DE4333304C1 - Adapter zum Prüfen von Leiterplatten - Google Patents

Adapter zum Prüfen von Leiterplatten

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DE4333304C1
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Siegbert Gremme
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R11/00Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
    • H01R11/11End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
    • H01R11/18End pieces terminating in a probe
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06705Apparatus for holding or moving single probes

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Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Adapter zum Prüfen von Leiterplatten. Mit Hilfe von Kontaktstiften wird zwischen Prüfpunkten der Lei­ terplatte und einem Meß- oder Anzeigegerät eine elek­ trische Verbindung hergestellt.
Zum Prüfen elektronischer Leiterplatten sind Geräte mit einer Vielzahl fester Prüfpunkte bekannt. Ein solches Gerät mit festen Prüfpunkten beschreibt die DE 33 43 274 C2, dessen Prüf- oder Meßkopf ei­ nen starren Träger aufweist. Der Träger besitzt eine Vielzahl von Löchern, in die in bestimmten Positionen Kontaktstifte eingesteckt sind. Über ein flexibles Ka­ bel ist der Träger mit einer Prüf- oder Meßvorrichtung verbunden. Wie auch bei anderen Prüfgeräten mit festen Prüfpunkten, beispielsweise nach der DE-OS 23 64 786, sind der Positionierung der Prüfköpfe wegen der ein für allemal festgelegten Ver­ teilung der Löcher bauliche Grenzen gesetzt, weil sich Kontaktstifte naturgemäß nur dort positionieren lassen, wo sich ein Loch für dessen Durchtritt befindet. Ein schnelles Anpassen der Prüfköpfe an Prüflinge mit un­ terschiedlicher Verteilung der Prüfpunkte ist nicht möglich. Zudem ist ein Austausch verschlissener Bau­ teile zeitaufwendig und der Zugang zum Prüfling durch die Ausmaße des Prüfkopfs schwierig.
Die GB 1 316 108 beschreibt zudem einen Adapter zum Prüfen von Leiterplatten mit einem Kontaktträger, einem Prüflingsträger und im Kon­ taktträger verschiebbar angeordneten Kontaktstiften. Diese Kontaktstifte sind jedoch lediglich quer zur Lei­ terplatte beweglich angeordnet und lassen sich so mit­ tels Druckluft oder einer Feder zum Kontaktieren der Leiterplatte axial verschieben. Somit können die Kon­ taktstifte die Leiterplatte jeweils nur dort kontaktie­ ren, wo seitens des Adapters ein Kontaktstift ein für allemal angeordnet ist. Die Kontaktstifte sind im Kon­ taktstiftträger in bestimmter, nicht veränderlicher Verteilung angeordnet. Der entscheidende Nachteil des bekannten Adapters besteht demgemäß darin, daß die Ver­ teilung der Kontaktstifte im Kontaktträger stets der Verteilung der Prüfpunkte auf der Leiterplatte entspre­ chen muß und umgekehrt.
Ein weiterer Nachteil des bekannten Adapters ergibt sich daraus, daß die Leiterplatte mit Hilfe ortsfester Haltestifte auf dem Prüflingsträger fixiert ist. Demge­ mäß lassen sich mit diesem Adapter weder Leiterplatten unterschiedlicher Größe noch beliebiger Verteilung der Prüfpunkte prüfen; denn die ortsfesten Haltestifte ver­ langen entsprechend angeordnete komplementäre Stecköff­ nungen in der Leiterplatte.
Der Erfindung liegt daher das Problem zugrunde, einen Adapter zu schaffen, der neben anderen Vorteilen nicht nur die Nachteile des vorerwähnten Standes der Technik vermeidet, sondern darüber hinaus auch ein variables Positionieren der Kontaktstifte sowie vorzugsweise ei­ nen schnellen Prüflingwechsel ohne besondere Qualifi­ zierung seitens des Personals ermöglicht.
Die Lösung dieses Problems besteht in einem Adapter mit den im Anspruch 1 angegebenen Merkmalen.
Der Kontaktstiftträger besteht vorzugsweise aus einem beispielsweise in einem Klemmhalter angeordneten Posi­ tionierstab und einer Hülse zur Aufnahme eines Kontakt­ stifts. Durch Lösen des Klemmhalters, der vorzugsweise aus einer Klemmscheibe, einem Haltestück und einer Schrau­ be besteht, läßt sich der Kontaktstiftträger durch Längsver­ schieben und/oder Verschwenken stufenlos auf einen be­ liebigen Prüfpunkt einstellen.
Ein stufenweises Verstellen ist möglich, wenn der Kon­ taktträger als Lochplatte ausgebildet ist und so ein Umsetzen des Klemmhalters nach dem Maß des Lochabstan­ des erlaubt. Um eine höhere Packungsdichte zu errei­ chen, können die Positionierstäbe in unterschiedlicher Höhe angeordnet sein.
Der Kontaktträger kann aus einer Platte mit einer Öff­ nung bestehen, die von einer auf Abstandhaltern ange­ ordneten durchsichtigen Abdeckplatte überdeckt ist. Durch diese Abdeckplatte ist die Beobachtung eines un­ terhalb der Plattenöffnung befindlichen Prüflings sowie der Kontaktstifte möglich.
Der Prüfling befindet sich vorzugsweise auf einem Prüf­ lingträger aus einer Aufnahmeplatte mit Gewindelöchern und lösbaren Festanschlägen sowie verstellbaren Halte­ stücken zum Festspannen des Prüflings. Dabei können die verstellbaren Haltestücke aus einer Lasche mit einem Langloch zur Aufnahme einer Schraube und einer Haltescheibe bestehen. Als Verdrehsicherung eignet sich eine Lasche mit einem Langloch zur Aufnahme einer Schraube und einem Sicherungsstift, der in eine entsprechende Ausneh­ mung des Prüflings eingreift.
Da die Aufnahmeplatte eine Vielzahl von Gewindelöchern besitzt, ist ein entsprechend vielfältiges Positionieren der Festanschläge und Laschen für die Haltestücke ent­ sprechend den Abmessungen und der Kontur des jeweiligen Prüflings möglich.
Die Verstellbarkeit der Kontaktstiftträger in Verbindung mit der Möglichkeit, unterschiedlich bemessene und kontu­ rierte Prüflinge mit unterschiedlicher Verteilung der Prüfpunkte einzuspannen, gewährleisten ein außerordent­ lich breites Prüfprogramm, ohne daß von Prüfling zu Prüf­ ling jeweils aufwendige Vorbereitungsarbeiten erforder­ lich sind. Vielmehr läßt sich der Adapter durch bloßes Lösen von Schrauben und/oder Umstecken der Schrauben mit den zugehörigen Klemmhaltern und/oder Haltestücken und Laschen für einen anders beschaffenen Prüfling einrich­ ten.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines in der Zeich­ nung dargestellten Ausführungsbeispiels des näheren er­ läutert. In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1: eine Seitenansicht des erfindungsgemäßen Adapters und
Fig. 2: eine Draufsicht des Adapters der Fig. 1.
Auf einer mit Gewindelöchern versehenen Kontaktträger­ platte 1 sind Kontaktstiftträger 2 mittels Klemmhaltern 3 lösbar befestigt. Die Kontaktstiftträger 2 bestehen aus einem Positionierstab 4 und einer Hülse 5, die einen Fe­ derkontaktstift 6 enthält. Die Klemmhalter 3 ermöglichen ein Positionieren der Kontaktstiftträger 2 auf der Kon­ taktträgerplatte 1 durch Umsetzen und durch axiales Ver­ schieben des Positionierstabes 4 in dem Klemmhalter 3 so­ wie durch Schwenken. Der Klemmhalter besteht aus einer Schraube 7, die in einer der nicht dargestellten Gewin­ delöcher eingreift, und einer Klemmscheibe 8 mit Verbin­ dung zur Adapterschnittstelle, mit der der Kontaktstift­ träger in einem Haltestück 9 festgelegt wird. Des weite­ ren erlaubt die Hülse 5 ein schnelles und problemloses Austauschen des Federkontaktstifts 6. Über einer Öffnung 10 in der Kontaktträgerplatte 1, die ein Verlagern der Hülse 5 erlaubt, erstreckt sich eine auf Abstandhaltern 11 gelagerte, beispielsweise aus Acrylglas bestehende durchsichtige Abdeckplatte 12.
Ein Prüfling 13 ist auf einer gelochten Prüflingaufnah­ meplatte 14 mittels Festanschlägen 15 und stufenlos ver­ stellbaren Anschlägen 16 sowie einer Verdrehsicherung 17 arretiert. Die Festanschläge 15 bestehen aus Anschlag­ scheiben 18 und Schrauben 19 zum Einschrauben in eines der nicht dargestellten Gewindelöcher der Prüflingaufnah­ meplatte 14. Die verstellbaren Anschläge 16 bestehen aus Laschen 20 mit einem Langloch 21, durch das eine, in ein Gewindeloch der Prüflingaufnahmeplatte 14 eingeschraubte Schraube 22 greift; und einer Anschlag-Kontur 23. In ähn­ licher Weise ist auch die Verdrehsicherung 17 als Lasche 20 mit einem Langloch 21 und einer Schraube 22 ausgebil­ det. Der Prüfling ist so insgesamt von Festanschlägen 15 und verstellbaren Anschlägen 16 umgeben und zwischen die­ sen gelagert. Je nach den Abmessungen des Prüflings wer­ den die Anschläge 15, 16 und die Verdrehsicherung 17 po­ sitioniert. Dies ist mit Hilfe eines Schraubendrehers und der über die Aufnahmeplatte 14 verteilten Gewindelöchern für die Halteschrauben 22 mit großer Variationsbreite möglich.
Der erfindungsgemäße Adapter erlaubt ein Prüfen un­ terschiedlich großer und hoher sowie verschieden kontu­ rierter Prüflinge, insbesondere Leiterplatten, mit sehr unterschiedlicher Verteilung der Prüf- bzw. Kontaktpunkte, die sich durch Umsetzen der Klemmhalter und/oder Ver­ schieben und/oder Verschwenken der Kontaktträger mühelos erreichen lassen.

Claims (9)

1. Adapter zum Prüfen von Leiterplatten (13), mit
  • - einem Kontaktträger (1)
  • - einem Prüflingsträger (14)
  • - mindestens einem auf dem Kontaktträger angeord­ neten, parallel zur Leiterplatte verstellbaren Kontaktstiftträger (2) sowie
  • - auf dem Prüflingsträger angeordneten Anschlägen (15, 16) zum Einspannen der Leiterplatte.
2. Adapter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Kontaktstiftträger (2) in unterschiedlicher Höhe an­ geordnet sind.
3. Adapter nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich­ net, daß die Kontaktstiftträger (2) aus einem Posi­ tionierstab (4) und einer Hülse (5) bestehen.
4. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Kontaktstiftträger (2) in einem Klemmhalter (3) angeordnet ist.
5. Adapter nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Klemmhalter (3) aus einer Klemmscheibe (8) mit der Verbindung zur Adapterschnittstelle, einem Halte­ stück (9) und einer Schraube (7) besteht.
6. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch ge­ kennzeichnet, daß eine Öffnung (10) in einer Kontakt­ trägerplatte (1) mit einer auf Abstandhaltern (11) angeordneten durchsichtigen Abdeckplatte (12) über­ deckt ist.
7. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Prüflingträger aus einer mit Gewindelöchern versehenen Aufnahmeplatte (14) mit lösbaren Festanschlägen (15) und verstellbaren An­ schlägen (16) besteht.
8. Adapter nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die verstellbaren Anschläge (16) aus einer Lasche (20) mit einem Langloch (21) zur Aufnahme einer Schraube (22) und einer Haltescheibe (23) bestehen.
9. Adapter nach einem der Ansprüche 1 bis 8, gekenn­ zeichnet durch eine aus einer Lasche (20) mit einem Langloch (21) zur Aufnahme einer Schraube (22) und einem Sicherungsstift (24) bestehende Verdrehsiche­ rung.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE202014105674U1 (de) * 2014-11-25 2016-02-26 MR Electronics Ltd. Niederlassung Deutschland Kontaktiervorrichtung für Platinen

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1316108A (en) * 1969-08-27 1973-05-09 British Aircraft Corp Ltd Apparatus for testing printed circuit boards
DE2364786A1 (de) * 1972-12-26 1974-06-27 Ibm Elektromechanische tastsonde mit parallelen kontaktnadeln
DE3343274C2 (de) * 1983-11-30 1988-09-15 Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg, De

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