DE4104735C2 - Flächenreflektor - Google Patents
FlächenreflektorInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Flächenreflektor mit mehreren, auf einem
Substrat übereinander angeordneten Schichten. Ein solcher Reflektor wird
in optischen Instrumenten, wie beispielsweise einer Kamera,
einem Teleskop und einem Mikroskop, eingesetzt.
Aluminium wird üblicherweise als reflektierender Werkstoff
für Flächenreflektoren verwendet, die in optischen
Instrumenten eingesetzt werden. Jedoch haben
Einschichtüberzüge aus Aluminium den Nachteil, daß sie
geringe mechanische Festigkeit, geringe Haftung des
Überzuges am Substrat, geringe Feuchtigkeitsbeständigkeit
und dergleichen haben. Zur Lösung dieses Problems wird
eine Schutzschicht auf dem Einschicht-Aluminiumüberzug
gebildet und die erhaltene Mehrschichtanordnung hat
verbesserte mechanische Festigkeit, Haftung des Überzuges
am Substrat und Feuchtigkeitsbeständigkeit.
Fig. 1 zeigt beispielsweise eine bekannte
Zweischichtanordnung, die ein Substrat (1c) umfaßt, das
mit einer reflektierenden Aluminiumschicht (3c) abgedeckt
ist, die ihrerseits mit einer Schutzschicht (4c) aus
Aluminiumoxid abgedeckt ist.
Eine weitere Zweischichtanordnung ist in Fig. 2 angegeben
und umfaßt ein Substrat (1d), das mit einer
reflektierenden Aluminiumschicht (3d) abgedeckt ist, die
ihrerseits mit einer Schutzschicht (4d) aus Siliziumdioxid
abgedeckt ist.
Ferner ist eine bekannte Dreischichtanordnung in Fig. 3
aufgeführt und umfaßt ein Substrat (1e), das mit einer
Chromunterschicht (2e) abgedeckt ist, die ihrerseits
aufeinanderfolgend mit einer reflektierenden
Aluminiumschicht (3e) und einer Schutzschicht (4e) aus
Aluminiumoxid abgedeckt ist.
Jede dieser Anordnungen erweist sich als wirksam, wenn das
Substrat des Flächenreflektors aus Glas gefertigt ist.
Ferner wird Silber, das ein hohes Reflexionsvermögen im
sichtbaren Bereich bis zum Infrarotbereich aufweist,
üblicherweise als reflektierender Werkstoff für
Flächenreflektoren mit hohem Reflexionsvermögen verwendet,
die in optischen Instrumenten eingesetzt werden. Jedoch
haben Einschichtüberzüge aus Silber den Nachteil, daß sie
eine niedrige Haftung des Überzuges am Substrat und
geringe Beständigkeit gegen Feuchtigkeit, gegen Schwefel
und dergleichen haben. Zur Lösung dieses Problems wird
eine Unterschicht zwischen dem Substrat und einer
reflektierenden Silberschicht gebildet und eine
Schutzschicht wird auf der reflektierenden Silberschicht
gebildet. Die erhaltene Mehrschichtanordnung hat eine
verbesserte Haftung des Überzuges am Substrat und
verbesserte Beständigkeit gegen Feuchtigkeit, gegen
Schwefel und dergleichen.
Beispielsweise zeigt die Fig. 4 eine bekannte
Vierschichtanordnung, die ein Substrat (1f) umfaßt, das
mit einer Aluminiumoxidunterschicht (2f) abgedeckt ist,
die ihrerseits mit einer reflektierenden Silberschicht
(3f) abgedeckt ist. Über der reflektierenden Schicht (3f)
werden aufeinanderfolgend eine Aluminiumoxidschicht (4f)
und eine Siliziumdioxidschicht (5f) als Schutzschichten
gebildet (siehe "Reflectance and durability of Ag mirrors
coated with thin layers of Al₂O₃ plus reactively
deposited silicon oxide" in Appl. Opt. 14 (1975), 2639).
Fig. 5 zeigt eine bekannte Sechsschichtanordnung, die ein
Substrat (1g) umfaßt, das mit einer Kupferunterschicht
(2g) abgedeckt ist, die ihrerseits mit einer
reflektierenden Silberschicht (3g) abgedeckt ist. Über der
reflektierenden Schicht (3g) werden aufeinanderfolgend
eine Aluminiumoxidschicht (4g), eine Tantaloxidschicht
(5g), eine Siliziumdioxidschicht (6g) und eine
Tantaloxidschicht (7g) als Schutzschichten aufgebracht
(siehe "Progress in development of a durable silver-based
high-reflectance coating for astronomical telescopes" in
Appl. Opt. 24 (1985), 1164).
Jede dieser Anordnungen zeigt sich als wirksam, wenn das
Substrat des Flächenreflektors aus Glas besteht.
Aufgrund der jüngsten Fortschritte in der Technologie der
Kunststofformung einschließlich Polykarbonate, Polyester,
Acrylharze und dergleichen, und der Vorteile von
Kunststoffen, leichter als Glas in komplexe Gestalt
geformt werden zu können, hat sich die Verwendung von
Kunststoffen in optischen Bauteilen erhöht.
Beispielsweise ist es erwünscht, daß polygonale Spiegel,
die in einem Laserscanner und anderen optischen
Einrichtungen verwendet werden, aus Kunststoff gefertigt
werden, um die Kosten und das Gewicht der Anordnung zu
verringern. Ferner werden Pentaprismen als Kamerateile
erwünschtermaßen aus Kunststoff gefertigt, um die Kosten
der Kamera zu reduzieren, und man hat begonnen, Produkte
zu verwenden, die einen flächenreflektierenden Überzug
aufweisen, der in einem hohlen pentagonalen Formteil
ausgebildet ist. Jedoch haben Flächenreflektoren, die ein
Substrat aus Kunststoff verwenden, wie beispielsweise aus
Polycarbonaten, Polyestern oder Acrylharzen, den Nachteil,
daß sie eine geringere Haftung des Überzuges am Substrat
und eine geringere Beständigkeit gegen Feuchtigkeit und
gegen Schwefel und dergleichen als solche Reflektoren
haben, die ein Glassubstrat verwenden, selbst wenn sie die
vorstehend aufgeführten Mehrschichtanordnungen einsetzen.
US-A-3 687 713 offenbart einen Flächenreflektor) der aus einer auf einem Substrat
aufgetragenen Haftvermittlerschicht aus einer Chrom-Nickel-Legierung, einer auf der
Haftvermittlerschicht aufgebrachten reflektierenden Silberschicht und einem
Schutzüberzug aus einer Aluminiumoxid- und einer Siliziumdioxidschicht aufgebaut ist.
GB-605 871 beinhaltet einen Verbund aus einem Glassubstrat, einer Haftvermittlerschicht,
ausgewählt aus Metalloxiden, Metallsulfiden, Silberchlorid und Magnesiumfluorid, sowie
eine reflektierende Schicht aus einem Metall, ausgewählt aus Kupfer, Silber, Gold,
Aluminium, Chrom, Platin und Rhodium.
Aus DE-37 42 204 A1 ist ein Flächenreflektor bekannt, bei dem auf einem Substrat eine
Oxidschicht aus Ni-Cr-Oxid als Haftverbesserer, eine reflektierende Aluminiumschicht
und eine Schutzschicht aufgetragen sind.
GB-1367590 betrifft wärmereflektierende Gläser, die aus einem Glassubstrat, einer ersten
Unterschicht aus Metalloxiden, SiO₂ oder Glas, einer zweiten Unterschicht aus Zinksulfid
und einem Goldreflektormaterial aufgebaut sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen
Flächenreflektor zu schaffen, der eine hohe Schichthaftung
am Substrat und hohe Beständigkeit gegen Feuchtigkeit,
gegen Schwefel und gegen Abrieb und dergleichen
gewährleistet, selbst wenn das Substrat aus Kunststoff
geformt ist, wie Polykarbonaten, Polyestern oder
Acrylharzen.
Diese Aufgabe wird gemäß einem ersten Aspekt der
Erfindung durch einen Flächenreflektor gelöst, der
gekennzeichnet ist durch
- (a) eine Chromsulfidunterschicht (22a; 22b), die auf einer Fläche eines Kunststoffsubstrates (21a; 21b) gebildet wird;
- (b) eine auf der Sulfidunterschicht gebildete, reflektierende Silberschicht (23a, 23b) mit einer Dicke von mindestens 45 nm; und
- (c) eine auf der reflektierenden Schicht gebildete Schutzschicht (24a; 24b).
Gemäß obigem ersten Aspekt der Erfindung wird die
Chromsulfidunterschicht, die eine gute Haftung am Substrat
des Flächenreflektors hat, auf dem Substrat gebildet und
die reflektierende Silberschicht wird auf der
Chromsulfidunterschicht gebildet. Diese Anordnung erhöht
die Haftung des Überzuges der reflektierenden Schicht an dem
Kunststoffsubstrat,
wie beispielsweise an Polykarbonaten, Polyestern
oder Acrylharzen. Infolgedessen zeigt der Flächenreflektor
eine hohe Haftung des Überzuges am Substrat und hohe
Beständigkeit gegen Feuchtigkeit und dergleichen.
Ein Flächenreflektor gemäß einem zweiten Aspekt der
Erfindung ist gekennzeichnet durch
- (a) eine Oxidunterschicht (12a; 12b), die auf einer Fläche eines Kunststoffsubstrates (11a; 11b) gebildet wird, wobei die Oxidunterschicht aus mindestens einem Werkstoff besteht, der aus der Gruppe gewählt ist, die aus Chromoxid, Molybdänoxid, Kobaltoxid, Nioboxid, Ceroxid und Siliziumdioxid besteht;
- (b) eine reflektierende Aluminiumschicht (13a; 13b) mit einer Dicke von mindestens 100 nm, die auf der Oxidunterschicht gebildet ist; und
- (c) eine Schutzschicht (14a; 14b), die auf der reflektierenden Schicht ausgebildet ist.
Gemäß diesem zweiten Aspekt der Erfindung wird die
Oxidunterschicht, die eine starke Haftung am Substrat des
Flächenreflektors hat, auf dem Substrat gebildet und die
reflektierende Aluminiumschicht wird auf der
Oxidunterschicht gebildet. Diese Anordnung verbessert die
Haftung des Überzuges der reflektierenden Schicht an dem Kunststoffsubstrat,
wie beispielsweise an Polycarbonaten, Polyestern oder
Acrylharzen. Infolgedessen zeigt der Flächenreflektor eine
hohe Haftung des Überzuges am Substrat, hohe Beständigkeit
gegen Feuchtigkeit und dergleichen.
Ein Flächenreflektor gemäß einem dritten Aspekt der Erfindung ist gekennzeich
net durch (a) eine auf einer Fläche eines Substrates gebildete Oxidunterschicht,
die aus mindestens einem Werkstoff, ausgewählt aus der Gruppe Aluminiumoxid,
Nioboxid, Kobaltoxid und Titandioxid, besteht; (b) eine auf der Oxidunter
schicht gebildete Sulfidunterschicht aus Zinksulfid; (c) eine auf der Sulfid
unterschicht gebildete, reflektierende Silberschicht mit einer Dicke von
mindestens 45 nm; und (d) eine auf der reflektierenden Schicht gebildete
Schutzschicht.
Alternativ dazu kann als vierter Aspekt der Erfindung die auf einer Fläche
des Substrates gebildete Oxidunterschicht (a) aus Nioboxid und/oder Kobalt
oxid bestehen; und die auf der Oxidunterschicht gebildete Sulfidunterschicht
(b) besteht aus Antimonsulfid. Hierbei ist wiederum auf der Sulfidunterschicht
eine reflektierende Silberschicht (c) mit einer Dicke von mindestens 45 nm
gebildet, und auf der reflektierenden Schicht ist eine Schutzschicht (d)
gebildet.
Gemäß dem dritten und vierten Aspekt der Erfindung wird die
Oxidunterschicht, die eine gute Haftung am Substrat des
Flächenreflektors hat, auf dem Substrat gebildet, und die
Sulfidunterschicht wird auf der Oxidunterschicht
gebildet, während die reflektierende Silberschicht dann
auf der Sulfidunterschicht gebildet wird. Diese Anordnung
erhöht die Haftung des Überzuges der reflektierenden
Schicht am Substrat, selbst wenn letzteres aus Kunststoff,
wie Polykarbonaten, Polyestern oder Acrylharzen, besteht.
Infolgedessen zeigt der Flächenreflektor eine gute Haftung
des Überzuges am Substrat und gute Beständigkeit gegen
Feuchtigkeit und dergleichen.
Eine bevorzugte Ausführungsform des Flächenreflektors gemäß dem obigen ersten
Aspekt der Erfindung ist gekennzeichnet durch (a) eine auf einer
Fläche eines Kunststoffsubstrates gebildete Chromsulfidunterschicht;
(b) eine auf der Chromsulfidunterschicht gebildete
reflektierende Silberschicht mit einer Dicke von 45 nm; (c) eine aus Chromsulfid
bestehende Schutzschicht (I), die auf der reflektierenden
Schicht gebildet wird; und (d) eine auf der Schutzschicht
(I) gebildete Schutzschicht (II).
Gemäß dieser Ausführungsform der Erfindung wird die
Chromsulfidunterschicht, die eine gute Haftung zum
Kunststoffsubstrat des Flächenreflektors hat, auf dem Substrat
gebildet und die reflektierende Silberschicht wird auf
der Chromsulfidunterschicht gebildet. Diese Anordnung
erhöht die Filmhaftung der reflektierenden Schicht
an Kunststoffsubstraten, wie
Polycarbonaten, Acrylharzen und Polyestern. Infolgedessen
zeigt der Flächenreflektor verbesserte Haftung des
Überzuges am Substrat, und verbesserte Beständigkeit gegen
Feuchtigkeit und dergleichen. Ferner ist in Einklang mit
der Erfindung die Chromsulfidschutzschicht (1) auf der
reflektierenden Silberschicht ausgebildet. Dies verhindert
wirksam das Eindringen von Sulfidionen in die
reflektierende Schicht, so daß der Flächenreflektor eine
gute Haftung des Überzuges am Substrat und gute
Beständigkeit gegen Feuchtigkeit, Schwefel und dergleichen
hat.
In einer weiteren Ausgestaltung der obigen Ausführungsform
weist die auf der Schutzschicht (I) gebildete
Schutzschicht (II) mindestens eine
Aluminiumoxidschicht auf; und eine
Siliziumdioxidschutzschicht (III) ist auf der
Schutzschicht (II) gebildet.
Gemäß dieser Ausführungsform der Erfindung kann
die Haftung zwischen
dem Kunststoffsubstrat und der reflektierenden Schicht erhöht
werden, indem zwischen ihnen die Chromsulfidunterschicht
gebildet wird; das Eindringen von Sulfidionen in die aus
Silber bestehende, reflektierende Schicht kann verhindert
werden, indem eine Schutzschicht (I) aus Chromsulfid auf
der reflektierenden Schicht gebildet ist; und eine
verbesserte Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit und
Abrieb kann erzielt werden, indem die Schutzschicht (II)
auf der Schutzschicht (I) gebildet ist, und desgleichen
die äußerste Schutzschicht (III) aus Siliziumdioxid über
der Schutzschicht (II).
In den Zeichnungen zeigen:
Fig. 1 bis 5 Schnittdarstellungen von Flächenreflektoren
des Standes der Technik;
Fig. 6 eine Schnittdarstellung eines
Flächenreflektors gemäß einer ersten
Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 7 eine Schnittdarstellung eines
Flächenreflektors gemäß einer zweiten
Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 8 eine Kurve, die zwei Profile des spektralen
Reflexionsvermögens des Flächenreflektors
des Beispiels 1A der Erfindung bei unter
45° einfallendem Licht angibt, wobei ein
Profil (voll ausgezogene Linie (A)) die
Anfangswerte darstellt und das andere
Profil (gestrichelte Linie (B)) die Daten,
die erhalten wurden, nachdem der Reflektor
während 504 Stunden einer Temperatur von
40°C und 95% relativer Feuchte ausgesetzt
war;
Fig. 9 eine Schnittdarstellung eines
Flächenreflektors gemäß einer dritten
Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 10 eine Schnittdarstellung eines
Flächenreflektors gemäß einer vierten
Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 11 eine Kurve, die zwei Profile des spektralen
Reflexionsvermögens des Flächenreflektors
des Beispiels 1B der Erfindung bei unter
45° einfallendem Licht angibt, wobei ein
Profil (voll ausgezogene Linie (A)) die
Anfangsdaten und die andere (gestrichelte
Linie (B)) die Daten angibt, die erhalten
wurden, nachdem der Reflektor während 216
Stunden einer Temperatur von 45°C und 95%
relativer Feuchte ausgesetzt war;
Fig. 12 eine Schnittdarstellung eines
Flächenreflektors gemäß einer fünften
Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 13 eine Schnittdarstellung eines
Flächenreflektors gemäß einer sechsten
Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 14 eine Schnittdarstellung eines
Flächenreflektors der Vergleichsbeispiele
11C bis 12C;
Fig. 15 eine Kurve, die zwei Profile des spektralen
Reflexionsvermögens des Flächenreflektors
gemäß Beispiel 1C der Erfindung bei unter
45°C einfallendem Licht angibt, wobei ein
Profil (voll ausgezogene Linie (A)) die
Anfangsdaten und die andere (gestrichelte
Linie (B)) die Daten angibt, die erhalten
wurden, nachdem der Flächenreflektor
während 216 Stunden einer Temperatur von
40°C und 95% relativer Feuchte ausgesetzt
wurde;
Fig. 16 eine Schnittdarstellung eines
Flächenreflektors gemäß einer siebten
Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 17 eine Schnittdarstellung des in
Vergleichsbeispiel 1D hergestellten
Flächenreflektors;
Fig. 18 eine Kurve, die zwei Profile des spektralen
Reflexionsvermögens des Flächenreflektors
des Beispiels 1D der Erfindung bei unter
45° einfallendem Licht angibt, wobei ein
Profil (voll ausgezogene Linie (A)) die
Anfangsdaten angibt und die andere
(gestrichelte Linie (B)) die Daten, die
erhalten wurden, nachdem der
Flächenreflektor während 216 Stunden einer
Temperatur von 40°C und 95% relativer
Feuchte ausgesetzt wurde;
Fig. 19 eine Schnittdarstellung eines
Flächenreflektors gemäß einer achten,
neunten oder zehnten Ausführungsform der
Erfindung; und
Fig. 20 eine Kurve, die das spektrale
Reflexionsvermögen des Flächenreflektors
zeigt, der in den Beispielen 1F bis 3F
hergestellt wurde, bei unter 5°
einfallendem Licht.
Fig. 6 stellt schematisch einen Flächenreflektor gemäß
einer ersten Ausführungsform der Erfindung dar. Der
Flächenreflektor hat eine Dreischichtanordnung und die
einzelnen Schichten werden durch Vakuumverdampfung,
Versprühen oder andere geeignete Verfahren gebildet. Wie
dargestellt, besteht ein Substrat (11a) aus einem
Kunststoffwerkstoff, wie beispielsweise aus
Polycarbonaten, Polyestern oder Acrylharzen, und ist mit
einer Oxidunterschicht (12a) abgedeckt, die ihrerseits
aufeinanderfolgend mit einer reflektierenden Schicht (13a)
aus Aluminium und einer Schutzschicht (14a) abgedeckt ist.
Die Oxidunterschicht (12a) besteht aus einem Oxid, das
eine gute Haftung sowohl zu der aus Aluminium bestehenden
reflektierenden Schicht als auch zu dem Kunststoffsubstrat hat, das aus
den vorstehend aufgeführten Kunststoffwerkstoffen ausgewählt sein kann,
wobei Ausführungsbeispiele derartiger Oxide
sind: Chromoxid, Molybdänoxid, Kobaltoxid, Nioboxid,
Ceroxid, Titanoxid, Tantaloxid, Siliziumdioxid und
Zirkoniumoxid. Die Oxidunterschicht (12a) hat vorzugsweise
eine Dicke von mindestens 10 nm, wobei der Bereich von 15
bis 70 nm besonders bevorzugt ist. Ist die Unterschicht
(12a) dünner als 10 nm, so kann keine ausreichende Haftung
am Substrat erzielt werden.
Die reflektierende Aluminiumschicht (13a), die über der
Oxidunterschicht (12a) gebildet wird, hat eine
Dicke von mindestens 100 nm, wobei ein Bereich von 100 bis
250 nm besonders bevorzugt wird. Ist die reflektierende
Schicht (13a) dünner als 100 nm, so tritt keine
Totalreflexion auf und der erhaltene Reflektor arbeitet
als Halbspiegel.
Die Schutzschicht (14a) auf der reflektierenden Schicht
(13a) besteht vorzugsweise aus Aluminiumoxid und hat
vorzugsweise eine Dicke von mindestens 20 nm, wobei der
Bereich von 20 bis 150 nm besonders bevorzugt wird. Ist
die Schutzschicht (14a) dünner als 20 nm, so kann die
reflektierende Schicht (13a) nicht vollständig geschützt
werden.
Fig. 7 zeigt schematisch einen Flächenreflektor gemäß
einer zweiten Ausführungsform der Erfindung. Bei dieser
Ausführungsform ist die Schutzschicht (14b) ein
Mehrschichtüberzug, der aus zumindest einer
Aluminiumoxidschicht und zumindest einer Schicht aus einem
transparenten Werkstoff besteht, jedoch sind die anderen
Schichten (Unterschicht (12b) und reflektierende Schicht
(13b)) die gleichen wie bei der in Fig. 6 dargestellten
Ausführungsform.
Beispiele transparenter Werkstoffe sind dielektrische
Stoffe, einschließlich Zirkoniumoxid, Tantaloxid,
Titanoxid, Ceroxid, Nioboxid, Siliziumdioxid und
Magnesiumfluorid. Die Schicht an derartigen transparenten
Werkstoffen hat vorzugsweise eine Dicke von mindestens
20 nm, wobei der Bereich von 20 bis 150 nm besonders
bevorzugt wird.
Die Schutzschicht kann aus einer Aluminiumoxidschicht und
einer Schicht aus einem transparenten Werkstoff gebildet
werden, aber vorzugsweise wird sie aus 2 bis 5 Schichten
aus Aluminiumoxid und einem abwechselnd dazwischen
angebrachten transparenten Werkstoff gebildet.
Die folgenden Beispiele sollen die erste und zweite
Ausführungsform der Erfindung weiterhin erläutern.
Zur Herstellung der Flächenreflektoren mit dem Aufbau
gemäß Fig. 6 wurden die Oxidschichten (siehe Tabelle 1)
mit einer Dicke von 15 nm durch Vakuumverdampfung auf
einem Polykarbonatsubstrat (11a) zur Bildung einer
Oxidunterschicht (12a) gebildet. Eine reflektierende
Aluminiumschicht (13a) wurde in einer Dicke von 100 nm
durch Vakuumverdampfung auf der Oxidunterschicht (12a)
gebildet. Ferner wurde eine Aluminiumoxidschutzschicht
(14a) mit einer Dicke von 20 nm durch Vakuumverdampfung
auf der reflektierenden Schicht (13a) gebildet. Auf diese
Weise wurden 9 Proben von Flächenreflektoren hergestellt.
Beispiel Nr. | |
Oxide in der Unterschicht | |
1A | |
Chromoxid | |
2A | Molybdänoxid |
3A | Kobaltoxid |
4A | Nioboxid |
5A | Ceroxid |
6A | Titanoxid |
7A | Tantaloxid |
8A | Siliziumdioxid |
9A | Zirkoniumoxid |
Die Flächenreflektoren wurden in einer
thermostatgesteuerten Kammer bei einer Temperatur von 40°C
und einer Feuchtigkeit von 95% relativer Feuchte
belassen. Bis zum Ablauf von 504 Stunden wurde unter
Verwendung eines Klebestreifens in Abständen von 24
Stunden ein Schältest durchgeführt, um die Haftung des
Überzuges am Substrat und die Beständigkeit einer jeden
Probe gegen Feuchtigkeit zu überprüfen. Unter
Berücksichtigung des tatsächlichen Einsatzes ist die Zeit
bis zur Schälung vorzugsweise 200 Stunden und länger. Die
Prüfergebnisse sind in der Tabelle 3 angegeben.
In den Beispielen 1A bis 9A wurde das spektrale
Reflexionsvermögen bei unter 45° einfallendem Licht
gemessen, bevor und nachdem die Proben während 504 Stunden
den Bedingungen ausgesetzt waren. Da ähnliche Ergebnisse
erhalten wurden, ist nur das Ergebnis des Beispiels 1A in
Fig. 8 angegeben, woraus ersichtlich ist, daß die
erfindungsgemäßen Flächenreflektoren sich bei unter 45°
einfallendem Licht in ihrem spektralen Reflexionsvermögen
wenig änderten, selbst wenn sie für eine ausgedehnte
Zeitspanne 40°C und 95% relativer Feuchte ausgesetzt
waren.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem in Fig. 7
angegebenen Aufbau wurde die Verfahrensweise gemäß
Beispiel 1 wiederholt, so daß ein Mehrschichtüberzug aus
transparentem Werkstoff einschließlich einer
Aluminiumoxidschicht als Schutzschicht (14b) gebildet
wurde. Die Schutzschicht (14b) bestand aus einer
abwechselnden Anordnung einer einzelnen
Aluminiumoxidschicht mit 76 nm Dicke und zwei
dielektrischen Zirkoniumoxidschichten mit 63 nm Dicke. Der
gefertigte Flächenreflektor wurde, wie in den Beispielen
1A bis 9A, Schälprüfungen unterzogen und es wurden
ähnliche Ergebnisse bezüglich der Haftung des Überzuges am
Substrat und der Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit
erhalten.
Es wurden weitere Flächenreflektoren, wie in den
Beispielen 1A bis 9A gefertigt, außer daß die
Oxidunterschichten aus den in der Tabelle 2 angegebenen
Oxiden gebildet wurden. Die erhaltenen Flächenreflektoren
wurden bezüglich der Haftung des Überzuges am Substrat und
der Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit durch das in den
Beispielen 1A bis 9A verwendete Verfahren bewertet und die
Ergebnisse sind in der Tabelle 3 angegeben.
Vergleichsbeispiel Nr. | |
Oxide in der Unterschicht | |
1A | |
Nickeloxid | |
2A | Aluminiumoxid |
3A | Wolframoxid |
4A | Eisenoxid |
5A | Siliziumoxid |
6A | Kupfer(I)oxid |
7A | Zinnoxid |
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem in Fig. 1
dargestellten Zweischichtaufbau wurde eine reflektierende
Aluminiumschicht (3c) mit einer Dicke von 100 nm mittels
Vakuumverdampfung unmittelbar auf einem
Polykarbonatsubstrat (1c) hergestellt. Ferner wurde eine
Aluminiumoxidschutzschicht (4c) mit einer Dicke von 20 nm
mittels Vakuumverdampfung auf der reflektierenden Schicht
(3c) gebildet. Der erhaltene Flächenreflektor wurde
bezüglich der Folienhaftung am Substrat und der
Beständigkeit gegen Feuchtigkeit mittels des gleichen
Verfahrens bewertet, das in den Beispielen 1A bis 9A
verwendet wurde. Die Ergebnisse sind in der Tabelle 3
angegeben.
Ein Flächenreflektor wurde wie im Vergleichsbeispiel 8A
hergestellt, außer daß eine Schutzschicht (4d) mit einer
Dicke von 20 nm durch Vakuumverdampfung aus Siliziumdioxid
gebildet wurde. Der erhaltene Flächenreflektor wurde
hinsichtlich der Haftung des Überzuges am Substrat und
Beständigkeit gegen Feuchtigkeit mittels des gleichen
Verfahrens bewertet, wie es bei den Beispielen 1A bis 9A
verwendet wurde. Die Ergebnisse sind in der Tabelle 3
dargestellt.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem in Fig. 3
dargestellten Aufbau wurde eine Chromunterschicht (2e) in
einer Dicke von 15 nm mittels Vakuumverdampfung auf einem
Polykarbonatsubstrat gebildet. Eine reflektierende
Aluminiumschicht (3e) wurde anschließend mit einer Dicke
von 100 nm mittels Vakuumverdampfung auf der Unterschicht
(2e) aufgebracht. Ferner wurde eine
Aluminiumoxidschutzschicht (4e) mit einer Dicke von 20 nm
mittels Vakuumverdampfung auf der reflektierenden Schicht
(3e) gebildet. Der erhaltene Flächenreflektor wurde
bezüglich der Haftung des Überzuges am Substrat und
Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit durch das gleiche
Verfahren bewertet, das in den Beispielen 1A bis 9A
verwendet wurde. Die Ergebnisse sind ebenfalls in der
Tabelle 3 angegeben.
Im Flächenreflektor gemäß der ersten und zweiten
Ausführungsform der Erfindung wird eine Oxidunterschicht
zwischen dem Substrat und der reflektierenden
Aluminiumschicht gebildet. Dies gewährleistet, daß die
Haftung zwischen dem Substrat und der reflektierenden
Schicht ausreichend erhöht ist, um eine verbesserte
Haftung des Überzuges am Substrat, Beständigkeit gegen
Feuchtigkeit und dergleichen zu ergeben, wenn das
Substrat aus Kunststoff, wie beispielsweise
Polykarbonaten, Polyestern oder Acrylharzen besteht.
Fig. 9 zeigt schematisch einen Flächenreflektor gemäß
einer dritten Ausführungsform der Erfindung. Der
Flächenreflektor hat eine Dreischichtanordnung und die
einzelnen Schichten werden mittels Vakuumverdampfung,
Versprühen oder ein anderes geeignetes Verfahren gebildet.
Die Ausführungsform betrifft den Fall, bei dem der
Flächenreflektor auf einem Substrat (21a) gebildet ist,
das aus einem Kunststoffwerkstoff, wie Polykarbonaten,
Polyestern oder Acrylharzen besteht.
Das Substrat (21a) wird mit einer Chromsulfidunterschicht
(22a) abgedeckt, die ihrerseits aufeinanderfolgend mit
einer reflektierenden Schicht (23a) aus Silber und einer
Schutzschicht (24a) abgedeckt ist.
Die Unterschicht (22a) wird aus Chromsulfid gebildet, das
eine gute Haftung an sowohl der reflektierenden Schicht
aus Silber als auch am Substrat (21a) hat, das aus den
vorstehend aufgeführten Kunststoffwerkstoffen besteht. Die
Chromsulfidunterschicht (22a) hat vorzugsweise eine Dicke
von mindestens 10 nm, wobei der Bereich von 15 bis 50 nm
besonders bevorzugt ist. Ist die Chromsulfidunterschicht
(22a) dünner als 10 nm, so kann keine ausreichende Haftung
am Substrat erhalten werden.
Die reflektierende Silberschicht (23a), die über der
Chromsulfidunterschicht (22a) gebildet wird, hat
eine Dicke von mindestens 45 nm, wobei der
Bereich von 100 bis 200 nm besonders bevorzugt wird. Ist
die reflektierende Schicht (23a) dünner als 45 nm, so
tritt keine Totalreflexion auf und der erhaltene Reflektor
arbeitet als Halbspiegel.
Die Schutzschicht (24a) auf der reflektierenden Schicht
(23a) ist vorzugsweise aus Aluminiumoxid ausgebildet und
hat vorzugsweise eine Dicke von mindestens 20 nm, wobei
der Bereich von 20 bis 100 nm besonders bevorzugt wird.
Ist die Schutzschicht (4a) dünner als 20 nm, so kann die
reflektierende Schicht (23a) nicht vollständig geschützt
werden.
Fig. 10 zeigt schematisch einen Flächenreflektor gemäß
einer vierten erfindungsgemäßen Ausführungsform. Bei
dieser Ausführungsform ist die Schutzschicht (24b) ein
Mehrschichtüberzug, der aus einer Aluminiumoxidschicht und
einer Schicht eines transparenten Werkstoffes besteht,
aber die anderen Schichten (Unterschicht (22b) und
reflektierenden Schicht (23b) sind die gleichen wie bei der
Ausführungsform nach Fig. 9.
Beispielsweise verwendete transparente Werkstoffe sind
Dielektrika, einschließlich Zirkoniumoxid, Tantaloxid,
Titanoxid, Ceroxid, Nioboxid, Siliziumdioxid und
Magnesiumfluorid. Die Schicht derartiger transparenter
Werkstoffe hat vorzugsweise eine Dicke von mindestens
20 nm, wobei der Bereich von 20 bis 100 nm besonders
bevorzugt wird.
Die Aluminiumoxidschicht und die Schicht eines
transparenten Werkstoffes können als Einzelschichten
ausgebildet sein, aber, falls erwünscht, können sie
abwechselnd überlagert werden, um ein Laminat zu bilden.
Im Falle eines Laminates kann jede Schicht aus 2 bis 5
Lagen bestehen.
Die folgenden Beispiele sind vorgesehen, um die dritte und
vierte Ausführungsform der Erfindung weiter zu erläutern.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem in Fig. 9
dargestellten Aufbau wurde eine Chromsulfidschicht mit
einer Dicke von 15 nm mittels Vakuumverdampfung auf einem
Polykarbonatsubstrat (21a) zwecks Bildung einer
Chromsulfidunterschicht (22a) ausgebildet. Eine
reflektierende Silberschicht (23a) wurde in einer Dicke
von 100 nm mittels Vakuumverdampfung auf der
Chromsulfidunterschicht (22a) gebildet. Ferner wurde eine
schützende Aluminiumoxidschicht (24a) mit einer Dicke von
100 nm mittels Vakuumverdampfung auf der reflektierenden
Schicht (23a) gebildet.
Der auf diese Weise hergestellte Flächenreflektor wurde in
einer thermostatisch gesteuerten Kammer während 216
Stunden bei 40°C und bei 95% relativer Feuchte belassen,
und es wurde ein Schältest unter Verwendung eines
Klebestreifens in Abständen von 24 Stunden durchgeführt,
um die Filmhaftung am Substrat und die Beständigkeit der
Probe gegenüber Feuchtigkeit zu prüfen. Im Hinblick auf
die tatsächliche Anwendung ist die Zeit bis zum Schälen
erwünschterweise 200 Stunden und länger. Das Prüfergebnis
ist in Tabelle 4 angegeben.
In Beispiel 1B wurde das spektrale Reflexionsvermögen von
unter 45° einfallendem Licht gemessen, bevor und nachdem
die Probe während 216 Stunden den Testbedingungen
ausgesetzt war. Die Ergebnisse sind in Fig. 11 angegeben,
aus der ersichtlich ist, daß der erfindungsgemäße
Flächenreflektor wenig Veränderung im spektralen
Reflexionsvermögen bei 45° einfallendem Licht zeigte,
selbst wenn er bei 40°C und 95% relativer Feuchte während
längerer Zeit belassen wurde, und daß das
Reflexionsvermögen nach der 216 Stunden erfolgenden
Prüfung mindestens 97% im sichtbaren Bereich von 430 bis
700 nm betrug.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem in Fig. 10
gezeigten Aufbau wurde die Verfahrensweise des Beispiels
1B wiederholt, außer daß ein Mehrschichtüberzug aus
transparentem Werkstoff einschließlich einer
Aluminiumoxidschicht als Schutzschicht (24b) gebildet
wurde. Die Schutzschicht (24b) bestand aus einer
Aluminiumoxidschicht von 65 nm Dicke und einer
dielektrischen Zirkoniumoxidschicht von 55 nm Dicke. Der
erhaltene Flächenreflektor wurde wie in Beispiel 1B
Schälprüfungen unterworfen und es wurden ähnliche
Ergebnisse bezüglich der Haftung des Überzuges am Substrat
und Beständigkeit gegen Feuchtigkeit erhalten.
Es wurden Flächenreflektoren wie in Beispiel 1B
hergestellt, außer daß die Unterschicht (22a) aus
Zinksulfid (Vergleichsbeispiel 1B) oder Antimonsulfid
(Vergleichsbeispiel 2B) anstelle des Chromsulfids gebildet
wurde. Die erhaltenen Flächenreflektoren wurden bezüglich
der Haftung des Überzuges am Substrat und der
Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit mittels des gleichen
Verfahrens wie im Beispiel 1B bewertet und die Ergebnisse
sind in der Tabelle 4 angegeben.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit der in Fig. 4
angegebenen Vierschichtanordnung wurde eine
Aluminiumoxidunterschicht (2f) mit einer Dicke von 30 nm
mittels Vakuumverdampfung auf einem Polykarbonatsubstrat
gebildet. Darauf wurde eine reflektierende Silberschicht
(3f) mit einer Dicke von 100 nm mittels Vakuumverdampfung
auf der Unterschicht (2f) gebildet. Ferner wurden eine
Aluminiumoxidschicht (4f) mit einer Dicke von 30 nm und
eine Siliziumdioxidschicht (5f) mit einer Dicke von 150 nm
aufeinanderfolgend mittels Vakuumverdampfung als
Schutzschichten auf der reflektierenden Schicht (3f)
gebildet. Der erhaltene Flächenreflektor wurde
hinsichtlich der Folienhaftung am Substrat und der
Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit durch das gleiche
Verfahren bewertet, wie es in Beispiel 1B verwendet wurde.
Das Ergebnis ist ebenfalls in der Tabelle 4 dargestellt.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem in Fig. 5
angegebenen Aufbau wurde eine Kupferunterschicht (2g) in
einer Dicke von 40 nm mittels Vakuumverdampfung auf einem
Polkarbonatsubstrat (1g) gebildet. Darauf wurde eine
reflektierende Silberschicht (3g) mit einer Dicke von
100 nm mittels Vakuumverdampfung auf der Unterschicht (2g)
gebildet. Ferner wurden eine Aluminiumoxidschicht (4g) mit
einer Dicke von 60 nm, eine Tantaloxidschicht (5g) mit
einer Dicke von 75 nm, eine Siliziumdioxidschicht (6g) mit
einer Dicke von 75 nm und eine Tantaloxidschicht (7g) mit
einer Dicke von 75 nm aufeinanderfolgend mittels
Vakuumverdampfung als Schutzschichten auf der
reflektierenden Schicht (3g) gebildet. Der erhaltene
Flächenreflektor wurde hinsichtlich Folienhaftung am
Substrat und Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit mittels
des gleichen Verfahrens wie in Beispiel 1B bewertet. Das
Ergebnis ist in der Tabelle 4 angegeben.
Beispiel Nr. | |
Zeit bis zum Schälen (h) | |
Beispiel 1B | |
216 | |
Vergleichsbeispiel 1B | 72 |
Vergleichsbeispiel 2B | 72 |
Vergleichsbeispiel 3B | 24 |
Vergleichsbeispiel 4B | 48 |
In dem Flächenreflektor gemäß der erfindungsgemäßen
dritten und vierten Ausführungsform wird die
Chromsulfidunterschicht zwischen dem Substrat und der
reflektierenden Silberschicht gebildet. Dies
gewährleistet, daß, selbst wenn das Substrat aus
Kunststoff, wie Polkarbonaten, Polyestern oder
Acrylharzen, besteht, die Haftung zwischen dem Substrat
und der reflektierenden Schicht ausreichend erhöht ist, um
eine verbesserte Haftung des Überzuges am Substrat und
verbesserte Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit und
dergleichen zu ergeben.
Fig. 12 zeigt schematisch einen Flächenreflektor gemäß
einer fünften erfindungsgemäßen Ausführungsform. Der
Flächenreflektor hat eine Vierschichtanordnung und die
einzelnen Schichten werden durch Vakuumverdampfung,
Versprühen oder ein anderes geeignetes Verfahren gebildet.
Die Ausführungsform betrifft den Fall, bei dem der
Flächenreflektor auf einem Substrat (31c) gebildet wird,
der aus Kunststoff, wie Polykarbonaten, Polyestern oder
Acrylharzen, besteht, aber es braucht nicht darauf
hingewiesen zu werden, daß der Reflektor auch auf einem
Glassubstrat gebildet werden kann.
Eine Unterschicht (32c) aus einem Oxid wird auf dem
Substrat (31c) gebildet; eine Sulfidunterschicht (33c)
wird auf der Oxidunterschicht (32c) gebildet; eine
reflektierende Silberschicht (34c) wird auf der
Sulfidunterschicht (33c) gebildet; und eine Schutzschicht
(35c) wird auf der reflektierenden Schicht (34c) gebildet.
Die Oxidunterschicht (32c) wird aus einem Oxid gebildet,
das eine gute Haftung sowohl zum Substrat (31c) aus dem
vorstehend erwähnten Kunststoff wie auch zur
Sulfidunterschicht (33c) aufweist. Soll die
Sulfidunterschicht (33c) aus Zinksulfid bestehen, so wird
das Oxid vorzugsweise aus Aluminiumoxid, Nioboxid,
Kobaltoxid und Titanoxid gewählt. Soll die
Sulfidunterschicht (33c) aus Antimonsulfid bestehen, so
ist das Oxid vorzugsweise Nioboxid oder Kobaltoxid. Die
Oxidunterschicht (32c) hat vorzugsweise eine Dicke von
mindestens 10 nm, wobei der Bereich von 15 bis 50 nm
besonders bevorzugt ist. Ist die Oxidunterschicht (32c)
dünner als 10 nm, so kann keine ausreichende Haftung
erreicht werden.
Die Sulfidunterschicht (33c) wird aus einem Sulfid
gebildet, das eine gute Haftung sowohl zur
Oxidunterschicht (32c) und zur reflektierenden
Silberschicht (34c) hat. Das bevorzugte Sulfid ist
Zinksulfid oder Antimonsulfid, die mit der Unterschicht
(32c), wie vorstehend beschrieben, in geeigneter Weise
kombiniert werden. Die Sulfidunterschicht (33c) hat
vorzugsweise eine Dicke von mindestens 10 nm, wobei der
Bereich von 15 bis 50 nm besonders bevorzugt wird. Ist die
Sulfidunterschicht (33c) dünner als 10 nm, so kann keine
ausreichende Haftung erzielt werden.
Die reflektierende Silberschicht (34c), die über der
Sulfidunterschicht (33c) gebildet wird, hat
eine Dicke von mindestens 45 nm, wobei der Bereich vom 100
bis 200 nm besonders bevorzugt wird. Ist die
reflektierende Schicht (34c) dünner als 45 nm, so tritt
keine Totalreflexion auf und der erhaltene Reflektor
arbeitet als Halbspiegel.
Die Schutzschicht (35c) auf der reflektierenden Schicht
(34c) ist vorzugsweise aus einem Aluminiumoxid gebildet
und hat vorzugsweise eine Dicke von mindestens 20 nm,
wobei der Bereich von 20 bis 100 nm besonders bevorzugt
ist. Ist die Schutzschicht (35c) dünner als 20 nm, so kann
die reflektierende Schicht (34c) nicht vollständig
geschützt werden.
Fig. 13 zeigt schematisch einen Flächenreflektor gemäß
einer sechsten erfindungsgemäßen Ausführungsform. Bei
dieser Ausführungsform ist die Schutzschicht (35d) ein
Mehrschichtüberzug, der aus wenigstens einer
Aluminiumoxidschicht und wenigstens einer Schicht eines
transparenten Werkstoffes besteht, aber die anderen
Schichten (Oxidunterschicht (32d), Sulfidunterschicht
(33d) und reflektierende Schicht (34d) sind die gleichen
wie bei der Ausführungsform nach Fig. 12.
Typische Beispiele transparenter Werkstoffe sind
Dielektrika, einschließlich Zirkoniumoxid, Tantaloxid,
Titanoxid, Ceroxid, Nioboxid, Siliziumdioxid und
Magnesiumfluorid. Die Schicht aus derartigen transparenten
Werkstoffen hat vorzugsweise eine Dicke von mindestens
20 nm, wobei der Bereich von 20 bis 100 nm besonders
bevorzugt wird.
Die Schutzschicht kann aus einer Aluminiumoxidschicht und
einer Schicht eines transparenten Werkstoffes gebildet
sein, vorzugsweise aber aus 2 bis 5 Schichten aus
Aluminiumoxid und einem transparenten Werkstoff, die
abwechselnd überlagert werden.
Die folgenden Beispiele werden angegeben, um die fünfte
und sechste erfindungsgemäße Ausführungsform weiter zu
erläutern.
Zur Herstellung von Flächenreflektoren mit dem in Fig. 12
angegebenen Aufbau wurden die Oxidschichten (siehe Tabelle
5) mit einer Dicke von 15 nm mittels Vakuumverdampfung auf
einem Polykarbonatsubstrat (31c) gebildete um eine
Oxidunterschicht (32c) zu erhalten. Eine Sulfidschicht,
die den Oxid-Sulfid-Kombinationen gemäß Tabelle 5
entsprach, wurde durch Vakuumverdampfung mit einer Dicke
von 15 nm auf der Oxidunterschicht (32c) gebildet und
bildete eine Sulfidunterschicht (33c). Eine reflektierende
Silberschicht (34c) wurde mit einer Dicke von 100 nm
mittels Vakuumverdampfung auf der Sulfidunterschicht (33c)
gebildet. Ferner wurde eine Aluminiumoxidschutzschicht
(35c) in einer Dicke von 100 nm mittels Vakuumverdampfung
auf der reflektierenden Schicht (34c) gebildet.
Der auf diese Weise erhaltene Flächenreflektor wurde in
einer thermostatisch geregelten Kammer bei 40°C und 95%
relativer Feuchte während 216 Stunden belassen, und eine
Schälprüfung wurde unter Verwendung eines Klebestreifens
in Abständen von 24 Stunden durchgeführt, um die Haftung
des Überzuges am Substrat zu prüfen und die Beständigkeit
der Probe gegenüber Feuchtigkeit. Im Hinblick auf den
tatsächlichen Einsatz beträgt die Zeit bis zum Schälen 200
Stunden und länger. Die Prüfergebnisse sind in der Tabelle
7 angegeben.
In Beispiel 1C wurde das spektrale Reflexionsvermögen bei
unter 45° einfallendem Licht gemessen, bevor und nachdem
die Probe für 216 Stunden den Prüfbedingungen ausgesetzt
wurde. Die Ergebnisse sind in Fig. 15 angegeben, aus der
ersichtlich ist, daß der erfindungsgemäße
Flächenreflektor wenig Veränderungen im spektralen
Reflexionsvermögen bei unter 45° einfallendem Licht
erfuhr, selbst wenn er bei 40°C und 95% relativer Feuchte
für eine ausgedehnte Zeitspanne belassen wurde und das
Reflexionsvermögen nach der während 216 Stunden
durchgeführten Prüfung betrug mindestens 97% im
sichtbaren Bereich von 430 bis 700 nm.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem in Fig. 13
gezeigten Aufbau wurde die Verfahrensweise der Beispiele
1C bis 6C wiederholt, außer daß ein Mehrschichtüberzug
aus transparentem Werkstoff einschließlich einer
Aluminiumoxidschicht als Schutzschicht (35d) gebildet
wurde. Die Schutzschicht (35d) bestand aus einer
Aluminiumoxidschicht mit einer Dicke von 65 nm und einer
dielektrischen Zirkoniumoxidschicht mit einer Dicke von
55 nm. Der erhaltene Flächenreflektor wurde
Schälprüfungen, wie in den Beispielen 1C bis 6C,
unterzogen und es wurden ähnliche Ergebnisse bezüglich der
Haftung des Überzuges am Substrat und der Beständigkeit
gegenüber Feuchtigkeit erhalten.
Flächenreflektoren wurden wie in den Beispielen 1C bis 6C
hergestellt, außer daß die Oxid- und
Sulfidunterschichten gemäß den in der nachstehenden
Tabelle 6 aufgeführten Oxid-Sulfid-Kombinationen gebildet
wurden. Die erhaltenen Flächenreflektoren wurden bezüglich
der Haftung des Überzuges am Substrat und der
Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit mittels des gleichen
Verfahrens wie in den Beispielen 1C bis 6C bewertet und
die Ergebnisse sind in der Tabelle 7 angegeben.
Zur Herstellung von Flächenreflektoren mit der in Fig. 14
angegebenen Dreischichtanordnung wurde eine
Zinksulfidschicht (Vergleichsbeispiel 9C) oder eine
Antimonsulfidschicht (Vergleichsbeispiel 10C) mit einer
Dicke von 15 nm mittels Vakuumverdampfung auf einem
Polykarbonatsubstrat (1i) zwecks Bildung einer
Sulfidunterschicht (3i) gebildet. Eine reflektierende
Silberschicht (4i) wurde dann mit einer Dicke von 100 nm
mittels Vakuumverdampfung auf der Sulfidunterschicht (3i)
gebildet. Ferner wurde eine Aluminiumoxidschutzschicht
(5i) mit einer Dicke von 100 nm mittels Vakuumverdampfung
auf der reflektierenden Schicht (4i) gebildet. Die
erhaltenen Flächenreflektoren wurden bezüglich der Haftung
des Überzuges am Substrat und er Beständigkeit gegenüber
Feuchtigkeit mittels des gleichen Verfahrens bewertet, wie
es in den Beispielen 1C bis 6C verwendet wurde. Die
Ergebnisse sind in der Tabelle 7 angegeben.
Beispiel Nr. | |
Zeit bis zur Schälung (h) | |
Beispiel 1C | |
216 | |
Beispiel 2C | 216 |
Beispiel 3C | 216 |
Beispiel 4C | 216 |
Beispiel 5C | 216 |
Beispiel 6C | 216 |
Vergleichsbeispiel 1C | 72 |
Vergleichsbeispiel 2C | 24 |
Vergleichsbeispiel 3C | 72 |
Vergleichsbeispiel 4C | 144 |
Vergleichsbeispiel 5C | 48 |
Vergleichsbeispiel 6C | 48 |
Vergleichsbeispiel 7C | 48 |
Vergleichsbeispiel 8C | 24 |
Vergleichsbeispiel 9C | 72 |
Vergleichsbeispiel 10C | 72 |
Wie die Tabelle 7 angibt, zeigt die Oxidunterschicht im
erfindungsgemäßen Flächenreflektor eine besonders gute
Haftung des Überzuges am Substrat und an der
Zinksulfidunterschicht, falls sie aus mindestens einem
Werkstoff besteht, der aus Aluminiumoxid, Nioboxid,
Kobaltoxid und Titanoxid ausgewählt wurde. Die Tabelle 7
zeigt ferner, daß die Oxidunterschicht eine besonders
gute Haftung des Überzugs am Substrat und der
Antimonsulfidunterschicht hat, falls sie aus Nioboxid oder
Kobaltoxid oder aus beiden hergestellt ist.
Im Flächenreflektor gemäß der fünften und sechsten
erfindungsgemäßen Ausführungsform werden die
Oxidunterschicht und die Sulfidunterschicht
aufeinanderfolgend zwischen dem Substrat und der
reflektierenden Silberschicht gebildet. Dies
gewährleistet, daß, selbst wenn das Substrat aus
Kunststoffen, wie Polykarbonaten, Polyestern oder
Acrylharzen, besteht, die Haftung zwischen dem Substrat
und der reflektierenden Schicht ausreichend vergrößert
ist, um eine verbesserte Haftung des Überzuges am Substrat
und eine verbesserte Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit
und dergleichen zu ergeben.
Fig. 16 zeigt schematisch einen Flächenreflektor gemäß
einer siebten erfindungsgemäßen Ausführungsform. Der
Flächenreflektor hat eine Fünfschichtanordnung und die
einzelnen Schichten werden durch Vakuumverdampfung,
Versprühen oder durch andere geeignete Verfahren gebildet.
Die Ausführungsform betrifft den Fall, bei dem der
Flächenrelektor auf einem Substrat (41a) aus Kunststoff,
wie beispielsweise Polykarbonat oder Acrylharz, gebildet
ist, aber - es erübrigt sich, dies zu erwähnen - der
Reflektor kann auch auf einem Glassubstrat gebildet werden.
Das Substrat (41a) wird mit einer Chromsulfidunterschicht
(42a) abgedeckt, die ihrerseits aufeinanderfolgend mit
einer reflektierenden Schicht (43a) aus Silber, einer
Schutzschicht (I) (44a) und Schutzschichten (II) (45a,
46a) abgedeckt wird.
Die Unterschicht (42a) besteht aus Chromsulfid, die eine
gute Haftung an sowohl der reflektierenden Schicht aus
Silber als auch am Substrat (42a) hat, das aus den
vorstehend aufgeführten Kunststoffen besteht. Die
Chromsulfidunterschicht (42a) hat eine Dicke von
mindestens 10 nm, wobei der Bereich von 15 bis 35 nm
besonders bevorzugt ist. Falls die Chromsulfidunterschicht
(42a) dünner als 10 nm ist, kann keine ausreichende
Haftung am Substrat erzielt werden.
Die reflektierende Silberschicht (43a), die über der
Chromsulfidunterschicht (42a) gebildet wird, hat
eine Dicke von mindestens 45 nm, wobei der
Bereich von 100 bis 200 nm besonders bevorzugt wird. Ist
die reflektierende Schicht (43a) dünner als 45 nm, tritt
keine Totalreflexion auf und der erhaltene Reflektor
arbeitet als Halbspiegel.
Die Schutzschicht (I) (44a) auf der reflektierenden
Silberschicht (43a) wird aus Chromsulfid gebildet, um
Sulfidionen am Eindringen in die reflektierende Schicht
(43a) zu hindern. Die Schutzschicht (I) (44a) hat
vorzugsweise eine Dicke von 1 bis 10 nm, wobei der Bereich
von 2 bis 5 nm besonders bevorzugt ist. Falls die
Schutzschicht (I) (44a) dicker als 11 nm ist, so
verursacht das Chromsulfid, das Licht absorbiert, einen
unerwünschten Abfall des Reflexionsvermögens über den
gesamten sichtbaren Bereich.
In der in Frage stehenden Ausführungsform wird eine
verbesserte Reflexion im Wellenlängenbereich von 400 bis
450 nm hinzugefügt, um eine neutrale Reflexionsfarbe zu
erzeugen, indem der Abfall des Reflexionsvermögens
verringert wird, der im Flächenreflektor bei kürzeren
Wellenlängen wegen der Lichtabsorption durch das
Chromsulfid auftreten kann, aus dem die Schutzschicht (I)
(44a) gebildet ist. Zu diesem Zweck wird die Schutzschicht
(II) auf der Schutzschicht (I) (44a) vorzugsweise aus
einer Aluminiumoxidschicht (45a) (Brechungszahl n = 1,63)
und einer Zirkoniumoxidschicht (46a) (n = 1,95) gebildet.
Die Aluminiumoxidschicht (45a) hat vorzugsweise eine Dicke
von 45 bis 90 nm, wobei der Bereich von 60 bis 70 nm
besonders bevorzugt ist. Die Zirkoniumoxidschicht (46a)
hat vorzugsweise eine Dicke von 40 bis 70 nm, wobei der
Bereich von 50 bis 60 nm besonders bevorzugt ist.
Die vorstehend beschriebene Ausführungsform ist nicht der
alleinige Fall zur Erzielung der vorstehend erwähnten
Wirkung der Schutzschicht (II). Eine weitere bevorzugte
Ausführung ist derart, daß eine von zumindest zwei
Schichten, aus denen die Schutzschicht (II) besteht, sich
aus Aluminiumoxid zusammensetzt, während die andere aus
einem unterschiedlichen Schutzwerkstoff besteht und eine
der beiden Schichten, die näher am Substrat liegt, eine
niedrigere Brechungszahl als die andere Schicht hat.
Beispiele von Werkstoffkombinationen, die diesen
Erfordernissen genügen, umfassen nicht nur Aluminiumoxid
plus Zirkoniumoxid, sondern auch Aluminiumoxid plus
Titaniumoxid, sowie Siliziumdioxid plus Aluminiumoxid.
Die folgenden Beispiele sind angegeben, um die siebte
Ausführungsform der Erfindung weiter zu erläutern.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem Aufbau
gemäß Fig. 16 wurde eine Chromsulfidschicht mit einer
Dicke von 15 nm mittels Vakuumverdampfen auf einem
Polykarbonatsubstrat (41a) gebildet, so daß eine
Chromsulfidunterschicht (42a) erhalten wurde. Eine
reflektierende Silberschicht (43a) wurde mit einer Dicke
von 100 nm auf der Chromsulfidunterschicht (42a) mittels
Vakuumverdampfung gebildet. Eine Chromsulfidschutzschicht
(I) (44a) wurde mit einer Dicke von 3 nm mittels
Vakuumverdampfung auf der reflektierenden Schicht (43a)
gebildet. Ferner wurden aufeinanderfolgend eine
Aluminiumoxidschicht (45a) mit einer Dicke von 66 nm und
eine Zirkoniumoxidschicht (46a) mit einer Dicke von 55 nm
mittels Vakuumverdampfung als Schutzschichten (II) auf der
Schutzschicht (I) (44a) gebildet.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem Aufbau
nach Fig. 17 wurde eine Chromsulfidschicht mit einer Dicke
von 15 nm mittels Vakuumverdampfung auf einem
Polykarbonatsubstrat (1h) gebildet, um eine
Chromsulfidunterschicht (2h) zu ergeben.
Eine reflektierende Silberschicht (3h) wurde mit einer
Dicke von 100 nm mittels Vakuumverdampfung auf der
Chromsulfidunterschicht (2h) gebildet. Ferner wurden
aufeinanderfolgend eine Aluminiumoxidschicht (5h) mit
einer Dicke von 66 nm und eine Zirkoniumoxidschicht (6h)
mit einer Dicke von 55 nm mittels Vakuumverdampfung als
Schutzschichten auf der reflektierenden Schicht (3h)
gebildet.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit der
Vierschichtanordnung gemäß Fig. 4 wurde eine
Aluminiumoxidunterschicht (2f) mit einer Dicke von 30 nm
mittels Vakuumverdampfung auf einem Polykarbonatsubstrat
(1f) gebildet. Darauf wurde eine reflektierende
Silberschicht (3f) mit einer Dicke von 100 nm mittels
Vakuumverdampfung auf der Unterschicht (2f) gebildet.
Ferner wurden aufeinanderfolgend eine Aluminiumoxidschicht
(4f) mit einer Dicke von 30 nm und eine
Siliziumdioxidschicht (5f) mit einer Dicke von 100 nm
mittels Vakuumverdampfung als Schutzschichten auf der
reflektierenden Schicht (3f) gebildet.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem in Fig. 5
angegebenen Aufbau wurde eine Kupferunterschicht (2g) mit
einer Dicke von 40 nm mittels Vakuumverdampfung auf einem
Polykarbonatsubstrat (1g) gebildet. Eine reflektierende
Silberschicht (3g) wurde darauf mit einer Dicke von 100 nm
auf der Unterschicht (2g) mittels Vakuumverdampfung
gebildet. Ferner wurden aufeinanderfolgend eine
Aluminiumoxidschicht (4g) mit einer Dicke von 60 nm, eine
Tantaloxidschicht (5g) mit einer Dicke von 75 nm, eine
Siliziumdioxidschicht (6g) mit einer Dicke von 60 nm und
eine Tantaloxidschicht (7g) mit einer Dicke von 75 nm
mittels Vakuumverdampfung als Schutzschichten auf der
reflektierenden Schicht (3g) gebildet.
Die in Beispiel 1D und in den Vergleichsbeispielen 1D bis
3D erhaltenen Flächenreflektoren wurden in einer
thermostatisch geregelten Kammer bei 40°C und bei 95%
relativer Feuchte belassen. Bis zum Ablauf von 216 Stunden
wurde alle 24 Stunden eine Schälprüfung durchgeführt, um
die Haftung des Überzuges am Substrat und die
Beständigkeit einer jeden Probe gegenüber Feuchtigkeit zu
überprüfen. Im Hinblick auf den tatsächlichen Einsatz ist
die Zeit bis zur Schälung erwünschterweise 200 Stunden und
länger. Die Prüfergebnisse sind in der nachstehenden
Tabelle 8 angegeben.
Beispiel Nr. | |
Zeit bis zum Schälen (h) | |
Beispiel 1D | |
216 | |
Vergleichsbeispiel 1D | 216 |
Vergleichsbeispiel 2D | 24 |
Vergleichsbeispiel 3D | 48 |
In Beispiel 1D wurde das spektrale Reflexionsvermögen bei
unter 45° einfallendem Licht gemessen, bevor und nachdem
das Aussetzen zu den Prüfbedingungen während 216 Stunden
erfolgte. Die Ergebnisse sind in Fig. 18 angegeben, aus
welcher ersichtlich ist, daß der Flächenreflektor des
Beispiels 1D wenig Änderung im spektralen
Reflexionsvermögen bei unter 45° einfallendem Licht
erfuhr, selbst wenn er für eine ausgedehnte Zeitspanne
40°C und 95% relativer Feuchte ausgesetzt war, daß das
Reflexionsvermögen nach der Prüfung während 216 Stunden
mindestens 92% im sichtbaren Bereich von 430 bis 700 nm
und mindestens 94% im Bereich von 45° bis 700 nm betrug.
Ferner war die Änderung im Reflexionsvermögen im
sichtbaren Bereich von 430 bis 700 nm ausreichend schmal
(1%).
Die CIE-Farbkoordinaten (CIE ist die Abkürzung für
Commission Internationale de l′Eclairage oder
International Commission on Illumination), wie sie durch
die Daten der Fig. 18 gegeben sind, waren x = 0,3350 und
y = 0,3368, wobei die vorherrschende Wellenlänge, die
Anregungsreinheit und der Reflexionsgrad jeweils 569,7 nm,
1,56% und 97% betrug. Da die Anregungsreinheit 1,56%
betrug, kann sicher gefolgert werden, daß der
Flächenreflektor des Beispiels 1D mit Erfolg eine im
wesentlichen neutrale Reflexionsfarbe lieferte.
Die Flächenreflektoren gemäß Beispiel 1D und
Vergleichsbeispiel 1D wurden 100 mm über dem
Flüssigkeitsspiegel einer 10%-igen wäßrigen Lösung von
(NH₄)₂S angebracht und eine Beständigkeitsprüfung
gegenüber Schwefel wurde durchgeführt, um jegliche
Änderungen im Oberflächenzustand eines jeden Reflektors
und das Reflexionsvermögen bei 400 nm nach dem Ablauf von
4 Stunden zu überprüfen. Die Ergebnisse sind in der
nachstehend aufgeführten Tabelle 9 angegeben.
Die Daten zeigen, daß im Beispiel 1D, bei welchem die
reflektierende Silberschicht mit der
Chromsulfidschutzschicht (1) abgedeckt war, die ihrerseits
mit der Schutzschicht (2) aus Aluminiumoxid und
Zirkoniumoxid abgedeckt war, im Oberflächenzustand oder
beim Reflexionsvermögen bei 400 nm keine Änderung nach der
Aussetzung an Sulfidionen auftrat, wogegen im
Vergleichsbeispiel 1D, in dem die aus Aluminiumoxid und
Zirkoniumoxid bestehende Schutzschicht direkt auf der
reflektierenden Silberschicht gebildet wurde, sich der
Oberflächenzustand nach Aussetzen an Sulfidionen änderte
und das Reflexionsvermögen bei 40 nm ebenfalls abfiel. Es
ist daher klar, daß der Flächenreflektor mit hohem
Reflexionsvermögen gemäß Beispiel 1D, der innerhalb des
Rahmens der Erfindung liegt, eine hohe Beständigkeit
gegenüber Schwefel hat.
Im erfindungsgemäßen Flächenreflektor gemäß der siebten
Ausführungsform wird die Chromsulfidunterschicht zwischen
dem Substrat und der reflektierenden Silberschicht
gebildet und gleichzeitig wird die
Chromsulfidschutzschicht (1) auf der reflektierenden
Schicht gebildet. Dies bewirkt nicht nur eine Erhöhung der
Haftung zwischen dem Substrat und der aus Silber
bestehenden reflektierenden Schicht, sondern verhindert
auch das Eindringen von Sulfidionen in die reflektierende
Schicht. Infolgedessen zeigt der erfindungsgemäße
Flächenreflektor eine hohe Haftung des Überzuges am
Substrat, wenn das Substrat aus Kunststoffen, wie Polykarbonaten
oder Acrylharzen besteht, und eine Beständigkeit gegen Feuchtig
keit, gegen Schwefel und dergleichen.
Fig. 19 zeigt schematisch einen Flächenreflektor, der eine
Schichtanordnung gemäß der achten, neunten oder zehnten
Ausführungsform der Erfindung hat. Der Flächenreflektor
hat eine Sechsschichtanordnung und die einzelnen Schichten
werden durch Vakuumverdampfung, Versprühen oder andere
geeignete Verfahren gebildet. Die Ausführungsform betrifft
den Fall, bei dem der Flächenreflektor auf einem Substrat
(51a) aus Kunststoff gebildet wird, beispielsweise aus
Polykarbonat oder Acrylharz.
Das Substrat (51a) wird mit einer Chromsulfidunterschicht
(52a) abgedeckt, die ihrerseits aufeinanderfolgend mit
einer reflektierenden Schicht (53a) aus Silber, einer
Schutzschicht (I) (54a) und Schutzschichten (II) (55a,
56a) sowie einer Schutzschicht (III) (57a) abgedeckt ist.
Die Unterschicht (52a) wird aus Chromsulfid gebildet, das
eine große Haftung an sowohl die reflektierende Schicht
aus Silber wie auch an einem Substrat hat, das aus den
vorstehend aufgeführten Kunststoffen besteht. Die
Chromsulfidunterschicht (52a) hat eine Dicke von
mindestens 10 nm, wobei der Bereich von 15 bis 35 nm
besonders bevorzugt ist. Ist die Chromsulfidunterschicht
(52a) dünner als 10 nm, so kann keine ausreichende Haftung
am Substrat erzielt werden.
Die reflektierende Silberschicht (53a), die über der
Chromsulfidunterschicht (52a) gebildet wird, hat
eine Dicke von mindestens 45 nm, wobei der
Bereich von 100 bis 200 nm besonders bevorzugt wird. Ist
die reflektierende Schicht (53a) dünner als 45 nm, so
tritt keine Totalreflexion auf und der erhaltene Reflektor
arbeitet als Halbspiegel.
Die Schutzschicht (I) (54a) auf der reflektierenden
Silberschicht (53a) besteht aus Chromsulfid, um
Sulfidionen am Eindringen in die reflektierende Schicht
(53a) zu hindern. Die Schutzschicht (I) (54a) hat
vorzugsweise eine Dicke von 1 bis 10 nm, wobei der Bereich
von 2 bis 5 nm besonders bevorzugt wird. Ist die
Schutzschicht (I) (54a) dicker als 10 nm, so verursacht
das Chromsulfid, das Licht absorbiert, einen unerwünschten
Abfall des Reflexionsvermögens über den gesamten
sichtbaren Bereich.
Die Schutzschicht (II) auf der Schutzschicht (I) (54a)
wird aus einem Mehrschichtüberzug eines transparenten
Werkstoffes gebildet, der zumindest ein Aluminiumoxid
enthält, um das Eindringen von Feuchtigkeit zu verhindern.
Gemäß der achten Ausführungsform besteht die
Schutzschicht (II) aus einer Aluminiumoxidschicht (55a)
und einer Zirkoniumoxidschicht (56a). Die
Zirkoniumoxidschicht (56a) dient dazu, eine neutrale
Reflexionsfarbe zu erzeugen, indem der Abfall des
Reflexionsvermögens verringert wird, der im
Flächenreflektor bei kürzeren Wellenlängen wegen der
Lichtabsorption durch das Chromsulfid auftreten kann, aus
dem die Schutzschicht (I) (54a) gebildet wird. Hierzu
erhöht die Zirkoniumoxidschicht (56a) das
Reflexionsvermögen im Wellenlängenbereich von 350 bis
450 nm. Zu diesem Zweck hat die Schutzschicht (II) (55a),
die aus Aluminiumoxid (Brechungszahl n = 1,63) gebildet
wird, vorzugsweise eine Dicke von 45 bis 80 nm, wobei der
Bereich von 50 bis 65 nm besonders bevorzugt ist. Ferner
hat die aus Zirkoniumoxid (n = 1,95) gebildete
Schutzschicht (II) (56a) vorzugsweise eine Dicke von 20
bis 60 nm, wobei der Bereich von 25 bis 45 nm besonders
bevorzugt ist.
Die Schutzschicht (III) (57a) auf den Schutzschichten (II)
(55a, 56a) besteht aus Siliziumdioxid, um eine verbesserte
Beständigkeit gegen Abrieb zu ergeben. Die Schutzschicht
(III) (57a) hat vorzugsweise eine Dicke von 7 bis 23 nm,
wobei der Bereich von 10 bis 20 nm besonders bevorzugt
ist. Falls die Schutzschicht (III) (57a) dünner als 7 nm
ist, kann keine ausreichende Beständigkeit gegen Abrieb
erzielt werden. Ist die Schutzschicht (III) (57a) dicker
als 23 nm, so wird die Fähigkeit der Schutzschichten (II)
(55a, 56a), ein verbessertes Reflexionsvermögen zu
ergeben, beeinträchtigt.
Gemäß der neunten Ausführungsform besteht die Schicht
(55a) der beiden Schutzschichten (II), die näher am
Substrat liegt, aus Aluminiumoxid (n = 1,63), wohingegen
die äußere Schicht (56a) aus Titanoxid (n = 2,23)
gebildet wird. In diesem Falle hat der Überzug aus
Aluminiumoxid vorzugsweise eine Dicke von 45 bis 80 nm,
wobei der Bereich von 50 bis 65 nm besonders bevorzugt
wird. Der Titanoxidüberzug hat vorzugsweise eine Dicke von
20 bis 60 nm, wobei der Bereich von 25 bis 40 nm besonders
bevorzugt wird.
Gemäß der zehnten Ausführungsform ist die Schicht (55a)
der beiden Schutzschichten (II), die näher am Substrat
liegt, aus Siliziumdioxid (n 1,43) gebildet, wohingegen
die äußere Schicht (56a) aus Aluminiumoxid (n = 1,63)
gebildet wird. In diesem Falle hat der
Siliziumdioxidüberzug vorzugsweise eine Dicke von 45 bis
80 nm, wobei der Bereich von 55 bis 75 nm besonders
bevorzugt wird. Der Aluminiumoxidüberzug hat vorzugsweise
eine Dicke von 20 bis 60 nm, wobei der Bereich von 35 bis
55 nm besonders bevorzugt wird.
Die folgenden Beispiele werden zur weiteren Erläuterung
der Erfindung angegeben.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem in Fig. 19
angegebenen Aufbau wurde eine Chromsulfidschicht mit einer
Dicke von 15 nm mittels Vakuumverdampfung auf einem
Polykarbonatsubstrat (51a) gebildet, um eine
Chromsulfidunterschicht (52a) zu ergeben. Eine
reflektierende Silberschicht (53a) mit einer Dicke von
100 nm wurde mittels Vakuumverdampfung auf der
Chromsulfidunterschicht (52a) gebildet. Eine
Chromsulfidschutzschicht (I) (54a) wurde mit einer Dicke
von 3 nm mittels Vakuumverdampfung auf der reflektierenden
Schicht (53a) gebildet. Über der Schutzschicht (I) (54a)
wurden aufeinanderfolgend mittels Vakuumverdampfung eine
Aluminiumoxidschicht (55a) und eine Zirkoniumoxidschicht
(56a) jeweiliger Dicke von 54 nm und 36 nm gebildet.
Ferner wurde eine Siliziumdioxidschicht mittels
Vakuumverdampfung als eine Schutzschicht (III) (57a) mit
einer Dicke von 15 nm gebildet.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem in Fig. 19
angegebenen Aufbau wurde eine Chromsulfidschicht mit einer
Dicke von 15 nm mittels Vakuumverdampfung auf einem
Polykarbonatsubstrat (51a) gebildet, um eine
Chromsulfidunterschicht (52a) zu ergeben. Eine
reflektierende Silberschicht (53a) wurde mit einer Dicke
von 100 nm mittels Vakuumverdampfung auf der
Chromsulfidunterschicht (52a) gebildet. Eine
Chromsulfidschutzschicht (I) (54a) wurde mit einer Dicke
von 3 nm mittels Vakuumverdampfung auf der reflektierenden
Schicht (53a) gebildet. Über der Schutzschicht (I) (54a)
wurden aufeinanderfolgend eine Aluminiumoxidschicht (55a)
und eine Titanoxidschicht (56a) mittels Vakuumverdampfung
mit einer jeweiligen Dicke von 54 nm und 31 nm gebildet.
Ferner wurde eine Siliziumdioxidschicht mittels
Vakuumverdampfung als Schutzschicht (III) (57a) mit einer
Dicke von 15 nm gebildet.
Zur Herstellung eines Flächenreflektors mit dem Aufbau
nach Fig. 19 wurde eine Chromsulfidschicht mit einer Dicke
von 15 nm mittels Vakuumverdampfung auf einem
Polykarbonatsubstrat (51a) gebildet, um eine
Chromsulfidunterschicht (52a) zu ergeben. Eine
reflektierende Silberschicht (53a) wurde mit einer Dicke
von 100 nm mittels Vakuumverdampfung auf der
Chromsulfidunterschicht (52a) gebildet. Eine
Chromsulfidschutzschicht (I) (54a) wurde mit einer Dicke
von 3 nm auf der reflektierenden Schicht (53a) mittels
Vakuumverdampfung gebildet. Über der Schutzschicht (I)
(54a) wurden aufeinanderfolgend eine Siliziumoxidschicht
(55a) und eine Aluminiumoxidschicht (56a) mit einer
jeweiligen Dicke von 62 nm und 54 nm mittels
Vakuumverdampfung gebildet. Ferner wurde eine
Siliziumdioxidschicht als Schutzschicht (III) (57a)
mittels Vakuumverdampfung mit einer Dicke von 15 nm
gebildet.
Ein Flächenreflektor gemäß diesem Vergleichsbeispiel 1F
war identisch mit jenem des Beispiels 1D, außer daß die
Dicke der Aluminiumoxidschicht (45a) 54 nm und die Dicke
der Zirkoniumoxidschicht (46a) 51 nm betrug.
Ein Flächenreflektor dieses Vergleichsbeispiels 2F war
identisch mit jenem des Beispiels 1D, außer daß die
Schicht (45a) eine Aluminiumoxidschicht mit einer Dicke
von 54 nm und die Schicht (46a) eine Titanoxidschicht mit
einer Dicke von 46 nm war.
Ein Flächenreflektor des Vergleichsbeispiels 3F ist
identisch mit jenem des Beispiels 1D, außer daß die
Schicht (45a) eine Siliziumdioxidschicht mit einer Dicke
von 62 nm und die Schicht (46a) eine Aluminiumoxidschicht
mit einer Dicke von 59 nm war.
Die in den Beispielen 1F bis 3F und in den
Vergleichsbeispielen 1F bis 3F hergestellten
Flächenreflektoren unterschieden sich in keiner Weise
bezüglich der Haftung des Überzuges am Substrat, der
Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit und der Beständigkeit
gegenüber Schwefel und dergleichen. Dies beruht
offensichtlich auf der kombinierten Wirkung der
Chromsulfidunterschicht, der Chromsulfidschutzschicht (I)
und des Aluminiumoxidüberzuges in der Schutzschicht (II),
obgleich Prüfergebnisse, die diese Wirkung belegen,
weggelassen werden.
Jedoch unterschieden sich diese Reflektoren bezüglich der
Beständigkeit ihrer Oberfläche gegen Abrieb. Die
Beständigkeit der Flächenreflektoren gegen Abrieb, die in
den Beispielen 1F bis 3F und den Vergleichsbeispielen 1F
bis 3F gefertigt wurden, wurde durch Prüfung ihrer
Oberfläche bewertet, nachdem diese mit
Linsenreinigungspapier über 20 Zyklen hin und her gerieben
wurde. Die Ergebnisse sind in der nachstehenden Tabelle 10
angegeben.
Beispiel Nr. | |
Abriebbeständigkeit | |
Beispiel 1F | |
○ | |
Beispiel 2F | ○ |
Beispiel 3F | ○ |
Vergleichsbeispiel 1F | × |
Vergleichsbeispiel 2F | |
Vergleichsbeispiel 3F |
○: kein Oberflächenfehler
@: geringe Oberflächenfehler
×: erhebliche Oberflächenfehler
@: geringe Oberflächenfehler
×: erhebliche Oberflächenfehler
Gemäß der Tabelle 10 hatten die Flächenreflektoren nach
der achten, neunten und zehnten erfindungsgemäßen
Ausführungsform (Beispiele 1F bis 3F) eine hohe
Beständigkeit gegen Abrieb.
Darauf wurde das spektrale Reflexionsvermögen der
Flächenreflektoren nach der achten, neunten und zehnten
Ausführungsform der Erfindung gemessen, um ihre
Reflexionsfarbe zu bewerten. Fig. 20 zeigt das spektrale
Reflexionsvermögen eines jeden der Flächenreflektoren, die
in den Beispielen 1F bis 3F gefertigt wurden bei unter 5°
einfallendem Licht. Ferner wurden die CIE-Farbkoordinaten
x und y, die vorherrschenden Wellenlängen, die
Anregungsreinheiten und die Reflexionsgrade aus den in
Fig. 20 angegebenen Daten bestimmt und die Ergebnisse sind
in der nachstehenden Tabelle 11 angegeben.
Wie die Tabelle 11 angibt, haben die erfindungsgemäßen
Flächenreflektoren (Beispiele 1F bis 3F) einen
Reflexionsgrad von mindestens 96,8% und
Anregungsreinheiten, die nicht mehr als 1,87% betrugen,
so daß mit Sicherheit gefolgert werden kann, daß jene
Reflektoren ein hohes Reflexionsvermögen hatten und mit
Erfolg eine im wesentlichen neutrale Reflexionsfarbe
erzeugten.
Im Flächenreflektor nach der achten, neunten oder zehnten
Ausführungsform der Erfindung wird die
Chromsulfidunterschicht zwischen dem Substrat und der
reflektierenden Silberschicht gebildet, die ihrerseits mit
der Schutzschicht (I) abgedeckt wird, die ihrerseits mit
der Schutzschicht (II) abgedeckt wird, die mindestens eine
Aluminiumoxidschicht umfaßt, wobei die Schutzschicht
(III) aus Siliziumdioxid an der äußersten Fläche gebildet
wird. Diese Schichtanordnung erhöht die Haftung zwischen
dem Substrat und der reflektierenden Silberschicht,
verhindert, daß sowohl Sulfidionen als auch Feuchtigkeit
in die reflektierende Schicht eintraten und erteilt der
Oberfläche des Reflektors eine verbesserte Beständigkeit
gegen Abrieb.
Infolgedessen zeigt der erfindungsgemäße Flächenreflektor
eine gute Haftung des Überzuges am Substrat, eine
Beständigkeit gegenüber Feuchtigkeit, gegenüber Schwefel,
gegenüber Abrieb und dergleichen, selbst wenn das Substrat
aus einem Kunststoff geformt ist, beispielsweise aus
Polykarbonaten oder Acrylharzen.
Claims (21)
1. Flächenreflektor mit
- a) einer Oxidunterschicht (12a, 12b), die auf einer Fläche eines Kunststoffsubstrats (11a, 11b) gebildet ist, wobei die Oxidunterschicht aus mindestens einem Werkstoff aus der Gruppe Chromoxid, Molybdänoxid, Kobaltoxid, Nioboxid, Ceroxid und Siliziumdioxid gewählt ist,
- b) einer reflektierenden Aluminiumschicht (13a, 13b) mit einer Dicke von mindestens 100 nm, die auf der Oxidunterschicht aufgebracht ist, und mit
- c) einer Schutzschicht (14a, 14b), die auf der reflektierenden Schicht aufgebracht ist.
2. Flächenreflektor nach Anspruch 1, bei dem die
Schutzschicht (14a) aus einer Aluminiumoxidschicht
besteht.
3. Flächenreflektor nach Anspruch 1, bei dem die
Schutzschicht (14b) aus einer Aluminiumoxidschicht
besteht, auf die eine Schicht aus einem transparenten
Werkstoff aufgebracht ist.
4. Flächenreflektor nach Anspruch 3, bei dem die Schicht
aus einem transparenten Werkstoff aus Zirkonoxid,
Tantaloxid, Titanoxid, Ceroxid, Nioboxid,
Siliziumdioxid oder Magnesiumfluorid besteht.
5. Flächenreflektor mit
- a) einer Chromsulfidunterschicht (22a, 22b, 42a, 52a), die auf einer Fläche eines Kunststoffsubstats (21a, 21b, 41a, 51a) aufgebracht ist,
- b) einer auf der Chromsulfidunterschicht aufgebrachten reflektierenden Silberschicht (23a, 23b, 43a, 53a) mit einer Dicke von mindestens 45 nm und mit
- c) einer auf der reflektierenden Silberschicht aufgebrachten Schutzschicht (24a, 24b, 44a, 45a, 46a, 54a, 55a, 56a, 57a)
- 6. Flächenreflektor nach Anspruch 5, bei dem die Chromsulfidunterschicht eine Dicke von mindestens 10 nm aufweist.
7. Flächenreflektor nach Anspruch 5 oder 6, bei dem die
reflektierende Silberschicht eine Dicke von 100 bis 200
nm hat.
8. Flächenreflektor nach Anspruch 5, 6 oder 7, bei dem die
Schutzschicht (24a) aus einer Aluminiumoxidschicht
besteht.
9. Flächenreflektor nach einem der Ansprüche 5 bis 7, bei
dem die Schutzschicht (24b) aus einer
Aluminiumoxidschicht besteht, auf die eine Schicht aus
einem transparenten Werkstoff aufgebracht ist.
10. Flächenreflektor nach einem der Ansprüche 5 bis 7, bei
dem die Schutzschicht (24b) aus mehreren abwechselnd
aufeinander aufgetragenen Schichten aus Aluminiumoxid
und einem transparenten Werkstoff besteht.
11. Flächenreflektor nach Anspruch 9 oder 10, bei dem die
Schicht aus einem transparenten Werkstoff aus
Zirkonoxid, Tantaloxid, Titanoxid, Ceroxid, Nioboxid,
Siliziumdioxid oder Magnesiumfluorid besteht.
12. Flächenreflektor nach einem der Ansprüche 5, 6 oder 7,
bei dem die Schutzschicht aus einer ersten
Schutzschicht (I, 44a) und einer auf dieser
aufgebrachten zweiten Schutzschicht (II, 45a, 46a)
gebildet wird.
13. Flächenreflektor nach Anspruch 12, bei dem die erste
Schutzschicht (I, 44a) aus einer Chromsulfidschicht
einer Dicke von 1 bis 10 nm und bei dem die zweite
Schutzschicht (II) aus einer Aluminiumoxidschicht (45a)
besteht, auf der eine Zirkonoxidschicht (46a)
aufgebracht ist.
14. Flächenreflektor nach Anspruch 12, bei dem die erste
Schutzschicht (I, 44a) aus einer Chromsulfidschicht
einer Dicke von 1 bis 10 nm und bei dem die zweite
Schutzschicht (II) aus einer Aluminiumoxidschicht (45a)
besteht, auf der eine Titanoxidschicht (46a)
aufgebracht ist.
15. Flächenreflektor nach Anspruch 12, bei dem die erste
Schutzschicht (I, 44a) aus einer Chromsulfidschicht
einer Dicke von 1 bis 10 nm und bei dem die zweite
Schutzschicht (II) aus einer Siliziumdioxidschicht
(45a) besteht, auf der eine Aluminiumoxidschicht (46a)
aufgebracht ist.
16. Flächenreflektor nach Anspruch 5, 6 oder 7, bei dem die
Schutzschicht aus einer ersten Schutzschicht (I, 54a),
einer auf dieser aufgebrachten zweiten Schutzschicht
(II, 55a, 56a) und einer auf dieser aufgebrachten
dritten Schutzschicht (III, 57a) gebildet wird.
17. Flächenreflektor nach Anspruch 16, bei dem die erste
Schutzschicht (I, 54a) aus einer Chromsulfidschicht
einer Dicke von 1 bis 10 nm, die zweite Schutzschicht
(II) aus einer Aluminiumoxidschicht (55a) einer Dicke
von 45 bis 80 nm und einer auf dieser aufgebrachten
Zirkonoxidschicht (56a) einer Dicke von 20 bis 60 nm
und die dritte Schutzschicht aus einer
Siliziumdioxidschicht (57a) einer Dicke von 7 bis 23 nm
besteht.
18. Flächenreflektor nach Anspruch 16, bei dem die erste
Schutzschicht (I, 54a) aus einer Chromsulfidschicht
einer Dicke von 1 bis 10 nm, die zweite Schutzschicht
(II) aus einer Aluminiumoxidschicht (55a) einer Dicke
von 45 bis 80 nm und einer auf dieser aufgebrachten
Titanoxidschicht (56a) einer Dicke von 20 bis 60 nm und
die dritte Schutzschicht aus einer
Siliziumdioxidschicht (57a) einer Dicke von 7 bis 23 nm
besteht.
19. Flächenreflektor nach Anspruch 16, bei dem die erste
Schutzschicht (I, 54a) aus einer Chromsulfidschicht
einer Dicke von 1 bis 10 nm, die zweite Schutzschicht
(II) aus einer Siliziumdioxidschicht (55a) einer Dicke
von 45 bis 80 nm und einer auf dieser aufgebrachten
Aluminiumoxidschicht (56a) einer Dicke von 20 bis 60 nm
und die dritte Schutzschicht aus einer
Siliziumdioxidschicht (57a) einer Dicke von 7 bis 23 nm
besteht.
20. Flächenreflektor mit
- a) einer Oxidunterschicht (32c), die auf einer Fläche eines Substrats (31c) aufgebracht ist und die aus mindestens einem Werkstoff besteht, der aus der Gruppe Aluminiumoxid, Nioboxid, Kobaltoxid und Titandioxid ausgewählt ist,
- b) einer auf der Oxidunterschicht aufgebrachten Sulfidunterschicht (33c) aus Zinksulfid,
- c) einer auf der Sulfidunterschicht aufgebrachten reflektierenden Silberschicht (34c) mit einer Dicke von mindestens 45 nm und mit
- d) einer auf der reflektierenden Schicht aufgebrachten Schutzschicht (35c)
21. Flächenreflektor mit
- a) einer Oxidunterschicht (32d), die auf einer Fläche eines Substrats (31d) aufgebracht ist und die entweder aus Nioboxid oder Kobaltoxid oder beidem besteht,
- b) einer auf der Oxidunterschicht aufgebrachten Sulfidunterschicht (33d) aus Antimonsulfid,
- c) einer auf der Sulfidunterschicht aufgebrachten reflektierenden Silberschicht (34d) mit einer Dicke von mindestens 45 nm und mit
- d) einer auf der reflektierenden Schicht aufgebrachten Schutzschicht (35d).
22. Flächenreflektor nach Anspruch 20 oder 21, bei dem das
Substrat aus Kunststoff besteht und bei dem die
Schutzschicht mindestens eine Aluminiumoxidschicht
aufweist.
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP3581090A JPH03239202A (ja) | 1990-02-16 | 1990-02-16 | 表面高反射鏡 |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4104735A1 DE4104735A1 (de) | 1992-02-27 |
DE4104735C2 true DE4104735C2 (de) | 1998-01-29 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4104735A Expired - Fee Related DE4104735C2 (de) | 1990-02-16 | 1991-02-15 | Flächenreflektor |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5216551A (de) |
DE (1) | DE4104735C2 (de) |
FR (2) | FR2658618B1 (de) |
GB (1) | GB2241709B (de) |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2261079B (en) * | 1991-10-31 | 1995-06-14 | Asahi Optical Co Ltd | Surface reflecting mirror |
FR2687799A1 (fr) * | 1991-10-31 | 1993-08-27 | Asahi Optical Co Ltd | Miroir a substrat de resine. |
GB2281411B (en) * | 1991-10-31 | 1995-07-12 | Asahi Optical Co Ltd | Surface reflecting mirror with three protective layers |
US5580364A (en) * | 1992-07-11 | 1996-12-03 | Libbey-Owens-Ford Co. | Method of producing a coated glass substrate exhibiting reflected color |
US5828493A (en) * | 1992-07-24 | 1998-10-27 | Dielectric Coating Industries | Reflectors |
DE59309954D1 (de) * | 1992-12-21 | 2000-03-16 | Balzers Hochvakuum | Optisches Bauelement, Verfahren zur Herstellung einer Schicht, Schicht bzw. Schichtsystem und Verwendung des Bauelementes |
DE4301463A1 (de) * | 1993-01-20 | 1994-07-21 | Wissenschaftlich Tech Optikzen | Verfahren zur Beschichtung von Spiegeln hoher Reflektivität und Spiegel mit einer Beschichtung |
US5361172A (en) * | 1993-01-21 | 1994-11-01 | Midwest Research Institute | Durable metallized polymer mirror |
US5825549A (en) * | 1993-01-29 | 1998-10-20 | Olympus Optical Co., Ltd. | Optical thin film for optical element |
US5589280A (en) * | 1993-02-05 | 1996-12-31 | Southwall Technologies Inc. | Metal on plastic films with adhesion-promoting layer |
US6128126A (en) * | 1993-04-15 | 2000-10-03 | Balzers Aktiengesellschaft | High-reflection silver mirror |
CH685138A5 (de) * | 1993-04-15 | 1995-03-31 | Balzers Hochvakuum | Hochreflektierender Silberspiegel. |
JP3206852B2 (ja) * | 1993-06-21 | 2001-09-10 | セントラル硝子株式会社 | 鏡 |
GB9400323D0 (en) * | 1994-01-10 | 1994-03-09 | Pilkington Glass Ltd | Coatings on glass |
GB9400320D0 (en) * | 1994-01-10 | 1994-03-09 | Pilkington Glass Ltd | Coating on glass |
US5541421A (en) * | 1994-11-21 | 1996-07-30 | Eastman Kodak Company | Light collector having optically coated acrylic substrate |
US6142642A (en) * | 1995-06-29 | 2000-11-07 | Cardinal Ig Company | Bendable mirrors and method of manufacture |
IT1293394B1 (it) * | 1996-07-25 | 1999-03-01 | Glaverbel | Substrati rivestiti di metallo |
JPH10213708A (ja) * | 1997-01-29 | 1998-08-11 | Alps Electric Co Ltd | 光吸収フィルタ |
DE69804866T9 (de) * | 1997-10-31 | 2007-10-31 | Cardinal Cg Co., Eden Prairie | Hitzebiegbare spiegel |
EP0918236A1 (de) * | 1997-11-19 | 1999-05-26 | Alusuisse Technology & Management AG | Reflektor mit resistenter Oberfläche |
US6392775B1 (en) * | 1998-01-13 | 2002-05-21 | Seagate Technology Llc | Optical reflector for micro-machined mirrors |
JP3563955B2 (ja) * | 1998-02-26 | 2004-09-08 | キヤノン株式会社 | ハーフミラーを有した観察系及び該ハーフミラーの製造方法 |
US6231992B1 (en) | 1998-09-04 | 2001-05-15 | Yazaki Corporation | Partial reflector |
US6019600A (en) * | 1998-12-22 | 2000-02-01 | Crystalmark Dental Systems, Inc. | Autoclavable abrasion resistant mirror |
US6520650B2 (en) | 1999-02-08 | 2003-02-18 | Valeo Sylvania L.C.C. | Lamp reflector with a barrier coating of a plasma polymer |
US6416194B1 (en) * | 1999-02-11 | 2002-07-09 | Turkiye Sise Ve Cam Fabrikalari A.S. | Thermostable back-surface mirrors |
US6078425A (en) * | 1999-06-09 | 2000-06-20 | The Regents Of The University Of California | Durable silver coating for mirrors |
US6264336B1 (en) | 1999-10-22 | 2001-07-24 | 3M Innovative Properties Company | Display apparatus with corrosion-resistant light directing film |
US6590711B1 (en) | 2000-04-03 | 2003-07-08 | 3M Innovative Properties Co. | Light directing construction having corrosion resistant feature |
JP4410367B2 (ja) * | 1999-12-24 | 2010-02-03 | キヤノン電子株式会社 | 金属鏡および金属回転多面鏡およびその製造方法 |
JP2002055213A (ja) * | 2000-06-02 | 2002-02-20 | Canon Inc | 高反射ミラー |
US6709119B2 (en) * | 2001-04-27 | 2004-03-23 | Alusuisse Technology & Management Ltd. | Resistant surface reflector |
KR100464760B1 (ko) * | 2001-05-12 | 2005-01-05 | 아주공업주식회사 | 자동차용 플라스틱 거울과 그 제조방법 |
JP4307921B2 (ja) * | 2002-11-19 | 2009-08-05 | フジノン株式会社 | 反射鏡 |
US6937791B2 (en) * | 2003-05-02 | 2005-08-30 | The Boeing Company | Optical coupling apparatus and method |
US7838134B2 (en) * | 2004-11-23 | 2010-11-23 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Durable silver mirror with ultra-violet thru far infra-red reflection |
US8344238B2 (en) * | 2005-07-19 | 2013-01-01 | Solyndra Llc | Self-cleaning protective coatings for use with photovoltaic cells |
US20070178316A1 (en) * | 2006-01-30 | 2007-08-02 | Guardian Industries Corp. | First surface mirror with sol-gel applied protective coating for use in solar collector or the like |
JP4793259B2 (ja) * | 2006-12-27 | 2011-10-12 | コニカミノルタオプト株式会社 | 反射鏡 |
DE102009040785A1 (de) * | 2009-09-09 | 2011-03-10 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Substrat aus einer Aluminium-Silizium-Legierung oder kristallinem Silizium, Metallspiegel, Verfahren zu dessen Herstellung sowie dessen Verwendung |
JP5660051B2 (ja) * | 2009-12-21 | 2015-01-28 | コニカミノルタ株式会社 | フィルムミラー、その製造方法、それを用いた太陽熱発電用反射装置 |
US20110228415A1 (en) * | 2010-03-18 | 2011-09-22 | Shih-Chang Shei | High-reflection multilayer coating |
CN102338898A (zh) * | 2010-07-28 | 2012-02-01 | 盛玉林 | 反射片及其加工工艺 |
DE102014108679A1 (de) * | 2014-06-20 | 2015-12-24 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Optisches Element mit einer reflektierenden Beschichtung |
US20170212280A1 (en) * | 2014-07-07 | 2017-07-27 | Scint-X Ab | Production of a thin film reflector |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB605871A (en) * | 1944-06-24 | 1948-08-03 | William Harry Colbert | Strongly adherent metal coated articles and means for producing the same |
US3601471A (en) * | 1969-03-03 | 1971-08-24 | Optical Coating Laboratory Inc | Durable first surface silver high reflector |
US3687713A (en) * | 1971-03-15 | 1972-08-29 | Denton Vacuum Corp | Protective coating for surfaces of silver and mirror fabrication |
GB1367590A (en) * | 1972-01-28 | 1974-09-18 | Delog Detag Flachglas Ag | Heat-reflecting glass sheets |
GB2126256A (en) * | 1982-08-17 | 1984-03-21 | Toyoda Chuo Kenkyusho Kk | Heatwave shield coating |
DE3742204A1 (de) * | 1987-12-12 | 1989-06-22 | Leybold Ag | Verfahren zur herstellung einer korrosionsfesten, weitgehend absorptionsfreien schicht auf der oberflaeche eines werkstuecks |
JPH01287503A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ビームスプリッタ |
JPH02109003A (ja) * | 1988-10-18 | 1990-04-20 | Konica Corp | 反射鏡 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2482054A (en) * | 1944-06-24 | 1949-09-13 | Libbey Owens Ford Glass Co | Mirror structure having a metal to glass adherence increasing interlayer |
GB998584A (en) * | 1960-09-23 | 1965-07-14 | Gen Electric Co Ltd | Improvements in or relating to electric discharge lamps |
BE766475A (fr) * | 1970-06-29 | 1971-09-16 | Heraeus Gmbh W C | Vitre athermane |
DE2309288C3 (de) * | 1973-02-24 | 1975-09-18 | W.C. Heraeus Gmbh, 6450 Hanau | Durchsichtige Scheibe, insbesondere Fensterscheibe, aus Glas oder Kunststoff mit wärmereflektierender, silberhaltiger Metallschicht und ihre Verwendung |
JPS5011462A (de) * | 1973-06-01 | 1975-02-05 | ||
FR2279687B1 (fr) * | 1974-07-26 | 1977-01-07 | Saint Gobain | Vitrages chauffants a couches deposees sous vide |
JPS5240348A (en) * | 1975-09-27 | 1977-03-29 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Reflecting mirror formed of metallic film |
US4189205A (en) * | 1978-02-21 | 1980-02-19 | Infrared Industries, Inc. | Coated copper reflector |
JPS5546706A (en) * | 1978-09-29 | 1980-04-02 | Canon Inc | Phase difference reflecting mirror |
DE3107612A1 (de) * | 1981-02-27 | 1982-09-16 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Laserspiegel, insbesondere laser-polygonspiegel |
US4610771A (en) * | 1984-10-29 | 1986-09-09 | Ppg Industries, Inc. | Sputtered films of metal alloy oxides and method of preparation thereof |
US4902581A (en) * | 1984-12-17 | 1990-02-20 | Ppg Industries, Inc. | Architectural coating with interference colors |
DE3543178A1 (de) * | 1985-12-06 | 1987-06-11 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Verfahren zum herstellen von scheiben mit hohem transmissionsverhalten im sichtbaren spektralbereich und mit hohem reflexionsverhalten fuer waermestrahlung sowie durch das verfahren hergestellte scheiben |
AU585426B2 (en) * | 1986-01-29 | 1989-06-15 | Pilkington Brothers Plc | Coated glass |
JPS6326603A (ja) * | 1986-07-21 | 1988-02-04 | Canon Inc | 合成樹脂部材の反射鏡 |
JPS6484215A (en) * | 1987-09-28 | 1989-03-29 | Seiko Epson Corp | Plastic optical parts |
US4834857A (en) * | 1988-04-01 | 1989-05-30 | Ppg Industries, Inc. | Neutral sputtered films of metal alloy oxides |
IL86366A0 (en) * | 1988-05-12 | 1988-11-15 | Luz Ind Israel Ltd | Protected silvered substrates and mirrors containing the same |
US5112693A (en) * | 1988-10-03 | 1992-05-12 | Ppg Industries, Inc. | Low reflectance, highly saturated colored coating for monolithic glazing |
JPH02258655A (ja) * | 1988-12-16 | 1990-10-19 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 熱線反射性合せ板 |
GB8900165D0 (en) * | 1989-01-05 | 1989-03-01 | Glaverbel | Glass coating |
GB8900166D0 (en) * | 1989-01-05 | 1989-03-01 | Glaverbel | Glass coating |
US4933823A (en) * | 1989-06-19 | 1990-06-12 | Martin Processing, Inc. | Reflector material for artificial light source |
-
1991
- 1991-02-12 US US07/654,422 patent/US5216551A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-02-14 GB GB9103162A patent/GB2241709B/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-02-15 DE DE4104735A patent/DE4104735C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1991-02-15 FR FR919101845A patent/FR2658618B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-12-14 FR FR9215033A patent/FR2684769B1/fr not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB605871A (en) * | 1944-06-24 | 1948-08-03 | William Harry Colbert | Strongly adherent metal coated articles and means for producing the same |
US3601471A (en) * | 1969-03-03 | 1971-08-24 | Optical Coating Laboratory Inc | Durable first surface silver high reflector |
US3687713A (en) * | 1971-03-15 | 1972-08-29 | Denton Vacuum Corp | Protective coating for surfaces of silver and mirror fabrication |
GB1367590A (en) * | 1972-01-28 | 1974-09-18 | Delog Detag Flachglas Ag | Heat-reflecting glass sheets |
GB2126256A (en) * | 1982-08-17 | 1984-03-21 | Toyoda Chuo Kenkyusho Kk | Heatwave shield coating |
DE3742204A1 (de) * | 1987-12-12 | 1989-06-22 | Leybold Ag | Verfahren zur herstellung einer korrosionsfesten, weitgehend absorptionsfreien schicht auf der oberflaeche eines werkstuecks |
JPH01287503A (ja) * | 1988-05-13 | 1989-11-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ビームスプリッタ |
JPH02109003A (ja) * | 1988-10-18 | 1990-04-20 | Konica Corp | 反射鏡 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
L. Holland: Vacuum Deposition of Thin Films, London 1961, S. 98-103 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2241709B (en) | 1994-07-13 |
GB9103162D0 (en) | 1991-04-03 |
GB2241709A (en) | 1991-09-11 |
US5216551A (en) | 1993-06-01 |
DE4104735A1 (de) | 1992-02-27 |
FR2658618B1 (fr) | 1993-12-17 |
FR2684769A1 (fr) | 1993-06-11 |
FR2684769B1 (fr) | 1997-04-11 |
FR2658618A1 (fr) | 1991-08-23 |
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