DE4317744C1 - Verfahren zum mikroskopischen Vermessen der Oberflächenstruktur eines Objektes - Google Patents
Verfahren zum mikroskopischen Vermessen der Oberflächenstruktur eines ObjektesInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum mikroskopischen Vermes
sen der Oberflächenstruktur eines Objektes.
Die in der Photogrammetrie üblichen Vermessungsmethoden zum Zwecke der
Rekonstruktion dreidimensionaler Objekt- bzw. Geländeoberflächen, die
sich auf die Zentralperspektive stützen, können bei der Vermessung mi
kroskopisch kleiner Oberflächenstrukturen nicht angewendet werden. Dies
liegt daran, daß mit den in der Mikroskopie zur Anwendung kommenden op
tischen Systemen mit großer Apertur und entsprechend verringerter Schär
fentiefe Perspektivaufnahmen nicht möglich sind.
Zwar ist aus K.B. Atkinson (Ed.): Developments in Close Range Photogram
metry-1, Applied Science Publishers Ltd., London, 1980, Kapitel 1 und 2,
bereits ein Verfahren zum mikroskopischen Vermessen der Oberflächen
struktur eines Objektes bekannt, jedoch ist dort nicht entnehmbar, meh
rere interessierende Oberflächenpunkte unter Konstanthaltung des Bildab
standes sukzessive scharf abzubilden. Vor allem ist dort der Zusammen
hang zwischen Bildpunkt- und Objektraumkoordinaten nicht linear, und die
für die nachfolgend beschriebene Erfindung wesentliche Ermittlung der Objekt
raumkoordinaten aus
den Bildkoordinaten im Sinne einer Parallelprojektion unter Einbe
ziehung des Abbildungsmaßstabes ist dort ebenfalls nicht angesprochen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
anzugeben, welches die Vermessung und Rekonstruktion
mikroskopisch kleiner, dreidimensionaler Objektoberflächen auf einfache
Weise und mit geringem apparativem Aufwand ermöglicht.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch die im
Patentanspruch 1 angegebenen Merkmale gelöst.
Demnach werden, wie in der Photogrammetrie, zunächst zwei unterschiedli
che Blickrichtungen auf das Objekt, d.h. zwei unterschiedliche optische
Achsen, ausgewählt. Während in der Photogrammetrie jedoch, abgesehen von
Bildüberlappungen in den Randbereichen, von dem Objekt bzw. dem jeweili
gen Geländeausschnitt aus jeder Blickrichtung jeweils nur eine Aufnahme
gemacht wird, wird im vorliegenden Fall vorgeschlagen, aus jeder der
beiden Blickrichtungen eine Folge von Aufnahmen zu machen, wobei die in
teressierenden bzw. für die Charakterisierung der Oberflächenstruktur
markanten Oberflächenpunkte sukzessive scharf abgebildet werden. Diese
Vorgehensweise berücksichtigt, daß die Schärfentiefe des Mikroskopobjek
tives im allgemeinen wesentlich kleiner sein wird als die räumliche Aus
dehnung der Objektoberfläche in Richtung der optischen Achse des Sy
stems. Soll die gesamte Objektoberfläche erfaßt werden, so wird aus je
der der beiden Blickrichtungen eine Folge von Aufnah
men gemacht, bei denen der relative Abstand zwischen Objekt und Objektiv
jeweils in der Schärfentiefe entsprechenden Schritten verändert wird.
Dadurch wird die Objektoberfläche sozusagen "schichtweise" scharf abge
bildet. Bei geometrisch besonders einfach gegliederten Objektoberflä
chen, deren Struktur beispielsweise durch ebene Flächen, gerade Kanten,
Eckpunkte sowie regelmäßig gestaltete Gräben oder Einsenkungen bestimmt
es, genügt es, lediglich die die Gesamtstruktur bestimmenden markanten
Oberflächenpunkte "anzufahren" und scharf abzubilden.
Dem Objekt ist im dreidimensionalen Objektraum ein beispielsweise kar
tesisches Koordinatensystem u, v, w zugeordnet. Die Aufnahmen aus den
beiden Blickrichtungen werden unter Konstanthaltung des Bildabstandes,
d.h. des Abstandes Objektiv - Bildebene, gemacht. Der Bildebene des op
tischen Systems ist ein zweidimensionales, beispielsweise kartesisches
Koordinatensystem zugeordnet. Einem Oberflächenpunkt P (u, v, w) des Ob
jektes im Objektraum sind demnach bei scharfer Abbildung aus den beiden
Blickrichtungen R und R′ zwei Bildpunkt-Koordinatenpaare x, y sowie x′,
y′ zugeordnet. Zur sukzessiven scharfen Abbildung interessierender Ober
flächenpunkte des Objekts wird in jeder der beiden Blickrichtungen das
Objektiv im Objektraum, d.h. relativ zum Objekt, längs seiner optischen
Achse verschoben. Dabei bleibt nicht nur der Bildabstand, sondern auch
der Objektabstand, d.h. der Abstand der in der Mitte des Schärfentiefe
bereiches gelegenen Objektebene von einer Referenzebene im Objektiv,
konstant. Die Objektebene durchwandert sozusagen schrittweise das Ob
jekt. Aufgrund dieser Gegebenheiten lassen sich die in den aufeinander
folgenden Aufnahmen jeweils scharf abgebildeten Oberflächenbereiche des
Objekts im Sinne einer Parallelprojektion zu einer einzigen Gesamtauf
nahme zusammenfügen. Abgesehen von der durch das Objektiv bewirkten Ver
größerung und dabei stattfindenden Seitenumkehrung stellen die beiden
zweidimensionalen Abbildungsfolgen des Objektes tatsächlich zwei den
beiden Blickrichtungen zugeordnete Parallelprojektionen dieses Objektes
dar.
Die Erfindung beruht auf der Erkenntnis, daß es auf der Basis der oben
geschilderten Tatsachen möglich wird, mit Hilfe der aus den beiden un
terschiedlichen Blickrichtungen gewonnenen, jeweils zweidimensionalen
Bildkoordinaten durch lineare Transformation auf die dreidimensio
nalen Objektraumkoordinaten des abgebildeten Oberflächenpunktes zurück
zuschließen. Die hierbei anzuwendende Transformationsmatrix T kann durch
Vermessung dreier Referenzpunkte mit bekannter Lage im Objektraum aus
denselben beiden Blickrichtungen gewonnen werden. Dabei ergeben sich,
wie weiter unten noch näher erläutert, neun lineare Bestimmungsgleichun
gen für die maximal neun Matrixelemente der Transformationsmatrix.
Die beiden Aufnahmefolgen aus den beiden gewählten Blickrichtungen kön
nen mit einem einzigen Objektiv bewerkstelligt werden. Gemäß einer er
sten Variante kann das Objektiv feststehen und der Objektträger ge
schwenkt und in Richtung der optischen Achse des Objektivs verschoben
werden. Gemäß einer zweiten Variante kann der Objektträger geschwenkt
und das Objektiv axial verschoben werden. Gemäß einer dritten Variante
schließlich kann der Objektträger feststehen und das Objektiv sowohl
schwenkbar als auch axial verschiebbar angeordnet sein. Natürlich ist
die Erfindung auch ausführbar mit einer Anordnung, welche zwei oder meh
rere Objektive aufweist, die aus verschiedenen Blickrichtungen auf das
Objekt gerichtet und jeweils axial verschiebbar sind. Eine solche Anord
nung ermöglicht es, zwei oder mehr Abbildungsfolgen gleichzeitig aufzu
nehmen, ist aber apparativ aufwendiger.
Die Aufnahme und Auswertung der beiden Abbildungsfolgen kann weitgehend
automatisiert ablaufen, im allgemeinen wird jedoch das Eingreifen eines
menschlichen Beobachters erforderlich sein, und zwar bei der Auswahl in
teressierender Bildpunkte. Zunächst können die beiden Abbildungsfolgen
durch Veränderung des relativen Abstandes zwischen Objektiv und Objekt
in der Schärfentiefe entsprechenden Schritten ohne menschliches Eingrei
fen durchgeführt werden, ebenso wie die bildpunktweise elektronische
Speicherung der jeweiligen Abbildungen, wobei eine CCD-Kamera zur Anwen
dung kommen kann. Die gespeicherten Abbildungen können anschließend ab
gerufen und auf einem Bildschirm bzw. parallelen Bildschirmen von einer
Person zum Zwecke der Auswahl interessierender und korrespondierender
Bildpunkte betrachtet werden. Die entsprechenden Bildkoordinaten
können dann, beispielsweise per Maus, ausgewählt und in einen weiteren
Speicher eingelesen sowie anschließend zur automatisierten weiteren Aus
wertung herangezogen werden.
Im Interesse einer hohen Meßgenauigkeit wird es im allgemeinen von Vor
teil sein, die beiden Blickrichtungen so zu wählen, daß sie senkrecht
aufeinanderstehen.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind den Unteransprüchen zu
entnehmen.
Im folgenden wird die Erfindung in einem Ausführungsbeispiel anhand von
Abbildungen näher erläutert. Es zeigen in schematischer Darstellung:
Fig. 1 die Abbildung zweier Punkte eines Objekts im Objektraum mittels
Parallelprojektion in zwei unterschiedlichen Blickrichtungen in
perspektivischer Darstellung,
Fig. 2 die Vermessung dreier Referenzpunkte des Objekts in Seitenan
sicht,
Fig. 3 die Definition eines Objektpunktes mit Hilfe von Bildkoor
dinaten.
In Fig. 1 ist ein Objekt in Gestalt eines unregelmäßigen Polyeders im
Objektraum, definiert durch das dreidimensionale kartesische Koordina
tensystem u, v, w, dargestellt. Zur Vermessung des Objektes sind zwei
unterschiedliche Blickrichtungen R, R′ ausgewählt. Die entsprechend opti
schen Achsen sind mit A bzw. mit A′ bezeichnet. Sie schneiden sich im
Ursprung 0 des Koordinatensystems. Aus der Blickrichtung R werden die
beiden Oberflächenpunkte P₁ sowie P₂ in zwei entsprechend unter
schiedlichen Lagen des Objektivs, schematisch gekennzeichnet durch M₁
sowie M₂, scharf abgebildet, und zwar auf die jeweiligen Bildebenen
E₁ und E₂. Dabei ergeben sich die beiden Bildpunkte B₁ sowie B₂.
Da bei der Verschiebung des Objektivs von der Lage M₁ nach M₂ sowohl
der Bild- als auch der Objektabstand konstant bleiben, liegt in beiden
Fällen der gleiche Abbildungsmaßstab vor. Die beiden Bildebenen E₁ so
wie E₂ können somit in eine gemeinsame, fiktive Superpositionsebene S
verschoben und dort zur Deckung gebracht werden. Das dortige zweidimen
sionale Koordinatensystem x, y ist identisch mit den den beiden Bildebe
nen E₁ und E₂ zuzuordnenden Koordinatensystemen. Die den einzelnen
Bildpunkten B₁ sowie B₂ entsprechenden Punkte in der Superpositions
ebene S sind mit S₁ und S₂ bezeichnet. Für den Fall, daß der Abstand
zwischen den beiden Objektivlagen M₁ und M₂ gleich der Schärfentiefe
des Objektives ist, sind die in den beiden Bildebenen jeweils scharf ab
gebildeten Oberflächenbereiche des Objektes in der Superpositionsebene S
einander unmittelbar benachbart. Analoge Verhältnisse sind bezüglich der
zweiten Blickrichtung R′ dargestellt, wobei Objektivlagen M₁′ und
M₂′, Bildebenen E₁′ und E₂′, Bildpunkt B₁′ und B₂′,
eine Superpositionsebene S′ mit korrespondierenden Bildpunkten S₁′
und S₂′ sowie ein zweidimensionales rechtwinkliges Koordinatensystem
x′, y′ auftreten.
Die Fig. 1 ist eine Prinzipdarstellung, bei der keine Abbilidungsstrah
lengänge gezeigt sind, sondern lediglich das Prinzip der Parallelprojek
tion wiedergegeben ist. Die Verknüpfung der Abbildungsstrahlengänge mit
der Parallelprojektion ist der Fig. 2 zu entnehmen.
Die Superpositionsebene S der Fig. 1 ist rein fiktiv und nur aus Gründen
der Erläuterung des Prinzips dargestellt. Die jeweils zwei gezeigten
Bildebenen, z. B. E₁ und E₂, sind im konkreten Fall natürlich mit der
einzigen, dem Objektiv im festen Abstand optisch nachgeordneten Bildebe
ne identisch. Gezeigt sind zwei unterschiedliche Stellungen dieser Bild
ebene im Objektraum nach Verschiebung des Objektivs auf der optischen
Achse, z. B. A.
Der Zusammenhang zwischen den Bildkoordinaten xi, yi sowie
xi′, yi′ und den Objektraumkoordinaten ui, vi, wi wird
über die Transformationsmatrix T durch folgende Gleichung vermittelt:
wobei der Index i den jeweiligen Objekt- bzw. Bildpunkt kennzeichnet,
für die Variable ti entweder ti ≡ xi′ oder t ≡ xi′ gilt
und die Transformationsmatrix T folgende Form aufweist:
Die neun Matrixelemente amn (m, n = 1, 2, 3) hängen natürlich von der
speziellen Auswahl der beiden Blickrichtungen R und R′ ab, lassen sich
im Prinzip mit Hilfe rein geometrischer Überlegungen bestimmen, sind
aber in der Praxis einfacher mittels der im folgenden geschilderten
Eichoperation ermittelbar.
Zur Bestimmung der Matrixelemente amn sind maximal neun unabhängige
Gleichungen erforderlich. Diese können gewonnen werden, wenn die Objekt
raumkoordinaten dreier Punkte, die nicht alle in einer Ebene liegen, be
kannt sind. Für diese drei Referenzpunkte Prk (k = 1, 2, 3) sind bei
gegebener Konstellation der beiden ausgewählten Blickrichtungen R und R′
die jeweiligen Bildpunktkoordinaten xrk, yrk sowie xrk′ bzw.
yrk′ zu ermitteln. Daraus läßt sich das folgende, aus neun Einzel
gleichungen bestehende Gleichungssystem aufstellen:
wobei gilt: trk ≡ xrk′ oder trk ≡ yrk′.
In dem Gleichungssystem werden also auch hier jeweils beide der einen
Blickrichtung R zugeordneten Bildkoordinaten xrk, yrk, jedoch
nur eine der jeweils zwei Bildkoordinaten verwendet, welche der an
deren Blickrichtung R′ zugeordnet sind, nämlich entweder xrk′ oder
yrk′. Dies reicht zur Festlegung des Gleichungssystems aus. Es
entspricht geometrisch der Tatsache, daß ein Punkt im Raum durch den
Schnittt einer Geraden mit einer Ebene ausreichend definiert ist, siehe
Fig. 3, wobei die Gerade durch die achsparallele Projektion des einen
Bildpunktes gegeben ist und die Ebene diejenige Gerade enthält, welche
durch die achsparallele Projektion des der anderen Blickrichtung zuge
ordneten Bildpunktes gegeben ist.
Fig. 2 zeigt in Seitenansicht eine schematische Darstellung der
Parallelprojektion dreier Referenzpunkte Prk (k = 1, 2, 3)
im Objektraum. Die beiden in Richtung der optischen Achsen A bzw. A′
verlaufenden Blickrichtungen R und R′ schneiden sich im Ursprung 0 des
Objektraum-Koordinatensystems. Die relative Orientierung der beiden
Blickrichtungen entspricht dem im allgemeinen günstigsten Fall einer
Schwenkung um 90°. Schematisch dargestellt sind jeweils drei unter
schiedliche Objektivlagen Mk bzw. Mk′ mit den jeweils zugeordneten,
im konstanten Bildabstand angeordneten Bildebenen Ek sowie Ek′.
Weiterhin angedeutet sind die jeweils drei den Referenzpunkten Prk zu
geordneten Abbildungsstrahlengänge mit den resultierenden Bildpunkten
Brk bzw. Brk′. Diese lassen sich jeweils in gemeinsame fiktive
Superpositionsebenen S bzw. S′ in die Positionen Srk bzw. Srk′
verschieben. Die Figur macht gleichzeitig deutlich, daß die Bildpunkte
aus diesen Positionen durch reine Parallelprojektion rückprojiziert wer
den können, wobei sich Schnittpunkte rk ergeben, welche genau die
Konstellation der Referenzpunkte Prk unter Einbeziehung des Abbil
dungsmaßstabes sowie der durch die Abbildung entstehenden Seitenverkeh
rung repräsentieren.
Fig. 3 zeigt schematisch, wie ein Objektpunkt P durch den Schnitt einer
Geraden G mit einer Ebene Et definiert ist, wobei die Gerade G der pa
rallel zur optischen Achse A (Blickrichtung R) verlaufenden Projektion
des der einen Blickrichtung R zugeordneten Bildpunktes B gegeben ist und
die Ebene Et eine Gerade G′ enthält, welche der achsparallelen Projek
tion (Achse A′, Blickrichtung R′) des der anderen Blickrichtung R′ zuge
ordneten Bildpunktes B′ entspricht. Dabei ist die Ebene Et in zweck
mäßiger Weise so gewählt, daß sie parallel zu der einen Koordinatenach
se, in diesem Falle y′, der zugeordneten Bildebene E′ verläuft, so daß
zur Definition dieser Ebene Et lediglich die eine der beiden Bild
punktkoordinaten, in diesem Falle t ≡ x′, benötigt wird, wie es in dem
obigen Gleichungssystem bereits zum Ausdruck gebracht wurde.
Wie oben bereits erwähnt, ist es vorteilhaft, die beiden Blickrichtungen
so anzuordnen, daß sie senkrecht aufeinanderstehen. Selbstverständlich
ist der allgemeine Gesichtspunkt zu berücksichtigen, daß möglichst alle
interessierenden Oberflächenpunkte auch aus beiden Blickrichtungen
sichtbar sind. Daher muß ggf. von der senkrechten Konstellation der bei
den Blickrichtungen abgewichen werden. Es kann auch vorkommen, daß keine
zwei Blickrichtungen existieren, aus denen alle interessierenden Ober
flächenpunkte vermessen werden können. Dann wird es zwei oder mehr Grup
pen von Oberflächenpunkten geben, denen jeweils unterschiedliche Kon
stellationen zweier Blickrichtungen mit jeweils unterschiedlichen Trans
formationsmatrizen zugeordnet sind. Jede dieser Konstellationen erfor
dert dann eine eigene Eichoperation der oben geschilderten Art, aus der
sich die jeweilige Transformationsmatrix ergibt.
Claims (6)
1. Verfahren zum mikroskopischen Vermessen der Oberflächenstruktur
eines Objekts, bei dem
- - unter Konstanthaltung des Bildabstandes interessierende Oberflächen punkte (Pi) des Objekts in einer Folge sukzessiver Aufnahmen jeweils zentralperspektivisch längs zweier vorgegebener optischer Achsen (A, A′) scharf abgebildet werden, und
- - die jeweiligen Koordinaten (xi, yi; xi′, yi′) der Bild punkte (Bi) in zugehörigen Bildkoordinatensystemen (x, y; x′, y′) gemessen und aus ihnen im Sinne einer Parallelprojektion längs den op tischen Achsen (A, A′) unter Einbeziehung des Abbildungsmaßstabs die Koordinaten (ui, vi, wi) der Oberflächenpunkte (Pi) in einem Objektraumkoordinatensystem (u, v, w) ermittelt werden,
- - wobei der Zusammenhang zwischen Bild- und Objektraumkoordinaten linear durch eine Transformationsmatrix (T) gegeben ist, deren Elemente (amn) für die vorgegebenen optischen Achsen (A, A′) anhand dreier Referenzpunkte (Prk; k = 1, 2, 3) mit bekannten Objektraumkoordinaten (urk, vrk, wrk) und der zugehörigen Bildkoordinaten (xrk, yrk; xrk′, yrk′) bestimmbar sind.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die bei
den optischen Achsen (A, A′) senkrecht aufeinanderstehen.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die sukzessiven Aufnahmen durch axiale Verschiebung eines Objektives im
Objektraum in der Schärfentiefe entsprechenden Schritten gewonnen werden.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ge
kennzeichnet, daß bei der Bildung der Transformationsmatrix (T) von den
der einen der beiden optischen Achsen (A′) zugeordneten Bildkoordi
naten (xi′, yi′) jeweils nur die eine (xi) oder die andere
(yi′) verwendet wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Ob
jektraumkoordinaten (ui, vi, wi) aus den Bildkoordinaten
(xi, yi; xi′, yi′) gemäß der folgenden Gleichung ermittelt
werden:
mit ti ≡ xi′ oder ti ≡ yi′ und der Transformationsmatrix
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Ma
trixelemente amn der Transformationsmatrix T durch Lösung des folgen
den Gleichungssystems bestimmt werden:
mit k = 1, 2, 3 und trk ≡ xrk′ oder trk ≡ yrk′, wo
bei die urk, vrk, wrk die Objektraumkoordinaten der drei bekann
ten Referenzpunkte Prk und xrk, yrk sowie xrk′, yrk′
die zugehörigen Bildkoordinaten bezüglich der beiden
optischen Achsen (A, A′) bedeuten.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934317744 DE4317744C1 (de) | 1993-05-27 | 1993-05-27 | Verfahren zum mikroskopischen Vermessen der Oberflächenstruktur eines Objektes |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19934317744 DE4317744C1 (de) | 1993-05-27 | 1993-05-27 | Verfahren zum mikroskopischen Vermessen der Oberflächenstruktur eines Objektes |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4317744C1 true DE4317744C1 (de) | 1994-11-24 |
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ID=6489108
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19934317744 Expired - Fee Related DE4317744C1 (de) | 1993-05-27 | 1993-05-27 | Verfahren zum mikroskopischen Vermessen der Oberflächenstruktur eines Objektes |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4317744C1 (de) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2517052A1 (fr) * | 1981-11-24 | 1983-05-27 | Centre Nat Rech Scient | Procede et appareillage permettant la determination optique de la position tridimensionnelle des points de la surface d'un objet quelconque par sureclairage d'un ensemble de ces points |
DE3941144A1 (de) * | 1989-12-13 | 1991-06-20 | Zeiss Carl Fa | Koordinatenmessgeraet zur beruehrungslosen vermessung von objekten |
-
1993
- 1993-05-27 DE DE19934317744 patent/DE4317744C1/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2517052A1 (fr) * | 1981-11-24 | 1983-05-27 | Centre Nat Rech Scient | Procede et appareillage permettant la determination optique de la position tridimensionnelle des points de la surface d'un objet quelconque par sureclairage d'un ensemble de ces points |
DE3941144A1 (de) * | 1989-12-13 | 1991-06-20 | Zeiss Carl Fa | Koordinatenmessgeraet zur beruehrungslosen vermessung von objekten |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
GB-Buch: K. B. Atkinson (Ed.): Developments in Close Range Photogrammetry-1, Applied Science Publishers Ltd., London, 1980, Kapitel 1,2 * |
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