DE4423705A1 - Strukturierte Leuchtfeldblende - Google Patents
Strukturierte LeuchtfeldblendeInfo
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Description
Die Anordnung und die Funktion von Leuchtfeldblenden im Köhlerschen Beleuch
tungsstrahlengang eines Durchlicht- oder Auflichtmikroskopes sind in der einschlägi
gen Fachliteratur, z. B. in "Beyer/Riesenberg - Handbuch der Mikroskopie, Verlag
Technik, 1988, S. 144 ff. und 279 ff." ausführlich beschrieben. Danach werden Leucht
feldblenden im Beleuchtungsstrahlengang eines Mikroskopes als bündelbegrenzende
optische Elemente eingesetzt, um im Mikroskop entstehendes Falschlicht so gering wie
möglich zu halten bzw. temperatur-, strahlungs- oder lichtempfindliche Objekte durch
eine Verringerung des Durchmessers des Lichtbündels zu schonen. In allen Fällen wird
bei den im Mikroskopstrahlengang angeordneten Leuchtfeldblenden lediglich der Rand
bereich des Beleuchtungslichtbündels beeinflußt und das zentrale Lichtbündel bleibt un
beeinflußt.
Die vorgeschlagene Erfindung betrifft eine strukturierte Leuchtfeldblende gemäß dem
Oberbegriff des Anspruches 1, wonach die Leuchtfeldblende so gestaltet (strukturiert)
ist, daß auch das zentrale Beleuchtungsbündel beeinflußt und somit am Objekt
bzw. in der Objektebene des Mikroskopes eine strukturierte Intensitätsverteilung des
einfallenden Lichtes entsteht, mit dem das Objekt beaufschlagt wird. Diese strukturierte
Beleuchtung kann unterschiedliche und erfindungsgemäß gewollte Effekte bewirken,
die sowohl dem Schutz temperatur-, licht- und strahlungsempfindlicher Objektbereiche,
z. B. bei biologischen Präparaten, dienen als auch der zielgerichteten Erfassung opti
scher und geometrischer Eigenschaften, was ebenfalls erfindungsgemäß in Wechsel
wirkung durch die strukturierte Beleuchtung verstärkt oder auch unterdrückt werden
kann.
Gemäß Anspruch 2 wird erfindungsgemäß die Möglichkeit geschaffen, beliebige Be
leuchtungsstrukturen in Form einer statistischen (z. B. sinus- oder rechteckförmigen)
oder einer stochastischen Verteilung von Blendenbereichen zu erzielen, wie es u. a.
durch ätztechnische oder lithografische Prozesse oder auch durch eine gezielte Ansteu
erung optoelektronischer Bauelemente gegeben ist.
Gemäß Anspruch 3, 4 und 5 ist erfindungsgemäß die Möglichkeit gegeben, die Leucht
feldblende aus einem optoelektronischen Bauelement, wie es z. B. LCD-Elemente dar
stellen und die Strukturierung rechnergesteuert und ggfs. in Abhängigkeit vom opti
schen oder geometrischen Zustand des Objektes wahrzunehmen, das zu diesem Zweck mit
einem Bildwandler aufgenommen und in einem vorverarbeitet bzw. analysiert sein
kann.
Anhand eines Ausführungsbeispieles für den Fall einer Auflichtbeleuchtung soll die Er
findung näher erläutert werden. Fig. 1 zeigt hierzu die Prinzipskizze einer Köhler
schen Beleuchtungsanordnung, wie sie üblicherweise in Durchlicht- und Auflichtmi
kroskopen zur Anwendung kommen. Danach erfolgt eine Abbildung der Leuchtfeld
blende 1 durch die Kollektorlinse 2 in die Aperturblende 3 und zwei Hilfslinsen 4 und 5
bilden dann die Aperturblende 3 und das Lichtquellenbild 6 nach Reflexion am Plan
glas 7 in die Objektivöffnung des Objektives 8 ab. Das Objektiv 8 bildet dann, als Kon
densor wirkend, die Leuchtfeldblende 1 auf der Objektoberfläche 9 ab. An der Objekt
oberfläche kommt es dann zur Wechselwirkung zwischen der strukturierten Lichtintensi
tät, verursacht durch die erfindungsgemäße Leuchtfeldblende und der vom Objekt re
flektierten Lichtintensität. Über die Linse 10 wird dann die resultierende Lichtintensität
zwecks visueller Beobachtung in das Okular abgebildet oder zwecks Verarbeitung mit
einem Bildverarbeitungssystem auf einem photoelektrischen Bildwandler.
Üblicherweise ist die Leuchtfeldblende 1 als Irisblende ausgebildet und ermöglicht so
auf der Objektoberfläche eine Vergrößerung oder Verkleinerung des Leuchtfeldblen
dendurchmessers. Wird die Leuchtfeldblende erfindungsgemäß nicht als kreisförmige
Blende sondern, wie in Fig. 2 gezeigt, über den gesamten Querschnitt strukturiert aus
gebildet, so besteht die Möglichkeit, im Objektbereich Abschattungen zu erzeugen in
Gebieten des Objektes, die von besonderen meß- oder präparationstechnischem Inter
esse sind. In Ergänzung zur statistischen Ausbildung der strukturierten Leuchtfeldblen
de in Fig. 2 zeigt Fig. 3 ein weiteres Ausführungsbeispiel einer stochastisch struktu
rierten Gestaltung der erfindungsgemäß vorgeschlagenen Leuchtfeldblende.
Claims (6)
1. Strukturierte Leuchtfeldblende zur gezielten Modulation der Lichtintensität bei der
Ausleuchtung von Objekten in mikroskopischen Anordnungen mit Köhlerschen Be
leuchtungsprinzip, gekennzeichnet dadurch, daß bei der lichtmikroskopischen Unter
suchung von Objekten sowohl im Durchlicht als auch im Auflicht Intensitätsmo
dulationen erhalten werden, die Zusatzinformationen bei der Auswertung von Ober
flächenstrukturen von Objekten liefern und eine verbesserte Erfassung von optischen
und geometrischen Eigenschaften z. B. in Verbindung mit optoelektronischen Wand
lern und rechnergestützten Bildverarbeitungssystemen ermöglichen.
2. Strukturierte Beleuchtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet dadurch, daß durch eine
Variation der Lichtdurchlässigkeit der Leuchtfeldblende am Objekt beliebige Be
leuchtungsstrukturen erhalten werden und sowohl statistisch als auch stochastisch
verteilt sein können.
3. Strukturierte Leuchtfeldblende nach Anspruch 1 und 2, gekennzeichnet dadurch, daß
die Beleuchtungsstruktur gezielt den zu erfassenden bzw. zu vermessenden oder zu
bewertenden optischen und geometrischen Objekteigenschaften angepaßt werden
kann und ggfs. Korrelationen zwischen Objekteigenschaften und Beleuchtungsstruk
tur erhalten werden, die direkt für die Auswertung mikroskopischer Bilder Verwen
dung finden bzw. zugrundegelegt können.
4. Strukturierte Leuchtfeldblende nach Anspruch 1 bis 3, gekennzeichnet dadurch, daß
über optoelektrisch sensitive Materialien eine direkte Steuerung der Durchlässig
keit der Leuchtfeldblende im Hinblick auf eine geeignete rechnergestützte Bildaus
wertung und basierend auf Informationen, die von dieser Bildauswertung mittels op
toelektronischer Bildwandler über das Objekt erhalten werden.
5. Strukturierte Leuchtfeldblende nach Anspruch 1 bis 3, gekennzeichnet dadurch, daß
es sich sowohl um objektorientierte Strukturierungen als auch um Strukturierungen
handeln kann, die nach Aufnahme mit einem optoelektronischen Bildwandler und
anschließende Auswertung in einem angeschlossenen rechnergestützten Bildverar
beitungssystem Informationen über optische und geometrische Eigenschaften mikro
skopisch zu untersuchender Objekte liefert.
6. Strukturierte Leuchtfeldblende nach Anspruch 1 bis 5, gekennzeichnet dadurch, daß
diese erfindungsgemäß auch außerhalb eines Mikroskopes Anwendung finden kann,
sofern dort eine Beleuchtungseinrichtung nach dem Köhlerschen Beleuchtungsprin
zip verwendet wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944423705 DE4423705A1 (de) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | Strukturierte Leuchtfeldblende |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944423705 DE4423705A1 (de) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | Strukturierte Leuchtfeldblende |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4423705A1 true DE4423705A1 (de) | 1996-01-04 |
Family
ID=6522401
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944423705 Ceased DE4423705A1 (de) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | Strukturierte Leuchtfeldblende |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4423705A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19901219B4 (de) * | 1998-01-14 | 2017-10-19 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Optische Anordnung im Beleuchtungsstrahlengang eines Auflichtmikroskops |
-
1994
- 1994-06-24 DE DE19944423705 patent/DE4423705A1/de not_active Ceased
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19901219B4 (de) * | 1998-01-14 | 2017-10-19 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Optische Anordnung im Beleuchtungsstrahlengang eines Auflichtmikroskops |
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