DE60110344T2 - Instrument und Verfahren zum Vergleichen von Wellenformen - Google Patents

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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22Circuits therefor
    • G01R13/34Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
    • G01R13/345Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying sampled signals by using digital processors by intermediate A.D. and D.A. convertors (control circuits for CRT indicators)

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Description

  • Gebiet der Erfindung
  • Die Erfindung betrifft im allgemeinen eine Test- und Meßausrüstung und betrifft insbesondere die Verarbeitung von Datenerfassungen mit langer Datensatzlänge in einem Oszilloskop oder dergleichen.
  • Hintergrund der Erfindung
  • Oszilloskope, die in der Lage sind, Erfassungen mit langer Datensatzlänge (d.h. typischerweise von 8 MBits bis 64 MBits) zu erfassen, sind auf dem Fachgebiet bekannt. Das erwünschte Merkmal der langen Datensatzlänge ist leider auch die Quelle für ein Problem. Bisher gab es keine leichte Art und Weise, um einen solchen langen Datensatz zu durchsuchen, um eine Anomalie aufzufinden, die an einem gewissen Punkt im erfaßten Signal vorliegen kann. Eine visuelle Durchsuche eines Datensatzes mit 32 MBit, der mit einer Rate von 500 Punkten pro Sekunde angezeigt wird, würde beispielsweise 17 Stunden dauern. Man zweifelt an der Fähigkeit von auch den geduldigsten Oszilloskopbedienpersonen, ihre Aufmerksamkeit für eine so lange Zeit beizubehalten.
  • Einige modernen Oszilloskope sind mit einem Drucker ausgestattet, der in ihrem Gehäuse enthalten ist, um Oszilloskopspuren und -daten auf einer Papierrolle auszudrucken. Man könnte denken, daß die Lösung für das vorstehend beschriebene Problem darin bestünde, nur die Wellenform mit langer Datensatzlänge auszudrucken und dann die Papierspur zu untersuchen. Berechnungen zeigen jedoch leider, daß, um selbst einen Datensatz mit 8 MBit auszudrucken, dies einen Papierausdruck in der Größenordnung einer Länge von mehreren Meilen erfordern würde.
  • US-A-5999163 beschreibt ein Verfahren zum Analysieren von Wellenformen durch Umwandeln eines erfaßten elektrischen Signals in einen Strom von digitalen Datenpunkten, sequentielles Speichern jedes Datenpunkts in einer Speichervorrichtung, Analysieren jedes Datenpunkts mit einer Maske oder Schablone, um festzustellen, ob der Datenpunkt ein anomaler Datenpunkt außerhalb eines vorgewählten Bereichs, der durch die Maske oder Schablone festgelegt ist, ist, Wiederholen der obigen Schritte für jeden Datenpunkt, bis ein anomaler Datenpunkt identifiziert ist, Stoppen der Erfassung von Datenpunkten kurz, nachdem der anomale Datenpunkt identifiziert wird, und dann Anzeigen der anomalen Datenpunkte zusammen mit umgebenden Datenpunkten aus dem Speicher.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Die Aspekte der vorliegenden Erfindung sind in den zugehörigen Ansprüchen dargelegt.
  • Ein Verfahren gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird unter Verwendung eines Gattervergleicher-Bedienfeldes durchgeführt, das einem Benutzer ermöglicht, bis zu vier verschiedene Gatterbereiche festzulegen, die an irgendeiner der aktiven Wellenformen, mathematischen Wellenformen oder REF-Wellenformen vorhanden sein können. Ein Menü für jedes Gatter steuert die Position jedes Gatters und wählt die Quelle für das Signal aus, das gattergesteuert werden soll. Alle Gatter müssen die gleiche Breite aufweisen. Eine Anwendung hoher Ebene kopiert den gattergesteuerten Bereich einer Wellenform in einen REF-Speicher. Das Gatter 1 würde beispielsweise in REF 1 gehen, das Gatter 2 in REF 2 und so weiter. Ein vom Benutzer einstellbarer Toleranzwert wird verwendet, um festzustellen, ob die Differenz zwischen den Wellenformen der Gatter einen Punkt erreicht, an dem eine Verletzung angezeigt wird. Eine Hauptgatter-Positionssteuerung bewirkt, daß sich alle Gatter um das gleiche Ausmaß bewegen, wobei folglich ein konstanter Abstand zwischen ihnen aufrechterhalten wird. Eine Hauptgatter-Breitensteuerung bewirkt, daß alle Gatter die Breite ändern. Betriebs-, Pause- und Stopmenüpunkte werden verwendet, um zu steuern, wie die Gatter automatisch durch die Wellenformen, denen sie beigefügt sind, abtasten, und um einen konstanten Abstand zwischen ihnen aufrechtzuerhalten. Ein Vergleich wird auf einer punktweisen Basis zwischen den Signalen der Gatter durchgeführt.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnung
  • 1 ist eine Darstellung einer Bildschirmanzeige, die zwei Bezugswellenformen und ein Gattervergleicher-Bedienfeld gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • 2 ist eine Darstellung einer Bildschirmanzeige, die zwei aktive Gatter und einen Gattervergleicher im Betrieb gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt.
  • 3 ist eine Darstellung, die zeigt, daß vier Gatter an einer oder mehreren Wellenformen festgelegt werden können, gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • 4A und 4B sind Darstellungen, die die gattergesteuerten Bereiche von 3, nachdem sie in einen Bezugsspeicher kopiert wurden, gemäß der vorliegenden Erfindung zeigen.
  • 5 ist eine Darstellung eines Gattervergeleicher-Steuerbildschirms gemäß der vorliegenden Erfindung.
  • 6 ist ein vereinfachtes Diagramm hoher Ebene von einem Oszilloskop, das zur Verwendung bei der vorliegenden Erfindung geeignet ist.
  • Ausführliche Beschreibung des Ausführungsbeispiels
  • Der zu beschreibende Gattervergleicher wird vorzugsweise in einer JAVA®-Anwendungssoftware realisiert, die auf einem Windows®-Betriebssystem eines modernen Oszilloskops läuft.
  • 1 ist eine Darstellung einer Bildschirmanzeige 100, die zwei Bezugswellenformen in einem Wellenformanzeigebereich 110 und ein Gattervergleicher-Bedienfeld in einem Steuerbereich 115 zeigt. Es sind vier auswählbare Gattersteuerungen (d.h. Meßfenstersteuerungen), Gatter 1, Gatter 2, Gatter 3 und Gatter 4 vorhanden. Gatter 1 wird als Bezugsgatter Ref-Gatter betrachtet. Das Bedienfeld von 1 wird verwendet, um die Arbeitsparameter für Ref-Gatter (und die anderen Gatter Gatter 2, Gatter 3, Gatter 4, falls erwünscht) festzulegen. Die Wellenformanzeige von 1 gibt an, daß zwei Gatter, Gatter 1 und Gatter 2, aktiv sind, die Bezugswellenformen R1 bzw. R2 erzeugen.
  • Dieser Steuerbildschirm weist "Funktionstasten" für die Funktionen Betrieb 140, Stop 145, Pause 150 und Rücksetzen 155 zum Steuern einer "Durchlaufbetriebsart" auf, die wie eine Standard-Bandgerätsteuerung arbeitet. Die Geschwindigkeitsauswahl für die Durchlaufbetriebsartabtastung ist auch über eine Steuerung 160 zum Auswählen der Schrittweite vorgesehen.
  • "Durchlaufbetriebsart" bedeutet in diesem Zusammenhang, die Gatter durch eine gespeicherte Wellenform zu bewegen. Da jedes Gatter so bemessen ist, daß es der Anzeigebildschirmbreite entspricht, bewegt sich die Wellenform horizontal auf dem Bildschirm in derselben Weise wie die Durchlaufbetriebsarterfassung die Daten anzeigt. Das heißt, nach Ausrichtung der Gatter an den zwei Wellenformen, durchschreiten beide Gatter die beiden Wellenformen synchron, wobei sie den Vergleich im Fluge durchführen. In dieser Weise wird die Vergleichszeit von 17 Stunden auf einige Minuten verringert.
  • 2 ist eine Darstellung, die den Effekt des Einschaltens des Gattervergleichers zeigt. 2 zeigt die zwei Bezugswellenformen R1 und R2 und die Anzeige M1 der Gattervergleichsbereiche. Wenn der Gattervergleicher eingeschaltet ist, wird der Wert des Signals innerhalb aller anderen aktiven Gatter (d.h. der anderen Gatter, die auch eingeschaltet sind) vom Wert des Signals innerhalb des Gatters 1 auf einer punktweisen Basis subtrahiert, um eine Differenz zu erzeugen. Dieser Abtastprozeß bewirkt, daß sich alle Gatter zusammen entlang eines Signals bewegen, um ihren konstanten Abstand zwischen ihnen aufrechtzuerhalten.
  • Wenn die Differenz größer ist als ein vom Benutzer einstellbarer Vergleichertoleranzwert, dann ist eine Verletzung aufgetreten. Der Benutzer wird über Verletzungen informiert. Wenn eine Verletzung auftritt, während die Gatter automatisch abgetastet werden, dann wird der Abtastzustand auf Pause gesetzt und das Gatter wird derart positioniert, daß der Punkt, der die Verletzung verursacht, in der Mitte des Gatters liegt. Andere Angaben können verwendet werden, um zu zeigen, daß Verletzungen aufgetreten sind.
  • Mit Bezug auf Messungen und Wellenformmathematik können auf die gattergesteuerten Bereiche, die in REF-Speichern (später zu beschreiben) gespeichert werden, Messungen angewendet werden. Außerdem können sie innerhalb mathematischer Wellenformausdrücke verwendet werden. Dieses Merkmal ist durch die Gleichung, die an der Unterseite der Bildschirmanzeige von 2 angezeigt ist, gezeigt.
  • 3 zeigt, daß vier gattergesteuerte Bereiche an einer oder mehreren Wellenformen festgelegt werden können. In diesem Fall werden zwei gattergesteuerte Bereiche an jeder Wellenform festgelegt. In diesem Beispiel umfassen die festgelegten gattergesteuerten Bereiche Gatter 1, Gatter 2, Gatter 3 und Gatter 4 Signalanomalien, die für diesen speziellen Benutzer von Interesse sein können. Die Daten innerhalb jedes gattergesteuerten Bereichs werden in einen Bezugsspeicher innerhalb des Oszilloskops kopiert. Der Benutzer kann die Quellenwellenform, an dem sich jedes Gatter befindet, auswählen. Unter Rückbezug auf 1 beachte man, daß der Benutzer die horizontale Position des Gatters an der gewählten Wellenform mittels Cursors, die durch Gleitsteuerungen 130 gesteuert werden, oder durch andere Einrichtungen wie z.B. einen Knopf einstellen kann. Der Benutzer kann auch die Breite der Gatter über eine Gatterbreitensteuerung einstellen.
  • Die 4A und 4B sind Darstellungen, die die gattergesteuerten Bereiche von 3 zeigen, nachdem sie in einen Bezugsspeicher gemäß der vorliegenden Erfindung kopiert wurden. Man beachte, daß nur die gattergesteuerten Teile der Daten in den Bezugsspeichern gespeichert werden. In dieser Weise wird die Effizienz von Messungen und der Wellenformmathematik verbessert, da nur die interessierenden Daten in der Messung oder den mathematischen Berechnungen enthalten sind.
  • Es ist wichtig zu beachten, daß die vorliegende Erfindung für eine Universalverwendung durch irgendeine Bedienperson, die mit langen Datensätzen arbeitet, geeignet ist. Diese Erfindung ist jedoch zum direkten Angehen der Bedürfnisse von Plattenlaufwerk-Testingenieuren besonders nützlich. Es wird beispielsweise in Erwägung gezogen, daß ein Plattenlaufwerk-Testingenieur typischerweise ein bekanntes gutes PRML-Lesekanalsignal in einem REF 4 Speicherschlitz speichern würde. Die Verwendung von REF 1 für diesen Zweck sollte vermieden werden, da er als Bezugsgatter verwendet wird. Da wir ein Gatter auf dieses bekannte gute PRML-Signal in REF4 anwenden wollen, müssen wir das Gatter 4 abschalten, da seine Ausgabe normalerweise in REF 4 geht. Als nächstes setzen wir die Quelle für das Gatter 1 auf REF 4. Als nächstes würden wir die Quelle für das Gatter 2 auf den Kanal 1 CH1 setzen, welcher das Lesekanalsignal enthält.
  • Es wird angenommen, daß eine Auslösefunktion zweckmäßig aufgestellt wurde und daß dasselbe Muster vom Plattenlaufwerk gelesen wird, wie vorher in REF 4 gespeichert wurde. Man beachte, daß der Benutzer das Gatter 1 an REF 4 und das Gatter 2 an CH1 positionieren kann, bis sie zum Vergleich zweckmäßig ausgerichtet sind. Um die zwei Wellenformen automatisch zu vergleichen, wird dann der Gattervergleicher eingeschaltet und die Betriebstaste wird gedrückt. Der Benutzer könnte auch nur durch die Daten abtasten, um die Wellenformen visuell zu vergleichen, indem die Hauptpositionssteuerung für alle Gatter gedreht wird. Außerdem kann der Benutzer Messungen für die gattergesteuerten Daten im Gatter 1 und Gatter 2 festlegen.
  • Dieses Gattervergleichersystem ist als ganzes genommen in seiner Organisation der Gattersteuerungen und Funktionalität einzigartig. Frühere Oszilloskope weisen keine einzige Einheit auf, die Gattervergleicher genannt wird, wie hierin beschrieben. Solche früheren Oszilloskope erfüllen ein etwas gattersteuerungsartiges Merkmal durch Definieren einer mathematischen Wellenform. Das heißt, dem Benutzer wird ermöglicht, Zoomwellenformen zu erzeugen. Jede wird in einem mathematischen Wellenformschlitz gespeichert, was die Verwendung von diesem Schlitz für eine mathematische Funktion ausschließt. Wenn vier Zoomwellenformen definiert werden, können sie folglich dann nicht in mathematischen Wellenformenfunktionen verwendet werden. Im Gegensatz dazu kann die vorliegende Erfindung Gattersteuerungsfunktionen ohne Blockieren der Wellenformschlitze verwenden, während die Fähigkeit, mathematische Funktionen zu verwenden, bewahrt wird.
  • In den Oszilloskopen des Standes der Technik muß der Benutzer, um die Gatter zusammen zum Rollen zu synchronisieren und dennoch den horizontalen Versatz zwischen ihnen, der gewählt wurde, aufrechtzuerhalten, zu noch einem weiteren Menü navigieren. Die vorliegende Anmeldung beseitigt diese Schwierigkeit durch Gruppieren aller erforderlichen Steuerungen auf einem einzelnen Gattervergleicher-Bedienfeld.
  • Einige Oszilloskope des Standes der Technik weisen ein Merkmal auf, das als automatisches Rollen bekannt ist. Automatisches Rollen ermöglicht einem Benutzer, zu bewirken, daß die gesamte Länge der Datensätze für einen rein visuellen Vergleich durch den Benutzer automatisch auf dem Bildschirm vorbeirollt. Der Benutzer kann auch die Geschwindigkeit einstellen, mit der das Rollen stattfindet. Wie vorstehend angemerkt, würde, wenn dieses automatische Rollen gesetzt wird, um mit einer Rate von 500 Punkten pro Sekunde anzuzeigen, eine visuelle Durchsuche eines Datensatzes mit 32 MBit (Megabit) 17 Stunden dauern. Es ist wichtig zu beachten, daß in den Oszilloskopen des Standes der Technik mit langer Datensatzlänge keine automatische Einrichtung zum Vergleichen der gezoomten Bereiche der Bezugs- und der "aktiven" Wellenform vorhanden ist, wie in der vorliegenden Anmeldung beschrieben. Das heißt, die Toleranz- und Vergleichsmerkmale der vorliegenden Erfindung sind in den Oszilloskopen des Standes der Technik mit langer Datensatzlänge nicht vorhanden.
  • Eine weitere Gattervergleicher-Steuerbildschirmanzeige ist in 5 gezeigt. Die Merkmale dieses Steuerbildschirms sind folgendermaßen. Es ist ein Steuermenü für jedes von vier Gattern, Gatter 1, Gatter 2, Gatter 3 und Gatter 4, vorhanden. Jedes Gattermenü ermöglicht einem Benutzer, eine Quellenwellenform für das Gatter und eine Position für das Gatter an dieser Wellenform zu wählen. Außerdem ist eine Ein/Aus-Steuerung für jedes Gatter vorhanden. Dieser Steuerbildschirm weist auch Funktionstasten für Betriebs-, Pause- und Stopfunktionen, zum Steuern einer "Durchlaufbetriebsart", die wie eine Standard-Bandgerätsteuerung funktioniert, auf. Die Geschwindigkeitsauswahl für die Durchlaufbetriebsartabtastung ist auch über die Steuerung zum Auswählen der Schrittweite vorgesehen.
  • Es wird in Erwägung gezogen, daß Softwareauslösemenüs einen Teil des Gattervergleichers bilden können. In dieser Weise kann das Durchlaufbetriebsartrollen beispielsweise so gesetzt werden, daß es an den Kanten stoppt. Andere Arten von Softwareauslösebetriebsarten, wie z.B. Betriebsauslöser, können auch in das Gattervergleicher-Menüsystem integriert werden.
  • Man beachte, daß die Steuerungen entlang der Oberseite des Steuerbildschirms von 5 angeordnet sind. Diese sind Hauptsteuerungen, die die Einstellungen aller Gatter beeinflussen. Das heißt, die Einstellung der Hauptgatter-Positionssteuerung bewegt alle Gatter um dasselbe Ausmaß, während zwischen ihnen ein konstanter Abstand beibehalten wird. Ebenso steuert die Hauptbreitensteuerung die Breite aller Gatter und eine gemeinsame Toleranz kann auf alle Gatter über die Haupttoleranzsteuerung angewendet werden.
  • 6 ist ein vereinfachtes Blockdiagramm eines modernen digitalen Oszilloskops 600, das zum Ausführen der vorliegenden Erfindung nützlich ist. Es umfaßt einen Eingang 601 zum Erfassen eines Signals von einer getesteten Schaltung. Das "Vorderende" umfaßt eine Auslöseschaltung 605 zum Erzeugen von Auslösesignalen, die an ein Erfassungssystem 610 angelegt werden sollen.
  • Das Erfassungssystem 610 erfaßt kontinuierlich digitale Signalabtastwerte und speichert sie als Reaktion auf Auslösesignale in einem Erfassungsspeicher 615. Der Erfassungsspeicher 615 liefert Signalabtastwerte zum Rasterisierer 620 zur Verarbeitung, Speicherung im Rasterspeicher 622 und zur letztlichen Anzeige. Eine mehr analogartige Anzeige wird mittels der Anordnung eines Rasterkombinators 625 und von Rasterspeichern 630, 635 erhalten, die das gefällige Abklingen der angezeigten Signale ermöglicht. Das Ausgangssignal dieser Anordnung wird auf einem Anzeigebildschirm 640 des Oszilloskops angezeigt. Das Oszilloskop arbeitet unter der Steuerung von zwei Steuereinheiten, einer Prozeßsteuereinheit 650 und einer Systemsteuereinheit 660. Die Systemsteuereinheit 660 koppelt mit den Bezugsspeichern REF-Speicher 1 REF 1, REF-Speicher 2, REF 2, REF-Speicher 3 REF 3 und REF-Speicher 4 REF 4.
  • Im Betrieb werden die Daten innerhalb eines Gatters bei jeder Erfassungsaktualisierung zum entsprechenden REF-Speicher im Oszilloskop bewegt, wenn das Gatter eingeschaltet ist. Die Daten des Gatters 1 werden beispielsweise in REF 1 gegeben und die Daten des Gatters 4 werden in REF 4 gegeben. Dies verschwendet dann nicht die zur Verfügung stehenden Schlitze für die mathematische Wellenform, wie es bei den vorstehend erwähnten Oszilloskopen des Standes der Technik mit langer Datensatzlänge der Fall ist. Außerdem kann jeder REF-Speicher einen vollen Satz von Messungen eingeschaltet haben. Sie können auch in mathematischen Wellenformausdrücken verwendet werden.
  • Die REF-Speicherschlitze sind mehr als nur eine leichte Stelle zum Speichern von anzuzeigenden Daten. Da das Gatter so bemessen ist, daß es dem Fenster entspricht, erhält man einen automatischen Zoom auf die Bildschirmbreite des Wellenforminhalts des REF-Speichers. Wenn das Gatter auf eine ziemlich lange Datensatzlänge gesetzt ist, kann man immer noch nicht leicht eine Anomalie in der REF-Wellenform erkennen. In einem solchen Fall kann man einen Zoomkasten an der REF-Wellenform festlegen und tatsächlich einen Zoom auf einen Zoom erhalten. Die REF-Schlitze dienen auch zum Isolieren von Daten für Wellenformmessungen oder mathematische Wellenformanwendungen. Überdies kann der Inhalt der REF-Speicher in Dateien exportiert werden, falls erwünscht.
  • Was beschrieben wurde, ist ein erwünschtes Werkzeug zur Verwendung an allen Oszilloskopen mit langer Datensatzlänge, da es zum ersten Mal ein Werkzeug bereitstellt, um die riesige Menge an Daten, die in langen Datensätzen enthalten sind, leicht zu analysieren und mit dieser zurechtzukommen.
  • Obwohl der Gattervergleicher der vorliegenden Erfindung als vorzugsweise in einer JAVA®-Anwendungssoftware realisiert, die auf einem Windows®-Betriebssystem läuft, beschrieben wurde, soll die Erfindung nicht so eingeschränkt sein und soll eine Hardwareschaltung zum Durchführen der hierin beschriebenen Vergleichsfunktionen umfassen.
  • Ein Fachmann wird erkennen, daß die vorliegende Erfindung nicht auf digitale Daten begrenzt ist und gleichermaßen vorteilhaft ist, wenn sie mit analogen Daten verwendet wird.
  • Der Begriff "Gatter", wie hierin verwendet, ist mit dem Begriff "Fenster", wie auf einen Betrachtungszeitschlitz angewendet, der auf einen Teil einer Wellenform überlagert wird, synonym.
  • Hierin wird erkannt, daß die vorliegende Erfindung in anderen Instrumenten als einem Oszilloskop nützlich ist, wie z.B. einem Logikanalysator oder Spektralanalysator.

Claims (18)

  1. Test- und Meßinstrument mit: einer Schaltung zum Eingeben von Parametern, die zum Erfassen von Verletzungen vorbestimmter Parameter verwendet werden sollen; einer Schaltung zum Alarmieren eines Benutzers, wenn eine der Verletzungen erfaßt wird; einer Datenerfassungseinheit (610, 615) zum Erfassen eines Signals auf einem ersten Kanal; einer Verarbeitungsschaltung (620) zum Verarbeiten des Signals; einer Anzeigeschaltung (640) zum Anzeigen einer Wellenformdarstellung des Signals; und einem Bezugsspeicher (Ref 1, Ref 2, Ref 3, Ref 4) zum Speichern einer ersten Bezugswellenform; dadurch gekennzeichnet, daß: das erfaßte Signal ein Signal mit langer Datensatzlänge mit mindestens 8 MBit Daten ist; und das Instrument eine Vergleichsschaltung (650, 660) zum wiederholten Vergleichen von einem oder mehreren gattergesteuerten Teilen der gespeicherten ersten Bezugswellenform mit aufeinanderfolgenden gattergesteuerten Teilen des Signals zum Erfassen der Existenz von einer der Verletzungen durch Inkrementieren der Position eines Gatters entlang des Signals umfaßt, wobei die Alarmschaltung auf die Vergleichsschaltung reagiert.
  2. Test- und Meßinstrument nach Anspruch 1, wobei: der Vergleich zwischen dem Signal und der gespeicherten Wellenform in Echtzeit geschieht, während das Signal erfaßt wird.
  3. Test- und Meßinstrument nach Anspruch 2, wobei der Bezugsspeicher (Ref 1, Ref 2, Ref 3, Ref 4) eine zweite Bezugswellenform speichert; und die Vergleichsschaltung (650, 660) die erste und die zweite Bezugswellenform mit den Teilen des Signals zum Erfassen von einer der Verletzungen wiederholt vergleicht.
  4. Test- und Meßinstrument nach Anspruch 3, welches ferner umfaßt: eine Schaltung zum Auswählen von Teilen eines Bezugssignals unter Benutzersteuerung und zum Speichern eines ersten ausgewählten Teils im Bezugsspeicher (Ref 1, Ref 2, Ref 3, Ref 4) als erste Bezugswellenform oder zum Speichern eines zweiten ausgewählten Teils im Bezugsspeicher (Ref 1, Ref 2, Ref 3, Ref 4) als zweite Bezugswellenform oder beides.
  5. Test- und Meßschaltung nach Anspruch 1, wobei: die vorbestimmten Parameter durch einen Benutzer hinsichtlich der Anzahl von aktiven Gattern, der Gatterposition entlang der Bezugswellenform, der Gatterzeitbreite und der Toleranz definiert werden.
  6. Test- und Meßinstrument nach Anspruch 1, welches ferner umfaßt: einen Signalspeicher zum Speichern des Signals mit langer Datensatzlänge; wobei der Vergleich ein Vergleich zwischen dem gespeicherten Signal mit langer Datensatzlänge und der Wellenform ist, die als das Signal mit langer Datensatzlänge auftritt, das aus dem Signalspeicher ausgelesen wird.
  7. Test- und Meßinstrument nach Anspruch 6, wobei der Bezugsspeicher (Ref 1, Ref 2, Ref 3, Ref 4) eine zweite Bezugswellenform speichert; und die Vergleichsschaltung die erste und die zweite Bezugswellenform wiederholt mit den Teilen des gespeicherten Signals mit langer Datensatzlänge zum Erfassen von einer der Verletzungen vergleicht.
  8. Test- und Meßinstrument nach Anspruch 1, wobei die Bezugswellenform durch Positionieren eines Gatters an einem Bezugssignal definiert wird und das Gatter durch Benutzereinstellung einer Gatterpositionierungssteuerung, die von der Anzeigeschaltung angezeigt wird, positioniert wird.
  9. Test- und Meßschaltung nach Anspruch 1, wobei die Bezugswellenform und das Signal zeitlich abgeglichen sind und der gattergesteuerte Teil der Bezugswellenform und der gattergesteuerte Teil des Signals inkrementiert werden, um die Bezugswellenform und das Signal synchron zu durchschreiten.
  10. Test- und Meßschaltung nach Anspruch 1, wobei ein Teil der Bezugswellenform als gattergesteuerter Teil der Bezugswellenform gespeichert wird und der gattergesteuerte Teil der Bezugswellenform mit aufeinanderfolgenden gattergesteuerten Teilen des Signals verglichen wird.
  11. Verfahren zum Vergleichen einer gespeicherten Wellenform mit einem empfangenen Signal mit den Schritten: Eingeben von Parametern, die zum Erfassen von Verletzungen vorbestimmter Parameter verwendet werden sollen; Erfassen eines Signals auf einem ersten Kanal (CH1); Verarbeiten des Signals in einer Verarbeitungsschaltung (620); Anzeigen einer Wellenformdarstellung des Signals auf einer Anzeigevorrichtung (640); Speichern einer ersten Bezugswellenform in einem Bezugsspeicher (Ref 1, Ref 2, Ref 3, Ref 4); und Alarmieren eines Benutzers beim Erfassen von einer der Verletzungen; dadurch gekennzeichnet, daß: das erfaßte Signal ein Signal mit langer Datensatzlänge mit mindestens 8 MBits Daten ist; und gekennzeichnet durch den Schritt: wiederholtes Vergleichen von mindestens einem gattergesteuerten Teil der gespeicherten ersten Bezugswellenform mit aufeinanderfolgenden Teilen des Signals zum Erfassen der Existenz von einer der Verletzungen durch Inkrementieren der Position eines Gatters entlang des Signals.
  12. Verfahren nach Anspruch 11, wobei: der Schritt des wiederholten Vergleichens in Echtzeit stattfindet, während das Signal erfaßt wird.
  13. Verfahren nach Anspruch 12, welches ferner die Schritte umfaßt: Speichern einer zweiten Bezugswellenform im Bezugsspeicher (Ref 1, Ref 2, Ref 3, Ref 4); und wiederholtes Vergleichen der ersten und der zweiten Bezugswellenform mit den Teilen des Signals zum Erfassen von einer der Verletzungen.
  14. Verfahren nach Anspruch 13, welches ferner umfaßt: Auswählen von Teilen eines Bezugssignals unter Benutzersteuerung und Speichern eines ersten ausgewählten Teils im Bezugsspeicher (Ref 1, Ref 2, Ref 3, Ref 4) als erste Bezugswellenform oder Speichern eines zweiten ausgewählten Teils im Bezugsspeicher (Ref 1, Ref 2, Ref 3, Ref 4) als zweite Bezugswellenform oder beides.
  15. Verfahren nach Anspruch 11, wobei: die vorbestimmten Parameter durch einen Benutzer hinsichtlich der Anzahl von aktiven Gattern, der Gatterposition entlang der Bezugswellenform, der Gatterzeitbreite und der Toleranz definiert werden.
  16. Verfahren nach Anspruch 11, welches ferner die Schritte umfaßt: Speichern des Signals in einem Signalspeicher für eine lange Datensatzlänge, wobei das Signal ein Signal mit langer Datensatzlänge ist; Auslesen des Signals mit langer Datensatzlänge aus dem Signalspeicher; und wiederholtes Vergleichen von aufeinanderfolgenden Teilen des gespeicherten Signals mit langer Datensatzlänge mit der Wellenform, um eine der Verletzungen zu erfassen.
  17. Verfahren nach Anspruch 16, welches ferner die Schritte umfaßt: Speichern einer zweiten Bezugswellenform im Bezugsspeicher (Ref 1, Ref 2, Ref 3, Ref 4); und wiederholtes Vergleichen der ersten und der zweiten Bezugswellenform mit den aufeinanderfolgenden Teilen des gespeicherten Signals mit langer Datensatzlänge, um eine der Verletzungen zu erfassen.
  18. Verfahren nach Anspruch 11, welches ferner den Schritt umfaßt: Positionieren eines Gatters an einem Bezugssignal, um die Bezugswellenform zu definieren, wobei das Gatter durch Benutzereinstellung einer Gatterpositionierungssteuerung, die auf der Anzeigevorrichtung (640) angezeigt wird, positioniert wird.
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