DE4228534C2 - Verfahren zur Analyse einer Fremdsubstanz - Google Patents
Verfahren zur Analyse einer FremdsubstanzInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Analyse einer Fremdsubstanz,
wie es im Anspruch 1 dargestellt ist.
Neuere optische Methoden der chemischen oder biochemischen
Analytik nutzen die besonderen Eigenschaften lichtleitender Filme zur
Erkennung und quantitativen Bestimmung von Substanzen. In der
Regel wird dabei der Umstand ausgenutzt, daß Licht, das in einer
dünnen, hochbrechenden Beschichtung geführt wird, durch seinen
sogenannten evaneszenten Feldanteil mit den Substanzen auf dem
Film wechselwirkt. Insbesondere werden bei diesen Meßverfahren
Fluoreszenzeigenschaften dieser Substanzen genutzt oder die
Änderung der Phasengeschwindigkeit des geführten Lichtes aus
gewertet, die aus der Anlagerung von Substanzen an den lichtleitenden
Film resultiert.
Unabhängig von dem Detektionsverfahren ist bei allen diesen
Meßprinzipien die Einkopplung des Lichtes in die lichtleitende
Beschichtung schwierig. Das Problem besteht insbesondere darin, daß
die Dicke dieser Filme sehr klein ist (ca. 0,1 µm...
1 µm). Bei einigen Anwendungsfällen wird außerdem gefordert, daß die
Einkopplung des Lichtes - evtl. nach einer chemischen Behandlung
vom Anwender durchgeführt werden muß es möglich sein muß, diese
Elemente leicht auszutauschen. Die Einkopplung des Lichtes muß also
auch ungeschultes Personal problemlos vornehmen können. Weiterhin
erfordern diese Anwendungen, daß das optische Element sehr
preiswert herstellbar ist, da es unter Umständen nur für eine einmalige
Messung eingesetzt wird. Vorrichtungen zur Einkopplung des Lichtes
sollten sich daher nicht an der optischen Struktur befinden, sondern in
einem Analysegerät vorhanden sein, in das das lichtleitende Element
zur Messung eingebracht wird.
Bisher werden verschiedene Verfahren und Einrichtungen zur
Lichteinkopplung in dünne, lichtleitende Filme, die sich auf einem
Substrat befinden (planarer Wellenleiter), verwendet, die nachstehend
anhand der Fig. 5a bis 5c kurz schematisch erläutert werden.
Eine Methode, die in Fig. 5a dargestellt ist, besteht darin, daß das Licht
durch die stirnseitige Endfläche des planaren lichtleitenden Films
eingebracht wird, indem entweder ein Lichtstrahl auf die Stirnfläche der
Wellenleiterprobe fokussiert wird oder eine lichtleitende Faser von
dieser Stirnfläche angeordnet wird. Dieses Verfahren erfordert jedoch
eine extreme Justiergenauigkeit (Größenordnungen 0,1 µm) und es ist
überdies erforderlich, daß die Stirnseite des Wellenleiters speziell
bearbeitet sein muß (Kantenpolitur), wodurch die Herstellungskosten
beträchtlich erhöht werden, so daß ein derartiges Wellenleiterelement
für die vorgesehenen Analysezwecke, die zum Teil den bereits
vorerläuterten Einmalgebrauch beinhalten, nicht in Betracht kommt.
Eine Alternative zu der in Fig. 5a dargestellten Lichteinkopplung mittels
fokussiertem Lichtstrahl oder einer Lichtleitfaser stirnseitig in den
lichtleitenden Film besteht in der Kopplung durch ein Gitter, wie dies in
Fig. 5b dargestellt ist. Hierbei werden zwar die Anforderungen an die
laterale Positionierung der Wellenleiterprobe bzw. des Lichtstrahles
oder der das Licht führenden Lichtleitfaser beträchtlich reduziert,
allerdings ist auch hierbei eine hochpräzise Positionierung des
einzukoppelnden Lichtes in bezug auf das Gitter erforderlich, da der
Winkel, unter dem das einzukoppelnde Licht auf das Gitter eingestrahlt
wird, sehr präzise, d. h. in einer Größenordnung von 0,01° eingehalten
werden muß. Überdies verlangt diese Form der Einkopplung für das
lichtleitende planare Wellenleiterelement die Ausbildung eines
Koppelgitters an diesem, so daß wiederum derartige planare Lichtleiter
nicht hinreichend kostengünstig zur Verfügung stehen. Ein weiteres,
bekanntes Verfahren zur Lichteinkopplung in einen dünnen,
lichtleitenden Film auf einem Substrat besteht, wie in Fig. 5c gezeigt,
darin, das Licht durch Aufdrücken eines hochbrechenden Prismas auf
den lichtleitenden Film des Substrats in diesen einzukoppeln. Der
Nachteil dieses Verfahrens im Hinblick auf den eingangs erläuterten
Einsatzzweck besteht darin, daß auch hierbei der Einstrahlwinkel des
Lichtes hochpräzise eingestellt werden muß (ebenfalls in einer
Größenordnung von 0,01°). Diese Einflußgröße ist daher noch
nachteiliger anzusehen als die gleichfalls bestehende Abhängigkeit des
Koppelwirkungsgrades vom Andruck des Prismas auf den lichtleitenden
Film.
Aus der DE 25 03 405 B2 ist ein optischer Koppler bekannt, bei dem die
Lichtkopplung mit Hilfe evaneszenter Felder erfolgt, wobei das Licht
von einem Faseroptik-Wellenleiter in einen ebenen Wellenleiter
eingekoppelt wird. Zur Phasenanpassung findet ein Beugungsgitter
Verwendung.
Evaneszent-Sensoren als Niveau-, Flüssigkeits- oder
Temperatursensoren sind aus Fiber Optics Handbook for Engineers
and Scientists (McGraw-Hill, New York 1989, S. 8.5, 8.6 und 8.29 bis
8.32) bekannt. Kopplungsprobleme sind hierbei allerdings nicht
angesprochen.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur
Analyse einer Fremdsubstanz in einem Analysegerät anzugeben, das
unter Einsatz eines Sensorelementes, in das Licht eingekoppelt wird, in
einfacher Weise ausführbar ist und auch den unkomplizierten Wechsel
des optisch arbeitenden Sensorelementes gestattet.
Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren der eingangs genannten Art
erfindungsgemäß durch die Merkmale des Patentanspruches 1 gelöst.
Auf diese Weise kann in einer einmaligen, präzisen Justierung und
Lichteinkopplung in diesen Hilfswellenleiter derselbe in einem
Analysegerät stationär aufgenommen sein, während die jeweilige
Analysenprobe in Gestalt des mit dem zu analysierenden Produkt
zumindest teilweise beschichteten planaren Wellenleiters in einer
verhältnismäßig einfachen Vorrichtung aufgenommen werden und in
Andruckkontakt mit dem Hilfswellenleiter gebracht werden kann. Auf
diese Weise sind keinerlei komplizierten Justierungen zur Einkopplung
des Lichtes in den planaren, das zu analysierende Produkt tragenden
Wellenleiter erforderlich und es bestehen keine besonderen Anforde
rungen an die Struktur des planaren Wellenleiters. Dieser kann daher
sehr kostengünstig hergestellt und in einfacher Weise als Probenträger,
gegebenenfalls im Einmalgebrauch, ausgewertet werden.
Nach einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird das
einzukoppelnde Licht in einem lichtleitenden Film des eine planare
Struktur aufweisenden Hilfswellenleiters (integriert-optisches Element)
geführt.
In einer alternativen Ausführungsform der vorliegenden Erfindung kann
das einzukoppelnde Licht in einer Lichtleitfaser geführt werden, deren
Ummantelung partiell in einem Einkopplungsbereich zur Freilegung des
lichtleitenden Faserkernes abgeschliffen wird.
Vorzugsweise besteht der Hilfswellenleiter aus einem zumindest partiell
mit einem lichtleitenden Film versehenen Substrat (Trägermaterial) und
werden die lichtleitenden Filme in Druckkontakt miteinander gebracht.
Nach noch einer weiteren Ausführungsform der Erfindung
ist der Hilfswellenleiter ein Faser-Schliffkoppler mit einer
gekrümmten Aufnahmenut, die zumindest partiell in einer planaren
Kontaktfläche des Faser-Schliffkopplers ausgebildet ist und in der eine
Lichtleitfaser, deren in der Kontaktfläche liegender Abschnitt zum
Freilegen des lichtleitenden Faserkernes einseitig poliert ist,
aufgenommen ist.
Ein derartiger planarer Hilfswellenleiter oder Faser-Schliffkoppler ist
stationärer Teil eines Analysengerätes, während der als Sensorelement
verwendete, planare Wellenleiter austauschbar in diesem angeordnet
und mit dem Hilfswellenleiter in Druckkontakt bringbar ist.
Nach noch einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung kann der planare Wellenleiter oder, sofern der
Hilfswellenleiter ebenfalls als planares Dünnschicht-Element
ausgebildet ist, zumindest einer der planaren Wellenleiter lateral op
tisch strukturiert sein, z. B. eine monomodige Streifenleiterstruktur
aufweisen.
Weitere, bevorzugte Ausgestaltungen des Erfindungsgegenstandes
sind in den übrigen Unteransprüchen
dargelegt.
Die Erfindung wird nachstehend anhand von
Ausführungsbeispielen und zugehörigen Zeichnungen näher
erläutert. In diesen zeigen:
Fig. 1 eine Vorrichtung zur Lichteinkopplung in einen
dünnen, lichtleitenden Film (planaren
Wellenleiter) mit einem Schliffkoppler als
Hilfswellenleiter in schematischer Darstellung in
Seitenansicht,
Fig. 2 eine Vorrichtung nach Fig. 1 schematisch in
perspektivischer Darstellung,
Fig. 3 eine Vorrichtung zur Lichteinkopplung in einen
planaren Wellenleiter schematisch in Seitenansicht
mit einem ebenfalls als planaren Wellenleiter
ausgebildeten Hilfswellenleiter,
Fig. 4 eine Ansicht der Vorrichtung nach Fig. 3
schematisch in perspektivischer Darstellung,
Fig. 5a bis 5c verschiedene Verfahren und Vorrichtungen
zur Lichteinkopplung in einen planaren Wellenleiter
nach dem Stand der Technik.
In den Fig. 1 und 2 wird eine z. B. in einem hier nicht näher
dargestellten Analysengerät eingebaute Vorrichtung zur
Einkopplung von Licht in einen planaren Wellenleiter
gezeigt, der seinerseits ein Sensorelement, z. B. zur Analyse
von chemischen oder biochemischen Substanzen, die auf der
Oberfläche des planaren Wellenleiters abgelagert sind und in
Wechselwirkung mit dem evaneszenten Feld des in dem planaren
Wellenleiter geführten Lichtes treten, bildet. Fig. 1 zeigt
die Vorrichtung in schematischer Darstellung in der
Seitenansicht, während Fig. 2 dieselbe Vorrichtung in
perspektivischer Darstellung schematisch verdeutlicht.
Ein planares Substrat 1 ist mit einem lichtleitenden Film 2
beschichtet. Gegebenenfalls kann der planare Wellenleiter 2
auch lateral optisch strukturiert sein und z. B. monomodige
Streifenleiter bilden. Der planare Wellenleiter 2 bildet das
Sensorelement, das z. B. einem zu analysierenden Gas oder
anderen chemischen oder biochemischen Substanzen ausgesetzt
wurde und im Anschluß dessen in ein hier nicht näher
dargestelltes Analysengerät eingesetzt wird, um aus der
Einwirkung der Substanz auf die Lichtleitung des geführten
Lichtes innerhalb des lichtleitenden Filmes 2, z. B. in bezug
auf die Änderung der Phasengeschwindigkeit des in den
lichtleitenden Film eingekoppelten Lichtes, auf die
qualitativen und/oder quantitativen Eigenschaften der zu
analysierenden Substanzen zu schließen.
Stationärer Teil eines hier nicht näher dargestellten
Analysengerätes ist als Hilfswellenleiter ein
Faser-Schliffkoppler 3, der, wie genauer aus Fig. 2
ersichtlich, eine lichtleitende Faser 4 aufnimmt, die in
eine gebogene Nut des Faser-Schliffkopplers 3 eingelegt
wird, wobei diese Nut partiell in einer unteren Oberfläche
3a des Faser-Schliffkopplers 3 mündet. Der gebogene Teil der
Lichtleitfaser 4 wird durch seitliches Polieren lokal und
partiell von seiner Ummantelung befreit, so daß der
lichtleitende Faserkern freigelegt ist und sich praktisch in
der Ebene der unteren Kopplungsfläche 3a des
Faser-Schliffkopplers 3 befindet. Der Faser-Schliffkoppler 3
mit der lichtführenden Faser 4 wird mit einer bestimmten
Andruckkraft gegen den planaren Wellenleiter 2 mit dem
Substrat 1 angedrückt. Je nach konstruktiver Gestaltung kann
dieser Vorgang selbstverständlich bei stationärer Halterung
des Faser-Schliffkopplers 3 auch umgekehrt erfolgen, so daß
der die zu analysierende Probe tragende planare Wellenleiter
2 gegen den ortsfest gehaltenen Faser-Schliffkoppler 3
angedrückt wird. Durch das evaneszente Feld des in der Faser
4 als Hilfswellenleiter geführten Lichtes wird dieses in den
planaren Wellenleiter 2 übergekoppelt, wobei beide
Lichtleiter 4 bzw. 2 an der Kopplungsstelle nicht
beschichtet oder ummantelt sind, so daß durch ein
verhältnismäßig leichtes Andrücken der Lichtleiter 4, 2
gegeneinander eine Überkopplung des Lichtes in den planaren
Wellenleiter 2 herbeigeführt wird. Als einzige variable
Größe, die die Koppeleffizienz und den Wirkungsgrad der
Lichteinkopplung beeinflußt, verbleibt bei dieser Art der
Kopplung der Andruck der beiden Lichtleiter 4, 2
gegeneinander. Diese Andruckkraft ist erheblich leichter zu
optimieren als die extrem kritischen Lagepositionierungen,
die bei den herkömmlichen Verfahren nach dem Stand der
Technik (vgl. Fig. 5a bis 5c) erforderlich sind. Diese
Optimierung der Andruckkraft kann bei gleichzeitiger
Detektion des eingekoppelten Lichtes in der Faser 4 auch
leicht automatisiert werden. Das Substrat 1 mit dem planaren
Wellenleiter 2 kann jeweils leicht ausgewechselt werden. Da
der lichtleitende Film 2 gegenüber der Faser 4 des
Hilfswellenleiters sehr breit sein kann (Größenordnung 1
cm), ist die Positionierung der Faser 4 unkritisch. Es ist
andererseits bei einer im Rahmen der dargestellten Kopplung
dennoch verhältnismäßig niedrigen Genauigkeitsanforderung an
eine Lateralpositionierung auch möglich, auf diese Weise
Licht in lateral strukturierte, planare Wellenleiter
einzukoppeln.
Auf diese Weise kann Licht ohne aufwendige
Präzisionspositionierung in einen planaren Wellenleiter oder
mehrere Wellenleiter eingekoppelt werden, wobei auch an den
planaren Wellenleiter selbst keinerlei erhöhte Anforderungen
bestehen, so daß dieser als Massenartikel herstell- und
verwendbar ist.
Zwar verbleibt auch bei dieser Lösung das Problem der
Lichteinkopplung in den Hilfswellenleiter (lichtleitende
Faser 4), die entsprechende Problemlösung ist jedoch in das
Analysengerät selbst verlagert, wobei dort durch die
stationäre Halterung des Hilfswellenleiters, hier des Faser-
Schliffkopplers 3, eine stabile und auch entsprechend genaue
Positionierung zwischen Lichtquelle und Faser keine
besonderen Schwierigkeiten bereitet und überdies nur einmal
durch den Gerätehersteller justiert werden muß.
Ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung wird
nachstehend anhand der Fig. 3 und 4 erläutert. Hierbei dient
als Hilfswellenleiter seinerseits ein planarer Wellenleiter
6, der als dünner lichtleitender Film auf einem Substrat 5
aufgebracht ist. Auch in diesem Fall kann der
Hilfswellenleiter 6 mit seiner zugehörigen Lichteinkopplung
stationär in einem Analysengerät unter entsprechend
hochgenauer Einmalpositionierung für die Lichteinkopplung
aufgenommen sein, während das die zu analysierende Probe
tragende Sensorelement (planarer Wellenleiter 2 auf Substrat
1) austauschbar in das hier nicht dargestellte Analysengerät
eingesetzt wird und lediglich durch Steuerung des Andruckes
bzw. der Andruckkraft zwischen dem planaren Wellenleiter 2
und dem Hilfswellenleiter 6 eine unkomplizierte Einkopplung
des Lichtes aus dem Hilfswellenleiter 6 in den planaren
Wellenleiter 2 ermöglicht ist. Zumindest im Kopplungsbereich
A (s. Fig. 3) sind sowohl der planare Hilfswellenleiter 6
als auch der planare Wellenleiter 2 (Sensorelement)
unbeschichtet, so daß eine entsprechende Überkopplung durch
das evaneszente Feld des in dem Hilfswellenleiter 6
geführten Lichtes in den planaren Wellenleiter 2 erfolgen
kann. Sowohl der Hilfswellenleiter 6 als auch der planare
Wellenleiter 2 (Sensorelement) können lateral unstrukturiert
sein; es ist jedoch auch möglich, den Hilfswellenleiter 6
und/oder den planaren Wellenleiter 2 optisch lateral
strukturiert auszuführen, um so eine lateral diskrete
Kopplung oder Lichtleitung, z. B. bei der Verwendung des
planaren Wellenleiters 2 als Mehrfachsensor, zu erreichen.
Lediglich aus Gründen deutlicher Darstellung wurde in den
Figuren (z. B. Fig. 3) der Hilfswellenleiter separiert von
dem planaren Wellenleiter 2 (Sensorelement) dargestellt.
Tatsächlich wurden, wie erläutert, beide Wellenleiter mit
einer bestimmten Andruckkraft (s. Pfeile B in Fig. 3)
gegeneinandergedrückt.
Im übrigen gelten die Erläuterungen zu dem ersten
Ausführungsbeispiel auch für diese zweite Ausführungsform.
Claims (4)
1. Verfahren zur Analyse einer Fremdsubstanz durch Erfassen von Wechselwir
kungen der Fremdsubstanz mit einem benachbarten planaren Wellenleiter (2), der aus
einem dünnen, lichtleitenden Film besteht und ein Sensorelement bildet, in das das in
einem Hilfswellenleiter (4; 6) geführte, einzukoppelnde Licht mit Hilfe des evaneszen
ten Feldes dieses Lichtes eingekoppelt wird, wobei der Hilfswellenleiter (4; 6) stationär
in einem Analysegerät aufgenommen ist und der planare Wellenleiter (2) in lösbaren
Andruckkontakt mit dem Hilfswellenleiter (4; 6) gebracht wird, und wobei durch Steuerung der Andruck
kraft zwischen dem planaren Wellenleiter (2) und dem Hilfswellenleiter (4; 6) der
Kopplungsgrad zwischen den beiden Wellenleitern (2, 4; 6) durch Steuerung der An
druckkraft, mit der Wellenleiter (2) und Hilfswellenleiter (4; 6) gegeneinander gedrückt
werden, optimiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das einzukop
pelnde Licht in einem planaren Hilfswellenleiter (6) geführt ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das einzukop
pelnde Licht in einer Lichtleitfaser (4) geführt wird, deren Ummantelung partiell in ei
nem Einkopplungsbereich zur Freilegung des lichtleitenden Faserkernes abgeschliffen
wird.
4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest einer
der lichtleitenden Filme lateral optisch strukturiert ist.
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---|---|---|---|
DE4228534A DE4228534C2 (de) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | Verfahren zur Analyse einer Fremdsubstanz |
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Publication Number | Publication Date |
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DE4228534A1 DE4228534A1 (de) | 1994-03-17 |
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Family
ID=6466577
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DE4228534A Expired - Fee Related DE4228534C2 (de) | 1992-08-27 | 1992-08-27 | Verfahren zur Analyse einer Fremdsubstanz |
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