DE4231325A1 - Zufuehrungsrahmen fuer eine halbleitervorrichtung - Google Patents
Zufuehrungsrahmen fuer eine halbleitervorrichtungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen Zuführungs
rahmen für eine Halbleitervorrichtung, bei dem ein Chipan
schluß für die Befestigung eines Lastteiles unterhalb des
Rahmenabschnittes abgesenkt wird, und bezieht sich insbeson
dere auf die Anordnung des Chipanschlusses.
Im folgenden wird ein Zuführungsrahmen für einen Halbleiter
drucksensor beschrieben als Zuführungsrahmen für eine Halb
leitervorrichtung, bei dem bei der Anwendung ein Chipan
schluß für die Befestigung eines Lastteiles darauf unterhalb
des Rahmenabschnittes abgesenkt wird. Die Fig. 5 und 6 zei
gen einen solchen Zuführungsrahmen für einen Halbleiter
drucksensor. Fig. 5 zeigt eine Draufsicht des Zuführungsrah
mens, und Fig. 6 stellt eine Seitenansicht hiervon dar, wo
bei beide Darstellungen den Zustand zeigen, bei dem der Chi
panschluß abgesenkt ist. In den Figuren weist ein Zufüh
rungsrahmen 100 im allgemeinen eine Vielzahl von Zuführungs
rahmeneinheiten 1 auf, die durch die gestrichelte Linie in
Fig. 5 gezeigt ist, und in einer Reihe in einem Zuführungs
abschnitt 1a vorgesehen sind. Jede der Zuführungsrahmenein
heiten 1 weist Zuführungen 2, einen Chipanschluß 3 und Chip
anschlußstützzuführungen 5 zur Abstützung des Chipanschlus
ses 3 auf. Auf einer Chipbondfläche 7 wird ein Lastteil
(siehe Fig. 7) befestigt.
Bei der Absenkung des Chipanschlusses 3 unterhalb des Rah
menabschnittes 1a, ist es wie es in den Figuren dargestellt
ist, wünschenswert, daß der Chipanschluß 3 im wesentlichen
in der Mitte des Rahmenabschnittes 1a bei einer Höhe ange
ordnet wird, welche für die elektrische Verbindung des Last
teiles mit den Zuführungen 2 geeignet ist. Die Länge von je
der der Chipanschlußstützzuführungen 5 wird somit im Hin
blick auf den Zustand bestimmt, bei dem der Chipanschluß 3
abgesenkt ist. Der Zuführungsrahmen 100 wird im allgemeinen
durch Ausstanzen aus einer dünnen Metallplatte gebildet. Der
Zuführungsrahmen 100 stellt unmittelbar nach dieser Bildung
eine somit hergestellte flache Platte dar, wobei der Chipan
schluß 3 anschließend abgesenkt wird, wie es in den Figuren
dargestellt ist. Der Chipanschluß 3 in dem Zuführungsrahmen
100 vor der Absenkung befindet sich bei einem Abschnitt ge
mäß Fig. 5 unterhalb des in den Figuren dargestellten Chip
anschlusses 3.
Die Fig. 7 und 8 zeigen in schematischen Schnittansichten
die innere Anordnung eines Halbleiterdrucksensors, welcher
den in den Fig. 5 und 6 dargestellten Zuführungsrahmen ver
wendet. Die Fig. 7 und 8 stellen Schnittansichten dar, die
entlang Linien genommen wurden, die sich bei rechten Winkeln
schneiden. Obwohl normalerweise die Zuführungen 2, welche
mit einem Chip 8 über Au-Drähte 2a verbunden sind, in der
Richtung senkrecht zur Zeichenebene der Fig. 7 vorhanden
sind, sind die Zuführungen 2 in dieser Figur nicht näher
dargestellt. Obwohl auf ähnliche Weise die Chipanschluß
stützzuführungen 5 tatsächlich vor oder hinter der Zeichene
bene in Fig. 8 vorhanden sind, sind die Chipanschlußstützzu
führungen 5 in dieser Figur nicht näher dargestellt.
Der Halbleiterdrucksensorchip 8 ist für die tatsächliche Er
fassung eines Druckes mit einem Glaspodest derart gebondet,
daß ein Vakuumraum 20 zwischen dem Sensorchip 8 und dem Po
dest 9 gebildet wird. Ein Halbleiterdruckerfassungselement
aufweisend den Halbleiterdrucksensorchip 8 und das Glaspo
dest 9 wird als Lastteil mit dem Chipanschluß 3 mittels ei
nem Glaspodestbefestigungsharz 12 chip-gebondet. Die Zufüh
rungen 2 sind jeweils elektrisch mit den auf der oberen
Oberfläche des Halbleiterdrucksensorchips 8 gebildeten
(nicht näher dargestellten) Anschlüssen elektrisch über Au-
Drähte 2a verbunden (drahtgebondet).
Die Verkapselung des Halbleiterdrucksensors weist eine Ver
kapselungsbasis 10 und einen Verkapselungsdeckel 13 auf, wel
cher einen Druckeinlaß 13a aufweist. Der Abschnitt des Chip
anschlusses 3, auf dem das Glaspodest 9 befestigt ist, ist
in der Verkapselungsbasis 10 enthalten und mit der Verkapse
lungsbasis 10 durch das Chipanschlußbefestigungsharz 12 be
festigt. Der Verkapselungsdeckel 13 ist mit der Verkapse
lungsbasis 10 durch ein Abdichtharz 14 derart gebondet, daß
die Chipanschlußstützzuführungen 5 und die Zuführungen 2
teilweise gehalten und fixiert werden.
Der Halbleiterdrucksensorchip 8 ist mit dem Glaspodest 9
derart gebondet, daß der Vakuumraum 20 gebildet wird. Der
Luftdruck in dem Vakuumraum 20 dient als Bezugsdruck, und
der zentrale Abschnitt des Chips 8 wird nach außen und nach
innen entsprechend dem Unterschied zwischen dem Bezugsdruck
und einen externen Druck deformiert. Der externe Druck wird
über den Druckeinlaß 13a des Verkapselungsdeckels 13 einge
führt und durch das Abdichtharz 14 derart abgedichtet, daß
er nicht an die Außenseite der Hohlraumfläche 10a entweicht,
welche durch die Verkapselungsbasis 10 und den Verkapse
lungsdeckel 13 gebildet ist. Zur Erfassung der Deformation
des Chips 8 ist eine Schaltung bestehend aus beispielsweise
vier Eichwiderständen, die zu einer Brückenschaltung verbun
den sind, auf der oberen Oberfläche des Sensorchips 8 gebil
det, wobei das Ausgangssignal der Erfassungsschaltung sich
entsprechend dem Wert des externen Druckes ändert. Das elek
trische Ausgangssignal wird an die Zuführungen 2 von dem
Halbleiterdrucksensorchip 8 über die Au-Drähte 2a übertragen
und an die Außenseite des Sensors geführt.
Somit weist ein in einem Halbleiterdrucksensor oder derglei
chen verwendete Zuführungsrahmen die vorstehend beschriebene
Anordnung auf. Bei der Herstellung eines solchen Halbleiter
drucksensors wird der Zuführungsrahmen, in welchem das Glas
podest, mit dem Halbleiterdrucksensorchip gebondet wird, mit
dem Chipanschluß chip-gebondet, und der Sensorchip wird mit
den Zuführungen durch Au-Drähte drahtgebondet, in die Ver
kapselungsbasis eingesetzt, und anschließend wird der Chip
anschluß in der Verkapselungsbasis fixiert, und es wird der
Verkapselungsdeckel aufgesetzt. Nachdem der Chipanschluß mit
dem Glaspodest chip-gebondet wurde, kann der Chipanschluß
auf leichte Weise durch das Gewicht des Glaspodestes verti
kal solange bewegt werden, bis der Chipanschluß an den Boden
der Verkapselungsbasis fixiert ist. Er besteht somit bei der
Anwendung dieses Zuführungsrahmens der Nachteil, daß die Au-
Drähte für die Verbindung des Halbleiterdrucksensorchip und
die Zuführungen aufgrund der vertikalen Bewegung des Chipan
schlusses deformiert oder gar abgebrochen werden können.
Demgemäß wird zur Lösung dieses Nachteils die vorliegende
Erfindung vorgeschlagen, so daß der Erfindung die Aufgabe
zugrunde liegt, einen Zuführungsrahmen für eine Halbleiter
vorrichtung zur Verfügung zu stellen, bei dem die vertikale
Bewegung eines Chipanschlusses nach dem Chipbonden eines
Glaspodestes mit dem Chipanschluß verhindert werden kann,
und bei dem kein leichtes Abbrechen von Drähten entsteht.
Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt durch einen Zuführungsrah
men für eine Halbleitervorrichtung mit den Merkmalen des Pa
tentanspruches 1.
Entsprechend einer Ausführungsform der vorliegenden Erfin
dung ist ein Zuführungsrahmen für eine Halbleitervorrichtung
vorgesehen, bei dem ein Chipanschlußabschnitt für die Befe
stigung eines Lastteiles darauf bei der Anwendung unterhalb
eines Rahmenabschnittes abgesenkt wird, und welcher zumin
dest eine Zuführungsrahmeneinheit aufweist. Die Zuführungs
rahmeneinheit weist den Rahmenabschnitt, welcher als ein ex
terner Rahmen dient, einen unterteilten Chipanschlußab
schnitt, welcher bei der Anwendung unterhalb des Rahmenab
schnittes innerhalb des Rahmenabschnittes abgesenkt wird,
und welcher zumindest einen Hauptchipanschluß und zumindest
einen Hilfschipanschluß, Hauptchipanschlußstützzuführungen
und Hilfschipanschlußstützzuführungen, die jeweils eine vor
bestimmte Länge derart aufweisen, daß der Hauptchipanschluß
und der Hilfschipanschluß eine flache Oberfläche bei der Ab
senkung des unterteilten Chipanschlußabschnittes bilden, und
welche sich nach innen von dem Rahmenabschnitt in unter
schiedliche Richtungen derart erstrecken, daß jeweils der
Hauptchipanschluß und der Hilfschipanschluß gestützt sind
aufweist, und zumindest eine Zuführung aufweist, welche sich
nach innen von dem Zuführungsabschnitt erstreckt und elek
trisch mit dem Lastteil derart verbunden ist, daß die elek
trische Verbindung des Lastteiles gestützt ist.
Entsprechend einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung wird ein Verfahren zur Herstellung einer Halblei
tervorrichtung gemäß Patentanspruch 5 unter Verwendung eines
derartigen Zuführungsrahmens zur Verfügung gestellt.
Der Zuführungsrahmen für eine Halbleitervorrichtung gemäß
der vorliegenden Erfindung weist unterteilte Chipanschlußab
schnitte auf, von denen jeder zumindest einen Hauptchipan
schluß und zumindest einen Hilfschipanschluß aufweist, wobei
sich Haupt- und Hilfschipanschlußstützzuführungen von dem
Rahmenabschnitt in unterschiedliche Richtungen erstrecken,
so daß jeweils die Haupt- und Hilfschipanschlüsse gestützt
werden, wodurch der Chipanschluß in einem stabilen Zustand
gestützt werden kann. Hierdurch werden Oszillationen und
vertikale Bewegungen des Chipanschlusses verhindert, und so
mit ein Abbrechen von Drähten oder dergleichen während der
Herstellung verhindert.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus
den Unteransprüchen.
Weitere Einzelheiten, Aspekte und Vorteile der vorliegenden
Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung
unter Bezugnahme auf die Zeichnung.
Es zeigt:
Fig. 1 eine Draufsicht eines Zuführungsrahmens für eine
Halbleitervorrichtung entsprechend einem Ausfüh
rungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 eine Seitenansicht des in Fig. 1 dargestellten Zu
führungsrahmens;
Fig. 3 eine Draufsicht des in Fig. 1 dargestellten Zufüh
rungsrahmens, bevor der Chipanschlußabschnitt abge
senkt ist;
Fig. 4 eine Schnittansicht eines Halbleiterdrucksensors,
bei welchem der in Fig. 1 dargestellte Zuführungs
rahmen verwendet ist;
Fig. 5 eine Draufsicht eines Zuführungsrahmens einer Halb
leitervorrichtung;
Fig. 6 eine Seitenansicht des in Fig. 5 dargestellten Zu
führungsrahmens;
Fig. 7 eine Schnittansicht eines Halbleiterdrucksensors,
bei welchem der in Fig. 5 dargestellte Zuführungs
rahmen verwendet ist; und
Fig. 8 eine Schnittansicht des in Fig. 7 dargestellen Halb
leiterdrucksensors, genommen entlang der Linie senk
recht zur Schnittansicht gemäß Fig. 7.
Die Fig. 1 und 2 zeigen einen Zuführungsrahmen für einen
Halbleiterdrucksensor entsprechend einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung. Fig. 1 zeigt eine Draufsicht des
Zuführungsrahmens, und Fig. 2 zeigt eine Seitenansicht des
selben, wobei beide Figuren den Zustand darstellen, bei dem
der Chipanschlußabschnitt abgesenkt ist. In den Figuren sind
gleiche oder äquivalente Abschnitte wie bei dem vorstehend
beschriebenen Zuführungsrahmen durch dieselben Bezugsziffern
bezeichnet, und darüber hinaus nicht mehr näher erläutert.
Jede der Zuführungsrahmeneinheiten 1 eines Zuführungsrahmens
110 weist einen Chipanschlußabschnitt 30 mit einem Hauptchi
panschluß 3 und zwei Hilfschipanschlüssen 4 auf beiden Sei
ten des Hauptchipanschlusses 3 auf. Die Haupt- und Hilfschi
panschlüsse 3 und 4 sind jeweils durch eine Hauptchipan
schlußstützzuführung 5 und Hilfschipanschlußstützzuführungen
6 gestützt. Die Hauptchipanschlußstützzuführung 5 und die
Hilfschipanschlußstützzuführungen 6 erstrecken sich nach in
nen von den entgegengesetzten beiden Seiten des Rahmenab
schnittes 1a in einer Richtung desselben. Der Hauptchipan
schluß 3 und die Hilfschipanschlüsse 4 sind derart abge
senkt, daß sie eine flache Oberfläche zur Bildung des Chip
anschlußabschnittes 30 bilden.
Fig. 3 zeigt den Zustand vor der Absenkung des Hauptchipan
schlusses 3 und der Hilfschipanschlüsse 4 des Zuführungsrah
mens 110. Jede der Hauptchipanschlußstützzuführung 5 und der
Hilfschipanschlußstützzuführungen 6 ist in einer Länge ge
bildet, welche im Hinblick auf den Zustand bestimmt ist, bei
dem der Hauptchipanschluß 3 und die Hilfschipanschlüsse 4
den Chipanschlußabschnitt 30 bei der Absenkung bilden, wie
es in Fig. 1 dargestellt ist.
Fig. 4 zeigt eine Schnittansicht der internen Anordnung des
Halbleiterdrucksensors, bei dem der in den Fig. 1 und 2 dar
gestellte Zuführungsrahmen verwendet ist. Obwohl die Zufüh
rungen 2, welche mittels Au-Drähte 2a mit dem Chip 8 verbun
den sind, tatsächlich in einer vertikalen Richtung zur Zei
chenebene der Fig. 4 vorgesehen sind (d. h. auf den beiden
entgegengesetzten Seiten in vertikaler Richtung zu jeder der
Stützzuführungen), sind die Zuführungen 2 in Fig. 4 nicht
näher dargestellt. Da eine Schnittansicht des Halbleiter
drucksensors, genommen entlang der vertikalen Richtung zur
Richtung der Schnittansicht gemäß Fig. 4 im wesentlichen
dieselbe Ansicht darstellt wie die Schnittansicht des in
Fig. 8 dargestellten Sensors, ist diese weggelassen.
Das Verfahren zur Herstellung des Halbleiterdrucksensors
wird nachfolgend zusammenfassend beschrieben. Das Verfahren
weist die Schritte auf: Absenken des Hauptchipanschlusses 3
und der Hilfschipanschlüsse 4 unterhalb des Rahmenabschnit
tes 1a derart, daß ein Chipanschlußabschnitt 30 gebildet
wird, der eine flache Oberfläche bildet, einen Chipbond
schritt des Fixierens des Halbleiterelementes (8, 9) auf dem
Chipanschlußabschnitt 30, einen Drahtbondschritt des elek
trischen Verbindens der Zuführungen 2 mit dem Halbleiterele
ment (8, 9) durch die Drähte 2a, sowie einen Schritt des
Aufnehmens und Fixierens des Zuführungsrahmens 110, der ei
nem Chipbonden und Drahtbonden in eine Verkapselung (10, 13)
unterzogen wird. Mit Ausnahme des Schrittes des Absenkens
des Chipanschlußabschnittes sind diese Schritte im wesentli
chen dieselben wie diejenigen des eingangs beschriebenen
Verfahrens.
Wie es in Fig. 4 dargestellt ist, ist der durch den Haupt
chipanschluß 3 und die Hilfschipanschlüsse 4 gebildete Chip
anschlußabschnitt 30 jeweils gestützt auf den beiden Seiten
durch die Hauptchipanschlußstützzuführung 5 und die Hilf
schipanschlußstützzuführungen 6. Während dem Herstellungs
verfahren ist es somit möglich, die vertikale Bewegung des
Chipanschlußabschnittes 30 zu verhindern, und eine Deforma
tion und ein Abbrechen der Au-Drähte 2a (vgl. Fig. 8) für
die Verbindung der Zuführungen 2 an den Chip 8 auch dann zu
verhindern, wenn das Glaspodest 9 aufweisend den Halbleiter
drucksensorchip 8, der auf der oberen Oberfläche hiervon ge
bondet ist, mit dem Chipanschlußabschnitt 30 chipgebondet
wird.
Obwohl das vorstehend beschriebene Ausführungsbeispiel einen
Zuführungsrahmen betrifft, welcher in einem Halbleiterdruck
sensor verwendet ist, ist die vorliegende Erfindung nicht
darauf begrenzt, wobei die vorliegende Erfindung auf belie
bige Zuführungsrahmen für Halbleitervorrichtungen verwendet
werden kann, bei dem der Chipanschluß bei der Verwendung ab
gesenkt wird. Obwohl darüber hinaus bei dem vorstehenden
Ausführungsbeispiel der Chipanschlußabschnitt 30 in drei
Teile unterteilt ist, welche den Hauptchipanschluß 3 und die
Hilfschipanschlüsse 4 aufweisen, können dieselben Wirkungen
erzielt werden, falls der Chipanschlußabschnitt in zwei oder
vier Teile unterteilt ist, welche jeweils durch Chipan
schlußstützzuführungen gestützt sind, die sich von dem Rah
menabschnitt 1a in unterschiedliche Richtungen hiervon er
strecken.
Wie vorstehend beschrieben wurde, weist der Zuführungsrahmen
für die Halbleitervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfin
dung Chipanschlußabschnitte auf, von denen jeder in eine
Vielzahl von Chipanschlüssen unterteilt ist, die jeweils
durch Chipanschlußstützzuführungen gestützt sind, die sich
von dem Rahmenabschnitt in unterschiedliche Richtungen hier
von erstrecken, wodurch die vertikale Bewegung der Chipan
schlußabschnitte verhindert wird, auf denen jeweils ein
Lastteil chipgebondet ist. Aufgrund der vorliegenden Erfin
dung wird somit die Deformation und das Abbrechen von Au-
Drähte nach dem Drahtbonden verhindert, so daß ein Zufüh
rungsrahmen mit hoher Zuverlässigkeit zur Verfügung gestellt
wird.
Claims (5)
1. Zuführungsrahmen für eine Halbleitervorrichtung, bei dem
Chipanschlußabschnitte bei der Anwendung jeweils unter
halb von Rahmenabschnitten abgesenkt werden, wobei der
Zuführungsrahmen zumindest eine Zuführungsrahmeneinheit
aufweist, welche aufweist:
einen Rahmenabschnitt, der als äußerer Rahmen dient;
einen unterteilten Chipanschlußabschnitt, welcher bei der Anwendung unterhalb des Rahmenabschnittes innerhalb des Rahmenabschnittes abgesenkt wird und zumindest einen Hauptchipanschluß und zumindest einen Hilfschipanschluß aufweist;
eine Hauptchipanschlußstützzuführung und eine Hilfschip anschlußstützzuführung, von denen jede eine vorbestimmte Länge derart aufweist, daß der Hauptchipanschluß und der Hilfschipanschluß eine flache Oberfläche wie der Chipan schlußabschnitt aufweist, wenn dieser abgesenkt ist, und welche sich nach innen von dem Rahmenabschnitt in unter schiedliche Richtungen derart erstrecken, daß sie je weils den Hauptchipanschluß und den Hilfschipanschluß stützen; und
zumindest eine Zuführung, welche sich nach innen von dem Rahmenabschnitt erstreckt und elektrisch verbunden ist mit dem Lastteil derart, daß die elektrische Verbindung des Lastteiles gestützt ist.
einen Rahmenabschnitt, der als äußerer Rahmen dient;
einen unterteilten Chipanschlußabschnitt, welcher bei der Anwendung unterhalb des Rahmenabschnittes innerhalb des Rahmenabschnittes abgesenkt wird und zumindest einen Hauptchipanschluß und zumindest einen Hilfschipanschluß aufweist;
eine Hauptchipanschlußstützzuführung und eine Hilfschip anschlußstützzuführung, von denen jede eine vorbestimmte Länge derart aufweist, daß der Hauptchipanschluß und der Hilfschipanschluß eine flache Oberfläche wie der Chipan schlußabschnitt aufweist, wenn dieser abgesenkt ist, und welche sich nach innen von dem Rahmenabschnitt in unter schiedliche Richtungen derart erstrecken, daß sie je weils den Hauptchipanschluß und den Hilfschipanschluß stützen; und
zumindest eine Zuführung, welche sich nach innen von dem Rahmenabschnitt erstreckt und elektrisch verbunden ist mit dem Lastteil derart, daß die elektrische Verbindung des Lastteiles gestützt ist.
2. Zuführungsrahmen für eine Halbleitervorrichtung nach An
spruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Rahmenab
schnitt der Zuführungsrahmeneinheit einen Rahmen mit
vier Seiten aufweist, wobei sich die Hauptchipanschluß
stützzuführungen und die Hilfschipanschlußstützzuführun
gen jeweils von den entgegengesetzten beiden Seiten des
Rahmenabschnittes in einer Richtung hiervon erstrecken,
und die Zuführung sich von zumindest einer der zwei ent
gegengesetzten Seiten des Rahmenabschnittes in der Rich
tung vertikal zu jeder der Stützzuführungen erstreckt.
3. Zuführungsrahmen für eine Halbleitervorrichtung nach An
spruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Chipan
schlußabschnitt in drei Teile unterteilt ist aufweisend
einen mittleren Hauptchipanschluß und Hilfschipan
schlüsse auf beiden Seiten hiervon, wobei sich die
Hauptchipanschlußstützzuführung von einer der beiden
entgegengesetzten Seiten des Rahmenabschnittes in einer
Richtung hiervon erstreckt, und sich die beiden Hilf
schipanschlußstützzuführungen von der anderen Seite er
strecken, und eine Vielzahl von Zuführungen sich von den
beiden entgegengesetzten Seiten in der vertikalen Rich
tung der Stützzuführungen erstrecken.
4. Zuführungsrahmen für eine Halbleitervorrichtung nach An
spruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß er für einen Halb
leiterdrucksensor verwendet ist, bei dem ein auf dem
Chipanschlußabschnitt befestigtes Lastteil ein Halblei
terdruckerfassungselement darstellt, welches einen auf
einem Glaspodest befestigten Halbleiterdrucksensorchip
aufweist.
5. Verfahren zur Herstellung einer Halbleitervorrichtung
unter Verwendung eines Zuführungsrahmens gemäß Anspruch
1, welches aufweist:
einen Schritt des Absenkens des Hauptchipanschlusses und des Hilfschipanschlusses unterhalb des Rahmenabschnittes zur Bildung des Chipanschlußabschnittes, welcher eine flache Oberfläche bildet;
einen Chipbondschritt des Fixierens eines Halbleiterele mentes auf dem Chipanschlußabschnitt;
einen Drahtbondschritt des elektrischen Bondens der Zu führung an das Halbleiterelement durch Drähte; und
einen Schritt des Aufnehmens und Fixierens des Zufüh rungsrahmens, der einem Chipbonden und einer elektri schen Verbindung unterzogen worden ist, in eine Verkap selung.
einen Schritt des Absenkens des Hauptchipanschlusses und des Hilfschipanschlusses unterhalb des Rahmenabschnittes zur Bildung des Chipanschlußabschnittes, welcher eine flache Oberfläche bildet;
einen Chipbondschritt des Fixierens eines Halbleiterele mentes auf dem Chipanschlußabschnitt;
einen Drahtbondschritt des elektrischen Bondens der Zu führung an das Halbleiterelement durch Drähte; und
einen Schritt des Aufnehmens und Fixierens des Zufüh rungsrahmens, der einem Chipbonden und einer elektri schen Verbindung unterzogen worden ist, in eine Verkap selung.
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