DE4241905C2 - Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten - Google Patents
Spektrometer mit dynamisch kodierten KomponentenInfo
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- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 6
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 5
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 claims description 2
- 239000000306 component Substances 0.000 claims 17
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 7
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- 238000005033 Fourier transform infrared spectroscopy Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000002372 labelling Methods 0.000 description 1
- 230000006855 networking Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0275—Details making use of sensor-related data, e.g. for identification of sensor parts or optical elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/08—Beam switching arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J2003/2866—Markers; Calibrating of scan
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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Description
Die Erfindung betrifft ein analytisches Spektrometer, ins
besondere IR-Spektrometer, mit einem Zentralrechner, fest
installierten und austauschbaren Komponenten, wobei die
austauschbaren Komponenten jeweils einen lesbaren Datenträger
mit kodierten Daten von die jeweilige optische Komponente
charakterisierenden Parametern aufweisen, und mit einer oder
mehreren Einrichtungen zum Lesen der auf einem oder mehreren
Datenträgern vorhandenen kodierten Daten der austauschbaren
Komponenten sowie Einrichtungen zum Weiterleiten dieser Daten
an den Zentralrechner, wobei im Zentralrechner ein Programm
zur Dekodierung der Daten und Ableitung von Entscheidungen
aufgrund der aktuellen Daten implementiert ist.
Ein solches Spektrometer ist bekannt aus der DE 34 19 800 A1.
Darin ist ein analytisches Spektrometer mit Zentralrechner
(MCP), festinstallierten (DET) und austauschbaren (HCL)
Komponenten beschrieben. Die austauschbaren Hohlkathoden
(HCL) tragen lesbare Datenträger in Form von Magnetstreifen
(MCS), die im Prinzip beschreibbar sind und kodierte Daten
über die Beschaffenheit der Lampen tragen. Allerdings geht es
dabei lediglich um die Identifikation unterschiedlicher
Lampen mit festen, nicht veränderbaren, zeitunabhängigen
Parametern.
Dies wird auch ersichtlich aus der parallelen DE 34 19 739 A1,
wo die beschreibbaren Magnetstreifen gegenüber der DE 34 19 800 A1
durch nicht beschreibbare Streifencodes ersetzt
sind, die optisch lesbar sind. Im übrigen wird auch in der
DE 34 19 800 A1 die Beschreibbarkeit der Magnetstreifen nur ein
einziges Mal beim ersten Beschreiben ausgenutzt.
Ein weiteres, ähnliches Spektrometer ist beispielsweise
bekannt aus dem Artikel "FTIR spectroscopy for the analytical
and research laboratory" von J. Sellors in der amerikanischen
Zeitschrift "American Laboratory", April 1992, Seiten 23 bis
30.
Bei dem dort beschriebenen FTIR-Spectrometer, das vor allem
für Forschungszwecke eingesetzt wird, ist eine große Anzahl
von Software-gesteuerten internen Bauteilen vorgesehen, die
zu einer enormen Anzahl von potentiellen Permutationsmöglich
keiten führt. Bei einem solchen System ist es daher wichtig,
daß die jeweils aktuelle Konfiguration von Systemkomponenten
möglichst automatisch erkannt und dem Zentralrechner mitge
teilt wird. Um den Typus zumindest derjenigen Systemkomponen
ten, die einem Austausch unterzogen werden, automatisch
feststellen zu können, sind diese Komponenten ähnlich wie in
der DE 34 19 739 A1 mit einem Bar-Code versehen, der mit
Hilfe von Bar-Code-Lesegeräten von dem jeweiligen Bauteil
abgelesen und als Information über den Bauteiltyp an den
Zentralrechner weitergeleitet werden kann. Des weiteren wird
auch eine Information über die Position des entsprechenden
Bauteils an den Rechner weitergegeben, so daß sich in den
Speichern des Zentralrechners ein Zustandsbild von der
aktuellen Konfiguration des Spektrometers jederzeit reprodu
zieren läßt und aufgrund dessen Entscheidungen über den
Betrieb oder die Veränderung des Spektrometers vom Zen
tralrechner abgeleitet werden können.
Weiterhin ist bei dem bekannten Spektrometer vorgesehen, daß
im zentralen Speicher Unterspeicher angelegt werden, in denen
spezielle Daten der mit Hilfe des Bar-Codes erkennbaren
Komponenten-Typen abgelegt werden können. Solche Daten können
beispielsweise Eichkurven sein, die das Verhalten des ent
sprechenden Komponententyps charakterisieren.
Damit wird der Zentralrechner des Spektrometers in die Lage
versetzt, komplexe Entscheidungen über die Einsatzmöglich
keiten des Spektrometers zu treffen, mögliche Inkompatibi
litäten oder Insuffizienzen in der aktuellen Konfiguration
festzustellen und entsprechende Abhilfe anzufordern.
Neben dem Bar-Code können als Datenträger für den Typus der
jeweiligen austauschbaren Systemkomponente auch Widerstands
netzwerke oder entsprechend geformte Steckkontakte verwendet
werden. Bei allen bisher bekannten Spektrometern tragen diese
Datenträger jedoch nur eine sehr begrenzte Information,
nämlich die Information über den Typus der entsprechenden
Komponente und eventuell ihr Fertigungsdatum. Alle anderen
wesentlichen Daten über den Komponenten-Typus, wie beispiels
weise grundlegende Eichkurven oder Funktionsdiagramme, wurden
bisher immer in dem normalerweise sehr geräumigen Speicher
des bei einem Spektrometer immer vorhandenen Zentralrechners
abgelegt. Die auf dem Datenträger der jeweiligen Systemkom
ponente kodierte Information war daher bislang ausschließlich
passiv und statisch und ließ keinen Raum für Veränderung der
gespeicherten Daten zum Beispiel zum Zwecke einer Anpassung
an individuelle aktuelle Parameterwerte, die den augenblick
lichen Zustand der Systemkomponente charakterisieren.
Wenn bei einem bekannten Spektrometer daher ein Bauteil gegen
ein anderes ausgetauscht wird, so müssen die individuellen
Eigenschaften dieses Bauteils in der Regel erst durch Mes
sungen festgestellt werden, bevor das Spektrometer in einen
betriebsbereiten Zustand versetzt werden kann. Besonders
nachteilig wirkt sich dies bei Systemkomponenten aus, die von
einem anderen Spektrometer ausgebaut wurden, da die in dem
anderen Spektrometer möglicherweise bereits aufgenommenen
individuellen Daten der Komponente beim Transfer derselben
nicht automatisch mit zum neuen Einsatzort wandern. Nur für
den Fall, daß die beiden Spektrometer miteinander kommuni
zieren und in ihren Zentralspeichern abgelegte Daten über
ihre Systemkomponenten austauschen können, ist dieses Problem
bei herkömmlichen Spektrometern lösbar. Eine solche Ver
netzung von Spektrometern ist jedoch aufwendig und wird in
der Regel nicht realisiert.
Ein weiteres Problem besteht in der Behandlung von Austausch
teilen, die beispielsweise ein Kunde eines Spektrometer
herstellers als Ersatz für ein defektes Teil erhält. In
dieser Situation ist sowohl der Kunde an den individuellen
Daten des Austauschteiles als auch der Hersteller an den dem
Kunden bekannten individuellen Daten des ausgetauschten Teiles
interessiert, welches möglicherweise mit einem gewissen
Aufwand wieder instandgesetzt werden kann. In beiden Fällen
können diese individuellen Daten einer Spektrometerkomponente
nur vom Teil getrennt geliefert werden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein analy
tisches Spektrometer vorzustellen, dessen Komponenten mit
einer viel höheren Flexibilität an verschiedenen Stellen im
gleichen Spektrometer oder in anderen Spektrometern einge
setzt werden können, wobei die jeweilige Komponente ohne
weitere vorherige Vorkehrungen, wie beispielsweise Messungen
von charakteristischen Eigenschaften der Komponente, in jedes
beliebige Spektrometer eingebaut werden kann und sofort
betriebsbereit ist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß eine
oder mehrere Einrichtungen zum Beschreiben der Datenträger
mit veränderbaren, zeitabhängigen Daten über die aktuelle
Beschaffenheit der jeweiligen austauschbaren Komponente
vorgesehen sind, und daß im Zentralrechner ein Programm zur
Ansteuerung der Einrichtung zum Beschreiben sowie zur
automatischen Anpassung der Daten von veränderten Parametern
einer Komponente auf ihrem Datenträger implementiert ist.
Dadurch trägt jede austauschbare Komponente, insbesondere
auch Austauschteile vom Hersteller oder Teile, die ein
Anwender von einem Spektrometer in ein anderes umbauen will,
ihre eigene Vorgeschichte insbesondere ihre Kalibrationskurve
mit sich. Daher kann das Spektrometer, in welches ein solches
"intelligentes" Bauteil eingebaut wurde ohne weitere
Vorkehrungen sofort in Betrieb genommen werden. Auch die
Verwendung von Komponenten eines anderen Spektrometers wird
auf diese Weise erheblich erleichtert. Die entsprechenden
austauschbaren Komponenten können einfach zu irgendeinem
Zeitpunkt in ein anderes Spektrometer eingebaut werden. Da in
der Regel alle Spektrometer kalibriert sind und nunmehr auch
die Komponenten die Information über ihre individuelle
Kalibrierung tragen, entsteht eine genormte Schnittstelle
zwischen Spektrometer und Spektrometerkomponenten, die ein
Permutieren aller wichtigen Komponenten ohne zusätzlichen
Aufwand ermöglicht. Beispielsweise können defekte Spektro
meterkomponenten eines Benutzers direkt aus dem Lagerbestand
ersetzt werden, ohne daß umständliche Vermessungen der Teile
oder eine besondere Selektion erforderlich wäre.
Der Zentralrechner des Spektrometers kann die entsprechenden
Komponentendaten automatisch erfassen und weiterverarbeiten.
Außerdem können Eigenschaften des entsprechenden Bauteils,
die sich während des Betriebs im Spektrometer verändern, in
Form von entsprechend aktualisierten Daten im Datenträger des
jeweiligen Bauteils automatisch abgespeichert werden.
Um Veränderungen von den auf einem oder mehreren Datenträgern
abgespeicherten Daten entsprechenden Parametern der aus
tauschbaren Komponenten erfassen zu können, sind bei einer
Ausführungsform des erfindungsgemäßen Spektrometers ent
sprechende Einrichtungen, wie beispielsweise Meßfühler vorge
sehen.
Besonders bevorzugt ist eine Ausführungsform, bei der das
erfindungsgemäße Spektrometer ein Fouriertransform- Infrarot
(FTIR)-Spektrometer ist. Es kann sich bei anderen Aus
führungsformen aber auch um ein NMR-, ESR-, ICR- oder ein
Massen-Spektrometer handeln.
Besonders bevorzugt ist auch eine Ausführungsform, bei der
auf dem Datenträger der Komponente auch unveränderliche Daten
gespeichert sind, wobei diese Daten möglichst nicht über
schreibbar und nicht löschbar sein sollten. Beispiele für
derartige unveränderliche Daten sind der Typus der jeweiligen
optischen Komponente und ihr Herstellungsdatum.
Bei einer Weiterbildung dieser Ausführungsform sind auf dem
Datenträger neben dem Herstellungsdatum der Komponente auch
kritische Zeitpunkte für Datenauffrischungen von gespeicher
ten zeitabhängigen Daten und/oder Überprüfungen und/oder
Wartungen und/oder einen Austausch der Komponente gespei
chert. Dadurch können an den Zentralrechner des Spektrometer
jeweils zum gegebenen Zeitpunkt Impulse abgegeben werden, die
entsprechende Reaktionen des Systems bzw. Anforderung von
externen Veränderungen auslösen.
Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform sind auf dem
Datenträger der Komponente Daten gespeichert, die Parametern
entsprechen, welche die unterschiedlichen Wechselwirkungen
der Komponente mit verschiedenen Spektrometern und/oder
anderen austauschbaren Komponenten charakterisieren. Dies
ermöglicht eine besonders hohe Flexibilität im Einsatz eines
solchen dynamisch kodierten Bauteiles.
Bei Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Spektrometers
kann der Datenträger ein Chip, insbesondere ein EPROM oder
ein Flash-ROM sein. Bei anderen Ausführungsformen ist der
Datenträger ein magnetischer Speicher.
Zwar können die aktuellen Betriebsdauern der Komponenten mit
Hilfe einer praktisch immer im Zentralrechner des
erfindungsgemäßen Spektrometers vorgesehenen Uhr festgestellt
und aufgespeichert werden. Bei einer komfortablen
Ausführungsform ist jedoch eine vorzugsweise mit dem
Datenträger verbundene Uhr vorgesehen, die bei Inbetriebnahme
der Komponente automatisch startet und bei Außerbetriebnahme
anhält, und die jeweils die aktuelle Betriebsdauer der
Komponente als letzten Wert gespeichert hat.
In den Rahmen der vorliegenden Erfindung fällt schließlich
auch ein Verfahren zum Betrieb eines Spektrometers der oben
beschriebenen Art, bei dem während des Betriebs des
Spektrometers die den auf dem Datenträger gespeicherten Daten
entsprechenden aktuellen Parameter der austauschbaren
Komponenten im Spektrometer vom Zentralrechner automatisch
abgefragt und bei Veränderung eines oder mehrerer Parameter
entsprechende neue Daten auf dem Datenträger abgespeichert
werden.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand der in der Zeichnung
dargestellten Ausführungsbeispiele näher beschrieben und
erläutert. Die der Beschreibung und der Zeichnung zu ent
nehmenden Merkmale können bei anderen Ausführungsformen
einzeln, für sich oder zu mehreren in beliebigen Kombina
tionen Anwendung finden.
Es zeigen:
Fig. 1 den schematischen Strahlengang in einem erfindungs
gemäßen IR-Spektrometer; und
Fig. 2 ein stark vereinfachtes Funktionsschema des er
findungsgemäßen Spektrometers mit Zentralrechner,
einer exemplarischen Spektrometerkomponente und dem
zugehörigen Datenspeicher.
Im einzelnen zeigt Fig. 1 schematisch ein erfindungsgemäßes
Fourierspektrometer 50, dessen allgemeiner Aufbau aus der
Firmenschrift IFS 66 der Firma Bruker Analytische Meßtechnik
GmbH bekanntgeworden ist. In bzw. an einem Spektrometerge
häuse 1 sind eine Strahlungsquelle 2, ein Interferometer 3
mit beweglichen Spiegeln 3a, 3b und einem Strahlteiler 3c
sowie zwei alternative Detektoren 4a, 4b integriert, wobei in
der Zeichnung schematisch ein am Detektor 4a angebrachter
Datenträger 7 angedeutet ist.
Im internen Betrieb gelangt das von der Quelle 2 ausgehende,
zunächst divergente Lichtbündel 10a auf einen Hohlspiegel 11,
dann als paralleles Bündel 10b über einen Planspiegel 12 in
das Interferometer 3. Das aus dem Interferometer 3 auslau
fende parallele Lichtbündel 10c gelangt über einen fokus
sierenden Umlenkspiegel 13 als konvergentes Lichtbündel 10d
in den Probenraum 6. Im Fokus 10e kann sich eine zu unter
suchende Probe befinden. Nach dem Fokus verläßt das diver
gente Lichtbündel 10f den Probenraum 6 und gelangt über einen
weiteren fokussierenden Spiegel 14 auf den Detektor 4a.
Alternativ kann durch Einklappen oder Einschieben, allgemein
Einbringen des Planspiegels 15 über den fokussierenden Spie
gel 16 auf den Detektor 4b umgeschaltet werden.
Im Strahlengang befinden sich weitere bewegliche Spiegel 22-
25, über die ein Strahlenbündel aus- oder eingekoppelt werden
kann. So kann mit Hilfe des festen Spiegels 21 und des be
weglichen Spiegels 22 über den Eingang 41 von einer externen
Quelle anstelle der internen ein Strahlungsbündel 41a, b in
das Spektrometergehäuse 1 eingelenkt werden. Die Doppelpfeil
symbole an den Spiegeln sollen andeuten, daß diese zum Um
lenken der Strahlungsbündel gekippt bzw. verschoben oder
rotiert werden können. Dies erfolgt i.a. rechnergesteuert.
Ist beispielsweise der Spiegel 22 aus dem Strahlenbündel 10b
entfernt, so kann das von der internen Quelle 2 ausgehende
Licht ins Interferometer 3 gelangen. Ist der Spiegel 22
eingeschoben, so ist das von der Quelle 2 kommende Licht
blockiert, aber das von einer externen Quelle über Eingang 41
und Spiegel 21 kommende Licht gelangt ins Interferometer 3.
Insgesamt ergeben sich im Beispiel neben dem Eingang 41 drei
Ausgänge 31-33 zum Auslenken des vom Interferometer 3 aus
tretenden Strahlungsbündels 10c, das dann in die austretenden
Bündel 31a, 32a oder 33a übergeht, mittels der Spiegel 23, 24
oder 25 zum Hinführen an externe Proben.
Bei dem oben beschriebenen Spektrometer 50 sind beispiels
weise die Strahlungsquelle 2, der Strahlteiler 3c sowie die
Detektoren 4a und 4b Bauteile, die nach einer gewissen Le
bensdauer bzw. Benutzungszeit in der Regel abgenutzt sind und
ausgetauscht werden müssen. Derartige, in der Zeichnung nicht
dargestellte austauschbare Spektrometerkomponenten 5 können
auch externe Lichtquellen oder Sonden mit einem Meßkopf und
Lichtleiterfasern sein, die beispielsweise über den Eingang
41 externes Licht in das Spektrometer 50 einkoppeln. Die ex
ternen Sonden unterliegen üblicherweise einer Transmissions
änderung während des Betriebs, der durch Verschleiß, Ver
kratzen der Meßkopfoberfläche, Faserbruch von Lichtleiter
bündeln und dergleichen hervorgerufen wird. Auch nicht dar
gestellte optische Filterelemente zählen zu derartigen le
bensdauer-begrenzten und daher in der Regel nicht permanent
fest des Spektrometer 50 eingebauten, austauschbaren Kom
ponenten 7.
Gemäß der vorliegenden Erfindung sind sämtliche oder zu
mindest ein Teil dieser austauschbaren, vorzugsweise opti
schen Komponenten 5 für das Spektrometer 50 mit einem be
schreibbaren Datenträger 7 versehen, der zeitabhängige,
veränderbare Daten über die Vorgeschichte und/oder die ak
tuelle Beschaffenheit der jeweiligen Komponente 5, wie bei
spielsweise die Betriebsdauer, bestimmte Abnutzungsparameter
oder Eichkurven der Komponente enthält. Eine solche aus
tauschbare Komponente 5 mit Datenträger 7 ist beispielsweise
der in Fig. 1 gezeigte Detektor 4a.
In Fig. 2 ist sehr schematisch das Spektrometer 50 gezeigt, in
dem stellvertretend für alle anderen austauschbaren Komponen
ten eine Komponente 5 mit einem daran angebrachten Daten
träger 7 dargestellt ist. Über eine Leseleitung 8a kann der
ebenfalls nur sehr schematisch dargestellte Zentralrechner 9
des Spektrometers 50 die auf dem Datenträger 7 gespeicherten
Daten der austauschbaren Komponente 5 lesen. Über eine wei
tere Datenleitung, die Schreibleitung 8b, kann der Zentral
rechner 9 zeitlich veränderliche Daten der Komponente 5 auf
dem Datenträger 7 an den aktuellen Zustand der Komponente 5
anpassen, in dem die entsprechenden alten Daten mit den neue
ren aktuellen Daten überschrieben werden.
Eine solche Anpassung kann entweder kontinuierlich, in regel
mäßigen Intervallen oder unregelmäßig aufgrund von entspre
chenden Signalen von anderen Teilen des Spektrometers 50
erfolgen. Die Kommunikationsmittel, die den Zentralrechner 9
mit dem Spektrometer 50 verbinden, sind in Fig. 2 schematisch
als eine Leseleitung 8a′ und eine Schreib- bzw. Befehlslei
tung 8b′ dargestellt. Über diese Datenleitungen kann der
Zentralrechner 9 beispielsweise auch den aktuellen Zustand
der Komponente 5 aufgrund von Meßwerten, die im Spektrometer
50 zur Verfügung stehen, abfragen. Aufgrund dieser abge
fragten Meßwerte, beispielsweise Eichkurven der Komponente 5,
kann im Zentralrechner 9 über die Schreibleitung 8b die
Aktualisierung der entsprechenden Daten im Datenträger 7
erfolgen.
Auf diese Weise ist es möglich, Daten der austauschbaren
Komponente 5 auf den Datenträger 7 immer aktuell zu halten,
so daß beispielsweise bei einem Einsatz der Komponente 5 in
einem anderen Spektrometer keine vorherigen Vorkehrungen wie
Eichmessungen und dgl. bezüglich der Komponente 5 erforder
lich sind. Das Bauteil trägt also nunmehr seine eigene Infor
mation über seine Vorgeschichte bzw. seinen derzeitigen
Zustand mit sich. Im Gegensatz zu früheren Lösungen bei
bekannten Spektrometern, wo diese Information bestenfalls in
den geräumigen Speichern des Zentralrechners abgelegt war,
ist somit für die bauteilbezogenen Daten eine saubere
Schnittstelle geschaffen. Ein Überspielen von teilbezogenen
Daten von einem Zentralrechner auf einen anderen erübrigt
sich damit.
Zwar mag die erfindungsgemäße Lösung einer dynamischen Ko
dierung von vorzugsweise optischen Austauschkomponenten 5
eines Spektrometers 50 komplizierter und teurer als die
bisherige Lösung erscheinen, jedoch wird damit eine erheblich
höhere Flexibilität beim Einsatz der austauschbaren Komponen
ten zwischen verschiedenen Einsatzorten in möglicherweise
unterschiedlichen Spektrometern erreicht. So können bei
spielsweise noch funktionsfähige Austauschkomponenten eines
defekten Spektrometers ohne vorherige Vorkehrungen bei einem
anderen Spektrometer weiterverwendet werden. Auch bei Aus
tauschteilen, bei denen ein Kunde vom Spektrometerhersteller
als Ersatz für ein nicht mehr zufriedenstellend arbeitendes
Bauteil ein entsprechendes neues oder überholtes Bauteil er
hält, erfolgt die Übergabe der bauteilebezogenen Informa
tionen in beiden Richtungen automatisch. Der Kunde kann das
Austauschteil sofort in sein Spektrometer einbauen und der
Hersteller erhält mit den vom Kunden zurückgesandten Teil
automatisch auch die wesentlichen Informationen über den Ist-
Zustand dieses Teiles, was eine Reparatur in der Regel er
heblich vereinfacht.
Die austauschbare optische Komponente 5 kann auf ihrem Daten
träger 7 auch unveränderliche Daten, beispielsweise ihr Her
stellungsdatum oder ihren Bauteiltyp abgespeichert haben.
Diese sollten selbstverständlich beim Betrieb der Komponente
5 weder überschrieben noch gelöscht werden. Derartige "pas
sive" Daten, die keiner zeitlichen Veränderung unterworfen
sind, sind auch schon bei bekannten Spektrometern wichtigen
austauschbaren Komponenten, zum Beispiel mit Hilfe einer Bar-
Code-Beschriftung, einem Widerstandsnetzwerk oder einem
entsprechenden Steckkontakt beigegeben worden. Diese passive
Codierung erlaubt allerdings keinerlei Veränderung bei Daten,
so daß ein Up-Dating von Daten über veränderliche Parameter
des entsprechenden Bauteils bislang nicht möglich war. Alle
wesentlichen veränderbaren Teiledaten wurden bisher lediglich
im Zentralrechner gespeichert.
Als Datenträger 7 für die Aufnahme zeitlich veränderlicher
Daten der austauschbaren optischen Komponente 5, wo man
einerseits Chips, insbesondere EPROMs oder FLASH-ROMs in
Frage. Der Datenträger 7 kann aber auch ein magnetischer
Speicher sein. Außerdem kann bei besonders wichtigen und
teuren Komponenten 5 eine vorzugsweise mit dem Datenträger 7
verbundene Uhr vorgesehen sein, die bei Inbetriebnahme der
Komponente 5 automatisch startet und bei Außerbetriebnahme
anhält, und die jeweils die aktuelle Betriebsdauer der Kompo
nente 5 als letzten Wert gespeichert hat.
Die Erfindung beschränkt sich nicht nur auf IR-Spektrometer
vom oben beschriebenen Typ, sondern umfaßt auch alle anderen
denkbaren Spektrometertypen wie z. B. NMR-, ESR-, ICR- oder
Massen-Spektrometer. Austauschbare Komponenten 5 mit erfin
dungsgemäß daran angebrachten Datenträgern 7 könnten dann
beispielsweise auch HF-Spulen, Probenköpfe, Verstärker,
Filter, Netzgeräte, Gradientenerzeugungssysteme oder Proben
heizungen sein.
Claims (11)
1. Analytisches Spektrometer, insbesondere IR-Spektrometer,
mit einem Zentralrechner (9), fest installierten und aus
tauschbaren Komponenten (5), wobei die austauschbaren
Komponenten jeweils einen lesbaren Datenträger (7) mit
kodierten Daten von die jeweilige Komponente
charakterisierenden Parametern aufweisen, und mit
einer oder mehreren Einrichtungen zum Lesen der auf einem
oder mehreren Datenträgern vorhandenen kodierten Daten
der austauschbaren Komponenten sowie Einrichtungen (8a)
zum Weiterleiten dieser Daten an den Zentralrechner,
wobei im Zentralrechner (9) ein Programm zur Dekodierung
der Daten und Ableitung von Entscheidungen aufgrund der
aktuellen Daten implementiert ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine oder mehrere Einrichtungen zum Beschreiben der Datenträger (7) mit veränderbaren, zeitabhängigen Daten über die aktuelle Beschaffenheit der jeweiligen austauschbaren Komponente (5), vorgesehen sind, und
daß im Zentralrechner (9) ein Programm zur Ansteuerung der Einrichtung (8b) zum Beschreiben sowie zur automa tischen Anpassung der Daten von veränderten Parametern einer Komponente (5) auf ihrem Datenträger (7) im plementiert ist.
daß eine oder mehrere Einrichtungen zum Beschreiben der Datenträger (7) mit veränderbaren, zeitabhängigen Daten über die aktuelle Beschaffenheit der jeweiligen austauschbaren Komponente (5), vorgesehen sind, und
daß im Zentralrechner (9) ein Programm zur Ansteuerung der Einrichtung (8b) zum Beschreiben sowie zur automa tischen Anpassung der Daten von veränderten Parametern einer Komponente (5) auf ihrem Datenträger (7) im plementiert ist.
2. Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
Einrichtungen vorgesehen sind, mit denen Veränderungen
von den auf einem oder mehreren Datenträgern (7)
abgespeicherten Daten entsprechenden Parametern der
austauschbaren Komponenten (5) erfaßt werden können.
3. Spektrometer nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß es ein Fouriertransform (FT)-Infrarot
(IR)-Spektrometer ist.
4. Spektrometer nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß es ein NMR-, ESR-, ICR- oder Massen-
Spektrometer ist.
5. Spektrometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Datenträger (7) der
Komponente (5) auch unveränderliche Daten gespeichert
sind, und daß diese Daten nicht überschreibbar und nicht
löschbar sind.
6. Spektrometer nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
auf dem Datenträger (7) das Herstellungsdatum der Kompo
nente (5) sowie kritische Zeitpunkte für Datenauffrisch
ungen von gespeicherten zeitabhängigen Daten und/oder
Überprüfungen und/oder Wartungen und/oder einen Austausch
der Komponente (5) gespeichert sind.
7. Spektrometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Datenträger (7) der
Komponente (5) Daten gespeichert sind, die Parametern
entsprechen, welche die unterschiedlichen
Wechselwirkungen der Komponente (5) mit verschiedenen
Spektrometern (50) und/oder anderen austauschbaren
Komponenten (5) charakterisieren.
8. Spektrometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß der Datenträger (7) ein Chip,
insbesondere ein EPROM oder ein Flash-ROM ist.
9. Spektrometer nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß der Datenträger (7) ein magnetischer
Speicher ist.
10. Spektrometer nach einem der vorhergehenden
der Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine
vorzugsweise mit dem Datenträger (7) verbundene Uhr
vorgesehen ist, die bei Inbetriebnahme der Komponente (5)
automatisch startet und bei Außerbetriebnahme anhält, und
die jeweils die aktuelle Betriebsdauer der Komponente (5)
als letzten Wert gespeichert hat.
11. Verfahren zum Betrieb eines Spektrometers nach einem der
vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
während des Betriebs des Spektrometers (50) die den auf
dem Datenträger (7) gespeicherten Daten entsprechenden
aktuellen Parameter der austauschbaren Komponente (5) im
Spektrometer vom Zentralrechner (9) automatisch abgefragt
und bei Veränderung eines oder mehrerer Parameter
entsprechende neue Daten auf dem Datenträger (7)
abgespeichert werden.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4241905A DE4241905C2 (de) | 1992-12-11 | 1992-12-11 | Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten |
US08/164,390 US5557544A (en) | 1992-12-11 | 1993-12-09 | Spectrometer with dynamically coded components |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4241905A DE4241905C2 (de) | 1992-12-11 | 1992-12-11 | Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4241905A1 DE4241905A1 (de) | 1994-06-16 |
DE4241905C2 true DE4241905C2 (de) | 1995-01-26 |
Family
ID=6475067
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4241905A Expired - Fee Related DE4241905C2 (de) | 1992-12-11 | 1992-12-11 | Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5557544A (de) |
DE (1) | DE4241905C2 (de) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1992
- 1992-12-11 DE DE4241905A patent/DE4241905C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-12-09 US US08/164,390 patent/US5557544A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5557544A (en) | 1996-09-17 |
DE4241905A1 (de) | 1994-06-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
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|
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
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|
8328 | Change in the person/name/address of the agent |
Free format text: KOHLER SCHMID + PARTNER, 70565 STUTTGART |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |