionalen CCD-Sensors darstellt.
  • [6] Ein Flussdiagramm, das einen Verwendungsvorgang der Mikroskopvorrichtung darstellt.
  • [7] Eine erläuternde Ansicht, die einen Abbildungsbereich und eine Folge von Zeilenbildern innerhalb eines Messbereichs darstellt.
  • [8] Ein Flussdiagramm, das einen Einstellvorgang einer Brennweite und einer Neigung für die Probe darstellt.
  • [9] Eine bildliche Figur, die eine Reflexionsform eines Laserflecks darstellt.
  • [10] Ein Flussdiagramm, das einen Abbildungsvorgang eines Zeilenbilds darstellt.
  • [11] Ein Flussdiagramm, das einen Vorgang für die Größeneinstellung einer Brennweitenabweichung darstellt.
  • [Modus zum Ausführen der Erfindung]
  • Unter Bezugnahme auf die 1 bis 3 wird eine Mikroskopvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung anhand einer Ausführungsform, verwendet in einem Strahlungsspurendetektor, erläutert. Der Strahlungsspurendetektor besitzt eine Bewegungseinrichtung 2 zum Bewegen eines Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 als eine Probe, ein Mikroskop 3 zum Vergrößern des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1, einen Zeilensensor 4 zum Abbilden des vergrößerten Feststoffelements für eine Spurerfassung als ein Zeilenbild und eine Bestimmungseinrichtung 5 zum Preparieren eines Bilds des Feststoffelementes 1 für eine Spurerfassung von dem Zeilenbild und zum Bestimmen einer Strahlungsaufffallmenge und einer Einfallsrichtung von dem Bild. Auch ist, in der vorstehenden Bewegungseinrichtung 2, ein Kipptisch 6 als ein Trägeruntersatz zum Tragen des Glasträgers 1 zur Spurerfassung und zum Einstellen seiner Neigung und Brennweite vorgesehen. Die Bewegungseinrichtung 2 und das Mikroskop 3 sind jeweils durch ein Gestell 7 in einer L-Form getragen.
  • Die Bewegungseinrichtung 2 ist auf einem horizontalen Teil des L-förmigen Trägers 7 angeordnet, um horizontal den Kipptisch 6, wobei darauf das Spurenerfassungs-Feststoffmaterial 1 angeordnet ist, in einer Richtung von links/rechts und von vorwärt/rückwärts durch einen Linearmotor zu bewegen. Der Linearmotor ist von einer bekannten Art, bei dem sich ein Anker über einen Permanentmagneten, angeordnet in einer Streifenform, bewegt, wobei ein Hochgeschwindigkeitsantrieb, ein hohes Ansprechverhalten und eine genaue Positionierung möglich sind. Der Linearmotor befindet sich unter Fernsteuerung eines Computers, wie dies nachfolgend angegeben ist, um das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 zu einer vorbestimmten Position zu bewegen. Dabei ist, in der Nähe des Linearmotors, auch ein Kodierer vorgesehen, um den Bewegungsbetrag des Kipptisches 6 durch den Linearmotor zu einem Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 zurückzuführen.
  • Weiterhin ist das Mikroskop 3 durch ein optisches Mikroskop aufgebaut und mit einer Objektivlinse 31, einem Lampenabschnitt 32 zum Beleuchten des Spurerfassungs-Feststoffmaterials, einer Autofokussierungs-AF-Einheit 33, einer Objektivttrommel 34 und einem Okkular 35 für eine visuelle Beobachtung ausgestattet. Diese Teile werden nachfolgend in dieser Reihenfolge erläutert.
  • Die Objektivlinse 31 verwendet solche mit ×10 und ×20, die gegenseitig von einem zu dem anderen durch einen Revolver 36 geändert werden können. Um ein schattenumrissenes Bild zu erhalten, blendet der Lampenabschnitt 32 unter einem rechten Winkel, durch einen Halbspiegel, das Licht von einer Halogenlampe, die nicht dargestellt ist, vorgesehen innerhalb eines Lampenabschnitts 32, entlang einer optischen Achse des Mikroskops 3 aus und beleuchtet es auf das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1, was demzufolge das Reflexionslicht von dem Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 intensiviert. Auch ist, um eine Beleuchtung auch an der hinteren Fläche des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 zu ermöglichen, eine optische Faser 8 an dem Gestell 7 vorgesehen, die das Licht von der nicht dargestellten Halogenlampe, die extern vorgesehen ist, einbringt. Die Autofokussierung-AF-Einheit 33 besitzt eine Fokussiereinrichtung 331, die mindestens eine Laser-Projektionseinrichtung und einen zweidimensionalen CCD-Sensor 332 besitzt.
  • Die Laserprojektionseinrichtung, wie sie in 3 dargestellt ist, besitzt eine Vorwärtslichtprojektionseinrichtung, die ein Laserlicht-Projektionsteil 331b und einen Lichtaufnahmeabschnitt 331a besitzt, und eine Rückwärtslichtsprojektionseinrichtung, die ein Laserlicht-Projektionsteil 331d und einen Lichtaufnahmeabschnitt 331c besitzt, die jeweils auf einer gedruckten Leiterplatte 333 angeordnet sind. Die gedruckte Leiterplatte 333 ist an einer Innenwandfläche der AF-Einheit 33 befestigt. Das Laserlicht, abgegeben von dem Lichtprojektionsteil 331b, 331d, wird im rechten Winkel durch ein Linsensystem und den Halbspiegel entlang der optischen Achse des Mikroskops 3 abgelenkt und auf das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 projiziert. Dessen Reflexionslicht läuft umgekehrt des Wegs und wird an den jeweiligen Lichtaufnahmeteilen 331a, 331c erfasst.
  • Die Lichterprojektionsposition zu dem Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 ist, wie in 4 dargestellt ist, auf einer oberen Fläche des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1, innerhalb eines Sichtfeldes A des Mikroskops 3, nahe an Positionen C1, C2 auf beiden Seiten des Abbildungsbereichs B durch den Zeilensensor 4 liegend, eingestellt. Hierbei ist die nahe liegende Position C1 eine Lichtprojektionsposition eines Laserlichts von dem Lichtprojektionsteil 331b der Vorwärtslichtsprojektionseinrichtung, während die nahe liegende Position C2 eine Lichtprojektionsposition eines Laserlichts von dem Lichtprojektion steil 331d der Rückwärtslichtprojektionseinrichtung darstellt. Demzufolge kann das Laserreflexionslicht von dem Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 positiv davor bewahrt werden, dass es in einen Zeilenbildschirm eindringt, um durch den Zeilensensor 4 abgebildet zu werden. Weiterhin kann die Brennweite des Abbildungsbereichs B so korrekt wie möglich durch eine Messung an dessen Nähe gemessen werden. Dabei kann, wie nachfolgend angegeben ist, die Fokussiereinrichtung 331, die zwei Sätze von Laserprojektionseinrichtungen besitzt, schnell die Neigung und die Brennweite des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 einstellen. Dabei ist der Grund, zwei Sätze von Laserprojektionseinrichtungen vorzusehen, derjenige, sie separat so zu benutzen, dass dann, wenn Zeilenbilder sequenziell durch den Zeilensensor 4 abgebildet werden, während das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 in der X-Richtung, worauf nachfolgend Bezug genommen wird, bewegt wird, die nahe der Position C1, oder dergleichen, für eine Laserprojektion vor dem abgebildeten Bereich B der Zeilenbilder während einer Bewegung in der linken und der rechten Richtung positioniert ist. Hierdurch kann, gerade wenn der Zeilensensor alternierend nach links und nach rechts in beiden Richtungen abgetastet wird, die Brennweite auf der Vorwärtsseite des Bereichs so eingestellt werden, um durch den Zeilensensor abgebildet zu werden, was eine korrekte Fokuseinstellung zulässt.
  • Der zweidimensionale CCD-Sensor 332 ist eben, mit vertikal, horizontal 600 × 600 = ungefähr 3,5 Billionen ladungsgekoppelter Vorrichtungen, angeordnet, die an der allgemeinen CCD-Kamera verwendet werden, und haben 21 Mikrometer in einer Seite und sind auf der gedruckten Leiterplatte 333, wie in 3 dargestellt, befestigt. Der zweidimensionale CCD-Sensor 332, wie er in 5 dargestellt ist, bildet die Oberfläche des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 über den Halbspiegel in einem Abbildungsbereich E des zweidimensionalen CCD-Bildsensors 332, der sandwichartig den Abbildungsbereich C der Zeilenbilder zwischenfügt, ab. Dabei ist der Bereich D in der 3 eine Abbildungsoberfläche D durch den zweidimensionalen CCD-Sensor 332. Wie nachfolgend angegeben ist, ist es, durch Abbilden aufgrund des zweidimensionalen CCD-Sensors 332, möglich, einen Abbildungsbereich 11 des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 zu bezeichnen.
  • Die Objektivtrommel 34 trägt ein Okkular 35 für eine visuelle Beobachtung und einen Zeilensensor 4. Weiterhin ist diese Objektivtrommel an einem Seitenteil offen an einem aufrechtstehenden Teil des L-förmigen Gestells 7 über einen Zahnstangen-Ritzel-Mechanismus 71 befestigt. Dementsprechend kann in dem Fall, dass das Spurenerfas sungs-Feststoffmaterial 1 an dem Kipptisch 6, oder dergleichen, angeordnet ist, das Mikroskop 3 selbst manuell nach oben und nach unten durch den Zahnstangen-Ritzel-Mechanismus 71 bewegt werden. Dabei ist das Okkular 35 für eine visuelle Beobachtung so angeordnet, um eine visuelle Beobachtung durch Neigen der optischen Achse der Objektivlinse 31 zu erleichtern.
  • Nun wird der Zeilensensor 4 in einem Gehäuse aufgenommen. Dieses Gehäuse ist lösbar an einer Spitze der Objektivtrommel 34 befestigt. Dabei nimmt die Form des Befestigungsteils eine F-Befestigung als eine Standardbefestigungsform von einer Einzelobjektiv-Reflex-Kamera als den Linsenbefestigungsteil an. Der Zeilensensor 4 ist durch lineares Anordnen, einer nach der anderen, von ungefähr 4000 ladungsgekoppelten Vorrichtungen, die 7 Mikrometer in einer Seite haben, aufgebaut. Demzufolge ist es, in dem Fall einer Abbildungsvergrößerung von ×10, möglich, zu einem Zeitpunkt einen Bereich abzubilden, der eine Breite von 7 Mikrometern ÷ 10 gleich 0,7 Mikrometern mal einer Länge von 7 Mikrometern × 4000 Teilen ÷ 10 gleich 2,8 Millimetern besitzt. Wie nachfolgend angeben ist, bildet der Zeilensensor 4 sequenziell, basierend auf dem Bereich, das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1, das horizontal durch die Bewegungseinrichtung 2 bewegt wird, ab und liefert die jeweiligen Zeilenbilddaten zu einer Bestimmungseinrichtung 5, die als nächstes erläutert werden wird, über ein Verbindungskabel (nicht dargestellt).
  • Die Bestimmungseinrichtung 5, die einen kommerziell erhältlichen Computer oder dasjenige, was als ein Personalcomputer bezeichnet ist, verwendet, ist mit einem Betätigungsverarbeitungsabschnitt 51, einem Anzeigeabschnitt 52 und einem Speicherteil 53 zum Aufzeichnen von Zeilenbilddaten versehen. Der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 führt, wie nachfolgend angegeben ist, ein Einstellen eines Abbildungsbereichs auf dem Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1, eine Bewegung der Bewegungseinrichtung 2, eine Einstellung einer Neigung des Kipptischs 5 und der Brennweite, eine Bildausführungsanweisung des Zeilensensor 4 auf der Basis eines Bewegungsbetrags, zurückgeführt von einem Codierer der Bewegungseinrichtung 2, eine Aufnahme der Zeilenbilddaten, abgebildet durch den Zeilensensor 4, ein Präparieren eines gesamten Bilds im Abbildungsbereich von den Zeilenbilddaten und ein Bestimmen einer Strahlungsauffallsmenge und – richtung von dem gesamten Bild aus.
  • Nun wird der Kipptisch als nächstes erläutert. Der Kipptisch 6 ist mit drei Ultraschallmotoren 61, angeordnet in einer Art und Weise, die ein rechtwinkliges Dreieck bil den, einem flach gebildeten Tischteil 62, getragen an drei Punkten der vertikalen Abtriebswellen 61a der Ulltraschallmotoren, und einem Befestigungselement 63, das die gegenseitigen Positionen der Ultraschallmotoren 61 fixiert, aufgebaut. In der vorliegenden Ausführungsform sind drei Ultraschallmotoren 61 als Einstelleinrichtungen zum Einstellen der Neigung und der vertikalen Position des Kipptischs 6 vorgesehen. Dabei sind die vertikalen Abtriebswellen 61a an Spitzen, in einem Anschlag gegen einen Hohlraum, gebildet auf der hinteren Fläche des Tischteils 62, vorhanden, um dadurch eine gegenseitige Abweichung in der horizontalen Richtung zu verhindern.
  • Der Ultraschallmotor 61, der bekannt ist, besitzt ein elastisches Element, das in einem Anschlag an piezoelektrische Keramiken vorgesehen ist, die sich deformieren, wenn eine Spannung angelegt ist. Ein Ultraschallbereich einer Spannung wird an die piezoelektrischen Keramiken angelegt, um eine Biegevibration an dem elastischen Element zu verursachen, um dadurch die Abtriebswelle zu drehen. Es besitzt Chrakteristika hoch in der Ansprechfähigkeit und der Steuerbarkeit, allerdings klein in dem Betriebsrauschen, usw.. In dem Ultraschallmotor 61, verwendet in der Erfindung, ist die Abtriebswelle in einer Gewindestruktur aufgebaut, so dass sich die Abtriebswelle für eine vertikale Bewegung dreht. Dabei stellt, wie nachfolgend angegeben ist, der Kipptisch 6 die Neigung und die Brennweite des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1, unter der Steuerung des Computers, basierend auf dem Signal von der vorstehend angegebenen Fokussiereinrichtung 331, ein. Da die Brennweiten-Einstellung auch durch den Ultraschallmotor 61 durch die Verwendung des Ultrschallmotors 61 zum Einstellen der Neigung des Kipptischs 6 vorgenommen wird, wird das Erfordernis eines getrennten Vorsehens einer Antriebseinrichtung für die Brennweiten-Einstellung beseitigt.
  • Nun wird, unter Bezugnahme auf die 6 bis 10, eine Erläuterung in Bezug auf die Verwendung des Strahlungsspurendektors gemäß der vorliegenden Erfindung vorgenommen. Wie in 6 dargestellt ist, wird ein Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1, das Gegenstand einer Strahlungsmessung ist, zuerst auf der oberen Fläche des Tischteils 62 des Kipptischs 6(A) eingestellt. Um keine Bewegung zuzulassen, ist dieses Spurerfassungs-Feststoffmaterial auf den Tischteil durch Vakuummittel, oder dergleichen, absorptions-fixiert (B). Als nächstes wird ein Messbereich 11 des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 durch einen Eingang von dem Personalcomputer (C) eingestellt.
  • Der Messbereich 11, wie er in 7 dargestellt ist, befindet sich auf der Oberfläche des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1, in einem rechtwinkligen Bereich, wo ein Ätz-Pit tatsächlich abgebildet werden soll. Der Grund eines Bezeichnens eines Messbereichs 11 ist derjenige, dass, in dem Fall, dass das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 unterschiedlich in der Größe ist, dabei ein Erfordernis zum Abbilden innerhalb eines Bereichs vorhanden ist, der nicht den Umfang des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 überschreitet, und zum Einstellen eines Startpunkts 11a und eines Endpunkts 11b eines Zeilenbilds, das sequetiell durch den Zeilensensor 4 abgebildet werden soll. Obwohl der Messbereich 11 eingestellt werden kann, während das visuell zu betrachtende Okkular 35 betrachtet wird, kann dessen Betriebsfähigkeit weitaus stärker verbessert werden als durch ein Einstellen über ein Anzeigen eines Bilds des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 in einem Anzeigeteil 52 des Computers.
  • Dabei kann, gemäß der vorliegenden Erfindung, da ein Bild von dem Zeilensensor 4 zu der Bestimmungseinrichtung 5 so, wie es nachfolgend angegeben ist, geschickt wird, in Erwägung gezogen werden, dieses Bild auf dem Anzeigeteil 52 anzuzeigen und einen Messbereich 11 einzustellen, während der Bildschirm betrachtet wird. Allerdings ist, da jedes der Zeilenbilder, aufgenommen durch den Zeilensensor 4, eine Breite in einem extrem schmalen Bereich von 0,7 Mikrometern besitzt, wie dies vorstehend beschrieben ist, schwierig, einen Umfangsteil des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 einzugrenzen. Dementsprechend ist es praktisch unmöglich, einen Messbereich 11 einzustellen, der nicht über den Umfang des Feststoffmaterials 1 der Spurenerfassung hinausläuft. Dementsprechend muss, in der vorliegenden Erfindung, ein Messbereich 11 durch einen zweidimensionalen CCD-Sensor 332, geeignet zum Abbilden einer zweidimensionalen Erweiterung in einem bestimmten Umfang, eingestellt werden.
  • Ein Einstellen eines Messbereichs 11 wird durch Bewegen/Einstellen der Bewegungseinrichtung 2 in den XY-Richtungen entsprechend einer Anweisung von der Eingaberichtung 53 des Personalcomputers vorgenommen, während ein Abbildungsbildschirm, auf dem der Bereich des Abbildungsbereichs E (siehe 5) des zweidimensionalen Sensors 332 zu sehen ist, betrachtet wird. Durch den zweidimensionalen CCD-Sensor 332, der projiziert ist, ist nämlich ein Umfang in einer Position 11a um eine Ecke in einem Ende auf einer diagonalen Linie eines rechtswinkligen Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1, dargestellt ist 7, vorhanden, um einen Abbildungsstartpunkt durch den Zeilensen sor 4 einzustellen. Als nächstes wird ein Umfang einer Position 11b um eine Ecke in dem anderen Ende auf der diagonalen Linie herum projiziert, um einen Abbildungsendpunkt einzustellen. Die Punkte werden durch den Personal-Computer erkannt. Hierdurch werden die XY-Koordinaten des Punkts 11a, 11b als die Informationen zu einem Bewegungsstartpunkt und einem -endpunkt eines Linearmotors der Bewegungseinrichtung 2, zu dem Vorgangsverarbeitungsabschnitt 51 des Personalcomputers, aufgezeichnet. Dementsprechend wird, wie nachfolgend angegeben ist, in dem Fall eines Abbildens durch den Zeilensensor 4, durch eine Anweisung von dem Bedienungsverarbeitungsabschnitt 51, der Linearmotor der Bewegungseinrichtung 2 sequenziell von der nach innen gerichteten Position 11a als eine erste Abbildungsposition zu der horizontalen Position 11b als eine letzte Abbildungsposition bewegt.
  • Nach Beenden der Einstellung eines Messbereichs 11 (C) wird dann eine Einstellung für die Brennweite und die Neigung des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 vorgenommen (D). Diese Einstellung wird automatisch durch den Vorgang, der in 8 dargestellt ist, entsprechend einer Anweisung von dem Bedienungsverarbeitungsabschnitt 51 des Personal-Computers, auf der Basis der Information von der Fokussiereinrichtung 331, die die Laserprojektionseinrichtung besitzt, die an der AF-Einheit 331 vorgesehen ist, vorgenommen. Hier wird eine Erläuterung des Grunds vorgenommen, warum die Einstellung für die Neigung und die Brennweite des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 durch die Fokussiereinrichtung 331 durchgeführt wird, die die Lichtprojektionseinrichtung besitzt. Wie nämlich vorstehend angegeben ist, besitzt die vorliegende Erfindung den Zeilensensor 4 und den zweidimensionalen CCD-Sensor 332 an der AF-Einheit 33 befestigt. Dementsprechend kann in Erwägung gezogen werden, dass die Brennweite automatisch durch diese Sensoren, wie in der gewöhnlichen CCD-Kamera, eingestellt wird.
  • Allerdings hat diese Einrichtung das folgende Problem mit sich gebracht. In der automatischen Brennweiteneinstellung der gewöhnlichen CCD-Kamera unter Verwendung eines zweidimensionalen Sensors 332 wird eine Fokusposition, wo die Abbildung die größte Schärfe besitzt, d.h. ein Kontrasten stark, als eine Fokusposition eingestellt. Demzufolge ist dabei, wenn eine Fokuseinstellung durch den zweidimensionalen CCD-Sensor 332 vorgenommen wird, ein Erfordernis vorhanden, einen maximalen Kontrastwert durch Prüfen um einen Fokuspunkt herum vorhanden, um eine Position mit stärkstem Kontrast herauszufinden. Allerdings nimmt der Zeilensensor 4 eine Abbildung in einem extrem schmalen Breitenbereich vor, so dass eine Schwierigkeit beim Erfassen eines Bildkontrasts vorhanden ist. Auch ist, aufgrund der Notwendigkeit, um einen Fokuspunkt herum zu prüfen, ein Nachteil dahingehend vorhanden, dass es Zeit bei der Fokuseinstellung benötigt. Demzufolge wendet die vorliegende Erfindung eine Laserprojektionsfokussiereinrichtung 331, geeignet zum Messen einer Brennweite mit einer extremen Genauigkeit und einer hohen Geschwindigkeit, an.
  • Nun wird, unter Bezugnahme wiederum auf 8, eine Erläuterung in Bezug auf den Einstellungsvorgang zur Neigung des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 vorgenommen. Diese Einstellung wird entsprechend einem Programm, vorhanden in dem Betätigungs- und Verarbeitungsabschnitt 51 des Personalcomputers, gesteuert. Der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 stellt zuerst einen zentralen Teil des Messbereichs 11 auf das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 als ein Messpunkt i = 1 (G) ein, um die Bewegungseinrichtung 2 so zu bewegen, dass die optische Achse des Mikroskops 3 mit einer XY-Koordinatenposition davon übereinstimmt (B). An dieser Position wird ein Laserfleck von dem Lichtprojektionsteil 331b, 331d projiziert, um zu bestimmen, ob der Abstand zu dem Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 in Bezug auf eine geeignete Brennweite abweicht oder nicht (I).
  • Die Abweichung in Bezug auf eine geeignete Brennweite wird aus einer Form des Reflexionslichts, das auf die Lichtaufnahmeeinrichtungen 331a, 331c auffällt, bestimmt. Die Form des Reflexionslichts ist nämlich kreisförmig, wie dies in 9b dargestellt ist, wenn es sich in der geeigneten Brennweite befindet. In dem Fall, dass man näher als eine geeignete Brennweite ist, wird es links schräg, entsprechend 9a, deformiert, während in dem Fall, dass man weiter als eine geeignete Brennweite liegt, sie nach rechts schräg, entsprechend 9c, verläuft. Dementsprechend erkennt der Betätigungsverarbeitungsabschnitt 51 eine Form des Reflexionslichts, das auf den Lichtaufnahmeabschnitt 331a, 331c auffällt. In dem Fall, dass dabei eine Abweichung in der Brennweite vorhanden ist, wird eine Bestimmung vorgenommen, ob der Abstand länger (weiter weg) oder kürzer (näher) als die geeignete Brennweite ist (J). In dem näheren Fall werden die Abtriebswellen 61a der drei Ultraschallmotoren 61 des Kipptischs 6 um den selben Betrag erniedrigt und zu der geeigneten Brennweite ausgerichtet (K). Umgekehrt werden, in dem weiteren Fall, die Abtriebswellen 61a der drei Ultraschallmotoren 61 des Kipptischs 6 um den sel ben Betrag zu der geeigneten Brennweite angehoben und ausgerichtet (L). Hierdurch wird der Messpunkt (i = 1) auf die geeignete Brennweitenposition eingestellt (M).
  • Als nächstes wird die Abweichung der Brennweite der zwei Messpunkte (i = 2, 3) ähnlich gemessen. Der Betriebsmessabschnitt 51 stellt nämlich einen zweiten Messpunkt i = 2 ein, der um einen vorgegebenen Abstand von dem Messpunkt i = 1 (N), um die Bewegungseinrichtung 2 so zu bewegen, dass die optische Achse des Mikroskops 3 mit der XY-Koordinatenposition davon übereinstimmt (H), entfernt ist. An dieser Position wird ein Laserfleck projiziert, um einen Abweichungsbetrag zwischen dem Messabstand und der geeigneten Brennweite (M) durch eine ähnliche Einrichtung, wie diejenige, die vorstehend beschrieben ist, zu berechnen und aufzuzeichnen. Der Betriebsmessabschnitt 51 stellt einen dritten Messpunkt i = 3 ein, der um einen vorgegebenen Abstand von dem Messpunkt i = 1 entfernt liegt, um die Bewegungseinrichtung 2 zu der XY-Koordinatenposition davon zu bewegen (H). Ähnlich zu dem Vorstehenden wird ein Abweichungsbetrag zwischen dem Messabstand und der geeeigneten Brennweite berechnet und aufgezeichnet (M). Dabei wird, nach Messung an dem Messpunkt i = 3, die Messung der Brennweite durch eine Bestimmungsgleichung i > 3 beendet (O).
  • Durch das Vorstehende wird, aufgrund eines erhaltenen Abweichungsbetrags von der geeigneten Brennweite in den jeweiligen XY-Koordinatenpositionen an drei Messpunkten i = 1, 2 und 3, eine Neigung in der XY-Richtung des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 geometrisch aus dieser dreidimensionalen Koordinatenposition berechnet, was es möglich macht, die jeweiligen vertikalen Einstellungsbeträge der Abtriebswellen 61a von den drei Ultraschallmotoren 61, erforderlich zum Korrigieren des Abweichungsbetrags, zu berechnen. Der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 stellt einen Herausziehbetrag der Abtriebswellen 61a der drei Ultraschalmotoren 61 auf der Basis des Berechnungsergebnisses ein, was demzufolge den Neigungbetrag (P) einstellt. Wie in dem vorstehenden Fall wird, wenn der Kipptisch 6 durch die Bewegungseinrichtung 2 bewegt wird, die Oberfläche des Abbildungsabschnitts des Spurerfassungs-Feststoffmaterials 1 horizontal. Als nächstes wird eine Erläuterung in Bezug auf den Vorgang, um das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 durch den Zeilensensor 4 abzubilden, vorgenommen, während Bezug auf 10 genommen wird. Diese Abbildung wird entsprechend einem Programm, eingesetzt in dem Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 des Personalcomputers, gesteuert. Der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 stellt zuerst eine Messposition j = 0, k = 0 durch einen Kodierer (A1) ein, und erkennt diese Messposition j = 0 als eine Koordinate X = 0, Y = 0 (0, dy × j). Das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 wird zu dieser XY-Koordinate 0, 0 durch die Bewegungseinrichtung 2 bewegt (A2). Diese XY-Koordinatenposition (0, 0) ist die untere linke Ecke 11a in dem Messbereich 11, dargestellt in 7, wobei der Punkt ein Startpunkt zum Starten einer Abbildung ist.
  • Nun nimmt, in dem Fall, dass ein Startpunkt der Abbildungsposition an der unteren linken Ecke 11a des Messbereichs 11 eingestellt ist, der Bedienungsverarbeitungsabschnitt 51 eine Fokuseinstellung (Brennweiten-Einstellung) durch die Fokussiereinrichtung 331 vor. In dem Fall, dass man außerhalb des Fokus liegt, werden die drei Ultraschallmotoren 61 mit dem selben Betrag angetrieben, um eine Fokuseinstellung durchzuführen (A3). Wie nämlich in 11 dargestellt ist, wird hier die Fokuseinstellung gestartet (B1). Der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 bestimmt, aus den Informationen, erhalten von der Fokussiereinrichtung 331, ob der Betrag außerhalb des Fokus gleich zu oder größer als ein zulässiger Betrag ist (B3). Es wird angenommen, dass der Betrag außerhalb des Fokus gleich zu oder größer als ein zulässiger Betrag ist. In dem Fall, dass die Abweichung nahe ist (B2), werden die Abtriebswellen 61a der drei Ultraschallmotoren 61 des Kipptischs 6 um den Betrag entsprechend zu der Abweichung erniedrigt (B3), was demzufolge die geeignete Brennweite einstellt. Umgekehrt werden, in dem Fall, dass die Abweichung weiter weg liegt, die Abtriebswellen 61a der drei Ultraschallmotoren 61 des Kipptischs 6 um den Betrag entsprechend zu der Abweichung angehoben (B5). Dann wird ein X-Achsenbewegungsbetrag dx = 0 eingestellt (A4), um ein Zeilenbild, aufgenommen durch den Zeilensensor 4, in der Messposition 0, 0 aufzuzeichnen, und die Bewegungseinrichtung 2 wird gestartet, um sich unter einer konstanten Geschwindigkeit in der X-Richtung zu bewegen (A5). Der Bewegungsbetrag der Bewegungseinrichtung 2 wird durch den Kodierer gemessen und die Daten werden zu dem Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 geschickt. Wenn der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 bestimmt, dass die Bewegungseinrichtung 2 den Messbereich 11 mit einer Messbreite eines Zeilensensors 4 in der X-Richtung bewegt hat (A6), wird ähnlich ein Zeilenbild des Zeilensensors 4 in der zweiten Messposition aufgezeichnet (1 dx, 0). Der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 fügt 1 zu k jedesmal hinzu, wenn eine Aufzeichnung mit nur einer Zeile vorgenommen wird (A8). Der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 zeichnet aufeinanderfolgende Zeilenbilder auf, unter Berücksichtigung eines Bereichs einer Spalte, die eine Länge L in der X-Richtung besitzt, bis sich die Bewegungseinrichtung 2 unter einer konstanten Geschwindigkeit in der X-Richtung bewegt und die Messposition zu der unteren, rechten Ecke des Messbereichs 11, dargestellt in 7, kommt.
  • In dem Fall, dass das Zeilenbild in einem Umfang von k Zeilen, oder 25% der Länge L in der X-Richtung (entsprechend zu dem Bereich k der 7), aufgezeichnet worden ist (A9), führt der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 eine Ätz-Pit-Merkmal-Betrag-Extraktion in einem Umfang des Bereichs k entsprechend zu einer Zeilenbildaufzeichnung (A10) aus. Nach einer Ätz-Pit-Extraktion wird k auf k = 0 eingestellt (A11). Die Ätz-Pit-Merkmal-Betrag-Extraktion wird wie folgt ausgeführt: der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 erkennt eine Ätz-Pit-Form in einem Bild innerhalb des Bereichs k, stellt ihn mit einem zuvor aufgezeichneten Ätz-Pit-Muster zusammen und vergleicht ihn, um eine Ätz-Pit-Art zu bestimmen, um dadurch die auf der Art basierende Menge zu totalisieren und aufzuzeichnen. Der Betriebsverarbeitungabschnitt 51 führt nämlich, während das Zeilenbild in einer Länge L in einer X-Richtung aufgezeichnet wird, eine Ätz-Pit-Merkmal-Betrag-Extraktion zu jedem Zeitpunkt aus, zu dem Daten in 25% der Länge L eingegeben sind, und zwar in Abhängigkeit von den eingegeben Daten gleichzeitig mit einem Zeilenbildaufzeichnungsvorgang. Dementsprechend wird, wenn das Abtasten über einen Bereich einer Spalte, die eine Länge L besitzt, endet, eine Ätz-Pit-Merkmal-Betrag-Extraltion viermal ausgeführt.
  • Wenn ein Hereinnehmen der Daten, abgebildet an der untersten Stufe des Messbereichs 11, d.h. Y = 0, abgeschlossen ist (A12), beendet der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51 den Fokuseinstellungsvorgang (A13) und stellt j = 1 zu dem Codierer ein (A14) und bewirkt, dass die Bewegungseinrichtung 2 die Messposition zu einer Position der XY-Koordinate = L, Y = dY (L, dY × j) bewegt. Diese Position ist eine Position, die nach rechts um L in der X-Richtung von der unteren, linken Ecke 11a des Messbereichs 11, dargestellt in 7, liegt und um eine Länge eines Zeilensensors 4 in der Y-Richtung bewegt wird. Dann werden, in einer Position der Y-Koordinate = dY, Zeilenbilder sequenziell von einem rechten Ende zu einem linken Ende des Messbereichs 11 herangezogen. Auf diese Art und Weise bewegt, während sequenziell die Abtastungsrichtung der Zeilenbilder von rechts nach links oder von links nach rechts geändert wird, der Betriebsverarbeitungabschnitt 51, zu Anfang, den Zeilensensor 4 zu einem neuen Abbildungsbereich, wobei Zeilenbilder sequenziell zusammen mit Messkoordinaten aufgezeichnet werden. Beim Errei chen von j > n (A15) bestimmt der Betriebsverarbeitungsabschnitt 51, dass der gesamte Bereich des Messbereichs abgebildet worden ist, und bewirkt, dass der Anzeigeabschnitt 52 eine Konsolidierung dessen Extraktionsergebnisses und eine Anzeige des gesamten Bereichs anzeigt (A16).
  • Dabei wird, in der vorstehenden, aufeinanderfolgenden Abbildung, die Abweichung von einer Brennweite zu jedem Zeitpunkt durch den vorstehenden Vorgang geprüft, was als Fokuseinstellung bezeichnet wird. In dem Fall, dass eine Abweichung eines zulässigen Betrages, oder größer, vorhanden ist, wird eine Brennweiteneinstellung vorgenommen. Dabei nimmt der Zeilensensor sequenziell Zeilenbilder auf, wenn sich der Bildbereich nach links oder nach rechts um eins, so wie das vorstehend angeführt ist, bewegt. Dementsprechend muss die Brennweiteneinstellung eines Zeilenbilds, die vorgenommen werden soll, zuvor abgeschlossen sein, bevor das Zeilenbild aufgenommen wird, d.h. bevor der Bildbereich eine Bewegung beendet. Um dies zu realisieren, muss der Laserfleck, dargestellt in 4, zu allen Zeiten auf eine vorhergehende Position zu dem Abbildungsbereich B des sich bewegenden Zeilenbildes pojiziert werden. Zum Beispiel ist in dem Fall, dass sich der Bildbereich B des Zeilenbildes nach rechts bewegt, ein Erfordernis vorhanden, einen Laserfleck zu der rechts nächsten Position C1 dieses Abbildungsbereichs B zu projizieren. In dem Fall, dass sich der Abbildungsbereich B des Zeilenbildes nach links bewegt, ist ein Erfordernis vorhanden, einen Laserfleck auf die nach links liegende, nächste Position C2 dieses Abbildungsbereichs B zu projizieren.
  • Dabei wird, wie vorstehend angegeben ist, in dem Fall, dass das Zeilenbild aufgrund des Zeilensensors 4 eine Abbildung um eine Spalte in der X-Richtung abgeschlossen hat, das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 um einen Betrag von einer Zeilensensorlänge in der Y-Richtung durch die Bewegungseinrichtung 2 bewegt, wieder unter Wiederholen der Abbildung einer Spalte in der X-Richtung. In diesem Fall ist, wenn die Bewegung in der X-Richtung immer in der selben Richtung vorliegt, z.B. von links nach rechts, ein Erfordernis nach einer Betätigung, an jeder Spalte, so vorhanden, um das Spurerfassungs-Feststoffmaterial 1 zu dem linken Ende hin zurückzuführen. Dementsprechend wird eine genaue Abbildung durch ein Ändern der Bewegungsrichtung in X-Richtung basierend auf jeder Spalte in einer Zickzack-Bewegung möglich gemacht, z.B. einer Bewegung von rechts nach links, am nächsten zu der Bewegung von links nach rechts.
  • In dem Fall einer Zickzack-Bewegung ähnlich hierzu ist eine Notwendigkeit vorhanden, eine Laserfleck-Projektionsposition in Abhängigkeit von einer Vorschubrichtung davon zu ändern, wie es vorstehend angegeben ist. Allerdings erfordert die Änderung einer Laserfleck-Projektionsposition durch einen Satz eines Lichtprojektions- und Lichtempfangsabschnitts eine extrem komplizierte Umschaltstruktur. Aus diesem Grund wendet die Erfindung zwei Sätze von Lichtprojektionsabschnitten 331b, 331d und Lichtempfangsabschnitten 331a, 331c an, wodurch eine Struktur einer getrennten Nutzung für eine Änderung in einer Vorschubrichtung eingesetzt wird.
  • Dabei ist die Struktur des Zeilensensors 4 nicht auf den Fall einer Anordnung von CCDs, eine nach der anderen, in der Anzahl von ungefähr 40000, begrenzt, sondern mehrere, in jedem davon, können noch länger angeordnet werden. Auch kann die kleinere Größe jedes Pixels des Zeilensensors 4 ein Bild mit einer höheren Auflösung annehmen. Allerdings kann, in dem Fall einer Verwendung der größeren Größe an Pixeln, durch Erhöhen der Vergrößerung der Abbildung, ein Bild mit einer ausgezeichneten Auflösung aufgenommen werden. Unter Bestimmung einer Ätz-Pit-Art wird eine Totalisierung der auf der Art basierenden Mengen, und dergleichen, unter Berücksichtigung der Verringerung der Verarbeitungszeit, durch einen Vorgang ausgeführt, der basierend auf einem vorbestimmten Bereich des Messbereichs 11, wie es vorstehend angegeben ist, durchgeführt wird, z.B. basierend auf einem 25% Teil eines Spaltenbereichs, der eine Länge L besitzt, für eine Endtotalisierung. Allerdings ist es möglich, die Batch-Weise auszuführen, nachdem ein Bild durch einen Spaltenbereich erhalten wird oder ein Zeilenbild über den gesamten Bereich eines Messbereichs erhalten wird.
  • Dabei ist es einfach, ein aufgenommenes Bild von dem zweidimensionalen CCD-Sensor 332 oder ein Laserfleck-Reflexionsbild auf dem Anzeigeabschnitt 53 anzuzeigen, so dass die Bewegungseinrichtung 2 oder der Kipptisch 6 durch eine manuelle Eingabe von der Eingabeeinrichtung 52 eingestellt werden kann, während der Anzeigebildschirm betrachtet wird.
  • Dabei ist der zweidimensionale CCD-Sensor 332 nicht hierauf beschränkt, sondern kann eine sogenannte Festkörper-Abbildungsvorrichtung, wie beispielsweise ein CMOS-Sensor, sein.
  • [Effekt der Erfindung]
  • Da die Lichtprojektionsposition einer Lichtprojektionseinrichtung in der Nähe eines Bereichs einer Abbildung eines Zeilensensors vorgesehen ist, wird eine Fokuseinstellung korrekt unter Heranziehen eines Bilds durch den Zeilensensor vorgenommen. Auch ist, wenn zwei Lichtprojektionseinrichtungen in einer Vorwärtslichtprojektionseinrichtung und einer Rückwärtslichtprojektionseinrichtung vorgesehen sind, gerade wenn der Zeilensensor bi-direktional alternierend links und rechts abgetastet wird, eine Fokuseinstellung vor dem Abbildungsbereich durch den Zeilensensor möglich. Demzufolge wird die Fokuseinstellung korrekt vorgenommen.
  • Auch ist, da die Brennweite durch die Einstelleinrichtung zum Einstellen einer Neigung des Trägeruntersatzes eingestellt wird, dabei kein Erfordernis vorhanden, zwei Einstelleinrichtungen zur Neigungseinstellung und Fokuseinstellung vorzunehmen, was demzufolge die Struktur einfach gestaltet. Hierdurch kann ein präzises Bild genau durch die einfache Struktur aufgenommen werden.
  • Auch ist dabei sowohl der Zeilensensor als auch der zweidimensionale CCD-Sensor vorgesehen. Durch den Zeilensensor kann ein Probebild schnell erstellt werden. Unter Verwendung des zweidimensionalen CCD-Sensors, geeignet zum Aufnehmen eines Bilds einer zweidimensionalen Spreizung, kann ein in der Probe befindlicher Abbildungsbereich schnell und einfach eingestellt werden.

Claims (7)

  1. Mikroskopvorrichtung, die umfasst: ein Mikroskop (3), das einen Zeilensensor (4) zum Abbilden einer Probe (1) umfasst; eine Bildverarbeitungseinrichtung (5), die ein Bild der Probe (1) aus den durch den Zeilensensor (4) erfassten Zeilenbilddaten (B) erzeugt; wobei das Mikroskop (3) eine Fokussiereinrichtung mit einer Lichtprojektionseinrichtung (331) aufweist; die Fokussiereinrichtung (331) eine Projektionsposition (c1, c2) auf der Probe (1) in einer Nähe eines durch den Zeilensensor (4) abzubildenden Bereiches schafft.
  2. Mikroskopvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtprojektionseinrichtung (331) so konfiguriert ist, dass die Projektionsposition (c1, c2) vor dem durch den Zeilensensor (4) erfassten Zeilenbild (B) liegt, wenn sich die Probe relativ zu der Mikroskopvorrichtung bewegt.
  3. Mikroskopvorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Lichtprojektionseinrichtung (331) eine Vorwärts-Lichtprojektionseinrichtung (331a, 331b), die Licht so projiziert, dass die Projektionsposition (c1) auf der Probe (4) vor dem durch den Zeilensensor (4) erfassten Zeilenbild (B) liegt, wenn sich die Probe (1) relativ zu dem Mikroskop (3) in einer Richtung bewegt, und eine Rückwärts-Lichtprojektionseinrichtung (331c, 331d) umfasst, die Licht auf eine Projektionsposition (c1) projiziert, die hinter dem durch den Zeilensensor (4) erfassten Zeilenbild (B) angeordnet ist, wenn sich die Probe (1) in der gleichen Richtung bewegt.
  4. Mikroskopvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, die des Weiteren umfasst: einen Trägeruntersatz (6), der die Probe (1) trägt; und wobei das Mikroskop (3) zum Vergrößern der Probe (1) konfiguriert ist; der Zeilensensor (4) so ausgeführt ist, dass er die vergrößerte Probe als ein Zeilenbild abbildet; und der Trägeruntersatz (6) eine Einstelleinrichtung (61) zum Einstellen einer Neigung desselben und einer Brennweite des Mikroskops (3) umfasst.
  5. Mikroskopvorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Einstelleinrichtung (61) vertikale Positionen an wenigstens drei Punkten des Trägeruntersatzes (6) einstellt.
  6. Mikroskopvorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Einstelleinrichtung (61) durch ein Signal von der Fokussiereinrichtung (331) gesteuert wird.
  7. Mikroskopvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, die des Weiteren umfasst: ein zweidimensionales CCD-Element (332) zum Abbilden einer Bilderzeugungsposition des Zeilensensors (4).
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