DE4241905C2 - Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten - Google Patents

Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten

Info

Publication number
DE4241905C2
DE4241905C2 DE4241905A DE4241905A DE4241905C2 DE 4241905 C2 DE4241905 C2 DE 4241905C2 DE 4241905 A DE4241905 A DE 4241905A DE 4241905 A DE4241905 A DE 4241905A DE 4241905 C2 DE4241905 C2 DE 4241905C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
data
spectrometer
component
data carrier
spectrometer according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE4241905A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4241905A1 (de
Inventor
Arno Dipl Phys Dr Simon
Norbert Dipl Ing Rapp
Jean-Michel Dipl Ing Weil
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bruker Scientific LLC
Original Assignee
Bruker Analytische Messtechnik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bruker Analytische Messtechnik GmbH filed Critical Bruker Analytische Messtechnik GmbH
Priority to DE4241905A priority Critical patent/DE4241905C2/de
Priority to US08/164,390 priority patent/US5557544A/en
Publication of DE4241905A1 publication Critical patent/DE4241905A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4241905C2 publication Critical patent/DE4241905C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/0275Details making use of sensor-related data, e.g. for identification of sensor parts or optical elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/08Beam switching arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J2003/2866Markers; Calibrating of scan

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein analytisches Spektrometer, ins­ besondere IR-Spektrometer, mit einem Zentralrechner, fest installierten und austauschbaren Komponenten, wobei die austauschbaren Komponenten jeweils einen lesbaren Datenträger mit kodierten Daten von die jeweilige optische Komponente charakterisierenden Parametern aufweisen, und mit einer oder mehreren Einrichtungen zum Lesen der auf einem oder mehreren Datenträgern vorhandenen kodierten Daten der austauschbaren Komponenten sowie Einrichtungen zum Weiterleiten dieser Daten an den Zentralrechner, wobei im Zentralrechner ein Programm zur Dekodierung der Daten und Ableitung von Entscheidungen aufgrund der aktuellen Daten implementiert ist.
Ein solches Spektrometer ist bekannt aus der DE 34 19 800 A1.
Darin ist ein analytisches Spektrometer mit Zentralrechner (MCP), festinstallierten (DET) und austauschbaren (HCL) Komponenten beschrieben. Die austauschbaren Hohlkathoden (HCL) tragen lesbare Datenträger in Form von Magnetstreifen (MCS), die im Prinzip beschreibbar sind und kodierte Daten über die Beschaffenheit der Lampen tragen. Allerdings geht es dabei lediglich um die Identifikation unterschiedlicher Lampen mit festen, nicht veränderbaren, zeitunabhängigen Parametern.
Dies wird auch ersichtlich aus der parallelen DE 34 19 739 A1, wo die beschreibbaren Magnetstreifen gegenüber der DE 34 19 800 A1 durch nicht beschreibbare Streifencodes ersetzt sind, die optisch lesbar sind. Im übrigen wird auch in der DE 34 19 800 A1 die Beschreibbarkeit der Magnetstreifen nur ein einziges Mal beim ersten Beschreiben ausgenutzt.
Ein weiteres, ähnliches Spektrometer ist beispielsweise bekannt aus dem Artikel "FTIR spectroscopy for the analytical and research laboratory" von J. Sellors in der amerikanischen Zeitschrift "American Laboratory", April 1992, Seiten 23 bis 30.
Bei dem dort beschriebenen FTIR-Spectrometer, das vor allem für Forschungszwecke eingesetzt wird, ist eine große Anzahl von Software-gesteuerten internen Bauteilen vorgesehen, die zu einer enormen Anzahl von potentiellen Permutationsmöglich­ keiten führt. Bei einem solchen System ist es daher wichtig, daß die jeweils aktuelle Konfiguration von Systemkomponenten möglichst automatisch erkannt und dem Zentralrechner mitge­ teilt wird. Um den Typus zumindest derjenigen Systemkomponen­ ten, die einem Austausch unterzogen werden, automatisch feststellen zu können, sind diese Komponenten ähnlich wie in der DE 34 19 739 A1 mit einem Bar-Code versehen, der mit Hilfe von Bar-Code-Lesegeräten von dem jeweiligen Bauteil abgelesen und als Information über den Bauteiltyp an den Zentralrechner weitergeleitet werden kann. Des weiteren wird auch eine Information über die Position des entsprechenden Bauteils an den Rechner weitergegeben, so daß sich in den Speichern des Zentralrechners ein Zustandsbild von der aktuellen Konfiguration des Spektrometers jederzeit reprodu­ zieren läßt und aufgrund dessen Entscheidungen über den Betrieb oder die Veränderung des Spektrometers vom Zen­ tralrechner abgeleitet werden können.
Weiterhin ist bei dem bekannten Spektrometer vorgesehen, daß im zentralen Speicher Unterspeicher angelegt werden, in denen spezielle Daten der mit Hilfe des Bar-Codes erkennbaren Komponenten-Typen abgelegt werden können. Solche Daten können beispielsweise Eichkurven sein, die das Verhalten des ent­ sprechenden Komponententyps charakterisieren.
Damit wird der Zentralrechner des Spektrometers in die Lage versetzt, komplexe Entscheidungen über die Einsatzmöglich­ keiten des Spektrometers zu treffen, mögliche Inkompatibi­ litäten oder Insuffizienzen in der aktuellen Konfiguration festzustellen und entsprechende Abhilfe anzufordern.
Neben dem Bar-Code können als Datenträger für den Typus der jeweiligen austauschbaren Systemkomponente auch Widerstands­ netzwerke oder entsprechend geformte Steckkontakte verwendet werden. Bei allen bisher bekannten Spektrometern tragen diese Datenträger jedoch nur eine sehr begrenzte Information, nämlich die Information über den Typus der entsprechenden Komponente und eventuell ihr Fertigungsdatum. Alle anderen wesentlichen Daten über den Komponenten-Typus, wie beispiels­ weise grundlegende Eichkurven oder Funktionsdiagramme, wurden bisher immer in dem normalerweise sehr geräumigen Speicher des bei einem Spektrometer immer vorhandenen Zentralrechners abgelegt. Die auf dem Datenträger der jeweiligen Systemkom­ ponente kodierte Information war daher bislang ausschließlich passiv und statisch und ließ keinen Raum für Veränderung der gespeicherten Daten zum Beispiel zum Zwecke einer Anpassung an individuelle aktuelle Parameterwerte, die den augenblick­ lichen Zustand der Systemkomponente charakterisieren.
Wenn bei einem bekannten Spektrometer daher ein Bauteil gegen ein anderes ausgetauscht wird, so müssen die individuellen Eigenschaften dieses Bauteils in der Regel erst durch Mes­ sungen festgestellt werden, bevor das Spektrometer in einen betriebsbereiten Zustand versetzt werden kann. Besonders nachteilig wirkt sich dies bei Systemkomponenten aus, die von einem anderen Spektrometer ausgebaut wurden, da die in dem anderen Spektrometer möglicherweise bereits aufgenommenen individuellen Daten der Komponente beim Transfer derselben nicht automatisch mit zum neuen Einsatzort wandern. Nur für den Fall, daß die beiden Spektrometer miteinander kommuni­ zieren und in ihren Zentralspeichern abgelegte Daten über ihre Systemkomponenten austauschen können, ist dieses Problem bei herkömmlichen Spektrometern lösbar. Eine solche Ver­ netzung von Spektrometern ist jedoch aufwendig und wird in der Regel nicht realisiert.
Ein weiteres Problem besteht in der Behandlung von Austausch­ teilen, die beispielsweise ein Kunde eines Spektrometer­ herstellers als Ersatz für ein defektes Teil erhält. In dieser Situation ist sowohl der Kunde an den individuellen Daten des Austauschteiles als auch der Hersteller an den dem Kunden bekannten individuellen Daten des ausgetauschten Teiles interessiert, welches möglicherweise mit einem gewissen Aufwand wieder instandgesetzt werden kann. In beiden Fällen können diese individuellen Daten einer Spektrometerkomponente nur vom Teil getrennt geliefert werden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein analy­ tisches Spektrometer vorzustellen, dessen Komponenten mit einer viel höheren Flexibilität an verschiedenen Stellen im gleichen Spektrometer oder in anderen Spektrometern einge­ setzt werden können, wobei die jeweilige Komponente ohne weitere vorherige Vorkehrungen, wie beispielsweise Messungen von charakteristischen Eigenschaften der Komponente, in jedes beliebige Spektrometer eingebaut werden kann und sofort betriebsbereit ist.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß eine oder mehrere Einrichtungen zum Beschreiben der Datenträger mit veränderbaren, zeitabhängigen Daten über die aktuelle Beschaffenheit der jeweiligen austauschbaren Komponente vorgesehen sind, und daß im Zentralrechner ein Programm zur Ansteuerung der Einrichtung zum Beschreiben sowie zur automatischen Anpassung der Daten von veränderten Parametern einer Komponente auf ihrem Datenträger implementiert ist. Dadurch trägt jede austauschbare Komponente, insbesondere auch Austauschteile vom Hersteller oder Teile, die ein Anwender von einem Spektrometer in ein anderes umbauen will, ihre eigene Vorgeschichte insbesondere ihre Kalibrationskurve mit sich. Daher kann das Spektrometer, in welches ein solches "intelligentes" Bauteil eingebaut wurde ohne weitere Vorkehrungen sofort in Betrieb genommen werden. Auch die Verwendung von Komponenten eines anderen Spektrometers wird auf diese Weise erheblich erleichtert. Die entsprechenden austauschbaren Komponenten können einfach zu irgendeinem Zeitpunkt in ein anderes Spektrometer eingebaut werden. Da in der Regel alle Spektrometer kalibriert sind und nunmehr auch die Komponenten die Information über ihre individuelle Kalibrierung tragen, entsteht eine genormte Schnittstelle zwischen Spektrometer und Spektrometerkomponenten, die ein Permutieren aller wichtigen Komponenten ohne zusätzlichen Aufwand ermöglicht. Beispielsweise können defekte Spektro­ meterkomponenten eines Benutzers direkt aus dem Lagerbestand ersetzt werden, ohne daß umständliche Vermessungen der Teile oder eine besondere Selektion erforderlich wäre.
Der Zentralrechner des Spektrometers kann die entsprechenden Komponentendaten automatisch erfassen und weiterverarbeiten. Außerdem können Eigenschaften des entsprechenden Bauteils, die sich während des Betriebs im Spektrometer verändern, in Form von entsprechend aktualisierten Daten im Datenträger des jeweiligen Bauteils automatisch abgespeichert werden.
Um Veränderungen von den auf einem oder mehreren Datenträgern abgespeicherten Daten entsprechenden Parametern der aus­ tauschbaren Komponenten erfassen zu können, sind bei einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Spektrometers ent­ sprechende Einrichtungen, wie beispielsweise Meßfühler vorge­ sehen.
Besonders bevorzugt ist eine Ausführungsform, bei der das erfindungsgemäße Spektrometer ein Fouriertransform- Infrarot (FTIR)-Spektrometer ist. Es kann sich bei anderen Aus­ führungsformen aber auch um ein NMR-, ESR-, ICR- oder ein Massen-Spektrometer handeln.
Besonders bevorzugt ist auch eine Ausführungsform, bei der auf dem Datenträger der Komponente auch unveränderliche Daten gespeichert sind, wobei diese Daten möglichst nicht über­ schreibbar und nicht löschbar sein sollten. Beispiele für derartige unveränderliche Daten sind der Typus der jeweiligen optischen Komponente und ihr Herstellungsdatum.
Bei einer Weiterbildung dieser Ausführungsform sind auf dem Datenträger neben dem Herstellungsdatum der Komponente auch kritische Zeitpunkte für Datenauffrischungen von gespeicher­ ten zeitabhängigen Daten und/oder Überprüfungen und/oder Wartungen und/oder einen Austausch der Komponente gespei­ chert. Dadurch können an den Zentralrechner des Spektrometer jeweils zum gegebenen Zeitpunkt Impulse abgegeben werden, die entsprechende Reaktionen des Systems bzw. Anforderung von externen Veränderungen auslösen.
Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform sind auf dem Datenträger der Komponente Daten gespeichert, die Parametern entsprechen, welche die unterschiedlichen Wechselwirkungen der Komponente mit verschiedenen Spektrometern und/oder anderen austauschbaren Komponenten charakterisieren. Dies ermöglicht eine besonders hohe Flexibilität im Einsatz eines solchen dynamisch kodierten Bauteiles.
Bei Ausführungsformen des erfindungsgemäßen Spektrometers kann der Datenträger ein Chip, insbesondere ein EPROM oder ein Flash-ROM sein. Bei anderen Ausführungsformen ist der Datenträger ein magnetischer Speicher.
Zwar können die aktuellen Betriebsdauern der Komponenten mit Hilfe einer praktisch immer im Zentralrechner des erfindungsgemäßen Spektrometers vorgesehenen Uhr festgestellt und aufgespeichert werden. Bei einer komfortablen Ausführungsform ist jedoch eine vorzugsweise mit dem Datenträger verbundene Uhr vorgesehen, die bei Inbetriebnahme der Komponente automatisch startet und bei Außerbetriebnahme anhält, und die jeweils die aktuelle Betriebsdauer der Komponente als letzten Wert gespeichert hat.
In den Rahmen der vorliegenden Erfindung fällt schließlich auch ein Verfahren zum Betrieb eines Spektrometers der oben beschriebenen Art, bei dem während des Betriebs des Spektrometers die den auf dem Datenträger gespeicherten Daten entsprechenden aktuellen Parameter der austauschbaren Komponenten im Spektrometer vom Zentralrechner automatisch abgefragt und bei Veränderung eines oder mehrerer Parameter entsprechende neue Daten auf dem Datenträger abgespeichert werden.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand der in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiele näher beschrieben und erläutert. Die der Beschreibung und der Zeichnung zu ent­ nehmenden Merkmale können bei anderen Ausführungsformen einzeln, für sich oder zu mehreren in beliebigen Kombina­ tionen Anwendung finden.
Es zeigen:
Fig. 1 den schematischen Strahlengang in einem erfindungs­ gemäßen IR-Spektrometer; und
Fig. 2 ein stark vereinfachtes Funktionsschema des er­ findungsgemäßen Spektrometers mit Zentralrechner, einer exemplarischen Spektrometerkomponente und dem zugehörigen Datenspeicher.
Im einzelnen zeigt Fig. 1 schematisch ein erfindungsgemäßes Fourierspektrometer 50, dessen allgemeiner Aufbau aus der Firmenschrift IFS 66 der Firma Bruker Analytische Meßtechnik GmbH bekanntgeworden ist. In bzw. an einem Spektrometerge­ häuse 1 sind eine Strahlungsquelle 2, ein Interferometer 3 mit beweglichen Spiegeln 3a, 3b und einem Strahlteiler 3c sowie zwei alternative Detektoren 4a, 4b integriert, wobei in der Zeichnung schematisch ein am Detektor 4a angebrachter Datenträger 7 angedeutet ist.
Im internen Betrieb gelangt das von der Quelle 2 ausgehende, zunächst divergente Lichtbündel 10a auf einen Hohlspiegel 11, dann als paralleles Bündel 10b über einen Planspiegel 12 in das Interferometer 3. Das aus dem Interferometer 3 auslau­ fende parallele Lichtbündel 10c gelangt über einen fokus­ sierenden Umlenkspiegel 13 als konvergentes Lichtbündel 10d in den Probenraum 6. Im Fokus 10e kann sich eine zu unter­ suchende Probe befinden. Nach dem Fokus verläßt das diver­ gente Lichtbündel 10f den Probenraum 6 und gelangt über einen weiteren fokussierenden Spiegel 14 auf den Detektor 4a. Alternativ kann durch Einklappen oder Einschieben, allgemein Einbringen des Planspiegels 15 über den fokussierenden Spie­ gel 16 auf den Detektor 4b umgeschaltet werden.
Im Strahlengang befinden sich weitere bewegliche Spiegel 22- 25, über die ein Strahlenbündel aus- oder eingekoppelt werden kann. So kann mit Hilfe des festen Spiegels 21 und des be­ weglichen Spiegels 22 über den Eingang 41 von einer externen Quelle anstelle der internen ein Strahlungsbündel 41a, b in das Spektrometergehäuse 1 eingelenkt werden. Die Doppelpfeil­ symbole an den Spiegeln sollen andeuten, daß diese zum Um­ lenken der Strahlungsbündel gekippt bzw. verschoben oder rotiert werden können. Dies erfolgt i.a. rechnergesteuert. Ist beispielsweise der Spiegel 22 aus dem Strahlenbündel 10b entfernt, so kann das von der internen Quelle 2 ausgehende Licht ins Interferometer 3 gelangen. Ist der Spiegel 22 eingeschoben, so ist das von der Quelle 2 kommende Licht blockiert, aber das von einer externen Quelle über Eingang 41 und Spiegel 21 kommende Licht gelangt ins Interferometer 3. Insgesamt ergeben sich im Beispiel neben dem Eingang 41 drei Ausgänge 31-33 zum Auslenken des vom Interferometer 3 aus­ tretenden Strahlungsbündels 10c, das dann in die austretenden Bündel 31a, 32a oder 33a übergeht, mittels der Spiegel 23, 24 oder 25 zum Hinführen an externe Proben.
Bei dem oben beschriebenen Spektrometer 50 sind beispiels­ weise die Strahlungsquelle 2, der Strahlteiler 3c sowie die Detektoren 4a und 4b Bauteile, die nach einer gewissen Le­ bensdauer bzw. Benutzungszeit in der Regel abgenutzt sind und ausgetauscht werden müssen. Derartige, in der Zeichnung nicht dargestellte austauschbare Spektrometerkomponenten 5 können auch externe Lichtquellen oder Sonden mit einem Meßkopf und Lichtleiterfasern sein, die beispielsweise über den Eingang 41 externes Licht in das Spektrometer 50 einkoppeln. Die ex­ ternen Sonden unterliegen üblicherweise einer Transmissions­ änderung während des Betriebs, der durch Verschleiß, Ver­ kratzen der Meßkopfoberfläche, Faserbruch von Lichtleiter­ bündeln und dergleichen hervorgerufen wird. Auch nicht dar­ gestellte optische Filterelemente zählen zu derartigen le­ bensdauer-begrenzten und daher in der Regel nicht permanent fest des Spektrometer 50 eingebauten, austauschbaren Kom­ ponenten 7.
Gemäß der vorliegenden Erfindung sind sämtliche oder zu­ mindest ein Teil dieser austauschbaren, vorzugsweise opti­ schen Komponenten 5 für das Spektrometer 50 mit einem be­ schreibbaren Datenträger 7 versehen, der zeitabhängige, veränderbare Daten über die Vorgeschichte und/oder die ak­ tuelle Beschaffenheit der jeweiligen Komponente 5, wie bei­ spielsweise die Betriebsdauer, bestimmte Abnutzungsparameter oder Eichkurven der Komponente enthält. Eine solche aus­ tauschbare Komponente 5 mit Datenträger 7 ist beispielsweise der in Fig. 1 gezeigte Detektor 4a.
In Fig. 2 ist sehr schematisch das Spektrometer 50 gezeigt, in dem stellvertretend für alle anderen austauschbaren Komponen­ ten eine Komponente 5 mit einem daran angebrachten Daten­ träger 7 dargestellt ist. Über eine Leseleitung 8a kann der ebenfalls nur sehr schematisch dargestellte Zentralrechner 9 des Spektrometers 50 die auf dem Datenträger 7 gespeicherten Daten der austauschbaren Komponente 5 lesen. Über eine wei­ tere Datenleitung, die Schreibleitung 8b, kann der Zentral­ rechner 9 zeitlich veränderliche Daten der Komponente 5 auf dem Datenträger 7 an den aktuellen Zustand der Komponente 5 anpassen, in dem die entsprechenden alten Daten mit den neue­ ren aktuellen Daten überschrieben werden.
Eine solche Anpassung kann entweder kontinuierlich, in regel­ mäßigen Intervallen oder unregelmäßig aufgrund von entspre­ chenden Signalen von anderen Teilen des Spektrometers 50 erfolgen. Die Kommunikationsmittel, die den Zentralrechner 9 mit dem Spektrometer 50 verbinden, sind in Fig. 2 schematisch als eine Leseleitung 8a′ und eine Schreib- bzw. Befehlslei­ tung 8b′ dargestellt. Über diese Datenleitungen kann der Zentralrechner 9 beispielsweise auch den aktuellen Zustand der Komponente 5 aufgrund von Meßwerten, die im Spektrometer 50 zur Verfügung stehen, abfragen. Aufgrund dieser abge­ fragten Meßwerte, beispielsweise Eichkurven der Komponente 5, kann im Zentralrechner 9 über die Schreibleitung 8b die Aktualisierung der entsprechenden Daten im Datenträger 7 erfolgen.
Auf diese Weise ist es möglich, Daten der austauschbaren Komponente 5 auf den Datenträger 7 immer aktuell zu halten, so daß beispielsweise bei einem Einsatz der Komponente 5 in einem anderen Spektrometer keine vorherigen Vorkehrungen wie Eichmessungen und dgl. bezüglich der Komponente 5 erforder­ lich sind. Das Bauteil trägt also nunmehr seine eigene Infor­ mation über seine Vorgeschichte bzw. seinen derzeitigen Zustand mit sich. Im Gegensatz zu früheren Lösungen bei bekannten Spektrometern, wo diese Information bestenfalls in den geräumigen Speichern des Zentralrechners abgelegt war, ist somit für die bauteilbezogenen Daten eine saubere Schnittstelle geschaffen. Ein Überspielen von teilbezogenen Daten von einem Zentralrechner auf einen anderen erübrigt sich damit.
Zwar mag die erfindungsgemäße Lösung einer dynamischen Ko­ dierung von vorzugsweise optischen Austauschkomponenten 5 eines Spektrometers 50 komplizierter und teurer als die bisherige Lösung erscheinen, jedoch wird damit eine erheblich höhere Flexibilität beim Einsatz der austauschbaren Komponen­ ten zwischen verschiedenen Einsatzorten in möglicherweise unterschiedlichen Spektrometern erreicht. So können bei­ spielsweise noch funktionsfähige Austauschkomponenten eines defekten Spektrometers ohne vorherige Vorkehrungen bei einem anderen Spektrometer weiterverwendet werden. Auch bei Aus­ tauschteilen, bei denen ein Kunde vom Spektrometerhersteller als Ersatz für ein nicht mehr zufriedenstellend arbeitendes Bauteil ein entsprechendes neues oder überholtes Bauteil er­ hält, erfolgt die Übergabe der bauteilebezogenen Informa­ tionen in beiden Richtungen automatisch. Der Kunde kann das Austauschteil sofort in sein Spektrometer einbauen und der Hersteller erhält mit den vom Kunden zurückgesandten Teil automatisch auch die wesentlichen Informationen über den Ist- Zustand dieses Teiles, was eine Reparatur in der Regel er­ heblich vereinfacht.
Die austauschbare optische Komponente 5 kann auf ihrem Daten­ träger 7 auch unveränderliche Daten, beispielsweise ihr Her­ stellungsdatum oder ihren Bauteiltyp abgespeichert haben. Diese sollten selbstverständlich beim Betrieb der Komponente 5 weder überschrieben noch gelöscht werden. Derartige "pas­ sive" Daten, die keiner zeitlichen Veränderung unterworfen sind, sind auch schon bei bekannten Spektrometern wichtigen austauschbaren Komponenten, zum Beispiel mit Hilfe einer Bar- Code-Beschriftung, einem Widerstandsnetzwerk oder einem entsprechenden Steckkontakt beigegeben worden. Diese passive Codierung erlaubt allerdings keinerlei Veränderung bei Daten, so daß ein Up-Dating von Daten über veränderliche Parameter des entsprechenden Bauteils bislang nicht möglich war. Alle wesentlichen veränderbaren Teiledaten wurden bisher lediglich im Zentralrechner gespeichert.
Als Datenträger 7 für die Aufnahme zeitlich veränderlicher Daten der austauschbaren optischen Komponente 5, wo man einerseits Chips, insbesondere EPROMs oder FLASH-ROMs in Frage. Der Datenträger 7 kann aber auch ein magnetischer Speicher sein. Außerdem kann bei besonders wichtigen und teuren Komponenten 5 eine vorzugsweise mit dem Datenträger 7 verbundene Uhr vorgesehen sein, die bei Inbetriebnahme der Komponente 5 automatisch startet und bei Außerbetriebnahme anhält, und die jeweils die aktuelle Betriebsdauer der Kompo­ nente 5 als letzten Wert gespeichert hat.
Die Erfindung beschränkt sich nicht nur auf IR-Spektrometer vom oben beschriebenen Typ, sondern umfaßt auch alle anderen denkbaren Spektrometertypen wie z. B. NMR-, ESR-, ICR- oder Massen-Spektrometer. Austauschbare Komponenten 5 mit erfin­ dungsgemäß daran angebrachten Datenträgern 7 könnten dann beispielsweise auch HF-Spulen, Probenköpfe, Verstärker, Filter, Netzgeräte, Gradientenerzeugungssysteme oder Proben­ heizungen sein.

Claims (11)

1. Analytisches Spektrometer, insbesondere IR-Spektrometer, mit einem Zentralrechner (9), fest installierten und aus­ tauschbaren Komponenten (5), wobei die austauschbaren Komponenten jeweils einen lesbaren Datenträger (7) mit kodierten Daten von die jeweilige Komponente charakterisierenden Parametern aufweisen, und mit einer oder mehreren Einrichtungen zum Lesen der auf einem oder mehreren Datenträgern vorhandenen kodierten Daten der austauschbaren Komponenten sowie Einrichtungen (8a) zum Weiterleiten dieser Daten an den Zentralrechner, wobei im Zentralrechner (9) ein Programm zur Dekodierung der Daten und Ableitung von Entscheidungen aufgrund der aktuellen Daten implementiert ist, dadurch gekennzeichnet,
daß eine oder mehrere Einrichtungen zum Beschreiben der Datenträger (7) mit veränderbaren, zeitabhängigen Daten über die aktuelle Beschaffenheit der jeweiligen austauschbaren Komponente (5), vorgesehen sind, und
daß im Zentralrechner (9) ein Programm zur Ansteuerung der Einrichtung (8b) zum Beschreiben sowie zur automa­ tischen Anpassung der Daten von veränderten Parametern einer Komponente (5) auf ihrem Datenträger (7) im­ plementiert ist.
2. Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen vorgesehen sind, mit denen Veränderungen von den auf einem oder mehreren Datenträgern (7) abgespeicherten Daten entsprechenden Parametern der austauschbaren Komponenten (5) erfaßt werden können.
3. Spektrometer nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß es ein Fouriertransform (FT)-Infrarot (IR)-Spektrometer ist.
4. Spektrometer nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß es ein NMR-, ESR-, ICR- oder Massen- Spektrometer ist.
5. Spektrometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Datenträger (7) der Komponente (5) auch unveränderliche Daten gespeichert sind, und daß diese Daten nicht überschreibbar und nicht löschbar sind.
6. Spektrometer nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Datenträger (7) das Herstellungsdatum der Kompo­ nente (5) sowie kritische Zeitpunkte für Datenauffrisch­ ungen von gespeicherten zeitabhängigen Daten und/oder Überprüfungen und/oder Wartungen und/oder einen Austausch der Komponente (5) gespeichert sind.
7. Spektrometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Datenträger (7) der Komponente (5) Daten gespeichert sind, die Parametern entsprechen, welche die unterschiedlichen Wechselwirkungen der Komponente (5) mit verschiedenen Spektrometern (50) und/oder anderen austauschbaren Komponenten (5) charakterisieren.
8. Spektrometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Datenträger (7) ein Chip, insbesondere ein EPROM oder ein Flash-ROM ist.
9. Spektrometer nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Datenträger (7) ein magnetischer Speicher ist.
10. Spektrometer nach einem der vorhergehenden der Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine vorzugsweise mit dem Datenträger (7) verbundene Uhr vorgesehen ist, die bei Inbetriebnahme der Komponente (5) automatisch startet und bei Außerbetriebnahme anhält, und die jeweils die aktuelle Betriebsdauer der Komponente (5) als letzten Wert gespeichert hat.
11. Verfahren zum Betrieb eines Spektrometers nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß während des Betriebs des Spektrometers (50) die den auf dem Datenträger (7) gespeicherten Daten entsprechenden aktuellen Parameter der austauschbaren Komponente (5) im Spektrometer vom Zentralrechner (9) automatisch abgefragt und bei Veränderung eines oder mehrerer Parameter entsprechende neue Daten auf dem Datenträger (7) abgespeichert werden.
DE4241905A 1992-12-11 1992-12-11 Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten Expired - Fee Related DE4241905C2 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4241905A DE4241905C2 (de) 1992-12-11 1992-12-11 Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten
US08/164,390 US5557544A (en) 1992-12-11 1993-12-09 Spectrometer with dynamically coded components

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4241905A DE4241905C2 (de) 1992-12-11 1992-12-11 Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4241905A1 DE4241905A1 (de) 1994-06-16
DE4241905C2 true DE4241905C2 (de) 1995-01-26

Family

ID=6475067

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4241905A Expired - Fee Related DE4241905C2 (de) 1992-12-11 1992-12-11 Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5557544A (de)
DE (1) DE4241905C2 (de)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5706212A (en) * 1996-03-20 1998-01-06 Board Of Regents Of University Of Nebraska Infrared ellipsometer/polarimeter system, method of calibration, and use thereof
WO1998054077A1 (en) * 1997-05-29 1998-12-03 Spectra-Tech, Inc. Coupling device for integrating and interfacing accessory modules
US6240372B1 (en) 1997-11-14 2001-05-29 Arch Development Corporation System for surveillance of spectral signals
EP0933624A1 (de) * 1998-02-02 1999-08-04 Perkin-Elmer Limited Spektrometerzubehör
DE19833793C2 (de) 1998-07-21 2000-12-07 Inst Chemo Biosensorik Verfahren zur Überprüfung der Funktionsfähigkeit eines Spektrometers und Spektrometer mit Fehlererkennungsvorrichtung
JP3753873B2 (ja) * 1998-11-11 2006-03-08 株式会社島津製作所 分光光度計
US6795181B2 (en) * 1999-09-08 2004-09-21 Varian Australia Pty Ltd Spectrometer attachments and phosphorescence decay measurement
JP2001174744A (ja) * 1999-10-06 2001-06-29 Olympus Optical Co Ltd 光走査プローブ装置
US6667808B2 (en) * 2000-03-08 2003-12-23 Thermo Electron Scientific Instruments Corporation Multifunctional fourier transform infrared spectrometer system
US6661334B1 (en) * 2000-09-26 2003-12-09 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Methods and apparatus for verifying the installation of components in a system
DE20113153U1 (de) 2001-08-15 2002-02-21 Knick Elektronische Meßgeräte GmbH & Co., 14163 Berlin Mikroprozessorgesteuertes ,elektrochemisches Analysengerät
US7023553B2 (en) * 2001-09-07 2006-04-04 Wallac Oy Intelligent instrumentation with changeable optical components
DE10159722B4 (de) * 2001-12-05 2008-02-07 Bruker Optik Gmbh Abbildendes FTIR-Spektrometer
DE102004039245A1 (de) * 2004-08-10 2006-03-30 Analytik Jena Ag Anordnung und Verfahren zur Charakterisierung der Strahlungsquelle von Analysegeräten
DE202006010764U1 (de) * 2005-07-11 2006-09-28 Tecan Trading Ag Mikroplattenreader mit intelligentem Filterschieber
GB2435712B (en) * 2006-03-02 2008-05-28 Microsaic Ltd Personalised mass spectrometer
GB2451239B (en) * 2007-07-23 2009-07-08 Microsaic Systems Ltd Microengineered electrode assembly
US8111392B1 (en) * 2008-02-18 2012-02-07 Thermo Electron Scientific Instruments Llc Raman spectrometer with display of laser power at the sample
DE102012215594B3 (de) * 2012-09-03 2013-08-01 Sick Ag Verfahren zur Laserspektroskopie von Gasen
WO2015019161A1 (en) * 2013-08-09 2015-02-12 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Intensity correction for tof data acquisition
US10203246B2 (en) * 2015-11-20 2019-02-12 Verifood, Ltd. Systems and methods for calibration of a handheld spectrometer
US10116356B2 (en) * 2016-11-07 2018-10-30 Molecular Devices (Austria) GmbH System and method for operating a microplate reader

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4303984A (en) * 1979-12-14 1981-12-01 Honeywell Inc. Sensor output correction circuit
JPS5711634A (en) * 1980-06-26 1982-01-21 Tokyo Shibaura Electric Co Apparatus for measuring live body information
GB2141220B (en) * 1983-06-06 1987-04-01 Philips Electronic Associated Atomic absorption spectrophotometer
GB2141221B (en) * 1983-06-06 1987-04-08 Philips Electronic Associated Atomic absorption spectrophotometer
US4787053A (en) * 1981-12-30 1988-11-22 Semco Instruments, Inc. Comprehensive engine monitor and recorder
US4575803A (en) * 1981-12-30 1986-03-11 Semco Instruments, Inc. Engine monitor and recorder
DE3446248A1 (de) * 1984-12-19 1986-06-19 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Sensor zur messung physikalischer groessen und verfahren zum abgleich des sensors
US4763285A (en) * 1985-10-04 1988-08-09 Semco Instruments, Inc. Helicopter low-g monitor, recorder and warning system
US5397898A (en) * 1994-02-02 1995-03-14 Bruker Analytische Messtechnik Gmbh Optical component exchanger and method

Also Published As

Publication number Publication date
US5557544A (en) 1996-09-17
DE4241905A1 (de) 1994-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4241905C2 (de) Spektrometer mit dynamisch kodierten Komponenten
DE19634167B4 (de) Verfahren zum Optimieren des Zugriffs für einen Festplattenantrieb
DE1928202A1 (de) UEberwachungs- und Statistikeinrichtung fuer Datenverarbeitungssysteme
EP0704803B1 (de) Verfahren zur Speicherverwaltung eines Flash-Speichers
CH698317B1 (de) Mikroplattenreader mit intelligentem Filterschieber.
DE102004050662A1 (de) Verfahren und System zur Einstellung der Schreibgeschwindigkeit eines optischen Laufwerks
WO2007022929A1 (de) Optische abtastvorrichtung mit einem frei programmierbaren speicher
DE3713043C2 (de) Verfahren zur Behandlung eines fehlerhaften Bereichs eines Magnetplattenstapels
DE69131451T2 (de) Optischer speicher
DE3419739C2 (de) Atomabsorptionsspektrophotometer
DE1774607C3 (de) Speicheranordnung mit einem informationszerstörend lesbaren Speicher
DE202009001270U1 (de) Filterelement und Messeinrichtung
DE3019762A1 (de) Verfahren zum bestimmen von grenzpunkten bei der elektrophorese
DE3419800C2 (de) Atomabsorptionsspektrophotometer
DE1549473B2 (de) Einrichtung zum Auffinden ge speicherter Daten
EP0373735A2 (de) Anordnung mit mehreren Spleissmodulen
DE69121133T2 (de) Objektivlinsensystem zur Anwendung in einem Mikroskop
DE69919726T2 (de) System und Verfahren zum Betrieb einer Prüfeinrichtung
DE102014226577A1 (de) Verfahren zum Betreiben eines Geräts zur Erfassung einer physikalischen oder chemischen Größe
DE3218244A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur optischen datenverarbeitung
DE3009121B1 (de) Mikroprogramm-Steuereinrichtung
EP2945032A1 (de) Verfahren zur ermittlung der schaltzeiten und/oder der heizkurvenkennlinie einer heizungsanlage
DE19912023C1 (de) Verfahren und Vorrichutng zum Auslesen von holographisch gespeicherten Daten aus einem Kristall
DE20009787U1 (de) Anzeigevorrichtung mit mehreren Kontrastbildern
DE2926419C2 (de) Vorrichtung zur Aufzeichnung von elektrischen Signalen, die zufällig auftretenden Störungen entsprechen

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: BRUKER ANALYTIK GMBH, 76287 RHEINSTETTEN, DE

8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: BRUKER OPTICS, INC., BILLERICA, MASS., US

8328 Change in the person/name/address of the agent

Free format text: KOHLER SCHMID + PARTNER, 70565 STUTTGART

8339 Ceased/non-payment of the annual fee