DE4122707C2 - Vorrichtung und Verfahren zur Winkelmessung - Google Patents
Vorrichtung und Verfahren zur WinkelmessungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Winkelfühlvorrichtung zum Erfassen des
Winkels zwischen der Vorrichtung und einem projizierten Photoenergie
strahl.
Aus der US Patentschrift 4,804,832 ist eine Vorrichtung zum Erfassen
des Winkels zwischen einem projizierten Strahl und einem Spiegel, der
senkrecht zu zwei Sensoren angeordnet ist, bekannt. Das Prinzip dieser
Anordnung liegt darin, daß, wenn ein Lichtstrahl senkrecht auf die An
ordnung fällt, beide Sensoren die gleiche Lichtmenge wahrnehmen. Bei
schrägem Einfall des Lichtstrahls schattet der Spiegel teilweise den einen
Sensor ab, während der andere Sensor direkt von der Lichtquelle kom
mendes Licht empfängt, wie auch Licht, das von der Spiegelfläche reflek
tiert wird. Aus den so resultierenden unterschiedlichen Detektorströmen
der zwei Sensoren läßt sich dann eine Aussage über den Einfallswinkel
machen. Der Nachteil einer solchen Vorrichtung liegt darin, daß Schwan
kungen in der Intensität, die durch Veränderungen in den Charakteristi
ken oder der Anregung des Strahlprojektors oder durch Verändern der
Entfernung der Lichtquelle von dem Sensor verursacht werden können,
eine zuverlässige Bestimmung des Einfallswinkels erschweren.
Aus der US Patentschrift 4,410,270 ist eine Winkelpositionsmeßvorrichtung
bekannt, die aus zwei nebeneinander angeordneten Blenden und zwei
Sensoren besteht. Je nach Einfallswinkel des Lichtstrahls verhindern die
Blenden, daß bestimmte Lichtstrahlkomponenten die zwei Sensoren
erreichen, und somit entstehen unterschiedliche Sensorströme, aus denen
sich dann eine Aussage über den Einfallswinkel machen läßt. Diese
Druckschrift, von der die vorliegende Erfindung ausgeht, weist wiederum
das Problem auf, daß Schwankungen der Intensität des einfallenden
Lichtstrahls, die ihren Ursprung in der geometrischen Systemanordnung
oder in der Lichtemission der Lichtquelle haben können, eine zuver
lässige Einfallswinkelbestimmung nicht immer zulassen.
Daher ist es die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, durch Erfassen von
Intensitätsschwankungen des einfallenden Lichtstrahls die Messung eines
Einfallswinkels zu gewährleisten, ohne die Vorrichtung unnötig zu ver
komplizieren.
Diese Aufgabe wird durch die Vorrichtung gemäß Anspruch 1 und das
Verfahren gemäß Anspruch 7 gelöst.
Die Kombination gemäß der vorliegenden Erfindung
enthält eine Photoenergiesperre, einen primären Photoenergiesensor, der
von der Sperre beabstandet ist und angeordnet ist, um einen Teil des Photoener
giestrahls zu empfangen, wobei dieser Teil an der Kante der Sperre vorbei über
tragen wird, um dadurch einen Signalausgang zu schaffen, der für den Teil des
Primärsensors steht, der dem auftreffenden Strahlanteil ausgesetzt ist, und einen
Referenzphotoenergiesensor, der benachbart zu dem primären Photoenergiesensor
angeordnet ist. Der Referenzsensor hat einen im wesentlichen kostanten Bereich,
der dem projizierten Photoenergiestrahl ausgesetzt ist, um dadurch einen Signal
ausgang zu schaffen, der die projizierte Strahlintensität angibt. Weiterhin ist eine
Einrichtung zum Kombinieren der Signalausgänge von primärem und Referenz
photoenergiesensor vorgesehen, um einen resultierenden Signalausgang zu schaffen,
der den Winkel angibt, mit dem der auftreffende Photoenergiestrahl den primären
Photosensor schneidet.
Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung ist eine Vorrichtung offenbart zum
Bestimmen des Winkels zwischen einem projizierten Lichtenergiestrahl und einem
Körper bzw. Gehäuse, die einen primären Sensor für die projizierte Lichtenergie
hat, der an dem Gehäuse festgelegt ist, wobei der primäre Sensor einen Ausgang
in Entsprechung zu dem Sensorbereich liefert, auf den der projizierte Lichtener
giestrahl auftrifft. Ein Referenzsensor ist an dem Körper benachbart zu dem
primären Sensor angebracht, wobei die gesamte Referenzsensorfläche dem projizier
ten Lichtenergiestrahl ausgesetzt ist und ein diesen darstellendes Ausgangssignal
liefert. Eine Lichtenergiestrahlsperre ist von dem primären Sensor für die projizier
te Lichtenergie beabstandet und angeordnet, um einen Teil des primären Sensors
für den projizierten Lichtenergiestrahl abzudecken. Der Teil der Fläche des primä
ren Sensors, auf den der Lichtenergiestrahl auftrifft, hängt von dem Winkel zwi
schen dem projizierten Strahl und dem Primärsensor ab. Es ist eine Einrichtung
vorgesehen zum Empfangen der Ausgangssignale des primären und des Referenz
sensors und zum Liefern eines winkelangebenden Ausgangs, der bezüglich Variatio
nen in der projizierten Lichtstrahlenergieintensität korrigiert ist.
Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung ist eine Vorrichtung offenbart zum
Messen des Auftreffwinkels eines projizierten Strahls, wobei die Kombination einen
ersten Strahlsensor enthält, der dem projizierten Strahl in einem variierenden
Ausmaß ausgesetzt ist, und einen zweiten Strahlsensor benachbart und koplanar zu
dem ersten Strahlsensor enthält, der dem projizierten Strahl vollständig ausgesetzt
ist. Der erste und der zweite Strahlsensor liefern einen ersten bzw. einen zweiten
Signalausgang, die im wesentlichen proportional zur Fläche bzw. zum Bereich davon
sind, auf den der projizierte Strahl auftrifft. Eine Sperre für den projizierten Strahl
ist von dem ersten Strahlsensor beabstandet und angeordnet, um einen Teil des
projizierten Strahls für den ersten Strahlsensor zu blockieren, um ein sich ver
änderndes Ausmaß von dessen Belichtung zu schaffen, und zwar gemäß dem
Winkel zwischen dem projizierten Strahl und der Fläche des ersten Strahlsensors.
Es ist eine Einrichtung vorgesehen zum Empfangen des ersten und zweiten Signal
ausgangs und zum Liefern eines Ausgangs, der den Winkel zwischen dem projizier
ten Strahl und dem ersten Strahlsensor angibt, wobei der Winkel für Intensitäts
variationen des projizierten Strahls kompensiert ist.
Ein Verfahren der vorliegenden Erfindung liefert eine Messung des Orientierungs
winkels eines Körpers relativ zu der Richtung eines projizierten Strahls und enthält
die Schritte: Empfangen des projizierten Strahls bei einem Strahlsensor und Liefern
eines Sensorausgangs als auch das Sperren eines Teils des Strahls, so daß dieser
nicht bei einem anderen Strahlsensor benachbart zu dem einen Strahlsensor
empfangen wird. Der Teil des anderen Strahlsensors, auf den der projizierte Strahl
auftrifft, hängt von dem Winkel zwischen dem Strahl und dem anderen Strahlsensor
ab, der dadurch einen anderen Sensorausgang liefert. Es ist auch der Schritt
enthalten, das Verhältnis des anderen Strahlsensorausgangs zu dem einen Strahlsen
sorausgang zu berechnen, wodurch das Verhältnis den Winkel zwischen dem Strahl
und dem anderen Strahlsensor angibt, und zwar kompensiert für Variationen in der
Strahlintensität.
Weitere Vorteile, Merkmale und Anwendungsmöglichkeiten der vorliegenden
Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbei
spielen in Verbindung mit der Zeichnung.
Fig. 1 ist eine schematische Darstellung, die das Prinzip der vorliegenden
Erfindung zeigt;
Fig. 2 ist ein Diagramm, das den Ausgang des Photosensors als eine Funk
tion des Strahlwinkels zeigt; und
Fig. 3 ist eine schematische Darstellung einer Ausführungsform der vorliegen
den Erfindung mit vielen Sensoren.
In Fig. 1 ist eine Sensoranordnung 11 gezeigt mit einem Referenzphotosensor 12,
einem primären Photosensor 13 und einer Strahlsperre 14. Die Strahlsperre ist ein
opakes Element, welches von dem primären Photosensor 13 beabstandet ist, wobei
eine Kante 16 generell über der Mittellinie des primären Photosensors liegt. Die
Photosensoren 12 und 13 sind typischerweise ebene bzw. planare Einrichtungen, die
ein Ausgangssignal liefern, welches proportional zu dem Teil der Sensorfläche ist,
der von Licht beflutet ist. Der Ausgang ist auch eine Funktion der Intensität des
Lichts, das die Sensorflächenbereiche beflutet bzw. bestrahlt. In diesem Zusammen
hang soll der Ausdruck "Licht-" oder "Photoenergie" die unsichtbaren als auch die
sichtbaren Teile des Spektrums enthalten.
Es ist zu sehen, daß der Referenzphotosensor 12 und der primäre Photosensor 13
im wesentlichen in derselben Ebene angeordnet sind, wobei die Sperre 14 eine
Unterbrechung oder Abschattung des Strahls aus Licht- oder Photoenergie 17
liefert, wenn dieser auf die Fläche des primären Photosensors fortschreitet. Der
Referenzphotosensor 12 empfängt die gesamte Lichtenergie in dem Strahl 17 oder
einen relativ konstanten Betrag, wie in Fig. 1 gezeigt ist. Der Referenzphotosensor
12 liefert ein Ausgangssignal, welches sich bis zu einem gewissen Ausmaß als eine
Funktion der Intensität des Lichtstrahls 17 verändert. Die Intensität des Strahls 17
an dem Photosensor kann variiert werden durch Verändern der Entfernung der
Lichtquelle von dem Sensor oder durch Veränderungen in den Charakteristiken
oder der Anregung des Strahlprojektors. Wenn die Intensität des Lichtstrahls 17
aus irgendeinem dieser Gründen verändert wird, wird die Intensität des Strahls,
wenn er sowohl auf den primären Photosensor 13 als auch auf den im wesentli
chen benachbarten Referenzphotosensor 12 auftrifft, im wesentlichen gleich sein.
Daher kann der Ausgang des primären Photosensors 13 als Ergebnis des Betrages
des Lichtstrahls 17, der darauf auftrifft, mit dem Ausgang von dem Referenz
photosensor 12 kombiniert werden, um ein Verhältnis der Ausgänge zu bilden,
welches den Winkel zwischen dem primären Photosensor und dem Lichtstrahl 17
angibt, wie es nachstehend beschrieben werden wird.
Für kleine Winkel sind der Tangens und der Sinus eines Winkels ähnlich. Daher,
wenn eine Senkrechte von der Fläche des primären Photosensors 13 projiziert wird
und der Lichtstrahl 17 in Richtung dieser Senkrechten projiziert wird, ist der
Winkel Θ, gezeigt in Fig. 1, 0. Durch die Sperre 14, die angeordnet ist, wie es in
Fig. 1 gezeigt ist, so daß deren Kante 16 bei der Senkrechten liegt, die sich von
der Mittellinie des primären Photosensors 13 erstreckt, wird die Hälfte des Flä
chenbereiches des primären Photosensors durch den Strahl 17 bestrahlt und die
Hälfte liegt im Schatten und wird durch die opake Sperre 14 in Dunkelheit
gehalten. Demzufolge wird für die bestehende Intensität des Strahls 17 unter diesen
Umständen eine Hälfte des potentiellen Ausgangs von dem primären Photosensor
erzeugt werden. In der Zwischenzeit wird bei den gleichen Bedingungen der
gesamte potentielle Ausgang von dem Referenzphotosensor 12 erzeugt werden. Dies
setzt voraus, daß die zwei Sensoren ähnliche Skalierungsfaktoren haben. Das
Verhältnis des Ausgangs des primären Sensors zu dem Ausgang des Referenzsen
sors wird daher 0,5 sein. Dies kann unter Bezugnahme auf Fig. 2 gesehen werden,
wobei der Ausgang 18 an dem primären Photosensor 13 bei null Grad des Strahl
winkels eine Hälfte des Ausgangs 19 von dem Referenzphotosensor 12 ist. Der
Ausgang von dem Referenzphotosensor ist für dieselbe Intensität des Lichtstrahls
17 im wesentlichen konstant. Dies wird durch die Beziehung y = K₂ dargestellt,
wie es bei 19 in Fig. 2 angegeben ist. Es ist jedoch zu sehen, daß der Ausgang
des primären Photosensors 13 von null an einem Ende eines 20°-Bereiches zu
einem Pegel am anderen Ende gehen kann, der äquivalent dem konstanten Aus
gang von dem Referenzsensor ist. Ein 20°-Bereich der Winkelmessungen wird für
die Zwecke dieser besonderen Winkelmessungsvorrichtung als geeignet angesehen,
da sie auf Fahrzeugrad-Ausrichtungsanwendungen angewendet wird. Die 20° des
Winkels werden nach plus und minus 10° zu jeder Seite der Senkrechten gemessen,
die sich von der Mittellinie des primeren Sensors 13 an der Kante 16 der opaken
Sperre 14 vorbei erstreckt.
Wenn der Winkel des Strahls 17 von einer Position 10° gegen Uhrzeigersinn von
der Senkrechten verläuft, die sich von der Mittellinie des primären Sensors 13
erstreckt, und zwar zu einer Position, die 10° im Uhrzeigersinn gegenüber der
Senkrechten ist, wird die Kurve y = K₁Θ (Linie 18) der Fig. 2 erzeugt. Ver
änderungen in der Intensität des Strahls 17 werden daher aus der Winkelmessung
eliminiert, indem die Beziehung verwendet wird, die proportional zu dem Winkel
des Strahls 17 innerhalb des Bereiches von plus und minus 10° von der Senkrech
ten ist, die sich von der Fläche des Sensors 13 erstreckt: K₁Θ/K₂. Eine Signalkon
ditionierungsschaltung 21, die in Fig. 1 gezeigt ist, erzielt diese Kombination und
liefert als Ausgang bei A′ ein Signal, das den Winkel Θ innerhalb des Bereiches
von plus und minus 10° von der Senkrechten oder einer Winkelrichtung des
Lichtstrahls 17 von null angibt. Wie es in Fig. 1 dargestellt ist, beleuchtet der
Strahl 17 die gesamte Fläche von sowohl dem primären Sensor 13 als auch dem
Referenzsensor 12. Fig. 1 stellt daher einen Winkel von plus 10° dar, wie es in
Fig. 2 zu sehen ist. Der Ausgang von der Signalkonditionierungsschaltung 21 ist
K₁Θ/K₂, (wobei K₁/K₂ = 1 und Θ = 20°, wie zuvor erläutert), was den plus 10°-
Zustand angibt.
Unter Bezugnahme auf Fig. 3 der Zeichnung ist ein Winkelsensor mit einer
Vielzahl von Sensoranordnungen 11 mit einer Vielzahl von primären Photosensor
zellen 13 und Referenzphotosensorzellen 12 gezeigt, die im wesentlichen in dersel
ben Ebene innerhalb eines Gehäuses 22 für die gesamte Sensoranordnung der Fig.
3 angeordnet sind. Eine Glasabdeckung 23 trägt eine Vielzahl von opaken Strahl
sperren 14, und zwar eine Sperre für jedes Paar von Sensoren 12 und 13. Es ist
zu sehen, daß die Referenzsensoren 12 dem Lichtstrahl über den ganzen Winkel
messungsbereich ausgesetzt sind, d. h. Θ = 20° (ausgedrückt zu plus und minus 10°
in diesem Fall). Der primäre Photosensor 13 in jedem Paar von Photosensoren ist
ausgelegt, dem Strahl 17 gemäß dem Winkel zwischen dem Gehäuse 22 und dem
Strahl 17 ausgesetzt zu werden, um dadurch eine Winkelmessung zu schaffen, wie
sie zuvor in Verbindung mit den Fig. 1 und 2 erläutert wurde. Für einen 20°-
Bereich der Winkelmessung werden die optimalen dimensionsmäßigen Charak
teristiken für das Gehäuse 22 definiert. Der Sinus von 20° ist 0,342. Wenn daher
die Breite eines Sensors 13 d ist, die Entfernung zwischen der Fläche des
primären Photosensors 13 und der opaken Sperre 14 3d. Der Bereich der Winkel
messungseinrichtung, wenn er über einen 20°-Bogen verläuft, wird daher den
Lichtstrahl 17 veranlassen, über den Teil der Stirnseite des primären Photosensors
13 zu verlaufen, der durch den 20°-Bogen bzw. -Winkel geschnitten wird. Dies wird
in diesem Beispiel für die gesamte Stirnseite des primären Sensors sein, für eine
Einstellung oder andere Zwecke kann jedoch auch ein geringerer Teil der Stirn
seite von dem Strahl überquert werden, vorausgesetzt, daß begleitende Einstellun
gen bezüglich des Referenzsensors oder des Referenzausgangs vorgenommen
werden. Die Ausgänge von jedem der primären Sensoren 13 werden mit einer
Signalkonditionierungseinrichtung 21 verbunden, wie auch die Referenzausgänge von
den Referenzsensoren 12. Die Vielzahl der Sensoranordnungen 12 wird dazu
führen, daß individuelle Eigenarten der Sensoranordnungen 11 aus den Messungen
entfernt oder gemittelt werden und ein Ausgangssignal A geschaffen wird, welches
den Winkel des Lichtstrahls 17 relativ zu dem Gehäuse 22 angibt, das die primä
ren Photosensoren 13 enthält.
Typische Photosensoren zur Verwendung bei dieser Anmeldung werden beispiels
weise durch Photozellensensoren mit der Teilnummer 5359C002, hergestellt von
Silicon Sensors, Inc., Highway 18 East, Dodgevill, Wisconsin dargestellt. Die
Signalkonditionierungsschaltung 21 ist in ähnlichen Anwendungen verwendet worden
und beschrieben zum Zwecke der Offenbarung des besten Modus und zum Ge
währleisten einer Vollständigkeit dieser Offenbarung. Der Lichtstrahl 17 ist mit
einer gewissen Frequenz moduliert, etwa 15 kHz z. B., und die Signale von den
Photosensoren 12 und 13 werden zu einem schmalbandigen Filter geführt, welches
die 15 kHz-Signale durchläßt. Dies eliminiert im wesentlichen von Umgebungslicht
erzeugte Signale aus den Sensoren 12 und 13. Das sich ergebende 15 kHz-Signal
wird integriert, um einen Gleichstrompegel zu erhalten. Das Filtern und die
Integration werden unabhängig für jeden Sensor 12 und 13 durchgeführt. Die zwei
analogen Gleichstromsignale werden differentiell verglichen unter Lieferung des
Ausgangssignals bei A′ und A, welches den Winkel Θ angibt, wie es zuvor be
schrieben worden ist.
Obwohle der beste Modus zum Ausführen der vorliegenden Erfindung hier gezeigt
und beschrieben worden ist, ist es offensichtlich, daß Modifikationen und Ver
änderungen vorgenommen werden können, ohne den Gegenstand der Erfindung zu
verlassen.
Claims (7)
1. Vorrichtung zum Erfassen des Winkels zwischen der Vorrichtung und
einem projizierten Strahl, die aufweist:
eine Sperre;
einen primären Sensor, der von der Sperre beabstandet und position iert ist, um einen Teil des Strahls zu empfangen, der an der Kante der Sperre vorbei übertragen wird, um dadurch einen Signalausgang zu liefern, der den Teil des primären Sensors angibt, der dem auffallenden Strahlanteil ausgesetzt ist;
einen Referenzsensor, der benachbart zu dem primären Sensor positioniert ist und einen im wesentlichen konstanten Bereich hat, der dem projizierten Strahl ausgesetzt ist, um dadurch einen Sig nalausgang zu liefern, der die Strahlenintensität angibt; und
eine Einrichtung zum Empfangen der Signalausgänge des primären Sensors und des Referenzsensors, um einen resultierenden Signal ausgang zu schaffen, der den Winkel angibt, mit dem der auffallen de Strahl den primären Sensor schneidet, und bezüglich Schwankun gen der Intensität des projizierten Strahls kompensiert ist.
eine Sperre;
einen primären Sensor, der von der Sperre beabstandet und position iert ist, um einen Teil des Strahls zu empfangen, der an der Kante der Sperre vorbei übertragen wird, um dadurch einen Signalausgang zu liefern, der den Teil des primären Sensors angibt, der dem auffallenden Strahlanteil ausgesetzt ist;
einen Referenzsensor, der benachbart zu dem primären Sensor positioniert ist und einen im wesentlichen konstanten Bereich hat, der dem projizierten Strahl ausgesetzt ist, um dadurch einen Sig nalausgang zu liefern, der die Strahlenintensität angibt; und
eine Einrichtung zum Empfangen der Signalausgänge des primären Sensors und des Referenzsensors, um einen resultierenden Signal ausgang zu schaffen, der den Winkel angibt, mit dem der auffallen de Strahl den primären Sensor schneidet, und bezüglich Schwankun gen der Intensität des projizierten Strahls kompensiert ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Abstand zwischen der
Sperre und dem primären Sensor etwa dreimal die Breite des primä
ren Sensors ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei der primäre Sensor und
die Sperre planare Elemente sind und im wesentlichen in parallelen
Ebenen liegen.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei der Referenzsensor ein
planares Element ist und in derselben Ebene wie der primäre
Sensor angeordnet ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Sperre und der
primäre Sensor im wesentlichen planar sind und in im wesentlichen
parallelen Ebenen angeordnet sind und wobei die Kante der Sperre
im wesentlichen über der Mittellinie des primären Sensors angeord
net ist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei der primäre Sensor eine
Vielzahl von primären Sensoren umfaßt, wobei der Referenzsensor
eine Vielzahl von Referenzsensoren aufweist und wobei die Sperre
für den projizierten Strahl eine Vielzahl von Sperren aufweist, die
jeweils von der Vielzahl von primären Strahlsensoren ist.
7. Verfahren zum Messen des Orientierungswinkels eines Gehäuses
relativ zu der Richtung eines projizierten Strahls, mit den Schritten:
Empfangen des projizierten Strahls an einem Sensor und Liefern eines Sensorausgangs;
Abhalten eines Teils des Strahls davon, bei einem anderen Sensor empfangen zu werden, der benachbart zu dem einen Sensor angeord net ist, wobei der Teil des anderen Sensors, auf den der projizierte Strahl auftrifft, von dem Winkel zwischen dem Strahl und dem anderen Sensor abhängt, wodurch ein weiterer Sensorausgang gelie fert wird; und
Berechnen des Verhältnisses des Ausgangs des anderen Sensors zu dem Ausgang des einen Sensors, wodurch das Verhältnis den Winkel zwischen dem Strahl und dem anderen Sensor angibt, und zwar kompensiert bezüglich Veränderungen in der Strahlenintensität.
Empfangen des projizierten Strahls an einem Sensor und Liefern eines Sensorausgangs;
Abhalten eines Teils des Strahls davon, bei einem anderen Sensor empfangen zu werden, der benachbart zu dem einen Sensor angeord net ist, wobei der Teil des anderen Sensors, auf den der projizierte Strahl auftrifft, von dem Winkel zwischen dem Strahl und dem anderen Sensor abhängt, wodurch ein weiterer Sensorausgang gelie fert wird; und
Berechnen des Verhältnisses des Ausgangs des anderen Sensors zu dem Ausgang des einen Sensors, wodurch das Verhältnis den Winkel zwischen dem Strahl und dem anderen Sensor angibt, und zwar kompensiert bezüglich Veränderungen in der Strahlenintensität.
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