DE4013812A1 - Hermetisch dichte elektrische durchfuehrung mit elektrischen filterelementen in chipform - Google Patents
Hermetisch dichte elektrische durchfuehrung mit elektrischen filterelementen in chipformInfo
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- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 28
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 19
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims description 5
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 8
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 6
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 3
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 3
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002118 epoxides Chemical class 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000000156 glass melt Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000012811 non-conductive material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K5/00—Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
- H05K5/06—Hermetically-sealed casings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/236—Terminals leading through the housing, i.e. lead-through
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G2/00—Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
- H01G2/10—Housing; Encapsulation
- H01G2/103—Sealings, e.g. for lead-in wires; Covers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G2/00—Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
- H01G2/10—Housing; Encapsulation
- H01G2/106—Fixing the capacitor in a housing
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K5/00—Casings, cabinets or drawers for electric apparatus
- H05K5/0091—Housing specially adapted for small components
- H05K5/0095—Housing specially adapted for small components hermetically-sealed
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/43—Electric condenser making
- Y10T29/435—Solid dielectric type
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Casings For Electric Apparatus (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft elektronische Bauelemente
und insbesondere elektronische Bauelemente, die durch
separate Erwärmungsschritte innerhalb eines Gehäuses
luftdicht abgeschlossen werden.
Kondensator- und Filter-Hersteller binden derzeit
elektronische Bauelemente, wie Chips, in ihre Pakete ein,
indem sie Epoxid verwenden und am Paket und Leiter die
elektrische Verbindung mit Lot, Silberpolyamid oder
leitendem Epoxid herstellen und dann das Paket mit Epoxid
umschließen.
Ein sich bei der Verwendung von Epoxiden ergebendes Problem
besteht darin, daß Epoxide besonders bei kleinen Paketen
schwierig anwendbar sind, was zu hohen Arbeitskosten und
niedrigeren Produktionsraten führt. Andere infolge der
Verwendung von Epoxiden auftretende Probleme bei
Elektronikbauelement-Paketen schließen die Instabilität der
Epoxide bei Temperaturen oberhalb 175°C, schlechte
Feuchtigkeitsresistenz und niedrige mechanische Festigkeit
bei Verwendung bei dünnen Querschnitten ein. Es gibt jedoch
derzeitig wenig Alternativen zur Verwendung von Epoxid für
die Chipbefestigung und den Paketabschluß bei
Hochtemperatur-Elektronikbauelement-Paketen.
Industrielle Anwender dieser Elektronikbauelement-Pakete
würden es vorziehen, ein von organischen Materialien freies
Paket zu haben, das luftdicht und billiger herzustellen ist.
Die vorliegende Erfindung schlägt ein überlegenes,
Hochtemperatur-Elektronikbauelement-Paket vor, das keine
organischen Materialien enthält, hohe Temperaturen aushalten
kann und luftdicht abgeschlossen ist. Die vorliegende
Erfindung schlägt weiterhin ein Elektronikbauelement-Paket
vor, das infolge der Verwendung von Vorformen zum Befestigen
des Chips in das Paket und zum Abschließen des Pakets
billiger herzustellen ist. Die Vorformen sind nicht teuer,
können durch konventionelle Fertigungsmethoden einfach
hergestellt werden und verlangen sehr viel weniger
Zusammenbauarbeit und -behandlung im Vergleich zur
Verwendung von Epoxiden. Daher sind die Zusammenbauraten für
nach der vorliegenden Erfindung hergestellte
Elektronikbauelement-Pakete viel höher als die
Zusammenbauraten von unter Verwendung von Epoxid
hergestellten Paketen.
In der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
werden die Chipeinbindung und der elektrische Kontakt durch
die Verwendung von Hartlotringen erzielt, die in das
Paketgehäuse zusammen mit dem Chip eingebracht werden. Das
Paketgehäuse ist idealerweise eine zylindrische Schale,
wobei ein Axialleiter durch Glas-Metall-Abschluß am Boden
befestigt und wobei ein zylindrischer Kondensatorchip
innerhalb des Hohlraums der Zylinderschale angeordnet wird.
Wenn das Gehäuse, die Hartlotringe und der Chip auf ca.
710°C erwärmt werden, fließen die Hartlotringe zwischen den
Chip, die Gehäusewände und den Axialleiter und schaffen den
elektrischen Kontakt durch das ganze Paket und sichern auch
den Chip am Paket. Das Paket wird unter Verwendung einer
Glas-Vorform, die in das Paket und oben auf den Chip gesetzt
wird, luftdicht abgeschlossen. Ein Gewicht wird oben auf die
Glas-Vorform aufgesetzt, um die Vorform während des
Erwärmungsprozesses fest auf ihrem Platz zu halten. Das
Paket wird ein zweites Mal auf ca. 600°C in einer
Stickstoff-Atmosphäre erwärmt. Die Vorform schmilzt und
schließt den Leiter, das Gehäuse und den Chip ein.
In einer alternativen Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung wird die Chipeinbindung durch Verwendung einer
Glas-Vorform erzielt, die den Chip auf der Bodenwand des
Paketgehäuses sichert. Der elektrische Kontakt zwischen dem
Chip, dem Gehäuse und dem Axialleiter wird hergestellt,
indem der Chip über den Axialleiter und in das Paketgehäuse
eingepaßt und nach Einbringung des Chips über den
Axialleiter und in das Paketgehäuse eine leitende Paste auf
den inneren und äußeren Klemmen des Chips aufgebracht wird,
nachdem der Chip über dem Axialleiter und in das
Paketgehäuse eingebracht worden ist.
In der alternativen Ausführungsform wird eine Glasvorform im
Paketgehäuse angebracht und der Chip oben auf die Vorform
aufgesetzt. Das Paket wird auf ca. 600°C in einer
Stickstoff-Atmosphäre erwärmt. Die Glas-Vorform schmilzt und
sichert den Chip auf dem Boden des Paketgehäuses. Das Paket
wird luftdicht gemacht, indem eine Glas-Vorform im
Paketgehäuse oben auf dem Chip angebracht, ein Gewicht oben
auf der Vorform angebracht und das Paket auf ca. 450°C in
einer Stickstoff-Atmosphäre erwärmt wird. Die Vorform
schmilzt und schließt das Gehäuse, den Leiter und den Chip
ein.
Die Erfindung wird anhand der folgenden detaillierten
Beschreibung im Zusammenhang mit den begleitenden
Zeichnungen vollständiger verstanden werden. Es zeigen:
Fig. 1 eine explosionsartige perspektivische,
teilweise im Schnitt dargestellte Ansicht
einer ersten Ausführungsform der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 2 einen Querschnitt durch die erste
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
einschließlich einer durch ein Gewicht am
Platz gehaltenen Glas-Vorform;
Fig. 3 einen Querschnitt der ersten Ausführungsform
einschließlich der luftdicht mit dem Paket
verschmolzenen Glas-Vorform;
Fig. 4 einen Querschnitt einer zweiten
Ausführungsform der vorliegenden Erfindung und
Fig. 5 eine perspektivische, teilweise im Schnitt
dargestellte Ansicht eines hermetisch
abgeschlossenen Pakets aus
Elektronik-Vielfachbauelementen zur Verwendung
auf einer Leiterplatte.
Die nachfolgende Erfindung wird unter Bezugnahme auf ein
luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket als
auch unter Bezugnahme auf das Verfahren zur Herstellung
eines solchen luftdicht abgeschlossenen
Elektronikbauelement-Pakets beschrieben.
In Fig. 1, 2 und 3 wird eine Ausführungsform eines
Elektronikbauelement-Pakets nach der vorliegenden Erfindung
dargestellt, das ein leitendes Gehäuse 10 mit einem Boden 12
und zumindest einer Seitenwand 14 einschließt, die einen
Innenhohlraum 16 definieren. Das leitende Gehäuse ist
üblicherweise zylindrisch, wie in Fig. 1 dargestellt. Jedoch
liegt jede andere Form im Umfang der vorliegenden Erfindung.
Das leitende Gehäuse 10 schließt einen einzelnen Axialleiter
18 a, 18 b ein, der am Boden 12 mittels z.B. eines
Glasabschlusses 19 gesichert ist und sich vom Boden 12 und
der offenen Oberseite nach außen erstreckt, um das
Elektronikbauelement-Paket mit einem (nicht dargestellten)
elektronischen Schaltkreis zu verbinden.
Um das Elektronikbauelement-Paket zusammenzubauen, wird ein
Hartlotring 20 mit einem Durchmesser, der geringfügig
kleiner ist als der Durchmesser des Hohlraums 16 des
leitenden Gehäuses 10, im Hohlraum des Gehäuses, an den
Boden 12 angrenzend, angeordnet. Ein anderer Hartlotring 22
mit einem Durchmesser, der geringfügig größer ist als der
Durchmesser des Axialleiters 18 wird im Hohlraum 16 des
Gehäuses 10, an den Boden 12 angrenzend, angebracht. Ein
Elektronikbauelement 24 mit einer inneren Klemme 23 und
einer äußeren Klemme 25, wie ein diskusförmiger
Chipkondensator, wird im Hohlraum 16 des Gehäuses 10 und
oben auf den Hartlotringen 20 und 22 angebracht. Wenn die
Teile wie beschrieben zusammengebaut werden, besteht ein
kleiner Spalt 15 zwischen dem diskusförmigen Chip 24 und der
Gehäusewand 14, und ein anderer kleiner Spalt 13 besteht
zwischen dem Chip 24 und dem Axialleiter 18, wie in Fig. 2
gezeigt. Mit den wie beschrieben zusammengebauten Teilen
wird das Paket ein erstes Mal auf ca. 710°C in einer
Stickstoff-Atmosphäre erwärmt, um die Hartlotringe 20, 22 zu
schmelzen und das Einfließen in die Spalte 13 bzw. 15 zu
bewirken. Die geschmolzenen Hartlotringe 20, 22 schaffen den
elektrischen Kontakt zwischen den Gehäusewänden 12, 14, dem
Axialleiter 18 und dem diskusförmigen Chip 24 und bewirken
auch die Verbindung des diskusförmigen Chips mit dem Gehäuse
10.
In Fig. 2 ist das zusammengebaute Paket dargestellt
einschließlich einer Glas-Vorform 26, die einen Durchmesser
hat, der geringfügig kleiner ist als der Durchmesser des
Hohlraums 16, und die in den Gehäusehohlraum 16, angrenzend
an den diskusförmigen Chip 24, eingebracht werden kann. Die
Glas-Vorform 26 kann aus einem nichtleitenden Material,
wie INNOTECH 510, bestehen. Um die Glas-Vorform luftdicht
mit dem Elektronikbauelement-Paket abzuschließen, wird ein
Gewicht 28 auf die Glas-Vorform 26 aufgesetzt, und das
gesamte Paket wird ein zweites Mal auf ca. 600°C in einer
Stickstoff-Atmosphäre erwärmt. Die Glas-Vorform schmilzt und
schließt den Axialleiter 18, die Gehäusewände 12, 14 und den
diskusförmigen Chip 24 ab.
Fig. 3 zeigt ein völlig zusammengebautes, luftdicht
abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket.
Eine zweite Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ist
in Fig. 4 dargestellt. Bei dieser Ausführungsform wird der
diskusförmige Chip 24 mit dem Boden 12 des Gehäuses 10 unter
Verwendung einer aus INNOTECH 510-Glas bestehenden, bei ca.
600°C schmelzenden Verbindungsvorform 30 verbunden. Der
diskusförmige Chip 24 kann ausgestaltet werden, um in den
Hohlraum 16 des Gehäuses 10 eingepreßt zu werden, um den
elektrischen Kontakt zwischen der Gehäusewand 14 und dem
äußeren Abschluß 25 des diskusförmigen Chips und dem
Axialleiter 18 und dem inneren Abschluß 23 des
diskusförmigen Chips 24 herzustellen. Alternativ kann der
diskusförmige Chip 24 einen Durchmesser erhalten, der
geringfügig kleiner ist als der Durchmesser des Gehäuses 10,
und es kann eine leitende Paste, wie Silberpolyamid, auf
seiner inneren Klemme 23 und seiner äußeren Klemme 25
aufgebracht werden, um den elektrischen Kontakt zwischen dem
diskusförmigen Chip 24 und der Gehäusewand 14 und dem
Axialleiter 18 herzustellen.
Die Verbindungsvorform 30 ist im Hohlraum 16 des Gehäuses
10, an den Boden 12 angrenzend, angebracht. Der
diskusförmige Chip 24 ist im Hohlraum 16, an die Glas-Vorform
angrenzend, angebracht. Das Paket wird dann auf eine erste
Temperatur von ca. 600°C in einer Stickstoff-Atmosphäre
erwärmt, um die Verbindungsvorform 30 zu schmelzen und den
Chip 24 auf den Boden 12 des Gehäuses 10 zu sichern. Eine
aus einem Material, wie Corning Glass 7575, bestehende
Glas-Vorform mit einem Durchmesser, der geringfügig kleiner
ist als der Durchmesser des Hohlraums 16, wird über dem Chip
24 angebracht, und ein Gewicht, wie das in Fig. 2
dargestellte Gewicht 28, wird oben auf den Chip aufgesetzt.
Das Paket wird dann auf eine zweite Temperatur von ca. 450°C
erwärmt. Das Glas schmilzt und schließt den Leiter 18 a-18 b,
die Gehäusewand 14 und den Chip 24 ein.
Fig. 5 zeigt ein luftdicht abgeschlossenes Paket mit
mehreren Bauelementen zur Verwendung auf einer Leiterplatte
32. Der Teil 18 b des Axialleiters kann mit einer
Computer-Leiterplatte und der Teil 18 a des Axialleiters kann
mit irgendeinem anderen elektronischen Gerät verbunden
werden.
Da viele Ausführungsformen der Erfindung möglich sind, ohne
deren Umfang zu verlassen, ist es einleuchtend, daß alle
hierin aufgeführte und in den begleitenden Zeichnungen
dargestellte Materie in einem erläuternden und nicht in
einem einschränkenden Sinne auszulegen ist.
Claims (11)
1. Luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket,
umfassend:
- - ein leitendes Gehäuse mit einem Boden, zumindest einer Seitenwand und einem offenen Oberteil, die einen Innenhohlraum definieren;
- - einen Axialleiter, der isoliert an dem Boden gesichert ist und sich aus dem Boden und dem offenen Oberteil nach außen erstreckt;
- - ein elektronisches Bauelement mit inneren und äußeren Kontaktabschlüssen und ausgestaltet zur Anbringung innerhalb des Innenhohlraums;
- - Mittel zur Verbindung der Elektronikbauelemente innerhalb des Innenhohlraums des leitenden Gehäuses, bei dem das leitende Gehäuse, der Axialleiter und das Elektronikbauelement in einer vorgegebenen Umgebung auf eine erste vorgegebene hohe Temperatur erwärmt werden, um die Verbindung zwischen dem Elektronikbauelement und dem leitenden Gehäuse zu bewirken, um ein Elektronikbauelement-Paket zu bilden, und
- - eine Vorform, die zur Anbringung innerhalb des Innenhohlraums des leitenden Gehäuses ausgestaltet und über dem Elektronikbauelement des Elektronikbauelement-Pakets angeordnet ist, und wobei das Elektronikbauelement-Paket und die Vorform in der vorgegebenen Umgebung auf eine zweite vorgegebene hohe Temperatur erwärmt werden, um einen luftdichten Abschluß zwischen der Glas-Vorform und dem Elektronikbauelement-Paket zu bilden.
2. Luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket nach
Anspruch 1, bei dem die Verbindungsmittel weiterhin
umfassen:
- - Mittel zur Schaffung des elektrischen Kontaktes zwischen dem leitenden Gehäuse, dem Elektronikbauelement und dem Axialleiter.
3. Luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket nach
Anspruch 1, bei dem die Verbindungsmittel erste und
zweite Hartlotelemente umfassen, die ausgebildet sind, um
innerhalb des Innenhohlraums des leitenden Gehäuses
oberhalb des Bodens so zu passen, daß der Axialleiter
dadurch hindurchgeht, und bei dem das
Elektronikbauelement, das erste und zweite Hartlotelement
und das leitende Gehäuse in einer vorgegebenen Umgebung
auf die erste vorgegebene hohe Temperatur erwärmt werden,
um die Hartlotelemente zum Schmelzen zu bringen und
dadurch das luftdicht abgeschlossene
Elektronikbauelement-Paket zu bilden.
4. Luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket nach
Anspruch 8, bei dem ein erster vorgegebener kleiner Spalt
zwischen dem Elektronikbauelement und zumindest einer
Seitenwand des leitenden Gehäuses und ein zweiter
vorgegebener kleiner Spalt zwischen dem
Elektronikbauelement und dem Axialleiter gebildet sind
und bei dem die Hartlotelemente nach Erwärmung auf die
erste vorgegebene hohe Temperatur in die ersten und
zweiten vorgegebenen kleinen Spalte fließen können.
5. Luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket nach
Anspruch 1, bei dem die vorgegebene Umgebung eine
Stickstoffumgebung ist.
6. Luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket nach
Anspruch 1, weiterhin umfassend:
- - Mittel zur Herstellung des elektrischen Kontaktes zwischen dem leitenden Gehäuse, dem Elektronikbauelement und dem Axialleiter.
7. Luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket
nach Anspruch 1, bei dem das Verbindungsmittel eine
Verbindungsvorform ist, die ausgestaltet ist, um in den
Innenhohlraum des leitenden Gehäuses oberhalb des Bodens
und des Elektronikbauelements so zu passen, daß der
Axialleiter dadurch hindurchgeht, und bei dem die
Verbindungsvorform aus einem isolierenden, anorganischen
Material hergestellt wird, das bei der ersten
vorgegebenen Temperatur schmilzt.
8. Luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket
nach Anspruch 2, bei dem die Verbindungsvorform eine
Schmelztemperatur im Bereich von ca. 450°C bis ca. 800°C
hat.
9. Luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement -Paket
nach Anspruch 1, bei dem die Glas-Vorform eine
Schmelztemperatur im Bereich von ca. 450°C bis ca. 800°C
hat.
10. Verfahren zur Herstellung eines luftdicht
abgeschlossenen Elektronikbauelement-Pakets
einschließlich eines leitenden Gehäuses mit einer
Bodenwand und einem offenen Oberteil, die einen Hohlraum
definieren, eines Elektronikbauelements mit inneren und
äußeren Kontaktklemmen und ausgestaltet für die
Anbringung innerhalb des Innenhohlraums und eines
Axialleiters, der isoliert an der Bodenwand gesichert
ist und sich nach außen vom Boden und nach außen durch
das Elektronikbauelement und das offene Oberteil
erstreckt, umfassend die folgenden Schritte:
- - Anordnung von Mitteln zur Verbindung des Elektronikbauelements innerhalb des Innenhohlraums des leitenden Gehäuses, angrenzend an die Bodenwand;
- - Anbringung des Elektronikbauelements oberhalb der Verbindungsmittel;
- - Erwärmung der Verbindungsmittel, des Elektronikbauelements, des leitenden Gehäuses und des Axialleiters in einer vorgegebenen Umgebung auf eine erste vorgegebene hohe Temperatur, um die Verbindung mit dem leitenden Gehäuse zu schaffen, um ein Elektronikbauelement-Paket zu bilden;
- - Anbringung einer Vorform innerhalb des Innenhohlraums oberhalb des Elektronikbauelement-Pakets und
- - Erwärmung der Vorform und des Elektronikbauelement-Pakets in der vorgegebenen Umgebung auf eine zweite vorgegebene hohe Temperatur, um einen luftdichten Abschluß zwischen der Vorform und dem Elektronikbauelement-Paket zu schaffen und dadurch das luftdicht abgeschlossene Elektronikbauelement-Paket zu bilden.
11. Verfahren nach Anspruch 10, bei dem die
Verbindungsmittel erste und zweite Hartlotelemente
umfassen und bei dem der Anordnungsschritt weiterhin
umfaßt:
- - das Anordnen des ersten Hartlotelements innerhalb des Innenhohlraums des leitenden Gehäuses und
- - das Aufschieben des zweiten Hartlotelements auf den Axialleiter und in den Innenhohlraum, angrenzend an den Boden des leitenden Gehäuses.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE202004021673U DE202004021673U1 (de) | 1990-04-29 | 2004-06-11 | Kabelschacht für Leistungskabel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/349,395 US5032692A (en) | 1989-05-09 | 1989-05-09 | Process for manufactoring hermetic high temperature filter packages and the products produced thereby |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4013812A1 true DE4013812A1 (de) | 1990-11-15 |
DE4013812C2 DE4013812C2 (de) | 2000-06-21 |
Family
ID=23372222
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4013812A Expired - Fee Related DE4013812C2 (de) | 1989-05-09 | 1990-04-29 | Verfahren zur Herstellung eines luftdicht abgeschlossenen Elektronikbauelement-Pakets |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5032692A (de) |
JP (1) | JPH0719989B2 (de) |
KR (1) | KR0163430B1 (de) |
DE (1) | DE4013812C2 (de) |
FR (1) | FR2646984A1 (de) |
GB (1) | GB2233158B (de) |
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|
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |